JPH09274636A

JPH09274636A - 光学情報読取装置

Info

Publication number: JPH09274636A
Application number: JP8084247A
Authority: JP
Inventors: Akihito Hazama; 明仁硲
Original assignee: Keyence Corp
Current assignee: Keyence Corp
Priority date: 1996-04-05
Filing date: 1996-04-05
Publication date: 1997-10-21

Abstract

(57)【要約】【課題】読取対象となるコードに対して読取安定度の
高い状態に容易に設置可能な光学情報読取装置を提供す
ることである。【解決手段】２次元データデコード手段５の方向・位
置判別部５１は、記憶手段に記憶された２次元データの
データ領域の方向および位置を判別する。２値化データ
抽出部５２は、その判別結果に基づいて２次元データの
データ領域から２値化データを抽出する。誤り検出訂正
部５３は、２値化データに含まれる誤り訂正符号により
２値化データの誤りを検出し、誤りがある場合にその誤
りを訂正し、誤り位置および誤り訂正個数を記憶部５４
に記憶させる。デコード部５５は、２値化データに含ま
れる符号化データをデコードし、コード情報を読み取
る。表示・出力処理部５６は、誤り訂正率、誤り訂正個
数等の誤り訂正情報をコード情報とともに表示手段およ
び出力手段に与える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、２次元コードまた
は２次元バーコードからコード情報を読み取る光学情報
読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、バーコードからバーコード情
報を読み取るためにバーコード読取装置が用いられてい
る。バーコード読取装置では、バーコードに光を照射
し、その反射光を受光することにより、バーコードの幅
情報を時間情報に変換した後、この時間情報を数値化
し、２値化データとしてメモリに格納し、メモリに格納
された２値化データを復号（デコード）してバーコード
情報を読み取る。

【０００３】このようなバーコード読取装置では、その
バーコード読取装置を読取対象となるバーコードに対し
て読取安定度の高い位置に設置できるように、デコード
試行回数およびデコード成功回数またはデコード成功率
（デコード試行回数に対するデコード成功回数の割合）
を読取安定度として発光ダイオード（ＬＥＤ）や液晶表
示装置（ＬＣＤ）等の表示装置に表示することが行われ
ている。また、デコード成功回数またはデコード成功率
が所定の値よりも少なくなった場合にブザー等を用いて
警報を発生したり、警報信号を読み取られたバーコード
情報に付加してシリアル通信によりホストコンピュー
タ、プログラマブルコントローラ等の外部機器に送信す
ることも行われている。

【０００４】近年、コードに付与される情報量を増加さ
せるために、情報密度がバーコードよりも高い２次元コ
ードまたは２次元バーコードが使用されるようになって
いる。それらの２次元コードまたは２次元バーコードで
は、情報密度を高くすることができるので、小さな領域
に多量の情報を印字することや、数千バイトもの大きな
情報量を扱うことも可能となる。

【０００５】図１３は２次元コードの一例を示す図であ
る。図１３の２次元コードは、３つの切り出しシンボル
ＳＹおよびデータ領域ＤＲにより構成される。切り出し
シンボルＳＹはデータ領域ＤＲの位置および方向を判別
するために用いられる。データ領域ＤＲには複数のキャ
ラクタＣＨが含まれ、各キャラクタＣＨは例えば８個の
セルＳＬからなる。各キャラクタＣＨは、例えば数字、
英文字、記号等を表わしている。

【０００６】図１４は２次元バーコードの一例を示す図
である。図１４に示すように、２次元バーコードは、通
常のバーコードのトランケーション（高さ）を小さくし
て多段に構成したものである。

【０００７】このような２次元コードおよび２次元バー
コードでは、通常のバーコードのトランケーションに相
当する寸法が小さく、印字密度が高いので、コードに
「汚れ」や「欠け」があるとデコードが不可能になる可
能性が高い。そのため、２次元コードや２次元バーコー
ドでは、必ず誤り訂正技術が用いられる。このような２
次元コードや２次元バーコードでは、この誤り訂正技術
を用いることにより通常のバーコードに比べて誤読率が
格段に低く、信頼性が高いという特徴がある。

【０００８】図１５は図１３の２次元コードのデータ領
域に含まれる全キャラクタの構成を示す図である。図１
５に示すように、全キャラクタには、コード情報および
誤り訂正符号が含まれる。コード情報は複数のデータキ
ャラクタＤＣからなり、誤り訂正符号は複数の誤り訂正
キャラクタＥＣからなる。データ領域に含まれる全キャ
ラクタのうち誤り訂正符号により誤り訂正可能なキャラ
クタ数は、誤り訂正符号の長さにより定まる。誤り訂正
符号の長さを長くすれば、誤り訂正可能なキャラクタ数
は多くなるが、コード情報の長さが短くなる。逆に、誤
り訂正符号の長さを短くすると、コード情報の長さは長
くなるが、誤り訂正可能なキャラクタ数は少なくなる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】このような２次元コー
ドや２次元バーコードのための光学情報読取装置を読取
安定度の高い適切な位置に設置する場合、読取安定度を
従来のバーコード読取装置のようにデコード成功回数や
デコード成功率で表しただけでは不十分となる。すなわ
ち、２次元コードや２次元バーコードのための光学情報
読取装置では、コードに「汚れ」や「欠け」がある場合
でも、誤りの個数が誤り訂正可能なキャラクタ数よりも
少ない限り、誤り訂正符号を用いて誤りが訂正され、コ
ード情報のデコードが正常に行われる。したがって、誤
り訂正符号を用いて誤り訂正が可能な場合には、誤り訂
正された個数の多少に関わらずデコード成功率は常に１
００％となる。デコード成功率が１００％となるように
光学情報読取装置を設置していても十分に安定な状態で
読み取りが行われているか否かを把握することができな
い。

【００１０】誤りの個数が誤り訂正可能なキャラクタ数
を越えると、突然コード情報の読み取りが不可能とな
る。したがって、光学情報読取装置の位置が僅かにずれ
たり、光量が僅かに低下しただけでも読み取りができな
くなるという事態が生じる。

【００１１】本発明の目的は、読取対象となるコードに
対して読取安定度の高い状態に容易に設置可能な光学情
報読取装置を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段および発明の効果】第１の
発明に係る光学情報読取装置は、読取対象となるコード
に光を照射する光照射手段と、光照射手段により光が照
射されたコードからの反射光を受光して符号化データお
よび誤り訂正符号を含む２値化データに変換する変換手
段と、変換手段により得られた２値化データに誤りが存
在する場合に誤り訂正符号に基づいてその誤りを訂正す
る誤り訂正手段と、誤り訂正手段から出力された２値化
データ内の符号化データを復号し、コード情報を読み取
る復号手段と、誤り訂正手段により訂正された誤りの程
度を表す情報を表示または出力する手段とを備えたもの
である。

【００１３】第２の発明に係る光学情報読取装置は、第
１の発明に係る光学情報読取装置において、誤りの程度
を表す情報が、２値化データ内で訂正された誤りの個数
またはその誤りの個数に関する演算結果を表すものであ
る。

【００１４】第３の発明に係る光学情報読取装置は、第
１の発明に係る光学情報読取装置において、誤りの程度
を表す情報が、２値化データ内で誤り訂正符号により訂
正可能な誤りの個数に対する訂正された誤りの個数の割
合またはその割合に関する演算結果を表すものである。

【００１５】第４の発明に係る光学情報読取装置は、第
１、第２または第３の発明に係る光学情報読取装置の構
成において、光照射手段、変換手段、誤り訂正手段およ
び復号手段による測定動作を複数回数繰り返す測定サイ
クルを設定された回数繰り返し実行する制御手段をさら
に備え、表示または出力する手段は、測定サイクルごと
に誤りの程度を表す情報を表示または出力するものであ
る。

【００１６】第５の発明に係る光学情報読取装置は、第
１、第２または第３の発明に係る光学情報読取装置の構
成において、光照射手段、変換手段、誤り訂正手段およ
び復号手段による測定動作を複数回数繰り返す測定サイ
クルを測定の停止が指令されるまで繰り返し実行する制
御手段をさらに備え、表示または出力する手段は、測定
サイクルごとに誤りの程度を表す情報を表示または出力
するものである。

【００１７】第１〜第５の発明に係る光学情報読取装置
においては、読取対象となるコードに光が照射され、そ
の反射光が受光されて符号化データおよび誤り訂正符号
を含む２値化データに変換される。さらに、その２値化
データに誤りが存在する場合には誤り訂正手段によりそ
の誤りが訂正される。そして、誤り訂正手段から出力さ
れた２値化データ内の符号化データを復号することによ
りコード情報が読み取られる。また、誤り訂正手段によ
り訂正された誤りの程度を表す情報が表示または出力さ
れる。

【００１８】したがって、符号化データの復号時に、誤
り訂正手段により訂正されている誤りの程度を認識する
ことができ、それにより誤り訂正符号による誤り訂正の
余裕度を知ることができる。その結果、光学情報読取装
置を読取安定度の高い状態に容易に設置することができ
る。

【００１９】特に、第２の発明に係る光学情報読取装置
においては、誤り訂正符号による誤り訂正の余裕度を訂
正された誤りの個数またはその誤りの個数に関する演算
結果に基づいて把握することが可能となる。

【００２０】また、第３の発明に係る光学情報読取装置
においては、誤り訂正符号による誤り訂正の余裕度を訂
正可能な誤りの個数に対する訂正された誤りの個数の割
合またはその割合に関する演算結果に基づいて把握する
ことが可能となる。

【００２１】さらに、第４の発明に係る光学情報読取装
置においては、測定動作を複数回繰り返す測定サイクル
が設定された回数繰り返し実行され、測定サイクルごと
に誤りの程度を表す情報が表示または出力される。した
がって、誤りの程度を表す情報が自動的に更新される。

【００２２】また、第５の発明に係る光学情報読取装置
においては、測定動作を複数回繰り返す測定サイクルが
測定の停止が指令されるまで繰り返し実行され、測定サ
イクルごとに誤りの程度を表す情報が表示または出力さ
れる。したがって、誤りの程度を表す情報が自動的に更
新される。

【００２３】

【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施例による光
学情報読取装置の構成を示すブロック図である。この光
学情報読取装置は、２次元コードまたは２次元バーコー
ドからコード情報を読み取るために用いられる。以下、
２次元コードおよび２次元バーコードを総称してコード
と呼ぶ。

【００２４】図１の光学情報読取装置は、光源１、光学
系２、２次元撮像手段３、記憶手段４、２次元データデ
コード手段５、表示手段６、出力手段７および制御手段
８を含む。光源１、光学系２および２次元撮像手段３
は、例えばＣＣＤカメラまたはイメージスキャナにより
構成され、記憶手段４はメモリからなる。表示手段６
は、液晶表示装置（ＬＣＤ）、発光ダイオード（ＬＥ
Ｄ）等からなり、出力手段７は、通信インタフェースか
らなる。制御手段８はＣＰＵ（中央演算処理装置）から
なる。

【００２５】光源１は、測定対象となるコード１００に
光を照射する。光学系２はコード１００からの反射光を
受光し、２次元撮像手段３に与える。２次元撮像手段３
は、光学系２から与えられた光を電気信号に変換し、２
次元データとして記憶手段４に与える。記憶手段４は、
２次元撮像手段３から与えられた２次元データを記憶す
る。

【００２６】２次元データデコード手段５は、記憶手段
４に記憶された２次元データをデコードしてコード情報
を読み取り、そのコード情報を誤り訂正率、誤り訂正個
数等の誤り訂正の程度を表す情報（以下、誤り訂正情報
と呼ぶ。）とともに表示手段６および出力手段７に出力
する。２次元データデコード手段５の詳細な構成および
動作は後述する。

【００２７】表示手段６は、２次元データデコード手段
５から与えられたコード情報および誤り訂正情報を表示
する。出力手段７は、２次元データデコード手段５から
与えられたコード情報および誤り訂正情報をプリンタ、
レーザマーカ等の印字装置またはホストコンピュータ、
プログラマブルコントローラ等の外部機器に送信する。
制御手段８は、光学情報読取装置の全体の制御を行う。
この制御手段８には、動作モードを設定するためのモー
ド設定信号ＭＤが入力される。

【００２８】本実施例では、光源１が光照射手段を構成
し、光学系２および２次元撮像手段３が変換手段を構成
する。また、記憶手段４および２次元データデコード手
段５が誤り訂正手段および復号手段を構成する。さら
に、表示手段６および出力手段７が表示または出力手段
を構成する。

【００２９】図２は図１の２次元データデコード手段５
の詳細な構成を示すブロック図である。図２に示すよう
に、２次元データデコード手段５は、方向・位置判別部
５１、２値化データ抽出部５２、誤り検出訂正部５３、
記憶部５４、デコード部５５および表示・出力処理部５
６を含む。

【００３０】図３は図２の２次元データデコード手段５
の動作を示すフローチャートである。また、図４は２値
化データの構成を示す図である。以下、図３および図４
を参照しながら図２の２次元データデコード手段５の動
作を説明する。

【００３１】まず、方向・位置判別部５１は、図１の記
憶手段４に記憶された２次元データから切り出しシンボ
ルを検出し（ステップＳ１）、その切り出しシンボルに
基づいて２次元データのデータ領域の方向および位置を
判別する（ステップＳ２）。

【００３２】２値化データ抽出部５２は、方向・位置判
別部５１の判別結果に基づいて、２次元データのデータ
領域から２値化データを抽出する（ステップＳ３）。こ
こで、２値化データは、図４に示すように、符号化デー
タＤおよび誤り訂正符号Ｅを含む。以下、誤り訂正符号
Ｅにより訂正可能な誤りの個数を誤り訂正可能個数と呼
ぶ。

【００３３】誤り検出訂正部５３は、２値化データ抽出
部５２により抽出された２値化データに含まれる誤り訂
正符号Ｅにより２値化データの誤りを検出する（ステッ
プＳ４）。誤りがある場合には（ステップＳ５）、誤り
検出訂正部５３は、２値化データの誤りを訂正し（ステ
ップＳ６）、誤り位置および誤り訂正個数を記憶部５４
に記憶させる（ステップＳ７）。誤りがない場合には
（ステップＳ５）、誤り訂正個数０を記憶部５４に記憶
させる（ステップＳ８）。

【００３４】デコード部５５は、誤り検出訂正部５３か
ら出力される２値化データに含まれる符号化データＤを
デコードし、コード情報を読み取る（ステップＳ９）。
記憶部５４に記憶された誤り位置および誤り訂正個数な
らびにデコード部５５により読み取られたコード情報は
表示・出力処理部５６に出力される。表示・出力処理部
５６は、後述する演算処理を行い、誤り訂正率、誤り訂
正個数等の誤り訂正情報をコード情報とともに図１の表
示手段６および出力手段７に与える。図１の表示手段６
は、コード情報を誤り訂正情報とともに表示する。

【００３５】図５は図１の表示手段６による第１の表示
例を示す図である。図５において、表示部６０はＬＣＤ
パネルからなり、表示領域ａ，ｂ，ｃ，ｄを含む。表示
領域ａには、図２のデコード部５５により読み取られた
コード情報が表示され、表示領域ｂには、デコード成功
率が表示される。また、表示領域ｃには、（１−誤り訂
正率の最大値）がパーセントで表示され、表示領域ｄに
は、（１−誤り訂正率の最小値）がパーセントで表示さ
れる。ここで、デコード成功率とは、全デコード回数に
対するデコード成功回数の割合であり、誤り訂正率と
は、誤り訂正可能個数に対する誤り訂正個数（実際に訂
正された誤りの個数）の割合である。

【００３６】図６は図１の表示手段６による第２の表示
例を示す図である。図６において、表示部６１はＬＣＤ
パネルからなり、表示領域ａ，ｅ，ｆ，ｇを含む。表示
領域ａには、図２のデコード部５５により読み取られた
コード情報が表示され、表示領域ｅには、デコード成功
回数が表示される。また、表示領域ｆには、誤り訂正個
数の最小値が表示され、表示領域ｇには、誤り訂正個数
の最大値が表示される。

【００３７】図７は図１の表示手段６による第３の表示
例を示す図である。図７において、表示部６２は複数の
ＬＥＤ７１，７２，７３，７４，７５が直線状に配列さ
れてなる。図２の誤り検出訂正部５３による誤り訂正率
が０から２０％未満の場合にはＬＥＤ７１が点灯し、２
０から４０％未満の場合にはＬＥＤ７１，７２が点灯
し、４０から６０％未満の場合にはＬＥＤ７１〜７３が
点灯し、６０から８０％未満の場合にはＬＥＤ７１〜７
４が点灯し、８０から１００％の場合にはＬＥＤ７１〜
７５が点灯する。

【００３８】このように、表示手段６の表示により誤り
訂正符号による誤り訂正の余裕度を知ることができるの
で、光学情報読取装置を読取安定度の高い状態に容易に
設置することが可能となる。

【００３９】次に、図８および図９のフローチャートを
参照しながら図１の光学情報読取装置における第１テス
トモードの動作を説明する。この第１テストモードで
は、静止状態のコード１００を測定する。この場合、予
めテスト回数を設定しておく。

【００４０】まず、図１の制御手段８は、モード設定信
号ＭＤにより動作モードが第１テストモードに設定され
ているか否かを判別する（図８のステップＳ１１）。第
１テストモードに設定されている場合には、誤り位置お
よび誤り訂正個数を「記憶する」に設定する（ステップ
Ｓ１２）。それにより、後のデコード処理（図３参照）
において、誤り検出訂正部５３により記憶部５４に誤り
位置および誤り訂正個数が記憶される。そして、デコー
ド回数Ｎを０に初期化する（ステップＳ１３）。

【００４１】その後、デコード回数Ｎに１を加え（ステ
ップＳ１４）、測定動作を行う（ステップＳ１５）。測
定動作では、光源１がコード１００に光を照射し、光学
系２がその反射光を受光し、２次元撮像手段３が光学系
２により与えられた光を電気信号に変換して２次元デー
タとして記憶手段４に記憶させる。そして、２次元デー
タデコード手段５により図３に示したデコード処理を行
う（ステップＳ１６）。

【００４２】デコード回数Ｎが１の場合には（図９のス
テップＳ１７）、前回コード情報を図２のデコード部５
５によるデコード結果（コード情報）に設定し（ステッ
プＳ１８）、デコード成功回数Ｍを１に設定する（ステ
ップＳ１９）。また、誤り訂正個数Ａを誤り検出訂正部
５３により記憶部５４に記憶された誤り訂正個数に設定
し（ステップＳ２０）、最大値ＭＡＸを誤り訂正個数Ａ
に設定し（ステップＳ２１）、かつ最小値ＭＩＮを誤り
訂正個数Ａに設定する（ステップＳ２２）。

【００４３】そして、デコード回数Ｎが予め設定された
テスト回数以上であるか否かを判別する（ステップＳ２
３）。デコード回数Ｎがテスト回数よりも少ない場合に
は、図８のステップＳ１４に戻り、ステップＳ１５の測
定動作およびステップＳ１６のデコード処理を行う。

【００４４】図９のステップＳ１７でデコード回数Ｎが
２以上の場合には、前回コード情報と今回のデコード結
果を比較する（ステップＳ２４）。前回コード情報とデ
コード結果が一致する場合には、デコード成功回数Ｍに
１を加える（ステップＳ２５）。前回コード情報とデコ
ード結果が一致しない場合には、前回コード情報を今回
のデコード結果に更新し（ステップＳ２６）、デコード
成功回数Ｍを１に設定する（ステップＳ２７）。読み取
りエラーが発生した場合には、デコード成功回数Ｍを更
新しない（ステップＳ２８）。

【００４５】次に、誤り訂正個数Ａを誤り検出訂正部５
３により記憶部５４に記憶された誤り訂正個数に更新す
る（ステップＳ２９）。誤り訂正個数Ａが最大値ＭＡＸ
よりも多い場合には最大値ＭＡＸを誤り訂正個数Ａに更
新し（ステップＳ３０）、誤り訂正個数Ａが最小値ＭＩ
Ｎよりも少ない場合には最小値ＭＩＮを誤り訂正個数Ａ
に更新する（ステップＳ３１）。

【００４６】上記のステップＳ１４〜Ｓ３１の処理をデ
コード回数Ｎがテスト回数と等しくなるまで繰り返し実
行する。デコード回数Ｎがテスト回数に等しくなると
（ステップＳ２３）、誤り訂正情報およびコード情報を
表示手段６により表示するとともに、出力手段７により
印字装置または外部機器に出力する（ステップＳ３
２）。

【００４７】ここで、図５のデコード成功率はＭ／Ｎで
表され、誤り訂正率の最大値はＭＡＸ／誤り訂正可能個
数で表され、誤り訂正率の最小値はＭＩＮ／誤り訂正可
能個数で表される。また、図６のデコード成功回数はＭ
で表され、誤り訂正個数の最大値はＭＡＸで表され、誤
り訂正個数の最小値はＭＩＮで表される。さらに、図７
の誤り訂正率はＡ／誤り訂正可能個数で表される。

【００４８】テストモードを終了しない場合には（ステ
ップＳ３３）、図８のステップＳ１３に戻り、ステップ
Ｓ１３〜Ｓ３２の処理を繰り返す。テストモードが終了
すると（ステップＳ３３）、誤り位置および誤り訂正個
数を「記憶しない」に設定する（ステップＳ３４）。

【００４９】上記の第１のテストモードでは、テストモ
ードを終了しない限り、測定動作、デコード処理ならび
に誤り訂正情報およびコード情報の表示および出力を自
動的に繰り返し行う。

【００５０】次に、図１０、図１１および図１２のフロ
ーチャートを参照しながら図１の光学情報読取装置にお
ける第２テストモードの動作を説明する。この第２テス
トモードでは、移動するコード１００を測定する。

【００５１】まず、図１の制御手段８は、モード設定信
号ＭＤにより動作モードが第２テストモードに設定され
ているか否かを判別する（図１０のステップＳ４１）。
第２テストモードに設定されている場合には、誤り位置
および誤り訂正個数を「記憶する」に設定する（ステッ
プＳ４２）。それにより、後のデコード処理（図３参
照）において、誤り検出訂正部５３により記憶部５４に
誤り位置および誤り訂正個数が記憶される。そして、デ
コード成功回数Ｍを０に初期化し（ステップＳ４３）、
連続エラー回数Ｐを０に初期化する（ステップＳ４
４）。

【００５２】その後、上述した測定動作を行い（図１１
のステップＳ４５）、デコード処理を行う（ステップＳ
４６）。デコードが成功した場合には、連続エラー回数
Ｐを０に初期化し（ステップＳ４７）、デコード成功回
数Ｍが０であるか否かを判別する（ステップＳ４８）。

【００５３】デコード成功回数Ｍが０の場合には、前回
コード情報をデコード部５５によるデコード結果に設定
し（ステップＳ４９）、誤り訂正個数Ａを誤り検出訂正
部５３により記憶部５４に記憶された誤り訂正個数に設
定する（ステップＳ５０）。また、最大値ＭＡＸを誤り
訂正個数Ａに設定し（ステップＳ５１）、最小値ＭＩＮ
を誤り訂正個数Ａに設定する（ステップＳ５２）。そし
て、デコード成功回数Ｍを１に更新し（ステップＳ５
３）、図１２のステップＳ５４に進む。

【００５４】ステップＳ５４でテストモードを終了しな
い場合には、図１１のステップＳ４５に戻り、測定動作
およびステップＳ４６のデコード処理を行う。ステップ
Ｓ４８でデコード成功回数Ｍが２以上の場合には、前回
コード情報と今回のデコード結果を比較する（ステップ
Ｓ５５）。前回コード情報とデコード結果が一致した場
合には、誤り訂正個数Ａを誤り検出訂正部５３により記
憶部５４に記憶された誤り訂正個数に更新する（ステッ
プＳ５６）。誤り訂正個数Ａが最大値ＭＡＸよりも多い
場合には最大値ＭＡＸを誤り訂正個数Ａに更新し（ステ
ップＳ５７）、誤り訂正個数Ａが最小値ＭＩＮよりも少
ない場合には最小値ＭＩＮを誤り訂正個数Ａに更新する
（ステップＳ５８）。そして、デコード成功回数Ｍに１
を加え（ステップＳ５９）、図１２のステップＳ５４に
進む。

【００５５】図１１のステップＳ５５で前回コード情報
とデコード結果が一致しない場合には、誤り訂正情報お
よびコード情報を表示手段６に表示するとともに出力手
段７により印字装置または外部機器に出力する（ステッ
プＳ６０）。そして、前回コード情報をデコード結果に
更新し（ステップＳ６１）、デコード成功回数Ｍを１に
設定し（ステップＳ６２）、図１２のステップＳ５４に
進む。

【００５６】図１１のステップＳ４６で読み取りエラー
が発生した場合には、前回コード情報があるか否かを判
別する（図１２のステップＳ６３）。前回コード情報が
ある場合には、連続エラー回数Ｐが予め定められた連続
エラー許容回数よりも多いか否かを判別する（ステップ
Ｓ６４）。連続エラー回数Ｐが連続エラー許容回数より
も多い場合には、連続エラー回数Ｐを０に初期化し（ス
テップＳ６５）、誤り訂正情報およびコード情報を表示
手段６により表示するとともに出力手段７により印字装
置または外部機器に出力する（ステップＳ６６）。そし
て、前回コード情報を「無し」に設定し（ステップＳ６
７）、ステップＳ５４に進む。

【００５７】ステップＳ６４で連続エラー回数Ｐが連続
エラー許容回数以下の場合には、連続エラー回数Ｐに１
を加え（ステップＳ６８）、ステップＳ５４に進む。ま
た、ステップＳ６３で前回コード情報がない場合には、
ステップＳ５４に進む。

【００５８】ステップＳ５４でテストモードが終了する
まで、上記の測定動作、デコード処理ならびに誤り訂正
情報およびコード情報の表示および出力を繰り返し行
う。テストモードが終了すると（ステップＳ５４）、前
回コード情報があるか否かを判別する（ステップＳ６
９）。前回コード情報がある場合には、誤り訂正情報お
よびコード情報を表示手段６により表示するとともに出
力手段７により印字装置または外部機器に出力する（ス
テップＳ７０）。その後、誤り位置および誤り訂正個数
を「記憶しない」に設定する（ステップＳ７１）。

【００５９】上記の第２テストモードにおいては、テス
トモードを終了しない限り、読み取られたコード情報が
更新されるごとに、誤り訂正情報およびコード情報の表
示および出力が行われる。また連続エラー回数Ｐが連続
エラー許容回数を越えた場合にも、誤り訂正情報および
コード情報の表示および出力が行われる。したがって、
移動するコード１００の通過が完了したことを判定する
ことができる。このとき、デコード成功回数Ｍにより移
動するコード１００がどの程度のデコード回数で読み取
られているかを確認することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光学情報読取装置の構
成を示すブロック図である。

【図２】図１の光学情報読取装置における２次元データ
デコード手段の詳細な構成を示すブロック図である。

【図３】図２の２次元データデコード手段５によるデコ
ード処理を示すフローチャートである。

【図４】図２の２次元データデコード手段における２値
化データ抽出部により抽出される２値化データの構成を
示す図である。

【図５】図１の光学情報読取装置における表示手段によ
る第１の表示例を示す図である。

【図６】図１の光学情報読取装置における表示手段によ
る第２の表示例を示す図である。

【図７】図１の光学情報読取装置における表示手段によ
る第３の表示例を示す図である。

【図８】図１の光学情報読取装置における第１テストモ
ードの動作を示すフローチャートである。

【図９】図１の光学情報読取装置における第１テストモ
ードの動作を示すフローチャートである。

【図１０】図１の光学情報読取装置における第２テスト
モードの動作を示すフローチャートである。

【図１１】図１の光学情報読取装置における第２テスト
モードの動作を示すフローチャートである。

【図１２】図１の光学情報読取装置における第２テスト
モードの動作を示すフローチャートである。

【図１３】２次元コードの一例を示す図である。

【図１４】２次元バーコードの一例を示す図である。

【図１５】図１３の２次元コードのデータ領域における
全キャラクタの構成および誤り訂正可能なキャラクタ数
を示す図である。

【符号の説明】

１光源２光学系３２次元撮像手段４記憶手段５２次元データデコード手段６表示手段７出力手段５１方向・位置判別部５２２値化データ抽出部５３誤り検出訂正部５４記憶部５５デコード部５６表示・出力処理部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】読取対象となるコードに光を照射する光
照射手段と、前記光照射手段により光が照射されたコードからの反射
光を受光して符号化データおよび誤り訂正符号を含む２
値化データに変換する変換手段と、前記変換手段により得られた２値化データに誤りが存在
する場合に前記誤り訂正符号に基づいて前記誤りを訂正
する誤り訂正手段と、前記誤り訂正手段から出力された２値化データ内の符号
化データを復号し、コード情報を読み取る復号手段と、前記誤り訂正手段により訂正された誤りの程度を表す情
報を表示または出力する手段とを備えたことを特徴とす
る光学情報読取装置。
【請求項２】前記誤りの程度を表す情報は、２値化デ
ータ内で訂正された誤りの個数または前記誤りの個数に
関する演算結果を表すことを特徴とする請求項１記載の
光学情報読取装置。
【請求項３】前記誤りの程度を表す情報は、２値化デ
ータ内で前記誤り訂正符号により訂正可能な誤りの個数
に対する訂正された誤りの個数の割合または前記割合に
関する演算結果を表すことを特徴とする請求項１記載の
光学情報読取装置。
【請求項４】前記光照射手段、前記変換手段、前記誤
り訂正手段および前記復号手段による測定動作を複数回
繰り返す測定サイクルを設定された回数繰り返し実行す
る制御手段をさらに備え、前記表示または出力する手段は、前記測定サイクルごと
に前記誤りの程度を表す情報を表示または出力すること
を特徴とする請求項１、２または３記載の光学情報読取
装置。
【請求項５】前記光照射手段、前記変換手段、前記誤
り訂正手段および前記復号手段による測定動作を複数回
繰り返す測定サイクルを測定の停止が指令されるまで繰
り返し実行する制御手段をさらに備え、前記表示または出力する手段は、前記測定サイクルごと
に前記誤りの程度を表す情報を表示または出力すること
を特徴とする請求項１、２または３記載の光学情報読取
装置。