JPH09233235A - 画像評価方法及びこれを用いた画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像の細線部の再現性を簡単かつ正確に評価
し、更に、画像形成装置に適用して常に目標とする細線
再現が得られるようにする。 【解決手段】 評価用画像パターンとして３ビットライ
ン（on-off-on）またはそれ以上のオン−オフの繰り返
しによるｎビットライン画像Ｇを用い、画像支持体１上
に形成された画像Ｇを画像幅ｍよりも十分に細かいピッ
チｐの光ビームＢｍで画像幅ｍ方向に沿って走査し、各
走査点毎の光ビームＢｍ状態を測定することにより各走
査点毎の前記画像Ｇ表面位置を測定する画像表面測定工
程Ａと、この測定結果に基づいて前記画像Ｇの断面プロ
ファイルを描出する断面プロファイル描出工程Ｂと、描
出された画像Ｇの断面プロファイルから、最大高さ（Ｉ
max）、最小高さ（Ｉmin）、Ｍ（Modulation）＝（Ｉma
x−Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）を算出する画像評価演算
工程Ｃとを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粉体現像剤を使用
して可視像化された画像を評価する画像評価方法に係
り、特に、画像の細線部の再現性を評価する上で有効な
画像評価方法及びこれを用いた複写機、レーザプリン
タ、ファクシミリ、伝送装置等の画像形成装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】電子写真技術は、画像形成速度の迅速
性、乾式現像であること、記録密度が高いこと等の特徴
を生かし、現在普通紙複写機、レーザプリンタ、ファク
シミリ、伝送装置等の画像形成装置として実用化されて
いる。電子写真プロセスは、帯電、露光、現像、転写、
定着の基本過程により構成される。

【０００３】複写機、レーザプリンタ、ファクシミリ、
伝送装置等、粉体現像剤を使用して画像を形成する画像
形成装置においては、画像の細線部の再現性は重要な性
能の一つである。例えば、近年レーザビームプリンタ
は、パーソナルコンピュータ等の出力装置として広く使
用され、例えば３００ｄｐｉの印字密度のプリンタは価
格が安いため急速に普及しつつある。一方、プリンタの
エンジン部はより品位の高い印字を行うことを目的とし
て、印字密度の高密度化が図られ、６００ｄｐｉやそれ
以上の印字密度のプリンタが発売されている。このよう
に印字密度が高密度化してくると、画像の細線部の再現
性は画質の品位を上げるうえでさらに重要度が増してく
る。

【０００４】このために技術開発する側としては、画像
の細線部を正確に測定する必要がある。従来、細線の再
現を評価するためには、定着された画像部あるいは用紙
上の未定着画像をミクロ濃度計で走査することにより細
線のプロファイルを描き、その濃度や線幅あるいはモジ
ュレーションの測定値を得ていた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たミクロ濃度計を用いた方式にあっては、あくまで光学
的反射濃度による画像プロファイルが得られるのであっ
て、画像の立体的構造を高さ方向の距離あるいは線幅方
向の距離として測定しているわけではなかった。このよ
うな事態を解消する方式として、例えば触針式三次元測
定器にて定着された画像の高さ方向の測定をする方式が
知られているが、分解能の点で満足できるレベルではな
く、また、未定着画像については画像そのものを破壊す
る恐れがある分、そもそも測定不能であった。更に、他
の方式として非接触式のレーザ変位計を用いたものが考
えられるが、従来のレーザ変位計（例えば、株式会社キ
ーエンスのＬＣ−２１００）では、光を屈折するものや
光量を減衰させるものは測定誤差の原因になり易く、物
体色によっては測定不能のものがあり、特に黒色が測れ
ないことが多く、これでは黒色トナーによる画像のプロ
ファイルを正確に検出することができなかった。

【０００６】また、粉体現像剤を用いた画像形成装置に
あっては、一般に、出力画像の濃度が低いと線が細くな
り、細くなり過ぎるとかすれて読みにくくなる。一方、
画像濃度が高いと線が太くなり、太くなり過ぎると線が
つぶれて隣接する線どうしがくっついてしまい、それぞ
れの独立した線として識別することができなくなる。し
たがって、画像形成装置においては線の太さが適当にな
るように画像濃度を調整することが極めて重要である。
ところで、画像の細線部の再現性を評価するには、画像
形成装置とは別装置（オフライン）にて測定することが
当たり前であったので、感光体や現像剤の経時変化によ
る細線再現の劣化にすぐに対応して細線再現に効果のあ
るパラメータを調整したり、あるいは感光体や現像剤の
交換を行うことは困難であった。さらには画像形成装置
の内部、すなわち現像像、転写像の段階で細線再現性を
モニターする事例もない。

【０００７】ここで、特開昭６３−１５８５７３号公報
所載の「画像濃度調整装置」では、テストプリントの一
部に細線再現性評価パターンを設け、このパターンの検
知出力信号に基づき作像条件の一部を自動調整すること
により、適切な作像条件を維持し画像細線部の再現性が
常に良好に保持されるようにする、としている。しかし
ながら、この構成では評価パターンに黒ベタ状および網
点状のものを用い、それらのパターンと地肌の白部の濃
度をセンサで読み取っているだけである。しかも評価パ
ターンには細線のパターンを入れていないので、画像細
線部の再現性をどの程度良好に保つことができるのか疑
問である。

【０００８】また、特開平２−１４０７６４号公報所載
の「画像形成装置」では、トナー付着量を透過光量をも
とに評価することにより、調整される画像濃度を適正な
ものとし安定した濃度の画像が得られるようにする、と
している。しかしながら、この構成ではトナー付着量を
予測評価し、画像濃度を調整することまでで、細線再現
性を常に良好に保つようにすることはできない。

【０００９】このように先行技術では、細線再現性を良
好に保つことを目的としていても、画像形成装置の内部
に画像の細線部の検出手段を具備したものが無く、画像
形成装置の内部で実際の画像の細線部を測定して評価す
ることはできなかった。

【００１０】本発明は、以上の技術的課題を解決するた
めになされたものであって、画像の細線部の再現性を簡
単かつ正確に評価することができる画像評価方法、及
び、実際の画像の細線部を測定して評価し、細線再現を
左右する各種作像パラメータ（露光、現像、転写パラメ
ータ等）にフィードバックし、常に目標とする細線再現
が得られるようにした画像形成装置を提供する。

【００１１】

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係る
画像評価方法は、図１に示すように、粉体現像剤を使用
して可視像化された画像を評価する画像評価方法におい
て、評価用画像パターンとして３ビットライン（オン−
オフ−オン（on-off-on））またはそれ以上のオン−オ
フの繰り返しによるｎビットライン画像Ｇを用い、画像
支持体１上に形成された画像Ｇを画像幅ｍよりも十分に
細かいピッチｐの光ビームＢｍで画像幅ｍ方向に沿って
走査し、各走査点毎の光ビームＢｍ状態を測定すること
により各走査点毎の前記画像Ｇ表面位置を測定する画像
表面測定工程Ａと、この画像表面測定工程Ａによる測定
結果に基づいて前記画像Ｇの断面プロファイルを描出す
る断面プロファイル描出工程Ｂと、この断面プロファイ
ル描出工程Ｂにより描出された画像Ｇの断面プロファイ
ルから、最大高さ（Ｉmax）、最小高さ（Ｉmin）、Ｍ
（Modulation）＝（Ｉmax−Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）
を算出する画像評価演算工程Ｃとを備えたことを特徴と
する。

【００１２】このような画像評価方法において、画像Ｇ
の断面プロファイルの測定誤差を少なくするという観点
からすれば、画像表面測定工程Ａは画像幅ｍ方向に直角
な方向に沿って微小変位した複数回の走査を行ない、断
面プロファイル描出工程Ｂは画像表面測定工程Ａの複数
回の走査結果に基づいて画像Ｇの断面プロファイルを平
均化したものを描出するようにすればよい。

【００１３】更に、画像Ｇの断面プロファイルをより細
かく描出するという観点からすれば、画像表面測定工程
Ａは画像幅ｍ方向に直角な方向に沿って微小変位した複
数回の走査を行ない、断面プロファイル描出工程Ｂは画
像表面測定工程Ａの複数回の走査結果に基づいて夫々の
画像Ｇの断面プロファイルを描出するようにすればよ
い。

【００１４】また、前記画像評価方法を具現化する画像
評価装置は、図２に示すように、粉体現像剤を使用して
可視化された画像を評価する画像評価装置において、レ
ーザからの光ビームを対物レンズを通じて画像支持体１
上の画像Ｇにその画像幅ｍよりも十分に小さいスポット
径で照射させ、対物レンズを動かすことによって画像Ｇ
からの反射ビームをピンホールを介して受光素子に導く
ものであって、レーザビームがピンホールを通過する時
の対物レンズの位置を検出することにより画像Ｇまでの
距離を測定するレーザフォーカス変位計２と、このレー
ザフォーカス変位計２と画像支持体１との相対距離を一
定に保ちながら、レーザフォーカス変位計２若しくは画
像支持体１上の画像Ｇを画像幅ｍよりも十分細かいピッ
チｐで画像幅ｍ方向に沿って移動する可動ステージ３
と、この可動ステージ３の移動走査に伴うレーザフォー
カス変位計２の各走査点に対応する画像Ｇ表面位置に関
する測定結果に基づいて画像Ｇの断面プロファイルを描
出する断面プロファイル描出手段４と、この断面プロフ
ァイル描出手段４にて描出された画像Ｇの断面プロファ
イルから、最大高さ（Ｉmax）、最小高さ（Ｉmin）、Ｍ
（Modulation）＝（Ｉmax−Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）
を算出する画像評価演算手段５とを備えたものである。

【００１５】そして、このような画像評価装置を画像形
成装置に組込む場合には、図２に示すように、前記画像
評価装置の各構成要件２〜５に加えて、テストプリント
モード時にテストプリントの一部に画像再現性評価パタ
ーンＰＴとして、３ビットライン（オン−オフ−オン
（on-off-on））またはそれ以上のオン−オフの繰り返
しによるｎビットライン画像が生成される評価パターン
生成手段６と、この画像再現性評価パターンＰＴに対し
て画像評価装置を作動させ、その画像評価結果に基づい
て目標とする画像再現性が得られるように画像形成条件
を自動調整する画像形成条件調整手段７とを具備させる
ようにすればよい。

【００１６】ここで、評価パターン生成手段６にて生成
される画像再現性評価パターンＰＴとしては、感光体等
の像担持体（画像支持体１に相当）上の画像トナー像で
あってもよいし、転写工程後の転写媒体（画像支持体１
に相当）上の画像トナー像であってもよいし、あるい
は、定着工程後の転写媒体（画像支持体１に相当）上の
画像トナー像であってもよく、これらに対して、画像評
価装置を作動させ、前記画像トナー像の断面プロファイ
ルから最大高さ（Ｉmax）、最小高さ（Ｉmin）を求め、
更に、Ｍ（Modulation）＝（Ｉmax-Imin）／（Ｉmax+Im
in）を算出し、これらの数値に基づき、画像形成条件の
一部をそれぞれのプロセスに応じて自動調整して常に目
標とする細線再現性が得られるようにすればよい。

【００１７】上述したような技術的手段において、図２
に示す画像評価装置が組込まれた画像形成装置を形に挙
げて本発明の作用を説明する。同図において、評価パタ
ーン生成手段６がテストプリントモード時にテストプリ
ントの一部に画像再現性評価パターンＰＴとして、３ビ
ットライン（オン−オフ−オン（on-off-on））または
それ以上のオン−オフの繰り返しによるｎビットライン
画像Ｇを生成する。すると、画像形成条件調整手段７
は、画像再現性評価パターンＰＴに対して画像評価装置
を作動させる。

【００１８】すると、画像評価装置においては、先ず、
可動ステージ３は、レーザフォーカス変位計２と画像支
持体１との相対距離を一定に保ちながら、例えばレーザ
フォーカス変位計２を画像幅ｍよりも十分細かいピッチ
ｐ（例えば５０〜０．１μｍ）で画像幅ｍ方向に沿って
移動走査する（図１の画像表面測定工程Ａ）。このと
き、レーザフォーカス変位計２は、レーザからの光ビー
ムを対物レンズを通じて画像支持体１上の画像Ｇにその
画像幅ｍよりも十分に小さいスポット径で照射させ、対
物レンズを動かすことによって画像Ｇからの反射ビーム
をピンホールを介して受光素子に導くものであって、レ
ーザビームがピンホールを通過する時の対物レンズの位
置を検出することにより画像Ｇまでの距離を測定する。
すなわち、画像支持体１上の画像Ｇは、画像幅ｍよりも
十分に細かいピッチｐの光ビームＢｍで画像幅ｍ方向に
沿って走査され、各走査点毎の光ビームＢｍ状態により
各走査点毎の画像Ｇ表面位置が測定される。従って、従
来の画像高さを測定する一般的な方法である触針式三次
元測定器においては、十分な分解能が得られないが、本
発明にあっては走査ピッチｐの分解能が得られる。しか
も、非接触で測定できるので、従来測定ができなかった
崩れやすい画像（未定着画像など）が正確に測定され
る。

【００１９】更に、断面プロファイル描出手段４は、可
動ステージ３の移動走査に伴うレーザフォーカス変位計
２の各走査点に対応する画像Ｇ表面位置に関する測定結
果に基づいて画像Ｇの断面プロファイルを描出する（図
１の断面プロファイル描出工程Ｂ）。このとき、画像幅
ｍよりも十分に細かい走査ピッチｐ毎に測定値が得られ
るので、精度の高い断面プロファイルが描出される。

【００２０】この後、画像評価演算手段５は、前記断面
プロファイル描出手段４にて描出された画像Ｇの断面プ
ロファイルから、最大高さ（Ｉmax）、最小高さ（Ｉmi
n）、Ｍ（Modulation）＝（Ｉmax−Ｉmin）／（Ｉmax＋
Ｉmin）を算出する。すると、画像形成条件調整手段７
は、画像評価演算手段５からの画像評価結果に基づいて
目標とする画像再現性が得られるように画像形成条件を
自動調整する。このような自動調整機構は、従来の画像
濃度やトナー付着量の調整機構ではなく、画像支持体１
上の細線トナー像の断面プロファイル、特に３ビットラ
イン（オン−オフ−オン（on-off-on））またはそれ以
上のオン−オフの繰り返しによるｎビットライン画像の
高さ、モジュレーションの調整機構であるので、安定し
た細線再現が可能になり、画像形成装置の画質維持性が
向上する。

【００２１】ここで、画像再現性評価パターンＰＴとし
て、３ビットライン（オン−オフ−オン（on-off-o
n））またはそれ以上のオン−オフの繰り返しによるｎ
ビットライン画像Ｇが有効である点について補足する。
すなわち、孤立した１ビットラインの再現と３ビットラ
イン（on-off-on）の再現のなかの１ビットラインの再
現状態では、潜像の構造が異なる。同じ画像形成装置で
あっても、孤立した１ビットラインは目標通り再現され
るが、３ビットライン（on-off-on）の再現のなかの１
ビットラインは再現されない（隣接する線がくっついて
しまう）ということがよくあるので、３ビットライン
（on-off-on）またはそれ以上のオン−オフの繰り返し
によるｎビットラインのモジュレーションを測定するこ
との意味は大きい。明確に３ビットライン（on-off-o
n）が再現されている状態では、offの部分で粉体が全く
堆積していないことになるので、Ｉmin＝０であり、モ
ジュレーションＭ＝１となる。逆に、on-off-onのoffの
部分が再現されず、両側の線（on）と全く同じ高さの粉
体で埋まってしまう場合には、Ｉmax＝Ｉminであり、モ
ジュレーションＭ＝０となる。このように３ビットライ
ン（on-off-on）のモジュレーションを測定することで
画像の解像度を評価する指標になる。実際には測定する
画像の空間周波数（lines/mm）毎にモジュレーションの
値を測定し、モジュレーションの空間周波数特性により
画像の質を評価することになる。モジュレーションの測
定は心理量である鮮鋭度（像の輪郭の明瞭さと微細な像
の描写する能力を表わす量。ボケの程度。）を評価する
ときの一つの手段でもある。例えば、解像力が良いから
といって鮮鋭度が良いとは限らないのだが、この現象が
モジュレーションの空間周波数特性によって表現される
ことがある。

【００２２】また、粉体現像剤を使用して形成された画
像では、ミクロ的に観ればその観察位置によって画像形
状のバラツキが大きいが、例えば評価対象である被画像
部の断面プロファイルを近傍位置で複数求めて平均化し
たり、あるいは、複数の断面プロファイルから得られる
情報（高さ、モジュレーション）をそれぞれ平均化する
ようにすれば、被画像部のマクロ的な画像形状の測定値
が得られる。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、添付図面に示す実施の形態
に基づいてこの発明を詳細に説明する。 ◎実施の形態１ 図３は本発明が適用された画像評価装置の実施の一形態
を示す。同図において、符号２１はレーザフォーカス変
位計２０が組み込まれた測定ヘッド、２２はＸ方向及び
これに直交するＹ方向（図示せず）に移動するＸ−Ｙス
テージ、２３は被画像部を含む用紙を示す。なお、この
他に図に示していないものとして、Ｘ−Ｙステージ駆動
用のコントローラおよび画像処理用のパーソナルコンピ
ュータ（演算装置）が必要となる。

【００２４】また、本実施の形態で使用されるレーザフ
ォーカス変位計２０の原理を図４に示す。図４におい
て、３１は半導体レーザ、３２は受光素子、３３はピン
ホール、３４はアンプ、３５はハーフミラー、３６はコ
リメートレンズ、３７は対物レンズ、３８は音叉、３９
は音叉位置検出センサ、４０はアンプ、４１は基準距
離、４２は対物レンズ位置信号、４３は受光信号を示
す。ここで、半導体レーザ３１から出た光はハーフミラ
ー３５、対物レンズ３７を通り、対象物上で集光され
る。その集光された光は反射して再びハーフミラー３５
に戻り、直角方向に反射してピンホール３３の位置で一
点に集光され、ピンホール３３を通って受光素子３２に
たどり着き、受光信号４３となる。対象物までの距離が
変動すると、反射した光はピンホール３３の位置で集光
されないため受光信号４３として検知されない。したが
って、対物レンズ３７を音叉３８で機械的に動かし、レ
ーザ光がピンホール３３を通過する時のレンズの位置を
検出して対象物までの距離を測定する。この原理による
レーザフォーカス変位計２０は一般に市販されており、
例えば株式会社キーエンスのＬＴ−８０１０がこれにあ
たる。

【００２５】次に、本実施の形態に係る画像評価装置の
作動について説明する。まず、Ｘ−Ｙステージ２２上に
被画像部を含む用紙２３を密着させ、Ｘ−Ｙステージ２
２毎非画像部を横切る方向（Ｘ方向）に例えば０．１μ
ｍの走査ピッチで移動走査し、測定ヘッド２１（レーザ
フォーカス変位計２０）にて非画像部に対応した箇所に
至る距離を走査ピッチ毎に測定する。この測定ヘッド２
１にて測定される測定値は、例えば図５に示すように、
走査する距離に応じた高さ方向（Ｚ方向）の測定値であ
り、図示外の演算装置に取り込まれる。すると、前記演
算装置は、図５のグラフによる断面プロファイルから被
画像部の最大高さ（Ｉmax）、最小高さ（Ｉmin）、及
び、以下の演算式にてＭ（Modulation）を求める。 被画像部最大高さＩmax＝９．７μｍ 被画像部最小高さＩmin＝０．８μｍ Ｍ＝（Ｉmax−Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）＝０．８５

【００２６】◎実施の形態２ 図６は本発明が適用された画像評価装置を組み込んだ画
像形成装置としてのデジタル複写機のブロック図を示
す。同図において、５１はセンサとしてのレーザフォー
カス変位計、５２は感光体ドラム、５３は制御部（Ｔ／
Ｃ）、５４は例えばＣＣＤからなる画像読み取り素子、
５５はＡ／Ｄ変換部、５６は画像処理部（ＩＰＳ）、５
７はトーンリプロダクションコントローラ（ＴＲＣ）、
５８は画像書き込み用半導体レーザ（レーザダイオー
ド：Ｌ／Ｄ）、５９はＣＰＵを示す。本実施の形態にお
いて、画像処理部５６にはテストプリントパターンが記
憶されており、そのパターンの中には再現したい細線
（３ビットライン on-off-on）を含んでいる。デジタル
複写機の電源入力後に自動的にテストプリントを出力
し、半導体レーザ５８で感光体ドラム５２に書き込んだ
潜像を現像器６０で現像し、その現像像をレーザフォー
カス変位計５１で読み取る。

【００２７】このときの細線の断面プロファイルから最
大高さ、最小高さおよびモジュレーションを得る。ここ
では、断面プロファイルをＹ軸方向に微小距離ずらして
３回走査し、平均の値を得る。そして、予め、適正なＩ
max、モジュレーションの範囲を制御部５３に入力して
おき（例えばＩmax：５〜１０μｍ、モジュレーション
Ｍ：１〜０．８０）、これらのデータとの比較で適正範
囲を越えたときにＣＰＵ５９の指令で、Ｉmaxの場合
は、図７（ａ）に示すように、現像バイアスコントロー
ラ６１を変化させて、適正な高さになるような現像バイ
アス値（Ｖbias）にする。また、モジュレーションの場
合は、図７（ｂ）に示すように、トーンリプロダクショ
ンコントローラ５７を変化させ、モジュレーションが常
に一定に保たれるようにレーザダイオード５８の露光時
間を調節する。

【００２８】なお、本実施の形態では、感光体ドラム５
２上の現像像を測定しているが、同様に、用紙上の転写
像、定着像を測定して細線再現の安定化を図ることも可
能である。さらに、本実施の形態ではデジタル複写機を
用いているが、アナログ（ライトレンズ）複写機におい
ても、３ビットライン（on-off-on）を含むテストチャ
ート（ハードコピー）を用いることで本発明を適用する
ことは可能である。

【００２９】

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、３ビットライン（on-off-on）あるいはそれ以上の
オン−オフの繰り返しによるｎビットライン画像の表面
位置を細かい走査ピッチで測定し、その測定結果に基づ
いて画像の断面プロファイルを描出すると共に、その断
面プロファイルから、最大高さ、最小高さと同時にモジ
ュレーションをも算出できるようにしたので、３ビット
ライン以上の画像の断面プロファイルを正確に測定で
き、かつ、正確な断面プロファイルに基づくモジュレー
ションを得ることが可能になり、画像の細線部の再現性
について極めて正確に評価することができる。

【００３０】更に、画像形成装置に本発明が適用された
画像評価装置を内蔵させ、その評価結果に基づいて画像
形成条件を自動調整するようにすれば、常に安定した画
像の細線再現が可能となり、画像形成装置の画質維持性
を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明に係る画像評価方法を示す説明図であ
る。

【図２】 本発明に係る画像評価方法を用いた画像形成
装置を示す説明図である。

【図３】 実施の形態１に係る画像評価装置を示す説明
図である。

【図４】 実施の形態１で用いられるレーザフォーカス
変位計の原理を示す説明図である。

【図５】 実施の形態１における被画像部の断面プロフ
ァイルの測定例を示す説明図である。

【図６】 実施の形態２に係るデジタル複写機のブロッ
ク図である。

【図７】 （ａ）は実施の形態２における現像バイアス
とトナーパイルハイトとの関係を示すグラフ図、（ｂ）
は実施の形態２における半導体レーザの露光時間の階調
数と線幅との関係を示すグラフ図である。

【符号の説明】

１…画像支持体，２…レーザフォーカス変位計，３…可
動ステージ，４…断面プロファイル描出手段，５…画像
評価演算手段，６…評価パターン生成手段，７…画像形
成条件調整手段，Ａ…画像表面測定工程，Ｂ…断面プロ
ファイル描出工程，Ｃ…画像評価演算工程，Ｇ…３ビッ
トライン（on-off-on）以上の細線画像，ｍ…画像幅，
ｐ…走査ピッチ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粉体現像剤を使用して可視像化された画
   像を評価する画像評価方法において、 評価用画像パターンとして３ビットライン（オン−オフ
   −オン（on-off-on））またはそれ以上のオン−オフの
   繰り返しによるｎビットライン画像（Ｇ）を用い、画像
   支持体（１）上に形成された画像（Ｇ）を画像幅（ｍ）
   よりも十分に細かいピッチ（ｐ）の光ビーム（Ｂｍ）で
   画像幅（ｍ）方向に沿って走査し、各走査点毎の光ビー
   ム（Ｂｍ）状態を測定することにより各走査点毎の前記
   画像（Ｇ）表面位置を測定する画像表面測定工程（Ａ）
   と、 この画像表面測定工程（Ａ）による測定結果に基づいて
   前記画像（Ｇ）の断面プロファイルを描出する断面プロ
   ファイル描出工程（Ｂ）と、 この断面プロファイル描出工程（Ｂ）により描出された
   画像（Ｇ）の断面プロファイルから、最大高さ（Ｉma
   x）、最小高さ（Ｉmin）、Ｍ（Modulation）＝（Ｉmax
   −Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）を算出する画像評価演算
   工程（Ｃ）とを備えたことを特徴とする画像評価方法。
2. 【請求項２】粉体現像剤を使用して可視化された画像を
   評価する画像評価装置が組込まれた画像形成装置におい
   て、 前記画像評価装置は、レーザからの光ビームを対物レン
   ズを通じて画像支持体（１）上の画像（Ｇ）にその画像
   幅（ｍ）よりも十分に小さいスポット径で照射させ、対
   物レンズを動かすことによって画像（Ｇ）からの反射ビ
   ームをピンホールを介して受光素子に導くものであっ
   て、レーザビームがピンホールを通過する時の対物レン
   ズの位置を検出することにより画像（Ｇ）までの距離を
   測定するレーザフォーカス変位計（２）と、 このレーザフォーカス変位計（２）と画像支持体（１）
   との相対距離を一定に保ちながら、レーザフォーカス変
   位計（２）若しくは画像支持体（１）上の画像（Ｇ）を
   画像幅（ｍ）よりも十分細かいピッチ（ｐ）で画像幅
   （ｍ）方向に沿って移動する可動ステージ（３）と、 この可動ステージ（３）の移動走査に伴うレーザフォー
   カス変位計（２）の各走査点に対応する画像（Ｇ）表面
   位置に関する測定結果に基づいて画像（Ｇ）の断面プロ
   ファイルを描出する断面プロファイル描出手段（４）
   と、 この断面プロファイル描出手段（４）にて描出された画
   像（Ｇ）の断面プロファイルから、最大高さ（Ｉma
   x）、最小高さ（Ｉmin）、Ｍ（Modulation）＝（Ｉmax
   −Ｉmin）／（Ｉmax＋Ｉmin）を算出する画像評価演算
   手段（５）とを備え、 テストプリントモード時にテストプリントの一部に画像
   再現性評価パターン（ＰＴ）として、３ビットライン
   （オン−オフ−オン（on-off-on））またはそれ以上の
   オン−オフの繰り返しによるｎビットライン画像が生成
   される評価パターン生成手段（６）と、 この画像再現性評価パターン（ＰＴ）に対して画像評価
   装置を作動させ、その画像評価結果に基づいて目標とす
   る画像再現性が得られるように画像形成条件を自動調整
   する画像形成条件調整手段（７）とを備えたことを特徴
   とする画像形成装置。