JPH093692A - 軟磁性鉄電析膜の製造方法および軟磁性鉄被覆線の製造方法 - Google Patents

軟磁性鉄電析膜の製造方法および軟磁性鉄被覆線の製造方法

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JPH093692A
JPH093692A JP15940695A JP15940695A JPH093692A JP H093692 A JPH093692 A JP H093692A JP 15940695 A JP15940695 A JP 15940695A JP 15940695 A JP15940695 A JP 15940695A JP H093692 A JPH093692 A JP H093692A
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coated copper
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JP15940695A
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Shunichi Yoshimura
俊一 吉村
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Totoku Electric Co Ltd
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Totoku Electric Co Ltd
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    • HELECTRICITY
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 保磁力が40Oe以下であり且つ平均結晶粒
径が500Å以下の軟磁性鉄電析膜を短時間で製造す
る。 【構成】 電気メッキにより厚さ2μm以下の鉄被覆を
施した鉄被覆銅線8Aを、高温の窒素ガス2を充填した
電気炉1中を通過させて、鉄被覆の温度が500℃以上
800℃以下で1秒以上10秒以下の熱処理を施し、軟
磁性鉄被覆銅線8Bを製造する。 【効果】 保磁力が40Oe以下であり且つ平均結晶粒
径が500Å以下の軟磁性鉄電析膜で被覆した軟磁性鉄
被覆線を短時間で製造することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、軟磁性鉄電析膜の製
造方法および軟磁性鉄被覆線の製造方法に関し、さらに
詳しくは、保磁力が40Oe(エールステッド)以下で
あり且つ平均結晶粒径が500Å(オングストローム)
以下の軟磁性鉄電析膜を短時間で製造しうる軟磁性鉄電
析膜の製造方法および導線を前記軟磁性鉄電析膜で被覆
した軟磁性鉄被覆線を短時間で製造しうる軟磁性鉄被覆
線の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の軟磁性鉄電析膜の製造方法として
は、基体に電気メッキにより鉄電析膜を形成し、その鉄
電析膜に400℃〜800℃で2時間程度の熱処理を施
し、保磁力が20Oe以下の軟磁性鉄電析膜を形成する
方法が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の軟磁性鉄電
析膜の製造方法では、熱処理に要する時間が長いため、
生産性が低い問題点がある。また、温度を600℃〜8
00℃にすると、保磁力は10Oe以下にできるが、平
均結晶粒径が1000Å以上になり、厚さ2μm以下の
薄膜では機械的強度に欠ける問題点がある。そこで、こ
の発明の第1の目的は、保磁力が40Oe以下であり且
つ平均結晶粒径が500Å以下の軟磁性鉄電析膜を短時
間で製造しうる軟磁性鉄電析膜の製造方法を提供するこ
とにある。また、この発明の第2の目的は、保磁力が1
0Oe以下であり且つ平均結晶粒径が500Å以下の軟
磁性鉄電析膜を短時間で製造しうる軟磁性鉄電析膜の製
造方法および導線を前記軟磁性鉄電析膜で被覆した軟磁
性鉄被覆線を短時間で製造しうる軟磁性鉄被覆線の製造
方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】第1の観点では、この発
明は、基体に電気メッキにより形成した厚さ2μm以下
の鉄電析膜に500℃以上800℃以下で1秒以上10
秒以下の熱処理を施すことを特徴とする軟磁性鉄電析膜
の製造方法を提供する。
【0005】第2の観点では、この発明は、基体に電気
メッキにより形成した厚さ2μm以下の鉄電析膜に65
0℃以上800℃以下で1秒以上10秒以下の熱処理を
施すことを特徴とする軟磁性鉄電析膜の製造方法を提供
する。
【0006】第3の観点では、この発明は、導線に電気
メッキにより厚さ2μm以下の鉄被覆を施した鉄被覆線
を、高温の不活性ガスを充填した炉中を通過させて、前
記鉄被覆の温度が650℃以上800℃以下で1秒以上
10秒以下の熱処理を施すことを特徴とする軟磁性鉄被
覆線の製造方法を提供する。
【0007】
【作用】この発明の発明者が鋭意研究したところ、電気
メッキにより形成した厚さ2μm以下の鉄電析膜に50
0℃以上800℃以下で1秒以上10秒以下の熱処理を
施すと、保磁力が40Oe以下であり且つ平均結晶粒径
が500Å以下の軟磁性鉄電析膜を製造しうることを見
出した。これにより、保磁力は従来より高くなってしま
う場合もあるが、従来よりも著しく短時間で軟磁性鉄電
析膜を製造でき、生産性を格段に向上できるようにな
る。
【0008】また、この発明の発明者が鋭意研究したと
ころ、電気メッキにより形成した厚さ2μm以下の鉄電
析膜に650℃以上800℃以下で1秒以上10秒以下
の熱処理を施すと、保磁力が10Oe以下であり且つ平
均結晶粒径が500Å以下の軟磁性鉄電析膜を製造しう
ることを見出した。これにより、保磁力は従来と同程度
であるが、平均結晶粒径は従来より小さくなり、機械的
強度に優れた軟磁性鉄電析膜を製造できる。また、従来
よりも著しく短時間で製造でき、生産性を格段に向上で
きる。
【0009】また、この発明の発明者が鋭意研究したと
ころ、電気メッキにより厚さ2μm以下の鉄被覆を施し
た鉄被覆線を、高温の不活性ガスを充填した炉中を通過
させて、前記鉄被覆の温度が650℃以上800℃以下
で1秒以上10秒以下の熱処理を施すと、保磁力が10
Oe以下であり且つ平均結晶粒径が500Å以下の軟磁
性鉄電析膜で被覆した軟磁性鉄被覆線を製造しうること
を見出した。この軟磁性鉄被覆の保磁力は従来と同程度
であるが、平均結晶粒径は従来より小さくなり、機械的
強度は従来より優れたものとなる。また、従来よりも著
しく短時間で製造でき、生産性を格段に向上できるよう
になる。
【0010】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。
【0011】[実施例1]外径0.080mmの銅線
(銅99.9%)を炉中で焼鈍し、NaOH溶液で電解
脱脂し、HCl溶液でエッチングした。この銅線に電気
メッキにより厚さ0.8μmの鉄被覆を形成した。電気
メッキには、HCl溶液を用いてPH2に調整したFe
Cl2(1.57mol/dm3)とCaCl2(2.04mol
/dm3)の組成のメッキ液を用いた。液温は60℃と
した。陽極には、高純度鉄を用いた。電流密度は10A
/dm2とした。電気メッキにより得られた鉄被覆銅線
を、窒素ガスを流した電気炉を通過させ、焼鈍を行い、
軟磁性鉄被覆銅線とした。焼鈍温度は、700℃とし
た。焼鈍時間は、2秒とした。図1に、焼鈍装置100
を示す。電気炉1は長さ2mの管状であり、この電気炉
1内は窒素ガス2の雰囲気で満たされている。電気炉1
の一方側1aから入った鉄被覆銅線8Aは、軟磁性鉄被
覆銅線8Bとなって他方側1bから出る。焼鈍温度は、
電流調節器(図示省略)により調節しうる。なお、焼鈍
温度は、電気炉1の設定温度ではなく、炉径,窒素ガス
熱伝導度などから算出した鉄被覆の温度である。焼鈍時
間は、ローラ4の送り速度により調節しうる。 [比較例1]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍は行わなかった。 [実施例1と比較例1のBH特性の比較]振動試料型磁
力計(玉川製作所製:TM−VSM1550HGC)を
使用し、実施例1の軟磁性鉄被覆銅線のBH特性を測定
した。測定結果を、図2に実線で示す。また、同様に、
比較例1の鉄被覆銅線のBH特性を測定した。測定結果
を、図2に破線で示す。図2から、実施例1の軟磁性鉄
被覆銅線の方が軟磁性になっていることが判る。
【0012】[実施例2]実施例1と同様にして鉄被覆
銅線を作製し、焼鈍温度を500℃〜800℃の範囲で
変化させた。焼鈍時間は2秒とした。 [比較例2a]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を200℃〜500℃の範囲で変化させ、
焼鈍時間は2秒とした。 [比較例2b]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を200℃〜800℃の範囲で変化させ、
焼鈍時間は2時間とした。 [実施例2と比較例2a,2bの保磁力,平均結晶粒
径,残留応力の比較]振動試料型磁力計(玉川製作所
製:TM−VSM1550HGC)を使用し、実施例2
の軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結果
を、図3に点入り白丸で示す。また、同様に、比較例2
aの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結
果を、図3に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例
2bの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定
結果を、図3に黒丸で示す。なお、点入り白丸および点
無し白丸は、焼鈍時間が短時間(2秒)であるため、
「フラッシュ焼鈍」と呼ぶ。一方、黒丸は、焼鈍時間が
従来と同じ(2時間)であるため、「通常の焼鈍」と呼
ぶ。図3から、実施例2の軟磁性鉄被覆銅線の保磁力H
cは、比較例2aより軟磁性的に優れているが、比較例
2bよりは軟磁性的に劣っていることが判る(但し、焼
鈍時間は著しく短時間になる利点がある)。なお、65
0℃〜800℃の範囲では、実施例2の軟磁性鉄被覆銅
線の保磁力Hcは10Oe以下であり、特に好ましい軟
磁性となっている。
【0013】X線回析装置(理学電機製)を使用し、C
u−Kα線を用いたX線回析法により、実施例2の軟磁
性鉄被覆銅線の(110)面の回析線の半値幅を測定し、
Scherrerの式により平均結晶粒径Dを算出した。測定
結果を、図3に点入り白丸で示す。また、同様に、比較
例2aの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを測定し
た。測定結果を、図3に点無し白丸で示す。また、同様
に、比較例2bの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを
測定した。測定結果を、図3に黒丸で示す。図3から、
実施例2の軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dは、比較
例2aより少し大きくなっているが500Å以下であ
り、比較例2bよりは常に小さいことが判る。なお、6
50℃〜800℃の範囲では、比較例2bの軟磁性鉄被
覆銅線の平均結晶粒径Dは1000Å以上に大きくなっ
ており、機械的強度の観点から好ましくない。
【0014】X線応力測定装置(理学電機製:PSPC
−MSF−2)を使用し、実施例2の軟磁性鉄被覆銅線
の鉄被覆の残留応力σを測定した。測定結果を、図3に
点入り白丸で示す。また、同様に、比較例2aの軟磁性
鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図3
に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例2bの軟磁
性鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図
3に黒丸で示す。図3から、実施例2の軟磁性鉄被覆銅
線の残留応力σは、比較例2aより小さく、比較例2b
と同程度であることが判る。
【0015】[実施例3]実施例1と同様にして鉄被覆
銅線を作製し、焼鈍温度を500℃とし、焼鈍時間を1
秒〜10秒の範囲で変化させた。 [比較例3a]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を500℃とし、焼鈍時間を0.6秒とし
た。 [比較例3b]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を500℃とし、焼鈍時間を0.5時間〜
5時間に変化させた。 [実施例3と比較例3a,3bの保磁力,平均結晶粒
径,残留応力の比較]振動試料型磁力計(玉川製作所
製:TM−VSM1550HGC)を使用し、実施例3
の軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結果
を、図4に点入り白丸で示す。また、同様に、比較例3
aの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結
果を、図4に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例
3bの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定
結果を、図4に黒丸で示す。図4から、実施例3の軟磁
性鉄被覆銅線の保磁力Hcは、比較例3aより軟磁性的
に優れているが、比較例3bよりは軟磁性的に劣ってい
る(但し、焼鈍時間は著しく短時間になる利点がある)
ことが判る。
【0016】X線回析装置(理学電機製)を使用し、C
u−Kα線を用いたX線回析法により、実施例3の軟磁
性鉄被覆銅線の(110)面の回析線の半値幅を測定し、
Scherrerの式により平均結晶粒径Dを算出した。測定
結果を、図4に点入り白丸で示す。また、同様に、比較
例3aの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを測定し
た。測定結果を、図4に点無し白丸で示す。また、同様
に、比較例3bの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを
測定した。測定結果を、図4に黒丸で示す。図4から、
実施例3の軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dは、比較
例3aより少し大きくなっているが500Å以下であ
り、比較例3bよりは格段に小さいことが判る。
【0017】X線応力測定装置(理学電機製:PSPC
−MSF−2)を使用し、実施例3の軟磁性鉄被覆銅線
の鉄被覆の残留応力σを測定した。測定結果を、図4に
点入り白丸で示す。また、同様に、比較例3aの軟磁性
鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図4
に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例3bの軟磁
性鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図
4に黒丸で示す。図4から、実施例3の軟磁性鉄被覆銅
線の残留応力σは、比較例3aより小さく、比較例3b
と同程度であることが判る。
【0018】[実施例4]実施例1と同様にして鉄被覆
銅線を作製し、焼鈍温度を700℃とし、焼鈍時間を1
秒〜10秒の範囲で変化させた。 [比較例4a]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を700℃とし、焼鈍時間を0.6秒とし
た。 [比較例4b]実施例1と同様にして鉄被覆銅線を作製
し、焼鈍温度を700℃とし、焼鈍時間を0.5時間〜
5時間に変化させた。 [実施例4と比較例4a,4bの保磁力,平均結晶粒
径,残留応力の比較]振動試料型磁力計(玉川製作所
製:TM−VSM1550HGC)を使用し、実施例4
の軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結果
を、図5に点入り白丸で示す。また、同様に、比較例4
aの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定結
果を、図5に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例
4bの軟磁性鉄被覆銅線の保磁力Hcを測定した。測定
結果を、図5に黒丸で示す。図5から、実施例4の軟磁
性鉄被覆銅線の保磁力Hcは、比較例4aより軟磁性的
に優れているが、比較例3bよりは軟磁性的にわずかに
劣っている(但し、焼鈍時間は著しく短時間になる利点
がある)ことが判る。
【0019】X線回析装置(理学電機製)を使用し、C
u−Kα線を用いたX線回析法により、実施例4の軟磁
性鉄被覆銅線の(110)面の回析線の半値幅を測定し、
Scherrerの式により平均結晶粒径Dを算出した。測定
結果を、図5に点入り白丸で示す。また、同様に、比較
例4aの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを測定し
た。測定結果を、図5に点無し白丸で示す。また、同様
に、比較例4bの軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dを
測定した。測定結果を、図5に黒丸で示す。図5から、
実施例4の軟磁性鉄被覆銅線の平均結晶粒径Dは、比較
例4aより少し大きくなっているが500Å以下であ
り、比較例4bよりは格段に小さいことが判る。
【0020】X線応力測定装置(理学電機製:PSPC
−MSF−2)を使用し、実施例4の軟磁性鉄被覆銅線
の鉄被覆の残留応力σを測定した。測定結果を、図5に
点入り白丸で示す。また、同様に、比較例4aの軟磁性
鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図5
に点無し白丸で示す。また、同様に、比較例4bの軟磁
性鉄被覆銅線の残留応力σを測定した。測定結果を、図
5に黒丸で示す。図5から、実施例4の軟磁性鉄被覆銅
線の残留応力σは、比較例4aより小さく、比較例4b
と同程度であることが判る。
【0021】
【発明の効果】この発明の軟磁性鉄電析膜の製造方法に
よれば、第1の観点では、保磁力が40Oe以下であり
且つ平均結晶粒径が500Å以下の軟磁性鉄電析膜を短
時間で製造することが出来る。また、第2の観点では、
保磁力が10Oe以下であり且つ平均結晶粒径が500
Å以下の軟磁性鉄電析膜を短時間で製造することが出来
る。また、この発明の軟磁性鉄被覆線の製造方法によれ
ば、保磁力が10Oe以下であり且つ平均結晶粒径が5
00Å以下の軟磁性鉄電析膜で被覆した軟磁性鉄被覆線
を短時間で製造することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】焼鈍装置を示す簡略構成図である。
【図2】実施例1と比較例1のBH特性図である。
【図3】実施例2と比較例2a,2bの保磁力Hc,平
均結晶粒径D,残留応力σの特性図である。
【図4】実施例3と比較例3a,3bの保磁力Hc,平
均結晶粒径D,残留応力σの特性図である。
【図5】実施例4と比較例4a,4bの保磁力Hc,平
均結晶粒径D,残留応力σの特性図である。
【符号の説明】
100 焼鈍装置 1 電気炉 2 窒素ガス 4 ローラ 8A 鉄被覆銅線 8B 軟磁性鉄被覆銅線

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体に電気メッキにより形成した厚さ2
    μm以下の鉄電析膜に500℃以上800℃以下で1秒
    以上10秒以下の熱処理を施すことを特徴とする軟磁性
    鉄電析膜の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の軟磁性鉄電析膜の製造
    方法において、前記鉄電析膜に650℃以上800℃以
    下で1秒以上10秒以下の熱処理を施すことを特徴とす
    る軟磁性鉄電析膜の製造方法。
  3. 【請求項3】 導線に電気メッキにより厚さ2μm以下
    の鉄被覆を施した鉄被覆線を、高温の不活性ガスを充填
    した炉中を通過させて、前記鉄被覆の温度が650℃以
    上800℃以下で1秒以上10秒以下の熱処理を施すこ
    とを特徴とする軟磁性鉄被覆線の製造方法。
JP15940695A 1995-06-26 1995-06-26 軟磁性鉄電析膜の製造方法および軟磁性鉄被覆線の製造方法 Pending JPH093692A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012136754A1 (en) * 2011-04-07 2012-10-11 Abb Research Ltd Cable and electromagnetic device comprising the same

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WO2012136754A1 (en) * 2011-04-07 2012-10-11 Abb Research Ltd Cable and electromagnetic device comprising the same
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