JPH09280251A - ステージ装置 - Google Patents

ステージ装置

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JPH09280251A
JPH09280251A JP8782696A JP8782696A JPH09280251A JP H09280251 A JPH09280251 A JP H09280251A JP 8782696 A JP8782696 A JP 8782696A JP 8782696 A JP8782696 A JP 8782696A JP H09280251 A JPH09280251 A JP H09280251A
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bearing
gas
exhaust
static pressure
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JP8782696A
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Hideaki Hara
英明 原
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Nikon Corp
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Publication date
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    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16CSHAFTS; FLEXIBLE SHAFTS; ELEMENTS OR CRANKSHAFT MECHANISMS; ROTARY BODIES OTHER THAN GEARING ELEMENTS; BEARINGS
    • F16C29/00Bearings for parts moving only linearly
    • F16C29/02Sliding-contact bearings
    • F16C29/025Hydrostatic or aerostatic
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16CSHAFTS; FLEXIBLE SHAFTS; ELEMENTS OR CRANKSHAFT MECHANISMS; ROTARY BODIES OTHER THAN GEARING ELEMENTS; BEARINGS
    • F16C32/00Bearings not otherwise provided for
    • F16C32/06Bearings not otherwise provided for with moving member supported by a fluid cushion formed, at least to a large extent, otherwise than by movement of the shaft, e.g. hydrostatic air-cushion bearings
    • F16C32/0603Bearings not otherwise provided for with moving member supported by a fluid cushion formed, at least to a large extent, otherwise than by movement of the shaft, e.g. hydrostatic air-cushion bearings supported by a gas cushion, e.g. an air cushion
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 静圧気体軸受けを使用したステージ装置にお
いて、軸受け面の周囲に不規則に流れ出す排気の量を抑
え、ステージ上の汚染、及び環境温度の変化を防ぐ。 【解決手段】 所定の案内面に沿って駆動されるYガイ
ドバー搬送体101の気体吹き出し孔123A,123
Bの周囲の軸受け面122A,122Bを囲むように排
気溝121を設け、排気溝121の外側に軸受け面12
2A,122Bと等しい高さの隔壁118A,118B
を設ける。排気溝121の排気口125Aを環境気流2
3の風下側に設けると共に、温度センサ205を設置
し、その温度センサ205の測定温度が環境気流23の
温度に等しくなるように圧搾気体源201から気体吹き
出し孔123A,123Bに供給される圧搾空気の温度
を温調機202により調節する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加工対象物等を位
置決めするための静圧気体軸受けを備えたステージ装置
に関し、例えば半導体素子等を製造するための露光装
置、精密工作機械、又は精密測定機等のステージ装置に
適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体素子、液晶表示素子、撮像
素子(CCD等)、又は薄膜磁気ヘッド等を製造するた
めのフォトリソグラフィ工程では、レチクル(又はフォ
トマスク等)上のパターンをウエハ(又はガラスプレー
ト等)上に露光するためのステッパー等の露光装置が使
用される。
【0003】斯かる露光装置には、例えばウエハを所定
の露光位置に移動させる手段として、直交するX軸及び
Y軸に平行な方向に移動可能なX軸ステージ及びY軸ス
テージからなるウエハステージが用いられる。最近で
は、特に高速及び高精度の位置決めを実現するためのウ
エハステージとして、静圧気体軸受けを用いた静圧空気
案内式のステージ装置が用いられる。また、露光装置と
しては、レチクル及びウエハを同期して走査して露光を
行うステップ・アンド・スキャン方式のような走査露光
型の投影露光装置も注目されている。このような走査露
光型では、ウエハステージのみならず、レチクルステー
ジ側でも静圧空気案内式のステージ装置が使用されてい
る。更に、静圧空気案内式のステージ装置は精密工作機
械や精密測定機等で加工対象物等を位置決めする用途に
も使用されている。
【0004】このようなステージ装置に使用される静圧
気体軸受けは、可動部と固定部との間に一定の静圧を保
持することで、可動部と固定部との間に一定の隙間を保
つように工夫したものであり、これによって可動部を高
速且つ円滑に移動できるようになっている。また、従来
の静圧気体軸受けは、可動部又は固定部の軸受け面に静
圧空気の吹き出し口及び吸引口を設け(吸引口を設けな
い場合もある)、外部から供給される圧搾空気の吹き出
しによる反発力と吸引力(又は重力)との釣り合いによ
り、その軸受け面と対向する案内面との間に一定の隙間
が保持される構成となっている。
【0005】また、例えば露光装置においては、レチク
ルステージやウエハステージの位置を計測するためにレ
ーザ干渉計が使用される。レーザ干渉計では、可動部に
固定された移動鏡にレーザビームを照射してその可動部
の変位量を計測する。この場合、レーザビームの光路上
に空気の揺らぎがあると、レーザ干渉計の測定値に誤差
が生じる。そのため、レーザビームの光路上の空気の揺
らぎを抑えるために、従来より例えばレーザビームの光
路の周辺に温調された空気を供給する等の対策が施され
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の静圧気体軸受け
を用いたステージ装置は、常に軸受け面の圧搾空気の吹
き出し口の周辺にその吹き出された空気をそのまま放出
する構造になっている。しかしながら、一般の工場にお
いては静圧気体軸受けに供給される圧搾空気等の温度は
十分には管理されていない。また、圧搾空気が室温にな
っていたとしても、その圧搾空気が軸受け面の空気の吹
き出し口から吹き出される際に、空気圧力が大気圧に低
下し、断熱冷却により空気の温度が低下してしまう。そ
のため、加工対象物の周囲の温度が目標温度よりも低下
して、その加工対象物や載物台等の収縮によって従来の
位置決め誤差や加工誤差等が生ずる恐れがあった。ま
た、上述のように、露光装置用のステージは座標位置の
計測にレーザビームを用いたレーザ干渉計を使用する場
合が多い。そのため、正確な座標計測を行うためにレー
ザビームの光路上の気流の乱れや、温度変化を抑える必
要がある。しかし、静圧気体軸受けから環境空気と異な
る温度の空気が排出されると、レーザビームの光路上の
気流が乱れ、光路上の温度変動が生じて、レーザ干渉計
の計測精度を劣化させるという不都合がある。
【0007】また、静圧気体軸受けに供給される圧搾空
気は、一般の工場では十分に清浄化されていない状態で
供給される。また、高度に清浄化された空気といえども
微細な異物の混入は避けられない。そのため、静圧気体
軸受けから放出される空気中の微少な異物や化学物質が
被加工物を汚染するという不都合もある。特に、半導体
基板や液晶基板等を製造するような高度の清浄性が要求
される工場では、このような異物の混入を防止する必要
がある。
【0008】本発明は斯かる点に鑑み、静圧気体軸受け
を使用した場合に、軸受け面の周囲に不規則に放出され
る気体の量を抑え、ステージ上の汚染を抑えると共に、
環境温度の変化を抑えることができるステージ装置を提
供することを目的とする。更に、本発明は、静圧気体軸
受けと共に干渉計が使用されている場合に、干渉計の計
測精度を向上させ、ステージの位置を正確に計測して、
ステージを高精度に位置決め又は移動できるステージ装
置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によるステージ装
置は、案内面を有する第1部材(104)と、その案内
面に対向する軸受け面(122A,122B)を有する
第2部材(101)と、その軸受け面(122A,12
2B)内の気体吹き出し孔(123A,123B)より
その案内面に圧搾された気体を吹き出す静圧気体軸受け
(201,203,203A,203B)と、を有し、
この静圧気体軸受けを介してその第1部材(104)と
その第2部材(101)とを相対移動させるステージ装
置において、その軸受け面(122A,122B)のそ
の気体吹き出し孔(123A,123B)の周囲に気体
を排出するための排気溝(121)を設けたものであ
る。
【0010】斯かる本発明のステージ装置によれば、気
体吹き出し孔(123A,123B)の周囲に気体を排
出する排気溝(121)が設けられているため、気体吹
き出し孔(123A,123B)から吹き出された気体
は、その排気溝(121)を通って所望の方向に排出さ
れる。従って、直接軸受け面(122A,122B)の
周囲に不規則に放出される気体の量が減少し、静圧気体
軸受けを使用した場合でも、排出気体によるステージ装
置の汚染が抑えられると共に、環境温度の変化が抑えら
れる。
【0011】この場合、その軸受け面(122A,12
2B)に対してその排気溝(121)を挟むように、そ
の軸受け面(122A,122B)と同じ高さを有する
隔壁(118A,118B)を設けることが好ましい。
これにより、第1部材(104)の案内面と軸受け面
(122A,122B)との隙間から不規則に放出され
る気体の量が更に減少する。
【0012】また、そのステージ装置に対して温調され
た気流(23)が所定方向に供給されている場合に、そ
の排気溝(121)の排出口(125A,125B)を
その温調された気流(23)の風下側に設けることが好
ましい。これにより、排気溝(121)から排出される
気体による気流(23)の乱れ及び温度変化が抑えられ
る。
【0013】また、その排気溝(121)から排出され
る気体の温度を計測する温度センサ(205)を設け、
この温度センサの測定値に基づいて、その排気される気
体の温度が、その温調された気流(23)の温度と等し
くなるように、その静圧気体軸受けの圧搾気体源(20
1)の温度を制御することが好ましい。これにより、排
気される気体が気流(23)と等しい温度で排気される
ため、気流(23)の温度変化が更に抑えられる。
【0014】また、その第1部材(104)及び第2部
材(101)の少なくとも一方に光ビーム(16A)を
照射して、その2つの部材(101,104)の相対変
位を検出する干渉計(16)を設け、その排気溝(12
1)から排出される気体をその干渉計(16)の光ビー
ム(16A)の光路から離れた位置に放出することが好
ましい。これにより、干渉計(16)の光ビーム(16
A)の光路上の空気の揺らぎが減少して干渉計の測定誤
差が減少し、その第1部材とその第2部材との相対位置
の位置決めが高精度に行える。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の一例
につき図面を参照して説明する。本例は露光装置のウエ
ハステージに本発明を適用したものである。図1は、本
例のウエハステージの構成を説明するための一部を切り
欠いた斜視図を示し、この図1において、定盤1上に後
述するXステージ及びYステージを介して試料台5が載
置され、その試料台5上の不図示のウエハホルダ上にウ
エハ20が真空吸着により保持されている。不図示のレ
チクル上のパターンに露光用の照明光が照射され、その
パターンの像がウエハ20上に転写露光される。以下、
定盤1に平行な平面上にX軸及びY軸からなる直交座標
系を取り、その直交座標系に垂直にZ軸を取り説明す
る。
【0016】定盤1上のY方向の両端近傍にはXステー
ジを駆動するためのリニアモータ3,4のそれぞれの固
定子3A,4Aが、X方向に沿って互いに平行な状態で
固定されている。また、定盤1の+Y方向の端部付近に
固定された固定子3Aの内側面(−Y方向の面)に沿っ
てXステージのための案内面が設けられたXガイドバー
104が固定されている。固定子3A上にはリニアモー
タ3の可動子3Bが架設され、同様に固定子4A上に
は、リニアモータ4の可動子4Bが架設されている。可
動子3Bは、Xガイドバー104を跨ぐ固定用フレーム
6を介してYステージの案内面となるYガイドバー11
2の+Y方向の上端部に固定されており、他方の可動子
4Aは、固定用フレーム7を介してYガイドバー112
の−Y方向の上端部に固定されている。
【0017】Yガイドバー112のY方向の両端は、+
Y方向に配設された第1のYガイドバー搬送体101、
及び−Y方向に配設された第2のYガイドバー搬送体1
05に固定されている。第1のYガイドバー搬送体10
1の底面及び外側面(+Y方向の面)は、それぞれ定盤
1の上面及びXガイドバー104の案内面に対向し、第
2のYガイドバー搬送体105の底面は定盤1の上面に
対向している。以上のXガイドバー104、Yガイドバ
ー112及びYガイドバー搬送体101,105等より
Xステージが構成されている。Xステージは、X軸のリ
ニアモータ3,4のそれぞれの可動子3B,4Bと同体
でX方向に移動する。
【0018】Yガイドバー搬送体101のXガイドバー
104との対向面には静圧気体軸受けの複数の気体噴出
部及び真空吸引部が設けられている。静圧気体軸受けの
気体噴出部及び真空吸引部には、細孔が形成されてお
り、それらの細孔を通して空気の吹き出し及び吸引が行
われる。図1では複数の気体噴出部及び真空吸引部の
内、1つの気体噴出部102A及び2つの真空吸引部1
03A,103Bを示す。気体噴出部102Aに生じる
空気圧による反発力と真空吸引部103A,103Bに
生じる吸引力との釣り合いにより、Yガイドバー搬送体
101はXガイドバー104に一定の隙間を保ちつつ拘
束される。また、Yガイドバー搬送体101の定盤1と
の対向面にも同様の静圧気体軸受けが設けられており、
Yガイドバー搬送体101は定盤1に一定の隙間を保ち
つつ拘束される。更に、Yガイドバー搬送体105の定
盤1との対向面にも同様の静圧気体軸受けが設けられて
おり、Yガイドバー搬送体105は定盤1に一定の隙間
を保ちつつ拘束される。
【0019】また、Yガイドバー搬送体101,105
のそれぞれの両端部には、試料台5を載置するX方向軸
受け体111A,111Bを駆動するためのY軸の2つ
のリニアモータ(図1では、その内1つのリニアモータ
8Aを示す。もう一方のリニアモータについては、固定
子だけを示す)の固定子15A,15Cが互いに平行な
状態で固定されている。リニアモータ8Aの固定子15
Aには、可動子15Bが架設され、もう1つのリニアモ
ータにも同様の可動子が架設されている。2つの可動子
(可動子15B等)は、それぞX方向軸受け体111
A,111Bの側面に直接固定されている。また、2つ
のX方向軸受け体111A,111Bは共にその底面側
で、Yガイドバー112の底面側に対向して配置された
上下方向支持体106に固定されている。そして、上下
方向支持体106の底面は定盤1の上面に対向してい
る。以上の上下方向支持体106、X方向軸受け体11
1A,111B、及び試料台5等よりYステージが構成
されている。Yステージは2つのY軸のリニアモータの
可動子15B等と同体でYガイドバー112に沿ってY
方向に移動する。
【0020】また、上下方向支持体106の定盤1との
対向面には、複数の気体噴出部及び真空吸引部を備えた
静圧気体軸受けが設けられており、上下方向支持体10
6は定盤1に一定の隙間を保ちつつ拘束される。また、
X方向軸受け体111A,111BのYガイドバー11
2とのそれぞれの対向面には、静圧気体軸受けの複数の
気体噴出部のみが設けられている。そして、X方向軸受
け体111A,111Bは互いに空気圧による反発力で
Yガイドバー112との間に一定の隙間を保っている。
なお、上下方向支持体106とYガイドバー112との
間、及び試料台5とYガイドバー112との間には十分
に大きな隙間が設けられている。
【0021】更に、試料台5上の−X方向及び+Y方向
のそれぞれの端部には、定盤1上に固定されたX座標計
測用のレーザ干渉計16及びY座標計測用のレーザ干渉
計17から放射されるレーザビーム16A及び17Aを
反射する移動鏡18及び移動鏡19が固定されており、
これらのレーザ干渉計16A,17Aにより試料台5の
X座標及びY座標が検出される。更に、本例のステージ
装置には不図示であるが、移動鏡18,19、及びウエ
ハ20を一体として上下方向(Z方向)に移動すると共
に、X,Y,Z軸の回りに回転する機構が搭載されてい
る。また、レーザ干渉計のレーザビーム16Aの近傍に
は、レーザビーム16Aの光路近傍の温度を測定するた
めの温度センサ21が設置されている。この温度センサ
21の測定値は、不図示の空調系に供給されている。即
ち、本例のステージ装置は、特にレーザ干渉計16,1
7のレーザビーム16A,17Aの光路の温度を一定に
保つためにステージ全体が空調環境下にあり、環境気流
23で示すように全体空調用の空気が、X座標計測用の
レーザ干渉計16の後方からステージに向けて流されて
いる。
【0022】ここで、上述のステージ装置に設けられた
各静圧気体軸受けの構成について詳しく説明する。図2
(a)は、図1のXガイドバー104に対向する第1の
Yガイドバー搬送体101の静圧気体軸受けの状態を示
す側面図であり、この図2(a)において、Yガイドバ
ー搬送体101のXガイドバー104に対向する面の左
右の端部及び中央部には、それぞれ縦方向に少し長い矩
形の凹部よりなる真空吸引部103C,103A及び横
方向に長い大きな矩形の凹部よりなる真空吸引部103
Bが設けられ、それらの3個の真空吸引部103A〜1
03Cの間に2個の円形の凹部よりなる気体噴出部10
2B,102Aが設けられている。
【0023】図3は、図1のYガイドバー搬送体101
を示す拡大斜視図であり、この図3において、Yガイド
バー搬送体101の側面の形状は図2(a)の形状を拡
大したものである。図3において、気体噴出部102
A,102Bは、互いに同じ高さ(以下、A面とB面と
が「同じ高さ」とは、A面の延長上にB面があることを
意味する)に形成された軸受け面122A,122Bよ
り少し凹んだ円形の凹部であり、その気体噴出部102
A,102Bの中央部にそれぞれ小さな空気の吹き出し
孔123A,123Bが設けられている。また、軸受け
面122A,122Bと同じ高さの軸受け面122C〜
122E内に形成された真空吸引部103A〜103C
の中央部には、それぞれ空気を真空吸引するための排気
孔124A〜124Cが設けられている。
【0024】また、気体噴出部102A,102Bの周
囲には空気を排出するためのコの字型の凹部よりなる排
気溝121が形成されている。排気溝121は、軸受け
面122A,122B、軸受け面122C〜122E、
及びZ方向の両端に形成された隔壁118A,118B
により囲まれた縦方向(Z方向)の複数の溝と、それら
の複数の溝に連通する上下2つのX方向に沿った溝とか
ら構成されている。この場合、隔壁118A,118B
の表面は、軸受け面122A,122Bと同じ高さを有
し、軸受け面122Eに接続している。即ち、排気溝1
21のX軸に平行な2つの溝の−X方向の端部は閉じら
れている。一方、排気溝121の+X方向の端部は外気
に解放されており、排気溝121に流入した空気は、排
気溝121の上下2つのX方向に沿った溝の+X方向の
端部の排気口125A,125Bから外部に放出され
る。
【0025】外部に設置されたコンプレッサよりなる圧
搾気体源201からの圧搾空気は、集中配管203及び
集中配管203から分岐した2つの枝管203A,20
3Bを経由してそれぞれ気体噴出部102A,102B
の吹き出し孔123A,123Bから吹き出される。集
中配管203中には、圧搾空気の温度を調節するための
温調機202が設置されており、この温調機202によ
り圧搾気体源201で昇圧された空気の温度を調節す
る。また、排気口125Aには、排出空気の温度を測定
するための電気出力式の温度センサ205が設けられて
おり、温度センサ205の測定値は温調機202に供給
されている。
【0026】図2(e)は、定盤1と接するYガイドバ
ー搬送体101,105、及び上下方向支持体106の
それぞれの底面側の静圧気体軸受けの構成を示し、この
図2(e)に示すように、Yガイドバー搬送体101の
底面にも側面と同様の静圧気体軸受けが設けられてい
る。この底面側のY方向の両端部を走る排気溝127A
からの排出空気も、図3に示すように側面の排出空気と
同様に底面側の排気口128A,128Bから+X方向
に排出される。なお、底面側の静圧気体軸受けには、側
面の静圧気体軸受けと同様に枝管203A,203Bを
介して温調された空気が供給される。
【0027】図2(e)に示すように、第2のYガイド
バー搬送体105の底面側に設けられた静圧気体軸受け
も、第1のYガイドバー搬送体101の底面側の静圧気
体軸受けと同様の構成を有し、Y方向の両端部を走る排
気溝129Aからの排出空気も、排気口130A,13
0Bから+X方向に排出される。なお、このYガイドバ
ー搬送体105の底面の静圧気体軸受けにも、圧搾気体
源201で所定の圧力に昇圧され、温調機202により
温調された空気が供給されている。以下説明する他の静
圧気体軸受けについても同様である。
【0028】図2(b)は、Yガイドバー112の周辺
構成を説明するための平面図を示し、図2(c)は、Y
ガイドバー112に接するX方向軸受け体111Bの軸
受け面の状況を示す。また、図4は、図2(c)のX方
向軸受け体111Bを一部を切り欠いて示す斜視図であ
る。これらの図2(b)〜図2(c)及び図4により、
X方向軸受け体111Bの側面の静圧気体軸受けの構成
及び排気の流れを説明する。もう一方のX方向軸受け体
111Aも同様な構成を有する。図2(c)に示すよう
に、X方向軸受け体111Bの静圧気体軸受けの軸受け
面が設けられた側面には、側面の端部を囲む隔壁115
が設けられている。そして、その隔壁115の内部のY
方向の両端に空気を吹き出すための気体噴出部113
A,113Bが設けられ、それらの気体噴出部113
A,113Bの間の+Z方向の端部に空気を自然に排気
するための排気孔116が形成されている。
【0029】図4に示すように、X方向軸受け体111
Bの気体噴出部113A,113Bはほぼ正方形の軸受
け面126A,126Bの中央部に形成された円形の凹
部からなり、気体噴出部113A,113Bのほぼ中央
部には、空気を吹き出すための吹き出し孔117A,1
17Bが形成され、吹き出し孔117A,117Bが不
図示の圧搾気体源に接続されている。また、吹き出し孔
117A,117Bの周囲の軸受け面126A,126
Bを囲むように排気溝114a,114bが形成され、
排気溝114a,114bは中央の凹部114に連なっ
ている。そして、排気溝114a,114b及び凹部1
14の周囲の隔壁115は、軸受け面126A,126
Bと等しい高さを有する。これらの隔壁115と軸受け
面126A,126Bとの間の凹部114に設けられた
排気孔116はX方向軸受け体111Bの底面側に貫通
しており、その底面側で排気管301に接続している。
排気管301はX方向軸受け体111Bの中央部から−
X方向に引き出された後、直ぐに−Y方向に直角に曲げ
られた状態で設置されている。そして、図2(b)に示
すように、後述の上下方向支持体106の静圧気体軸受
けからの排気管302に接続する。排気管301に導入
された排出空気は、排気管302で上下方向支持体10
6の静圧気体軸受けからの排出空気と合流した後、排気
管302の排気口から+X方向に向けて外気中に排出さ
れる。なお、もう1つのX方向軸受け体111Aからの
排気も排気管301の合流点より下流で排気管302に
合流し、X方向軸受け体111Bの排気と共に排出され
る。この場合、排気管302の排気口は+X方向に形成
されており、排出空気は+X方向、即ち環境気流23の
風下側に向けて放出される。
【0030】次に、定盤1と接するYステージの上下方
向支持体106の下面の静圧気体軸受けの構成について
説明する。図2(e)において、上下方向支持体106
の底面側には、同様の構成を有する4個の気体噴出部1
07A〜107Dが形成されている。そして、気体噴出
部107Aの周辺の構成に示すように、気体噴出部10
7Aを取り囲む形で真空吸引部108が設けられてい
る。気体噴出部107Aの回りの軸受け面と真空吸引部
108との間には排気溝109が設けられている。この
排気溝109の底部から上下方向支持体106の上面に
貫通する排気孔110が形成されており、排気孔110
は底面側において排気管(図2(d)参照)に接続して
いる。気体噴出部107Aから噴出された空気は、排気
孔110を通って排気管に導入され、他の噴出部107
B〜107Dからの排出空気と共に排気管の排気口から
外部に放出される。
【0031】図2(d)は、図2(b)の側面図を示
し、この図2(d)及び図2(b)の矢印で示すよう
に、上下方向支持体106の底面の静圧気体軸受けから
の排出空気は上下方向支持体106の上面から出て、−
Y方向に曲がった排気管を経て、図4の排気管302に
合流し、排気管302の+X方向に設けられた排気口か
ら環境気流23の風下に向けて放出される。
【0032】次に、本例の静圧気体軸受けの構成上の利
点について、第1のYガイドバー搬送体101の側面の
静圧気体軸受けを例にとり説明する。図3に示すよう
に、気体噴出部102A,102Bの周囲に排気溝12
1を設け、その側面の上下端、即ちX方向に走る排気溝
121の外側に、軸受け面122A,122Bと等しい
高さの隔壁118A,118Bを設けている。気体噴出
部102A,102Bから吹き出された空気は、一部は
真空吸引部103A〜103Cから吸引され、一部は隔
壁118A,118BとXガイドバー104との間の隙
間から周囲に放出される。しかし、殆どの排出空気は隔
壁118A,118Bに阻まれ、排気溝121を通って
排気口125A,125Bから外部に放出される。気体
噴出部102A,102Bから吹き出される空気の量が
毎分3リットル、第1のYガイドバー搬送体101とX
ガイドバー104との隙間が5μm、排気溝121の断
面が5×3mm2 のとき、排気溝121の排気口125
A,125Bから排出されず、排気溝121の隔壁11
8A,118BとXガイドバー104との間を通って外
部に流れ出る気体は総排気量の1%以下であることが実
験で確認されている。
【0033】更に、本例では各静圧気体軸受けから排出
される空気の排気口を、図1のレーザ干渉計16,17
のレーザビーム16A,17Aの光路から出来るかぎり
離れた位置に設けると共に、全ての静圧気体軸受けから
の排出空気は環境気流23の風下側に向けて放出され
る。従って、各静圧気体軸受けからの排出空気により環
境気流23の流れが乱される現象が抑えられる。特に、
本例においては、レーザ干渉計16,17のレーザビー
ム16A,17Aの光路近くを移動するX方向軸受け体
111A,111B、及び上下方向支持体106に設け
られた静圧気体軸受けからのそれぞれの排出空気を図4
の排気管302に集め、その排気管302の排気口をレ
ーザビーム16A,17Aの光路から最も離れた位置に
設けているため、レーザビーム16A,17Aの光路上
の温度変化に対する排出空気の影響が抑えられる。
【0034】更に、本例ではレーザ干渉計16のレーザ
ビーム16Aの光路の近傍に設置した温度センサ21に
より環境温度を測定し、それに基づいて、空調系から露
光装置に向けて供給される空気の温度が所定の目標温度
になるようにする。そして、静圧気体軸受け側では、図
3の温調機202によって、第1のYガイドバー搬送体
101の排気溝121の排気口125Aに設置した温度
センサ205により測定される排出空気の温度が環境空
気の目標温度と等しくなるように制御する。これによ
り、第1のガイドバー搬送体101から排出される排出
空気によるレーザビームの光路上の空気の温度変化が抑
えられる。第2のYガイドバー搬送体105、及びX方
向軸受け体111A,111Bの他の静圧気体軸受けに
ついても、第1のYガイドバー搬送体101に供給され
る空気と同様の温度の空気が供給される。
【0035】なお、本例ではY軸のレーザ干渉計17の
レーザビーム17Aの光路上の温度を測定していない
が、レーザビーム17Aの光路の周辺の環境温度を測定
する温度センサを設け、その温度センサの測定値も考慮
して不図示の空調系での温度や風量等を制御するように
してもよい。また、各静圧気体軸受けの排気溝の出口
に、第1のYガイドバー搬送体101の温度センサ20
5と同様の温度センサを設け、その温度センサの測定値
に基づいて、各静圧気体軸受けに供給する空気の温度を
別個に制御するようにしてもよい。
【0036】なお、本発明は上述のウエハステージに限
らず、ステップ・アンド・スキャン方式の露光装置のレ
チクルステージ等にも適用できる。更には、工作機械や
測定機等のステージ装置にも適用できる。このように、
本発明は上述実施例に限定されず、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々の構成を取り得る。
【0037】
【発明の効果】本発明のステージ装置によれば、静圧気
体軸受けの気体吹き出し孔の周囲に排気溝を設け、例え
ば排気された気体を任意の位置まで誘導し排出するとい
う構造にすることで、軸受け面の周囲に不規則に排出さ
れる気体の量が減少し、排気中の汚染物によりステージ
装置が汚染される割合が減少すると共に、環境温度の変
化が抑えられる利点がある。
【0038】また、軸受け面に対して排気溝を挟むよう
に、軸受け面と同じ高さを有する隔壁を設ける場合に
は、第1部材の案内面と第2部材の軸受け面との隙間か
ら直接周囲に放出される気体の量が更に減少する利点が
ある。また、ステージ装置に対して温調された気流が所
定方向に供給され、排気溝の排気口を温調された気流の
風下側に設ける場合には、排気溝から排出される気体に
よる外部の気流の乱れが減少する利点がある。
【0039】また、排気溝から排出される気体の温度を
計測する温度センサを設け、この温度センサの測定値に
基づいて、排気される気体の温度が、温調された気流の
温度と等しくなるように、静圧気体軸受けの圧搾気体源
の温度を制御する場合には、排気される気体が外部の気
流と等しい温度で排気されるため、外部の気流の温度変
化が抑えられる利点がある。
【0040】また、第1部材及び第2部材の少なくとも
一方に光ビームを照射して、2つの部材の相対変位を検
出する干渉計を設け、排気溝から排出される気体を干渉
計の光ビームの光路から離れた位置に放出する場合に
は、干渉計の光ビームの光路上の温度変化が抑えられ、
干渉計の測定誤差が減少する。従って、干渉計により測
定された第1部材と第2部材との正確な相対位置に基づ
いて、第1部材と第2部材との相対位置の位置決めが高
精度に行える利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施の形態の一例の露光装置のウ
エハステージを示す一部を切り欠いた斜視図である。
【図2】図1のウエハステージの各静圧気体軸受けの構
成及び排出空気の流れを説明するための図である。
【図3】図1の第1のYガイドバー搬送体101の静圧
気体軸受けの構成及びその静圧気体軸受けの軸受け面付
近の構成を示す斜視図である。
【図4】図1のX方向軸受け体111Bの静圧気体軸受
けの構成を示す一部を切り欠いた斜視図である。
【符号の説明】
1 定盤 5 試料台 16,17 レーザ干渉計 16A,17A レーザビーム 18,19 移動鏡 20 ウエハ 21 温度センサ(環境温度測定用) 101 第1のYガイドバー搬送体 102A,102B,113A,113B 気体噴出部 103A〜103C,108 真空吸引部 104 Xガイドバー 105 第2のYガイドバー搬送体 106 上下方向支持体 107A〜107D 気体噴出部 109,114a,114b,121 排気溝 111A,111B X方向軸受け体 112 Yガイドバー 115,118A,118B 隔壁 117A,117B,123A,123B 吹き出し孔 116,124A〜124C 排気孔 122A〜122E,126A,126B 軸受け面 201 圧搾気体源 202 温調機 203 集中配管 203A,203B 枝管 205 温度センサ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B23Q 1/26 E

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 案内面を有する第1部材と、前記案内面
    に対向する軸受け面を有する第2部材と、前記軸受け面
    内の気体吹き出し孔より前記案内面に圧搾された気体を
    吹き出す静圧気体軸受けと、を有し、該静圧気体軸受け
    を介して前記第1部材と前記第2部材とを相対移動させ
    るステージ装置において、 前記軸受け面の前記気体吹き出し孔の周囲に気体を排出
    するための排気溝を設けたことを特徴とするステージ装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のステージ装置であって、 前記軸受け面に対して前記排気溝を挟むように、前記軸
    受け面と同じ高さを有する隔壁を設けたことを特徴とす
    るステージ装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載のステージ装置であ
    って、 前記ステージ装置に対して温調された気流が所定方向に
    供給され、前記排気溝の排出口を前記温調された気流の
    風下側に設けたことを特徴とするステージ装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のステージ装置であって、 前記排気溝から排出される気体の温度を計測する温度セ
    ンサを設け、該温度センサの測定値に基づいて、前記排
    気される気体の温度が、前記温調された気流の温度と等
    しくなるように、前記静圧気体軸受けの圧搾気体源の温
    度を制御することを特徴とするステージ装置。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3、又は4記載のステー
    ジ装置であって、 前記第1部材及び第2部材の少なくとも一方に光ビーム
    を照射して、前記2つの部材の相対変位を検出する干渉
    計を設け、 前記排気溝から排出される気体を前記干渉計の光ビーム
    の光路から離れた位置に放出することを特徴とするステ
    ージ装置。
JP8782696A 1996-04-10 1996-04-10 ステージ装置 Pending JPH09280251A (ja)

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JP8782696A JPH09280251A (ja) 1996-04-10 1996-04-10 ステージ装置
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US09/358,395 US6407799B2 (en) 1996-04-10 1999-07-22 Stage control method using a temperature

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002252166A (ja) * 2001-02-27 2002-09-06 Canon Inc ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法ならびに移動案内方法
KR100540364B1 (ko) * 1999-04-21 2006-01-10 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 투영장치
JP2007129214A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Fei Co ステージ組立体、そのようなステージ組立体を含む粒子光学装置、及び、そのような装置において試料を処理する方法
JP2009248219A (ja) * 2008-04-03 2009-10-29 Fanuc Ltd 温調器を備えた加工装置

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JP2002252166A (ja) * 2001-02-27 2002-09-06 Canon Inc ステージ装置、露光装置およびデバイス製造方法ならびに移動案内方法
JP2007129214A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Fei Co ステージ組立体、そのようなステージ組立体を含む粒子光学装置、及び、そのような装置において試料を処理する方法
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