CN112566005B - 一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质,包括:获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元,并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试,直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果,整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。

Description

一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质
技术领域
本发明实施例涉及数据处理技术领域,尤其涉及一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
在真正无线立体声(True Wireless Stereo,TWS)耳机中需要配置音频芯片,以实现TWS耳机的功能。针对TWS耳机的音频芯片在设计的过程中,需要对音频芯片进行性能测试,在确定测试无误的情况下才会进行后续的大量生产。
但是目前在音频芯片的测试过程中,通常需要培训专业的人员对测试设备进行操作,测试过程中不仅需要消耗过多的时间成本和人力成本,而且针对音频芯片中的不同模块无法直观的获取测试结果,因此现有的音频芯片的测试方法无法满足用户的测试需求。
发明内容
本发明实施例提供了一种音频芯片的测试方法、装置、电子设备和存储介质,以实现对音频芯片的准确高效的测试。
第一方面,本发明实施例提供了一种音频芯片的测试方法,包括:获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;
确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;
将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;
根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
第二方面,本发明实施例提供了一种音频芯片的测试装置,包括:
待测音频芯片获取模块,用于获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;
测试指标类型和待测项目单元确定模块,用于确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;
测试指标数值获取模块,用于将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;
测试结果获取模块,用于根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
第三方面,本发明实施例还提供了一种电子设备,电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当一个或多个程序被一个或多个处理器执行,使得一个或多个处理器实现本发明任意实施例的方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例的方法。
在本发明实施例中,针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元,并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试,直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果,整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的音频芯片的测试方法的流程图;
图2是本发明实施例二提供的音频芯片的测试方法的流程图;
图3是本发明实施例三提供的音频芯片的测试装置结构示意图;
图4是本发明实施例四提供的一种电子设备的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1是本发明实施例提供的音频芯片的测试方法的流程图,本实施例可适用于对音频芯片进行测试的情况,该方法可以由本发明实施例中的音频芯片的测试装置来执行,该装置可以通过软件和/或硬件的方式实现,本发明实施例的方法具体包括如下步骤:
步骤S101,获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元。
可选的,项目单元包括:数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC)单元、模数转换器(Analog to Digital Converter,ADC)单元、蓝牙数模转换器(BluetoothDigital to Analog Converter,BT DAC)单元和蓝牙模数转换器(Bluetooth Analog toDigital Converter,BT ADC)单元。
可选的,获取待测音频芯片可以包括:获取每个项目单元所对应的文档,其中,文档中包括项目单元的配置信息;根据配置信息对项目单元进行烧录,以获得待测音频芯片。
可选的,配置信息中包括寄存器参数等级。
具体的说,本实施方式中是从本地获取每个项目单元所对应的文档,并且获取文档的方式具体可以是按照指定路径所查找的文件夹中获取文档,并且不同指定路径下的文件夹的文档中分别包括不同项目单元的配置信息。项目单元可以包括:DAC单元、ADC单元、BT DAC单元和BT ADC单元,并且每个项目单元分别对应不同的功能,因此项目单元具体可以指的是音频芯片执行不同功能的程序单元,当然本实施方式中仅是举例进行说明而并不对项目单元的具体类型进行限定。
其中,在获取每个项目单元所对应的文档之后,可以根据文档中所包含的配置信息对项目单元进行烧录,烧录过程即是将文档中所包含的配置信息添加到空白芯片中,以对空白芯片进行配置并获得待测音频芯片的过程。并且针对每个项目单元可以通过两次烧录过程完成配置过程,当所有项目单元根据所对应的配置信息全部烧录完成的情况下,即可获取待测音频芯片。
需要说明的是,在配置信息中还可以包括寄存器参数等级,即根据寄存器参数等级确定每个项目单元所对应的等级个数,其中寄存器参数等级分别对应不同的数值调试范围。例如,在确定配置信息中影响某个项目单元的关键参数为X,则寄存器参数等级可以包括X的不同的数值调试范围:1<X<2,等级一;2<X<3,等级二,从而可以确定该项目单元所对应的等级个数为两个。本实施方式中通过将寄存器等级参数在烧录阶段就添加到音频芯片的每个项目单元中,从而在测试阶段直接获取待测项目单元在不同等级下的测试指标数值,而无需在测试过程中通过人工方式对关键参数的调试范围进行手动操作更改,因此简化了音频芯片的测试过程,提高了音频芯片的测试效率。
步骤S102,确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元。
具体的说,测试指标类型包括:谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比中的至少一个。在电子设备的人机交互界面中具有测试指标配置端口,在界面上可以显示不同类型的测试指标供用户选择。通过执行烧录获得待测音频芯片之后,当确定接收到用户的选择触发指令时,可以根据指令确定针对待测音频芯片的测试指标的具体类型。在测试指标类型已经确定的情况下,在后续的测试过程中通过获取所确定的测试指标类型所对应的测试指标数值进行音频芯片性能的测试。
其中,在对待测音频芯片进行测试的过程中,由于在音频芯片中包含具有不同功能的项目单元,因此具体可以根据用户的选择指令从所烧录的多个项目单元中确定出待测项目单元,本实施方式中并不限定待测项目单元的具体数量。
需要说明的是,本实施方式中还可以设置待测项目单元的默认测试方式,默认测试方式可以设置为:按照DAC单元、ADC单元、BT DAC单元和BT ADC单元顺序进行测试,因此在确定接收到用户针对默认测试方式的选择指令时,则可以确定待测项目单元包括DAC单元、ADC单元、BT DAC单元和BT ADC单元。
步骤S103,将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值。
可选的,将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值,可以包括:将音频信号分别输入待测项目单元;获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值。
具体的说,在测试指标类型以及待测项目单元已经确定的情况下,具体可以将音频信号分别输入待测项目单元。例如,在确定测试指标类型包括:谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比,用户所选定的待测项目单元仅包含DAC单元时,则将音频信号输入DAC单元中,获取DAC单元通过对音频信号进行处理后所输出的测试指标数值。
需要说明的是,由于在音频芯片烧录阶段已经将寄存器等级参数添加到每个项目单元中,因此待测项目单元中的等级个数是已知的。在确定待测项目单元为DAC单元,DAC单元所包含的等级个数为两个,分别为等级一和等级二,而每个不同等级分别表示由寄存器参数等级所确定的指定参数的不同数值调试范围。因此在获取每个待测项目单元输出的测试指标数值时,具体是获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值。例如,针对DAC单元输出两组测试指标数值,分别为等级一下的谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比的数值,以及等级二下的谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比的数值,并且在不同等级下两组测试指标数值各不相同。当然本实施方式中仅是以一个待测项目单元DAC为例进行的举例说明,对于其它待测项目单元的获取测试指标数值的方式与此大致相同,本实施方式中不再进行赘述。
步骤S104,根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
可选的,根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果,可以包括:将待测项目单元中针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值与标准数值范围进行对比;判断测试指标数值是否在标准数值范围内,若是,则确定待测音频芯片的测试结果为通过,否则,确定待测音频芯片的测试结果为未通过。
具体的说,每个待测项目单元针对不同寄存器参数等级分别提前设置标准数值范围,因此在获取每个待测项目单元输出的测试标准数值之后,通过与所设置的标准数值范围进行对比,当确定测试指标数值在标准数值范围内时,则确定整个待测音频芯片的测试结果为通过,并可以将待测项目单元所输出的每个等级下的测试指标数值以excel的形式进行导出,便于用户进行后续的数据分析。在确定测试指标数值不在标准数据范围内时,则确定整个待测音频芯片的测试结果为未通过,并且在未通过的情况下会进行报警,以对用户进行提示,报警的具体形式可以是采用声音信号或图像信号,本实施方式中并不限定报警的具体形式。
在本发明实施例中,针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元,并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试,直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果,整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。
实施例二
图2是本发明实施例提供的音频芯片的测试方法的流程图,本实施例一上述实施例为基础,在根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果之后,还包括:在确定待测音频芯片的测试结果为未通过时获取修改配置指令;根据修改配置指令对待测项目单元进行配置修改。
如图2所示,本公开实施例的方法具体包括:
步骤S201,获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元。
可选的,获取待测音频芯片可以包括:获取每个项目单元所对应的文档,其中,文档中包括项目单元的配置信息;根据配置信息对项目单元进行烧录,以获得待测音频芯片。
可选的,配置信息中包括寄存器参数等级。
步骤S202,确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元。
步骤S203,将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值。
可选的,将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值,可以包括:将音频信号分别输入待测项目单元;获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值。
步骤S204,根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
可选的,根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果,可以包括:将待测项目单元中针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值与标准数值范围进行对比;判断测试指标数值是否在标准数值范围内,若是,则确定待测音频芯片的测试结果为通过,否则,确定待测音频芯片的测试结果为未通过。
步骤S205,在确定待测音频芯片的测试结果为未通过时获取修改配置指令,根据修改配置指令对待测项目单元进行配置修改。
具体的说,当确定待测音频芯片的测试结果为未通过时会发出报警提示,在确定用户接收到报警提示的情况下,会接收到用户针对测试指标数值所输入的修改配置指令。在修改配置指令中包含对待测项目单元的参数修改指令。例如,在确定待测项目单元中通过烧录所添加的寄存器参数等级包括关键参数X不同的数值调试范围:1<X<2,等级一;2<X<3,等级二。并且确定在等级一的情况下测试结果未通过,则在修改配置指令中可以包括:将等级一的数值调试范围更改为0.5<X<2,从而根据修改配置指令对待测项目单元进行配置修改。并且在确定修改配置完成的情况下会重新执行步骤S203获取新的测试指标数值,直到根据新的测试指标数值确定测试通过。
在本发明实施例中,针对待测音频芯片确定测试指标类型以及待测项目单元,并根据需求对待测音频芯片中所选定的待测项目单元分别进行测试,直观准确的获取待测音频芯片不同项目单元的测试结果,整个测试过程操作简便无需消耗过多的时间和人力成本。并且在确定测试结果未通过的情况下,根据修改配置指令对待测项目单元进行配置修改,从而提高音频芯片的质量。
实施例三
图3是本发明实施例提供的音频芯片的测试装置的结构示意图,具体包括:待测音频芯片获取模块310、测试指标类型和待测项目单元确定模块320、测试指标数值获取模块330和测试结果获取模块340。
其中,待测音频芯片获取模块310,用于获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;
测试指标类型和待测项目单元确定模块320,用于确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;
测试指标数值获取模块330,用于将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;
测试结果获取模块340,用于根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
可选的,项目单元包括:数模转换器DAC单元、模数转换器ADC单元、蓝牙数模转换器BT DAC单元和蓝牙模数转换器ADC单元。
可选的,待测音频芯片获取模块用于:获取每个项目单元所对应的文档,其中,文档中包括项目单元的配置信息;
根据配置信息对项目单元进行烧录,以获得待测音频芯片。
可选的,配置信息中包括寄存器参数等级。
可选的,测试指标数值获取模块用于:将音频信号分别输入待测项目单元;
获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值。
可选的,测试结果获取模块用于:将待测项目单元中针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值与标准数值范围进行对比;
判断测试指标数值是否在标准数值范围内,若是,则确定待测音频芯片的测试结果为通过,否则,确定待测音频芯片的测试结果为未通过。
可选的,装置还包括配置修改模块,用于在确定待测音频芯片的测试结果为未通过时获取修改配置指令;
根据修改配置指令对待测项目单元进行配置修改。
可选的,测试指标类型包括:谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比中的至少一个。
上述装置可执行本发明任意实施例所提供的音频芯片的测试方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例提供的方法。
实施例四
图4是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。图4示出了适用于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备412的框图。图4显示的电子设备412仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图4所示,电子设备412以通用计算设备的形式出现。电子设备412的组件可以包括但不限于:一个或者多个处理器416,存储器428,连接不同系统组件(包括存储器428和处理器416)的总线418。
总线418表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器,外围总线,图形加速端口,处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说,这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线,微通道体系结构(MAC)总线,增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。
电子设备412典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备412访问的可用介质,包括易失性和非易失性介质,可移动的和不可移动的介质。
存储器428用于存储指令。存储器428可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质,例如随机存取存储器(RAM)430和/或高速缓存存储器432。电子设备412可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例,存储系统434可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图4未显示,通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图4中未示出,可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器,以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下,每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线418相连。存储器428可以包括至少一个程序产品,该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块,这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。
具有一组(至少一个)程序模块442的程序/实用工具440,可以存储在例如存储器428中,这样的程序模块442包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块442通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。
电子设备412也可以与一个或多个外部设备414(例如键盘、指向设备、显示器424等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备412交互的设备通信,和/或与使得该电子设备412能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口422进行。并且,电子设备412还可以通过网络适配器420与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器420通过总线418与电子设备412的其它模块通信。应当明白,尽管图4中未示出,可以结合电子设备412使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理器416通过运行存储在存储器428中的指令,从而执行音频芯片的测试方法:获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
实施例五
本发明实施例五还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质,计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行音频芯片的测试方法,该方法包括:
获取待测音频芯片,其中,待测音频芯片中包括多个项目单元;确定针对待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;将音频信号分别输入待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;根据测试指标数值确定待测音频芯片的测试结果。
通过以上关于实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现,当然也可以通过硬件实现,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中,如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory, ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory, RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等,包括若干指令用以使得一台电子设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的音频芯片的测试方法。
值得注意的是,上述实施例中所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (7)

1.一种音频芯片的测试方法,其特征在于,包括:
获取待测音频芯片,其中,所述待测音频芯片中包括多个项目单元;
确定针对所述待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;
将音频信号分别输入所述待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;
根据所述测试指标数值确定所述待测音频芯片的测试结果;
其中,所述获取待测音频芯片包括:获取每个项目单元所对应的文档,其中,所述文档中包括所述项目单元的配置信息;根据所述配置信息对所述项目单元进行烧录,以获得所述待测音频芯片;
所述配置信息中包括寄存器参数等级,所述寄存器参数等级分别对应不同的数值调试范围;
所述将音频信号分别输入所述待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值,包括:将音频信号分别输入所述待测项目单元;获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值;
所述项目单元包括:数模转换器DAC单元、模数转换器ADC单元、蓝牙数模转换器BT DAC单元和蓝牙模数转换器BT ADC单元。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试指标数值确定所述待测音频芯片的测试结果,包括:
将待测项目单元中针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值与标准数值范围进行对比;
判断所述测试指标数值是否在所述标准数值范围内,若是,则确定所述待测音频芯片的测试结果为通过,否则,确定所述待测音频芯片的测试结果为未通过。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试指标数值确定所述待测音频芯片的测试结果之后,还包括:
在确定所述待测音频芯片的测试结果为未通过时获取修改配置指令;
根据所述修改配置指令对所述待测项目单元进行配置修改。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述测试指标类型包括:谐波失真、谐波加噪声、底噪、输出功率、输出幅度和信噪比中的至少一个。
5.一种音频芯片的测试装置,其特征在于,所述装置包括:
待测音频芯片获取模块,用于获取待测音频芯片,其中,所述待测音频芯片中包括多个项目单元;
测试指标类型和待测项目单元确定模块,用于确定针对所述待测音频芯片的测试指标类型以及待测项目单元;
测试指标数值获取模块,用于将音频信号分别输入所述待测项目单元,并获取每个待测项目单元输出的测试指标数值;
测试结果获取模块,用于根据所述测试指标数值确定所述待测音频芯片的测试结果;
所述待测音频芯片获取模块,用于获取每个项目单元所对应的文档,其中,所述文档中包括所述项目单元的配置信息;根据所述配置信息对所述项目单元进行烧录,以获得所述待测音频芯片;所述配置信息中包括寄存器参数等级;
所述测试指标数值获取模块,用于将音频信号分别输入所述待测项目单元;获取每个待测项目单元输出的针对不同寄存器参数等级所对应的测试指标数值;
所述项目单元包括:数模转换器DAC单元、模数转换器ADC单元、蓝牙数模转换器BT DAC单元和蓝牙模数转换器ADC单元。
6.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一所述的方法。
7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一所述的方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116261091B (zh) * 2023-05-16 2023-08-04 深圳市百泰实业股份有限公司 一种可定制测试流程的蓝牙测试系统及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102902834A (zh) * 2011-07-29 2013-01-30 炬力集成电路设计有限公司 一种soc芯片的验证方法及系统
CN102967817A (zh) * 2011-09-01 2013-03-13 安凯(广州)微电子技术有限公司 芯片音频模块测试系统和测试方法
CN203910265U (zh) * 2014-04-30 2014-10-29 杭州士兰微电子股份有限公司 基于音频解码芯片输出音频质量的实时检测电路
CN108718408A (zh) * 2018-05-21 2018-10-30 深圳市金锐显数码科技有限公司 一种用于音视频解码板卡的检测方法及系统
CN110825567A (zh) * 2019-07-17 2020-02-21 深圳芯智汇科技有限公司 一种音频芯片的测试系统和测试方法
CN111190093A (zh) * 2020-01-10 2020-05-22 上海知白智能科技有限公司 芯片测试方法及装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102902834A (zh) * 2011-07-29 2013-01-30 炬力集成电路设计有限公司 一种soc芯片的验证方法及系统
CN102967817A (zh) * 2011-09-01 2013-03-13 安凯(广州)微电子技术有限公司 芯片音频模块测试系统和测试方法
CN203910265U (zh) * 2014-04-30 2014-10-29 杭州士兰微电子股份有限公司 基于音频解码芯片输出音频质量的实时检测电路
CN108718408A (zh) * 2018-05-21 2018-10-30 深圳市金锐显数码科技有限公司 一种用于音视频解码板卡的检测方法及系统
CN110825567A (zh) * 2019-07-17 2020-02-21 深圳芯智汇科技有限公司 一种音频芯片的测试系统和测试方法
CN111190093A (zh) * 2020-01-10 2020-05-22 上海知白智能科技有限公司 芯片测试方法及装置

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