JPH09270287A - 電気的接続装置 - Google Patents
電気的接続装置Info
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- JPH09270287A JPH09270287A JP10416196A JP10416196A JPH09270287A JP H09270287 A JPH09270287 A JP H09270287A JP 10416196 A JP10416196 A JP 10416196A JP 10416196 A JP10416196 A JP 10416196A JP H09270287 A JPH09270287 A JP H09270287A
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Abstract
破損や変形等を未然に防止する電気的接続装置を提供す
る。 【解決手段】 「一方の電子機器」であるICパッケー
ジに電気的に接続する場合には、スライドプレート16
のテーパ面16eにより第2接触子19の挟持片19b
が開成されると共に、このスライドプレート16の底面
部16fにより押圧されて第2接触子19が下降されて
挟持位置における端子下端より、挟持片19bの上端部
19eが下側に退避され、ICパッケージの端子が挟持
位置にセットされた後、第1接触子17の弾性片17c
の付勢力により第2接触子19が挟持位置まで上昇され
ると共に、挟持片19b自信の弾性力により閉成して、
挟持片19bにより端子が弾圧挟持されるように設定し
た。
Description
下「ICパッケージ」という)等の一方の電子機器と他
方の電子機器とを電気的に接続する装置に関するもので
ある。
8に示すようなものがある(実公平6ー44050号公
報参照)。図中符号1は「電気的接続装置」としてのI
Cソケットで、このICソケット1は、「一方の電子機
器」であるICパッケージ2の性能試験を行うために、
このICパッケージ2の端子2aと、「他方の電子機
器」である測定器(テスター)のプリント配線板6との
電気的接続を図るものである。
貫通孔3aが形成され、この孔3aを介して端子2aが
挿入されるようになっていると共に、この端子2aが接
触子4の一対の弾性変形可能な「上部接触部」としての
挟持片4aに挟持されるようになっている。
により、端子2aの挿入時に図中二点鎖線に示すように
弾性力に抗して開成され、挿入完了状態で弾性力により
閉成されて端子2aを弾圧挟持するようになっている。
縁基板3と一体に形成された下側絶縁基板5に固定さ
れ、更に、下部接触部4bがプリント配線板6に半田7
にて固定されるようになっている。
うな従来のものにあっては、一対の挟持片4aは同じ高
さで開閉するだけであるため、端子2aが斜めに挿入さ
れたような場合には、その挟持片4aと干渉して破損し
たり、変形したりする虞がある。
の下側に位置しているため、端子2aは、貫通孔3aを
介して挟持片4aまで達する長さに形成されていなけれ
ばならず、長さが短いものは挟持片4aで挟持できない
可能性がある。特に、端子2aは細く弱いと同時に、多
数が接近して密集して配設されているため、互いの干渉
等を考慮するとそれ程長くできないのが現状である。し
かも、この端子2aが短いと、挟持片4aで挟持するた
めには必然的にICパッケージ2のパッケージ本体2b
が上側絶縁基板3に面接触してしまい、ICパッケージ
2の性能試験時に恒温槽内に収納した状態では、一定の
温度に保つのに槽内の空気を循環させているが、その面
接触した部分は通風が行えないことから温度が異常に上
がってしまい、ICソケット1やICパッケージ2が損
傷する虞があった。この対策として、挟持片4aを上側
絶縁基板3の上面から突出させることも考えられるが、
このようにすれば、端子2aが挟持片4aに一層干渉し
易くなり好ましくない。
持する際に、この端子の破損や変形等を未然に防止する
電気的接続装置を提供することを課題としている。
で挟持できると共に、ICパッケージ等の電子機器のセ
ット状態で、この電子機器と絶縁基板との間に隙間を確
保できて温度上昇を抑制することにより、ICパッケー
ジや電気的接続装置の損傷等を防止することにある。
めに、請求項1に記載の発明は、絶縁基板に、下側に第
1接触子が、その上側に第2接触子が導通状態で配設さ
れ、該第2接触子が前記絶縁基板の上側に配設される一
方の電子機器に電気的に接続され、又、前記第1接触子
が前記絶縁基板の下側に配設される他方の電子機器に電
気的に接続される電気的接続装置であって、前記第1接
触子は前記絶縁基板に固定される一方、前記第2接触子
は該第1接触子に対して上下動自在で、且つ、付勢手段
により上方に付勢されて配設されると共に、該第2接触
子には、前記一方の電子機器の端子を弾圧挟持する開閉
自在な挟持片が形成され、該挟持片を弾性力に抗して開
成させる開成手段及び前記第2接触子を前記付勢手段の
付勢力に抗して下降させる下降手段が設けられ、前記一
方の電子機器に電気的に接続する場合には、前記開成手
段により前記第2接触子の挟持片が開成されると共に、
前記下降手段により前記第2接触子が下降されて挟持位
置における前記端子下端より、前記挟持片の上端部が下
側に退避され、前記一方の電子機器の端子が挟持位置に
セットされた後、前記付勢手段により前記第2接触子が
挟持位置まで上昇されると共に、前記挟持片自信の弾性
力により閉成して、該挟持片により前記端子が弾圧挟持
されるように設定した電気的接続装置としたことを特徴
としている。
の構成に加え、前記第2接触子の挟持片は、前記端子挟
持位置において、前記絶縁基板上面より上方に突出し、
前記退避位置において、前記絶縁基板の上面より下方に
位置するように設定したことを特徴としている。
に記載の構成に加え、前記付勢手段は、前記第1接触子
に形成された弾性片であり、前記開成手段は、前記絶縁
基板に対して上下動自在に配設されたスライドプレート
に形成されたテーパ面であり、前記下降手段は、前記ス
ライドプレートに形成された押圧部であることを特徴と
している。
いて説明する。
を示す。
は、「電気的接続装置」としてのICソケットで、この
ICソケット11は「一方の電子機器」であるICパッ
ケージ12の性能試験を行うために、このICパッケー
ジ12の端子12aと、「他方の電子機器」である測定
器(テスター)のプリント配線板13との電気的接続を
図るものである。
に、大別すると、下側絶縁基板14及び上側絶縁基板1
5を有すると共に、この両絶縁基板14,15の間にス
ライドプレート16が上下動自在に配設されている。
る第1接触子17が前記端子12aと対応した位置間隔
で固定される一方、この下側絶縁基板14に上側絶縁基
板15の端縁部に垂下された係止片15aが係止される
ことにより、両絶縁基板14,15が一体的に固定され
ている。この上側絶縁基板15には、前記多数の端子1
2aに対応した位置に多数の挿通孔15bが形成されて
いる。
挿入された前記スライドプレート16は、図1に示すよ
うに、下面部の四隅に形成された嵌合穴16aに、前記
下側絶縁基板14に突設された筒状突起14aが嵌合さ
れて上下動自在に配設されと共に、この嵌合部位に配設
されたコイルスプリング18により上方に付勢され、外
力が作用していない状態では、上側絶縁基板15の下面
に当接することにより、この位置で停止している。ま
た、このスライドプレート16には、四隅に上方に向け
てガイド部16bが突設され、このプレート16の上下
動時に、このガイド部16bが上側絶縁基板15に案内
されるようになっている。さらに、このスライドプレー
ト16には、詳細は後述する第2接触子19が貫通され
る貫通孔16cが形成されている。
等に示すように、下側絶縁基板14の挿入孔14bに挿
入された状態で、係止突起17aがその孔14bの内壁
に係止することにより固定されると共に、下端部にプリ
ント配線板13に半田20にて固定される接触部17b
が形成されている。また、この第1接触子17には、
「付勢手段」としての一対の弾性片17cが形成され、
この両弾性片17cの間に第2接触子19の下部が保持
されると共に、この弾性片17cにより第2接触子19
が上方に付勢されている。さらに、この第1接触子17
には、上方に向けてフック片17dが延設されて、この
フック片17dが第2接触子19に引っ掛けられて、こ
の第2接触子19の上方への外れを防止している。これ
ら弾性片17c及びフック片17dは、下側絶縁基板1
4に形成された前記挿入孔14bに連続する凹所14c
に略収納された状態となっている。
折曲され、U字の折曲部位である下部に、前記第1接触
子17の弾性片17cに当接する切起こし部19aが形
成されると共に、上方に向けて一対の弾性変形可能な挟
持片19bが延設されている。
一対づつ形成され、この摺動片19cが、前記スライド
プレート16の貫通孔16cの内壁に図6等に示すよう
に形成された三角突部16dの「開成手段」としてのテ
ーパ面16eに摺接している。これにより、スライドプ
レート16を下降させると、そのテーパ面16eが摺動
片19cを摺動することにより、いわゆるクサビ作用に
て一対の挟持片19bが所定の角度まで開成されるよう
になっている。また、この挟持片19bには、側方に向
けて被押圧突起19dが突設され、この被押圧突起19
dは、スライドプレート16が図4に示すように、所定
の位置まで下降された状態で、このプレート16の「押
圧部」としての底面部16fに当接して押圧され、この
スライドプレート16を更に下降させることにより、第
2接触子19を介して第1接触子17の弾性片17cの
付勢力に抗して、これら弾性片17cを押し広げながら
第2接触子19が下降されるようになっている。
は、図3及び図7に示すように、端子12a挟持位置に
おいて、上側絶縁基板15の上面より上方に突出し、第
2接触子19が下降された退避位置において、上側絶縁
基板15の上面より下方に位置するように設定されてい
る。
セットするには、まず、このICパッケージ12を図示
省略の自動機に保持した状態で、上側絶縁基板15の上
方に位置させ、このICパッケージ12を下降させると
共に、スライドプレート16をコイルスプリング18の
付勢力に抗して下降させる。すると、図3に示す状態か
ら図4に示す状態まで、スライドプレート16が下降す
ることにより、三角突部16dのテーパ面16eが第2
接触子19の摺動片19cの内側を摺動することによ
り、いわゆるクサビ作用により、一対の挟持片19bが
所定の角度まで開成される。所定角度まで開成された時
点で、スライドプレート16の底面部16fが、第2接
触子19の被押圧突起19dに当接し、更に、スライド
プレート16を下降させると、図4に示す状態から図5
に示す状態のように、被押圧突起19dが押されること
により、第2接触子19が第1接触子17の弾性片17
cの付勢力に抗して、この一対の弾性片17cを開成さ
せるようにして下降される。かかる動作をするように第
2接触子19の挟持片19bと、第1接触子17の弾性
片17cとのバネ定数の設定されている。
第1接触子17の弾性片17cとのバネ定数の設定の仕
方により、テーパ面16eで第2接触子19の挟持片1
9bを開成すると同時に、このテーパ面16eからの押
圧力により、第2接触子19を第1接触子17の弾性片
17cの付勢力に抗して下降させることもできる。しか
し、このようにすると、挟持片19bの開成角度を任意
の角度に規制し、不必要に広がるのを防止するのが難し
いのに対し、各部材のバネ定数を上述のように設定する
と共に、そのテーパ面16eとは別に、スライドプレー
ト底面部16fで第2接触子19の被押圧突起19dを
押して下降させることにより、開成角度を任意の角度に
規制した状態で第2接触子19を下降させることができ
る。
ることにより、挟持片19bの上端部19eが、図5に
示すように、端子挟持位置における端子12aの下端よ
り下側で、上側絶縁基板15の上面より下側に退避す
る。従って、ICパッケージ12を上側絶縁基板15の
載置面部15c上に載置する場合に、端子12aが斜め
に侵入した時でも、端子12aが挟持片19bの上端部
19eに干渉することがない。
解除することにより、このスライドプレート16はコイ
ルスプリング18の付勢力により上昇され、上記とは反
対の動作、つまり、第1接触子17の弾性片17cの付
勢力にて第2接触子19が上昇されて、挟持片19bの
上端部19eが上側絶縁基板15の上面より上方の端子
挟持位置まで突出した後、挟持片19bの弾性力により
初期状態に復帰することにより、両挟持片19bにて端
子12aが図7の(a)のように挟持される。なお、端
子12aの他のタイプとしては、図7の(b)又は
(c)のようなものがあり、これらのものに対しても有
効に挟持できる。
方で端子12aを挟持するようにしているため、端子1
2aが短い場合でも挟持できると共に、パッケージ本体
12bと上側絶縁基板15の上面部との間に、間隙Cを
形成することができる。従って、試験槽内にこれをセッ
トした場合には、その間隙Cに通風することができるた
め、従来のように、この部分の温度が異常に上昇するこ
となく、ICソケット11やICパッケージ12の損傷
を防止することができる。
は、第1接触子17の弾性片17cにより形成されてい
るが、第1接触子17とは別に、コイルスプリングのよ
うなものを設けても良い。また、この発明をICソケッ
トに適用したが、これに限らず、電気的な接続を図るも
のであれば他の装置にも適用できる。
載の発明によれば、第2接触子の挟持片が開成された状
態で電子機器の端子より下方に退避するため、この端子
と挟持片が干渉するようなことが無く、この端子等の破
損や変形を防止できる。
効果に加え、端子挟持位置では、挟持片が絶縁基板上面
より突出しているため、端子が短い場合でも、挟持片に
て確実に挟持することができると共に、電子機器と絶縁
基板との間に間隙を確保することができ、従来のような
電子機器と絶縁基板との間の異常な温度上昇を抑制する
ことができ、ICパッケージ等の電子機器の破損を防止
することができる。しかも、この挟持片の退避位置は絶
縁基板上面より下方に位置するように設定しているた
め、端子との干渉防止を一層効果的に行える。
効果に加え、付勢手段を第1接触子の弾性片にて構成す
ることにより、部品点数の削減を図ることができる。
ICパッケージを示す分解斜視図である。
る。
置におけるICソケットの断面図で、(a)は縦断面
図、(b)は(a)と直交する方向の縦断面図である。
におけるICソケットの断面図で、(a)は縦断面図、
(b)は(a)と直交する方向の縦断面図である。
置におけるICソケットの断面図で、(a)は縦断面
図、(b)は(a)と直交する方向の縦断面図である。
ドプレート等を示す分解斜視図である。
図で、(a),(b),(c)はそれぞれ異なる端子の
挟持状態を示す断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 絶縁基板に、下側に第1接触子が、その
上側に第2接触子が導通状態で配設され、該第2接触子
が前記絶縁基板の上側に配設される一方の電子機器に電
気的に接続され、又、前記第1接触子が前記絶縁基板の
下側に配設される他方の電子機器に電気的に接続される
電気的接続装置であって、 前記第1接触子は前記絶縁基板に固定される一方、 前記第2接触子は該第1接触子に対して上下動自在で、
且つ、付勢手段により上方に付勢されて配設されると共
に、該第2接触子には、前記一方の電子機器の端子を弾
圧挟持する開閉自在な挟持片が形成され、 該挟持片を弾性力に抗して開成させる開成手段及び前記
第2接触子を前記付勢手段の付勢力に抗して下降させる
下降手段が設けられ、 前記一方の電子機器に電気的に接続する場合には、前記
開成手段により前記第2接触子の挟持片が開成されると
共に、前記下降手段により前記第2接触子が下降されて
挟持位置における前記端子下端より、前記挟持片の上端
部が下側に退避され、前記一方の電子機器の端子が挟持
位置にセットされた後、前記付勢手段により前記第2接
触子が挟持位置まで上昇されると共に、前記挟持片自信
の弾性力により閉成して、該挟持片により前記端子が弾
圧挟持されるように設定したことを特徴とする電気的接
続装置。 - 【請求項2】 前記第2接触子の挟持片は、前記端子挟
持位置において、前記絶縁基板上面より上方に突出し、
前記退避位置において、前記絶縁基板の上面より下方に
位置するように設定したことを特徴とする請求項1記載
の電気的接続装置。 - 【請求項3】 前記付勢手段は、前記第1接触子に形成
された弾性片であり、前記開成手段は、前記絶縁基板に
対して上下動自在に配設されたスライドプレートに形成
されたテーパ面であり、前記下降手段は、前記スライド
プレートに形成された押圧部であることを特徴とする請
求項1又は2記載の電気的接続装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10416196A JP3703561B2 (ja) | 1996-03-30 | 1996-03-30 | 電気的接続装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10416196A JP3703561B2 (ja) | 1996-03-30 | 1996-03-30 | 電気的接続装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09270287A true JPH09270287A (ja) | 1997-10-14 |
JP3703561B2 JP3703561B2 (ja) | 2005-10-05 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10416196A Expired - Fee Related JP3703561B2 (ja) | 1996-03-30 | 1996-03-30 | 電気的接続装置 |
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JP (1) | JP3703561B2 (ja) |
-
1996
- 1996-03-30 JP JP10416196A patent/JP3703561B2/ja not_active Expired - Fee Related
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