JPH09269509A - Liquid crystal display element and its production - Google Patents

Liquid crystal display element and its production

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JPH09269509A
JPH09269509A JP7766296A JP7766296A JPH09269509A JP H09269509 A JPH09269509 A JP H09269509A JP 7766296 A JP7766296 A JP 7766296A JP 7766296 A JP7766296 A JP 7766296A JP H09269509 A JPH09269509 A JP H09269509A
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liquid crystal
electrode
control capacitor
crystal display
insulating film
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a liquid crystal display element capable of improving the visual angle characteristic, etc., of a liquid crystal panel with a simple process and a process for producing the same. SOLUTION: This liquid crystal display element includes first and second sub-pixel electrodes 10, 12 and a first control capacitor electrode 20 which in formed below a protective insulating film 60 and is connected to a source electrode. A control capacitor C1 is formed by the second sub-pixel electrode 12 and the first control capacitor electrode 20 via the protective insulating film 60. The visual angle characteristic of the liquid crystal panel is improved by disposing the control capacitor C1 in such a manner. Further, the increase of process stages is prevented by forming the first control capacitor electrode 20 of a source electrode. The protective insulating film 60 is formed thinner than a gate insulating film 49 and, therefore, the area of the control capacitor electrode is minimized and the opening rate, etc., are improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示素子に関す
る。特に画素電極が複数に分割された液晶表示素子に関
する。また、本発明は、このような液晶表示素子の製造
方法に関する。
[0001] The present invention relates to a liquid crystal display device. In particular, the present invention relates to a liquid crystal display element in which a pixel electrode is divided into a plurality. The present invention also relates to a method for manufacturing such a liquid crystal display element.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとしている課題】液
晶表示装置において特に5インチ以上のアクティブマト
リクス型の液晶表示装置においては、液晶パネルの広視
野角技術は高性能表示のための必須技術になってきてい
る。例えば、フラットパネルディスプレイ1994「大
型への飛躍に必須の広視野角技術TFTの量産パネルに
適用始まる」(1993年12年10日、日経BP社出
版、P166)に見られるように、液晶パネルの広視野
角技術としては様々な方法が試みられている。代表的な
ものとしては(1)ラビング処理等の工夫により液晶配
向を制御する方法、(2)制御コンデンサを用いて液晶
分子に印加される電圧を制御する方法などが挙げられ
る。
2. Description of the Related Art In a liquid crystal display device, particularly in an active matrix type liquid crystal display device of 5 inches or more, a wide viewing angle technology of a liquid crystal panel is an essential technology for high performance display. Is coming. For example, as shown in Flat Panel Display 1994, "Beginning to be applied to mass-produced panels of wide-viewing-angle technology TFT essential for leap to large size" (December 10, 1993, Nikkei BP Publishing, P166), Various methods have been tried as wide viewing angle technology. Typical examples include (1) a method of controlling the liquid crystal alignment by devising a rubbing treatment or the like, and (2) a method of controlling the voltage applied to the liquid crystal molecules by using a control capacitor.

【0003】上記(1)の方法は、同一方向に揃ってい
る液晶分子の向きを全方向に均一化する方法であるが、
しかしこの方法には、工程が複雑になる・再現性が良く
ない等の様々な問題がある。
The above method (1) is a method of uniformizing the directions of the liquid crystal molecules aligned in the same direction in all directions.
However, this method has various problems such as complicated processes and poor reproducibility.

【0004】一方、上記(2)の手法としては、例えば
特開平4−348323、特開平5−107556、特
開平3−122621等の従来技術が知られている。し
かしながらこれらの従来技術には制御コンデンサ(制御
電極)、付加コンデンサを形成するために、特別な電極
工程、誘電体膜(絶縁層)形成工程等を付加する必要が
あり、工程が長くなる等の問題点があった。
On the other hand, as the method (2), there are known conventional techniques such as Japanese Patent Laid-Open Nos. 4-348323, 5-107556, and 3-122621. However, in order to form a control capacitor (control electrode) and an additional capacitor in these conventional techniques, it is necessary to add a special electrode process, a dielectric film (insulating layer) forming process, etc., and the process becomes long. There was a problem.

【0005】同様に上記(2)の手法として、例えば特
開平6−102537、特開平5−341318、特開
平6−95144、特開平5−289108等の従来技
術が知られている。これらの従来技術では、ゲート絶縁
膜、遮光層上の誘電体膜等を用いて制御コンデンサを形
成されている。これらのゲート絶縁膜、誘電体膜では、
ピンホール形成による画素欠陥、線欠陥の防止のため
に、絶縁膜を2層にするかもしくは膜厚を増加する必要
がある。このため制御コンデンサ電極の単位面積当たり
の容量が小さくなる。単位面積当たりの容量が小さい
と、必要とされる容量を得るためには、制御コンデンサ
の形成面積を大きくする必要があり、これにより液晶パ
ネルの開口率(光透過特性)等が悪化する。また制御コ
ンデンサの形成面積が大きいと、欠陥等も生じやすくな
る。
Similarly, as the method (2), there are known conventional techniques such as JP-A-6-102537, JP-A-5-341318, JP-A-6-95144, and JP-A-5-289108. In these conventional techniques, a control capacitor is formed using a gate insulating film, a dielectric film on a light shielding layer, and the like. With these gate insulating films and dielectric films,
In order to prevent pixel defects and line defects due to pinhole formation, it is necessary to use two insulating films or increase the film thickness. Therefore, the capacitance per unit area of the control capacitor electrode becomes small. If the capacitance per unit area is small, it is necessary to increase the formation area of the control capacitor in order to obtain the required capacitance, which deteriorates the aperture ratio (light transmission characteristics) of the liquid crystal panel. Further, if the formation area of the control capacitor is large, defects and the like are likely to occur.

【0006】本発明では以上述べた技術的課題を解決す
るためになされたものであり、その目的とするところ
は、簡易なプロセスで液晶パネルの視覚特性を改善でき
る液晶表示素子及びその製造方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made in order to solve the technical problems described above, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of improving the visual characteristics of a liquid crystal panel by a simple process and a manufacturing method thereof. To provide.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタ
に接続され、対向電極との間に封入される液晶層を駆動
する画素電極と、を少なくとも含む液晶表示素子であっ
て、前記画素電極を分割し形成された第1〜第N(Nは
2以上の整数)の副画素電極と、前記薄膜トランジスタ
のソース電極を保護するための保護絶縁膜の下方に設け
られる第1〜第(K−1)(Kは正数であり、1<K≦
N)の制御コンデンサ電極と、前記第1〜第Nの副画素
電極と前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極と
の間に、前記保護絶縁膜を介して形成される、第1〜第
(M−1)(Mは正数であり、2<M≦N)の制御コン
デンサとを含むことを特徴とし、前記第1〜第(K−
1)の制御コンデンサ電極の少なくとも一部が、前記薄
膜トランジスタのソース電極と接続されてなることを特
徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention includes at least a thin film transistor, and a pixel electrode connected to the thin film transistor and driving a liquid crystal layer enclosed between a counter electrode and the pixel electrode. In a liquid crystal display device, a first to Nth (N is an integer of 2 or more) subpixel electrode formed by dividing the pixel electrode and a protective insulating film for protecting a source electrode of the thin film transistor. 1 to (K-1) (K is a positive number, and 1 <K ≦
N) control capacitor electrodes, and the first to Nth subpixel electrodes and the first to (K-1) th control capacitor electrodes are formed via the protective insulating film. 1-th (M-1) (M is a positive number and 2 <M≤N) control capacitors, and the first- (K-) th control capacitors are included.
At least a part of the control capacitor electrode of 1) is connected to the source electrode of the thin film transistor.

【0008】また、本発明は、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極の少なくとも一部が、前記保護絶
縁膜に形成されたコンタクトホールを介して第(L−
1)(Lは正数であり、2<L≦N)の副画素電極と接
続されてなることを特徴とする。
The present invention also provides the above-mentioned first to (K-1) th
At least a part of the control capacitor electrode of the (L-) is formed through a contact hole formed in the protective insulating film.
1) (L is a positive number and 2 <L ≦ N) and is connected to the sub-pixel electrode.

【0009】また、本発明は、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極の少なくとも一部が、前記第1〜
第(K−1)の制御コンデンサ電極のいずれかと接続さ
れてなることを特徴とする。
The present invention also provides the above-mentioned first to (K-1) th
At least a part of the control capacitor electrode of
It is characterized in that it is connected to any one of the (K-1) th control capacitor electrodes.

【0010】また、本発明は、薄膜トランジスタと、該
薄膜トランジスタに接続され、対向電極との間に封入さ
れる液晶層を駆動する画素電極と、を少なくとも含む液
晶表示素子の製造方法であって、(A)前記薄膜トラン
ジスタのソース電極、ドレイン電極および第1〜第(K
−1)の制御コンデンサ電極を形成する工程と、(B)
前記ソース電極および前記制御コンデンサ電極の上方
に、前記薄膜トランジスタもしくは前記制御コンデンサ
電極を保護するための保護絶縁膜を形成する工程と、
(C)前記画素電極を分割し形成された第1〜第Nの副
画素電極を形成する工程と、を含み、前記工程(A)〜
(C)により、前記保護絶縁膜を介して、第1〜第Nの
副画素電極と第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極
との間に、第1〜第(M−1)の制御コンデンサを形成
することを特徴とする。
Further, the present invention is a method of manufacturing a liquid crystal display device, which comprises at least a thin film transistor and a pixel electrode which is connected to the thin film transistor and drives a liquid crystal layer sealed between a counter electrode and A) The source electrode, the drain electrode, and the first to the first (K) of the thin film transistor
-1) forming a control capacitor electrode, and (B)
A step of forming a protective insulating film for protecting the thin film transistor or the control capacitor electrode above the source electrode and the control capacitor electrode;
(C) a step of forming first to Nth subpixel electrodes formed by dividing the pixel electrode, and the steps (A) to
As a result of (C), the first to Nth subpixel electrodes and the first to (K-1) th control capacitor electrodes are provided with the first to (M-1) th intervening via the protective insulating film. It is characterized by forming a control capacitor of.

【0011】また、本発明は、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極の少なくとも一部を、前記ソース
電極と同一工程により形成することを特徴とする。
The present invention also provides the first to the (K-1) th aspects.
At least a part of the control capacitor electrode is formed in the same step as the source electrode.

【0012】また、本発明は、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極の少なくとも一部を、前記ソース
電極の形成と前記保護絶縁膜の形成との間に形成するこ
とを特徴とする。
The present invention also provides the above-mentioned first to (K-1) th
At least a part of the control capacitor electrode is formed between the formation of the source electrode and the formation of the protective insulating film.

【0013】また、本発明は、前記工程(B)と前記工
程(C)の間において、第1〜第(K−1)の制御コン
デンサ電極の少なくとも一部と、第1〜第Nの副画素電
極の少なくとも一部との間にコンタクトホールを形成す
る工程を含むことを特徴とする。
Further, according to the present invention, between the step (B) and the step (C), at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes and the first to Nth sub capacitors are provided. The method is characterized by including a step of forming a contact hole with at least a part of the pixel electrode.

【0014】[0014]

【作用】本発明によれば、第Nの副画素電極と第(K−
1)の制御コンデンサ電極との間に第(M−1)の制御
コンデンサが形成される。制御コンデンサの面積を変化
させることにより、第1〜第(N−1)の副画素電極に
印加させる電圧と第Nの副画素電極にかかる印加電圧を
変化させることができる。これにより第Nと第1〜第
(N−1)の副画素電極領域にある液晶層の視覚特性を
異ならすことができる。この結果、これらの視覚特性の
異なる領域がお互いに補完しあうことによって、1画素
全体の視覚特性を向上できる。また本発明は、保護絶縁
膜を誘電体として第1〜第(M−1)の制御コンデンサ
が形成される。そしてゲート絶縁膜を誘電体として利用
する場合に比較して、保護絶縁膜を誘電体とする場合に
はこの保護絶縁膜を薄くすることが可能になるので、単
位面積当たりの制御コンデンサ容量を大きくすることが
可能になる。この結果、制御コンデンサ面積を小さくす
ることが可能になる。その結果、開口率の向上が可能に
なる。
According to the present invention, the Nth subpixel electrode and the (K-
A (M-1) th control capacitor is formed between the 1) control capacitor electrode. By changing the area of the control capacitor, it is possible to change the voltage applied to the first to (N-1) th subpixel electrodes and the voltage applied to the Nth subpixel electrode. Accordingly, the visual characteristics of the liquid crystal layers in the Nth and the first to (N-1) th subpixel electrode regions can be made different. As a result, these regions having different visual characteristics complement each other, so that the visual characteristics of one pixel as a whole can be improved. Further, in the present invention, the first to (M-1) th control capacitors are formed by using the protective insulating film as a dielectric. When the protective insulating film is used as a dielectric, the protective insulating film can be made thinner than when the gate insulating film is used as a dielectric, so that the control capacitor capacity per unit area is increased. It becomes possible to do. As a result, the control capacitor area can be reduced. As a result, the aperture ratio can be improved.

【0015】また前記第1〜第(K−1)の制御コンデ
ンサ電極の少なくとも一部と第(L−1)の副画素電極
の少なくとも一部とを、保護絶縁膜にコンタクトホール
を形成し接続することも可能である。これにより各副画
素電極上の液晶層の視覚特性を異ならすことが可能であ
る。
At least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes and at least a part of the (L-1) th subpixel electrode are connected to each other by forming a contact hole in a protective insulating film. It is also possible to do so. As a result, the visual characteristics of the liquid crystal layer on each subpixel electrode can be made different.

【0016】また前記第1〜第(K−1)の制御コンデ
ンサ電極の少なくとも一部が、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極のいずれかと接続することも可能
である。これにより制御コンデンサ自体は同時に接続し
ている制御コンデンサの面積を異ならす事によって、す
べての副画素電極上の電圧を変化させることが可能であ
ると共に、制御コンデンサ電極に開けるコンタクトホー
ルの個数を減らし、開口率の向上、信頼性の向上につな
がる。
Further, at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is the first to (K-1) th.
It is also possible to connect with any of the control capacitor electrodes. As a result, the control capacitors themselves can change the voltage on all the subpixel electrodes by changing the area of the control capacitors that are connected at the same time, and reduce the number of contact holes opened in the control capacitor electrodes. It leads to improvement of aperture ratio and reliability.

【0017】この場合、第1〜第(K−1)の制御コン
デンサ電極を前記ソース電極と同一材料で形成すること
も可能である。この場合、第1〜第(K−1)の制御コ
ンデンサ電極を前記ソース電極を同一工程で形成するこ
とも可能である。これにより制御コンデンサ電極形成の
ための新たな工程を追加する必要が無く、製造コストの
低減、信頼性の向上につながる。
In this case, the first to (K-1) th control capacitor electrodes can be formed of the same material as the source electrode. In this case, it is possible to form the first to (K-1) th control capacitor electrodes and the source electrode in the same step. As a result, there is no need to add a new step for forming the control capacitor electrode, which leads to a reduction in manufacturing cost and an improvement in reliability.

【0018】また前記第1〜第(K−1)の制御コンデ
ンサ電極の少なくとも一部を透明導電材料で形成するこ
とも可能である。これにより制御コンデンサ電極自体の
光透過のが可能になるとともに、制御コンデンサ電極上
に保護絶縁膜があることで制御コンデンサ電極上の液晶
層に印加される電圧を接続される前記第1〜第Nの副画
素電極上の液晶層にかかる印加電圧と異ならすことが可
能になる。この結果、開口率の向上と視覚特性の改善が
可能になる。
It is also possible to form at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes with a transparent conductive material. This allows the control capacitor electrode itself to transmit light, and the presence of the protective insulating film on the control capacitor electrode allows the voltage applied to the liquid crystal layer on the control capacitor electrode to be connected. Can be made different from the applied voltage applied to the liquid crystal layer on the sub-pixel electrode. As a result, it is possible to improve the aperture ratio and the visual characteristics.

【0019】また本発明では、前記保護絶縁膜の単位面
積当たりの容量を、前記薄膜トランジスタのゲート電極
上方に設けられたゲート絶縁膜の単位面積当たりの容量
より大きくすることが望ましい。これは保護絶縁膜の膜
厚がゲート絶縁膜の膜厚より小さくすれば容易に成り立
つ。これにより制御コンデンサ電極を小さくすることが
可能になり、開口率の向上を図れる。
Further, in the present invention, it is desirable that the capacitance per unit area of the protective insulating film be larger than the capacitance per unit area of the gate insulating film provided above the gate electrode of the thin film transistor. This is easily established if the film thickness of the protective insulating film is smaller than that of the gate insulating film. As a result, the control capacitor electrode can be made smaller, and the aperture ratio can be improved.

【0020】また本発明では、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極を遮光層となるブラックマトリク
スの一部としても良い。制御コンデンサ電極が遮光層の
材料で構成される場合にはこれを前記ブラックマトリク
スの一部にして、光漏れを防止しコントラストを防止す
る。また制御コンデンサ電極が透過性の透明導電膜で形
成される場合にも透明導電膜上の液晶層の電界を変化さ
せ、光漏れを防止しコントラストを向上できる。
Further, in the present invention, the above-mentioned first to (K-1) th
The control capacitor electrode may be used as a part of the black matrix serving as the light shielding layer. When the control capacitor electrode is made of the material of the light shielding layer, it is made a part of the black matrix to prevent light leakage and contrast. Even when the control capacitor electrode is formed of a transparent transparent conductive film, the electric field of the liquid crystal layer on the transparent conductive film can be changed to prevent light leakage and improve the contrast.

【0021】また本発明では、前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極と同一層に形成される配線電極と
の距離を離して、かつ副画素電極の隙間の一部を覆うよ
うに前記制御コンデンサ電極を形成しても良い。このよ
うにすれば、開口率の向上を図れると共に、ゴミの付着
を原因とする製造不良の発生等を防止できる。
Further, in the present invention, the above-mentioned first to (K-1) th
The control capacitor electrode may be formed so as to be separated from the control capacitor electrode and the wiring electrode formed in the same layer and to cover a part of the gap between the subpixel electrodes. By doing so, it is possible to improve the aperture ratio and prevent production defects and the like due to adhesion of dust.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

1.第1の実施例 図1は第1の実施例の平面的構成を示す図であり、図2
は図1のA−B断面を示す図である。
1. First Embodiment FIG. 1 is a diagram showing a planar configuration of the first embodiment.
FIG. 2 is a diagram showing a cross section taken along the line AB of FIG. 1.

【0023】図1、図2に示すように、この液晶表示素
子は、薄膜トランジスタ(以下、TFTと呼ぶ)56
と、第1、第2の副画素電極10、12に分割された画
素電極とを含み、この画素電極により、対向電極66と
の間に封入される液晶層76を駆動する。TFT56
は、少なくともゲート電極51、ソース電極53、ドレ
イン電極55、真性シリコン膜70、n型シリコン膜7
2、73を含む。また必要ならばエッチングストッパ層
74を含む。第1の副画素電極10は、コンタクトホー
ル54を介してソース電極53に接続される。複数のこ
れらの走査線50、信号線52をマトリクス状に交差し
て配置すると共に、交差位置にTFTを配置すること
で、液晶パネルが構成される。
As shown in FIGS. 1 and 2, this liquid crystal display device includes a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) 56.
And a pixel electrode divided into the first and second subpixel electrodes 10 and 12, and the pixel electrode drives the liquid crystal layer 76 enclosed between the counter electrode 66 and the pixel electrode. TFT56
Is at least the gate electrode 51, the source electrode 53, the drain electrode 55, the intrinsic silicon film 70, and the n-type silicon film 7.
Including 2, 73. If necessary, it also includes an etching stopper layer 74. The first subpixel electrode 10 is connected to the source electrode 53 via the contact hole 54. A liquid crystal panel is constructed by arranging a plurality of these scanning lines 50 and signal lines 52 so as to intersect in a matrix and arranging TFTs at the intersecting positions.

【0024】図2に示すように、ソース電極53等の保
護膜となる保護絶縁膜60の下方には第1の制御コンデ
ンサ電極20が設けられている。本実施例では、この第
1の制御コンデンサ電極20をソース電極53の延長上
に形成している。従って、第1の制御コンデンサ電極2
0の形成のための新たな工程を付加する必要がなく、こ
の結果、製造工程の煩雑さの防止・製造コストの低減を
図れる。但し、延長上に形成される制御コンデンサ電極
20をソース電極53と異なる材料により形成し、さら
に前記ソース電極53と接続することも可能である。
As shown in FIG. 2, the first control capacitor electrode 20 is provided below the protective insulating film 60 which serves as a protective film for the source electrode 53 and the like. In this embodiment, the first control capacitor electrode 20 is formed on the extension of the source electrode 53. Therefore, the first control capacitor electrode 2
There is no need to add a new step for forming 0, and as a result, the complexity of the manufacturing process can be prevented and the manufacturing cost can be reduced. However, it is also possible to form the control capacitor electrode 20 formed on the extension by a material different from that of the source electrode 53 and further connect to the source electrode 53.

【0025】保護絶縁膜60を誘電体とし、第2の副画
素電極12を上部電極、第1の制御コンデンサ20を下
部電極として制御コンデンサ(制御容量)C1が形成さ
れる。一方、第1の副画素電極10と対向電極66とに
より、液晶層76を誘電体とした液晶コンデンサCLC
1が形成され、第2の副画素電極12と対向電極66と
により、液晶コンデンサCLC2が形成される。
A control capacitor (control capacitance) C1 is formed by using the protective insulating film 60 as a dielectric, the second subpixel electrode 12 as an upper electrode, and the first control capacitor 20 as a lower electrode. On the other hand, the liquid crystal capacitor CLC having the liquid crystal layer 76 as a dielectric is formed by the first subpixel electrode 10 and the counter electrode 66.
1 is formed, and the second subpixel electrode 12 and the counter electrode 66 form a liquid crystal capacitor CLC2.

【0026】図3に、本実施例の等価回路図を示す。T
FT56のソース電極である端子Eには液晶コンデンサ
CLC1が接続される。さらに端子Eには、制御コンデ
ンサC1及び液晶コンデンサCLC2が直列接続され
る。走査線50が選択されTFT56がオンした場合の
端子Eの電圧をVEとした場合、CLC1にはこのVE
がそのまま印加される。一方、端子Fの電圧は、C1、
CLC2により容量分割されるため、CLC2にはVF
=VE×C1/(C1+CLC2)の電圧が印加され
る。このようにCLC1に印加される電圧VEと、CL
C2に印加されるVFを異ならさせることで、CLC
1、CLC2の領域にある液晶の光透過率を異ならすこ
とが可能になる。これによりこれらの液晶層の視覚特性
を異ならせることができ、これらの異なる視覚特性が互
いに補間し合うことで、1画素全体(あるいは液晶パネ
ル全体)の視角特性を向上できる。
FIG. 3 shows an equivalent circuit diagram of this embodiment. T
The liquid crystal capacitor CLC1 is connected to the terminal E which is the source electrode of the FT 56. Further, a control capacitor C1 and a liquid crystal capacitor CLC2 are connected in series to the terminal E. If the voltage of the terminal E when the scanning line 50 is selected and the TFT 56 is turned on is VE, this VE is set in the CLC 1.
Is applied as it is. On the other hand, the voltage at the terminal F is C1,
Since the capacity is divided by CLC2, VF is set in CLC2.
= VE × C1 / (C1 + CLC2) is applied. In this way, the voltage VE applied to CLC1 and CL
By changing the VF applied to C2, the CLC
1, it is possible to make the light transmittance of the liquid crystal in the region of CLC2 different. As a result, the visual characteristics of these liquid crystal layers can be made different, and the visual characteristics of one pixel (or the entire liquid crystal panel) can be improved by interpolating these different visual characteristics.

【0027】本実施例の特徴は、まず保護絶縁膜60を
誘電体として制御コンデンサC1を形成した点にある。
これに対して特開平6−102537等の従来例とし
て、図4に平面的構成を示す。また図5に図4のA−B
断面図を示す。この時、従来例ではゲート絶縁膜49を
誘電体として制御コンデンサC41を形成している。通
常ゲート絶縁膜は基本的にピンホールの形成による画素
欠陥の防止のために厚くする必要がある。絶縁膜の膜厚
が増加すると、単位面積当たりの容量が小さくなるため
制御コンデンサ電極420の面積(第2副画素電極12
との重なり面積)を大きくする必要性が生じ、これによ
り開口率等が悪化する。これに対し、本実施例では保護
絶縁膜60を誘電体として使用している。従って、単位
面積当たりの容量を大きくすることが可能になり、制御
コンデンサ電極20の面積を小さくできる。保護絶縁膜
の目的は液晶層からの水分等の進入を防ぐ等であり、ゲ
ート絶縁膜の様にピンホールの防止のために厚くする必
要が無いためである。
The feature of this embodiment is that the control capacitor C1 is formed by using the protective insulating film 60 as a dielectric.
On the other hand, as a conventional example of JP-A-6-102537, a plan configuration is shown in FIG. Also, in FIG.
FIG. At this time, in the conventional example, the control capacitor C41 is formed by using the gate insulating film 49 as a dielectric. Generally, the gate insulating film basically needs to be thick in order to prevent pixel defects due to the formation of pinholes. As the thickness of the insulating film increases, the capacitance per unit area decreases, so the area of the control capacitor electrode 420 (the second subpixel electrode 12
It becomes necessary to increase the (overlapping area) with, and this deteriorates the aperture ratio and the like. On the other hand, in this embodiment, the protective insulating film 60 is used as a dielectric. Therefore, the capacitance per unit area can be increased, and the area of the control capacitor electrode 20 can be reduced. This is because the purpose of the protective insulating film is to prevent entry of moisture or the like from the liquid crystal layer, and it is not necessary to make it thick so as to prevent pinholes unlike the gate insulating film.

【0028】次に、図6(A)〜(E)に本実施例の製
造プロセスを説明するための工程断面図について示す。
まずガラス基板(例えば、無アルカリ基板もしくは下地
絶縁膜付き無アルカリ基板)68上に、スパッタリング
及びフォトエッチングによって、例えば500〜200
0オングストローム程度の厚さのCr(クロム)、Ta
(タンタル)、Al(アルミニウム)、Mo(モリブデ
ン)、Ti(チタニウム)もしくはこれらの合金等から
なるゲート電極51を形成する(図6(A))。
Next, FIGS. 6A to 6E are sectional views showing steps for explaining the manufacturing process of this embodiment.
First, a glass substrate (for example, a non-alkali substrate or a non-alkali substrate with a base insulating film) 68 is sputtered and photoetched to, for example, 500 to 200.
Cr (Chromium) with a thickness of about 0 Å, Ta
A gate electrode 51 made of (tantalum), Al (aluminum), Mo (molybdenum), Ti (titanium), or an alloy thereof is formed (FIG. 6A).

【0029】次に例えばプラズマCVD法、熱CVD法
等により、シリコン窒化膜SiNxを材料とするゲート
絶縁膜49、真性シリコン膜70、n型シリコン膜71
を連続的に形成し、フォトエッチングにより70、71
をアイランド化する(図6(B))。この場合、ゲート
絶縁膜49、真性シリコン膜70、n型シリコン膜71
の厚さは、各々、例えば2000〜4000オングスト
ローム、500〜3000オングストローム、200〜
500オングストローム程度になる。またゲート絶縁膜
49は、シリコン窒化膜SiNxの下に例えば500〜
1500オングストローム程度の厚さのシリコン酸化膜
SiOxを設けても良いし、TaもしくはAlもしくは
これらの合金等の熱もしくは陽極酸化膜からなる、Ta
OxやAlOxを500〜2000オングストローム設
ける構成にしても良い。またこれらの酸化膜を設ける場
合にはシリコン窒化膜を1000〜4000オングスト
ロームにしても良い。
Next, the gate insulating film 49 made of the silicon nitride film SiNx, the intrinsic silicon film 70, and the n-type silicon film 71 are formed by, for example, the plasma CVD method or the thermal CVD method.
Are continuously formed, and 70, 71 are formed by photoetching.
Are made into islands (FIG. 6 (B)). In this case, the gate insulating film 49, the intrinsic silicon film 70, the n-type silicon film 71
The thickness of each is, for example, 2000-4000 angstroms, 500-3000 angstroms, 200-
It will be about 500 angstroms. The gate insulating film 49 is formed under the silicon nitride film SiNx, for example, 500 to
A silicon oxide film SiOx having a thickness of about 1500 angstrom may be provided, or Ta or Al or an alloy thereof may be used as a heat or anodic oxide film of Ta.
You may make it the structure provided with 500-2000 angstroms of Ox and AlOx. When providing these oxide films, the silicon nitride film may have a thickness of 1000 to 4000 angstroms.

【0030】次に、例えばCr、Ta、Al、Mo、T
iもしくはこれらの合金等からなる1000〜2000
オングストローム程度のソース電極53、ドレイン電極
55、制御コンデンサ電極20を、スパッタリング及び
フォトエッチングで形成し、更にn型シリコン膜72、
73を分離しソース・ドレイン分離を行う。(図6
(C))。このように本実施例ではソース電極53等
と、制御コンデンサ電極20とを同一材料で形成してい
る。従って制御コンデンサを生成するための新たの製造
工程を追加する必要がなく、低コスト化が図れる。なお
ソース・ドレインの分離領域にエッチストッパー(E
S)を設ける手法を採用しても良い。
Next, for example, Cr, Ta, Al, Mo, T
i or 1000 to 2000 made of these alloys
A source electrode 53, a drain electrode 55, and a control capacitor electrode 20 each having a thickness of about angstrom are formed by sputtering and photoetching, and an n-type silicon film 72,
73 is separated to separate the source and drain. (FIG. 6
(C)). As described above, in this embodiment, the source electrode 53 and the like and the control capacitor electrode 20 are made of the same material. Therefore, it is not necessary to add a new manufacturing process for producing the control capacitor, and the cost can be reduced. In addition, an etch stopper (E
A method of providing S) may be adopted.

【0031】次にソース電極53等の保護膜となる保護
絶縁膜60を形成する(図6(D))。この保護絶縁膜
60は、例えば500〜3000オングストローム程
度、望ましくは水分吸着効果の上昇のために1000〜
3000オングストローム、望ましくはコスト削減のた
めに1000〜2000オングストロームのシリコン窒
化膜SiNx、もしくはAl、Taもしくはこれらの合
金のスパッタ膜、さらにはAl、Taもしくはこれらの
合金の陽極酸化膜等で形成される。このように保護絶縁
膜60の膜厚は、ゲート絶縁膜46よりも薄くすること
が可能なために、制御コンデンサC1(図2参照)の単
位面積当たりの容量を大きくでき、これにより開口率の
向上を図れる。
Next, a protective insulating film 60 to be a protective film for the source electrode 53 and the like is formed (FIG. 6D). The protective insulating film 60 has a thickness of, for example, about 500 to 3000 angstroms, and preferably 1000 to about 1000 to increase the moisture adsorption effect.
The film is formed of a silicon nitride film SiNx having a thickness of 3000 angstroms, preferably 1000 to 2000 angstroms, or a sputtered film of Al, Ta, or an alloy thereof, or an anodic oxide film of Al, Ta, or an alloy thereof for cost reduction. . Since the protective insulating film 60 can be made thinner than the gate insulating film 46 in this way, the capacitance per unit area of the control capacitor C1 (see FIG. 2) can be increased, and thus the aperture ratio can be increased. Can be improved.

【0032】次にコンタクトホール54を、例えば制御
コンデンサ電極20とソース電極53との間、もしくは
制御コンデンサ電極20の延長上に開口し、例えばIT
O(酸化インジウム膜)等からなる500〜2000オ
ングストローム程度、望ましくは低コスト化のために5
00オングストローム程度の厚さの第1、第2の副画素
電極10、12を、スパッタリング及びフォトエッチン
グ法にて形成する(図6(E))。その後、図2に示す
ように、配向膜62を形成する。そして、このように形
成されたTFT側基板と、ガラス基板69、対向電極6
6、配向膜64等からなる対向基板とで、液晶層76を
封入し、液晶パネルを完成する。
Next, a contact hole 54 is opened, for example, between the control capacitor electrode 20 and the source electrode 53 or an extension of the control capacitor electrode 20, and, for example, IT is used.
About 500 to 2000 angstroms made of O (indium oxide film) or the like, preferably 5 for cost reduction.
First and second subpixel electrodes 10 and 12 having a thickness of about 00 angstrom are formed by sputtering and photoetching (FIG. 6E). Then, as shown in FIG. 2, an alignment film 62 is formed. Then, the TFT side substrate thus formed, the glass substrate 69, and the counter electrode 6
6. The liquid crystal layer 76 is sealed with the counter substrate composed of the alignment film 64 and the like, and the liquid crystal panel is completed.

【0033】本実施例によれば、制御コンデンサ電極2
0を、遮光層となるブラックマトリクスの一部とするこ
とができる。図7には本実施例の制御コンデンサ電極
と、ブラックマトリクスとの関係について示す。図7
(A)では、例えば対向基板に設けられたブラックマト
リクス17と、制御コンデンサ電極20とにより、光漏
れを防止し、コントラストの向上を図っている。本実施
例によれば、上記したように単位面積当たりの制御コン
デンサの容量を大きくできるため、第2の副画素電極1
2と制御コンデンサ電極20とのオーバラップを小さく
できる。従ってこの場合においても、本実施例によれば
開口率等の向上が図れる。なお、図7(B)に示すよう
に、制御コンデンサ電極20を完全に覆うようにブラッ
クマトリクス18を設けても良いし、ブラックマトリク
スをTFT基板側に設ける構成にしても構わない。
According to this embodiment, the control capacitor electrode 2
0 can be a part of the black matrix serving as the light shielding layer. FIG. 7 shows the relationship between the control capacitor electrode of this embodiment and the black matrix. Figure 7
In (A), for example, the black matrix 17 provided on the counter substrate and the control capacitor electrode 20 prevent light leakage and improve the contrast. According to the present embodiment, the capacitance of the control capacitor per unit area can be increased as described above, so that the second subpixel electrode 1
2 and the control capacitor electrode 20 can be reduced in overlap. Therefore, even in this case, the aperture ratio and the like can be improved according to this embodiment. As shown in FIG. 7B, the black matrix 18 may be provided so as to completely cover the control capacitor electrode 20, or the black matrix may be provided on the TFT substrate side.

【0034】また本実施例によれば、単位面積当たりの
制御コンデンサの容量を大きくでき、制御コンデンサ電
極20の面積を小さくできる。図8には本実施例の信号
線と制御コンデンサ電極との関係を示す。本実施例で
は、第2の副画素電極12に接続する制御コンデンサ電
極20の面積を小さくすることが可能になる。そしてこ
のように構成すると、図8のCに示す距離、即ち制御コ
ンデンサ電極20と信号線52との間の距離を離すこと
が可能になる。制御コンデンサ電極20はソース電極5
3の延長上に構成され、信号線52と同じ材料で形成さ
れている。従って、本実施例は、例えば従来例の特開平
5−289108のように、ゲート電極を制御コンデン
サ電極に使用する例と比べても、電極と配線間の距離が
広いため、ゴミの付着等を原因とした製造不良を著しく
減少できる。即ち、本実施例によれば制御コンデンサ電
極20の面積を小さくできるため、距離Cを大きくで
き、ゴミ等の付着を原因とする製造不良を低減できる。
これに対し、図4の様にゲート金属を制御コンデンサ電
極に用いた場合には制御コンデンサ電極と走査線50と
の距離Dが極めて近いために上記のような製造不良は問
題になる。
According to this embodiment, the capacity of the control capacitor per unit area can be increased and the area of the control capacitor electrode 20 can be reduced. FIG. 8 shows the relationship between the signal line and the control capacitor electrode of this embodiment. In this embodiment, the area of the control capacitor electrode 20 connected to the second subpixel electrode 12 can be reduced. With this configuration, it is possible to increase the distance shown in C of FIG. 8, that is, the distance between the control capacitor electrode 20 and the signal line 52. The control capacitor electrode 20 is the source electrode 5
3 is formed by extension and is made of the same material as the signal line 52. Therefore, in the present embodiment, the distance between the electrode and the wiring is wider than that of the conventional example in which the gate electrode is used as the control capacitor electrode as in JP-A-5-289108. The manufacturing defects that caused it can be significantly reduced. That is, according to the present embodiment, the area of the control capacitor electrode 20 can be reduced, so that the distance C can be increased, and manufacturing defects caused by adhesion of dust and the like can be reduced.
On the other hand, when the gate metal is used for the control capacitor electrode as shown in FIG. 4, the distance D between the control capacitor electrode and the scanning line 50 is extremely short, so that the above manufacturing defect becomes a problem.

【0035】2.第2の実施例 図9は、第2の実施例の平面的構成を示す図であり、図
10は、図9のA−B断面を示す図である。
2. Second Embodiment FIG. 9 is a diagram showing a planar configuration of the second embodiment, and FIG. 10 is a diagram showing an AB cross section of FIG. 9.

【0036】第1の実施例と異なるのは、制御コンデン
サ電極20に透明電極として例えばITO膜を500〜
2000オングストローム使用している点にある。従っ
て、本実施例では第1の実施例に比べて開口率が増加す
る利点がある。
The difference from the first embodiment is that the control capacitor electrode 20 is made of, for example, an ITO film of 500 to 500 as a transparent electrode.
It is in the point of using 2000 angstrom. Therefore, this embodiment has an advantage that the aperture ratio is increased as compared with the first embodiment.

【0037】また本実施例において、制御コンデンサ電
極20上では対向電極66との間に液晶層76と保護絶
縁膜層60が形成されている。従って、制御コンデンサ
電極20上には液晶層76及び保護絶縁膜層60を誘電
体とした、CLC3及びC2が形成される。これにより
第2の実施例の等価回路としては図11に示すようにな
る。本実施例ではたとえCLC2=CLC3になるよう
に設定しても、C1≠C2にする事が可能であるため、
TFT56がオンした場合の端子Eの電圧をVEとする
と、このVEと端子Fの電圧VF、端子Gの電圧VGを
異ならすことが可能になる。これにより、CLC1、C
LC2、CLC3の領域にある液晶層の光透過率を異な
らすことができ、これらの液晶層の視覚特性を異ならす
ことが可能になる。そして、これらの異なる視覚特性が
互いに補間し合うことによって、1画素全体(あるいは
液晶パネル全体)の視覚特性を第1の実施例に比べて更
に向上できる。また、透過電極があることにより光透過
率が下がっても本実施例では、第1の実施例と同様に制
御コンデンサ電極を小さくすることが可能で、1画素全
体の光透過率を向上することができる。このように本実
施例では、第1の実施例と同様に制御コンデンサ容量を
小さくし、開口率の向上を行い1画素全体の光透過率の
向上を行うとともに、さらに視角特性の向上も可能にな
る。
Further, in this embodiment, the liquid crystal layer 76 and the protective insulating film layer 60 are formed between the counter electrode 66 and the control capacitor electrode 20. Therefore, CLC3 and C2 using the liquid crystal layer 76 and the protective insulating film layer 60 as a dielectric are formed on the control capacitor electrode 20. As a result, the equivalent circuit of the second embodiment is as shown in FIG. In the present embodiment, even if CLC2 = CLC3 is set, it is possible to set C1 ≠ C2.
When the voltage of the terminal E when the TFT 56 is turned on is VE, it is possible to make the voltage VF of the terminal F different from the voltage VF of the terminal G and the voltage VG of the terminal G. As a result, CLC1 and CLC
The light transmittances of the liquid crystal layers in the LC2 and CLC3 regions can be made different, and the visual characteristics of these liquid crystal layers can be made different. By interpolating these different visual characteristics with each other, the visual characteristics of one pixel (or the entire liquid crystal panel) can be further improved as compared with the first embodiment. Further, even if the light transmittance is lowered due to the presence of the transmissive electrode, in this embodiment, the control capacitor electrode can be made small similarly to the first embodiment, and the light transmittance of one pixel as a whole can be improved. You can As described above, in this embodiment, similarly to the first embodiment, the capacity of the control capacitor is reduced, the aperture ratio is improved, the light transmittance of the entire one pixel is improved, and the viewing angle characteristics can be further improved. Become.

【0038】また、本実施例においても、例えばブラッ
クマトリクスの一部として制御コンデンサ電極20もし
くはその一部を持ってくること、また光漏れの防止のた
めの電極として使用し、コントラストの向上をはかるこ
とも可能である。
Also in this embodiment, for example, the control capacitor electrode 20 or a part thereof is brought as a part of the black matrix, and it is used as an electrode for preventing light leakage to improve the contrast. It is also possible.

【0039】3.第3の実施例 図12は第3の実施例の平面的構成について示してお
り、図13は、図12のA−B断面を示す図である。
3. Third Embodiment FIG. 12 shows a planar configuration of a third embodiment, and FIG. 13 is a view showing a cross section taken along the line AB of FIG.

【0040】第1、第2の実施例と異なるのは、制御コ
ンデンサ電極20に新たに第3の副画素電極15が設け
られ、制御コンデンサC4が形成される点である。これ
により、この実施例における等価回路は図14に示すよ
うになる。この時、制御コンデンサ電極と副画素電極間
のオーバラップ面積を変化させることによって、制御コ
ンデンサC1及び制御コンデンサC4の値を変化させ、
端子Eの電圧VEと端子Fの電圧VFと端子Iの電圧V
Iを異ならすことができる。これによりCLC1、CL
C2、CLC5の領域にある液晶層の光透過率を異なら
すことができ、これらの液晶層の視角特性を異ならすこ
とができる。そして、これらの異なる視覚特性がお互い
に補間しあうことで、1画素全体あるいは液晶パネル全
体の視角特性を第1、第2の実施例に比べてさらに向上
できる。
The difference from the first and second embodiments is that the control capacitor electrode 20 is newly provided with a third subpixel electrode 15 and a control capacitor C4 is formed. As a result, the equivalent circuit of this embodiment is as shown in FIG. At this time, the values of the control capacitors C1 and C4 are changed by changing the overlap area between the control capacitor electrode and the subpixel electrode,
Terminal E voltage VE, terminal F voltage VF, and terminal I voltage V
I can be different. As a result, CLC1 and CL
The light transmittances of the liquid crystal layers in the regions C2 and CLC5 can be made different, and the viewing angle characteristics of these liquid crystal layers can be made different. By interpolating these different visual characteristics with each other, the viewing angle characteristics of one pixel or the entire liquid crystal panel can be further improved as compared with the first and second embodiments.

【0041】この図12、13、14には画素電極を3
分割する場合の例が示されるが、4分割以上にすること
も可能である。即ち、本実施例によれば、画素電極を第
1〜第N(Nは2以上の整数)の副画素電極に分割し、
第1〜第(K−1)(Kは整数で、1<K≦N)の制御
コンデンサ電極を設けることができる。そしてこれら第
1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極と第1〜第Nの
副画素電極間に、第1〜第(M−1)の制御コンデンサ
を保護絶縁膜を介して形成することができる。そしてこ
の第1〜第(M−1)の制御コンデンサの面積、もしく
は第1〜第Nの副画素の面積を変化させることにより、
第1〜第Nの各副画素電極上の液晶層にかかる電圧を変
化させ視角特性の向上が可能になる。
In FIGS. 12, 13, and 14, three pixel electrodes are provided.
An example of division is shown, but division into four or more is also possible. That is, according to this embodiment, the pixel electrode is divided into first to Nth (N is an integer of 2 or more) subpixel electrodes,
First to (K−1) th (K is an integer, 1 <K ≦ N) control capacitor electrodes can be provided. Then, the first to the (M-1) th control capacitors are formed between the first to the (K-1) th control capacitor electrodes and the first to the Nth subpixel electrodes via a protective insulating film. You can Then, by changing the area of the first to (M-1) th control capacitors or the area of the first to Nth subpixels,
It is possible to improve the viewing angle characteristics by changing the voltage applied to the liquid crystal layer on each of the first to Nth subpixel electrodes.

【0042】また、本実施例では第1の実施例と同様制
御コンデンサ電極の面積を小さくできるので、このよう
に画素を多数に分割しても開口率が、従来技術に比べて
それほど悪化しない、従って本実施例によれば、開口率
をそれほど悪化させずに、画素電極を多数に分割するこ
とでさらなる視覚特性の向上を図ることができる。
Further, in this embodiment, the area of the control capacitor electrode can be made small as in the first embodiment, so that even if the pixel is divided into a large number, the aperture ratio is not so deteriorated as compared with the prior art. Therefore, according to this embodiment, it is possible to further improve the visual characteristics by dividing the pixel electrode into a large number without deteriorating the aperture ratio so much.

【0043】なお第3の実施例においても、当然に、制
御コンデンサ電極20を図7(A)、(B)に示すよう
にブラックマトリクスの一部としたり、さらに図8のC
に示すように制御コンデンサ20の面積を小さくするこ
とによってCの距離を信号線52から離すことが可能で
ある。
In the third embodiment, of course, the control capacitor electrode 20 may be a part of the black matrix as shown in FIGS. 7A and 7B, or C of FIG.
It is possible to separate the distance C from the signal line 52 by reducing the area of the control capacitor 20 as shown in FIG.

【0044】4.第4の実施例 図15は第4の実施例の平面的構成を示す図であり、図
16は、図15のA−B断面を示す図である。
4. Fourth Embodiment FIG. 15 is a diagram showing a planar configuration of a fourth embodiment, and FIG. 16 is a diagram showing an AB cross section of FIG.

【0045】第1の実施例、第2の実施例、第3の実施
例と異なるのは、第1の副画素電極10上に、第2の制
御コンデンサ電極22、第3の副画素電極14が設けら
れ、制御コンデンサC3が形成される点である。また第
2の制御コンデンサ電極22上にコンタクトホール55
を設け、第1の副画素電極10との間で導通を取る。こ
れによって第4の実施例の等価回路は図17に示すよう
になる。そして端子電圧Eの電圧をVEとすると、例え
ば、このVEと、端子Fの電圧VF、端子Hの電圧VH
を異ならすことができる。これによりCLC1、CLC
2、CLC4の領域にある液晶層の光透過率を異ならす
ことができ、これらの液晶層の視覚特性を異ならすこと
ができる。そして、これらの異なる視覚特性が互いに補
完し合うことによって、1画素全体(あるいは液晶パネ
ル全体)の視覚特性を第1の実施例に比べて更に向上で
きる。
The difference from the first, second, and third embodiments is that the second control capacitor electrode 22 and the third subpixel electrode 14 are provided on the first subpixel electrode 10. Is provided and the control capacitor C3 is formed. In addition, a contact hole 55 is formed on the second control capacitor electrode 22.
Is provided to establish electrical connection with the first subpixel electrode 10. As a result, the equivalent circuit of the fourth embodiment becomes as shown in FIG. When the voltage of the terminal voltage E is VE, for example, this VE, the voltage VF of the terminal F, and the voltage VH of the terminal H
Can be different. As a result, CLC1 and CLC
2. The light transmittances of the liquid crystal layers in the CLC 4 region can be made different, and the visual characteristics of these liquid crystal layers can be made different. By complementing these different visual characteristics with each other, the visual characteristics of one pixel (or the entire liquid crystal panel) can be further improved as compared with the first embodiment.

【0046】もちろん、コンタクトホール55を第3の
副画素電極14と第2の制御コンデンサ電極22の間に
設けることも本実施例では十分可能である。この場合、
制御コンデンサC3は第1の副画素電極10と制御コン
デンサ電極22との間に設けられる。さらにコンタクト
ホール55を使用せずに副画素電極14、10下部に第
2の制御コンデンサ電極22を形成することも可能であ
る。
Of course, it is sufficiently possible to provide the contact hole 55 between the third subpixel electrode 14 and the second control capacitor electrode 22 in this embodiment. in this case,
The control capacitor C3 is provided between the first subpixel electrode 10 and the control capacitor electrode 22. Furthermore, it is possible to form the second control capacitor electrode 22 below the subpixel electrodes 14 and 10 without using the contact hole 55.

【0047】ここで図15、16、17には画素電極を
3分割にする場合の例が示されているが、4分割以上に
することも可能である。すなわち本実施例によれば、前
記副画素電極14上にさらに制御コンデンサ電極23さ
らに副画素電極16を形成し、制御コンデンサとコンタ
クトホールを形成することが可能である。
Here, FIGS. 15, 16 and 17 show an example in which the pixel electrode is divided into three, but it is also possible to divide into four or more. That is, according to the present embodiment, it is possible to further form the control capacitor electrode 23 and the subpixel electrode 16 on the subpixel electrode 14 to form the control capacitor and the contact hole.

【0048】さらに本実施例では制御コンデンサ電極の
面積を小さくできるため、このように画素電極を多層に
分割しても開口率が、従来技術に比べてもそれほど悪化
しない。従って本実施例によれば、開口率等をそれほど
悪化させずに、画素電極を多数に分割することで更なる
視覚特性の向上を図ることが可能となる。
Further, in this embodiment, since the area of the control capacitor electrode can be made small, even if the pixel electrode is divided into multiple layers as described above, the aperture ratio is not so deteriorated as compared with the prior art. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to further improve the visual characteristics by dividing the pixel electrode into a large number without significantly deteriorating the aperture ratio and the like.

【0049】さらに本実施例は先の図12、13、14
による分割の手段とは独立であるため、第2の制御コン
デンサ電極22と第2の副画素電極12上を、コンタク
トホール55を介して接続し、第2の制御コンデンサ電
極22と第3の副画素電極14との間に制御コンデンサ
C3を設けることも可能である。この時には第2の副画
素電極上の電圧と第3の副画素電極上の電圧が違うた
め、更に副画素間の視角特性を異ならすことが可能にな
る。
Furthermore, this embodiment is based on the above-mentioned FIGS.
The second control capacitor electrode 22 and the second sub-pixel electrode 12 are connected via the contact hole 55 because they are independent of the means for dividing by the second control capacitor electrode 22 and the third sub-pixel electrode. It is also possible to provide the control capacitor C3 between the pixel electrode 14 and the pixel electrode 14. At this time, since the voltage on the second subpixel electrode is different from the voltage on the third subpixel electrode, the viewing angle characteristics between the subpixels can be made different.

【0050】さらに本実施例では制御コンデンサ電極を
お互いに接続することも可能である。図19には本実施
例の別の平面的構成を示す図である。本構成では制御コ
ンデンサ電極22、24をお互いに接続し、第1の副画
素電極10とコンタクトホール55を介して接続するこ
とによりコンタクトホールの削減し、第1の実施例より
さらに視角特性の向上を行いながら、開口率の向上と製
造不良の防止が可能になる。
Further, in this embodiment, it is also possible to connect the control capacitor electrodes to each other. FIG. 19 is a diagram showing another planar structure of this embodiment. In this configuration, the control capacitor electrodes 22 and 24 are connected to each other and connected to the first subpixel electrode 10 via the contact hole 55 to reduce the contact hole, and further improve the viewing angle characteristic as compared with the first embodiment. While performing the above, it is possible to improve the aperture ratio and prevent manufacturing defects.

【0051】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形形態が
可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the gist of the present invention.

【0052】例えば薄膜トランジスタの構造は上記実施
例で説明したものとは限らず、アモルファス(非晶質)
シリコン薄膜トランジスタにおけるすべての逆スタガー
構造、あるいは正スタガー構造、多結晶シリコン薄膜ト
ランジスタにおけるプレーナ、正スタガー構造等、種々
のものを採用できる。
For example, the structure of the thin film transistor is not limited to that described in the above embodiment, but is amorphous.
Various reverse stagger structures in a silicon thin film transistor, a positive stagger structure, a planar in a polycrystalline silicon thin film transistor, a positive stagger structure, and the like can be adopted.

【0053】また液晶表示素子の製造プロセスも上記実
施例で説明したものに限らず、陽極酸化を用いる等の種
々の方法を採用可能である。
The manufacturing process of the liquid crystal display element is not limited to the one described in the above embodiment, and various methods such as using anodic oxidation can be adopted.

【0054】またカラーフィルタ、ブラックマトリクス
等をTFT基板に形成する構成も本発明の範囲に含まれ
る。
A structure in which a color filter, a black matrix and the like are formed on the TFT substrate is also included in the scope of the present invention.

【0055】[0055]

【発明の効果】本発明によれば、視角特性の向上を図り
ながらも、製造プロセスを容易にでき、また開口率の向
上を図ることが可能になる。これにより、高性能で低コ
ストの液晶表示素子を提供できる。またゴミの付着等を
原因とする製造不良の発生等を防止でき、信頼性、歩留
まりの向上等を図ることができる。
According to the present invention, the manufacturing process can be facilitated and the aperture ratio can be improved while improving the viewing angle characteristics. Thereby, a high-performance and low-cost liquid crystal display device can be provided. Further, it is possible to prevent the occurrence of manufacturing defects due to the adhesion of dust and the like, and it is possible to improve reliability and yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の実施例の平面的構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a planar configuration of a first embodiment.

【図2】図1のA−B断面を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a cross section taken along the line AB of FIG.

【図3】第1の実施例の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the first embodiment.

【図4】従来例の平面的構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a planar configuration of a conventional example.

【図5】図4のA−B断面を示す図である。5 is a diagram showing a cross section taken along the line AB of FIG.

【図6】図6(A)〜(E)は、第1の実施例の製造プ
ロセスを説明するための工程断面図である。
6A to 6E are process cross-sectional views for explaining the manufacturing process of the first example.

【図7】第1の実施例の制御コンデンサ電極とブラック
マトリクスの関係について示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a relationship between a control capacitor electrode and a black matrix of the first embodiment.

【図8】第1の実施例の信号線と制御コンデンサ電極の
関係を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a relationship between a signal line and a control capacitor electrode of the first embodiment.

【図9】第2の実施例の平面的構成を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a planar configuration of a second embodiment.

【図10】図9のA−B断面を示す図である。10 is a diagram showing a cross section taken along the line AB of FIG. 9;

【図11】第2の実施例の等価回路図である。FIG. 11 is an equivalent circuit diagram of the second embodiment.

【図12】第3の実施例の平面的構成を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a planar configuration of a third embodiment.

【図13】図12のA−B断面を示す図である。13 is a diagram showing a cross section taken along the line AB of FIG.

【図14】第3の実施例の等価回路図である。FIG. 14 is an equivalent circuit diagram of the third embodiment.

【図15】第4の実施例の平面的構成を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing a planar configuration of a fourth embodiment.

【図16】図15のA−B断面を示す図である。16 is a diagram showing an AB cross section of FIG. 15;

【図17】第4の実施例の等価回路図である。FIG. 17 is an equivalent circuit diagram of the fourth embodiment.

【図18】第4の実施例の別の平面的構成を示す図であ
る。
FIG. 18 is a diagram showing another planar configuration of the fourth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 第1の副画素電極 12 第2の副画素電極 15 第3の実施例における第3の副画素電極 14 第4の実施例における第3の副画素電極 16 第4の実施例における第4の副画素電極 20 第1の制御コンデンサ電極 22 第2の制御コンデンサ電極 23 第3の制御コンデンサ電極 24 第4の実施例の別の例における第3の制御コンデ
ンサ電極 420 従来例における制御コンデンサ電極 49 ゲート絶縁膜 50 走査線 51 ゲート電極 52 信号線 53 ソース電極 54 第1の副画素電極10とソース電極53との間の
コンタクトホール 55 第1の副画素電極10と第2の制御コンデンサ電
極22との間のコンタクトホール 56 TFT 57 ドレイン電極 60 保護絶縁膜 62、64 配向膜 66 対向電極 68、69 ガラス基板 70 真性シリコン膜 71、72、73 n型シリコン膜 76 液晶層
10 1st subpixel electrode 12 2nd subpixel electrode 15 3rd subpixel electrode in 3rd Example 14 3rd subpixel electrode in 4th Example 16 4th in 4th Example Sub-pixel electrode 20 First control capacitor electrode 22 Second control capacitor electrode 23 Third control capacitor electrode 24 Third control capacitor electrode 420 in another example of the fourth embodiment 420 Control capacitor electrode 49 in the conventional example Insulating film 50 Scan line 51 Gate electrode 52 Signal line 53 Source electrode 54 Contact hole between first subpixel electrode 10 and source electrode 53 Between first subpixel electrode 10 and second control capacitor electrode 22 Contact hole between 56 TFT 57 Drain electrode 60 Protective insulating film 62, 64 Alignment film 66 Counter electrode 68, 69 Glass substrate 70 Intrinsic silicon film 71, 72, 73 N-type silicon film 76 Liquid crystal layer

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタ
に接続され、対向電極との間に封入される液晶層を駆動
する画素電極と、を少なくとも含む液晶表示素子であっ
て、 前記画素電極を分割し形成された第1〜第N(Nは2以
上の整数)の副画素電極と、 前記薄膜トランジスタのソース電極を保護するための保
護絶縁膜の下方に設けられる第1〜第(K−1)(Kは
正数であり、2<K≦N)の制御コンデンサ電極と、 前記第1〜第Nの副画素電極と前記第1〜第(K−1)
の制御コンデンサ電極との間に、前記保護絶縁膜を介し
て形成される、第1〜第(M−1)(Mは正数であり、
2<M≦N)の制御コンデンサと、を含むことを特徴と
するとともに、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、前記薄膜トランジスタのソース電極と接続
されてなることを特徴とする液晶表示素子。
1. A liquid crystal display device comprising at least a thin film transistor and a pixel electrode connected to the thin film transistor and driving a liquid crystal layer enclosed between a counter electrode and the thin film transistor, wherein the pixel electrode is divided and formed. The first to Nth (N is an integer of 2 or more) subpixel electrodes, and the first to (K-1) th (K is provided below) a protective insulating film for protecting the source electrode of the thin film transistor. A positive number, 2 <K ≦ N) control capacitor electrode, the first to Nth subpixel electrodes, and the first to (K−1) th subpixel electrodes.
The first to (M-1) th (M is a positive number, formed between the control capacitor electrode and the control capacitor electrode via the protective insulating film.
2 <M ≦ N), and at least a part of the first to (K−1) th control capacitor electrodes is connected to the source electrode of the thin film transistor. A liquid crystal display device characterized by the above.
【請求項2】請求項1に記載の液晶表示素子において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、前記保護絶縁膜に形成されたコンタクトホ
ールを介して、第(L−1)(Lは正数であり、1<L
≦N)の副画素電極と接続されてなるいることを特徴と
する液晶表示素子。
2. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is provided through a contact hole formed in the protective insulating film, (L-1) (L is a positive number and 1 <L
A liquid crystal display element characterized by being connected to a subpixel electrode of ≦ N).
【請求項3】請求項1又は2に記載の液晶表示素子にお
いて、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、前記第1〜第(M−1)の制御コンデンサ
のいずれかと接続されてなるいることを特徴とする液晶
表示素子。
3. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is the first to (M-1) th control capacitors. A liquid crystal display device characterized by being connected to one of capacitors.
【請求項4】請求項1乃至3のいずれかに記載の液晶表
示素子において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、前記ソース電極と同一材料により形成され
てなることを特徴とする液晶表示素子。
4. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein at least a part of the first to (K−1) th control capacitor electrodes is made of the same material as the source electrode. A liquid crystal display device characterized by the following.
【請求項5】請求項1乃至4のいずれかに記載の液晶表
示素子において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、透明導電材料で形成されてなることを特徴
とする液晶表示素子。
5. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is made of a transparent conductive material. Liquid crystal display device characterized by.
【請求項6】請求項1乃至5のいずれかに記載の液晶表
示素子において、 前記保護絶縁膜の単位面積当たりの容量が、前記薄膜ト
ランジスタのゲート電極の上方に設けられる絶縁膜の単
位面積当たりの容量よりも大きいことを特徴とする液晶
表示素子。
6. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein the capacitance per unit area of the protective insulating film is equal to the capacitance per unit area of the insulating film provided above the gate electrode of the thin film transistor. A liquid crystal display device characterized by being larger than the capacity.
【請求項7】請求項1乃至6のいずれかに記載の液晶表
示素子において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部が、遮光層となるブラックマトリクスの一部に
なることを特徴とする液晶表示素子。
7. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is a part of a black matrix serving as a light shielding layer. A liquid crystal display device characterized by:
【請求項8】薄膜トランジスタと、該薄膜トランジスタ
に接続され、対向電極との間に封入される液晶層を駆動
する画素電極と、を少なくとも含む液晶表示素子の製造
方法であって、 (A)前記薄膜トランジスタのソース電極、ドレイン電
極および第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極を形
成する工程と、 (B)前記ソース電極および前記制御コンデンサ電極の
上方に、前記薄膜トランジスタもしくは前記制御コンデ
ンサ電極を保護するための保護絶縁膜を形成する工程
と、 (C)前記画素電極を分割し形成された第1〜第Nの副
画素電極を形成する工程と、を含み、 前記工程(A)〜(C)により、前記保護絶縁膜を介し
て、第1〜第Nの副画素電極と第1〜第(K−1)の制
御コンデンサ電極との間に、第1〜第(M−1)の制御
コンデンサを形成することを特徴とする液晶表示素子の
製造方法。
8. A method of manufacturing a liquid crystal display device comprising at least a thin film transistor and a pixel electrode connected to the thin film transistor and driving a liquid crystal layer enclosed between a counter electrode and the thin film transistor, comprising: (A) the thin film transistor. Forming a source electrode, a drain electrode, and first to (K-1) th control capacitor electrodes, and (B) protecting the thin film transistor or the control capacitor electrode above the source electrode and the control capacitor electrode. A step of forming a protective insulating film for achieving the above, and (C) forming first to Nth sub-pixel electrodes formed by dividing the pixel electrode, and the steps (A) to (C). ), The first to (M-1) th control is performed between the first to Nth subpixel electrodes and the first to (K-1) th control capacitor electrodes via the protective insulating film. A method of manufacturing a liquid crystal display device, which comprises forming a capacitor.
【請求項9】請求項8に記載の液晶表示素子の製造方法
において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部を、前記ソース電極と同一工程により形成する
ことを特徴とする液晶表示素子の製造方法。
9. The method of manufacturing a liquid crystal display element according to claim 8, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is formed in the same step as the source electrode. A method for manufacturing a characteristic liquid crystal display device.
【請求項10】請求項8又は9に記載の液晶表示素子の
製造方法において、 前記第1〜第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なく
とも一部を、前記ソース電極の形成と前記保護絶縁膜の
形成との間に形成することを特徴とする液晶表示素子の
製造方法。
10. The method for manufacturing a liquid crystal display element according to claim 8, wherein at least a part of the first to (K-1) th control capacitor electrodes is formed by forming the source electrode and the protective insulation. A method for manufacturing a liquid crystal display element, characterized in that it is formed between the formation of a film.
【請求項11】請求項8乃至10のいずれかに記載の液
晶表示素子の製造方法において、 前記工程(B)と前記工程(C)の間において、第1〜
第(K−1)の制御コンデンサ電極の少なくとも一部も
しくはソース電極と、第1〜第Nの副画素電極の少なく
とも一部との間にコンタクトホールを形成する工程を含
むことを特徴とする液晶表示素子の製造方法。
11. The method for manufacturing a liquid crystal display element according to claim 8, wherein the first to the third steps are between the step (B) and the step (C).
A liquid crystal comprising a step of forming a contact hole between at least a part of the (K-1) th control capacitor electrode or the source electrode and at least a part of the first to Nth subpixel electrodes. Display element manufacturing method.
【請求項12】請求項8乃至11のいずれかに記載の液
晶表示素子の製造方法において、前記工程(B)におい
て、前記保護絶縁膜の単位面積当たりの容量が、前記薄
膜トランジスタのゲート電極の上方に形成されるゲート
絶縁膜の単位面積当たりの容量より大きくなるように形
成する事を特徴とする液晶表示素子の製造方法。
12. The method for manufacturing a liquid crystal display element according to claim 8, wherein in the step (B), the capacitance per unit area of the protective insulating film is above the gate electrode of the thin film transistor. A method of manufacturing a liquid crystal display device, wherein the gate insulating film is formed so as to have a larger capacity per unit area.
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