JPH09248299A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、使用する検出素子列数を最少にす
ることにより、再構成後の画質を向上させることが可能
なＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 Ｘ線を被検体に曝射するＸ線ビーム発生
部９と、このＸ線ビーム発生部９から曝射されたＸ線を
検出する検出器１５とを有するＸ線ＣＴ装置において、
前記Ｘ線ビーム発生部９と前記検出器１５の回転軸方向
の相対的な位置関係を設定するＸ線ビーム発生部移動コ
ントローラ１１とを備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に関
し、特に、Ｘ線ビーム発生源と検出器の回転軸方向の相
対的な位置関係の設定が可能なＸ線ＣＴ装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】近年、スライス方向（回転軸方向）に複
数のＸ線検出素子列を有するＸ線ＣＴ装置が種々提案さ
れている。このようなＸ線ＣＴ装置の内、２つのＸ線検
出素子列を有するＸ線ＣＴ装置の概略的な構成を図１２
に示す。図１２に示すように、２つのＸ線検出素子列を
有するＸ線ＣＴ装置１００は、Ｘ線ビームを発生するＸ
線ビーム発生部１０１と、Ｘ線ビーム発生部１０１から
発生したＸ線ビームのスライス厚方向の幅を所定の幅に
するプリコリメータ１０３と、被検体を通過したＸ線ビ
ームを検出する２つの検出素子列１０５-1，１０５-2を
有する検出器１０５とを有している。尚、検出器１０５
は、各検出素子列１０５-1，１０５-2のスライス方向の
幅が同一となっているのが一般的である。

【０００３】このＸ線ＣＴ装置１００では、指定された
スライス厚に対して、一方または両方の検出素子列１０
５-1，１０５-2を用いて被検体をスキャンして画像デー
タを収集している。

【０００４】ここにおける検出器は２列のみならず、よ
り多い列を有する検出器も対象である。例として４列を
有する検出器の構造の例を図１３にあげる。図１３に示
すように検出器１０５として、シンチレータ１０７とフ
ォトダイオード１０９とから成るものを用いた場合、光
を極力漏らすこと無くフォトダイオードに入射させるた
めと、光が隣接するフォトダイオードに入射することに
より生じるクロストークを防止するため、シンチレータ
とシンチレータの間に反射板１１１を設けている。

【０００５】ここにおいても各検出素子列のスライス方
向の幅は同一となっているのが一般的である。また、Ｘ
線ビーム発生部１０１と検出器１０５の回転軸方向の相
対的な位置関係は固定となっている。例えば、図１４に
示すように偶数の検出素子列１０５-1，１０５-2を有す
るＸ線ＣＴ装置１００では、検出素子列１０５-1，１０
５-2間の境界とミッドプレーン（Ｘ線ビーム発生部１０
１を含み、回転軸に垂直な面）とを一致させるようにＸ
線ビーム発生部１０１と検出器１０５を位置させてい
る。また、例えば、図１５に示すように奇数の検出素子
列１０５-1〜１０５-5の検出器１０５を有するＸ線ＣＴ
装置１００では、中央の検出素子列１０５-3の中心とミ
ッドプレーンとを一致させるようにＸ線ビーム発生部１
０１と検出器１０５を位置させている。

【０００６】また、画像の再構成法として、１列の検出
素子列のデータを基に再構成して画像を得る方法と、指
定されたスライス厚に対して、一部またはすべての検出
素子列を使用してスキャンし、収集されたデータを再構
成するまでの過程においてチャンネル毎に各検出素子列
のデータを重み付き加算するか、またはスライス毎に再
構成した画像を重み付き加算するかにより画像を得る方
法がある。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記シ
ンチレータ１０７とフォトダイオード１０９を組み合わ
せた検出器１０５では、シンチレータ１０７とシンチレ
ータ１０７の間に反射板１１１を設けているため、この
反射板１１１の設けられた位置が不感領域となる。ま
た、フォトダイオード１０９への光の入射部を除いた部
分は光を反射する構造となっているが、この近傍で発生
した光は反射時のロス等によりフォトダイオードに届く
光量が少なくなる。従って検出器１０５のスライス方向
の感度は図１３に示すようにそのエッジ部では劣化を有
することになる。これらにより、ストリーク状のアーチ
ファクトが生じる場合や、形状が正しく再現できない場
合がある。このため、検出素子列の境界部をなるべく使
用しないことが望まれる。

【０００８】また、収集されたデータのノイズとして
は、検出器１０５に入射するＸ線フォトン数により決ま
るフォトンノイズと、検出器１０５からの電流を増幅
し、アナログ／ディジタル変換するユニット、即ちＤＡ
Ｓ（Date Acquisition System ）回路によるノイズ（以
下、ＤＡＳ回路ノイズと記す）とがある。

【０００９】前記フォトンノイズは、入射するＸ線フォ
トン数により決まるが、前記ＤＡＳ回路ノイズは、常に
一定の値である。従って、入射するＸ線が少ないときは
検出器からの出力電流が小さくなるため、ＤＡＳ回路ノ
イズの大きさが収集画像データのノイズに大きな比重を
占めることとなる。このため、いくつかの検出素子列か
らのデータを基により厚いスライス厚の画像を再構成す
る場合、指定されたスライス厚に対して最少限の数の検
出素子列を使用してＤＡＳ回路ノイズを抑えることが望
まれる。

【００１０】しかし、従来のＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線ビ
ーム発生部１０１と検出器１０５の相対的な位置関係は
固定となっているので、例えば図１４に示すように、１
つの検出素子列１０５-1（または検出素子列１０５-2）
で検出できるにも拘らず、２つの検出素子列１０５-1、
１０５-2で検出している。このため、境界部を含むこと
となる。また、図１５に示す例では、４つの検出素子列
で検出できるにも拘らず、５つの検出素子列１０５-1〜
１０５-5で検出している。

【００１１】また、図１６に示すように検出素子列１０
５-1〜１０５-4が偶数個の場合、図１６（ａ）に示すよ
うに全部の検出素子列１０５-1〜１０５-4を使用すると
きや、図１６（ｂ）に示すように検出素子列内の偶数個
を使用するときは良いが、図１６（ｃ）に示すように奇
数個を使用するときは、Ｘ線ビームのミッドプレーンに
対するＸ線ビームの角度（コーン角度）に偏りが生じる
ため、この違いにより検出素子列１０５-4のデータを基
にした画像の画質劣化が顕著になる。さらに、図１７に
示すように検出素子列１０５-1〜１０５-5が奇数個の場
合、図１７（ａ）に示すように全部の検出素子列１０５
-1〜１０５-5を使用するときや、図１７（ｂ）に示すよ
うに検出素子列内の奇数個を使用するときは良いが、図
１６（ｃ）に示すように偶数個を使用するときは、Ｘ線
ビームのミッドプレーンに対するＸ線ビームのコーン角
度に偏りが生じるため、この違いにより検出素子列１０
５-4のデータを基にした画像の画質劣化が顕著になる。

【００１２】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、使用する検出素子列の数を最少にすることにより、
再構成後の画質を向上させることが可能なＸ線ＣＴ装置
を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、Ｘ線を被検体に曝射するＸ線ビーム発生手段
と、このＸ線ビーム発生源から曝射されたＸ線を検出す
る検出器とを有するＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線ビ
ーム発生源と前記検出器の回転軸方向の相対的な位置関
係を設定する設定手段を有することを要旨とする。

【００１４】本発明のＸ線ＣＴ装置にあっては、設定手
段によりＸ線ビーム発生源と検出器の回転軸方向の相対
的な位置関係を設定することができ、使用する検出素子
列の数を最小にすることにより、再構成後の画質を向上
させることが可能となる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態を
図面を参照して説明する。図１は本発明に係るＸ線ＣＴ
装置の第１の実施形態を示したブロック図である。図１
に示すように、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、中
央制御ユニット３と、高電圧発生器５と、架台コントロ
ーラ７と、Ｘ線ビーム発生部９と、Ｘ線ビーム発生部移
動コントローラ１１と、プリコリメータコントローラ１
３と、検出器１５と、ＤＡＳ１７と、ＤＡＳコントロー
ラ１９と、画像再構成ユニット２１と、画像表示ユニッ
ト２３と、データ保存ユニット２５と、寝台２７と、寝
台コントローラ２９と、天板移動部３１とを有してい
る。

【００１６】中央制御ユニット３は、操作者により図示
しない入力装置を用いて入力されたスキャン条件を基
に、プリコリメータ９ｂの間隔、即ち、プリコリメータ
幅を演算する。また、中央制御ユニット３は、操作者に
より図示しない入力装置を用いて入力されたスキャン条
件を基に、最少の検出素子列数を演算し、Ｘ線ビーム発
生部９の配置位置を求める。さらに、中央制御ユニット
３は、プリコリメータ幅を示すプリコリメータ幅設定信
号と、Ｘ線ビーム発生部９の配置位置を示すＸ線ビーム
発生部移動信号とを架台コントローラ７に出力し、ま
た、Ｘ線ビームの曝射タイミングを示すＸ線ビーム曝射
タイミング制御信号を高電圧発生器５に出力し、さら
に、前記演算された最少の検出素子列数を基に、使用す
る検出素子列１５-1，…を示す検出素子列指定信号をＤ
ＡＳコントローラ１９に出力し、さらに、天板２５ａの
移動量を示す天板移動制御信号を寝台コントローラ２９
に出力する。

【００１７】高電圧発生器５は、中央制御ユニット３か
ら出力されたＸ線ビーム曝射タイミング制御信号を基
に、Ｘ線管９ａに対し、電子加速用高電圧とフィラメン
ト加熱用電流を供給する。

【００１８】架台コントローラ７は、中央制御ユニット
３から出力されたＸ線ビーム発生部移動信号をＸ線ビー
ム発生部移動コントローラ１１に対して出力する。さら
に架台コントローラ７は、中央制御ユニット３から出力
されたプリコリメータ幅設定信号をプリコリメータコン
トローラ１３に対して出力する。さらに、架台コントロ
ーラ７は、中央制御ユニット３から出力された制御信号
を基に、図示しない回転部の回転制御を行う。

【００１９】Ｘ線ビーム発生部移動コントローラ１１
は、架台コントローラ７から出力されたＸ線ビーム発生
部移動信号を基に、Ｘ線ビーム発生部９の位置を移動す
る。図２（ａ），（ｂ）にＸ線ビーム発生部移動コント
ローラ１１の一例を示す。尚、図２（ａ）はＸ線ビーム
発生部移動コントローラ１１の正面図であり、図２
（ｂ）はその側面図である。

【００２０】図２に示すようにＸ線ビーム発生部移動コ
ントローラ１１は、回転部のフレーム３７の上面に設け
られたアクチュエータ３９と、アクチュエータ３９に接
続されたボールネジ軸４１と、ボールネジ軸４１の回転
角度に応じてボールネジ軸４１上を軸方向に移動するボ
ールネジブロック４３とを有する。このボールネジブロ
ック４３の上面のスライドフレーム４５上にＸ線ビーム
発生部９が設置されている。また、ボールネジ軸４１の
両端部に対応するフレーム３７上にはガイド４７がそれ
ぞれ設けられている。尚、ボールネジ軸４１、ボールネ
ジブロック４３およびガイド５７は、プリコリメータ９
ｂを挟み、両側にそれぞれ設けられている。尚、アクチ
ュエータ３９の回転は図示しないベルトを介して他方の
ボールネジ軸４１に伝達される。

【００２１】このため、アクチュエータ３９を回転させ
ることにより、ガイド４７内をボールネジブロック４３
がボールネジ軸４１に沿って移動し、これにより、ボー
ルネジブロック４３の上面のスライドフレーム４５に設
置されたＸ線ビーム発生部９が移動する。尚、アクチュ
エータ３９としては、位置制御サーボコントローラとモ
ータを使用しても良いし、パルスモータを使用しても良
い。

【００２２】また、Ｘ線ビーム発生部移動コントローラ
１１は、Ｘ線ビーム発生部９から曝射されるＸ線ビーム
を回転軸方向に移動できれば、いずれのものを用いても
良い。例えばＸ線ビーム発生部９内部でターゲットとカ
ソードを回転軸方向に移動させる。Ｘ線ビーム発生部９
内部で複数のターゲットとカソードを設け、使用するタ
ーゲットとカソードを切り換える。また、この切り換え
と前記ターゲットとカソードの移動を組み合わせる。ま
た、電子ビームを電磁界により振り、Ｘ線ビーム焦点位
置を移動させる。さらに、前記のものを組み合わせる等
がある。

【００２３】プリコリメータコントローラ１３は、架台
コントローラ７から出力されたプリコリメータ幅設定信
号を基に、プリコリメータ９ｂをこのプリコリメータ幅
設定信号に対応するプリコリメータ幅にする。

【００２４】検出器１５は、Ｘ線ビーム発生部９から曝
射され、被検体を通過したＸ線を電気信号に変換する。
ＤＡＳ１７は、図３に示すように、検出素子列１５-1，
…の各チャンネル毎に、そのチャンネルからの電気信号
を所定時間積分する積分器５１と、積分器５１により積
分された電気信号をサンプルホールドするサンプルホー
ルド回路５３と、サンプルホールド回路５３によりサン
プルホールドされた電気信号をアナログ／ディジタル変
換するＡ／Ｄ変換回路５５と、検出素子列１５-1，…の
チャンネルを切り換えるチャンネル切り換えスイッチ５
７と、検出素子列１５-1，，…を切り換える検出素子列
切り換えスイッチ５９とを有し、検出器１５により変換
された電気信号を、中央制御ユニット３から出力された
データ収集制御信号に対応させて収集し、画像再構成ユ
ニット２１に供給する。

【００２５】ＤＡＳコントローラ１９は、中央制御ユニ
ット３から出力された検出素子列指定信号に対応させ、
積分器５１に対してリセットを行うタイミングを示すリ
セット信号を出力し、サンプルホールド回路５３に対し
てサンプルホールドを行うタイミングを示すサンプルホ
ールド信号を出力し、チャンネル切り換えスイッチ５７
に対してチャンネルの切り換えを示すチャンネル（ｃ
ｈ）切り換え信号を出力し、検出素子列切り換えスイッ
チ５９に対して検出素子列１５-1，…の切り換えを示す
検出素子列切り換え信号を出力する。

【００２６】画像再構成ユニット２１は、ＤＡＳ１７か
ら供給される電気信号を、中央制御ユニット３から出力
された制御信号を基に、画像データとして再構成する。
画像表示ユニット２３は、モニタ（図示せず）を備え、
画像再構成ユニット２１により再構成された画像データ
を、中央制御ユニット３から出力された制御信号を基
に、前記モニタ上に表示する。

【００２７】データ保存ユニット２５は、メモリ（図示
せず）を備え、画像再構成ユニット２１により再構成さ
れた画像データを、中央制御ユニット３からデータ保存
ユニット２５に出力された制御信号を基に、前記メモリ
に保存する。

【００２８】寝台２７は、回転軸方向と、上下方向に移
動可能な天板２７ａから成る。この天板２７ａの上面に
は被検体が載置される。寝台コントローラ２９は、中央
制御ユニット３から出力された制御信号を基に、天板２
５ａの移動量を指示する制御信号を天板移動部３１に出
力する。

【００２９】天板移動部３１は、寝台コントローラ２９
から出力された制御信号を基に、天板２９ａを移動させ
る。尚、中央制御ユニット３、画像再構成ユニット２
１、画像表示ユニット２３、データ保存ユニット２５お
よび図示しない入力装置によりコンソール３３を構成し
ている。この中央制御ユニット３、画像再構成ユニット
２１、画像表示ユニット２３、データ保存ユニット２５
および図示しない入力装置は、システムバス３３ａにそ
れぞれ接続され、相互に信号の送受信が可能である。

【００３０】また、高電圧発生器５、架台コントローラ
７、Ｘ線ビーム発生部９、Ｘ線ビーム発生部移動コント
ローラ１１、プリコリメータコントローラ１３、検出器
１５、ＤＡＳ１７およびＤＡＳコントローラ１９は、架
台３５内に設けられている。

【００３１】次に、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１の
動作を、図４に示すＸ線ビーム発生部９の位置設定の流
れを示すフローチャートを参照して説明する。まず、操
作者は、スキャン条件をコンソール３１の図示しない入
力装置を用いて入力する。

【００３２】スキャン条件が入力されると中央制御ユニ
ット３は、このスキャン条件を基にプリコリメータ幅を
求め、この求められたプリコリメータ幅を示すプリコリ
メータ幅設定信号を架台コントローラ７に出力する（ス
テップＳ１，Ｓ３）。

【００３３】また、中央制御ユニット３は、前記スキャ
ン条件を基に最少の検出素子列数を演算する（ステップ
ＳＴ５）。このとき、演算された最少の検出素子列数が
偶数の場合、中央２つの検出素子列の境界とミッドプレ
ーンとを一致させるためのＸ線ビーム発生部移動信号を
架台コントローラ７に出力する（ステップＳ７，Ｓ
９）。また、演算された最少の検出素子列数が奇数の場
合、中央の検出素子列の中心とミッドプレーンとを一致
させるためのＸ線ビーム発生部移動信号を架台コントロ
ーラ７に出力する（ステップＳ７，Ｓ１３）。

【００３４】Ｘ線ビーム移動信号が出力されると架台コ
ントローラ７は、このＸ線ビーム移動信号をＸ線ビーム
発生部移動コントローラ１１に出力する。これによりＸ
線ビーム発生部移動コントローラ１１は、上記に応じて
Ｘ線ビーム発生部９を移動する。

【００３５】例えば図５に示すように、検出器１５とし
て２つの検出素子列１５-1、１５-2を有し、最少の検出
素子列数が１つであると中央制御ユニット３により演算
された場合、従来は１つの検出素子列１５-1（検出素子
列１５-2）で済むにも拘らず図５（ａ）に示すように、
２つの検出素子列１５-1、１５-2を用いていたが、第１
の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、検出素子列１５-2の
中心とミッドプレーンとを一致させるようにＸ線ビーム
発生部９がＸ線ビーム発生部移動コントローラ１１によ
って移動されるため、検出素子列１５-2のみを使用する
こととなる。

【００３６】また、例えば図６に示すように検出器１５
として５つの検出素子列１５-1〜１５-5を有し、最少の
検出素子列数が４つであると中央制御ユニット３により
演算された場合、従来は図５（ａ）に示すように４つの
検出素子列数で済むにも拘らず、５つの検出素子列１５
-1〜１５-5を用いていたが、第１の実施形態のＸ線ＣＴ
装置１では、検出素子列１５-2と検出素子列１５-3の境
界とミッドプレーンとを一致させるようにＸ線ビーム発
生部９がＸ線ビーム発生部移動コントローラ１１によっ
て移動されるため、４つの検出素子列１５-1〜１５-4の
使用で済むこととなる。

【００３７】また、中央制御ユニット３は、Ｘ線ビーム
の曝射タイミングを示すＸ線ビーム曝射タイミング制御
信号を高電圧発生器５に出力し、さらに、前記演算され
た最少の検出素子列数を基に、使用する検出素子列を示
す検出素子列指定信号をＤＡＳコントローラ１９に出力
する（ステップＳ１１）。さらに、中央制御ユニット３
は、天板２５ａの移動量を示す天板移動制御信号を寝台
コントローラ２９に出力する。

【００３８】高電圧発生器５は、Ｘ線ビーム曝射タイミ
ング制御信号が中央制御ユニット３から出力されると、
これを基にＸ線ビームの曝射タイミングを決定する。ま
た、ＤＡＳコントローラ１９は、検出素子列指定信号が
中央制御ユニット３から出力されると、使用する検出素
子列１５-1，…を決定する。

【００３９】一方、寝台コントローラ２９では、天板移
動制御信号が中央制御ユニット３から出力されると、天
板移動部３１に天板２７ａの上下方向の位置と、回転部
１回転当たりの天板２７ａの移動量を設定させる。

【００４０】そして、操作者によりコンソール３１の図
示しない入力装置を用いて診断介しキーが押されると、
中央制御ユニット３は、診断開始命令を架台コントロー
ラ７、高電圧発生器５、ＤＡＳコントローラ１９および
寝台コントローラ２９に出力して診断を開始する。

【００４１】診断開始命令が出力されると、ＤＡＳコン
トローラ１９は、積分器５１に対してリセットを行うタ
イミングを示すリセット信号を出力し、サンプルホール
ド回路５３に対してサンプルホールドを行うタイミング
を示すサンプルホールド信号を出力し、チャンネル切り
換えスイッチ５７に対してチャンネルの切り換えを示す
チャンネル（ｃｈ）切り換え信号を出力し、検出素子列
切り換えスイッチ５９に対して検出素子列１５-1，…の
切り換えを示す検出素子列切り換え信号を出力する。

【００４２】また、診断が開始されると寝台コントロー
ラ２９は、天板２７ａを移動させる。一方、Ｘ線ビーム
発生部９から所定のタイミングでＸ線ビームが曝射さ
れ、被検体を通過したＸ線が検出器１５により電気信号
に変換される。そして、前記変換された電気信号がＤＡ
Ｓ１７により所定のタイミングで収集され、画像再構成
ユニット２１に供給される。画像再構成ユニット２１で
は、ＤＡＳ１７から供給される電気信号を画像データと
して再構成する。

【００４３】そして、再構成された画像データは、画像
表示ユニット２３のモニタ上に表示される。また、操作
者からの命令に応じてデータ保存ユニット２５のメモリ
に前記画像データを保存する。

【００４４】こうして、Ｘ線ＣＴ装置１では、最少の検
出素子列１５-1，…を用いた診断が行われる。このよう
に、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、いくつかの
検出素子列１５-1，…からのデータを基により厚いスラ
イス厚の画像を再構成する場合、使用する検出素子列１
５-1，…を最少にすることができるので、再構成後の画
質を向上させることが可能となる。

【００４５】尚、第１の実施形態のＸ線診断装置１で
は、使用する検出素子列数を最少にするとともに、使用
する検出素子列１５-1，…の全体の幅の中心とミッドプ
レーンを一致させるようにＸ線ビーム発生部９を移動さ
せているが、使用する検出素子列数が最少となれば、必
ずしも検出素子列１５-1，…の全体の幅の中心とミッド
プレーンを一致させるようにしなくても良い。

【００４６】次に、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第２の
実施形態を説明する。尚、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装
置は、図１に示した第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置と同
一構成であるため、同一番号を用いて説明し、図示およ
び詳細な説明は省略する。

【００４７】第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、ミ
ッドプレーンに対するＸ線ビームのコーン角度が偏らな
いようにＸ線ビーム発生部９の位置を移動させるという
ものである。

【００４８】次に、第２の実施形態のＸ線ビーム発生部
９の位置設定動作を、図７に示すフローチャートを参照
して説明する。尚、Ｘ線ビーム発生部９の位置を設定し
た後の動作は、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１の動作
と同一であるため、説明は省略した。

【００４９】操作者は、スキャン条件と、使用する検出
素子列数をコンソール３１の図示しない入力装置を用い
て入力する。スキャン条件と検出素子列数が入力される
と中央制御ユニット３は、このスキャン条件を基にプリ
コリメータ幅を求め、この求められたプリコリメータ幅
を示すプリコリメータ幅設定信号を架台コントローラ７
に出力する（ステップＳ２１，Ｓ２３）。

【００５０】また、中央制御ユニット３は、使用する検
出素子列数が偶数の場合、使用する検出素子列全体の幅
の中心、即ち、中央２つの検出素子列の境界とミッドプ
レーンとを一致させるためのＸ線ビーム発生部移動信号
を架台コントローラ７に出力する（ステップＳ２５，Ｓ
２７）。また、使用する検出素子列数が奇数の場合、使
用する検出素子列全体の幅の中心、即ち、中央の検出素
子列の中心とミッドプレーンとを一致させるためのＸ線
ビーム発生部移動信号を架台コントローラ７に出力する
（ステップＳ２５，Ｓ３１）。尚、検出器１５の検出素
子列数は、奇数、偶数いずれでも良い。

【００５１】Ｘ線ビーム移動信号が出力されると架台コ
ントローラ７は、このＸ線ビーム移動信号をＸ線ビーム
発生部移動コントローラ１１に出力する。これに対応さ
せてＸ線ビーム発生部移動コントローラ１１は、Ｘ線ビ
ーム発生部９を移動する。

【００５２】例えば図８に示すように、使用する検出素
子列数が３つである場合、従来は図８（ａ）に示すよう
にＸ線ビーム発生部９（Ｘ線管９ａ）と検出器１５の相
対的な位置関係は固定となっているので、ミッドプレー
ンに対するＸ線ビームのコーン角度に偏りが生じていた
が、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、検出素子列
１５-3の中心とミッドプレーンとを一致させるようにＸ
線ビーム発生部９がＸ線ビーム発生部移動コントローラ
１１によって移動されるため、ミッドプレーンに対する
Ｘ線ビームのコーン角度に偏りが生じなくなる。

【００５３】また、例えば図９に示すように、使用する
検出素子列数が２つである場合、従来は図８（ａ）に示
すようにＸ線ビーム発生部９（Ｘ線管９ａ）と検出器１
５の相対的な位置関係は固定となっているので、ミッド
プレーンに対するＸ線ビームのコーン角度に偏りが生じ
ていたが、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、検出
素子列１５-3と検出素子列１５-4の境界とミッドプレー
ンとを一致させるようにＸ線ビーム発生部９がＸ線ビー
ム発生部移動コントローラ１１によって移動されるた
め、ミッドプレーンに対するＸ線ビームのコーン角度に
偏りが生じなくなる。

【００５４】このように、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装
置１では、使用する検出素子列全体の幅の中心とミッド
プレーンを一致させるようにＸ線ビーム発生部９の位置
を移動させているので、ミッドプレーンに対するＸ線ビ
ームのコーン角度の偏りが生じなくなり、Ｘ線ビームの
コーン角度による画質劣化を最小限に抑えることができ
る。

【００５５】図１０は、本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第
３の実施形態を示したブロック図である。第１の実施形
態のＸ線ＣＴ装置７０は、第１の実施形態、第２の実施
形態のＸ線ＣＴ装置１のＸ線ビーム発生部移動コントロ
ーラ１１に代えて、検出器移動コントローラ７１を設
け、Ｘ線ビーム発生部９を移動させるのではなく、検出
器１５を移動させるようにしたものである。尚、図中、
図１で示したものと同一のものは同一の記号を付して詳
細な説明を省略した。

【００５６】図１１（ａ），（ｂ）に検出器移動コント
ローラ７１の一例を示す。尚、図１１（ａ）は検出器移
動コントローラ７１の正面図であり、図１１（ｂ）はそ
の側面図である。

【００５７】図１１に示すように検出器移動コントロー
ラ７１は、図２に示したＸ線ビーム発生部移動コントロ
ーラ１１と同様に、回転部のフレーム３７の上面に設け
られたアクチュエータ３９と、アクチュエータ３９に接
続されたボールネジ軸４１と、ボールネジ軸４１の回転
角度に応じてボールネジ軸４１上を軸方向に移動するボ
ールネジブロック４３とを有する。

【００５８】第３の実施形態のＸ線ＣＴ装置７０では、
検出器１５の位置を移動させることで、第１の実施形態
のＸ線ＣＴ装置１と同様、使用する検出素子列１５-1，
…を最少にすることができ、また、第２の実施形態のＸ
線ＣＴ装置１と同様、ミッドプレーンに対するＸ線ビー
ムのコーン角度の偏りを無くすことができる。尚、上記
の実施の形態ではスキャン方法について特に説明してい
ないが、ヘリカルスキャン、コンベンショナルスキャン
のいずれにも適用することができる。

【００５９】

【発明の効果】以上説明したように本発明のＸ線ＣＴ装
置によれば、Ｘ線ビーム発生源と検出器の回転軸方向の
相対的な位置関係を設定することが可能な設定手段を有
することにより、使用する検出素子列の数を最少にする
ことができ、このため、再構成後の画質を向上させるこ
とが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第１の実施形態を
示すブロック図である。

【図２】図１に示したＸ線ＣＴ装置のＸ線ビーム発生部
移動部の正面図（ａ）と側面図（ｂ）である。

【図３】図１に示したＸ線ＣＴ装置のＤＡＳの構成を示
すブロック図である。

【図４】図１に示したＸ線ＣＴ装置のＸ線ビーム発生部
の位置設定の流れを示すフローチャートである。

【図５】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部の
位置と、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビー
ム発生部の位置を示す図である（２つの検出素子列を有
する場合）。

【図６】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部の
位置と、第１実施形態のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム
発生部の位置を示す図である（５つの検出素子列を有す
る場合）。

【図７】第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置のＸ線ビーム発
生部の位置設定の流れを示すフローチャートである。

【図８】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部の
位置と、第２実施形態のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム
発生部の位置を示す図である（４つの検出素子列を有す
る場合）。

【図９】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部の
位置と、第２実施形態のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム
発生部の位置を示す図である（５つの検出素子列を有す
る場合）。

【図１０】本発明に係るＸ線ＣＴ装置の第３の実施形態
を示すブロック図である。

【図１１】図１０に示したＸ線ＣＴ装置の検出器移動部
の正面図（ａ）と側面図（ｂ）である。

【図１２】従来のＸ線ＣＴ装置の概略的な構成を示す図
である。

【図１３】検出器の構成とその感度を示す図である。

【図１４】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部
と検出器の位置を示す図である（２つの検出素子列を有
する場合）。

【図１５】従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部
と検出器の位置を示す図である（５つの検出素子列を有
する場合）。

【図１６】検出素子列が偶数個で全部の検出素子列を使
用する場合での従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発
生部と検出器の位置を示す図（ａ）と、検出素子列が偶
数個でその内の偶数個の検出素子列を使用する場合での
従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部と検出器の
位置を示す図（ｂ）と，検出素子列が偶数個でその内の
奇数個の検出素子列を使用する場合での従来のＸ線ＣＴ
装置によるＸ線ビーム発生部と検出器の位置を示す図
（ｃ）である。

【図１７】検出素子列が奇数個で全部の検出素子列を使
用する場合での従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発
生部と検出器の位置を示す図（ａ）と、検出素子列が奇
数個でその内の奇数個の検出素子列を使用する場合での
従来のＸ線ＣＴ装置によるＸ線ビーム発生部と検出器の
位置を示す図（ｂ）と，検出素子列が奇数個でその内の
偶数個の検出素子列を使用する場合での従来のＸ線ＣＴ
装置によるＸ線ビーム発生部と検出器の位置を示す図
（ｃ）である。

【符号の説明】

１ Ｘ線ＣＴ装置 ３ 中央制御ユニット ５ 高電圧発生器 ７ 架台コントローラ ９ Ｘ線ビーム発生部 １１ Ｘ線ビーム発生部移動コントローラ １３ プリコリメータコントローラ １５ 検出器 １７ ＤＡＳ １９ ＤＡＳコントローラ ２１ 画像再構成ユニット ２３ 画像表示ユニット ２５ データ保存ユニット ２７ 寝台 ２９ 寝台コントローラ ３１ 天板移動部 ３３ コンソール ３５ 架台

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線を被検体に曝射するＸ線ビーム発生
   手段と、このＸ線ビーム発生源から曝射されたＸ線を検
   出する検出器とを有するＸ線ＣＴ装置において、 前記Ｘ線ビーム発生源と前記検出器の回転軸方向の相対
   的な位置関係を設定する設定手段を有することを特徴と
   するＸ線ＣＴ装置。
2. 【請求項２】 前記Ｘ線ビーム発生源と前記検出器の回
   転軸方向の相対的な位置関係を設定する設定手段は、前
   記Ｘ線ビーム発生手段を回転軸方向に移動させるＸ線ビ
   ーム発生源移動手段であることを特徴とする請求項１記
   載のＸ線ＣＴ装置。
3. 【請求項３】 前記Ｘ線ビーム発生源と前記検出器の回
   転軸方向の相対的な位置関係を設定する設定手段は、前
   記検出器を回転軸方向に移動させる検出器移動手段であ
   ることを特徴とする請求項１記載のＸ線ＣＴ装置。
4. 【請求項４】 前記検出器を複数の検出チャネルからな
   る検出素子列を回転軸方向に複数列配列した検出器で構
   成するとともに、画像を再構成するためのデータを得る
   ことを意図した前記検出素子列の数が最少となるよう
   に、前記設定手段が前記Ｘ線ビーム発生源と前記検出器
   の回転軸方向の相対的な位置関係を設定することを特徴
   とする請求項１記載のＸ線ＣＴ装置。
5. 【請求項５】 前記検出器を複数の検出チャネルからな
   る検出素子列を回転軸方向に複数列配列した検出器で構
   成するとともに、画像を再構成するためのデータを得る
   ことを意図した前記検出素子列全体の幅の中心と、前記
   Ｘ線ビーム発生源を含みこのＸ線ビーム発生源の回転軸
   と垂直な面とを概一致させるように、前記設定手段が前
   記Ｘ線ビーム発生源と前記検出器の回転軸方向の相対的
   な位置関係を設定することを特徴とする請求項１記載の
   Ｘ線ＣＴ装置。