JPH09236763A - マルチビーム走査装置 - Google Patents

マルチビーム走査装置

Info

Publication number
JPH09236763A
JPH09236763A JP8068982A JP6898296A JPH09236763A JP H09236763 A JPH09236763 A JP H09236763A JP 8068982 A JP8068982 A JP 8068982A JP 6898296 A JP6898296 A JP 6898296A JP H09236763 A JPH09236763 A JP H09236763A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
light source
scanning device
array
laser array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8068982A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3520151B2 (ja
Inventor
Tomohiro Nakajima
智宏 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP06898296A priority Critical patent/JP3520151B2/ja
Priority to US08/786,203 priority patent/US5786594A/en
Publication of JPH09236763A publication Critical patent/JPH09236763A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3520151B2 publication Critical patent/JP3520151B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 3ビーム以上のマルチビーム走査装置は,構
成が複雑で大型になる。一方,3個以上のレーザ発光源
を有する半導体レーザアレイを用いるとビーム間隔を独
立して調節できない。 【解決手段】 マルチビーム光源ユニット1を,2個の
レーザ発光源を有する半導体レーザアレイ10と,単光
源の半導体レーザ11とを用いて構成した。このため,
ビーム合成プリズム19が1つで済み,簡単かつコンパ
クトになる。また,半導体レーザ11のビームスポット
15’を,前記半導体レーザアレイ10のビームスポッ
ト14a’,14b’の中央に位置させた。このため,
前記ビームスポット15’を中心に前記マルチビーム光
源ユニット1を回転させることで,ビーム間隔P,Pの
調節が独立して行える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はマルチビーム走査装
置に関し,より詳細には,レーザプリンタ,デジタル複
写機などにおいて情報を高速に記録するために用いるマ
ルチビーム走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光走査装置では,感光体上を1本
の光ビームで走査するのが一般的であったが,現在で
は,1本の光ビームで走査する場合よりも記録速度を速
くするために2本の光ビーム(以下「マルチビーム」と
いう)を同時に走査させるマルチビーム走査装置が実用
化されている。
【0003】このマルチビーム走査装置は,1台でレー
ザプリンタ,複写機,ファクシミリなどの諸機能を合わ
せ持つディジタル複写機,多機能レーザプリンタなどに
広く使用されている。
【0004】その一方,上記のような多用途化が進むに
つれて更なる記録の高速化,高密度化が要求され,3ビ
ーム,4ビーム化することが必要となっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ここでマルチビーム走
査装置を3ビーム,4ビーム化する方式としては,一般
的に,ビームスプリッタを用いてビームを合成する方
式,半導体レーザアレイを用いる方式が挙げられる。
【0006】例えば,前記ビームスプリッタを用いて合
成する方式としては,特開昭60−32019号公報に
記載の技術が知られている。また,前記半導体レーザア
レイを用いる方式では,特開平2−54211号公報に
記載の技術が知られている。
【0007】しかし,前記ビームスプリッタを用いて合
成する方式では,3本以上のビームを合成する場合,ビ
ームスプリッタを複数段に重ねて使用する必要がある。
このため,装置が複雑化,大型化する問題点がある。
【0008】一方,半導体レーザアレイを用いる方式で
は,3個以上のレーザ発光源を1チップ上に実装可能だ
が,レーザ発光源間の距離が固定されてしまうのでビー
ム間隔を独立して調節することができない問題点があ
る。かかる場合には,レーザ発光源の実装位置の誤差が
そのままビーム間のピッチの誤差となり,当該誤差の補
正が困難になる。また,すべてのビームを1つのコリメ
ートレンズで賄うため,レーザ発光源の数が増えるに従
い,結像性能のバラツキが大きくなる問題点がある。更
に,半導体レーザアレイは,高価である問題点がある。
【0009】そこで,本発明は上記に鑑みてなされたも
のであって,簡易かつコンパクトに構成でき,ビーム間
隔が独立して調節可能なマルチビーム走査装置を提供す
ることを目的とする。
【0010】また,結像性能が安定し,安価に構成でき
るマルチビーム走査装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに,請求項1では,マルチビームを出射するマルチビ
ーム光源を有し,前記マルチビーム光源を光軸中心に回
動させて情報の記録密度を変化させるマルチビーム走査
装置において,前記マルチビーム光源が,複数の半導体
レーザで構成され,当該半導体レーザのうち少なくとも
1つは,2個のレーザ発光源をアレイ状に配設した半導
体レーザアレイであることを特徴とするマルチビーム走
査装置を提供する。
【0012】すなわち,2個の半導体レーザで3ビーム
のマルチビーム光源を構成できるので,ビームスプリッ
タを複数段設ける必要がない。このため,マルチビーム
走査装置の構成が簡単になり,全体的にコンパクト化で
きる。また,半導体レーザごとに別個のコリメータレン
ズを使用できるので,結像性能が安定する。
【0013】また,上記の如く3個のレーザ発光源を1
チップ上に実装した半導体レーザアレイのみではビーム
間隔を独立して調節できないが,本発明では半導体レー
ザアレイと半導体レーザとでマルチビームを構成するの
で,これら半導体レーザアレイと半導体レーザとの相対
位置関係を変えることにより,ビーム間隔が独立して調
節可能となる。
【0014】更に,2個のレーザ発光源を有する半導体
レーザアレイは,3個以上のレーザ発光源を有する半導
体レーザアレイよりも比較的入手し易く,低廉なので,
マルチビーム走査装置を安価に構成できる。
【0015】また,請求項2では,上記マルチビーム走
査装置において,前記マルチビーム光源を,前記半導体
レーザアレイと,単光源の半導体レーザとで構成し,
前記単光源の半導体レーザのビームスポットが,前記半
導体レーザアレイの2個のビームスポットの略中央に位
置するようにしたことを特徴とするマルチビーム走査装
置を提供する。
【0016】このように,前記単光源の半導体レーザの
ビームスポットを,前記半導体レーザアレイの2個のビ
ームスポットの略中央に位置させれば,当該中央のビー
ムスポットを中心に回転させることで,ビーム間隔の調
節が独立して行える。このため,ビーム間隔の調節が容
易に行え,組立効率が向上する。
【0017】また,請求項3では,上記マルチビーム走
査装置(請求項2)において,前記単光源の半導体レー
ザの光軸を中心として前記マルチビーム光源を回動させ
るマルチビーム光源回動手段を具備することを特徴とす
るマルチビーム走査装置を提供する。
【0018】このように,ビーム間隔の調節をするため
のマルチビーム光源回動手段を予め設けたので,前記ビ
ーム間隔の調節を容易に行うことが出来る。
【0019】また,請求項4では,上記マルチビーム走
査装置(請求項2または請求項3)において,前記単光
源の半導体レーザのビームスポット径が,前記半導体レ
ーザアレイのビームスポット径より大きいことを特徴と
するマルチビーム走査装置を提供する。
【0020】上述のように,マルチビーム走査装置の組
立時には,前記単光源の半導体レーザのビームスポット
を前記半導体レーザアレイの2個のビームスポットの略
中央に位置させるが,後の諸要因(機械振動に起因する
歪みなど)により前記ビームスポットの位置が変動する
場合がある。かかる場合,組立時に調節したビーム間隔
が変動してしまうが,前記単光源の半導体レーザのビー
ムスポット径を前記半導体レーザアレイの2個のビーム
スポット径よりも若干大きめに設定していれば,前記ビ
ーム間隔の変動が判別されにくい。このため,経時的に
安定した画像品質が得られる。
【0021】また,請求項5では,マルチビームを出射
するマルチビーム光源を有し,前記マルチビーム光源を
光軸中心に回動させて情報の記録密度を変化させるマル
チビーム走査装置において,前記マルチビーム光源を2
つ設け,当該マルチビーム光源が,2個のレーザ発光源
をアレイ状に配設した半導体レーザアレイと各々の光ビ
ームを平行光束とするコリメートレンズとから構成さ
れ,一方のコリメートレンズの焦点距離が,他方のコリ
メートレンズの焦点距離と異なることを特徴とするマル
チビーム走査装置を提供する。
【0022】すなわち,異なる焦点距離にしておけば,
一方の半導体レーザアレイのビームスポットの間に,他
方の半導体レーザアレイのビームスポットを位置させる
ことが出来る。このようにすれば,4本ビームの場合で
も各ビーム間隔の調節が独立して行える。
【0023】また,請求項6では,上記マルチビーム走
査装置において,前記一方のコリメートレンズの焦点距
離が,他方のコリメートレンズの焦点距離の3倍である
ことを特徴とするマルチビーム走査装置を提供する。
【0024】上記焦点距離の具体例であるが,4本ビー
ムの場合は,一方の半導体レーザアレイの焦点距離を他
方の半導体レーザアレイの焦点距離の3倍とすれば,ビ
ーム間隔が均等になる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下,本発明について,図面を参
照して詳細に説明する。なお,これらの実施の形態によ
り本発明が限定されるものではない。
【0026】(実施の形態1)図1は,本発明のマルチ
ビーム走査装置を示す構成図である。このマルチビーム
走査装置100は,マルチビームを出射するマルチビー
ム光源ユニット1と,出射されたマルチビームを副走査
方向に絞りこむシリンダレンズ2と,マルチビームのビ
ーム間のピッチに応じて回転数が切り換えられるポリゴ
ンミラー3と,主走査方向のドットピッチを均等にする
fθレンズ4およびトロイダルレンズ5と,ビームを反
射する反射鏡9と,ビームの被走査媒体である感光体ド
ラム10とを具備している。
【0027】図2は,上記マルチビーム光源ユニット1
の構造説明図である。10は,2個のレーザ発光源(図
示省略)が同一チップ内にアレイ状に配設され,パッケ
ージングされた半導体レーザアレイである。11は,単
光源の半導体レーザである。
【0028】前記半導体レーザアレイ10および半導体
レーザ11は,偏向方向を一致させて同一平面(XY平
面)上に配設されている。半導体レーザアレイ10およ
び半導体レーザ11から出射したレーザビームは,コリ
メータレンズ12,13によりそれぞれ平行なレーザビ
ーム14,15とされ,続いて,アパーチャ16,17
により所定のレーザビーム径に整形される。このレーザ
ビーム径については後述する。
【0029】また,前記半導体レーザアレイ10のレー
ザ発光源は,コリメータレンズ12の光軸Zに対して均
等に偏心している。このため,レーザビーム14a,1
4bは,図に示すように,所定角度(2θ)隔てて出射
される。
【0030】一方,前記半導体レーザ11のレーザビー
ム15は,1/2波長板18で偏向面を90度回転し,
ビーム合成プリズム19に入射する。続いて,斜面19
aで内面反射し,偏向ビームスプリッタ面19bで反射
し,コリメートレンズ12の光軸近傍に合成される。
【0031】かかる状態で,前記マルチビーム光源ユニ
ット1を前記コリメートレンズ12の光軸Zを中心に回
動させれば,レーザビーム14a,14bのビームスポ
ット14a’,14b’がレーザビーム15のビームス
ポット15’を中心に回動し,副走査方向Yのビーム間
のピッチを変更することが出来る。
【0032】ここで,前記ビームスポット15’のビー
ムスポット径は,前記ビームスポット14a,14bの
ビームスポット径より大きく整形される。ビームスポッ
ト径は,前記アパーチャ16,17により定まる。
【0033】図3は,マルチビーム光源ユニット1の組
立工程を示す説明図である。前記半導体レーザアレイ1
0は,コリメータレンズ12の光軸と一致するように支
持体23に固定される。
【0034】同様に,半導体レーザ11も,支持体24
に固定される。
【0035】次に,前記支持体23,24は,基体25
に取り付けられる。当該取り付けは,ネジ32〜35に
より後述するフランジ部材29と共に行われる。
【0036】また,コリメータレンズ12は,鏡筒に納
められ,基体25の穴25aに緊合される。同様に,コ
リメータレンズ13は,鏡筒に納められ,基体25の穴
25bに緊合される。続いて,半導体レーザアレイ10
と半導体レーザ11とに対する光軸方向の位置合わせを
行う。
【0037】前記アパーチャ16,17は一体に構成さ
れ,半導体レーザアレイ10用の整形スリット16a
と,半導体レーザ11用の整形スリット17aとを有し
ている。
【0038】1/2波長板20は,前記整形スリット1
7a上に配置される。また,フランジ部材29には,前
記ビーム合成プリズム19が内設される。
【0039】前記アパーチャ16,17および1/2波
長板20は,前記フランジ部材29および前記基体25
により把持される。
【0040】31は,半導体レーザアレイ10および半
導体レーザ11の駆動回路が形成される基板である。
【0041】前記フランジ部材29は,前記コリメータ
レンズ12の光軸Zと同軸に形成された円筒状突起29
aを有する。この円筒状突起29aは,マルチビーム走
査装置100のハウジング(図示省略)に回動可能に挿
入される。この円筒状突起29aを中心に前記マルチビ
ーム光源ユニット1自体を回転させ,ビーム間隔P(図
2)を調節し,固定する。なお,このビーム間隔の調節
は,自動的に行うようにしてもよい。
【0042】次に,このマルチビーム走査装置100の
情報記録動作について説明する。まず,マルチビーム光
源ユニット1から出射したマルチビームは,前記シリン
ダレンズ2で副走査方向に絞りこまれ,続いて,ポリゴ
ンミラー3により反射される。続いて,前記反射したビ
ームは,fθレンズ4およびトロイダルレンズ5を通る
ことで主走査方向のドットピッチが均等化される。かか
る処理がなされたマルチビームは,前記反射鏡6により
反射され,感光体ドラム7上を走査する。これにより情
報の記録が行われる。
【0043】次に,記録密度を切り換える場合は,前記
マルチビーム光源ユニット1を回転させ,ビーム間のピ
ッチを変更する。これより,記録密度が切換えられる。
【0044】ビーム間のピッチを変更した後は,上記同
様にマルチビームを前記マルチビーム光源ユニット1か
ら出射し,前記感光体ドラム7上を走査する。これによ
り切り換え後の記録密度で情報の記録が行われる。な
お,前記マルチビーム光源ユニット1の回転を自動制御
するようにしてもよい。
【0045】以上,本発明のマルチビーム走査装置10
0では,半導体レーザアレイ10と半導体レーザ11と
の2つを用いてレーザビームを出射するので,前記ビー
ム合成プリズム19が1つで済む。このため,マルチビ
ーム走査装置100の構成が簡単かつコンパクトにな
る。更に,半導体レーザアレイ10は,比較的入手し易
く低廉なので,マルチビーム走査装置100が安価にな
る。
【0046】更に,前記半導体レーザ11のビームスポ
ット15’を,前記半導体レーザアレイ10のビームス
ポット14a’14b’の中央に位置させるようにし
た。このため,前記ビームスポット15’を中心に回転
させることで,ビーム間隔P,Pの調節が独立して行え
る。それゆえ,ビーム間隔P,Pの調節が容易になり,
組立効率が向上する。なお,前記ビームスポット15’
の位置を移動することで,ビーム間隔Pを調節すること
も可能である。
【0047】また,前記マルチビーム光源ユニット1を
回転させることで,ビーム間隔の調節を容易に行うこと
が出来る。また,前記マルチビーム光源ユニット1の回
転を自動制御すれば,ビーム間隔の調節が更に容易にな
る。
【0048】また,半導体レーザ11のビームスポット
15’のビームスポット径を,前記半導体レーザアレイ
10のビームスポット14a,14bのビームスポット
径より大きくしたので,後の諸要因により前記ビームス
ポットの位置が変動しても,前記ビーム間のピッチP,
Pの変動が判別されにくい。このため,経時的に安定し
た画像品質が得られる。
【0049】(実施の形態2)実施の形態2では,上記
半導体レーザアレイ10を2つ使用し,4本ビームのマ
ルチビームを構成した。更に,一方のコリメータレンズ
の焦点距離を他方のコリメートレンズの焦点距離の3倍
とした。その他の構成は上記実施の形態1と略同様とし
た。
【0050】図4は,4本ビームの場合のビーム間隔の
調節方式を示す説明図である。104,105は,半導
体レーザアレイである。半導体レーザアレイ104はレ
ーザビーム14a,14bを出射し,半導体レーザアレ
イ105はレーザビーム15a,15bを出射する。
前記半導体レーザアレイ104,105は,像画にてビ
ームスポット14a’,14b’の中点と,ビームスポ
ット15a’,15b’の中点とが一致するように配置
する。
【0051】更に,前記半導体レーザアレイ104,1
05を保持するマルチビーム光源ユニット(図示省略)
は,ビームスポット14a’,14b’と,ビームスポ
ット15a’,15b’とが前記中点を中心にして別個
独立に回転しうる構造となっている。
【0052】ビーム間隔の調節は,上記実施の形態1と
同様に,前記マルチビーム光源ユニットを回転させるこ
とにより行う。すなわち,ビームスポット14a’,1
4b’の間隔を所定ピッチ(3P)となるように回転調
節して,固定する。次に,ビームスポット15a’,1
5b’の間隔を所定ピッチ(P)となるように調節し
て,固定する。
【0053】なお,コリメータレンズによらず,半導体
レーザアレイのレーザ発光源の間隔を変更すれば,前記
焦点距離を異なるものとすることが出来る。
【0054】また,一方が,2個のレーザ発光源を有す
る半導体レーザアレイであれば,他方が,3個以上のレ
ーザ発光源を有する半導体レーザアレイであっても,そ
のレーザ発光源の配列中心をコリメータレンズの光軸に
合わせることで上記同様に構成できる。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように,本発明のマルチビ
ーム走査装置(請求項1)によれば,2個の半導体レー
ザで3ビームのマルチビーム光源を構成できるので,ビ
ームスプリッタを複数段設ける必要がない。このため,
マルチビーム走査装置の構成が簡単になり,全体的にコ
ンパクト化できる。 また,2個のレーザ発光源を有す
る半導体レーザアレイと,単光源の半導体レーザとでマ
ルチビームを構成するので,半導体レーザアレイと半導
体レーザとの相対位置関係を変えることによりビーム間
隔を独立して調節可能となる。更に,2個のレーザ発光
源を有する半導体レーザアレイは,比較的入手し易く且
つ低廉なので,マルチビーム走査装置を安価に構成でき
る。
【0056】また,本発明のマルチビーム走査装置(請
求項2)によれば,前記単光源の半導体レーザのビーム
スポットを,前記半導体レーザアレイの2個のビームス
ポットの略中央に位置させるので,前記半導体レーザア
レイの2個のビームスポットを前記中央位置を中心に回
転させることで,ビーム間隔の調節が独立して行える。
このため,ビーム間隔の調節が容易になり,組立効率が
向上する。
【0057】また,本発明のマルチビーム走査装置(請
求項3)によれば,前記単光源の半導体レーザの光軸を
中心として前記マルチビーム光源を回動させるマルチビ
ーム回動手段を設けたので,ビーム間隔の調節を容易に
行うことが出来る。
【0058】また,本発明のマルチビーム走査装置(請
求項4)によれば,前記単光源の半導体レーザのビーム
スポット径を,前記半導体レーザアレイのビームスポッ
ト径より大きくした。このため,後の諸要因により前記
ビームスポットの位置が変動しても,前記ビーム間隔の
変動が判別されにくい。このため,経時的に安定した画
像品質が得られる。
【0059】また,本発明のマルチビーム走査装置(請
求項5)によれば,2つの半導体レーザアレイのビーム
スポットをそれぞれ異なる焦点距離にしておけば,一方
の半導体レーザアレイのビームスポットの間に,他方の
半導体レーザアレイのビームスポットを位置させること
が出来る。このため,4本ビームの場合でも各ビーム間
隔の調節が独立して行える。
【0060】また,本発明のマルチビーム走査装置(請
求項6)によれば,前記一方のコリメートレンズの焦点
距離が,他方のコリメートレンズの焦点距離の3倍にな
るようにした。このため,ビーム間隔が均等になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1にかかるマルチビーム走
査装置を示す構成図である。
【図2】マルチビーム光源ユニットの構造説明図であ
る。
【図3】マルチビーム光源ユニットの組立工程を示す説
明図である。
【図4】4本ビームの場合のビーム間隔の調節方式を示
す説明図である。
【符号の説明】
100 マルチビーム走査装置 1 マルチビーム光源ユニット 2 シリンダレンズ 3 ポリゴンミラー 4 fθレンズ 5 トロイダルレンズ 6 反射鏡 7 感光体ドラム 10 半導体レーザアレイ 11 半導体レーザ 12,13 コリメータレンズ 14,15 レーザビーム 14a’,14b’ビームスポット 15’ ビームスポット 16,17 アパーチャ 18 1/2波長板 19 ビーム合成プリズム 19a 斜面 19b 偏向ビームスプリッタ面 16a,17a 整形スリット 23,24 支持体 25 基体 25a,25b 穴 29 フランジ部材 29a 円筒状突起 31 基板 32〜35 ネジ P ピッチ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マルチビームを出射するマルチビーム光
    源を有し,前記マルチビーム光源を光軸中心に回動させ
    て情報の記録密度を変化させるマルチビーム走査装置に
    おいて,前記マルチビーム光源が複数の半導体レーザで
    構成され,当該半導体レーザのうち少なくとも1つは,
    2個のレーザ発光源をアレイ状に配設した半導体レーザ
    アレイであることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のマルチビーム走査装置
    において,前記マルチビーム光源を,前記半導体レーザ
    アレイと,単光源の半導体レーザとで構成し,前記単光
    源の半導体レーザのビームスポットが,前記半導体レー
    ザアレイの2個のビームスポットの略中央に位置するよ
    うにしたことを特徴とするマルチビーム走査装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載のマルチビーム走査装置
    において,前記単光源の半導体レーザの光軸を中心とし
    て前記マルチビーム光源を回動させるマルチビーム光源
    回動手段を具備することを特徴とするマルチビーム走査
    装置。
  4. 【請求項4】 請求項2または請求項3に記載のマルチ
    ビーム走査装置において,前記単光源の半導体レーザの
    ビームスポット径が,前記半導体レーザアレイのビーム
    スポット径より大きいことを特徴とするマルチビーム走
    査装置。
  5. 【請求項5】 マルチビームを出射するマルチビーム光
    源を有し,前記マルチビーム光源を光軸中心に回動させ
    て情報の記録密度を変化させるマルチビーム走査装置に
    おいて,前記マルチビーム光源を2つ設け,当該マルチ
    ビーム光源が,2個のレーザ発光源をアレイ状に配設し
    た半導体レーザアレイと各々の光ビームを平行光束とす
    るコリメートレンズとから構成され,一方のコリメート
    レンズの焦点距離が,他方のコリメートレンズの焦点距
    離と異なることを特徴とするマルチビーム走査装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載のマルチビーム走査装置
    において,前記一方のコリメートレンズの焦点距離が,
    他方のコリメートレンズの焦点距離の3倍であることを
    特徴とするマルチビーム走査装置。
JP06898296A 1996-01-18 1996-03-01 マルチビーム走査装置 Expired - Fee Related JP3520151B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06898296A JP3520151B2 (ja) 1996-03-01 1996-03-01 マルチビーム走査装置
US08/786,203 US5786594A (en) 1996-01-18 1997-01-21 Multi-beam pitch adjustment system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06898296A JP3520151B2 (ja) 1996-03-01 1996-03-01 マルチビーム走査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09236763A true JPH09236763A (ja) 1997-09-09
JP3520151B2 JP3520151B2 (ja) 2004-04-19

Family

ID=13389389

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06898296A Expired - Fee Related JP3520151B2 (ja) 1996-01-18 1996-03-01 マルチビーム走査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3520151B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6961077B2 (en) * 1999-11-30 2005-11-01 Ricoh Company, Ltd. Multibeam light source
WO2023143010A1 (zh) * 2022-01-26 2023-08-03 华为技术有限公司 激光扫描单元和激光打印机

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6961077B2 (en) * 1999-11-30 2005-11-01 Ricoh Company, Ltd. Multibeam light source
WO2023143010A1 (zh) * 2022-01-26 2023-08-03 华为技术有限公司 激光扫描单元和激光打印机

Also Published As

Publication number Publication date
JP3520151B2 (ja) 2004-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6181363B1 (en) Light-source device of a multi-beam scanning apparatus
JPH1184283A (ja) マルチビーム走査装置及び光源装置
JP2000105347A (ja) マルチビ―ム光源装置、マルチビ―ム走査装置および画像形成装置
US5295004A (en) Optical beam scanning apparatus
US6081364A (en) Laser light source for emitting a plurality of laser beams, method adjusting focusing of the laser light source, and scanning optical system
JPH0582905A (ja) 光源装置
US6961077B2 (en) Multibeam light source
JP3363218B2 (ja) 光ビーム走査装置
JP3520151B2 (ja) マルチビーム走査装置
JP3670858B2 (ja) マルチビーム光源装置
JPH1010447A (ja) 光走査装置
JPH10133135A (ja) 光ビーム偏向装置
JP2937700B2 (ja) 光源装置
JP4157647B2 (ja) マルチビーム走査装置及びその光源装置
JP3648388B2 (ja) マルチビーム走査装置およびその光源ユニット
JP2003315710A (ja) マルチビーム走査装置及び画像形成装置
JP2001042238A (ja) マルチビーム走査装置
JPS5878117A (ja) マルチビ−ム記録装置
JP4483456B2 (ja) 光記録装置
JP2001174731A (ja) マルチビーム光源装置及びマルチビーム走査装置
JP2001337283A (ja) レーザビーム走査装置
JP2006133790A (ja) マルチビーム光源装置
JPH0743627A (ja) 走査光学装置
JPH0926550A (ja) マルチビーム走査装置
JP3526375B2 (ja) 光スポット間隔検出方法・走査線ピッチ設定方法・光スポット間隔検出装置・走査線ピッチ設定装置およびマルチビーム走査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040202

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees