JPH09318342A - 定圧機構 - Google Patents
定圧機構Info
- Publication number
- JPH09318342A JPH09318342A JP8139009A JP13900996A JPH09318342A JP H09318342 A JPH09318342 A JP H09318342A JP 8139009 A JP8139009 A JP 8139009A JP 13900996 A JP13900996 A JP 13900996A JP H09318342 A JPH09318342 A JP H09318342A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film thickness
- measured
- probe
- vibrator
- measurement
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- Pending
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラスチック材料の上に施された膜の厚さを
測定するための膜厚測定装置用プローブにおける遅延材
の被測定物面にかかる圧力を常に一定にする機構を持つ
ことにより、圧力による測定者の差異及び測定毎の差異
をなくし測定誤差を小さくする。 【解決手段】 振動子にバネを付け振動子とプローブ本
体のハウジングが分離されており、振動子がスライドす
る構造にすることにより、測定時には常にバネ圧による
荷重が被測定物面にかかるようになる。また、遅延材が
膜厚被測定物に接する面の周囲に荷重センサーを付ける
ことにより、測定面にかかる荷重が検知でき、常に一定
荷重での測定が可能になる。
測定するための膜厚測定装置用プローブにおける遅延材
の被測定物面にかかる圧力を常に一定にする機構を持つ
ことにより、圧力による測定者の差異及び測定毎の差異
をなくし測定誤差を小さくする。 【解決手段】 振動子にバネを付け振動子とプローブ本
体のハウジングが分離されており、振動子がスライドす
る構造にすることにより、測定時には常にバネ圧による
荷重が被測定物面にかかるようになる。また、遅延材が
膜厚被測定物に接する面の周囲に荷重センサーを付ける
ことにより、測定面にかかる荷重が検知でき、常に一定
荷重での測定が可能になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プラスチック材料の上
に施された塗装膜の膜厚を測定するための膜厚計に関す
る。
に施された塗装膜の膜厚を測定するための膜厚計に関す
る。
【０００２】
【従来の技術とその問題点】プラスチック材料の上に塗
装、吹付けなどの方法により施された膜の厚さを測定す
るための膜厚測定装置用プローブを用いて膜厚を測定す
る場合、振動子先端の遅延材を被測定物に押し当てて測
定する。その押し当てる圧力の大きさにより被測定物に
歪みが生じたり、遅延材と被測定物間の超音波媒介物質
の厚さが変化するため測定値が変わり測定誤差を生じ
る。プローブを被測定物に押し当てる圧力は、測定者の
違いにより異なり又同一の測定者でも測定毎に異なって
しまう。
装、吹付けなどの方法により施された膜の厚さを測定す
るための膜厚測定装置用プローブを用いて膜厚を測定す
る場合、振動子先端の遅延材を被測定物に押し当てて測
定する。その押し当てる圧力の大きさにより被測定物に
歪みが生じたり、遅延材と被測定物間の超音波媒介物質
の厚さが変化するため測定値が変わり測定誤差を生じ
る。プローブを被測定物に押し当てる圧力は、測定者の
違いにより異なり又同一の測定者でも測定毎に異なって
しまう。
【０００３】
【問題点解決のための手段、作用効果及び実施例】本発
明の目的は、上述の問題点を解決しプラスチック材料の
上に施された塗装膜の膜厚を測定するための膜厚測定装
置を提供することである。本発明によれば、プラスチッ
ク材料の上に施された膜の厚さを測定するための膜厚測
定装置であって、パルス信号を発生するパルス発生器
と、前記パルス発生器に接続された超音波センサーと、
前記センサー内に設けられ、膜厚被測定物に押し当てる
ための材料と、測定時に前記膜厚被測定物に押し当てる
ための材料の測定面が常に一定の圧力で被測定物に押し
当てられる機構とを有する膜厚測定装置が提供される。
明の目的は、上述の問題点を解決しプラスチック材料の
上に施された塗装膜の膜厚を測定するための膜厚測定装
置を提供することである。本発明によれば、プラスチッ
ク材料の上に施された膜の厚さを測定するための膜厚測
定装置であって、パルス信号を発生するパルス発生器
と、前記パルス発生器に接続された超音波センサーと、
前記センサー内に設けられ、膜厚被測定物に押し当てる
ための材料と、測定時に前記膜厚被測定物に押し当てる
ための材料の測定面が常に一定の圧力で被測定物に押し
当てられる機構とを有する膜厚測定装置が提供される。
【０００４】図１に示すようにパルス電圧を超音波振動
子１に印加すると、超音波振動子１は固有の周波数の超
音波を発射し、遅延材２、測定対象の塗装膜３及び素地
であるプラスチック４に伝播する。超音波は音響特性の
違う材料の境界で反射する特性があることから、遅延材
と塗装膜との境界からその一部が反射し、また塗装膜内
に伝播した超音波の一部が塗装膜と素地との境界から反
射する。
子１に印加すると、超音波振動子１は固有の周波数の超
音波を発射し、遅延材２、測定対象の塗装膜３及び素地
であるプラスチック４に伝播する。超音波は音響特性の
違う材料の境界で反射する特性があることから、遅延材
と塗装膜との境界からその一部が反射し、また塗装膜内
に伝播した超音波の一部が塗装膜と素地との境界から反
射する。
【０００５】図２に示す回路構成において、制御器２１
から発した制御信号１１に従ってパルス発生器２２から
出力された電気パルスが、プローブの超音波振動子すな
わちセンサー２３に印加され超音波が発射される。遅延
材と塗装膜との境界、塗装膜と素地との境界で反射した
超音波は同じ超音波振動子で電気信号に変換され、プリ
アンプ２４に入力され増幅される。その出力はさらにゲ
インコントロールアンプ２５により増幅される。ゲイン
コントロールアンプの出力はＡ／Ｄ変換器２６に入力さ
れ２つの超音波反射波の間の時間差に応じたデジタル信
号に変換後、演算処理器２７及びメモリー２９によって
既知の塗装膜内信号伝播速度を用いて膜厚値を算出して
表示器２８に表示される。
から発した制御信号１１に従ってパルス発生器２２から
出力された電気パルスが、プローブの超音波振動子すな
わちセンサー２３に印加され超音波が発射される。遅延
材と塗装膜との境界、塗装膜と素地との境界で反射した
超音波は同じ超音波振動子で電気信号に変換され、プリ
アンプ２４に入力され増幅される。その出力はさらにゲ
インコントロールアンプ２５により増幅される。ゲイン
コントロールアンプの出力はＡ／Ｄ変換器２６に入力さ
れ２つの超音波反射波の間の時間差に応じたデジタル信
号に変換後、演算処理器２７及びメモリー２９によって
既知の塗装膜内信号伝播速度を用いて膜厚値を算出して
表示器２８に表示される。
【０００６】
【具体的実施例】図３Ａに断面図を示すように振動子１
に圧縮コイルバネ５と近接スイッチや押しボタンスイッ
チ等のスイッチ又は圧力センサーや感圧センサー等のセ
ンサー６を付け、振動子とプローブ本体のハウジング７
が分離されており、測定者がプローブ本体のハウジング
を手に持ち、被測定物に遅延材を押しつけると図３Ｂに
示すように振動子が上にスライドし、振動子にプローブ
本体のハウジングの端面Ａと遅延材端面Ｂが平行になる
時のバネの長さに依存する一定の荷重がかかったところ
でプローブのスイッチが入るような構造のプローブにす
ることにより、測定時には常にバネ圧による荷重が被測
定物面にかかるようになる。さらにバネ圧以上の荷重で
プローブを押した時には、スイッチ又はセンサーにバネ
圧以上の荷重がかかる前にプローブ本体のハウジングで
その荷重を受け止め、測定面にはバネ圧以上の荷重がか
からない。このことにより常に一定の圧力で測定するこ
とが出来、しいては圧力に対する測定者の差異及び同一
測定者による測定毎の差異がなくなり、測定誤差が極力
小さくなる。
に圧縮コイルバネ５と近接スイッチや押しボタンスイッ
チ等のスイッチ又は圧力センサーや感圧センサー等のセ
ンサー６を付け、振動子とプローブ本体のハウジング７
が分離されており、測定者がプローブ本体のハウジング
を手に持ち、被測定物に遅延材を押しつけると図３Ｂに
示すように振動子が上にスライドし、振動子にプローブ
本体のハウジングの端面Ａと遅延材端面Ｂが平行になる
時のバネの長さに依存する一定の荷重がかかったところ
でプローブのスイッチが入るような構造のプローブにす
ることにより、測定時には常にバネ圧による荷重が被測
定物面にかかるようになる。さらにバネ圧以上の荷重で
プローブを押した時には、スイッチ又はセンサーにバネ
圧以上の荷重がかかる前にプローブ本体のハウジングで
その荷重を受け止め、測定面にはバネ圧以上の荷重がか
からない。このことにより常に一定の圧力で測定するこ
とが出来、しいては圧力に対する測定者の差異及び同一
測定者による測定毎の差異がなくなり、測定誤差が極力
小さくなる。
【０００７】図４は、一定荷重で測定するための別の実
施例による膜厚測定装置のプローブの構造の断面図であ
る。遅延材２が膜厚被測定物に接する面の周囲にフィル
ム状の荷重センサー８を付ける。遅延材表面が被測定物
に接すると同時にフィルム状荷重センサーも被測定物に
接することになり、測定面にかかる荷重が検知出来るよ
うになるため、常に一定荷重で測定出来る。
施例による膜厚測定装置のプローブの構造の断面図であ
る。遅延材２が膜厚被測定物に接する面の周囲にフィル
ム状の荷重センサー８を付ける。遅延材表面が被測定物
に接すると同時にフィルム状荷重センサーも被測定物に
接することになり、測定面にかかる荷重が検知出来るよ
うになるため、常に一定荷重で測定出来る。
【０００８】図５ＡおよびＢは、更に別の実施例による
膜厚測定装置のプローブの構造を示す断面図である。圧
縮コイルバネ５とスイッチ又はセンサー６を用いる構造
は図３のプローブと同様であるが、図３のプローブと異
なる点は、図３のプローブは測定時に振動子がプローブ
本体のハウジングの中に入る構造なのに対して図５のプ
ローブは、測定時にプローブ本体のハウジングがスイッ
チを上から押す構造となる。従って、測定時に振動子か
らのケーブルはほとんど動かないので測定誤差を充分に
小さくすることができる。
膜厚測定装置のプローブの構造を示す断面図である。圧
縮コイルバネ５とスイッチ又はセンサー６を用いる構造
は図３のプローブと同様であるが、図３のプローブと異
なる点は、図３のプローブは測定時に振動子がプローブ
本体のハウジングの中に入る構造なのに対して図５のプ
ローブは、測定時にプローブ本体のハウジングがスイッ
チを上から押す構造となる。従って、測定時に振動子か
らのケーブルはほとんど動かないので測定誤差を充分に
小さくすることができる。
【図１】本発明による膜厚測定原理を示す模式図。
【図２】本発明による膜厚測定回路機構を示す接続図。
【図３】本発明による膜厚測定プローブの断面を示す断
面図。
面図。
【図４】本発明の別の実施例による膜厚測定プローブの
構成を示す図。
構成を示す図。
【図５】本発明の別の実施例による膜厚測定プローブの
構成を示す図。
構成を示す図。
１ 超音波振動子 ２ 遅延材 ３ 測定対象被膜 ４ 素地 ５ 圧縮コイルバネ ６ スイッチ又はセンサー ７ プローブ本体のハウジング ８ フィルム荷重センサー １１，１２ 制御記号 ２１ 制御器 ２２ パルス発生器 ２３ センサー ２４ プリアンプ ２５ ゲインコントロールアンプ ２６ Ａ／Ｄ変換器 ２７ 演算処理器 ２８ 表示器 ２９ メモリー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大矢 茂正 長野県上田市踏入２丁目10番19号 上田日 本無線株式会社内 (72)発明者 大森 聡 長野県上田市踏入２丁目10番19号 上田日 本無線株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 プラスチック材料の上に施された膜の厚
さを測定するための膜厚測定装置であって、パルス信号
を発生するパルス発生器と、前記パルス発生器に接続さ
れた超音波センサーと、前記センサーに設けられ、膜厚
被測定物に押し当てるための材料と、測定時に前記膜厚
被測定物に押し当てられるための材料の測定面が常に一
定の圧力で被測定物に押し当てられる機構とを有する膜
厚測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の膜厚測定装置であって、
測定時に前記膜厚被測定物に押し当てるための材料の測
定面が、バネ等によって常に一定の圧力で被測定物に押
し当てられる機構を有することを特徴とする前記膜厚測
定装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の膜厚測定装置であって、
測定時に前記膜厚被測定物に押し当てるための材料の測
定面が荷重センサーによって常に一定の圧力で被測定物
に押し当てられる機構を有することを特徴とする前記膜
厚測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8139009A JPH09318342A (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | 定圧機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8139009A JPH09318342A (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | 定圧機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09318342A true JPH09318342A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15235355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8139009A Pending JPH09318342A (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | 定圧機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09318342A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10335747A1 (de) * | 2003-08-05 | 2005-03-03 | Volkswagen Ag | Verfahren zur Prüfung der Qualität einer Slushhaut |
| JP2005308486A (ja) * | 2004-04-20 | 2005-11-04 | Sekisui Chem Co Ltd | 振動センサー及び検査装置並びに埋設管の検査方法 |
| KR100920959B1 (ko) * | 2009-03-02 | 2009-10-09 | 서울대학교산학협력단 | 서까래 열화 평가용 초음파 장치 |
| CN104990985A (zh) * | 2015-07-15 | 2015-10-21 | 常州市常超电子研究所有限公司 | 带延迟直探头 |
| CN104990986A (zh) * | 2015-07-15 | 2015-10-21 | 常州市常超电子研究所有限公司 | 接触式直探头 |
| WO2017126218A1 (ja) * | 2016-01-20 | 2017-07-27 | 三菱重工業株式会社 | 隙間計測装置及び隙間計測方法 |
| CN113155963A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-07-23 | 武汉中岩科技股份有限公司 | 一种适用于冲击回波法检测的传感器装置 |
| CN114599970A (zh) * | 2019-08-29 | 2022-06-07 | M&H因普罗瑟斯测量技术有限公司 | 超声测量单元 |
-
1996
- 1996-05-31 JP JP8139009A patent/JPH09318342A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10335747A1 (de) * | 2003-08-05 | 2005-03-03 | Volkswagen Ag | Verfahren zur Prüfung der Qualität einer Slushhaut |
| DE10335747B4 (de) * | 2003-08-05 | 2014-09-04 | Volkswagen Ag | Verfahren zur Prüfung der Qualität einer Slushhaut |
| JP2005308486A (ja) * | 2004-04-20 | 2005-11-04 | Sekisui Chem Co Ltd | 振動センサー及び検査装置並びに埋設管の検査方法 |
| KR100920959B1 (ko) * | 2009-03-02 | 2009-10-09 | 서울대학교산학협력단 | 서까래 열화 평가용 초음파 장치 |
| CN104990985A (zh) * | 2015-07-15 | 2015-10-21 | 常州市常超电子研究所有限公司 | 带延迟直探头 |
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| WO2017126218A1 (ja) * | 2016-01-20 | 2017-07-27 | 三菱重工業株式会社 | 隙間計測装置及び隙間計測方法 |
| KR20180074768A (ko) * | 2016-01-20 | 2018-07-03 | 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤 | 갭 계측 장치 및 갭 계측 방법 |
| US11054253B2 (en) | 2016-01-20 | 2021-07-06 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Gap measurement device and gap measurement method |
| CN114599970A (zh) * | 2019-08-29 | 2022-06-07 | M&H因普罗瑟斯测量技术有限公司 | 超声测量单元 |
| JP2022541859A (ja) * | 2019-08-29 | 2022-09-27 | エムウントハー インプロセス メステクニク ゲーエムベーハー | 超音波測定ユニット |
| US11573080B2 (en) | 2019-08-29 | 2023-02-07 | M & H Inprocess Messtechnik Gmbh | Ultrasonic measuring unit |
| CN114599970B (zh) * | 2019-08-29 | 2024-02-23 | M&H因普罗瑟斯测量技术有限公司 | 超声测量单元 |
| CN113155963A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-07-23 | 武汉中岩科技股份有限公司 | 一种适用于冲击回波法检测的传感器装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040930 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041005 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050304 |