JPH09304296A - 帯状体エッジ部の欠陥検出装置 - Google Patents
帯状体エッジ部の欠陥検出装置Info
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- JPH09304296A JPH09304296A JP11856296A JP11856296A JPH09304296A JP H09304296 A JPH09304296 A JP H09304296A JP 11856296 A JP11856296 A JP 11856296A JP 11856296 A JP11856296 A JP 11856296A JP H09304296 A JPH09304296 A JP H09304296A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 帯状体のエッジ部の割れや、穴空きの欠陥の
形状を実形状に則して検出し得る欠陥検出装置を提供す
る。 【解決手段】 走行する帯状体１１のエッジ部を介して
対向して、投光手段１２および受光手段１３を配置し、
受光手段１３に設けた帯状体１１の走行方向とほぼ直交
する方向に配列した複数の受光素子を走査して得られる
出力に基づいて、その出力が走査開始時の第１の状態か
ら最初に第２の状態になるまでの走査開始位置からの第
１の長さデータＡ、走査開始時の第１の状態から最初の
第２の状態を経て再び第１の状態になるまでの走査開始
位置からの第２の長さデータＢ、および第１の状態にあ
る全長さを表す第３の長さデータＺを演算手段１４で演
算し、それらの長さデータに基づいて、帯状体１１のエ
ッジ部の欠陥を検出する。
形状を実形状に則して検出し得る欠陥検出装置を提供す
る。 【解決手段】 走行する帯状体１１のエッジ部を介して
対向して、投光手段１２および受光手段１３を配置し、
受光手段１３に設けた帯状体１１の走行方向とほぼ直交
する方向に配列した複数の受光素子を走査して得られる
出力に基づいて、その出力が走査開始時の第１の状態か
ら最初に第２の状態になるまでの走査開始位置からの第
１の長さデータＡ、走査開始時の第１の状態から最初の
第２の状態を経て再び第１の状態になるまでの走査開始
位置からの第２の長さデータＢ、および第１の状態にあ
る全長さを表す第３の長さデータＺを演算手段１４で演
算し、それらの長さデータに基づいて、帯状体１１のエ
ッジ部の欠陥を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、走行中の帯状
体、特に、薄物鋼板のエッジ部に発生するエッジ割れや
穴空き等の欠陥を検出する装置に関するものである。
体、特に、薄物鋼板のエッジ部に発生するエッジ割れや
穴空き等の欠陥を検出する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、鋼板の冷間圧延においては、前
工程であるスラブ鋳造時における非金属の介在、あるい
は熱間圧延時におけるスケールのかみこみや不適性温度
域での圧延等に起因して、鋼板のエッジ部にエッジ割れ
や穴空き等の欠陥が発生することがある。このような欠
陥が生じると、連続焼鈍ライン等の下工程で、ストリッ
プの破断が発生して、生産性が低下することから、冷間
圧延ラインで、これらの欠陥を検出して、不良部の削除
や下工程への鋼板の装入中止等の処理を取る必要があ
る。
工程であるスラブ鋳造時における非金属の介在、あるい
は熱間圧延時におけるスケールのかみこみや不適性温度
域での圧延等に起因して、鋼板のエッジ部にエッジ割れ
や穴空き等の欠陥が発生することがある。このような欠
陥が生じると、連続焼鈍ライン等の下工程で、ストリッ
プの破断が発生して、生産性が低下することから、冷間
圧延ラインで、これらの欠陥を検出して、不良部の削除
や下工程への鋼板の装入中止等の処理を取る必要があ
る。
【０００３】かかる欠陥の検出装置としては、例えば、
特公平７−１３５９９号公報において、鋼板のエッジ部
を挟んで投光器とラインセンサよりなる受光器とを配置
し、受光器を構成するラインセンサを、それぞれ複数の
受光素子を有する複数のセンサブロックに等分割して、
これらの複数のセンサブロックを同時に並列走査し、そ
の各センサブロック毎の出力に基づいてエッジ位置を検
出しているセンサブロックを選出して、その選出したセ
ンサブロックの配列位置と、該センサブロックから出力
されるエッジ位置データとに基づいて欠陥を検出するよ
うにしたものが提案されている。
特公平７−１３５９９号公報において、鋼板のエッジ部
を挟んで投光器とラインセンサよりなる受光器とを配置
し、受光器を構成するラインセンサを、それぞれ複数の
受光素子を有する複数のセンサブロックに等分割して、
これらの複数のセンサブロックを同時に並列走査し、そ
の各センサブロック毎の出力に基づいてエッジ位置を検
出しているセンサブロックを選出して、その選出したセ
ンサブロックの配列位置と、該センサブロックから出力
されるエッジ位置データとに基づいて欠陥を検出するよ
うにしたものが提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の欠陥検出装置にあっては、投光器からの光が入
射する、すなわち鋼板が存在しない部分に対向する受光
素子の出力をハイレベルとし、投光器からの光が入射し
ない、すなわち鋼板が存在する部分に対向する受光素子
の出力をローレベルとすると、鋼板の外側から内側に向
けて走査した場合には、センサブロック出力の最初の立
ち下がり位置しか検出できず、また、鋼板の内側から外
側に向けて走査した場合には、センサブロック出力の最
初の立ち上がり位置しか検出できない。
た従来の欠陥検出装置にあっては、投光器からの光が入
射する、すなわち鋼板が存在しない部分に対向する受光
素子の出力をハイレベルとし、投光器からの光が入射し
ない、すなわち鋼板が存在する部分に対向する受光素子
の出力をローレベルとすると、鋼板の外側から内側に向
けて走査した場合には、センサブロック出力の最初の立
ち下がり位置しか検出できず、また、鋼板の内側から外
側に向けて走査した場合には、センサブロック出力の最
初の立ち上がり位置しか検出できない。
【０００５】このため、鋼板の外側から内側に向けて走
査した場合には、センサブロック出力の最初の立ち下が
り位置がエッジ位置となるために、例えば、図４（ａ）
に示すような鋼板１の内側に食い込んだエッジ割れ２が
あると、その食い込んだ部分の走査では、センサブロッ
ク出力が鋼板１のエッジ位置で最初に立ち下がるため
に、受光器の出力からは、図４（ｂ）に示すように、実
形状とは異なった形状に認識されてしまうという問題が
ある。また、図５（ａ）に示すような穴空き３がある
と、同様に、その部分の走査では、センサブロック出力
が鋼板１のエッジ位置で最初に立ち下がるために、図５
（ｂ）に示すように認識され、穴空き３を全く検出でき
ないという問題がある。
査した場合には、センサブロック出力の最初の立ち下が
り位置がエッジ位置となるために、例えば、図４（ａ）
に示すような鋼板１の内側に食い込んだエッジ割れ２が
あると、その食い込んだ部分の走査では、センサブロッ
ク出力が鋼板１のエッジ位置で最初に立ち下がるため
に、受光器の出力からは、図４（ｂ）に示すように、実
形状とは異なった形状に認識されてしまうという問題が
ある。また、図５（ａ）に示すような穴空き３がある
と、同様に、その部分の走査では、センサブロック出力
が鋼板１のエッジ位置で最初に立ち下がるために、図５
（ｂ）に示すように認識され、穴空き３を全く検出でき
ないという問題がある。
【０００６】他方、鋼板の内側から外側に向けて走査し
た場合には、センサブロック出力の最初の立ち上がり位
置がエッジ位置となるために、図５（ａ）に示すような
穴空き３があると、図６に示すように、その穴空き３の
最初のエッジ位置が鋼板１のエッジ位置と認識され、穴
空き３を検出できないばかりでなく、鋼板１のエッジ位
置を誤検出してしまうという問題がある。
た場合には、センサブロック出力の最初の立ち上がり位
置がエッジ位置となるために、図５（ａ）に示すような
穴空き３があると、図６に示すように、その穴空き３の
最初のエッジ位置が鋼板１のエッジ位置と認識され、穴
空き３を検出できないばかりでなく、鋼板１のエッジ位
置を誤検出してしまうという問題がある。
【０００７】この発明の目的は、このような従来の問題
点に着目してなされたもので、帯状体のエッジ部の割れ
や、穴空きの欠陥の形状を実形状に則して検出し得るよ
う適切に構成した帯状体エッジ部の欠陥検出装置を提供
しようとするものである。
点に着目してなされたもので、帯状体のエッジ部の割れ
や、穴空きの欠陥の形状を実形状に則して検出し得るよ
う適切に構成した帯状体エッジ部の欠陥検出装置を提供
しようとするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、走行する帯状体のエッジ部の欠陥を検
出する欠陥検出装置において、前記帯状体のエッジ部に
光を投射する投光手段と、この投光手段と前記帯状体の
エッジ部を挟んで対向して配置され、前記帯状体の走行
方向とほぼ直交する方向に配列した複数の受光素子を有
する受光手段と、この受光手段を走査して得られる出力
に基づいて、その出力が走査開始時の第１の状態から最
初に第２の状態になるまでの走査開始位置からの第１の
長さデータ、前記走査開始時の第１の状態から前記最初
の第２の状態を経て再び第１の状態になるまでの走査開
始位置からの第２の長さデータ、および第１の状態にあ
る全長さを表す第３の長さデータを演算する演算手段と
を有し、この演算手段で演算した前記第１，第２および
第３の長さデータに基づいて、前記帯状体のエッジ部の
欠陥を検出するよう構成したことを特徴とするものであ
る。
め、この発明は、走行する帯状体のエッジ部の欠陥を検
出する欠陥検出装置において、前記帯状体のエッジ部に
光を投射する投光手段と、この投光手段と前記帯状体の
エッジ部を挟んで対向して配置され、前記帯状体の走行
方向とほぼ直交する方向に配列した複数の受光素子を有
する受光手段と、この受光手段を走査して得られる出力
に基づいて、その出力が走査開始時の第１の状態から最
初に第２の状態になるまでの走査開始位置からの第１の
長さデータ、前記走査開始時の第１の状態から前記最初
の第２の状態を経て再び第１の状態になるまでの走査開
始位置からの第２の長さデータ、および第１の状態にあ
る全長さを表す第３の長さデータを演算する演算手段と
を有し、この演算手段で演算した前記第１，第２および
第３の長さデータに基づいて、前記帯状体のエッジ部の
欠陥を検出するよう構成したことを特徴とするものであ
る。
【０００９】前記受光手段は、前記帯状体の外側から内
側に走査するのが、帯状体のエッジ位置をより実形状に
則して検出する点で好ましい。
側に走査するのが、帯状体のエッジ位置をより実形状に
則して検出する点で好ましい。
【００１０】
【発明の実施の形態】この発明において、受光手段を走
査して得られる出力は、帯状体がない部分とある部分と
で、その状態が異なる。例えば、受光手段の出力を所定
の閾値と比較して２値化信号に変換すると、帯状体がな
い部分、すなわち投光手段からの光が入射する部分で
は、第１の状態、例えばハイレベルとなり、帯状体があ
る部分、すなわち投光手段からの光が帯状体によって遮
光されて入射しない部分では、第２の状態、例えばロー
レベルとなる。したがって、例えば、受光手段を、図１
（ａ）に示すように、鋼板１の外側から内側に向けて走
査すると、鋼板１に内側に食い込んだエッジ割れ２が存
在する部分では、受光手段からの出力に基づいて、図１
（ｂ）に示すような信号を得ることができる。
査して得られる出力は、帯状体がない部分とある部分と
で、その状態が異なる。例えば、受光手段の出力を所定
の閾値と比較して２値化信号に変換すると、帯状体がな
い部分、すなわち投光手段からの光が入射する部分で
は、第１の状態、例えばハイレベルとなり、帯状体があ
る部分、すなわち投光手段からの光が帯状体によって遮
光されて入射しない部分では、第２の状態、例えばロー
レベルとなる。したがって、例えば、受光手段を、図１
（ａ）に示すように、鋼板１の外側から内側に向けて走
査すると、鋼板１に内側に食い込んだエッジ割れ２が存
在する部分では、受光手段からの出力に基づいて、図１
（ｂ）に示すような信号を得ることができる。
【００１１】この発明の一実施形態では、受光手段から
得られる図１（ｂ）に示すような出力信号に基づいて、
演算手段において、その出力が走査開始時のハイレベル
の状態から最初にローレベルになるまでの走査開始位置
からの第１の長さデータＡ、走査開始時のハイレベルの
状態から最初にローレベルになって再びハイレベルにな
るまでの走査開始位置からの第２の長さデータＢ、およ
びハイレベルの状態にある全長さを表す第３の長さデー
タＺを求める。これら第１，第２および第３の長さデー
タＡ，ＢおよびＺは、例えば、演算手段において、所定
の周期のクロックパルスを、受光手段の出力に基づいて
カウンタにより計数することによって求めることができ
る。
得られる図１（ｂ）に示すような出力信号に基づいて、
演算手段において、その出力が走査開始時のハイレベル
の状態から最初にローレベルになるまでの走査開始位置
からの第１の長さデータＡ、走査開始時のハイレベルの
状態から最初にローレベルになって再びハイレベルにな
るまでの走査開始位置からの第２の長さデータＢ、およ
びハイレベルの状態にある全長さを表す第３の長さデー
タＺを求める。これら第１，第２および第３の長さデー
タＡ，ＢおよびＺは、例えば、演算手段において、所定
の周期のクロックパルスを、受光手段の出力に基づいて
カウンタにより計数することによって求めることができ
る。
【００１２】このように、第１，第２および第３の長さ
データＡ，ＢおよびＺを求めるようにすれば、第１の長
さデータＡからは、鋼板のエッジ位置を求めることがで
き、第２の長さデータＢが得られた場合には、そのデー
タＢから、内側に食い込んだエッジ割れの食い込み部分
の最初のエッジ位置を求めることができる。また、第１
の長さデータＡと、第３の長さデータＺとが等しくない
場合には、それらのデータに基づいて、例えば、（Ｚ−
Ａ）を演算することにより、内側に食い込んだエッジ割
れの食い込み部分の幅を求めることができる。したがっ
て、これら第１，第２および第３の長さデータＡ，Ｂお
よびＺから、エッジ部における欠陥の形状を実形状に則
して検出することが可能となる。
データＡ，ＢおよびＺを求めるようにすれば、第１の長
さデータＡからは、鋼板のエッジ位置を求めることがで
き、第２の長さデータＢが得られた場合には、そのデー
タＢから、内側に食い込んだエッジ割れの食い込み部分
の最初のエッジ位置を求めることができる。また、第１
の長さデータＡと、第３の長さデータＺとが等しくない
場合には、それらのデータに基づいて、例えば、（Ｚ−
Ａ）を演算することにより、内側に食い込んだエッジ割
れの食い込み部分の幅を求めることができる。したがっ
て、これら第１，第２および第３の長さデータＡ，Ｂお
よびＺから、エッジ部における欠陥の形状を実形状に則
して検出することが可能となる。
【００１３】
【実施例】図２は、この発明の一実施例を示すものであ
る。この実施例では、走行するストリップ１１のエッジ
部を介して対向して、ストリップ１１の下部に投光器１
２を、上部に受光器１３を配置して、投光器１２により
ストリップ１１のエッジ部を照明し、そのエッジ部の像
を受光器１３で受光する。受光器１３は、ストリップ１
１の幅方向に沿って配列した多数の受光素子を有する、
例えば、ＣＣＤカメラをもって構成し、この受光器１３
の多数の受光素子を、所定のタイミング、例えば、スト
リップ１１が０．７ｍｍ走行する毎に、ストリップ１１
の外側から内側に向けて走査して、その出力を演算処理
回路１４に供給する。
る。この実施例では、走行するストリップ１１のエッジ
部を介して対向して、ストリップ１１の下部に投光器１
２を、上部に受光器１３を配置して、投光器１２により
ストリップ１１のエッジ部を照明し、そのエッジ部の像
を受光器１３で受光する。受光器１３は、ストリップ１
１の幅方向に沿って配列した多数の受光素子を有する、
例えば、ＣＣＤカメラをもって構成し、この受光器１３
の多数の受光素子を、所定のタイミング、例えば、スト
リップ１１が０．７ｍｍ走行する毎に、ストリップ１１
の外側から内側に向けて走査して、その出力を演算処理
回路１４に供給する。
【００１４】演算処理回路１４では、受光器１３からの
アナログ出力を所定の閾値と比較して２値信号に変換
し、その出力に基づいて所定の周期のパルスを計数し
て、上述した第１，第２および第３の長さデータＡ，Ｂ
およびＺを演算し、それらの長さデータＡ，ＢおよびＺ
を形状認識回路１５に供給する。形状認識回路１５に
は、ストリップ１１の走行距離を計測するためのパルス
発生器１６の出力をも入力して、長さデータＡ，Ｂ，Ｚ
およびパルス発生器１６からの出力に基づいて、エッジ
部の形状を認識し、その出力をプリンタ１７およびモニ
タ１８に出力するようにする。なお、形状認識回路１５
は、例えば、マイクロコンピュータをもって構成する。
アナログ出力を所定の閾値と比較して２値信号に変換
し、その出力に基づいて所定の周期のパルスを計数し
て、上述した第１，第２および第３の長さデータＡ，Ｂ
およびＺを演算し、それらの長さデータＡ，ＢおよびＺ
を形状認識回路１５に供給する。形状認識回路１５に
は、ストリップ１１の走行距離を計測するためのパルス
発生器１６の出力をも入力して、長さデータＡ，Ｂ，Ｚ
およびパルス発生器１６からの出力に基づいて、エッジ
部の形状を認識し、その出力をプリンタ１７およびモニ
タ１８に出力するようにする。なお、形状認識回路１５
は、例えば、マイクロコンピュータをもって構成する。
【００１５】この実施例によれば、受光器１３の出力に
基づいて、３つの長さデータＡ，Ｂ，Ｚを演算し、これ
らの長さデータＡ，Ｂ，Ｚおよびパルス発生器１６から
の出力に基づいて、ストリップ１１のエッジ部の形状を
認識するようにしたので、図３（ａ）に示すようなスト
リップ１１の内側に食い込んだエッジ割れ１９や、図３
（ｂ）に示すようなエッジ部の穴空き２０が存在する場
合に、それらを実形状に則して認識することができる。
基づいて、３つの長さデータＡ，Ｂ，Ｚを演算し、これ
らの長さデータＡ，Ｂ，Ｚおよびパルス発生器１６から
の出力に基づいて、ストリップ１１のエッジ部の形状を
認識するようにしたので、図３（ａ）に示すようなスト
リップ１１の内側に食い込んだエッジ割れ１９や、図３
（ｂ）に示すようなエッジ部の穴空き２０が存在する場
合に、それらを実形状に則して認識することができる。
【００１６】なお、上述した実施例では、受光部１３の
多数の受光素子をストリップ１１の外側から内側に向け
て走査するようにしたが、逆に、内側から外側に向けて
走査することもでき、その場合も同様に、エッジ部の欠
陥を実形状に則して認識することができる。
多数の受光素子をストリップ１１の外側から内側に向け
て走査するようにしたが、逆に、内側から外側に向けて
走査することもでき、その場合も同様に、エッジ部の欠
陥を実形状に則して認識することができる。
【００１７】
【発明の効果】この発明によれば、受光手段を走査して
得られる出力に基づいて、帯状体のエッジ部に関する複
数の長さデータを得るようにしたので、これらの長さデ
ータに基づいて帯状体のエッジ部の割れや、穴空きの欠
陥の形状を実形状に則して検出することができる。した
がって、例えば、連続焼鈍ラインにおいては、その検出
結果に基づいて、ストリップが破断するか否かを正確に
判断することができ、これにより欠陥の処置を効率的に
行うことができ、生産性を向上することが可能となる。
得られる出力に基づいて、帯状体のエッジ部に関する複
数の長さデータを得るようにしたので、これらの長さデ
ータに基づいて帯状体のエッジ部の割れや、穴空きの欠
陥の形状を実形状に則して検出することができる。した
がって、例えば、連続焼鈍ラインにおいては、その検出
結果に基づいて、ストリップが破断するか否かを正確に
判断することができ、これにより欠陥の処置を効率的に
行うことができ、生産性を向上することが可能となる。
【図１】この発明の原理を説明するための図である。
【図２】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図３】その作用を説明するための図である。
【図４】従来の問題点を説明するための図である。
【図５】同じく、従来の問題点を説明するための図であ
る。
る。
【図６】同じく、従来の問題点を説明するための図であ
る。
る。
１ 鋼板 ２ 内側に食い込んだエッジ割れ ３ 穴空き １１ ストリップ １２ 投光器 １３ 受光器 １４ 演算処理回路 １５ 形状認識回路 １６ パルス発生器 １７ プリンタ １８ モニタ １９ 内側に食い込んだエッジ割れ ２０ 穴空き
フロントページの続き (72)発明者 川合 稔 千葉県千葉市中央区川崎町１番地 川崎製 鉄株式会社千葉製鉄所内 (72)発明者 上杉 謙二 東京都八王子市石川町2951番地４ 株式会 社ニレコ内
Claims (2)
- 【請求項１】 走行する帯状体のエッジ部の欠陥を検出
する欠陥検出装置において、 前記帯状体のエッジ部に光を投射する投光手段と、 この投光手段と前記帯状体のエッジ部を挟んで対向して
配置され、前記帯状体の走行方向とほぼ直交する方向に
配列した複数の受光素子を有する受光手段と、 この受光手段を走査して得られる出力に基づいて、その
出力が走査開始時の第１の状態から最初に第２の状態に
なるまでの走査開始位置からの第１の長さデータ、前記
走査開始時の第１の状態から前記最初の第２の状態を経
て再び第１の状態になるまでの走査開始位置からの第２
の長さデータ、および第１の状態にある全長さを表す第
３の長さデータを演算する演算手段とを有し、 この演算手段で演算した前記第１，第２および第３の長
さデータに基づいて、前記帯状体のエッジ部の欠陥を検
出するよう構成したことを特徴とする帯状体エッジ部の
欠陥検出装置。 - 【請求項２】 前記受光手段は、前記帯状体の外側から
内側に走査することを特徴とする請求項１記載の帯状体
エッジ部の欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11856296A JP3374005B2 (ja) | 1996-05-14 | 1996-05-14 | 帯状体エッジ部の欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11856296A JP3374005B2 (ja) | 1996-05-14 | 1996-05-14 | 帯状体エッジ部の欠陥検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09304296A true JPH09304296A (ja) | 1997-11-28 |
| JP3374005B2 JP3374005B2 (ja) | 2003-02-04 |
Family
ID=14739674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11856296A Expired - Fee Related JP3374005B2 (ja) | 1996-05-14 | 1996-05-14 | 帯状体エッジ部の欠陥検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3374005B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001035050A1 (fr) * | 1999-11-08 | 2001-05-17 | Sumitomo Metal Industries Limited | Procede pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, procede de suppression de la cambrure, instrument pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, machine de laminage et dispositif de rognage |
| JP2007127431A (ja) * | 2005-11-01 | 2007-05-24 | Fuji Xerox Co Ltd | 端部位置検出方法及び端部位置検出装置 |
| JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
-
1996
- 1996-05-14 JP JP11856296A patent/JP3374005B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001035050A1 (fr) * | 1999-11-08 | 2001-05-17 | Sumitomo Metal Industries Limited | Procede pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, procede de suppression de la cambrure, instrument pour mesurer la qualite d'un corps en forme de bande, machine de laminage et dispositif de rognage |
| JP2001343223A (ja) * | 1999-11-08 | 2001-12-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 帯状体の品質測定方法、キャンバ抑制方法、帯状体の品質測定装置、圧延装置及びトリム装置 |
| JP2007127431A (ja) * | 2005-11-01 | 2007-05-24 | Fuji Xerox Co Ltd | 端部位置検出方法及び端部位置検出装置 |
| JP2008020379A (ja) * | 2006-07-14 | 2008-01-31 | Topy Ind Ltd | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
| JP4716433B2 (ja) * | 2006-07-14 | 2011-07-06 | トピー工業株式会社 | 無限軌道帯用履板の計測システムおよび計測方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3374005B2 (ja) | 2003-02-04 |
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