JPH0946209A - 入力バッファ回路 - Google Patents

入力バッファ回路

Info

Publication number
JPH0946209A
JPH0946209A JP7193554A JP19355495A JPH0946209A JP H0946209 A JPH0946209 A JP H0946209A JP 7193554 A JP7193554 A JP 7193554A JP 19355495 A JP19355495 A JP 19355495A JP H0946209 A JPH0946209 A JP H0946209A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
signal
circuit
receiving
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7193554A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2773692B2 (ja
Inventor
Hiroyuki Takahashi
弘行 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7193554A priority Critical patent/JP2773692B2/ja
Priority to KR1019960030824A priority patent/KR100246164B1/ko
Priority to TW085109168A priority patent/TW299498B/zh
Priority to US08/687,964 priority patent/US5900745A/en
Publication of JPH0946209A publication Critical patent/JPH0946209A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2773692B2 publication Critical patent/JP2773692B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】動作速度を速くすると共に、消費電流を低減す
る。 【構成】入力信号IN及びリファレンス電圧Vrefを
ゲートに受け電源電位点・接地電位点間に直列接続され
た2組のpMOS型のトランジスタM1〜M4を備え相
補型の駆動用の信号P1,P2を出力するプッシュプル
回路1を設ける。駆動用の信号P1,P2をベースに受
けるバイポーラ型のトランジスタQ21,Q22を備え
相補型の差動増幅信号E1,E2を出力するECL型の
差動増幅回路2を設ける。ベースに差動増幅信号E1を
受けるバイポーラ型のトランジスタQ1,ゲートを接地
するpMOS型のトランジスタM31,ゲートに差動増
幅信号E2を受けるnMOS型のトランジスタM32,
及びダイオードD31を電源電位点・接地電位点間に直
列接続したレベル変換回路3を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は入力バッファ回路に
関し、特に低振幅信号を入力とする入力バッファ回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータなどを構成する半導体集積
回路は、その性能向上のため高い動作周波数の製品開発
が急速に進んでいる。100MHzに近づく高周波で
は、伝送バス線のノイズや消費電力のため、従来のTT
LインターフェイスからGTL(Gunning Tr
ansceiver Logic)インターフェイスな
どの低振幅信号が用いられようとしている。これら低振
幅信号の入力バッファ回路は、MOSトランジスタによ
る差動増幅回路が一般的であり、その代表的な回路を図
12に示す。
【0003】この入力バッファ回路は、ゲートに入力信
号INを受けるpチャネルMOS型(以下pMOS型と
いう)のトランジスタM21xと、ゲートにリファレン
ス電圧Vrefを受けソースをトランジスタM21xの
ソースと接続するpMOS型のトランジスタM23x
と、ソースを接地電位点と接続しドレインをトランジス
タM21xのドレインと接続するnチャネルMOS型
(以下nMOS型という)のトランジスタM22xと、
ソースを接地電位点と接続しゲート及びドレインをトラ
ンジスタM22xのゲートと接続してこのトランジスタ
M22xと共にカレントミラー回路を構成するnMOS
型のトランジスタM24xと、トランジスタM21x,
M23xのソースと電源電位Vcc供給端との間に接続
された定電流源I21xとを備え、トランジスタM21
x,M22xのドレインから出力信号OUTを出力する
差動増幅回路2xを有する構成となっている。
【0004】リファレンス電圧Vrefには通常0.7
〜1.2V程度の比較的低い電圧(電源電位Vccを3
V程度として)が使われ、このリファレンス電圧Vre
fに対し±(0.2〜0.5)V程度が入力信号INの
振幅となる。リファレンス電圧Vrefに対する入力信
号INの電位差、すなわちトランジスタM21x、M2
3xのゲート電位差がこれらトランジスタのオン能力差
として現れ、トランジスタM22xの能力がカレントミ
ラー回路によってトランジスタM23xに伝達される。
【0005】入力信号INに対し、トランジスタM21
x,M23xからの出力信号OUTは逆相、トランジス
タM22x,M24xからは同相の信号が出力(図示省
略)され、相補型インバータと同様の動作となり、電源
電位Vccと接地電位との中間電位に対し高レベルまた
は低レベルの出力信号OUTとして出力される。
【0006】構成トランジスタのpMOS型とnMOS
型とを入れ換えた形の回路も成立つが、入力信号IN等
の電圧が低いため、このような差動増幅回路には、通
常、動作電圧マージンが大きいpMOS型が駆動用のト
ランジスタ(M21x,M23x相当)として用いられ
る。そして、この動作電圧マージンを確保するため、構
成トランジスタ(M21x〜M24x)は常にオン状態
で動作させる必要があり、貫通電流が発生する。また、
出力電圧OUTはトランジスタM21x,M23xの導
電比により決まるため、高レベル,低レベルのレベル差
は、電源電位Vcc,接地電位のレベル差(例えば3
V)までは得られず、ほぼ1〜2V程度にとどまる。
【0007】なお、このような入力バッファ回路は、例
えば日経エレクトロニクス、1993年9月27日号、
No.591,269〜290頁などに記載されてい
る。
【0008】この入力バッファ回路の出力信号OUT
は、次段のCMOS回路を直接駆動したり、ラッチ回路
やレジスタを介してCMOS回路を駆動する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この従来の入力バッフ
ァ回路では、動作電圧マージンを確保するため構成トラ
ンジスタ(M21x〜M24x)を常にオン状態とし、
リファレンス電圧Vrefと入力信号INとの差電圧を
感知する構成となっているので、入力信号INが小振幅
になると増幅利得の低下により出力信号OUTの振幅が
減少し、動作速度も遅くなる。この出力信号OUTの振
幅の減少は次段のCMOS回路において貫通電流を増大
させるという問題点があり、また、動作速度が遅くなる
点に関しては、この入力バッファ回路、すなわち差動増
幅回路2x及び次段のCMOS回路の動作電流を増加さ
せることにより、ある程度カバーできるものの、半導体
集積回路全体の消費電流が増大するという問題点があ
る。
【0010】また、ラッチ回路やレジスタを介して次段
のCMOS回路を駆動する場合には、この入力バッファ
回路の動作遅れにこれらラッチ回路,レジスタ等の動作
遅れも加わり、半導体集積回路全体の動作速度が更に遅
くなるという問題点がある。
【0011】本発明の目的は、自身の動作速度の向上、
消費電流の低減をはかると共に半導体集積回路全体の動
作速度の向上及び消費電流の低減をはかることができる
入力バッファ回路を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の入力バッファ回
路は、MOS型の第1〜第4のトランジスタを備えリフ
ァレンス電圧と入力信号との差電圧と対応しかつ互いに
相補のレベル関係にある所定のレベルの第1及び第2の
駆動用の信号を出力するプッシュプル回路と、前記第1
及び第2の駆動用の信号それぞれを対応して受ける駆動
用の第1及び第2のトランジスタを備え前記第1及び第
2の駆動用の信号を差動増幅して出力する差動増幅回路
とを有している。
【0013】また、差動増幅回路を、エミッタを共通接
続しベースに第1及び第2の駆動用の信号それぞれを対
応して受けるバイポーラ型の第1及び第2の駆動用のト
ランジスタと、これら第1及び第2の駆動用のトランジ
スタのエミッタと電源電位点及び接地電位点のうちの一
方との間に接続された定電流源と、前記第1及び第2の
駆動用のトランジスタと接続される負荷回路とを備えた
回路とし、プッシュプル回路を、前記第1及び第2の駆
動用のトランジスタが飽和しない範囲の所定のレベルの
第1及び第2の駆動用の信号を出力する回路とし、プッ
シュプル回路を、第1〜第4のトランジスタを同一導電
型とし、前記第1のトランジスタのゲートに入力信号を
受けソースに電源電位及び接地電位のうちの一方を受
け、前記第2のトランジスタのゲートにリファレンス電
圧を受けソースを前記第1のトランジスタのドレインと
接続しドレインに前記電源電位及び接地電位のうちの他
方を受け、前記第3のトランジスタのゲートに前記リフ
ァレンス電圧を受けソースに前記電源電位及び接地電位
のうちの一方を受け、前記第4のトランジスタのゲート
に前記入力信号を受けソースを前記第3のトランジスタ
のドレインと接続しドレンインに前記電源電位及び接地
電位のうちの他方を受け、前記第1及び第2のトランジ
スタのソース,ドレイン接続点から第1の駆動用の信号
を出力し、前記第3及び第4のトランジスタのソース,
ドレイン接続点から第2の駆動用の信号を出力する回路
とするか、ゲートに入力信号を受けソースに電源電位及
び接地電位のうちの一方を受ける一導電型の第1のトラ
ンジスタと、ゲート及びドレインを前記第1のトランジ
スタのゲート及びドレインと対応接続しソースに前記電
源電位及び接地電位のうちの他方を受ける逆導電型の第
2のトランジスタと、ゲートにリファレンス電圧を受け
ソースに前記電源電位及び接地電位のうちの一方を受け
る一導電型の第3のトランジスタと、ゲート及びドレイ
ンを前記第3のトランジスタのソース及びドレインと対
応接続しソースに前記電源電位及び接地電位のうちの他
方を受ける逆導電型の第4のトランジスタとを備え、前
記第1及び第2のトランジスタのドレイン接続点から第
1の駆動用の信号を出力し、前記第3及び第4のトラン
ジスタのドレイン接続点から第2の駆動用の信号を出力
する回路とし、更に、プッシュプル回路の電源電位受電
端及び接地電位受電端のうちの一方に、電源電位及び接
地電位とは異なる所定の電位の内部基準電圧を供給する
ようにして構成される。また、差動増幅回路を、ソース
を共通接続しゲートに第1及び第2の駆動用の信号それ
ぞれを対応して受けるnチャネルMOS型の第1及び第
2の駆動用のトランジスタと、これら第1及び第2の駆
動用のトランジスタのソースと電源電位点及び接地電位
点のうちの一方との間に接続された定電流源と、前記第
1及び第2の駆動用のトランジスタと接続する負荷回路
とを備えた回路として構成される。
【0014】また、差動増幅回路の出力信号を所定のレ
ベルに変換するレベル変換回路を設けて構成され、差動
増幅回路を、互いに相補のレベル関係にある第1及び第
2の差動増幅信号を出力する回路とし、レベル変換回路
を、ベースに前記第1及び第2の差動増幅信号のうちの
一方を受けコレクタに電源電位及び接地電位のうちの一
方を受けるバイポーラ型のトランジスタと、ソースを前
記バイポーラ型のトランジスタのエミッタと接続しゲー
トに前記電源電位及び接地電位のうちの他方を受ける一
導電型MOS型のトランジスタと、ドレインを前記一導
電型MOS型のトランジスタのドレインと接続しゲート
に前記第1及び第2の差動増幅信号のうちの他方を受け
る逆導電型MOS型のトランジスタと、一端を前記逆導
電型MOS型のトランジスタのソースと接続し他端に前
記電源電位及び接地電位のうちの他方を受けて順方向電
圧を発生するダイオード素子とを備え、前記逆導電型M
OS型のトランジスタのドレインからレベル変換された
信号を出力する回路として構成される。
【0015】また、差動増幅回路及びレベル変換回路の
うちの少なくとも一方に、その出力信号を所定のタイミ
ングで保持し出力する信号保持手段を設けて構成され、
差動増幅回路を、エミッタを共通接続しベースに第1及
び第2の駆動用の信号それぞれを対応して受けるバイポ
ーラ型の第1及び第2の駆動用のトランジスタ、ソース
及びドレインをこれら第1及び第2の駆動用のトランジ
スタのエミッタと電源電位点及び接地電位点のうちの一
方との間に接続しクロック信号の第1のレベルに応答し
て導通し定電流を発生する定電流源のMOS型のトラン
ジスタ、並びに前記第1及び第2の駆動用のトランジス
タと接続する負荷回路を備え、前記第1及び第2の駆動
用の信号を差動増幅して第1及び第2の差動増幅信号と
して出力する差動増幅部と、ベースに前記第1の差動増
幅信号を受けコレクタに前記第2の差動増幅信号を受け
るバイポーラ型の第1の信号保持用のトランジスタ、ベ
ースに前記第2の差動増幅信号を受けコレクタに前記第
1の差動増幅信号を受けエミッタを前記第1の信号保持
用のトランジスタのエミッタと接続するバイポーラ型の
第2の信号保持用のトランジスタ、並びにソース及びド
レインを前記第1及び第2の信号保持用のトランジスタ
のエミッタと前記電源電位点及び接地電位点のうちの一
方との間に接続し前記クロック信号の第2のレベルに応
答して導通するスイッチング用のMOS型のトランジス
タを備え、前記第1及び第2の差動増幅信号を所定のタ
イミングで保持し出力する信号保持部とを含んだ回路と
し、レベル変換回路を、入力端に差動増幅回路の出力信
号を受けクロック信号が第1のレベルのときに前記入力
端に受けた信号を出力端に伝達する第1のトランスファ
ゲートと、所定のしきい値電圧をもち入力端に前記第1
のトランスファゲートの出力端の信号を受ける第1のイ
ンバータと、この第1のインバータの出力信号をレベル
反転する第2のインバータと、この第2のインバータの
出力信号を入力端に受け前記クロック信号が第2のレベ
ルのときにこの入力端の信号を前記第1のインバータの
入力端に伝達する第2のトランスファゲートとを備え、
前記第1のインバータの出力信号をレベル変換された信
号として出力する回路として構成される。
【0016】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。
【0017】図1は本発明の第1の実施の形態を示す回
路図である。
【0018】この第1の実施の形態は、ゲートに入力信
号INを受けソースに電源電位Vccを受けるpMOS
型のトランジスタM1、ゲートにリファレンス電圧Vr
efを受けソースをトランジスタM1のドレインと接続
しドレインに接地電位を受けるpMOS型のトランジス
タM2、ゲートにリファレンス電圧Vrefを受けソー
スに電源電位Vccを受けるpMOS型のトランジスタ
M3、及びゲートに入力信号INを受けソースをトラン
ジスタM3のドレインと接続しドレインに接地電位を受
けるpMOS型のトランジスタM4を備え、トランジス
タM1,M2のソース,ドレイン接続点及びトランジス
タM3,M4のソース,ドレイン接続点からリファレン
ス電圧Vrefと入力信号INとの差電圧と対応しかつ
互いに相補のレベル関係にある所定のレベルの第1及び
第2の駆動用の信号P1,P2を出力するプッシュプル
回路1と、エミッタを共通接続しベースに第1及び第2
の駆動用の信号P1,P2それぞれを対応して受けるバ
イポーラ型の駆動用のトランジスタQ21,Q22、こ
れら駆動用のトランジスタQ21,Q22のエミッタと
接地電位点との間に接続された定電流源I21、並びに
駆動用のトランジスタQ21,Q22のコレクタそれぞ
れと電源電位Vcc受電端との間に接続された負荷抵抗
R21,R22を備え、第1及び第2の駆動用の信号P
1,P2を差動増幅して、駆動用のトランジスタQ2
1,Q22のコレクタそれぞれから互いに相補のレベル
関係にある第1及び第2の差動増幅信号E1,E2を出
力する差動増幅回路2と、ベースに第1の差動増幅信号
E1を受けコレクタに電源電位Vccを受けるバイポー
ラ型のトランジスタQ31、ソースをトランジスタQ3
1のエミッタと接続しゲートに接地電位を受けるpMO
S型のトランジスタM31、ゲートに第2の差動増幅信
号E2を受けドレインをpMOS型のトランジスタM3
1のドレインと接続するnMOS型のトランジスタM3
2、及びこのトランジスタM32のソースと接地電位点
との間に接続されて順方向電圧を発生するダイオードD
31を備え、トランジスタM31,M32のドレイン接
続点から差動増幅信号E1,E2を所定のレベルに変換
した信号(OUT)を出力するレベル変換回路3とを有
する構成となっている。
【0019】次に、この第1の実施の形態の動作及び動
作条件等について説明する。
【0020】この第1の実施の形態においても、従来例
と同様に通常、リファレンス電圧Vrefには0.7〜
1.2V程度の比較的低い電圧が使われ、入力信号IN
の振幅はこのリファレンス電圧Vrefに対し±(0.
2〜0.5)V程度となっている。
【0021】以下、リファレンス電圧Vrefを0.7
V、入力信号INの振幅を±0.2Vとした厳しい状態
の場合について説明する。
【0022】プッシュプル回路1から出力される駆動用
の信号P1,P2は、そのレベルがトランジスタM1,
M2の導電率の比、トランジスタM3,M4の導電率の
比でそれぞれ決まり、入力信号INがリファレンス電圧
Vrefより高レベルになるとトランジスタM2に対し
トランジスタM1の能力(オン抵抗)が下がり駆動用の
信号P1は入力信号INに対し逆相の低レベルに、また
トランジスタM4の能力も下がり駆動用の信号P2は同
相の高レベルに変化する。
【0023】ここで、この駆動用の信号P1,P2は、
次段の差動増幅回路2のバイポーラ型のトランジスタQ
21,Q22が飽和しない範囲で高く、しかもこれらト
ランジスタQ21,Q22を駆動する上で都合の良い
(動作マージンが大きい等)電圧となっている。例え
ば、電源電位Vccを3.3Vとすると、P1,P2は
2.5V付近となる。また、差動増幅回路2は、バイポ
ーラ型のトランジスタQ21,Q22によって高い増幅
率を持っているので、駆動用の信号P1,P2の振幅は
0.2V程度でよい。
【0024】差動増幅回路2は、定電流源I21の電流
をトランジスタQ21,Q22のオン,オフ状態に応じ
て分流し、負荷抵抗R21,R22の電圧降下により差
動増幅信号E1,E2を出力する。従って、差動増幅信
号E1,E2の振幅は定電流源I21の電流値、負荷抵
抗R21,R22の抵抗値等によって調整可能であり、
次段のレベル変換回路の動作マージンを考慮して1〜
1.5V程度としている。
【0025】差動増幅信号E1,E2を受けたレベル変
換回路3においては、差動増幅信号E1によりトランジ
スタM31のオン能力を、E2によりトランジスタM3
2のオン能力を相補的にそれぞれ制御してレベル変換
し、CMOS型のインバータと同様に、大きな振幅の出
力信号OUTを出力する。
【0026】トランジスタM31,M32のオン,オフ
時のソース・ゲート間電圧はどちらも次式のとおりとな
る。
【0027】 オン時:Vcc−Vf(Vcc=3.3Vで約2.5V)……(1) オフ時:Vcc−Vf−ΔV (同じく約1.2V)……(2) ここで、Vfはpn接合の順方向電圧、ΔVは差動増幅
信号E1,E2の振幅である。このように、これらトラ
ンジスタM31,M32のオン,オフ時のソース・ゲー
ト間電圧比は2倍以上取れるため、十分な増幅能力があ
り、その負荷を駆動することができる。出力信号OUT
の高レベル,低レベルは、電源電位Vccに対してVf
だけ低下し、接地電位に対しVfだけ上昇するが、次段
のCMOS回路にとってはMOS型のトランジスタのし
きい値電圧と同程度かそれ以下であるので、特に問題は
ない。
【0028】次に、この第1の実施の形態における過渡
応答特性について、図2及び図3を参照して説明する。
入力信号INが低レベルから高レベルへと変化したとき
(リファレンス電圧Vrefに対し)の動作波形を示し
たものが図2であり、高レベルから低レベルへと変化し
たときの動作波形を示したものが図3である。
【0029】入力信号INに対し、駆動用の信号P2は
同一傾向で変化するが、駆動用の信号P1は振幅もやや
小さく鈍った変化となる。これは、駆動用の信号P2に
対する動作が同相で、トランジスタM4のゲート・ドレ
イン間容量が出力電圧の駆動に協する形で働いているか
らである。プッシュプル回路1は、プルアップ用,プル
ダウン用のトランジスタM1,M4が入力信号INのレ
ベルに直ちに応答してそのオン能力を変化させ、そのま
ま駆動用の信号P1,P2として出力され上、低振幅動
作となっているため、その動作速度は約0.1nsとい
う非常に速いものとなる。
【0030】差動増幅回路2は、高速動作に向いた一般
的なECL回路と同等であるので、0.3ns程度で高
速に差動増幅信号を出力する。
【0031】レベル変換回路3も、十分な信号振幅の差
動増幅信号E1,E2が与えられ、これら相補型の差動
増幅信号E1,E2によってトランジスタM31,M3
2のオン能力が制御されるので、0.3ns程度の高速
で出力信号OUTを出力する。
【0032】図2及び図3には、レベル変換回路3の次
段のドライバ回路の出力信号を含めた動作波形が示され
ており、この次段のドライバ回路の動作時間を含め、約
1.1nsとなっており、また、入力信号INのレベル
変化に対する依存性も殆どない。
【0033】消費電流はプッシュプル回路1,差動増幅
回路2,及びレベル変換回路3の全てで発生する。しか
し、プッシュプル回路1は、差動増幅回路2のバイポー
ラ型のトランジスタQ21,Q22のベースを駆動する
だけであり、差動増幅回路2は、1個のバイポーラ型の
トランジスタQ31のベース及びnMOS型のトランジ
スタM32のゲートを駆動するだけであるので、これら
の駆動負荷は軽く、従ってプッシュプル回路1及び差動
増幅回路2には小さい動作電流を流すだけで済む。ま
た、レベル変換回路3は、負荷依存性を受けやすいが、
前述の(2)式に示されるように、入力振幅ΔV、すな
わち差動増幅信号E1,E2の振幅を調整することによ
り、オフ側能力を十分低くできるので、その貫通電流を
小さくすることができる。
【0034】図4は本発明の第2の実施の形態における
プッシュプル回路部分の回路図である。
【0035】この第2の実施の形態においては、第1の
実施の形態におけるプッシュプル回路1の電源電位Vc
c受電端に、電源電位Vccより低く、内部発生した低
電圧の内部基準電圧VR1を供給するようにしたもので
ある。
【0036】こうすることにより、入力信号INの振幅
が大きくなったときや、pMOSトランジスタM1〜M
4の製造ばらつき等で特性が変化したときなどに、駆動
用の信号P1,P2の高レベルの電圧の上りすぎを阻止
することができ、差動増幅回路2のバイポーラ型のトラ
ンジスタQ21,Q22のベース電圧を抑えてこれらト
ランジスタQ21,Q22が飽和領域に入るのを防止す
ることができる。この内部基準電圧VR1を例えば0.
5〜1.0V程度とすることにより、バイポーラ型のト
ランジスタQ21,Q22が飽和する心配はなくなる。
【0037】図5は本発明の第3の実施の形態における
プッシュプル回路部分の回路図である。
【0038】この第3の実施の形態では、プッシュプル
回路1bをnMOS型のトランジスタM5〜M8で構成
し、低電位側の電源電位(第1,第2の実施の形態のプ
ッシュプル回路1,1aの接地電位相当)受電端に、接
地電位より高く、内部発生した差電圧の内部基準電圧V
R2を供給するようにしたものである。
【0039】nMOS型のトランジスタはpMOS型に
比べて能力が高く高速性に優れているが、その特徴はゲ
ート入力信号がVcc/2付近から高い電圧範囲のとき
に発揮される。また、駆動用の信号P1,P2のレベル
は低めになるので、差動増幅回路2における定電流源I
21の電圧が不足しがちになる。従って、駆動用の信号
P1,P2のレベルが下がりすぎるのを阻止するため、
定電位側の電源電位受電端の電位を、接地電位より高い
内部基準電圧VR2としている。この内部基準電圧VR
2は例えば1〜1.5V程度が妥当な値であり、バイポ
ーラ型のトランジスタQ21,Q22の飽和電圧マージ
ンは逆に拡大するので、差動増幅回路2の出力信号(E
1,E2)の振幅を大きめに設定することができる。
【0040】図6は本発明の第4の実施の形態における
プッシュプル回路部分の回路図である。
【0041】この第4の実施の形態のプッシュプル回路
1cは、プルアップ用としてpMOS型のトランジス
タ、プルダウン用としてnMOS型のトランジスタを用
い、それぞれのゲートには同一の信号を供給するように
した、いわゆるCMOS型のインバータと同一構成であ
り、入力信号IN用とリファレンス電圧Vref用とで
対をなし、駆動信号P1,P2を出力する。
【0042】このプッシュプル回路1cでは、pMOS
型,nMOS型のトランジスタそれぞれが独立した製造
ばらつきをもち、駆動用の信号P1,P2の動作電位が
変動しやすいが、それぞれ相補的能力変化が最も高く成
りやすいので、その振幅を大きく、かつ高速にしやすく
なる。
【0043】この第4の実施の形態のプッシュプル回路
1cにおいても、第2,第3の実施の形態のプッシュプ
ル回路1a,1bと同様に、次段の差動増幅回路2の動
作マージン確保のために、高電位側の電源電位Vcc受
電端、又は定電位側の電源電位受電端に、内部発生によ
る内部基準電圧VR1又はVR2を供給することがてき
る。
【0044】図7は本発明の第5の実施の形態を示す回
路図である。
【0045】この実施例では、レベル変換回路3aを、
相補型の出力信号OUT1,OUT2が得られるように
したものであり、第1の実施の形態のレベル変換回路3
に、更に、ベースに第2の差動増幅信号E2を受けコレ
クタに電源電位Vccを受けるバイポーラ型のトランジ
スタQ32と、ゲートに接地電位を受けソースをトラン
ジスタQ32のエミッタと接続するpMOS型のトラン
ジスタM33と、ゲートに第1の差動増幅信号E1を受
けドレインをトランジスタM33のドレインと接続しソ
ースをトランジスタM32のソースと接続するnMOS
型のトランジスタM34とを付加した回路となってい
る。
【0046】メモリ装置等では、アドレス信号をバッフ
ァ回路で受けて各構成ビットを相補型としてデコーダ回
路に供給するのが一般的であるが、この相補型のアドレ
ス信号を発生するのにインバータ等を使用していた。従
ってその分、信号の遅延時間が生じ高速動作が困難であ
った。このような回路に本発明の第5の実施例の形態の
回路を適用することにより、インバータ等が不要とな
り、その分高速化することができ、半導体集積回路全体
の動作速度を速くすることができる。
【0047】図8は本発明の第6の実施の形態を示す回
路図である。
【0048】この第6の実施の形態は、差動増幅回路2
aを、所定のタイミングで差動増幅信号E1,E2を保
持し出力する信号保持手段を備えた回路としたものであ
る。
【0049】この第6の実施の形態の差動増幅回路2a
は、バイポーラ型のトランジスタQ21,Q22、負荷
抵抗R21,R22、及びnMOS型のトランジスタM
21による定電流源から成る差動増幅部と、ベースに差
動増幅部からの第1の差動増幅信号E1を受けコレクタ
に第2の差動増幅信号E2を受けるバイポーラ型のトラ
ンジスタQ23、ベースに第2の差動増幅信号E2を受
けコレクタに第1の差動増幅信号E1を受けエミッタを
トランジスタQ23のエミッタと接続するバイポーラ型
のトランジスタQ24、及びゲートにクロック信号CK
を受けドレインをトランジスタQ23,Q24のエミッ
タと接続しソースに接地電位を受けるnMOS型のトラ
ンジスタM22を備えたラッチ部と、クロック信号CK
をレベル反転して所定のタイミングで差動増幅部を非活
性状態とするインバータIV21とを含む構成となって
いる。
【0050】クロック信号CKが低レベルのときは、ト
ランジスタM21がオン、M22がオフとなってラッチ
部は非活性状態、差動増幅部は活性化状態となり、実質
的に図1に示された差動増幅回路2と同様の回路構成と
なって差動増幅信号E1,E2をそのままレベル変換回
路3に伝達するスルー状態となる。
【0051】クロック信号CKが高レベルのときは、ト
ランジスタM21がオフとなって差動増幅部は非活性状
態になると共に、トランジスタM22がオンとなってラ
ッチ部が活性化し、差動増幅信号E1,E2のうちの高
レベル側の信号をベースに受けるトランジスタ(Q2
3,Q24のうちの一方)がオンし、差増幅信号E1,
E2のうちの低レベル側から電流を引き抜き、その電位
差を保ちかつ出力する。すなわちラッチ状態とする。
【0052】この第6の実施の形態では、ラッチ機能を
付加しても、差動増幅信号E1,E2の信号伝達線にラ
ッチ部が付加されるだけであり、信号伝達経路における
ラッチ部用の回路段数が増えることはないので、そのた
めの動作速度の遅れは殆ど発生しない。すなわち、ラッ
チ回路(信号保持部)を必要とする半導体集積回路に本
発明を適用した場合、従来のような縦続接続されたラッ
チ回路としなくて済むので、その分、全体の動作速度を
速くすることができる。
【0053】図9は本発明の第7の実施の形態を示す回
路図である。
【0054】この第7の実施の形態は、第6の実施の形
態に加え、レベル変換回路3bにもラッチ機能を付加
し、ラッチ機能付きの差動増幅回路2aと共にレジスタ
回路を構成するようにしたものである。
【0055】この第7の実施の形態のレベル変換回路3
bは、図1に示されたレベル変換回路3に相当するトラ
ンジスタQ31,M31,M32及びダイオードD31
と、ゲートをトランジスタQ31のエミッタと接続しソ
ースに電源電位Vccを受けるpMOS型のトランジス
タM36と、ゲートをトランジスタM31,M32のド
レインと接続しドレインをトランジスタM36のドレイ
ンと接続しソースに接地電位を受けるnMOS型のトラ
ンジスタM37と、ベースにクロック信号CKのレベル
反転信号を受けコレクタに電源電位Vccを受けエミッ
タをトランジスタQ31のエミッタと接続するバイポー
ラ型のトランジスタQ33と、ゲートにクロック信号C
Kのレベル反転信号を受けソース及びドレインをトラン
ジスタM32のソース及びドレインと対応接続するnM
OS型のトランジスタM35と、入力端をトランジスタ
M36,M37のドレインと接続するインバータIV3
1と、入力端をこのインバータIV32の出力端と接続
するインバータIV32と、ゲートにクロック信号CK
のレベル反転信号を受けソース及びドレインをインバー
タIV32の出力端とトランジスタM36,M37のド
レインとの間に接続するnMOS型のトランジスタM3
8とを備え、トランジスタM36,M37のドレイン接
続点から出力信号OUTを出力し、トランジスタM31
のゲートにクロック信号CKのレベル反転信号を伝達す
る構成となっている。
【0056】このような構成とすることにより、クロッ
ク信号CKが高レベルの非ラッチ時には、実質的に図1
の回路にトランジスタM36,M37が付加されただけ
の回路となり、トランジスタM36,M37は互いに相
補的にオン,オフして出力信号OUTをほぼ接地電位レ
ベルから電源電位Vccレベルまでフルスイングさせる
ことができる。
【0057】また、クロック信号CKが低レベルのラッ
チ時には、トランジスタM31をオフとし、トランジス
タM35をオンにしてM37をオフとし、トランジスタ
Q33をオンにしてM36をオフとし、出力信号OUT
の信号線を前段側と切離すと共に、トランジスタM38
をオンにしてインバータIV31,IV32及びトラン
ジスタM38による閉ループを形成して出力信号OUT
を保持し出力するラッチ回路を構成する。
【0058】このラッチ回路は、クロック信号CKのレ
ベル反転信号によって制御され、一方、差動増幅回路2
aのラッチ部はクロック信号CKそのもので制御される
ので、差動増幅回路2a側をマスタラッチ、レベル変換
回路3b側をスレーブラッチとするレジスタ機能が実現
できる。
【0059】この第7の実施の形態においては、レベル
変換回路にCMOS型のドライバ回路(M36,M3
7)が付加された形となっているが、レベル変換回路の
出力側には通常このようなドライバ回路が必要であり、
このドライバ回路を含めた形でのラッチ回路付加による
信号伝達経路の回路段数の増加は全くなく、従って動作
速度の遅れは殆どない状態でレジスタ機能を負荷するこ
とができる。
【0060】図10は本発明の第8の実施の形態を示す
回路図である。
【0061】この第8の実施の形態は、差動増幅回路2
bの駆動用のトランジスタをnMOS型のトランジスタ
M24,M26とすると共に、レベル変換回路3cを、
インバータIV34,35及びトランスファゲートTG
31,TG32から成るラッチ機能付きとしたものであ
る。
【0062】この第8の実施の形態の差動増幅回路2b
は、ソースを共通接続しゲートに第1及び第2の駆動用
の信号P1,P2それぞれを対応して受けるnMOS形
の駆動用のトランジスタM24,M25と、これら駆動
用のトランジスタM24,M25のソースと接地電位点
との間に接続された定電流源I22と、ソースに電源電
位Vccを受けドレインをトランジスタM24のドレイ
ンと接続するpMOS型のトランジスタM23と、ソー
スに電源電位Vccを受けゲート及びドレインをトラン
ジスタM23のゲート及びトランジスタM26のドレイ
ンと接続してトランジスタM23と共にカレントミラー
回路型の負荷回路を形成するpMOS型のトランジスタ
M25とを備えた構成となっている。
【0063】また、レベル変換回路3cは、入力端に差
動増幅回路の出力信号、すなわち差動増幅信号E1を受
けクロック信号CKが低レベルのときに導通してこの入
力端の信号を出力端に伝達する第1のトランスファゲー
トTG31と、所定のしきい値電圧をもち入力端にトラ
ンスファゲートTG31の出力端の信号を受けるCMO
S型の第1のインバータIV34と、このインバータI
V34の出力信号をレベル反転する第2のインバータI
V35と、入力端にインバータIV35の出力信号を受
けクロック信号が高レベルのときに導通して入力端の信
号を出力端と接続するインバータIV34の入力端に伝
達する第2のトランスファゲートTG32とを備えた構
成となっている。
【0064】この第8の実施の形態においては、従来例
の全てがpMOS型のトランジスタで形成された差動増
幅回路に対し、差動増幅回路2bの駆動用のトランジス
タM24,M26を、トランジスタ能力の高いnMOS
型とし、また、このnMOS型のトランジスタM24,
M26が駆動できるように、プッシュプル回路1dを、
その出力信号の駆動用の信号P1,P2を比較的高い電
圧に高速シフトする回路としている。
【0065】レベルシフト回路3cは、クロック信号C
Kが低レベルのときトランスファゲートTG31及びイ
ンバータIV34を介して出力信号OUTを出力する。
このとき、差動増幅信号E1はインバータIV34によ
り接地電位レベル,電源電位レベルにフルスイングされ
る。また、クロック信号CKが高レベルのときは、差動
増幅回路2bと切離されると共に、インバータIV3
4,IV35及びトランスファゲートTG32によりラ
ッチ回路を形成し、クロック信号CKが高レベルになる
直前の状態(信号)を保持し出力する。
【0066】この第8の実施の形態では、前述した実施
の形態で使用しているバイポーラ型のトランジスタを使
用していないので、これら実施の形態より動作速度がや
や遅くなるが、その分、製造コストやチップ面積などの
点で有利である。
【0067】図11は本発明の実施の形態のうちのレジ
スタ機能が付加されていない場合と付加されている場合
の実施の形態の遅延時間及び消費電流を従来例と比較し
た図である。また、レジスタの機能が付加されていない
場合では後段に比較的重い負荷容量を、レジスタ機能付
きの場合では比較的軽い負荷容量を接続してそれぞれ比
較している。特に重い負荷としては、1〜2段のドライ
バ回路を接続している。
【0068】従来例では、どちらの場合でも遅延時間が
1.5ns、消費電流が1.5mAであるのに対し、本
発明の実施の形態では、レジスタ機能なしの場合、従来
例に対し、遅延時間で27%、消費電流で40%程度改
善され、レジスタ機能付きの場合、遅延時間で47%、
消費電流で27%程度改善される。
【0069】なお、前述した実施の形態は一例であり、
これらの実施の形態を基本とした変形も容易であり、ま
たこれら実施の形態の各部の組合せによる変形も容易で
ある。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、差動増幅
回路の駆動用のトランジスタをバイポーラ型及びnMO
S型のトランジスタとし、これらトランジスタを駆動す
るプッシュプル回路を、ゲートに入力信号及びリファレ
ンス電圧それぞれを対応して受けてそのレベルに応じて
オン能力を制御するMOS型のトランジスタで形成し、
また、レベル変換回路を、相補型の差動増幅信号のレベ
ルに応答してトランジスタのオン能力を制御しレベル変
換する回路又はCMOS型の回路とし、かつ、これら回
路の出力信号のレベルをそれぞれの次段回路の入力段ト
ランジスタの特性にマッチしたレベルとすることによ
り、各回路の動作に必要な電流を低減して消費電流を低
減することができ、かつ構成トランジスタの持つ特性を
生かして動作の高速化をはかることができる効果があ
り、また、差動増幅回路及びレベルシフト回路の出力信
号線の信号を所定のタイミングで保持し出力するラッチ
回路を設けることにより、信号の伝達時間を損うことな
くラッチ機能,レジスタ機能を付加することができ、半
導体集積回路全体の動作速度を速くすることができる効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を示す回路図であ
る。
【図2】図1に示された実施の形態の動作及び効果を説
明するための各部信号の第1の過渡応答特性図である。
【図3】図1に示された実施の形態の動作及び効果を説
明するための各部信号の第2の過渡応答特性図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態のプッシュプル回路
部分の回路図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態のプッシュプル回路
部分の回路図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態のプッシュプル回路
部分の回路図である。
【図7】本発明の第5の実施の形態を示す回路図であ
る。
【図8】本発明の第6の実施の形態を示す回路図であ
る。
【図9】本発明の第7の実施の形態を示す回路図であ
る。
【図10】本発明の第8の実施の形態を示す回路図であ
る。
【図11】本発明の実施の形態の遅延時間及び消費電流
を従来例と比較して示した図である。
【図12】従来の入力バッファ回路の一例を示す回路図
である。
【符号の説明】
1,1a〜1d プッシュプル回路 2,2a,2b,2x 差動増幅回路 3,3a〜3c レベル変換回路 D31 ダイオード I21,I21x,I22 定電流源 IV21,IV31〜IV35 インバータ M1〜M16,M21〜M26,M21x〜M24x,
M31〜M38,Q21〜Q24,Q31〜Q33
トランジスタ R21,R22 負荷抵抗 TG31,TG32 トランスファゲート

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 MOS型の第1〜第4のトランジスタを
    備えリファレンス電圧と入力信号との差電圧と対応しか
    つ互いに相補のレベル関係にある所定のレベルの第1及
    び第2の駆動用の信号を出力するプッシュプル回路と、
    前記第1及び第2の駆動用の信号それぞれを対応して受
    ける駆動用の第1及び第2のトランジスタを備え前記第
    1及び第2の駆動用の信号を差動増幅して出力する差動
    増幅回路とを有することを特徴とする入力バッファ回
    路。
  2. 【請求項2】 差動増幅回路を、エミッタを共通接続し
    ベースに第1及び第2の駆動用の信号それぞれを対応し
    て受けるバイポーラ型の第1及び第2の駆動用のトラン
    ジスタと、これら第1及び第2の駆動用のトランジスタ
    のエミッタと電源電位点及び接地電位点のうちの一方と
    の間に接続された定電流源と、前記第1及び第2の駆動
    用のトランジスタと接続される負荷回路とを備えた回路
    とし、プッシュプル回路を、前記第1及び第2の駆動用
    のトランジスタが飽和しない範囲の所定のレベルの第1
    及び第2の駆動用の信号を出力する回路とした請求項1
    記載の入力バッファ回路。
  3. 【請求項3】 プッシュプル回路を、第1〜第4のトラ
    ンジスタを同一導電型とし、前記第1のトランジスタの
    ゲートに入力信号を受けソースに電源電位及び接地電位
    のうちの一方を受け、前記第2のトランジスタのゲート
    にリファレンス電圧を受けソースを前記第1のトランジ
    スタのドレインと接続しドレインに前記電源電位及び接
    地電位のうちの他方を受け、前記第3のトランジスタの
    ゲートに前記リファレンス電圧を受けソースに前記電源
    電位及び接地電位のうちの一方を受け、前記第4のトラ
    ンジスタのゲートに前記入力信号を受けソースを前記第
    3のトランジスタのドレインと接続しドレンインに前記
    電源電位及び接地電位のうちの他方を受け、前記第1及
    び第2のトランジスタのソース,ドレイン接続点から第
    1の駆動用の信号を出力し、前記第3及び第4のトラン
    ジスタのソース,ドレイン接続点から第2の駆動用の信
    号を出力する回路とした請求項1記載の入力バッファ回
    路。
  4. 【請求項4】 プッシュプル回路を、ゲートに入力信号
    を受けソースに電源電位及び接地電位のうちの一方を受
    ける一導電型の第1のトランジスタと、ゲート及びドレ
    インを前記第1のトランジスタのゲート及びドレインと
    対応接続しソースに前記電源電位及び接地電位のうちの
    他方を受ける逆導電型の第2のトランジスタと、ゲート
    にリファレンス電圧を受けソースに前記電源電位及び接
    地電位のうちの一方を受ける一導電型の第3のトランジ
    スタと、ゲート及びドレインを前記第3のトランジスタ
    のソース及びドレインと対応接続しソースに前記電源電
    位及び接地電位のうちの他方を受ける逆導電型の第4の
    トランジスタとを備え、前記第1及び第2のトランジス
    タのドレイン接続点から第1の駆動用の信号を出力し、
    前記第3及び第4のトランジスタのドレイン接続点から
    第2の駆動用の信号を出力する回路とした請求項1記載
    の入力バッファ回路。
  5. 【請求項5】 プッシュプル回路の電源電位受電端及び
    接地電位受電端のうちの一方に、電源電位及び接地電位
    とは異なる所定の電位の内部基準電圧を供給するように
    した請求項3または4記載の入力バッファ回路。
  6. 【請求項6】 差動増幅回路を、ソースを共通接続しゲ
    ートに第1及び第2の駆動用の信号それぞれを対応して
    受けるnチャネルMOS型の第1及び第2の駆動用のト
    ランジスタと、これら第1及び第2の駆動用のトランジ
    スタのソースと電源電位点及び接地電位点のうちの一方
    との間に接続された定電流源と、前記第1及び第2の駆
    動用のトランジスタと接続する負荷回路とを備えた回路
    とした請求項1記載の入力バッファ回路。
  7. 【請求項7】 差動増幅回路の出力信号を所定のレベル
    に変換するレベル変換回路を設けた請求項1記載の入力
    バッファ回路。
  8. 【請求項8】 差動増幅回路を、互いに相補のレベル関
    係にある第1及び第2の差動増幅信号を出力する回路と
    し、レベル変換回路を、ベースに前記第1及び第2の差
    動増幅信号のうちの一方を受けコレクタに電源電位及び
    接地電位のうちの一方を受けるバイポーラ型のトランジ
    スタと、ソースを前記バイポーラ型のトランジスタのエ
    ミッタと接続しゲートに前記電源電位及び接地電位のう
    ちの他方を受ける一導電型MOS型のトランジスタと、
    ドレインを前記一導電型MOS型のトランジスタのドレ
    インと接続しゲートに前記第1及び第2の差動増幅信号
    のうちの他方を受ける逆導電型MOS型のトランジスタ
    と、一端を前記逆導電型MOS型のトランジスタのソー
    スと接続し他端に前記電源電位及び接地電位のうちの他
    方を受けて順方向電圧を発生するダイオード素子とを備
    え、前記逆導電型MOS型のトランジスタのドレインか
    らレベル変換された信号を出力する回路とした請求項7
    記載の入力バッファ回路。
  9. 【請求項9】 差動増幅回路及びレベル変換回路のうち
    の少なくとも一方に、その出力信号を所定のタイミング
    で保持し出力する信号保持手段を設けた請求項7記載の
    入力バッファ回路。
  10. 【請求項10】 差動増幅回路を、エミッタを共通接続
    しベースに第1及び第2の駆動用の信号それぞれを対応
    して受けるバイポーラ型の第1及び第2の駆動用のトラ
    ンジスタ、ソース及びドレインをこれら第1及び第2の
    駆動用のトランジスタのエミッタと電源電位点及び接地
    電位点のうちの一方との間に接続しクロック信号の第1
    のレベルに応答して導通し定電流を発生する定電流源の
    MOS型のトランジスタ、並びに前記第1及び第2の駆
    動用のトランジスタと接続する負荷回路を備え、前記第
    1及び第2の駆動用の信号を差動増幅して第1及び第2
    の差動増幅信号として出力する差動増幅部と、ベースに
    前記第1の差動増幅信号を受けコレクタに前記第2の差
    動増幅信号を受けるバイポーラ型の第1の信号保持用の
    トランジスタ、ベースに前記第2の差動増幅信号を受け
    コレクタに前記第1の差動増幅信号を受けエミッタを前
    記第1の信号保持用のトランジスタのエミッタと接続す
    るバイポーラ型の第2の信号保持用のトランジスタ、並
    びにソース及びドレインを前記第1及び第2の信号保持
    用のトランジスタのエミッタと前記電源電位点及び接地
    電位点のうちの一方との間に接続し前記クロック信号の
    第2のレベルに応答して導通するスイッチング用のMO
    S型のトランジスタを備え、前記第1及び第2の差動増
    幅信号を所定のタイミングで保持し出力する信号保持部
    とを含んだ回路とした請求項9記載の入力バッファ回
    路。
  11. 【請求項11】 レベル変換回路を、入力端に差動増幅
    回路の出力信号を受けクロック信号が第1のレベルのと
    きに前記入力端に受けた信号を出力端に伝達する第1の
    トランスファゲートと、所定のしきい値電圧をもち入力
    端に前記第1のトランスファゲートの出力端の信号を受
    ける第1のインバータと、この第1のインバータの出力
    信号をレベル反転する第2のインバータと、この第2の
    インバータの出力信号を入力端に受け前記クロック信号
    が第2のレベルのときにこの入力端の信号を前記第1の
    インバータの入力端に伝達する第2のトランスファゲー
    トとを備え、前記第1のインバータの出力信号をレベル
    変換された信号として出力する回路とした請求項9記載
    の入力バッファ回路。
JP7193554A 1995-07-28 1995-07-28 入力バッファ回路 Expired - Fee Related JP2773692B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7193554A JP2773692B2 (ja) 1995-07-28 1995-07-28 入力バッファ回路
KR1019960030824A KR100246164B1 (ko) 1995-07-28 1996-07-27 고속에서 저전류 소모로 저진폭 입력 신호의 증폭이 가능한 입력버퍼 회로를 포함하는 반도체 소자
TW085109168A TW299498B (ja) 1995-07-28 1996-07-27
US08/687,964 US5900745A (en) 1995-07-28 1996-07-29 Semiconductor device including input buffer circuit capable of amplifying input signal with low amplitude in high speed and under low current consumption

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7193554A JP2773692B2 (ja) 1995-07-28 1995-07-28 入力バッファ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0946209A true JPH0946209A (ja) 1997-02-14
JP2773692B2 JP2773692B2 (ja) 1998-07-09

Family

ID=16309984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7193554A Expired - Fee Related JP2773692B2 (ja) 1995-07-28 1995-07-28 入力バッファ回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5900745A (ja)
JP (1) JP2773692B2 (ja)
KR (1) KR100246164B1 (ja)
TW (1) TW299498B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0989673A2 (en) * 1998-09-16 2000-03-29 Microchip Technology Inc. Low power digital input circuit
KR100444179B1 (ko) * 2002-01-16 2004-08-09 한국전자통신연구원 반전 회로를 이용한 국부 발진기 발룬
JP2011035597A (ja) * 2009-07-31 2011-02-17 Renesas Electronics Corp 差動増幅器

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6144218A (en) * 1998-01-23 2000-11-07 Intel Corporation High speed analog compensated input buffer
US6424177B1 (en) 1999-06-28 2002-07-23 Broadcom Corporation Universal single-ended parallel bus
US6483347B1 (en) 2001-07-11 2002-11-19 Micron Technology, Inc. High speed digital signal buffer and method
US6624999B1 (en) * 2001-11-20 2003-09-23 Intel Corporation Electrostatic discharge protection using inductors
EP1376867A1 (en) * 2002-06-19 2004-01-02 Alcatel Differential high speed cmos to ecl logic converter
ATE454749T1 (de) * 2003-02-05 2010-01-15 Alcatel Lucent Ecl-schaltung mit gesteuerter stromquelle
JP4230881B2 (ja) 2003-10-23 2009-02-25 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路、及びレベル変換回路
US7373090B2 (en) * 2004-03-26 2008-05-13 Intel Corporation Modulator driver circuit with selectable on-chip termination
JP4571431B2 (ja) * 2004-04-30 2010-10-27 ルネサスエレクトロニクス株式会社 信号増幅回路
US7327620B2 (en) * 2004-06-10 2008-02-05 Mircon Technology, Inc. Differential input buffer for receiving signals relevant to low power
DE102005038001A1 (de) * 2004-08-09 2006-07-13 Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon Spannungspegelwandlerschaltkreis und Verfahren zur Pegelwandlung
KR100587689B1 (ko) * 2004-08-09 2006-06-08 삼성전자주식회사 반도체 장치에 적합한 레벨 시프트 회로
US7215173B2 (en) * 2005-01-31 2007-05-08 Intel Corporation Low-swing level shifter
WO2007019066A2 (en) * 2005-08-04 2007-02-15 Mau-Chung Frank Chang Phase coherent differential structures

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4667165A (en) * 1986-02-19 1987-05-19 Advanced Micro Devices, Inc. High-speed full differential amplifier with common mode rejection
JPH0713857B2 (ja) * 1988-06-27 1995-02-15 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
JPH02246516A (ja) * 1989-03-20 1990-10-02 Hitachi Ltd 半導体装置
US5264743A (en) * 1989-12-08 1993-11-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory operating with low supply voltage
JP2758259B2 (ja) * 1990-09-27 1998-05-28 株式会社東芝 バッファ回路
JP2666604B2 (ja) * 1991-05-31 1997-10-22 株式会社日立製作所 差動増幅器およびこれを用いたラッチ回路並びにラッチ回路を用いたメモリ装置及びその情報読み出し方法
JPH0729373A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0989673A2 (en) * 1998-09-16 2000-03-29 Microchip Technology Inc. Low power digital input circuit
EP0989673A3 (en) * 1998-09-16 2001-02-07 Microchip Technology Inc. Low power digital input circuit
KR100444179B1 (ko) * 2002-01-16 2004-08-09 한국전자통신연구원 반전 회로를 이용한 국부 발진기 발룬
JP2011035597A (ja) * 2009-07-31 2011-02-17 Renesas Electronics Corp 差動増幅器

Also Published As

Publication number Publication date
KR100246164B1 (ko) 2000-03-15
KR970008836A (ko) 1997-02-24
US5900745A (en) 1999-05-04
TW299498B (ja) 1997-03-01
JP2773692B2 (ja) 1998-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2773692B2 (ja) 入力バッファ回路
US6037816A (en) Signal transmitting circuit, signal receiving circuit, signal transmitting/receiving circuit, signal transmitting method, signal receiving method, signal transmitting/receiving method, semiconductor integrated circuit, and control method thereof
EP0884849B1 (en) Voltage-level shifter
US5059890A (en) Constant current source circuit
US5532620A (en) Input buffer circuit capable of corresponding to variation of operating voltage in semiconductor integrated circuit
US6717448B2 (en) Data output method and data output circuit for applying reduced precharge level
KR940006965B1 (ko) 출력회로
US6683445B2 (en) Internal power voltage generator
JPH0422050B2 (ja)
JPH06204844A (ja) ECL−BiCMOS/CMOSトランスレータ
JP2585599B2 (ja) 出力インタ−フエ−ス回路
GB2266420A (en) ECL to CMOS converter using BiCMOS
JPH06104725A (ja) 半導体集積回路
JP2546489B2 (ja) レベル変換回路
US5469097A (en) Translator circuit with symmetrical switching delays
KR100307637B1 (ko) 부스팅 커패시터를 구비하는 입력버퍼 회로
US5371421A (en) Low power BiMOS amplifier and ECL-CMOS level converter
JPH02268018A (ja) Ttl―cmosレベルトランスレータ
US5225717A (en) BiCMOS input buffer circuit operable at high speed under less power consumption
US4888501A (en) ECL to CMOS converter
US5710516A (en) Input logic signal buffer circuits
US6194933B1 (en) Input circuit for decreased phase lag
KR100713907B1 (ko) 반도체 장치의 라인 구동 회로
JP3968818B2 (ja) アンプ
JP2002314399A (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980324

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080424

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090424

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100424

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110424

Year of fee payment: 13

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110424

Year of fee payment: 13

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120424

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120424

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130424

Year of fee payment: 15

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees