KR20070079013A

KR20070079013A - 테스트 결과 관계 추론 방법 및 다수의 머신 판독가능 매체

Info

Publication number: KR20070079013A
Application number: KR1020070009352A
Authority: KR
Inventors: 크리스틴 노엘 캐스터튼; 카를리 코넬리; 라이언 레스맨
Original assignee: 베리지 (싱가포르) 피티이. 엘티디.
Priority date: 2006-01-31
Filing date: 2007-01-30
Publication date: 2007-08-03
Also published as: TW200739105A; US7404121B2; CN101025746A; JP2007206067A; US20070208972A1; CN101025746B

Abstract

일 실시예에서, 테스트 결과의 관계를 추론하기 위한 방법은, 1) 다수의 피검사 장치(DUT)에 대한 테스트를 수행하는 테스터로부터 순차적 테스트 데이터를 수신하고, 2) DUT 식별자를 수신하면, DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자에 의해 식별된 DUT에 대한 데이터 구조가 존재하는지를 판별하며, 3) 그 데이터 구조가 존재하지 않는 것으로 판별하면, 데이터 구조를 생성하여, i) DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과와 ii) 데이터 구조를 연관시키고, 4) 그 데이터 구조가 존재하는 것으로 판별하면, 그 데이터 구조의 모태로서 모태 데이터 구조를 생성하여, i) DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과와 ii) 그 모태 데이터 구조를 연관시키되, 모태 데이터 구조는 그것과 연관된 테스트 결과가 재검사 결과임을 추론에 의해 나타낸다. 다른 실시예도 개시된다.

Description

테스트 결과 관계 추론 방법 및 다수의 머신 판독가능 매체{METHOD AND MACHINE-READABLE MEDIA FOR INFERRING RELATIONSHIPS BETWEEN TEST RESULTS}

도 1은 테스트 결과들 간의 관계를 추론하는 예시적인 방법을 나타낸 도면,

도 2는 도 1의 방법을 구현하기 위한 예시적인 시스템을 나타낸 도면이다.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

200 : 시스템 202 : 순차적 테스트 데이터

204A, 204B, 208A, 208B, 212A, 212B : DUT 식별자

206A, 206B, 210A, 210B, 214A, 214B : 테스트 결과

216 : 데이터 파퓰레이터 218 : 데이터 저장부

220, 224 : 데이터 구조 222, 226, 230 : 모체 포인터

228 : 모태 데이터 구조

애질런트 테크놀러지스사가 제공하는 93000 SOC(System On a Chip) 계열 테 스터와 같은 테스터는 복잡한 회로기기의 신속한 테스팅을 제공한다. 이러한 테스터는 대량의 순차적 테스트 데이터를 제공할 수 있으며, 이에 따라 순차적 테스트 데이터에 포함된 테스트 결과는 특정 테스트 결과 또는 테스트 결과 세트를 생성하게 하는 테스팅 종류와 관련된 비교적 적은 수의 지표와 관련된다. 따라서 테스트 결과들 간의 관계를 추론하기 위한 단순한 방식이 유용하다.

일 실시예에서, 테스트 결과의 관계를 추론하기 위한 방법은, 1) 다수의 피검사 장치(DUT)에 대한 테스트를 수행하는 테스터로부터 순차적 테스트 데이터 - 순차적 테스트 데이터는 (1) 다수의 식별자와, (2) 임의의 테스트 결과를 포함하되, DUT 식별자 중 하나는 식별된 DUT와 연관된 임의의 테스트 결과 - 를 수신하고, 2) DUT 식별자를 수신하면, DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자에 의해 식별된 DUT에 대한 데이터 구조가 존재하는지를 판별하며, 3) 그 데이터 구조가 존재하지 않는 것으로 판별하면, 데이터 구조를 생성하여, i) DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과와 ii) 데이터 구조를 연관시키고, 4) 그 데이터 구조가 존재하는 것으로 판별하면, 그 데이터 구조의 모태(child)로서 모태 데이터 구조(child data structure)를 생성하여, i) DUT 식별자 중 상기 수신된 DUT 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과와 ii) 그 모태 데이터 구조를 연관시킨다. 모태 데이터 구조는 그것과 연관된 테스트 결과가 재검사 결과임을 추론에 의해 나타낸다.

다른 실시예에서, 다수의 머신 판독가능 매체는, 머신에 의해 실행될 때, 머신이 전술한 단락에서 설명한 방법의 작용을 수행하게 하는 일련의 명령을 저장하고 있다.

다른 실시예도 개시된다.

본 발명의 예시적인 실시예는 도면에 예시되어 있다.

종래기술에서 지적한 바와 같이, 애질런트 테크놀러지스사가 제공하는 93000 SOC(System On a Chip) 계열 테스터와 같은 테스터는 대량의 순차적 테스트 데이터를 제공할 수 있으며, 이에 따라 순차적 테스트 데이터에 포함된 테스트 결과는 특정 테스트 결과 또는 테스트 결과 세트를 생성하게 하는 테스팅 종류와 관련된 비교적 적은 수의 지표와 관련된다. 따라서 테스트 결과들 간의 관계를 추론하기 위한 단순한 방식이 유용하다. 이를 위해, 도 1은 테스트 결과들 간의 관계를 추론하기 위한 예시적인 방법(100)을 나타내고 있다.

그 방법(100)은 다수의 피검사 장치(Devices Under Test: DUTs)에 대한 테스트를 수행하는 테스터로부터 순차적 테스트 데이터를 수신하는 것으로 시작한다. 도 1의 블록(102)을 참조하라. 몇몇 경우에 순차적 테스트 데이터는 테스터로부터 직접 수신될 수 있고, 다른 경우에는 순차적 테스트 데이터는 디스크 상의 파일 또는 인-메모리 데이터 구조(in-memory data structure)와 같은 중간 데이터 저장부에 의해 수신될 수 있다. 순차적 테스트 데이터는 1) 다수의 DUT 식별자와, 2) 식별된 DUT와 관련된 임의의 테스트 결과를 포함하는데, 이러한 임의의 테스트 결과는 DUT 식별자 중 일부의 뒤를 잇는다. 예를 들어, DUT 식별자는 DUTs의 데카르트 좌표(예를 들면, (x, y) 좌표)와 같은 웨이퍼 상의 DUTs의 위치를 포함할 수 있다. 이와 달리, DUT 식별자는 알파 또는 숫자문자식 DUT 식별자를 포함할 수도 있다. 또한, DUT 식별자는 데카르트 좌표, 웨이퍼 식별자 및 로트 식별자(lot identifier)와 같은 식별자들의 조합을 포함할 수도 있다.

DUT 식별자 중 하나를 수신하면, 방법(100)은 DUT 식별자에 의해 식별되는 DUT에 대한 데이터 구조가 존재하는지를 판별한다(블록(104)). 그러한 데이터 구조가 존재하지 않는 것으로 판별되면, 데이터 구조가 생성되고, DUT 식별자와 관련된 임의의 테스트 결과는 새로이 생성된 데이터 구조와 연관된다(블록(106)). 그러나, 데이터 구조가 이미 존재하는 것으로 판별되면, 모태 데이터 구조(child data structure)가 (데이터 구조의 모태로서) 생성되고, DUT 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과는 모태 데이터 구조와 연관된다. 모태 데이터 구조의 예상치 못한 의존성(즉, 동일한 DUT와 연관된 모체 데이터 구조(parent data structure)에 대한 의존성)은 모태 데이터 구조와 연관된 테스트 결과가 재검사 결과임을 추론에 의해서 나타낸다.

재검사 결과를 식별하고 그러한 재검사 결과를 초기 테스트 결과와 구별하기 위한 능력은, 그러한 결과들을 구별할 수 없을 때 데이터 평균 및 기타의 데이터 해석을 왜곡할 수 있다는 점에서, 유용할 수 있다.

또한, 선택적으로, 모태 데이터 구조를 생성하면, 방법(100)은 모태 데이터 구조의 "모체 포인터(parent pointer)"를 설정하여 모태의 모체 데이터 구조(child's parent data structure)를 지적하는 단계를 포함할 수 있다(블록(110)). 마찬가지로, 또한 DUT에 대한 초기 데이터 구조를 생성하면, 방법(100)은 데이터 구조의 "모체 포인터"를 설정하여 DUT의 초기 데이터 구조의 모체를 지적하는 단계를 포함할 수도 있다(블록(112)). 또는, 모체 데이터 구조와 연관된 포인터는 그들의 모태를 지적하도록 설정될 수도 있다.

일 실시예에서, 방법(100)은, 1) DUT 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되는지의 여부를 판별하는 단계와, 2) 그 DUT 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되지 않는 경우에, 식별된 DUT에 대한 초기 또는 모태 데이터 구조의 생성을 무시하는 단계를 더 포함한다.

도 1에 도시한 방법 단계의 순서는 중요한 것이 아니며, 그러한 단계의 병행 프로세싱을 포함하는 다른 순서도 가능하다는 점에 유의한다.

도 1에 도시한 방법(100)은 머신에 의해 실행될 때 머신이 방법(100)의 작용을 수행하게 하는 머신 판독가능 매체 상에 저장된 일련의 명령에 의해 구현될 수도 있다. 머신 판독가능 매체는 단일 위치나 네트워크 전반에 분포된 위치에, 예를 들어 꽤 많은 수의 고정 매체(fixed media) 또는 제거가능 매체(removable media)(예를 들면, 하나 이상의 고정 디스크, 랜덤 액세스 메모리(RAMs), 판독 전용 메모리(ROMs) 또는 컴팩트 디스크)나 이러한 매체들의 혼합물을 포함할 수도 있다. 일련의 명령은 일반적으로 소프트웨어를 포함하지만, 펌웨어도 포함할 수 있다.

도 2는 방법(100)(도 1)을 구현하기 위한 예시적인 시스템(200)의 블록도를 나타낸다. 시스템(200)은 데이터 파퓰레이터(216) 및 데이터 저장부(218)를 포함한다. 데이터 파퓰레이터(216)는, DUT 식별자(204A, 208A, 212A) 및 그들의 연관된 테스트 결과(206A, 210A, 214A)를 포함하는 순차적 테스트 데이터(202)를 수신한다. 일 실시예에서는 순차적 테스트 데이터(202)가 테스터로부터 직접 수신될 수 있고, 다른 경우에는 순차적 테스트 데이터(202)가 디스크 상의 파일 또는 인-메모리 데이터 구조와 같은 중간 데이터 저장부에 의해 수신될 수도 있다.

DUT 식별자(204A)를 수신하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 데이터 저장부(218)를 액세스하여 DUT "A"에 대한 데이터 구조가 존재하는지의 여부를 판별할 수 있다. 그러한 데이터 구조가 존재하지 않음을 발견하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 데이터 구조(220)를 생성하고, DUT 식별자(204B) 및 테스트 결과(206B)를 데이터 구조(220)와 연관시키며, 데이터 구조(220)의 모체 포인터(222)를 모체 데이터 구조(232)(예를 들어, "웨이퍼" 데이터 구조)로 설정할 수 있다.

DUT 식별자(208A)를 수신하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 데이터 저장부(218)를 액세스하여 DUT "B"에 대한 데이터 구조가 존재하는지의 여부를 판별할 수 있다. 그러한 데이터 구조가 존재하지 않음을 발견하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 데이터 구조(224)를 생성하고, DUT 식별자(208B) 및 테스트 결과(210B)를 데이터 구조(224)와 연관시키며, 데이터 구조(224)의 모체 포인터(226)를 모체 데이터 구조(232)로 설정할 수 있다.

DUT 식별자(212A)를 수신하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 데이터 저장 부(218)를 액세스하여 DUT "B"에 대한 데이터 구조가 존재하는지의 여부를 판별할 수 있다. 그러한 데이터 구조가 이미 존재함을 발견하면, 데이터 파퓰레이터(216)는 모태 데이터 구조(228)를 생성하고, DUT 식별자(212B) 및 테스트 결과(214B)를 데이터 구조(228)와 연관시키며, 데이터 구조(228)의 모체 포인터(230)를 DUT "B"에 대해 생성되었던 초기 데이터 구조(224)로 설정할 수 있다.

일 실시예에서, 각각의 데이터 구조(220, 224, 228)는 메모리 내에 생성된 데이터 객체이다. 그러나, 데이터 구조(220, 224, 228, 232)는 또한 데이터베이스 레코드, 파일 또는 고객 구조(예를 들어, "스트럭츠(structs))"도 포함할 수 있다.

본 발명은 테스트 결과들 간의 관계를 추론하는 데 유용한 단순한 방식을 제공할 수 있다.

Claims

테스트 결과들 간의 관계를 추론하는 방법으로서,

다수의 피검사 장치(Devices Under Test: DUTs)에 대한 테스트를 수행하는 테스터로부터 순차적 테스트 데이터 - 상기 순차적 테스트 데이터는 1) 다수의 DUT 식별자와, 2) 식별된 DUT와 관련된 임의의 테스트 결과를 포함하되, 상기 임의의 테스트 결과는 상기 DUT 식별자 중 일부의 뒤에 이어짐 - 를 수신하는 단계와,

상기 DUT 식별자 중 하나를 수신하면, 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자에 의해 식별된 DUT에 대한 데이터 구조가 존재하는지를 판별하는 단계와,

상기 데이터 구조가 존재하지 않는 것으로 판별하면, 상기 데이터 구조를 생성하고, i) 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과를 ii) 상기 데이터 구조와 연관시키는 단계와,

상기 데이터 구조가 존재하는 것으로 판별하면, 상기 데이터 구조의 모태(child)로서 모태 데이터 구조(child data structure)를 생성하고, i) 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자와 연관된 상기 임의의 테스트 결과를 ii) 상기 모태 데이터 구조와 연관시키되, 상기 모태 데이터 구조는 그와 연관된 테스트 결과가 재검사 결과임을 추론에 의해 나타내는 단계를 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 모태 데이터 구조의 모체 포인터(parent pointer)를 상기 데이터 구조로 설정하는 단계를 더 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 데이터 구조의 모체 포인터를 모체 객체(parent object)로 설정하는 단계를 더 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자를 수신하면,

상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되는지를 판별하는 단계와,

상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되지 않는다면, 상기 데이터 구조 또는 상기 모태 데이터 구조를 생성하지 않는 단계를 더 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 데이터 구조 및 모태 데이터 구조는 생성 시에 데이터 객체로서 생성되는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 DUT 식별자는 웨이퍼 상의 DUT들의 위치를 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 6 항에 있어서,

상기 DUT 식별자는 웨이퍼 식별자(wafer identifiers)를 더 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 테스터로부터 상기 순차적 테스트 데이터를 수신하는 단계는 중간 데이터 저장부에 의해 상기 순차적 테스트 데이터를 수신하는 단계를 포함하는

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 8 항에 있어서,

상기 데이터 저장부는 파일인

테스트 결과 관계 추론 방법.
제 1 항에 있어서,

다수의 재검사 결과 세트는 각각 상기 데이터 구조의 다수의 모태 데이터 구조와 연관되는

테스트 결과 관계 추론 방법.
머신에 의해 실행될 때,

상기 머신이

다수의 피검사 장치(Devices Under Test: DUTs)에 대한 테스트를 수행하는 테스터로부터 순차적 테스트 데이터 - 상기 순차적 테스트 데이터는 1) 다수의 DUT 식별자와, 2) 식별된 DUT와 관련된 임의의 테스트 결과를 포함하되, 상기 임의의 테스트 결과는 상기 DUT 식별자 중 일부의 뒤에 이어짐 - 를 수신하는 동작과,

상기 DUT 식별자 중 하나를 수신하면, 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자에 의해 식별된 DUT에 대한 데이터 구조가 존재하는지를 판별하는 동작과,

상기 데이터 구조가 존재하지 않는 것으로 판별하면, 상기 데이터 구조를 생성하고, i) 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자와 연관된 임의의 테스트 결과를 ii) 상기 데이터 구조와 연관시키는 동작과,

상기 데이터 구조가 존재하는 것으로 판별하면, 상기 데이터 구조의 모태(child)로서 모태 데이터 구조(child data structure)를 생성하고, i) 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자와 연관된 상기 임의의 테스트 결과를 ii) 상기 모태 데이터 구조와 연관시키되, 상기 모태 데이터 구조는 그와 연관된 테스트 결과가 재검사 결과임을 추론에 의해 나타내는 동작을 수행하게 하는

일련의 명령을 저장하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 일련의 명령은, 상기 머신에 의해 실행될 때, 상기 머신이 상기 모태 데이터 구조의 모체 포인터(parent pointer)를 상기 데이터 구조로 설정하게 하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 일련의 명령은, 상기 머신에 의해 실행될 때, 상기 머신이 상기 데이터 구조의 모체 포인터를 모체 객체(parent object)로 설정하게 하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 일련의 명령은, 상기 머신에 의해 실행될 때, 상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자를 수신하면, 상기 머신이,

상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되는지를 판별하게 하고,

상기 DUT 식별자 중 상기 수신된 식별자가 임의의 테스트 결과와 연관되지 않는다면, 상기 데이터 구조 또는 상기 모태 데이터 구조를 생성하지 않게 하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 데이터 구조 및 모태 데이터 구조는 생성 시에 데이터 객체로서 생성되는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 DUT 식별자는 웨이퍼 상의 DUT들의 위치를 포함하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 16 항에 있어서,

상기 DUT 식별자는 웨이퍼 식별자(wafer identifiers)를 더 포함하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 11 항에 있어서,

상기 테스터로부터 상기 순차적 테스트 데이터를 수신하는 작용은 중간 데이터 저장부에 의해 상기 순차적 테스트 데이터를 수신하는 동작을 포함하는

다수의 머신 판독가능 매체.
제 18 항에 있어서,

상기 데이터 저장부는 파일인

다수의 머신 판독가능 매체.
제 1 항에 있어서,

상기 일련의 명령은, 상기 머신에 의해 실행될 때, 상기 머신이 각각 다수의 재검사 결과 세트를 상기 데이터 구조의 다수의 모태 데이터 구조와 연관시키는

다수의 머신 판독가능 매체.