JPH09292453A - 回路素子の定数測定装置 - Google Patents
回路素子の定数測定装置Info
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- JPH09292453A JPH09292453A JP13138996A JP13138996A JPH09292453A JP H09292453 A JPH09292453 A JP H09292453A JP 13138996 A JP13138996 A JP 13138996A JP 13138996 A JP13138996 A JP 13138996A JP H09292453 A JPH09292453 A JP H09292453A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電圧、電流の各入力ラインにそれぞれ２つの
サンプルホールド回路を並列的に接続し、それらを交替
的に動作させて高速サンプリングに対応し得るようにし
た場合、そのサンプルホールド回路固有のレベル誤差お
よび位相誤差の校正を容易とする。 【解決手段】 電圧Ｖの入力ラインおよび電流Ｉの入力
ラインに対して、それぞれ２つのサンプルホールド回路
２１，２２；２３，２４を並列的に接続し、一方の対と
された電圧、電流のサンプリング回路２１，２３にて例
えば奇数番目のデータをサンプリングし、他方の対とさ
れた電圧、電流のサンプリング回路２２，２４にて例え
ば偶数番目のデータをサンプリングし、その各々につい
て、インピーダンスＺ１，Ｚ２、位相θ１，θ２とを求
め、そして最終的にそれらの平均値を算出することによ
り、各サンプリング回路に起因するレベル誤差と位相誤
差を抽出する。
サンプルホールド回路を並列的に接続し、それらを交替
的に動作させて高速サンプリングに対応し得るようにし
た場合、そのサンプルホールド回路固有のレベル誤差お
よび位相誤差の校正を容易とする。 【解決手段】 電圧Ｖの入力ラインおよび電流Ｉの入力
ラインに対して、それぞれ２つのサンプルホールド回路
２１，２２；２３，２４を並列的に接続し、一方の対と
された電圧、電流のサンプリング回路２１，２３にて例
えば奇数番目のデータをサンプリングし、他方の対とさ
れた電圧、電流のサンプリング回路２２，２４にて例え
ば偶数番目のデータをサンプリングし、その各々につい
て、インピーダンスＺ１，Ｚ２、位相θ１，θ２とを求
め、そして最終的にそれらの平均値を算出することによ
り、各サンプリング回路に起因するレベル誤差と位相誤
差を抽出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は回路素子の定数測定
装置に関し、さらに詳しく言えば、Ａ／Ｄ変換回路の前
段に設けられるサンプルホールド回路およびその誤差校
正の技術に関するものである。
装置に関し、さらに詳しく言えば、Ａ／Ｄ変換回路の前
段に設けられるサンプルホールド回路およびその誤差校
正の技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】回路素子の定数測定装置には、個別機器
としてのＬメータ、Ｃメータ、Ｒメータやそれらの３要
素を測定する機能を備えたＬＣＲメータが知られている
が、いずれにしても、被測定素子に所定の電圧を印加す
るとともに、同被測定素子に流れる電流を検出し、その
電圧、電流に基づいて所望とする定数値を求めるように
しており、その一般的な構成例が図３に示されている。
としてのＬメータ、Ｃメータ、Ｒメータやそれらの３要
素を測定する機能を備えたＬＣＲメータが知られている
が、いずれにしても、被測定素子に所定の電圧を印加す
るとともに、同被測定素子に流れる電流を検出し、その
電圧、電流に基づいて所望とする定数値を求めるように
しており、その一般的な構成例が図３に示されている。
【０００３】すなわち、この種の装置は被測定素子から
の電圧信号Ｖおよび電流信号Ｉを所定のサンプリング信
号に基づいて保持するサンプルホールド回路１１，１２
と、その保持された電圧信号Ｖ、電流信号Ｉをディジタ
ルデータに変換するＡ／Ｄ変換回路１３と、その電圧、
電流データに所定の演算を施してインピーダンスＺや位
相角θなどを算出するＣＰＵ（中央処理ユニット）１４
とを備え、その測定結果がディスプレイ１５やプリンタ
１６などから得られるようになっている。
の電圧信号Ｖおよび電流信号Ｉを所定のサンプリング信
号に基づいて保持するサンプルホールド回路１１，１２
と、その保持された電圧信号Ｖ、電流信号Ｉをディジタ
ルデータに変換するＡ／Ｄ変換回路１３と、その電圧、
電流データに所定の演算を施してインピーダンスＺや位
相角θなどを算出するＣＰＵ（中央処理ユニット）１４
とを備え、その測定結果がディスプレイ１５やプリンタ
１６などから得られるようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、高機能化を
図るため、ＣＰＵをはじめとしてＡ／Ｄ変換回路などに
データを高速に処理し得るものが用いられ、これに伴な
ってデータサンプリング速度が速められると、従来のよ
うに１入力ライン−１サンプルホールド回路の構成で
は、高速サンプリングに対応しきれなくなる。
図るため、ＣＰＵをはじめとしてＡ／Ｄ変換回路などに
データを高速に処理し得るものが用いられ、これに伴な
ってデータサンプリング速度が速められると、従来のよ
うに１入力ライン−１サンプルホールド回路の構成で
は、高速サンプリングに対応しきれなくなる。
【０００５】そこで、電圧、電流の各入力ラインについ
て、それぞれ２つのサンプルホールド回路を並列に接続
し、それを交互に動作させようとすると、サンプルホー
ルド回路が４つとなり、それらのレベル誤差および位相
誤差をどのように校正するかが新たな問題となる。
て、それぞれ２つのサンプルホールド回路を並列に接続
し、それを交互に動作させようとすると、サンプルホー
ルド回路が４つとなり、それらのレベル誤差および位相
誤差をどのように校正するかが新たな問題となる。
【０００６】本発明は、この問題を解決するためになさ
れたもので、その目的は、電圧、電流の各入力ラインに
それぞれ２つのサンプルホールド回路を並列的に接続
し、それらを交替的に動作させて高速サンプリングに対
応し得るようにした場合、そのサンプルホールド回路固
有のレベル誤差および位相誤差の校正を容易とした回路
素子の定数測定装置を提供することにある。
れたもので、その目的は、電圧、電流の各入力ラインに
それぞれ２つのサンプルホールド回路を並列的に接続
し、それらを交替的に動作させて高速サンプリングに対
応し得るようにした場合、そのサンプルホールド回路固
有のレベル誤差および位相誤差の校正を容易とした回路
素子の定数測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明は、被測定素子に印加される交流電
圧Ｖと、それにより同被測定素子に流れる交流電流Ｉと
から上記被測定素子の定数を算出する回路素子の定数測
定装置において、上記交流電圧Ｖの入力ラインに対して
並列的に接続された第１および第２の電圧サンプルホー
ルド回路と、上記交流電流Ｉの入力ラインに対して並列
的に接続された第１および第２の電流サンプルホールド
回路と、上記第１の電圧サンプルホールド回路および上
記第１の電流サンプルホールド回路を一方の対とすると
ともに、上記第２の電圧サンプルホールド回路および上
記第２の電流サンプルホールド回路を他方の対とし、こ
れら各対とされたサンプルホールド回路をサンプリング
信号の時系列的な奇数、偶数順にしたがって交替的に動
作させるサンプルホールド制御手段と、上記対をなす電
圧、電流の各サンプルホールド回路に保持された交流電
圧Ｖと交流電流Ｉとをディジタルデータに変換するＡ／
Ｄ変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された電圧デ
ータと電流データとから所定の演算式にしたがって上記
被測定素子の定数を算出するＣＰＵ（中央処理ユニッ
ト）とを備え、上記ＣＰＵは、上記被測定素子のインピ
ーダンスＺおよび位相角θを求めるにあたって、上記サ
ンプリング信号の奇数番目および偶数番目に得られる各
サンプリング値から、それぞれ奇数サンプリング時につ
いての電圧、電流データと偶数サンプリング時の電圧、
電流データとを算出し、この奇数サンプリング時および
偶数サンプリング時の各電圧、電流データの平均をとる
ようにしたことを特徴としている。
め、請求項１の発明は、被測定素子に印加される交流電
圧Ｖと、それにより同被測定素子に流れる交流電流Ｉと
から上記被測定素子の定数を算出する回路素子の定数測
定装置において、上記交流電圧Ｖの入力ラインに対して
並列的に接続された第１および第２の電圧サンプルホー
ルド回路と、上記交流電流Ｉの入力ラインに対して並列
的に接続された第１および第２の電流サンプルホールド
回路と、上記第１の電圧サンプルホールド回路および上
記第１の電流サンプルホールド回路を一方の対とすると
ともに、上記第２の電圧サンプルホールド回路および上
記第２の電流サンプルホールド回路を他方の対とし、こ
れら各対とされたサンプルホールド回路をサンプリング
信号の時系列的な奇数、偶数順にしたがって交替的に動
作させるサンプルホールド制御手段と、上記対をなす電
圧、電流の各サンプルホールド回路に保持された交流電
圧Ｖと交流電流Ｉとをディジタルデータに変換するＡ／
Ｄ変換回路と、同Ａ／Ｄ変換回路にて変換された電圧デ
ータと電流データとから所定の演算式にしたがって上記
被測定素子の定数を算出するＣＰＵ（中央処理ユニッ
ト）とを備え、上記ＣＰＵは、上記被測定素子のインピ
ーダンスＺおよび位相角θを求めるにあたって、上記サ
ンプリング信号の奇数番目および偶数番目に得られる各
サンプリング値から、それぞれ奇数サンプリング時につ
いての電圧、電流データと偶数サンプリング時の電圧、
電流データとを算出し、この奇数サンプリング時および
偶数サンプリング時の各電圧、電流データの平均をとる
ようにしたことを特徴としている。
【０００８】この場合、請求項２では、上記電圧信号お
よび上記電流信号の１周期波形に対するサンプリング数
を８の倍数としたことを特徴としている。
よび上記電流信号の１周期波形に対するサンプリング数
を８の倍数としたことを特徴としている。
【０００９】このように、一方の対とされた電圧、電流
のサンプリング回路にて奇数番目のデータをサンプリン
グし、他方の対とされた電圧、電流のサンプリング回路
にて偶数番目のデータをサンプリングし、その各々につ
いて、その電圧Ｖ１，Ｖ２と電流Ｉ１，Ｉ２とから例え
ば奇数サンプリング時のインピーダンスＺ１と偶数サン
プリング時のインピーダンスＺ２とを求め、そして最終
的にそれらの平均値を算出することにより、各サンプリ
ング回路のレベル誤差比が抽出することができる。した
がって、被測定素子のインピーダンスＺが既知であれ
ば、その校正を容易に行なうことが可能となる。
のサンプリング回路にて奇数番目のデータをサンプリン
グし、他方の対とされた電圧、電流のサンプリング回路
にて偶数番目のデータをサンプリングし、その各々につ
いて、その電圧Ｖ１，Ｖ２と電流Ｉ１，Ｉ２とから例え
ば奇数サンプリング時のインピーダンスＺ１と偶数サン
プリング時のインピーダンスＺ２とを求め、そして最終
的にそれらの平均値を算出することにより、各サンプリ
ング回路のレベル誤差比が抽出することができる。した
がって、被測定素子のインピーダンスＺが既知であれ
ば、その校正を容易に行なうことが可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に、本発明の技術的思想をより
よく理解する上で、図面を参照しながらその実施の形態
について説明する。
よく理解する上で、図面を参照しながらその実施の形態
について説明する。
【００１１】図１に示されているように、本発明におい
ては、電圧Ｖの入力ラインに２つのサンプルホールド回
路２１，２２が並列的に接続され、同様に、電流Ｉの入
力ラインにも２つのサンプルホールド回路２３，２４が
並列的に接続される。
ては、電圧Ｖの入力ラインに２つのサンプルホールド回
路２１，２２が並列的に接続され、同様に、電流Ｉの入
力ラインにも２つのサンプルホールド回路２３，２４が
並列的に接続される。
【００１２】そして、これらの各サンプルホールド回路
２１〜２４に、図示しないクロック発生器からサンプリ
ングクロックＦｓが与えられるのであるが、この場合、
サンプルホールド回路２１と２３に対してはインバータ
２５を介してそのサンプリングクロックＦｓが供給され
る。すなわち、この実施例においては、電圧側の第１サ
ンプルホールド回路２１と電流側の第１サンプルホール
ド回路２３とが対とされ、電圧側の第２サンプルホール
ド回路２２と電流側の第２サンプルホールド回路２４と
が対とされていて、サンプリングクロックＦｓにより交
替的に駆動される。
２１〜２４に、図示しないクロック発生器からサンプリ
ングクロックＦｓが与えられるのであるが、この場合、
サンプルホールド回路２１と２３に対してはインバータ
２５を介してそのサンプリングクロックＦｓが供給され
る。すなわち、この実施例においては、電圧側の第１サ
ンプルホールド回路２１と電流側の第１サンプルホール
ド回路２３とが対とされ、電圧側の第２サンプルホール
ド回路２２と電流側の第２サンプルホールド回路２４と
が対とされていて、サンプリングクロックＦｓにより交
替的に駆動される。
【００１３】図２には、これら対とされた各サンプルホ
ールド回路２１〜２４の出力状態が例示されている。こ
れによると、例えば奇数番目のクロックで一方の対をな
すサンプルホールド回路２１と第１サンプルホールド回
路２３からそれぞれ電圧Ｖ１、電流Ｉ１が出力され、偶
数番目のクロックで他方の対をなすサンプルホールド回
路２２と第１サンプルホールド回路２４からそれぞれ電
圧Ｖ２、電流Ｉ２が出力されるようになっている。
ールド回路２１〜２４の出力状態が例示されている。こ
れによると、例えば奇数番目のクロックで一方の対をな
すサンプルホールド回路２１と第１サンプルホールド回
路２３からそれぞれ電圧Ｖ１、電流Ｉ１が出力され、偶
数番目のクロックで他方の対をなすサンプルホールド回
路２２と第１サンプルホールド回路２４からそれぞれ電
圧Ｖ２、電流Ｉ２が出力されるようになっている。
【００１４】なお、これらの各出力Ｖ１，Ｉ１；Ｖ２，
Ｉ２はＡ／Ｄ変換回路１２にてディジタルデータに変換
された後、次段のＣＰＵ１４（図５参照）に送出され
る。Ａ／Ｄ変換回路１２およびＣＰＵ１４は従来と同じ
であってよいが、この場合、Ａ／Ｄ変換回路１２は上記
のクロック発生器を制御し、測定信号周期に同期してサ
ンプリングクロックＦｓを決定する。
Ｉ２はＡ／Ｄ変換回路１２にてディジタルデータに変換
された後、次段のＣＰＵ１４（図５参照）に送出され
る。Ａ／Ｄ変換回路１２およびＣＰＵ１４は従来と同じ
であってよいが、この場合、Ａ／Ｄ変換回路１２は上記
のクロック発生器を制御し、測定信号周期に同期してサ
ンプリングクロックＦｓを決定する。
【００１５】ここで、データのサンプル数について説明
すると、このサンプル数は位相測定により決定される。
すなわち、電圧値と電流値とから位相θを算出するに
は、実効抵抗値ＲとリアクタンスＸとが用いられるが、
そのリアクタンスＸを求めるには９０°位相のずれたサ
ンプリングが必要となる。
すると、このサンプル数は位相測定により決定される。
すなわち、電圧値と電流値とから位相θを算出するに
は、実効抵抗値ＲとリアクタンスＸとが用いられるが、
そのリアクタンスＸを求めるには９０°位相のずれたサ
ンプリングが必要となる。
【００１６】したがって、サンプリングの最小数は４で
その倍数に設定する必要があるが、本発明では１入力ラ
インにつきそれぞれ２つのサンプルホールド回路を持
ち、サンプリングを奇数と偶数とに分けて行なっている
ため、サンプリング数Ｎを８の倍数（４の倍数×２）と
し、この実施例では１波形あたり２４サンプリングで測
定信号波形を再現するようにしている。
その倍数に設定する必要があるが、本発明では１入力ラ
インにつきそれぞれ２つのサンプルホールド回路を持
ち、サンプリングを奇数と偶数とに分けて行なっている
ため、サンプリング数Ｎを８の倍数（４の倍数×２）と
し、この実施例では１波形あたり２４サンプリングで測
定信号波形を再現するようにしている。
【００１７】本発明では、上記のサンプルホールド回路
２１〜２４を介して電圧Ｖ、電流Ｉの瞬時値をサンプリ
ングするが、入力からそのサンプルホールド回路までの
レベル誤差と位相誤差の校正を容易とするため、次のよ
うな手段を講じている。電圧と電流はそれぞれ、
２１〜２４を介して電圧Ｖ、電流Ｉの瞬時値をサンプリ
ングするが、入力からそのサンプルホールド回路までの
レベル誤差と位相誤差の校正を容易とするため、次のよ
うな手段を講じている。電圧と電流はそれぞれ、
【数１】 で表される。
【００１８】このとき、電圧Ｖと電流Ｉとの位相差を
θ、サンプルホールド回路２１〜２４でのサンプリング
値Ｖ１，Ｖ２；Ｉ１，Ｉ２に含まれるレベル誤差（真値
との比）をＡ１〜Ａ４、位相誤差（角度）をＢ１〜Ｂ４
とすると、
θ、サンプルホールド回路２１〜２４でのサンプリング
値Ｖ１，Ｖ２；Ｉ１，Ｉ２に含まれるレベル誤差（真値
との比）をＡ１〜Ａ４、位相誤差（角度）をＢ１〜Ｂ４
とすると、
【数２】 となる。
【００１９】また、これらと位相を９０°ずらした
Ｖ１’，Ｖ２’は、
Ｖ１’，Ｖ２’は、
【数３】 となる。サンプリングはサンプリングクロックの奇数と
偶数とに分けて行なわれ、それぞれからインピーダンス
Ｚと位相角θとを算出する。なお、これらの演算はＣＰ
Ｕ１４にて実行される。
偶数とに分けて行なわれ、それぞれからインピーダンス
Ｚと位相角θとを算出する。なお、これらの演算はＣＰ
Ｕ１４にて実行される。
【００２０】まず、奇数サンプリング値からは、次の数
４に示された演算によりＶ１が得られる。なお、この式
中ｎはｎ番目のサンプリングを意味している。
４に示された演算によりＶ１が得られる。なお、この式
中ｎはｎ番目のサンプリングを意味している。
【数４】
【００２１】同様な演算により、次の数５に示されたＩ
１，Ｖ２，Ｉ２が得られる。なお、Ｖ２，Ｉ２は偶数サ
ンプリング値によるものである。
１，Ｖ２，Ｉ２が得られる。なお、Ｖ２，Ｉ２は偶数サ
ンプリング値によるものである。
【数５】
【００２２】このから、次の数６が導き出され
る。
る。
【数６】
【００２３】このように、Ａ１〜Ａ４によるレベル誤差
比のみが抽出されるため、試料として供された被測定素
子のインピーダンスＺが既知であれば、サンプルホール
ド回路２１〜２４に起因するレベル誤差の校正を容易に
行なうことができる。
比のみが抽出されるため、試料として供された被測定素
子のインピーダンスＺが既知であれば、サンプルホール
ド回路２１〜２４に起因するレベル誤差の校正を容易に
行なうことができる。
【００２４】次に位相θは、
【数７】 で示され、また、Ｖ×Ｉ＝Ｒ×Ｉ２、Ｖ’×Ｉ＝Ｘ×Ｉ
２であるから、Ｖ×ＩとＶ’×Ｉとを求めることによ
り、位相θが算出できる。
２であるから、Ｖ×ＩとＶ’×Ｉとを求めることによ
り、位相θが算出できる。
【００２５】奇数サンプリング値からは、次の数８に示
された演算によりＶ１×Ｉ１が得られる。なお、この式
中ｎはｎ番目のサンプリングを意味している。
された演算によりＶ１×Ｉ１が得られる。なお、この式
中ｎはｎ番目のサンプリングを意味している。
【数８】
【００２６】同様に、次の数９に示された演算によりＶ
１’×Ｉ１が得られる。
１’×Ｉ１が得られる。
【数９】 よって、奇数サンプリングからは、により次の数１
０に示された位相θ１が得られる。
０に示された位相θ１が得られる。
【数１０】
【００２７】偶数サンプリングについても、次の数１１
に示された位相θ２が同様に求められる。
に示された位相θ２が同様に求められる。
【数１１】
【００２８】したがって、位相θは、次に示す数１２と
して求められることになる。
して求められることになる。
【数１２】 これによれば、先に説明のインピーダンスＺと同様に試
料として供された被測定素子の位相θが既知であれば、
サンプルホールド回路２１〜２４に起因する位相誤差の
校正を容易に行なうことができる。なお、この校正情報
をＣＰＵに入力しておくことにより、以後は自動的に校
正が実行される。
料として供された被測定素子の位相θが既知であれば、
サンプルホールド回路２１〜２４に起因する位相誤差の
校正を容易に行なうことができる。なお、この校正情報
をＣＰＵに入力しておくことにより、以後は自動的に校
正が実行される。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、電圧入力ラインお
よび電流入力ラインに対して、それぞれ２つのサンプル
ホールド回路を並列的に接続し、一方の対とされた電
圧、電流のサンプリング回路にて例えば奇数番目のデー
タをサンプリングし、他方の対とされた電圧、電流のサ
ンプリング回路にて例えば偶数番目のデータをサンプリ
ングし、その各々について、インピーダンスＺ１，
Ｚ２、位相θ１，θ２とを求め、そして最終的にそれら
の平均値を算出することにより、各サンプリング回路に
起因するレベル誤差と位相誤差を抽出することができ
る。したがって、被測定素子（試料）のインピーダンス
Ｚ、位相θが既知であれば、その校正を容易に行なうこ
とが可能となる。
よび電流入力ラインに対して、それぞれ２つのサンプル
ホールド回路を並列的に接続し、一方の対とされた電
圧、電流のサンプリング回路にて例えば奇数番目のデー
タをサンプリングし、他方の対とされた電圧、電流のサ
ンプリング回路にて例えば偶数番目のデータをサンプリ
ングし、その各々について、インピーダンスＺ１，
Ｚ２、位相θ１，θ２とを求め、そして最終的にそれら
の平均値を算出することにより、各サンプリング回路に
起因するレベル誤差と位相誤差を抽出することができ
る。したがって、被測定素子（試料）のインピーダンス
Ｚ、位相θが既知であれば、その校正を容易に行なうこ
とが可能となる。
【図１】本発明による一実施例の要部を示したブロック
線図。
線図。
【図２】上記実施例のサンプルホールド回路の出力を示
した波形図。
した波形図。
【図３】従来装置の一般的な構成例を示したブロック線
図。
図。
１３ Ａ／Ｄ変換回路 １４ ＣＰＵ ２１〜２４ サンプルホールド回路
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定素子に印加される交流電圧Ｖと、
それにより同被測定素子に流れる交流電流Ｉとから上記
被測定素子の定数を算出する回路素子の定数測定装置に
おいて、 上記交流電圧Ｖの入力ラインに対して並列的に接続され
た第１および第２の電圧サンプルホールド回路と、上記
交流電流Ｉの入力ラインに対して並列的に接続された第
１および第２の電流サンプルホールド回路と、上記第１
の電圧サンプルホールド回路および上記第１の電流サン
プルホールド回路を一方の対とするとともに、上記第２
の電圧サンプルホールド回路および上記第２の電流サン
プルホールド回路を他方の対とし、これら各対とされた
サンプルホールド回路をサンプリング信号の時系列的な
奇数、偶数順にしたがって交替的に動作させるサンプル
ホールド制御手段と、上記対をなす電圧、電流の各サン
プルホールド回路に保持された交流電圧Ｖと交流電流Ｉ
とをディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換回路と、同
Ａ／Ｄ変換回路にて変換された電圧データと電流データ
とから所定の演算式にしたがって上記被測定素子の定数
を算出するＣＰＵ（中央処理ユニット）とを備え、 上記ＣＰＵは、上記被測定素子のインピーダンスＺおよ
び位相角θを求めるにあたって、上記サンプリング信号
の奇数番目および偶数番目に得られる各サンプリング値
から、それぞれ奇数サンプリング時についての電圧、電
流データと偶数サンプリング時の電圧、電流データとを
算出し、この奇数サンプリング時および偶数サンプリン
グ時の各電圧、電流データの平均をとるようにしたこと
を特徴とする回路素子の定数測定装置。 - 【請求項２】 上記電圧信号および上記電流信号の１周
期波形に対するサンプリング数は８の倍数であることを
特徴とする請求項１に記載の回路素子の定数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13138996A JPH09292453A (ja) | 1996-04-26 | 1996-04-26 | 回路素子の定数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13138996A JPH09292453A (ja) | 1996-04-26 | 1996-04-26 | 回路素子の定数測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09292453A true JPH09292453A (ja) | 1997-11-11 |
Family
ID=15056824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13138996A Pending JPH09292453A (ja) | 1996-04-26 | 1996-04-26 | 回路素子の定数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09292453A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102768334A (zh) * | 2012-07-10 | 2012-11-07 | 刘海先 | 电路分析仪的分析方法 |
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1996
- 1996-04-26 JP JP13138996A patent/JPH09292453A/ja active Pending
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