JPH09222465A - Ｌｓｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置 - Google Patents
Ｌｓｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置Info
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- JPH09222465A JPH09222465A JP8053681A JP5368196A JPH09222465A JP H09222465 A JPH09222465 A JP H09222465A JP 8053681 A JP8053681 A JP 8053681A JP 5368196 A JP5368196 A JP 5368196A JP H09222465 A JPH09222465 A JP H09222465A
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- waveform
- test
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 測定項目に応じて、ＬＳＩテスト用のテスト
パターンのアドレスを簡単に指定できる装置を提供す
る。 【解決手段】 テストプログラムより、タイミング情
報、波形情報からなるタイミングセット情報を取り出
し、作成するタイミングセット情報作成部１１０と、テ
ストパターンが圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時
間にそったベタファイルを作成し、圧縮されていなけれ
ばそのままベタファイルとする処理を行うテストパター
ン処理部１２０と、テストパターンとベタファイルとの
パターンアドレスの対応表を作成するパターンアドレス
対応表作成部１３０と、作成したタイミングセット情報
ファイル、テストパターンのベタファイル、パターンア
ドレス対応表を基に、波形データベースを作成する波形
データベース作成部１４０と、テストパターンのパター
ンアドレスを示す波形表示部１５０とを備えている。
パターンのアドレスを簡単に指定できる装置を提供す
る。 【解決手段】 テストプログラムより、タイミング情
報、波形情報からなるタイミングセット情報を取り出
し、作成するタイミングセット情報作成部１１０と、テ
ストパターンが圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時
間にそったベタファイルを作成し、圧縮されていなけれ
ばそのままベタファイルとする処理を行うテストパター
ン処理部１２０と、テストパターンとベタファイルとの
パターンアドレスの対応表を作成するパターンアドレス
対応表作成部１３０と、作成したタイミングセット情報
ファイル、テストパターンのベタファイル、パターンア
ドレス対応表を基に、波形データベースを作成する波形
データベース作成部１４０と、テストパターンのパター
ンアドレスを示す波形表示部１５０とを備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，ＬＳＩテスタ上で、印
加値、期待値を表すパターンデータを多数記述したテス
トパターンから、ＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストを行
うために必要な、測定項目毎のパターンデータのアドレ
スを検索し、表示するパターンデータアドレス表示装置
に関する。
加値、期待値を表すパターンデータを多数記述したテス
トパターンから、ＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストを行
うために必要な、測定項目毎のパターンデータのアドレ
スを検索し、表示するパターンデータアドレス表示装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＬＳＩは、小型化、多機能化が求めら
れ、高密度化が年々進んでいるが、これに加え、処理の
高速化も益々求められている。このような状況のもと、
ＬＳＩの作製過程において、ＬＳＩが論理的に正常に機
能するか否か、ＤＣ特性、ＡＣ特性等を、ＬＳＩテスタ
を用いてテストし、その信頼性を確認している。ＬＳＩ
テスタは、ＬＳＩテスタ用の印加値、期待値パターンか
らなるパターンデータの組合せからなるテストパターン
を使用して、このテストパターンに対応した波形を、電
圧条件、ＤＣテスト条件、ピン条件、タイミング条件、
波形情報等の条件等を決めるＬＳＩテスタのテストプロ
グラムに基づき発生させ、これを作製されたＬＳＩに入
力し、対応するＬＳＩの出力を得て、出力が期待値通り
であるか否かを比較確認し、ＬＳＩの良否等を判断する
ものである。
れ、高密度化が年々進んでいるが、これに加え、処理の
高速化も益々求められている。このような状況のもと、
ＬＳＩの作製過程において、ＬＳＩが論理的に正常に機
能するか否か、ＤＣ特性、ＡＣ特性等を、ＬＳＩテスタ
を用いてテストし、その信頼性を確認している。ＬＳＩ
テスタは、ＬＳＩテスタ用の印加値、期待値パターンか
らなるパターンデータの組合せからなるテストパターン
を使用して、このテストパターンに対応した波形を、電
圧条件、ＤＣテスト条件、ピン条件、タイミング条件、
波形情報等の条件等を決めるＬＳＩテスタのテストプロ
グラムに基づき発生させ、これを作製されたＬＳＩに入
力し、対応するＬＳＩの出力を得て、出力が期待値通り
であるか否かを比較確認し、ＬＳＩの良否等を判断する
ものである。
【０００３】しかし、ＬＳＩテスタ用のテストパターン
の各パターンデータは、タイミング周期毎の信号の印加
値、期待値パターンを記述しており、テストパターンの
データは大容量となるため、ループ、サブルーチン等を
使用して、パターン圧縮を行っている。そして、ＤＣ特
性テスト、ＡＣ特性テストにおいては、測定するパター
ンデータのパターンアドレスを指定するために、測定項
目毎に適したパターンデータを捜す必要があるが、前述
のようにループ、サブルーチン等を使用して、パターン
圧縮を行っているため、その作業は煩雑なものとなって
いた。従来はこの作業を人手により、図３（ａ）に示す
ような、各パターンデータを印加値、期待値で、連続的
に示したテストパターンのハードコピーにて、該当する
アドレスを捜していた。
の各パターンデータは、タイミング周期毎の信号の印加
値、期待値パターンを記述しており、テストパターンの
データは大容量となるため、ループ、サブルーチン等を
使用して、パターン圧縮を行っている。そして、ＤＣ特
性テスト、ＡＣ特性テストにおいては、測定するパター
ンデータのパターンアドレスを指定するために、測定項
目毎に適したパターンデータを捜す必要があるが、前述
のようにループ、サブルーチン等を使用して、パターン
圧縮を行っているため、その作業は煩雑なものとなって
いた。従来はこの作業を人手により、図３（ａ）に示す
ような、各パターンデータを印加値、期待値で、連続的
に示したテストパターンのハードコピーにて、該当する
アドレスを捜していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストにおける、測定す
るパターンデータのパターンアドレスを指定する方法で
は、非常に煩雑な作業を強いられ、作業効率も悪く、不
正確であり、その対応が求められていた。本発明は、Ｄ
Ｃ特性テスト、ＡＣ特性テストにおける、各測定項目に
応じて、簡単にテストパターンのアドレスを指定できる
装置を提供しようとするものである。
来のＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストにおける、測定す
るパターンデータのパターンアドレスを指定する方法で
は、非常に煩雑な作業を強いられ、作業効率も悪く、不
正確であり、その対応が求められていた。本発明は、Ｄ
Ｃ特性テスト、ＡＣ特性テストにおける、各測定項目に
応じて、簡単にテストパターンのアドレスを指定できる
装置を提供しようとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のＬＳＩテスタ用
テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置
は、ＬＳＩテスタ用のテストパターンから、グラフィカ
ルに検索して指定した、印加値、期待値パターンからな
るパターンデータのパターンアドレスを求める装置であ
って、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書かれているテス
トプログラムより、タイミング情報、波形情報からなる
タイミングセット情報を取り出し、作成するタイミング
セット情報作成部と、テスタ対応のパターン、インスト
ラクションデータを参照にしてテストパターンが圧縮さ
れていれば圧縮を解除しテスト時間にそったベタファイ
ルを作成し、圧縮されていなければそのままベタファイ
ルとする処理を行うテストパターン処理部と、テストパ
ターンとベタファイルとの各パターンデータのアドレス
の対応表を作成するパターンアドレス対応表作成部と、
作成したタイミングセット情報ファイル、テストパター
ンのベタファイル、パターンアドレス対応表を基に、所
定の波形フオーマットデータを参照にして、波形データ
ベースを作成する波形データベース作成部と、波形デー
タベースをテスト時間にそって波形表示し、かつ、テス
トパターンのパターンデータのアドレスを示す波形表示
部とを備えたもので、該波形表示部に表示された波形を
選択的に指定することにより、指定された波形に対応す
るテストパターンのパターンデータのアドレスを表示に
より得ることを特徴とするものである。
テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置
は、ＬＳＩテスタ用のテストパターンから、グラフィカ
ルに検索して指定した、印加値、期待値パターンからな
るパターンデータのパターンアドレスを求める装置であ
って、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書かれているテス
トプログラムより、タイミング情報、波形情報からなる
タイミングセット情報を取り出し、作成するタイミング
セット情報作成部と、テスタ対応のパターン、インスト
ラクションデータを参照にしてテストパターンが圧縮さ
れていれば圧縮を解除しテスト時間にそったベタファイ
ルを作成し、圧縮されていなければそのままベタファイ
ルとする処理を行うテストパターン処理部と、テストパ
ターンとベタファイルとの各パターンデータのアドレス
の対応表を作成するパターンアドレス対応表作成部と、
作成したタイミングセット情報ファイル、テストパター
ンのベタファイル、パターンアドレス対応表を基に、所
定の波形フオーマットデータを参照にして、波形データ
ベースを作成する波形データベース作成部と、波形デー
タベースをテスト時間にそって波形表示し、かつ、テス
トパターンのパターンデータのアドレスを示す波形表示
部とを備えたもので、該波形表示部に表示された波形を
選択的に指定することにより、指定された波形に対応す
るテストパターンのパターンデータのアドレスを表示に
より得ることを特徴とするものである。
【０００６】尚、ここで、テストパターンとは、ＬＳＩ
テスタに用いられる一連のパターンデータからなるテス
トデータで、各パターンデータは、タイミング周期毎の
信号のＬＳＩの入力値（印加値）とこれに対応した出力
値（期待値）を処理順に所定の書式で記載したものであ
る。また、テストプログラムとは、テストパターンを用
いてＬＳＩテスタを動作させる条件等を記載したもので
あり、電圧条件、ＤＣテスト条件、ピン条件、タイミン
グ条件、波形情報等が、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で
所定の書式で書かれたものである。
テスタに用いられる一連のパターンデータからなるテス
トデータで、各パターンデータは、タイミング周期毎の
信号のＬＳＩの入力値（印加値）とこれに対応した出力
値（期待値）を処理順に所定の書式で記載したものであ
る。また、テストプログラムとは、テストパターンを用
いてＬＳＩテスタを動作させる条件等を記載したもので
あり、電圧条件、ＤＣテスト条件、ピン条件、タイミン
グ条件、波形情報等が、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で
所定の書式で書かれたものである。
【０００７】
【作用】本発明のＬＳＩテスタ用テストパターンのパタ
ーンデータアドレス検索表示装置は、このような構成に
することにより、特に、ＬＳＩテスタを用いたＬＳＩの
ＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストにおいて、各測定項目
に応じてたテストパターンのアドレスを、簡単にテスト
パターンから指定できる装置の提供を可能としている。
具体的には、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書かれてい
るテストプログラムより、タイミング情報、波形情報か
らなるタイミングセット情報を取り出し、作成するタイ
ミングセット情報作成部と、ＬＳＩテスタ対応のパター
ン、インストラクションデータを参照にしてテストパタ
ーンが圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時間にそっ
たベタファイルを作成し、圧縮されていなければそのま
まベタファイルとする処理を行うテストパターン処理部
と、テストパターンとベタファイルとの各パターンデー
タのアドレスの対応表を作成するパターンアドレス対応
表作成部と、作成したタイミングセット情報ファイル、
テストパターンのベタファイル、パターンアドレス対応
表を基に、所定の波形フオーマットデータを参照にし
て、波形データベースを作成する波形データベース作成
部と、波形データベースをテスト時間にそって波形表示
し、かつ、テストパターンのパターンデータのアドレス
を示す波形表示部とを備えたもので、該波形表示部に表
示された波形を選択的に指定することにより、指定され
た波形に対応するテストパターンのパターンデータのア
ドレスを表示により得ることによりこれを達成してい
る。
ーンデータアドレス検索表示装置は、このような構成に
することにより、特に、ＬＳＩテスタを用いたＬＳＩの
ＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テストにおいて、各測定項目
に応じてたテストパターンのアドレスを、簡単にテスト
パターンから指定できる装置の提供を可能としている。
具体的には、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書かれてい
るテストプログラムより、タイミング情報、波形情報か
らなるタイミングセット情報を取り出し、作成するタイ
ミングセット情報作成部と、ＬＳＩテスタ対応のパター
ン、インストラクションデータを参照にしてテストパタ
ーンが圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時間にそっ
たベタファイルを作成し、圧縮されていなければそのま
まベタファイルとする処理を行うテストパターン処理部
と、テストパターンとベタファイルとの各パターンデー
タのアドレスの対応表を作成するパターンアドレス対応
表作成部と、作成したタイミングセット情報ファイル、
テストパターンのベタファイル、パターンアドレス対応
表を基に、所定の波形フオーマットデータを参照にし
て、波形データベースを作成する波形データベース作成
部と、波形データベースをテスト時間にそって波形表示
し、かつ、テストパターンのパターンデータのアドレス
を示す波形表示部とを備えたもので、該波形表示部に表
示された波形を選択的に指定することにより、指定され
た波形に対応するテストパターンのパターンデータのア
ドレスを表示により得ることによりこれを達成してい
る。
【０００８】詳しくは、ＤＣ特性テスト、ＡＣ特性テス
ト等を行うテストパターンデータをＧＵＩ（Ｇｒａｐｈ
ｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）を使用する
ことにより、簡単に検索できるものとしている。表示部
を観ながら検索されたパターンデータに対応したテスト
パターンのアドレスが分かる。圧縮されたデータをもつ
テストパターンについても所望のパターンデータのアド
レスを簡単に得ることができる為、ＬＳＩテスタにて、
圧縮されたテストパターンをそのまま用いて、ＬＳＩテ
ストを行うことができ、ＬＳＩテスタのバッファメモリ
を有効的に利用でき、ＬＳＩテストの高速化を可能とし
ている。
ト等を行うテストパターンデータをＧＵＩ（Ｇｒａｐｈ
ｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）を使用する
ことにより、簡単に検索できるものとしている。表示部
を観ながら検索されたパターンデータに対応したテスト
パターンのアドレスが分かる。圧縮されたデータをもつ
テストパターンについても所望のパターンデータのアド
レスを簡単に得ることができる為、ＬＳＩテスタにて、
圧縮されたテストパターンをそのまま用いて、ＬＳＩテ
ストを行うことができ、ＬＳＩテスタのバッファメモリ
を有効的に利用でき、ＬＳＩテストの高速化を可能とし
ている。
【０００９】
【実施例】本発明のＬＳＩテスタ用テストパターンのパ
ターンデータアドレス検索表示装置の実施例を図にもと
づいて説明する。図１は実施例のＬＳＩテスタ用テスト
パターンのパターンデータアドレス検索表示装置の機能
構成を示した概略図で、図２は、図１に示す装置の処理
のフロー図である。図１、図２中、１００はＬＳＩテス
タ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示
装置、１１０はタイミングセット情報作成部、１１１は
テストプログラム、１１２はタイミングセット情報ファ
イル、１２０はテストパターン処理部、１２１はテスト
パターン、１２２はテストパターンのベタファイル、１
３０はパターンアドレス対応表作成部、１３１はパター
ンアドレス対応表、１４０は波形データベース作成部、
１４１は波形データベース、１５０は波形表示部であ
る。本実施例のＬＳＩテスタ用テストパターンのパター
ンデータアドレス検索表示装置は、ＬＳＩテスタ用のテ
ストパターンから生成された波形を観て、測定項目に合
った波形を指定し、該所定測定項目に合った波形に対応
するパターンデータのアドレスを求める装置である。そ
して、本実施例の装置は、図１に示すように、ＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれているテストプログラムよ
り、波形表示の際のタイミングセットの基になるタイミ
ング情報、波形情報を、テスタ特有の記述言語を持った
データを参照して、取り出し、作成するタイミングセッ
ト情報作成部１１０と、ＬＳＩテスタ対応のパターン、
インストラクションデータを参照にしてテストパターン
が圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時間にそったベ
タファイルを作成し、圧縮されていなければそのままベ
タファイルとするテストパターン処理部１２０と、テス
トパターンとベタファイルとのパターンアドレスの対応
表を作成するパターンアドレス対応表作成部１３０と、
作成したタイミングセット情報ファイル、テストパター
ンのベタファイル、パターンアドレス対応表を基に、波
形フオーマットデータを参照にして、波形データベース
を作成する波形データベース作成部１４０と、波形デー
タベースをテスト時間にそって波形表示し、かつ、対応
するテストパターンのアドレスを示す波形表示部１５０
とを備えている。即ち、本実施例の装置は、波形表示に
用いるベタファイルと、ＬＳＩテストに用いるテストパ
ターンのファイルのアドレスの対応を、予めとってお
き、ベタファイルに対応する波形をファイルのアドレス
順に波形表示部１５０に表示していき、且つ、同時にこ
れに対応するテストパターンのパターンデータのアドレ
スを画面上に表示していくものである。
ターンデータアドレス検索表示装置の実施例を図にもと
づいて説明する。図１は実施例のＬＳＩテスタ用テスト
パターンのパターンデータアドレス検索表示装置の機能
構成を示した概略図で、図２は、図１に示す装置の処理
のフロー図である。図１、図２中、１００はＬＳＩテス
タ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示
装置、１１０はタイミングセット情報作成部、１１１は
テストプログラム、１１２はタイミングセット情報ファ
イル、１２０はテストパターン処理部、１２１はテスト
パターン、１２２はテストパターンのベタファイル、１
３０はパターンアドレス対応表作成部、１３１はパター
ンアドレス対応表、１４０は波形データベース作成部、
１４１は波形データベース、１５０は波形表示部であ
る。本実施例のＬＳＩテスタ用テストパターンのパター
ンデータアドレス検索表示装置は、ＬＳＩテスタ用のテ
ストパターンから生成された波形を観て、測定項目に合
った波形を指定し、該所定測定項目に合った波形に対応
するパターンデータのアドレスを求める装置である。そ
して、本実施例の装置は、図１に示すように、ＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれているテストプログラムよ
り、波形表示の際のタイミングセットの基になるタイミ
ング情報、波形情報を、テスタ特有の記述言語を持った
データを参照して、取り出し、作成するタイミングセッ
ト情報作成部１１０と、ＬＳＩテスタ対応のパターン、
インストラクションデータを参照にしてテストパターン
が圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時間にそったベ
タファイルを作成し、圧縮されていなければそのままベ
タファイルとするテストパターン処理部１２０と、テス
トパターンとベタファイルとのパターンアドレスの対応
表を作成するパターンアドレス対応表作成部１３０と、
作成したタイミングセット情報ファイル、テストパター
ンのベタファイル、パターンアドレス対応表を基に、波
形フオーマットデータを参照にして、波形データベース
を作成する波形データベース作成部１４０と、波形デー
タベースをテスト時間にそって波形表示し、かつ、対応
するテストパターンのアドレスを示す波形表示部１５０
とを備えている。即ち、本実施例の装置は、波形表示に
用いるベタファイルと、ＬＳＩテストに用いるテストパ
ターンのファイルのアドレスの対応を、予めとってお
き、ベタファイルに対応する波形をファイルのアドレス
順に波形表示部１５０に表示していき、且つ、同時にこ
れに対応するテストパターンのパターンデータのアドレ
スを画面上に表示していくものである。
【００１０】以下、本実施例のＬＳＩテスタ用テストパ
ターンのパターンデータアドレス検索表示装置１００の
処理動作を、図２を基に具体例に説明する。先ず、テス
トパターン１２１（図２（ａ））について、圧縮された
パターンデータがある場合には、パターンインストラク
ションデータを参照にしながら、圧縮を解除し、圧縮さ
れたパターンデータを持たないベタファイル１２２を作
成する処理を行う（図２（ｂ））。同時に、この処理の
前後でのパターンアドレス対応させた、パターンアドレ
ス対応表１３１を作成しておく。また、テストパターン
が圧縮されたパターンデータを持たない場合には、これ
をそのままベタファイル１２２とし、同時にテストパタ
ーンのパターンアドレスをそのままベタファイル１２２
のアドレスとして、パターンアドレス対応表１３１を作
成しておく。一方、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書か
れているテストプログラム１１１から、記述言語データ
を参照にしながら、タイミング情報、波形波形情報から
なるタイミングセット情報１１２を取り出し、作成して
おく。（図２（ｃ）） この後、タイミングセット情報１１２、テストパターン
のベタファイル１２２、パターンアドレス対応表１３１
を基に、波形フオーマットデータを参照にしながら、波
形データベース１４１を作成する。（図２（ｄ）） 次いで、作成された波形データベース１４１を用い、波
形表示部にこれを順次表示しする。（図２（ｅ）） そして、表示された波形を観ながら、所定のものを選択
し、選択された波形に対応するパターンデータを表示よ
り得る。（図２（ｆ））
ターンのパターンデータアドレス検索表示装置１００の
処理動作を、図２を基に具体例に説明する。先ず、テス
トパターン１２１（図２（ａ））について、圧縮された
パターンデータがある場合には、パターンインストラク
ションデータを参照にしながら、圧縮を解除し、圧縮さ
れたパターンデータを持たないベタファイル１２２を作
成する処理を行う（図２（ｂ））。同時に、この処理の
前後でのパターンアドレス対応させた、パターンアドレ
ス対応表１３１を作成しておく。また、テストパターン
が圧縮されたパターンデータを持たない場合には、これ
をそのままベタファイル１２２とし、同時にテストパタ
ーンのパターンアドレスをそのままベタファイル１２２
のアドレスとして、パターンアドレス対応表１３１を作
成しておく。一方、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書か
れているテストプログラム１１１から、記述言語データ
を参照にしながら、タイミング情報、波形波形情報から
なるタイミングセット情報１１２を取り出し、作成して
おく。（図２（ｃ）） この後、タイミングセット情報１１２、テストパターン
のベタファイル１２２、パターンアドレス対応表１３１
を基に、波形フオーマットデータを参照にしながら、波
形データベース１４１を作成する。（図２（ｄ）） 次いで、作成された波形データベース１４１を用い、波
形表示部にこれを順次表示しする。（図２（ｅ）） そして、表示された波形を観ながら、所定のものを選択
し、選択された波形に対応するパターンデータを表示よ
り得る。（図２（ｆ））
【００１１】尚、本実施例のＬＳＩテスタ用テストパタ
ーンのパターンデータアドレス検索表示装置において
は、その目的が波形表示されたパターンデータのテスト
パターンにおけるアドレスを知ることである為、テスト
プログラムからは、電圧情報等を得る必要はなく、タイ
ミングセット情報のみを抽出し、波形データベースを作
成する際に用いるのである。
ーンのパターンデータアドレス検索表示装置において
は、その目的が波形表示されたパターンデータのテスト
パターンにおけるアドレスを知ることである為、テスト
プログラムからは、電圧情報等を得る必要はなく、タイ
ミングセット情報のみを抽出し、波形データベースを作
成する際に用いるのである。
【００１２】また、本実施例のＬＳＩテスタ用テストパ
ターンのパターンデータアドレス検索表示装置において
は、このようにして、ＬＳＩテスタにて用いる圧縮され
たパターンデータを持つテストパターンのパターンデー
タのアドレスを、測定項目に従い容易に決定することが
できる為、圧縮されたパターンデータを持つテストパタ
ーンについても、ＬＳＩテストにおいて、テストパター
ンデータを圧縮した状態のままで使用することを可能と
しており、ＬＳＩテストにおいて、ＬＳＩテスタのバッ
ファメモリを有効的に利用でき高速化を可能としてい
る。
ターンのパターンデータアドレス検索表示装置において
は、このようにして、ＬＳＩテスタにて用いる圧縮され
たパターンデータを持つテストパターンのパターンデー
タのアドレスを、測定項目に従い容易に決定することが
できる為、圧縮されたパターンデータを持つテストパタ
ーンについても、ＬＳＩテストにおいて、テストパター
ンデータを圧縮した状態のままで使用することを可能と
しており、ＬＳＩテストにおいて、ＬＳＩテスタのバッ
ファメモリを有効的に利用でき高速化を可能としてい
る。
【００１３】次に、テストパターンデータの圧縮につい
て、図３を用いて簡単に説明しておく。図３（ａ）は圧
縮されたテストパターンデータのハードコピーである
が、ＬＳＩテスタに用いられた場合には、基本的に、上
の行から下の行へと順次テストが行われる。図３の３１
０のＮＯＰ、ＩＤＸＩ、ＪＳＲはそれぞれ命令を意味し
ており、ＮＯＰは、その行をそのまま実行し、次の行へ
進むことを意味し、ＩＤＸＩは、その行を実行した後、
続けて更に３回その行を実行することを意味し、ＪＳＲ
Ａは、その行を実行した後に、続いてサブルーチンＡ
の各行を実行することを意味している。即ち、ＩＤＸＩ
はループ命令、ＪＳＲはサブルーチンへのジャンプ命令
を意味している。また、図３（ａ）の３２１は、入力側
の印加値で、ここでは、入力側４ピンの信号値を表して
おり、１はＨ（Ｈｉｇｈ Ｌｅｖｅｌ）、０はＬ（Ｌｏ
ｗ Ｌｅｖｅｌ）を意味している。また３２２は出力側
の期待値で、ここでは、出力側３ピンの信号値を表して
おり、Ｘは不定、ＬはＬｏｗ Ｌｅｖｅｌ、ＨはＨｉｇ
ｈＬｅｖｅｌを意味している。そして、入力側の印加値
３２１と出力側の期待値３２２とを併せたものがパター
ンデータ３２０である。また、３３０はアドレス（番
地）である。例えば、１行目の１００１ＸＸＸは、入力
側４ピンの信号値がそれぞれＨ、Ｌ、Ｌ、Ｈであること
を意味しており、ＸＸＸは、出力側３ピンの信号値がそ
れぞれ不定であることを意味している。したがって、図
３（ａ）に示される、テストパターンデータをＩＤＸＩ
命令、ＪＳＲ命令の無い状態で表現すると、図３（ｂ）
のようになる。図３（ｂ）に、比べ図３（ａ）の方が一
般には、行数が少なくなるため、図３（ａ）に示すテス
トパターンデータを圧縮されたデータと言う。図３
（ｂ）のような圧縮されたパターンデータを持たないデ
ータをベタデータと言う。ここでは、ベタデータからな
るデータファイルをベタファイルと言っている。そし
て、圧縮されたデータを持つ図３（ａ）に示すテストパ
ターンデータと、ベタデータである図３（ｂ）に示すテ
ストパターンデータとの、各パターンデータのアドレス
の対応表は図４に示すようになる。
て、図３を用いて簡単に説明しておく。図３（ａ）は圧
縮されたテストパターンデータのハードコピーである
が、ＬＳＩテスタに用いられた場合には、基本的に、上
の行から下の行へと順次テストが行われる。図３の３１
０のＮＯＰ、ＩＤＸＩ、ＪＳＲはそれぞれ命令を意味し
ており、ＮＯＰは、その行をそのまま実行し、次の行へ
進むことを意味し、ＩＤＸＩは、その行を実行した後、
続けて更に３回その行を実行することを意味し、ＪＳＲ
Ａは、その行を実行した後に、続いてサブルーチンＡ
の各行を実行することを意味している。即ち、ＩＤＸＩ
はループ命令、ＪＳＲはサブルーチンへのジャンプ命令
を意味している。また、図３（ａ）の３２１は、入力側
の印加値で、ここでは、入力側４ピンの信号値を表して
おり、１はＨ（Ｈｉｇｈ Ｌｅｖｅｌ）、０はＬ（Ｌｏ
ｗ Ｌｅｖｅｌ）を意味している。また３２２は出力側
の期待値で、ここでは、出力側３ピンの信号値を表して
おり、Ｘは不定、ＬはＬｏｗ Ｌｅｖｅｌ、ＨはＨｉｇ
ｈＬｅｖｅｌを意味している。そして、入力側の印加値
３２１と出力側の期待値３２２とを併せたものがパター
ンデータ３２０である。また、３３０はアドレス（番
地）である。例えば、１行目の１００１ＸＸＸは、入力
側４ピンの信号値がそれぞれＨ、Ｌ、Ｌ、Ｈであること
を意味しており、ＸＸＸは、出力側３ピンの信号値がそ
れぞれ不定であることを意味している。したがって、図
３（ａ）に示される、テストパターンデータをＩＤＸＩ
命令、ＪＳＲ命令の無い状態で表現すると、図３（ｂ）
のようになる。図３（ｂ）に、比べ図３（ａ）の方が一
般には、行数が少なくなるため、図３（ａ）に示すテス
トパターンデータを圧縮されたデータと言う。図３
（ｂ）のような圧縮されたパターンデータを持たないデ
ータをベタデータと言う。ここでは、ベタデータからな
るデータファイルをベタファイルと言っている。そし
て、圧縮されたデータを持つ図３（ａ）に示すテストパ
ターンデータと、ベタデータである図３（ｂ）に示すテ
ストパターンデータとの、各パターンデータのアドレス
の対応表は図４に示すようになる。
【００１４】また、テストプログラムとタイミング情報
の取り出しについても、図５を用いて簡単に説明してお
く。パターンデータを用い、ＬＳＩテスタを動かすプロ
グラムは、図５に示すように、電圧条件、ＤＣテスト条
件、ピン条件、タイミング条件、波形情報等がＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれている。しかし、本発明の
ＬＳＩテスタ用テストパターンのパターンデータアドレ
ス検索表示装置においては、ＬＳＩのＤＣ特性テスト、
ＡＣ特性テストを行う際の各測定項目に応じたテストパ
ターンのアドレスを得ることができれば良いのであるか
ら、周期、立ち上がり、立ち下がりのタイミング条件、
波形モード等の波形情報が得られれば、テストパターン
と併せ、波形を再現できる為、図５（ｂ）に示すタイミ
ング条件、波形情報を、図５（ａ）に示すテストプログ
ラムから抽出する。尚、テストプログラムは、ＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれているので、抽出は、ＬＳ
Ｉテスタの記述言語データを参照にして行う。
の取り出しについても、図５を用いて簡単に説明してお
く。パターンデータを用い、ＬＳＩテスタを動かすプロ
グラムは、図５に示すように、電圧条件、ＤＣテスト条
件、ピン条件、タイミング条件、波形情報等がＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれている。しかし、本発明の
ＬＳＩテスタ用テストパターンのパターンデータアドレ
ス検索表示装置においては、ＬＳＩのＤＣ特性テスト、
ＡＣ特性テストを行う際の各測定項目に応じたテストパ
ターンのアドレスを得ることができれば良いのであるか
ら、周期、立ち上がり、立ち下がりのタイミング条件、
波形モード等の波形情報が得られれば、テストパターン
と併せ、波形を再現できる為、図５（ｂ）に示すタイミ
ング条件、波形情報を、図５（ａ）に示すテストプログ
ラムから抽出する。尚、テストプログラムは、ＬＳＩテ
スタ特有の記述言語で書かれているので、抽出は、ＬＳ
Ｉテスタの記述言語データを参照にして行う。
【００１５】図３（ａ）に示す圧縮データのテストパタ
ーンを用いた波形表示は、例えば図６に示すようにな
る。図６において、Ａ１、Ａ２、Ｂ１、Ｂ２は入力ピン
を示し、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３は出力ピンを示し、６１０は
波形、６２０はアドレスである。このような波形表示を
観ながら、例えば、の箇所を測定項目にあった箇所と
して指定した場合、図６上のアドレス表示６２０より、
テストパターンにおけるアドレスは２番地であることが
分かる。
ーンを用いた波形表示は、例えば図６に示すようにな
る。図６において、Ａ１、Ａ２、Ｂ１、Ｂ２は入力ピン
を示し、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３は出力ピンを示し、６１０は
波形、６２０はアドレスである。このような波形表示を
観ながら、例えば、の箇所を測定項目にあった箇所と
して指定した場合、図６上のアドレス表示６２０より、
テストパターンにおけるアドレスは２番地であることが
分かる。
【００１６】
【発明の効果】本発明のＬＳＩテスタ用テストパターン
のパターンデータアドレス検索表示装置は、上記のよう
に、ＬＳＩテスタを用いてＬＳＩのＤＣ特性テスト、Ａ
Ｃ特性テストを行う際、各測定項目に応じたテストパタ
ーンのアドレスを、簡単にテストパターンから指定でき
る装置の提供を可能としている。そして、本発明のＬＳ
Ｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検
索表示装置は、テストパターンを圧縮した状態で使用す
ることができ、この結果、ＬＳＩテストにおいて、パタ
ーンデータを圧縮した状態のままで使用することが可能
で、ＬＳＩテスタのバッファメモリを有効的に利用でき
テストの高速化を可能としている。
のパターンデータアドレス検索表示装置は、上記のよう
に、ＬＳＩテスタを用いてＬＳＩのＤＣ特性テスト、Ａ
Ｃ特性テストを行う際、各測定項目に応じたテストパタ
ーンのアドレスを、簡単にテストパターンから指定でき
る装置の提供を可能としている。そして、本発明のＬＳ
Ｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検
索表示装置は、テストパターンを圧縮した状態で使用す
ることができ、この結果、ＬＳＩテストにおいて、パタ
ーンデータを圧縮した状態のままで使用することが可能
で、ＬＳＩテスタのバッファメモリを有効的に利用でき
テストの高速化を可能としている。
【図１】実施例のＬＳＩテスタ用テストパターンのパタ
ーンデータアドレス検索表示装置の機能構成を示した図
ーンデータアドレス検索表示装置の機能構成を示した図
【図２】実施例のＬＳＩテスタ用テストパターンのパタ
ーンデータアドレス検索表示装置の処理を説明するため
のフロー図
ーンデータアドレス検索表示装置の処理を説明するため
のフロー図
【図３】パターンデータの圧縮を説明するための図
【図４】パターンアドレス対応表
【図５】テストプログラムからタイミング情報セットの
取り出しを説明するための図
取り出しを説明するための図
【図６】波形データの表示を説明するための図
１００ ＬＳＩテスタ用テストパターンの
パターンデータアドレス検索表示装置 １１０ タイミングセット情報作成部 １１１ テストプログラム １１２ タイミングセット情報ファイル １２０ テストパターン処理部 １２１ テストパターン １２２ テストパターンのベタファイル １３０ パターンアドレス対応表作成部 １３１ パターンアドレス対応表 １４０ 波形データベース構築部 １４１ 波形データベース １５０ 波形表示部 ３１０ 命令 ３２０ パターンデータ ３２１ 入力側の印加値 ３２２ 出力側の期待値 ３３０ アドレス ６１０ 波形 ６２０ アドレス Ａ１、Ａ２、Ｂ１、Ｂ２ 入力ピン Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３ 出力ピン
パターンデータアドレス検索表示装置 １１０ タイミングセット情報作成部 １１１ テストプログラム １１２ タイミングセット情報ファイル １２０ テストパターン処理部 １２１ テストパターン １２２ テストパターンのベタファイル １３０ パターンアドレス対応表作成部 １３１ パターンアドレス対応表 １４０ 波形データベース構築部 １４１ 波形データベース １５０ 波形表示部 ３１０ 命令 ３２０ パターンデータ ３２１ 入力側の印加値 ３２２ 出力側の期待値 ３３０ アドレス ６１０ 波形 ６２０ アドレス Ａ１、Ａ２、Ｂ１、Ｂ２ 入力ピン Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３ 出力ピン
Claims (1)
- 【請求項１】 ＬＳＩテスタ用のテストパターンから、
グラフィカルに検索して指定した、印加値、期待値パタ
ーンからなるパターンデータのパターンアドレスを求め
る装置であって、ＬＳＩテスタ特有の記述言語で書かれ
ているテストプログラムより、タイミング情報、波形情
報からなるタイミングセット情報を取り出し、作成する
タイミングセット情報作成部と、テスタ対応のパター
ン、インストラクションデータを参照にしてテストパタ
ーンが圧縮されていれば圧縮を解除しテスト時間にそっ
たベタファイルを作成し、圧縮されていなければそのま
まベタファイルとする処理を行うテストパターン処理部
と、テストパターンとベタファイルとの各パターンデー
タのアドレスの対応表を作成するパターンアドレス対応
表作成部と、作成したタイミングセット情報ファイル、
テストパターンのベタファイル、パターンアドレス対応
表を基に、所定の波形フオーマットデータを参照にし
て、波形データベースを作成する波形データベース作成
部と、波形データベースをテスト時間にそって波形表示
し、かつ、テストパターンのパターンデータのアドレス
を示す波形表示部とを備えたもので、該波形表示部に表
示された波形を選択的に指定することにより、指定され
た波形に対応するテストパターンのパターンデータのア
ドレスを表示により得ることを特徴とするＬＳＩテスタ
用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8053681A JPH09222465A (ja) | 1996-02-19 | 1996-02-19 | Ｌｓｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8053681A JPH09222465A (ja) | 1996-02-19 | 1996-02-19 | Ｌｓｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09222465A true JPH09222465A (ja) | 1997-08-26 |
Family
ID=12949570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8053681A Withdrawn JPH09222465A (ja) | 1996-02-19 | 1996-02-19 | Ｌｓｉテスタ用テストパターンのパターンデータアドレス検索表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09222465A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006077685A1 (ja) * | 2005-01-19 | 2006-07-27 | Advantest Corporation | 試験装置及び試験方法 |
-
1996
- 1996-02-19 JP JP8053681A patent/JPH09222465A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006077685A1 (ja) * | 2005-01-19 | 2006-07-27 | Advantest Corporation | 試験装置及び試験方法 |
| US7213182B2 (en) | 2005-01-19 | 2007-05-01 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
| KR101160358B1 (ko) * | 2005-01-19 | 2012-06-26 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치 및 시험 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030506 |