CN101025746B - 用于推断测试结果之间的关系的方法和设备 - Google Patents

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Abstract

在一个实施例中，公开了一种用于推断测试结果之间的关系的方法，包括：1)从对多个被测器件执行测试的测试仪接收有序测试数据；2)当接收到DUT标识符时，确定对于所述DUT标识符之一所标识的DUT是否存在数据结构；3)当确定所述数据结构不存在时，创建所述数据结构并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述数据结构相关联；以及4)当确定所述数据结构存在时，创建子数据结构作为所述数据结构的子，并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述子数据结构相关联，其中所述子数据结构推论性地指示出与之相关联的测试结果是再次测试的结果。其他实施例也被公开。

Description

用于推断测试结果之间的关系的方法和设备
技术领域
本发明涉及用于推断测试结果之间的关系的方法和机器可读介质。 
背景技术
诸如安捷伦科技有限公司所提供的93000 SOC(片上系统)系列测试仪这样的测试仪提供了对复杂电路的快速测试。这种测试仪可以产生大量的有序测试数据，包含在有序测试数据中的测试结果与较少的指示符相关联，这些指示符指示了何种测试引起特定的某些测试结果或测试结果的集合的创建。因此，用来推断测试结果之间的关系的简单方法是有用的。 
发明内容
在一个实施例中，公开了一种用于推断测试结果之间的关系的方法，包括：1)从对多个被测器件(DUT)执行测试的测试仪接收有序测试数据，所述有序测试数据包括1)多个DUT标识符，其中所述DUT标识符中的一些跟随有2)与所标识的DUT相关联的任何测试结果；2)当接收到DUT标识符之一时，确定是否存在用于所述DUT标识符之一所标识的DUT的数据结构；3)当确定所述数据结构不存在时，创建所述数据结构并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述数据结构相关联；以及4)当确定所述数据结构存在时，创建子数据结构作为所述数据结构的子，并且将i)与所述DUT标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述子数据结构相关联，其中所述子数据结构推论性地指示出与之相关联的测试结果是再次测试的结果。 
在另一个实施例中，公开了多个具有存储于其上的指令序列的机器可读介质，当所述指令序列被机器执行时，使所述机器执行先前段落中所述的方法的动作。 
其他实施例也被公开。 
附图说明
附图中图解了本发明的说明性实施例，其中： 
图1图示了用于推断测试结果之间的关系的示例性方法； 
图2图示了用于实现图1的方法的示例性系统。 
具体实施方式
如背景技术中所指出，诸如安捷伦科技有限公司所提供的93000 SOC(片上系统)系列测试仪这样的测试仪可以产生大量的有序测试数据，包含在所述有序测试数据中的测试结果与较少的指示符相关联，这些指示符指示了何种测试引起特定的某些测试结果或测试结果的集合的创建。因此，用来推断测试结果之间的关系的简单方法是有用的。目前为止，图1图示了用于推断测试结果之间的关系的示例性方法100。 
方法100首先从对多个被测器件(DUT)执行测试的测试仪接收到有序测试数据。见图1的块102。在一些情况下，可从测试仪直接接收有序测试数据，而在其他情况下，可通过诸如硬盘上的文件或存储器内的数据结构这样的中间数据存储装置来接收有序测试数据。有序测试数据包括1)多个DUT标识符，这些DUT标识符中的一些跟随有2)与所标识的DUT相关联的任何测试结果。作为示例，DUT标识符可包括DUT在晶片上的位置，例如DUT的笛卡尔坐标(例如(x，y)坐标)。或者，DUT标识符可能包括字母或字母数字形式的DUT标识符。另外，DUT标识符可包括诸如例如笛卡尔坐标、晶片标识符和批次(lot)标识符等标识符的组合。 
当接收到DUT标识符之一时，方法100确定是否存在用于DUT标识符所标识的DUT的数据结构(块104)。当确定了数据结构不存在时，数据结构被创建，并且与该DUT标识符相关联的任何测试结果被与新创建的数据结构相关联(块106)。然而，当确定了数据结构已经存在时，子数据结构被创建(作为该数据结构的子)，并且与该DUT标识符相关联 的任何测试结果被与该子数据结构相关联。子数据结构的意外从属(unexpected dependency)  (就是说，从属于与同一DUT相关联的父数据结构)推论性地指示出与该子数据结构相关联的测试结果是再次测试的结果。 
识别再次测试结果和将其与初始测试结果相区别的能力的用处在于，若不能区别这些结果，则可能会曲解数据平均值和其他数据解释。 
可选地，当创建子数据结构时，方法100可包括将该子数据结构的“父指针”设置为指向该子的父数据结构(块110)。类似地，当为DUT创建初始数据结构时，方法100可包括将该数据结构的“父指针”设置为指向DUT的初始数据结构的父(块112)。可替换地，与父数据结构相关联的指针可被设置为指向其子。 
在一个实施例中，方法100还包括：1)确定DUT标识符是否与任何测试结果相关联；以及2)如果DUT标识符不与任何测试结果相关联，则省略为所标识的DUT创建初始或子数据结构。 
注意，图1中示出的方法步骤的次序不是关键的，并且所述步骤的其他次序，包括所述步骤的并行处理，是可能的。 
图1中示出的方法100可通过存储在机器可读介质上的指令序列来实现，该机器可读介质在被机器执行时使机器执行方法100的动作。所述机器可读介质可包括例如网络上单个位置处或分布式的任意数目的固定或可移动介质(例如一个或多个硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)，或光盘)或者它们的混合。所述指令序列将通常包括软件，但是也可包括固件。 
图2图示了用于实现方法100(图1)的示例性系统200的框图。系统200包括数据添加器216和数据存储装置218。数据添加器216接收有序测试数据202，有序测试数据202包括DUT标识符204A、208A、212A和与它们相关联的测试结果206A、210A、214A。在一个实施例中，可从测试仪直接接收有序测试数据，而在其他情况下，可通过诸如硬盘上的文件或存储器内的数据结构这样的中间数据存储装置来接收有序测试数据202。 
当接收到DUT标识符204A时，数据添加器216可访问数据存储装置218以确定是否存在用于DUT“A”的数据结构。当发现不存在这样的数据结构时，数据添加器216可随后创建数据结构220，将DUT标识符204B和测试结果206B与数据结构220相关联联，并且将数据结构220的父指针222设置为指向父数据结构232(例如“晶片”数据结构)。 
当接收到DUT标识符208A时，数据添加器216可访问数据存储装置218以确定是否存在用于DUT“B”的数据结构。当发现不存在这样的数据结构时，数据添加器216可随后创建数据结构224，将DUT标识符208B和测试结果210B与数据结构224相关联联，并且将数据结构224的父指针226设置为指向父数据结构232。 
当接收到DUT标识符212A时，数据添加器216可访问数据存储装置218以确定是否存在用于DUT“B”的数据结构。当发现数据结构已经存在时，数据添加器216可随后创建子数据结构228，将DUT标识符212B和测试结果214B与数据结构228相关联，并且将数据结构228的父指针230设置为指向曾为DUT“B”创建的初始数据结构224。 
在一个实施例中，数据结构220、224、228、232中的每一个都是在存储器中创建的数据对象。然而，数据结构220、224、228、232也可包括数据库记录、文件或定制结构(例如“struct”)。 

Claims (20)

1.一种用来推断测试结果之间的关系的方法，包括：
从对多个被测器件执行测试的测试仪接收有序测试数据，所述有序测试数据包括1)多个被测器件标识符，其中所述被测器件标识符中的一些跟随有2)与所标识的被测器件相关联的任何测试结果；
当接收到所述被测器件标识符之一时，确定是否存在用于所述被测器件标识符之一所标识的被测器件的数据结构；
当确定所述数据结构不存在时，创建所述数据结构并且将i)与所述被测器件标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述数据结构相关联；以及
当确定所述数据结构存在时，创建子数据结构作为所述数据结构的子，并且将i)与所述被测器件标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述子数据结构相关联，其中所述子数据结构推论性地指示出与所述子数据结构相关联的测试结果是再次测试的结果。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括将所述子数据结构的父指针设置为指向所述数据结构。
3.根据权利要求1所述的方法，还包括将所述数据结构的父指针设置为指向父对象。
4.根据权利要求1所述的方法，还包括，当接收到所述被测器件标识符之一时：
确定所述被测器件标识符之一是否与任何测试结果相关联；以及
如果所述被测器件标识符之一不与任何测试结果相关联，则不创建所述数据结构或所述子数据结构。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，如果所述数据结构和子数据结构被创建，则被创建为数据对象。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述被测器件标识符包括晶片上的被测器件的位置。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述被测器件标识符还包括晶片标识符。
8.根据权利要求1所述的方法，其中从所述测试仪接收所述有序测试数据包括通过中间数据存储装置来接收所述有序测试数据。
9.根据权利要求8所述的方法，其中所述数据存储装置是文件。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，多组再次测试结果被分别与所述数据结构的多个子数据结构相关联。
11.一种用来推断测试结果之间的关系的设备，包括：
用于从对多个被测器件执行测试的测试仪接收有序测试数据的装置，所述有序测试数据包括1)多个被测器件标识符，其中所述被测器件标识符中的一些跟随有2)与所标识的被测器件相关联的任何测试结果；
用于当接收到所述被测器件标识符之一时，确定是否存在用于所述被测器件标识符之一所标识的被测器件的数据结构的装置；
用于当确定所述数据结构不存在时，创建所述数据结构并且将i)与所述被测器件标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述数据结构相关联的装置；以及
用于当确定所述数据结构存在时，创建子数据结构作为所述数据结构的子，并且将i)与所述被测器件标识符之一相关联的任何测试结果与ii)所述子数据结构相关联的装置，其中所述子数据结构推论性地指示出与所述子数据结构相关联的测试结果是再次测试的结果。
12.根据权利要求11所述的设备，还包括用于将所述子数据结构的父指针设置为指向所述数据结构的装置。
13.根据权利要求11所述的设备，还包括用于将所述数据结构的父指针设置为指向父对象的装置。
14.根据权利要求11所述的设备，还包括用于当接收到所述被测器件标识符之一时：
确定所述被测器件标识符之一是否与任何测试结果相关联的装置；以及
如果所述被测器件标识符之一不与任何测试结果相关联，则不创建所述数据结构或所述子数据结构的装置。
15.根据权利要求11所述的设备，其中，如果所述数据结构和子数据结构被创建，则被创建为数据对象。
16.根据权利要求11所述的设备，其中，所述被测器件标识符包括晶片上的被测器件的位置。
17.根据权利要求16所述的设备，其中，所述被测器件标识符还包括晶片标识符。
18.根据权利要求11所述的设备，其中用于从所述测试仪接收所述有序测试数据的装置包括用于通过中间数据存储装置来接收所述有序测试数据的装置。
19.根据权利要求18所述的设备，其中所述数据存储装置是文件。
20.根据权利要求11所述的设备，还包括用于将多组再次测试结果分别与所述数据结构的多个子数据结构相关联的装置。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10296433B2 (en) * 2012-06-01 2019-05-21 Litepoint Corporation Method for transferring and confirming transfer of predefined data to a device under test (DUT) during a test sequence
CN109977105A (zh) * 2019-04-04 2019-07-05 深圳市恒安特斯网络科技有限公司 一种儿童英语水平评估系统及方法
CN115605767A (zh) 2020-07-21 2023-01-13 爱德万测试公司（Jp） 使用器件特定数据的自动化测试设备和方法
US20220270699A1 (en) * 2021-02-23 2022-08-25 Changxin Memory Technologies, Inc. Method and apparatus for batch testing device, related computer device and medium

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1321891A (zh) * 2000-04-13 2001-11-14 株式会社鼎新 故障检测半导体测试系统
CN1454320A (zh) * 2000-04-24 2003-11-05 陆放 集成电路实时检测的系统结构及其测试方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3549608B2 (ja) * 1995-04-04 2004-08-04 富士通株式会社 識別子による階層構造データの構造判定方法および装置
US6925589B1 (en) * 1998-10-29 2005-08-02 International Business Machines Corporation Method for translating physical cell-coordinates of a memory product to n-dimensional addresses
US6988232B2 (en) * 2001-07-05 2006-01-17 Intellitech Corporation Method and apparatus for optimized parallel testing and access of electronic circuits
JP2003196142A (ja) * 2001-12-25 2003-07-11 Sony Corp ライトワンス型メモリ装置及びファイル管理方法
KR100493058B1 (ko) * 2003-04-15 2005-06-02 삼성전자주식회사 소켓 이상 유무를 실시간으로 판단하는 반도체 소자의전기적 검사방법
US6961674B2 (en) * 2003-08-11 2005-11-01 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for analysis of cache array test data

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1321891A (zh) * 2000-04-13 2001-11-14 株式会社鼎新 故障检测半导体测试系统
CN1454320A (zh) * 2000-04-24 2003-11-05 陆放 集成电路实时检测的系统结构及其测试方法

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