JPH09297159A - 測定器自動制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定器自動制御装置であって、複数の測定器
を制御して多様な測定対象、多様な測定項目に対応でき
るようにする。 【解決手段】 測定器制御処理部１−２は、オペレータ
により選択された測定項目に基づき、測定器入出力部１
−３、インタフェース端子１−４を介して、測定器２−
１〜３及び被測定供試体３の初期設定処理、特性測定処
理、測定結果入力処理及び測定結果自動判定処理を行
う。供試体３の測定は、測定器２−１から発生した測定
信号が供試体３に入力され、供試体３の出力信号が測定
器２−２及び３に入力される。また、測定器２−２で例
えば周波数特性測定が行われ、測定器２−３で例えばレ
ベル測定が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は測定器自動制御装置
に関し、特に多目的の測定器自動制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】測定システムを自動的に制御する測定器
自動制御装置としては、例えば特開平２−１８６２８３
号公報記載の如く、コンピュータ等の外部記憶装置に用
いられる記憶媒体の特性を試験測定する制御装置があ
る。図４及び５にこの制御装置のブロック図及びコマン
ドデータの説明図を示す。

【０００３】図４において、制御装置は、コンピュータ
等の外部記憶装置に用いられる記憶媒体３’の特性を試
験測定する測定器２と、測定器２及び各手段を制御する
コンピュータ１’と、コンピュータ１’に接続され、測
定器２の（測定器）制御用コマンドデータ列を収納する
ファイル１’−５を作成し、外部記憶装置に記憶させる
外部記憶手段１’−１とを含む。

【０００４】コンピュータ１’には収納ファイル１’−
５からコマンドデータ列ａを読み込むコマンドデータ読
み込み手段１’−２と、コマンドデータ読み込み手段
１’−２が読み込んだコマンドデータ列ａ中に組み込ま
れたコマンド判別子（図５参照）１’−５−２を検索
し、コマンド文字列１’−５−１のみを抽出して、コマ
ンド文字列群ｃを作成するコマンド判別手段１’−３
と、コマンド判別手段１’−３が作成したコマンド文字
列群ｃを、インタフェースバスｄを介して出力し、測定
器２を制御する測定器制御手段１’−４とが備えられて
いる。

【０００５】図５に示すコマンドデータ列を収納するフ
ァイル１’−５には、ｎ個のコマンドデータ列が収納さ
れ、各コマンドデータ列は、コマンド文字列１’−５−
１、コマンド判別子１’−５−２、コメント１’−５−
３を含んで構成されている。

【０００６】外部記憶手段１’−１は、測定器２の状態
設定や、特性試験を行う際の測定条件設定のために、測
定器２を制御するコマンドデータ列を収納するファイル
１’−５に、エディタ等を使ってコマンド文字列１’−
５−１、コマンド判別子１’−５−２、その他のコメン
ト１’−５−３等を書き込む手段である。

【０００７】コマンドデータ読み込み手段１’−２は、
外部記憶手段１’−１よりコマンドデータ収納ファイル
１’−５に書き込まれたコマンドデータ列を読み込み、
１行づつに分割してコマンド判別手段１’−３に出力す
る。

【０００８】コマンド判別手段１’−３は、１行づつ読
み込まれたコマンドデータ各行に対してコマンド判別子
１’−５−２を検出し、コマンド文字列１’−５−１及
びそれ以外に分離し、各コマンドデータ列からコマンド
文字列１’−５−１のみを抽出して、コマンド文字列群
ｃを作成する。測定器制御手段１’−４は作成されたコ
マンド文字列群ｃを入力し、測定器２を制御するコマン
ドの形で、測定器２と各手段を制御するコンピュータ
１’とを結ぶインタフェースバスｄを介して、測定器２
に送信する。

【０００９】コマンドを受信した測定器２は、そのコマ
ンドによって制御され、測定器２に接続されている記憶
媒体３’の特性の試験測定を行う。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】図４、５に示す特開平
２−１８６２８３公報記載の従来例の場合、コンピュー
タ等の外部記憶装置に用いられる記憶媒体の特性を試験
する測定器に限定していることもあるが、対象としてい
る測定器が一つに限定されている。しかし、例えば放送
局におけるスタヂオ映像機器の測定を考えると、複数の
測定器を同時に制御して、多様な測定対象、多様な測定
項目に対応していくことが必要となる。

【００１１】本発明の目的は、複数の測定器を制御して
多様な測定対象、多様な測定項目に対応できる測定器自
動制御装置を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明による複数の測定
器を同時に制御する測定器自動制御装置は、測定器制御
コマンドをカテゴリ別に記憶する手段と、前記カテゴリ
別に前記測定器制御コマンドを読み出して前記複数の測
定器を制御する手段とを含むことを特徴とする。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明の作用は次の通りである。
測定器制御コマンドをカテゴリ別に記憶部に格納し、カ
テゴリ別に各測定器を制御して、複数の測定器を同時に
制御する。

【００１４】以下に、本発明の実施例について図面を参
照して説明する。

【００１５】図１は本発明による測定器自動制御装置の
実施例の構成を示すブロック図であり、図４と同等部分
は同一符号にて示している。なお、重複する説明は省略
する。

【００１６】図１において、測定器２−１は信号の発生
用、測定器２−２は周波数特性測定用、測定器２−３は
レベル測定用とする。制御部１は、制御コマンド及び規
格値を格納する記憶部１−１と、測定器の制御処理及び
測定結果自動判定処理を行う測定器制御処理部１−２
と、測定器制御コマンドの出力・測定結果の入力を行う
測定器入出力部１−３とにより構成される。

【００１７】記憶部１−１は、ハードディスク等の補助
記憶装置であり、各測定器別に制御コマンド及び規格値
を格納する。各測定器のデータ格納フォーマットは図２
に示すように、初期設定、特性測定、結果入力及び規格
値の４種のカテゴリ別に分割される。

【００１８】各カテゴリの先頭にカテゴリ識別用のヘッ
ダを格納し、例えば測定器２−１の初期設定カテゴリに
は、初期設定ヘッダ１ａの下に、初期設定用の測定器制
御コマンド１ａ−１〜Ｎを格納する。特性測定カテゴリ
には、特性測定ヘッダ１ｂの下に、特性測定用の測定器
制御コマンド１ｂ−１〜Ｎを格納する。

【００１９】結果入力カテゴリには、結果入力ヘッダ１
ｃの下に、結果入力用の測定器制御コマンド１ｃ−１〜
Ｎを格納する。規格値カテゴリには、規格値ヘッダ１ｄ
の下に、測定結果自動判定用の規格値１ｄ−１〜Ｎを格
納する。

【００２０】なお、各格納データには、各データの区切
りを示すデータ識別子（デリミタ）が付与されているも
のとする。また、これらの格納データはエディタ等を用
いて編集可能である。

【００２１】測定器制御処理部１−２は、オペレータに
より選択された測定項目に基づき、測定器入出力部１−
３、インタフェース端子１−４を介して、測定器２−１
〜３及び被測定供試体３の初期設定処理、特性測定処
理、測定結果入力処理及び測定結果自動判定処理を行
う。

【００２２】（被測定）供試体３の測定は、測定器２−
１から発生した測定信号が供試体３に入力され、供試体
３の出力信号が測定器２−２及び３に入力される。ま
た、測定器２−２で例えば周波数特性測定が行われ、測
定器２−３で例えばレベル測定が行われる。

【００２３】図３に示すように、初期設定処理は、記憶
部１−１から各測定器別の初期設定カテゴリに格納され
ている、例えば測定器制御コマンド１ａ−１〜Ｎ等を読
み込み、測定器入出力部１−３を介して測定器２−１〜
３に対し、制御コマンドを出力して、測定器２−１〜３
を初期設定（ステップ１１）する。

【００２４】特性測定処理は、記憶部１−１から各測定
器２−１〜３別の特性測定カテゴリに格納されている測
定器制御コマンドを、各測定器２−１〜３に出力（ステ
ップ１２）する。

【００２５】測定結果入力処理は、記憶部１−１から各
測定器２−１〜３別の結果入力カテゴリに格納されてい
る測定器制御コマンドを測定器２−２及び３に入力し、
測定器２−２及び３の測定結果（周波数特性測定結果及
びレベル測定結果）を測定器制御処理部１−２に読み込
む（ステップ１３）。

【００２６】例えば測定器２−１は信号を発生させるだ
けで、結果入力処理は不要である。従って、記憶部１−
１の測定器２−１用データの結果入力カテゴリに、測定
器制御コマンドを格納しないことにより、測定器２−１
については結果入力処理は行わない。このように、記憶
部１−１に測定器制御コマンドを格納しないことによ
り、処理の省略を可能とする。

【００２７】測定結果自動判定処理は、記憶部１−１か
ら各測定器２−２別の規格値カテゴリに格納されている
規格値を読み込み、測定結果入力処理により読み込まれ
た測定結果と比較する。測定結果及び比較結果（正常／
異常等）は、ディスプレイ等に編集表示される（ステッ
プ１４）。

【００２８】測定器２−２から読み込んだ周波数特性測
定結果と読み込んだ当該規格値を比較し、また測定器２
−３から読み込んだレベル測定結果と読み込んだ当該規
格値を比較し、比較結果が範囲内か、あるいは範囲外か
を確認して、測定結果の自動判定を行う。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、測定器制
御コマンドをカテゴリ別に記憶部に格納し、カテゴリ別
に各測定器を制御することによって、複数の測定器を同
時に制御することができる効果がある。さらに、規格値
を記憶部に格納し、測定器から読み込んだ測定結果と比
較することにより、各種特性測定結果を自動判定するこ
とができる効果もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例のブロック図である。

【図２】データ格納フォーマットの説明図である。

【図３】制御処理のフローチャートである。

【図４】従来の測定器自動制御装置の一例を示すブロッ
ク図である。

【図５】従来のデータ格納フォーマットの一例の説明図
である。

【符号の説明】

１ 制御部 １−１ 記憶部 １−２ 測定器制御処理部 １−３ 測定器入出力部 １−４ インタフェース端子 ２−１〜３ 測定器 ３ 供試体

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の測定器を同時に制御する測定器自
   動制御装置であって、測定器制御コマンドをカテゴリ別
   に記憶する手段と、前記カテゴリ別に前記測定器制御コ
   マンドを読み出して前記複数の測定器を制御する手段と
   を含むことを特徴とする測定器自動制御装置。
2. 【請求項２】 さらに前記複数の測定器の測定結果を読
   み込む手段と、前記測定結果の規格値を記憶する手段
   と、前記複数の測定器の前記測定結果と前記規格値とを
   比較して比較結果を表示する手段と含むことを特徴とす
   る請求項１記載の測定器自動制御装置。