JPH094953A - 基板冷却装置 - Google Patents

基板冷却装置

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JPH094953A
JPH094953A JP15470095A JP15470095A JPH094953A JP H094953 A JPH094953 A JP H094953A JP 15470095 A JP15470095 A JP 15470095A JP 15470095 A JP15470095 A JP 15470095A JP H094953 A JPH094953 A JP H094953A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
cover
heat
cover means
cooling
Prior art date
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Pending
Application number
JP15470095A
Other languages
English (en)
Inventor
Masanao Matsushita
正直 松下
Shigeru Sasada
滋 笹田
Yoshimitsu Fukutomi
義光 福冨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP15470095A priority Critical patent/JPH094953A/ja
Publication of JPH094953A publication Critical patent/JPH094953A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板からの輻射熱により処理空間の雰囲気温
度が上昇するのを防止して、短時間で、しかも優れた温
調精度で基板を冷却することができる基板冷却装置を提
供する。 【構成】 処理空間SPに面するユニットカバー2の内
面2aに熱吸収層4が形成される。この熱吸収層4は、
アルミニウムよりも大きな熱の吸収率を有しており、基
板3からの輻射熱を効率良く吸収する。また、ユニット
カバー2の外面2bに冷却フィン5が取り付けられると
ともに、排気ユニットがカバー6と、ユニットカバー2
および冷却フィン5との間の気流経路7に接続され排気
する。これにより、吸収された熱をユニットカバー2の
外面2bおよび冷却フィン5により効率良く処理空間外
に放熱する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、加熱処理された半導体
基板や液晶用用ガラス基板などの薄板状基板(以下、単
に「基板」という。)を冷却するための基板の冷却装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、液晶基板製造におけるフォトリ
ソグラフィー工程においては、ガラス基板表面に塗布さ
れたレジストを乾燥するため、当該基板をホットプレー
トなどの発熱体を備えた加熱装置上に載置して加熱して
高温で熱処理し、その後常温に冷却する工程が含まれ
る。このような冷却工程においては、図3に示すような
基板冷却装置が用いられている。
【0003】図3は、従来の基板冷却装置を示す断面図
である。この基板冷却装置は、同図に示すように、アル
ミニウムなどの金属で形成された載置台(冷却プレー
ト)1と、その載置台1上に配置されて載置台1との間
で処理空間SPを形成するユニットカバー2とを備えて
いる。この基板冷却装置では、高温の基板3を載置台1
に直接載置するとともに、その基板3を覆うようにユニ
ットカバー2を載置台1上に配置して処理空間SP内で
基板3の冷却処理を行う。具体的には、冷却水やペルチ
ェ素子等を使用して当該基板3を高温から所定の温度、
例えば100℃から23℃まで冷却する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
にして高温の基板3を冷却している間に、冷却処理中の
基板3からの輻射熱がユニットカバー2に蓄熱される。
このため、載置台1とユニットカバー2とで形成される
処理空間SPの雰囲気温度が載置台1の設定温度よりも
高くなり、基板3の温調精度の悪化を招いたり、目的の
温度にまで基板3を冷却するのに要する処理時間が長く
なってスループットに対して悪影響を及ぼすなどの問題
が生じている。
【0005】本発明は、上述のような問題を解消して、
基板からの輻射熱により処理空間の雰囲気温度が上昇す
るのを防止して、短時間で、しかも優れた温調精度で基
板を冷却することができる基板冷却装置を提供すること
を目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、載置
台と、前記載置台上に配置されて前記載置台との間で処
理空間を形成する第1カバー手段とを備え、前記処理空
間内で基板を載置台に直接もしくは所定の間隔をおいて
載置して当該基板を冷却する基板冷却装置であって、上
記目的を達成するため、前記処理空間に面する前記第1
カバー手段の内面に、熱の吸収率が前記第1カバー手段
より高い物質で構成された熱吸収層を形成するととも
に、前記第1カバー手段の外面に冷却フィンを設けてい
る。
【0007】請求項2の発明は、前記第1カバー手段お
よび前記冷却フィンを取り囲むように配置されて前記第
1カバー手段および前記冷却フィンとの間で気流経路を
形成する第2カバー手段と、前記気流経路に接続されて
当該気流経路内を排気する排気手段と、をさらに備えて
いる。
【0008】
【作用】請求項1の発明では、熱の吸収率が高い物質か
らなる熱吸収層が、処理空間に面する第1カバー手段の
内面に形成されて、基板からの輻射熱を効率良く吸収す
る。しかも、こうして吸収された熱は、第1カバー手段
の外面および当該外面に取り付けられた冷却フィンによ
り効率良く処理空間外に放熱される。このため、処理空
間の雰囲気温度の上昇が抑えられる。
【0009】請求項2の発明では、第2カバー手段が第
1カバー手段および冷却フィンを取り囲むように配置さ
れて第1カバー手段などとの間で気流経路を形成してい
る。そして、この気流経路に排気手段が接続されて当該
気流経路内を排気して気流経路内に空気の流れを形成す
る。このため、第1カバー手段および冷却フィンによる
放熱が促進されて処理空間の雰囲気温度の上昇をより効
果的に抑制することができる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明するが、これにより本発明の技術的範囲が制限さ
れるものではない。
【0011】図1は、この発明にかかる基板冷却装置の
一実施例を示す断面図である。この基板冷却装置が従来
例(図3)と大きく相違する点は、以下の3点であり、
その他の構成はほぼ同一であるため、ここでは、相違点
を中心に説明する。
【0012】まず第1点目に、この実施例にかかる基板
冷却装置では、図2に示すように、処理空間SPに面す
るユニットカバー2の内面2aに熱吸収層4が形成され
ている点である。この実施例では、ユニットカバー2は
アルミニウムで形成されており、特定の溶液(例えば硫
酸溶液やしゅう酸溶液)中での陽極電解によりユニット
カバー2の内面2aに黒色酸化皮膜(通称:黒アルマイ
ト皮膜)を形成し、これを熱吸収層4としている。この
ようにして形成された熱吸収層(黒色酸化皮膜)4はア
ルミニウムよりも大きな熱の吸収率を有しており、基板
3からの輻射熱を効率良く吸収することができる。な
お、ここで、「熱の吸収率」とは、与えられた面に投射
される熱放射のエネルギーのうち、その面に吸収されて
熱となるものの割合をいう。なお、この実施例では、黒
色酸化皮膜により熱吸収層4を形成しているが、これ以
外に黒鉛板材により構成したり、ユニットカバー2の内
面2aを塗装する等により、当該熱吸収層4の熱の吸収
率をユニットカバー2のそれよりも大きくすることで、
上記実施例と同様に、基板3からの輻射熱を効率良く吸
収することができる。
【0013】第2点目の相違点は、この実施例では、ユ
ニットカバー2の外面2bに冷却フィン5が取り付けら
れている点である。このように冷却フィン5を取り付け
ることで、放熱表面積が大きくなり、ユニットカバー2
から熱を効率良く処理空間SPの外側に放熱することが
できる。なお、冷却フィン5の形状や枚数などは任意で
ある。
【0014】第3点目の相違点は、この基板冷却装置に
は、図1に示すように、載置台1、ユニットカバー2お
よび冷却フィン5を取り囲むように別のカバー6が配置
されるとともに、排気ユニット(図示省略)が設けられ
ている点である。このようにカバー6を配置すること
で、ユニットカバー2および冷却フィン5との間で気流
経路7が形成される。そして、この気流経路7には排気
ユニット(図示省略)が接続されており、この排気ユニ
ットを作動させると、同図の矢印で示すように、カバー
6の上面6aに穿設された複数の貫通孔8から空気が気
流経路7に流入するとともに、気流経路7内の空気がユ
ニットカバー2の外面2bおよび冷却フィン5に当たり
ながら、排気ユニット側に流れる。このため、ユニット
カバー2の外面2bおよび冷却フィン5からの放熱をよ
り効果的に行うことができる。
【0015】このように、この実施例にかかる基板冷却
装置によれば、ユニットカバー2の内面2aに熱吸収層
4を形成して処理空間SP内の基板3からの輻射熱を効
率良く吸収するとともに、ユニットカバー2の外面2b
および冷却フィン5から効率良く放熱するようにしてい
るので、基板3からの輻射熱を効率良く処理空間SPの
外側に放熱することができ、処理空間SP内の雰囲気温
度の上昇を抑えることができる。その結果、高温の基板
3を短時間で、しかも優れた温調精度で所定の目的温度
に冷却することができる。
【0016】なお、上記実施例では、ユニットカバー2
および冷却フィン5を全体的に別のカバー6で覆って気
流経路7を形成するとともに、排気ユニットにより気流
経路7に沿って空気を流すことで、ユニットカバー2お
よび冷却フィン5の放熱を促進させているが、これらの
構成は必須の構成要素というわけではない。ただし、放
熱効率を考慮した場合には、これらの構成を設けるのが
好適である。
【0017】また、上記実施例では、ユニットカバー2
がアルミニウムで形成されている場合について説明した
が、ステンレス鋼などの別の金属材料で形成されている
場合についても同様にユニットカバー2の内面2aに熱
吸収層4を設ければ良く、同様の効果が得られる。
【0018】さらに、本発明は、基板3を載置台1の載
置面に直接載置するタイプの基板冷却装置のみならず、
プロキシミティピンなどにより基板3を当該載置面から
少し離した状態で水平に保持して冷却する基板冷却装置
に対しても適用することができる。
【0019】また、上記実施例では排気ユニットにより
気流を発生させる説明をしたが、これに限らず、カバー
上面からN2パージする構成としてもよい。
【0020】
【発明の効果】以上述べたように、請求項1の発明によ
れば、熱の吸収率が高い物質からなる熱吸収層を、処理
空間に面する第1カバー手段の内面に形成して基板から
の輻射熱を効率良く吸収するとともに、吸収された熱を
第1カバー手段の外面および当該外面に取り付けられた
冷却フィンにより効率良く処理空間外に放熱するように
しているので、処理空間の雰囲気温度の上昇を抑えるこ
とができ、その結果、高温の基板を短時間で、しかも優
れた温調精度で冷却することができる。
【0021】請求項2の発明によれば、第2カバー手段
を第1カバー手段および冷却フィンを取り囲むように配
置して第1カバー手段などとの間で気流経路を形成する
ともに、この気流経路に排気手段を接続し、当該気流経
路内を排気して気流経路内に空気の流れを形成している
ので、第1カバー手段の外面および冷却フィンによる放
熱が促進されて処理空間の雰囲気温度の上昇をより効果
的に抑制することができる。その結果、請求項1の発明
の場合よりも、より短時間で、しかもより高精度で基板
を冷却することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明にかかる基板冷却装置の一実施例を示
す断面図である。
【図2】図1の基板冷却装置の部分拡大断面図である。
【図3】従来の基板冷却装置を示す断面図である。
【符号の説明】
1 載置台 2 ユニットカバー(第1カバー手段) 2a (ユニットカバーの)内面 2b (ユニットカバーの)外面 3 基板 4 熱吸収層 5 冷却フィン 6 カバー(第2カバー手段) 7 気流経路 8 貫通孔 SP 処理空間

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 載置台と、前記載置台上に配置されて前
    記載置台との間で処理空間を形成する第1カバー手段と
    を備え、前記処理空間内で基板を載置台に直接もしくは
    所定の間隔をおいて載置して当該基板を冷却する基板冷
    却装置において、 前記処理空間に面する前記第1カバー手段の内面に、熱
    の吸収率が前記第1カバー手段より高い物質で構成され
    た熱吸収層が形成されるとともに、 前記第1カバー手段の外面に冷却フィンが設けられたこ
    とを特徴とする基板冷却装置。
  2. 【請求項2】 前記第1カバー手段および前記冷却フィ
    ンを取り囲むように配置されて前記第1カバー手段およ
    び前記冷却フィンとの間で気流経路を形成する第2カバ
    ー手段と、 前記気流経路に接続されて当該気流経路内を排気する排
    気手段と、をさらに備える請求項1記載の基板冷却装
    置。
JP15470095A 1995-06-21 1995-06-21 基板冷却装置 Pending JPH094953A (ja)

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JP15470095A JPH094953A (ja) 1995-06-21 1995-06-21 基板冷却装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001168023A (ja) * 1999-09-30 2001-06-22 Tokyo Electron Ltd 加熱処理装置
JP2011044663A (ja) * 2009-08-24 2011-03-03 Tokyo Electron Ltd 加熱処理装置
WO2018194020A1 (ja) * 2017-04-17 2018-10-25 ブルカージャパン株式会社 X線発生装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001168023A (ja) * 1999-09-30 2001-06-22 Tokyo Electron Ltd 加熱処理装置
JP2011044663A (ja) * 2009-08-24 2011-03-03 Tokyo Electron Ltd 加熱処理装置
WO2018194020A1 (ja) * 2017-04-17 2018-10-25 ブルカージャパン株式会社 X線発生装置
KR20190137777A (ko) * 2017-04-17 2019-12-11 브루커 제팬 가부시키가이샤 X 선 발생 장치

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