JPH09195042A - マグネトロン型スパッタリング装置 - Google Patents
マグネトロン型スパッタリング装置Info
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- JPH09195042A JPH09195042A JP250296A JP250296A JPH09195042A JP H09195042 A JPH09195042 A JP H09195042A JP 250296 A JP250296 A JP 250296A JP 250296 A JP250296 A JP 250296A JP H09195042 A JPH09195042 A JP H09195042A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ターゲットの使用効率の大幅な向上を図ると
ともに、アーク放電の発生を抑制する。 【解決手段】 ターゲット13と対向して回転式のマグ
ネット14が配置されて、ターゲット13の表面に磁界
を発生させるマグネトロン型スパッタリング装置であ
る。この回転式マグネットは、センターホール15を中
心とする内径側に複数配される矩形状のマグネット16
と、この矩形状のマグネット13を囲むように配され厚
み方向に磁極を発生させる長尺状の積層マグネット21
とからなる。そして、この長尺状の積層マグネット21
が閉じられる両端突き合わせ部近傍にマグネット22が
介在されてなる。
ともに、アーク放電の発生を抑制する。 【解決手段】 ターゲット13と対向して回転式のマグ
ネット14が配置されて、ターゲット13の表面に磁界
を発生させるマグネトロン型スパッタリング装置であ
る。この回転式マグネットは、センターホール15を中
心とする内径側に複数配される矩形状のマグネット16
と、この矩形状のマグネット13を囲むように配され厚
み方向に磁極を発生させる長尺状の積層マグネット21
とからなる。そして、この長尺状の積層マグネット21
が閉じられる両端突き合わせ部近傍にマグネット22が
介在されてなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気ディスク等
のディスク状光学記録媒体の製造装置の技術分野に属
し、特に、ターゲットと対向して回転式のマグネットが
配置されて、ターゲットの表面に磁界を発生させるマグ
ネトロン型スパッタリング装置に関する。
のディスク状光学記録媒体の製造装置の技術分野に属
し、特に、ターゲットと対向して回転式のマグネットが
配置されて、ターゲットの表面に磁界を発生させるマグ
ネトロン型スパッタリング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、スパッタリング法による薄膜形成
技術により、ディスク状の基板に薄膜を形成することが
できるマグネトロン型スパッタリング装置が開発されて
いる。このマグネトロン型スパッタリング装置によれ
ば、光ディスク、光磁気ディスク等のようなディスク状
光学記録媒体の磁性薄膜が成膜されるが、その主要な構
成は、真空室内に、電源に接続されカソード電極として
の機能を有するバッキングプレートと、このバッキング
プレート上に接着されるターゲットと、このターゲット
と対向するように配置されるマグネットとからなってい
る。そして、ターゲットの下部のマグネットは、成膜速
度を向上させるために配されるもので、これによってタ
ーゲットの表面に漏洩磁界が発生する。
技術により、ディスク状の基板に薄膜を形成することが
できるマグネトロン型スパッタリング装置が開発されて
いる。このマグネトロン型スパッタリング装置によれ
ば、光ディスク、光磁気ディスク等のようなディスク状
光学記録媒体の磁性薄膜が成膜されるが、その主要な構
成は、真空室内に、電源に接続されカソード電極として
の機能を有するバッキングプレートと、このバッキング
プレート上に接着されるターゲットと、このターゲット
と対向するように配置されるマグネットとからなってい
る。そして、ターゲットの下部のマグネットは、成膜速
度を向上させるために配されるもので、これによってタ
ーゲットの表面に漏洩磁界が発生する。
【0003】ここで、このマグネットとしては、円形の
マグネットを用いるものと、角型のマグネットを用いる
ものとがあるが、このうちの円形のマグネットとして
は、図5に示すように、円形状の載置板102に載置さ
れ、その中央に形成されるセンターホール103を中心
にマグネット101が配されている。なお、センターホ
ール103は、図示しない駆動部に連動して回転するシ
ャフトが嵌合されるものであり、これにより、円形状の
載置板102が回転するようになされている。
マグネットを用いるものと、角型のマグネットを用いる
ものとがあるが、このうちの円形のマグネットとして
は、図5に示すように、円形状の載置板102に載置さ
れ、その中央に形成されるセンターホール103を中心
にマグネット101が配されている。なお、センターホ
ール103は、図示しない駆動部に連動して回転するシ
ャフトが嵌合されるものであり、これにより、円形状の
載置板102が回転するようになされている。
【0004】上記マグネット101は、このセンターホ
ール103を中心とする内径側に複数配される矩形状の
マグネット104,105,106と、厚み方向に磁極
を発生させる長尺状の積層マグネット107とからな
る。
ール103を中心とする内径側に複数配される矩形状の
マグネット104,105,106と、厚み方向に磁極
を発生させる長尺状の積層マグネット107とからな
る。
【0005】矩形状のマグネット104,105,10
6は、センターホール103を中心に対応するターゲッ
トの表面の中央部分に磁界を発生させるためのもので、
センターホール103を囲むように配されている。
6は、センターホール103を中心に対応するターゲッ
トの表面の中央部分に磁界を発生させるためのもので、
センターホール103を囲むように配されている。
【0006】他方、長尺状の積層マグネット107は、
両端面107a,107bが各々センターホール103
に向くように隣接して配されるとともに、長手方向がセ
ンターホール103を中心とする内径側から外径側に亘
って屈曲させた状態で配されている。
両端面107a,107bが各々センターホール103
に向くように隣接して配されるとともに、長手方向がセ
ンターホール103を中心とする内径側から外径側に亘
って屈曲させた状態で配されている。
【0007】そして、この従来のマグネトロン型スパッ
タリング装置を使用して、ディスク状基板に対してスパ
ッタリングを行う場合には、ターゲットの反対側に配置
されるマグネット101によりターゲットの表面に漏洩
磁界が発生する。
タリング装置を使用して、ディスク状基板に対してスパ
ッタリングを行う場合には、ターゲットの反対側に配置
されるマグネット101によりターゲットの表面に漏洩
磁界が発生する。
【0008】かかる状態で、一対の電極であるバッキン
グプレートと間に電解を生じさせると、グロー放電が起
こり、イオン化したArガスがターゲットをスパッタリ
ングして、ディスク状基板の表面に化合物薄膜が形成さ
れる。
グプレートと間に電解を生じさせると、グロー放電が起
こり、イオン化したArガスがターゲットをスパッタリ
ングして、ディスク状基板の表面に化合物薄膜が形成さ
れる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記構成の
従来のマグネトロン型スパッタリング装置を使用して、
実際に、スパッタリングした場合のターゲットの断面を
示したものが図6である。なお、この図6は、スパッタ
リング前のターゲットとスパッタリング後のターゲット
を比較して示す断面図である。
従来のマグネトロン型スパッタリング装置を使用して、
実際に、スパッタリングした場合のターゲットの断面を
示したものが図6である。なお、この図6は、スパッタ
リング前のターゲットとスパッタリング後のターゲット
を比較して示す断面図である。
【0010】この図6から明らかなように、ターゲット
108の外径側のスパッタリングは進んでいるが、上記
センターホール103の位置に対応したターゲット10
8の中央部分108aのスパッタリングが充分に行われ
ていない。
108の外径側のスパッタリングは進んでいるが、上記
センターホール103の位置に対応したターゲット10
8の中央部分108aのスパッタリングが充分に行われ
ていない。
【0011】これは、このターゲット108と対向する
ように配置されるマグネット101の位置や形状に原因
があると考えられる。
ように配置されるマグネット101の位置や形状に原因
があると考えられる。
【0012】このため、従来装置においては、このター
ゲット108の中央部分108aに、本来ディスク状基
板上に成膜されるべき化合物薄膜109が堆積する現象
を生じさせていた。このようにターゲット108の表面
に化合物薄膜109が堆積すると、アーク放電を誘発す
る。
ゲット108の中央部分108aに、本来ディスク状基
板上に成膜されるべき化合物薄膜109が堆積する現象
を生じさせていた。このようにターゲット108の表面
に化合物薄膜109が堆積すると、アーク放電を誘発す
る。
【0013】このアーク放電時においては、局所的に大
電流が流れるが、このために、ターゲットの表面に堆積
した化合物薄膜109やターゲット108が溶融破壊さ
れ、大小さまざまな多数の粒子が飛散して、ディスク状
基板の表面に不均一に付着してしまう。これでは、作製
される基板が書き換え可能な光磁気ディスクである場合
は、図7に示すように、バイトエラーレートの増加の原
因となるばかりか、ピンホールの増加の原因となり、さ
らに、作製された光磁気ディスク等のディスク状光学記
録媒体に腐食等が発生し易くなる問題を有していた。
電流が流れるが、このために、ターゲットの表面に堆積
した化合物薄膜109やターゲット108が溶融破壊さ
れ、大小さまざまな多数の粒子が飛散して、ディスク状
基板の表面に不均一に付着してしまう。これでは、作製
される基板が書き換え可能な光磁気ディスクである場合
は、図7に示すように、バイトエラーレートの増加の原
因となるばかりか、ピンホールの増加の原因となり、さ
らに、作製された光磁気ディスク等のディスク状光学記
録媒体に腐食等が発生し易くなる問題を有していた。
【0014】加えて、アーク放電時に流れる局所的な大
電流による熱的歪によって、ターゲットに割れが生じる
原因となる。
電流による熱的歪によって、ターゲットに割れが生じる
原因となる。
【0015】そこで、本発明は、このような実情に鑑み
て提案されたものであって、ターゲットの使用効率の大
幅な向上が図られるとともに、アーク放電の発生を抑制
することが可能なマグネトロン型スパッタリング装置を
提供することを目的とする。
て提案されたものであって、ターゲットの使用効率の大
幅な向上が図られるとともに、アーク放電の発生を抑制
することが可能なマグネトロン型スパッタリング装置を
提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明のマグネトロン型
スパッタリング装置は、上記の目的を達成するために、
ターゲットと対向して回転式のマグネットが配置され
て、ターゲットの表面に磁界を発生させるマグネトロン
型スパッタリング装置において、上記回転式マグネット
がセンターホールを中心とする内径側に複数配される矩
形状のマグネットと、この矩形状のマグネットを囲むよ
うに配され厚み方向に磁極を発生させる長尺状の積層マ
グネットとからなり、上記長尺状の積層マグネットが閉
じられる両端突き合わせ部近傍にマグネットが配されて
なることを特徴とする。
スパッタリング装置は、上記の目的を達成するために、
ターゲットと対向して回転式のマグネットが配置され
て、ターゲットの表面に磁界を発生させるマグネトロン
型スパッタリング装置において、上記回転式マグネット
がセンターホールを中心とする内径側に複数配される矩
形状のマグネットと、この矩形状のマグネットを囲むよ
うに配され厚み方向に磁極を発生させる長尺状の積層マ
グネットとからなり、上記長尺状の積層マグネットが閉
じられる両端突き合わせ部近傍にマグネットが配されて
なることを特徴とする。
【0017】また、積層マグネットの両端部が閉じられ
る両端突き合わせ部間に配されるマグネットがセンター
ホールを中心とする内径側に複数配される矩形状のマグ
ネットととともにセンターホールを囲むように配され、
これら隣接同士のマグネットの磁極が異なることを特徴
とする。
る両端突き合わせ部間に配されるマグネットがセンター
ホールを中心とする内径側に複数配される矩形状のマグ
ネットととともにセンターホールを囲むように配され、
これら隣接同士のマグネットの磁極が異なることを特徴
とする。
【0018】また、ターゲットの形状が円盤状であるこ
とを特徴とする。
とを特徴とする。
【0019】本発明は、積層マグネットの両端部が閉じ
る両端部間にマグネットが介在されてなることにより、
センターホールの位置に対応したターゲットの中央部分
のスパッタリングも充分に行われるようになる。したが
って、ターゲットの中央部分の表面にディスク状基板上
に成膜されるべき化合物薄膜が堆積するようなこともな
くなり、アーク放電の発生が抑制される。
る両端部間にマグネットが介在されてなることにより、
センターホールの位置に対応したターゲットの中央部分
のスパッタリングも充分に行われるようになる。したが
って、ターゲットの中央部分の表面にディスク状基板上
に成膜されるべき化合物薄膜が堆積するようなこともな
くなり、アーク放電の発生が抑制される。
【0020】なお、積層マグネットの両端部が閉じる両
端部間にマグネットを介在させることは、従来の回転式
のマグネットには容易に行われるので、従来のマグネト
ロン型スパッタリング装置をそのまま利用して本発明の
マグネトロン型スパッタリング装置を製造することがで
きる。
端部間にマグネットを介在させることは、従来の回転式
のマグネットには容易に行われるので、従来のマグネト
ロン型スパッタリング装置をそのまま利用して本発明の
マグネトロン型スパッタリング装置を製造することがで
きる。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的な実施の形
態を実験結果に基づいて説明する。
態を実験結果に基づいて説明する。
【0022】本実施の形態のマグネトロン型スパッタリ
ング装置は、図1に示すように、一側壁に設けられた排
気口から排気されて内部が真空状態となされる真空室1
を有し、真空制御部5によりスパッタリングに適した真
空状態に制御するようになされている。また、真空制御
部5と対向する真空室1の一側壁にスパッタガス供給部
6が設けられて、真空室1内にAr等のスパッタガス及
びN2等の反応性ガスを所定の圧力となるようになされ
ている。
ング装置は、図1に示すように、一側壁に設けられた排
気口から排気されて内部が真空状態となされる真空室1
を有し、真空制御部5によりスパッタリングに適した真
空状態に制御するようになされている。また、真空制御
部5と対向する真空室1の一側壁にスパッタガス供給部
6が設けられて、真空室1内にAr等のスパッタガス及
びN2等の反応性ガスを所定の圧力となるようになされ
ている。
【0023】そして、この真空室1内に、一対の電極と
して構成されるアノード2とカソード11が配されてい
る。
して構成されるアノード2とカソード11が配されてい
る。
【0024】上記アノード2には、真空室1内の上方側
に配され、ディスク状基板10を載置する載置部3が形
成されている。
に配され、ディスク状基板10を載置する載置部3が形
成されている。
【0025】カソード11は、真空室1内の上方側に配
され、図2に示すように、プラズマ放電用の高圧電源7
と電源ライン8に接続されカソードとしての機能を有す
るバッキングプレート12と、このバッキングプレート
12上に接着して載置されるターゲット13と、ターゲ
ット13と対向してバッキングプレート12の裏側に配
されるマグネット14から構成されている。
され、図2に示すように、プラズマ放電用の高圧電源7
と電源ライン8に接続されカソードとしての機能を有す
るバッキングプレート12と、このバッキングプレート
12上に接着して載置されるターゲット13と、ターゲ
ット13と対向してバッキングプレート12の裏側に配
されるマグネット14から構成されている。
【0026】上記バッキングプレート12は、その上に
低融点の金属であるターゲット13を接着してしる。し
たがって、バッキングプレート12の表面は、このター
ゲット13よりも広い面積を有している。このバッキン
グプレート12は、熱伝導性に優れた銅で形成されてい
るが、熱伝導性に優れた材質であれば、これには限定さ
れるものではない。
低融点の金属であるターゲット13を接着してしる。し
たがって、バッキングプレート12の表面は、このター
ゲット13よりも広い面積を有している。このバッキン
グプレート12は、熱伝導性に優れた銅で形成されてい
るが、熱伝導性に優れた材質であれば、これには限定さ
れるものではない。
【0027】ターゲット13は、本実施の形態では、円
盤状のものが使用されているが、本発明はこのターゲッ
ト13の形状に限定されるものではなく、角形のもので
あっても良い。
盤状のものが使用されているが、本発明はこのターゲッ
ト13の形状に限定されるものではなく、角形のもので
あっても良い。
【0028】そして、マグネット14は、図3に示すよ
うに、円形状の載置板20に載置される回転式のマグネ
ット14である。このマグネット14は、中央に図示し
ない駆動部に連動して回転するシャフトが嵌合されるセ
ンターホール15が形成されており、このセンターホー
ル15を中心として回転する。
うに、円形状の載置板20に載置される回転式のマグネ
ット14である。このマグネット14は、中央に図示し
ない駆動部に連動して回転するシャフトが嵌合されるセ
ンターホール15が形成されており、このセンターホー
ル15を中心として回転する。
【0029】この回転式のマグネット14は、センター
ホール15を中心とする内径側に配される矩形状のマグ
ネット16と、この矩形状のマグネット16を囲むよう
に配される長尺状の積層マグネット21とから構成され
ている。
ホール15を中心とする内径側に配される矩形状のマグ
ネット16と、この矩形状のマグネット16を囲むよう
に配される長尺状の積層マグネット21とから構成され
ている。
【0030】まず、上記内径側に配される矩形状のマグ
ネット16は、センターホール15を囲むように、3つ
マグネット17,18,19で構成され、これら3つマ
グネット17,18,19は、各々の長手方向17a,
18a,19aをセンターホール15に向けて配されて
いる。
ネット16は、センターホール15を囲むように、3つ
マグネット17,18,19で構成され、これら3つマ
グネット17,18,19は、各々の長手方向17a,
18a,19aをセンターホール15に向けて配されて
いる。
【0031】他方、上記長尺状の積層マグネット21
は、薄膜のマグネットを複数重ね合わせて構成されてい
る。そして、こん長尺状の積層マグネット21は、図3
中に符号N,Sで示すような、積層マグネット21の厚
み方向に磁極を発生させるものである。
は、薄膜のマグネットを複数重ね合わせて構成されてい
る。そして、こん長尺状の積層マグネット21は、図3
中に符号N,Sで示すような、積層マグネット21の厚
み方向に磁極を発生させるものである。
【0032】また、この長尺状の積層マグネット21
は、その両端面21a,21bが各々センターホール1
5に向くように隣接して配されるとともに、センターホ
ール15を中心とする内径側から外径側に亘って屈曲さ
せた状態で配されている。
は、その両端面21a,21bが各々センターホール1
5に向くように隣接して配されるとともに、センターホ
ール15を中心とする内径側から外径側に亘って屈曲さ
せた状態で配されている。
【0033】そして、積層マグネット21は、その両端
部が隣接される側に矩形状のマグネット22が介在され
ている。すなわち、この矩形状マグネット22は、両端
面21a,21bが隣接する積層マグネット21の一方
の端部側と他方の端部側との間に介在されてなる。この
積層マグネット21は、上記内径側に配される矩形状の
マグネット16とは異なり、その長手方向22aはセン
ターホール15に向いておらず、その一側部22bがセ
ンターホール15に向けた状態で介在されている。
部が隣接される側に矩形状のマグネット22が介在され
ている。すなわち、この矩形状マグネット22は、両端
面21a,21bが隣接する積層マグネット21の一方
の端部側と他方の端部側との間に介在されてなる。この
積層マグネット21は、上記内径側に配される矩形状の
マグネット16とは異なり、その長手方向22aはセン
ターホール15に向いておらず、その一側部22bがセ
ンターホール15に向けた状態で介在されている。
【0034】ここで、これらセンターホール15を囲む
ように配される矩形状のマグネット17,18,19と
22は、その隣接同士の磁極が異なることが好ましい。
しかし、本発明では、少なくともこれらの矩形状のマグ
ネット17,18,19,22がセンタホール15を囲
むように配されていれば、必ずしも、その隣接同士の磁
極が異なることまでは要求されないものとする。
ように配される矩形状のマグネット17,18,19と
22は、その隣接同士の磁極が異なることが好ましい。
しかし、本発明では、少なくともこれらの矩形状のマグ
ネット17,18,19,22がセンタホール15を囲
むように配されていれば、必ずしも、その隣接同士の磁
極が異なることまでは要求されないものとする。
【0035】このような実施の形態のマグネトロン型ス
パッタリング装置を使用して、ディスク状基板10に対
してスパッタリングを行う場合には、まず、真空室1内
を真空制御部5によりスパッタリングに適した真空状態
に制御する。例えば、1×10-4Pa以下とする。その
後、スパッタガス供給部5により真空室1内にAr等の
スパッタガス及びN2等の反応性ガスを所定の圧力とな
るように供給する。
パッタリング装置を使用して、ディスク状基板10に対
してスパッタリングを行う場合には、まず、真空室1内
を真空制御部5によりスパッタリングに適した真空状態
に制御する。例えば、1×10-4Pa以下とする。その
後、スパッタガス供給部5により真空室1内にAr等の
スパッタガス及びN2等の反応性ガスを所定の圧力とな
るように供給する。
【0036】この状態で、上記高圧電源7により、バッ
キングプレート12に所定の負電位を印加する。する
と、一対の電極であるアノード2とカソード11間に電
解が生じ、グロー放電が起こってイオン化したArガス
がターゲット13をスパッタリングする。その結果、上
記ターゲット13からターゲット材料が原子等の状態と
なって叩き出され、このターゲット材料がディスク状基
板10の表面に堆積して、さらに反応性ガスと反応する
ことで、SiNよりなる化合物薄膜が形成される。
キングプレート12に所定の負電位を印加する。する
と、一対の電極であるアノード2とカソード11間に電
解が生じ、グロー放電が起こってイオン化したArガス
がターゲット13をスパッタリングする。その結果、上
記ターゲット13からターゲット材料が原子等の状態と
なって叩き出され、このターゲット材料がディスク状基
板10の表面に堆積して、さらに反応性ガスと反応する
ことで、SiNよりなる化合物薄膜が形成される。
【0037】ここで、マグネッターゲット13の反対側
に配置される回転式のマグネット14が配置されてい
る。したがって、この回転式のマグネット14により、
ターゲット13の表面に広い範囲に平行磁場を発生させ
る。この場合の平行磁場は、いわゆるトロイダル型の一
種のトンネル状のものである。
に配置される回転式のマグネット14が配置されてい
る。したがって、この回転式のマグネット14により、
ターゲット13の表面に広い範囲に平行磁場を発生させ
る。この場合の平行磁場は、いわゆるトロイダル型の一
種のトンネル状のものである。
【0038】すなわち、長尺状の積層マグネット21の
厚み方向に磁極が発生するために(図3中、N、Sは磁
極を示す。)、図4に示すように、ターゲット13の表
面13aから徐々にスパッタリングされる。
厚み方向に磁極が発生するために(図3中、N、Sは磁
極を示す。)、図4に示すように、ターゲット13の表
面13aから徐々にスパッタリングされる。
【0039】そして、本実施の形態においては、積層マ
グネット21の両端部21a,21b側に矩形状のマグ
ネット22が介在されてなるから、ターゲット13の外
径側のみならず、センターホール15の位置に対応した
ターゲット13の中央部分13aにおいてもスパッタリ
ングが充分に行われる。
グネット21の両端部21a,21b側に矩形状のマグ
ネット22が介在されてなるから、ターゲット13の外
径側のみならず、センターホール15の位置に対応した
ターゲット13の中央部分13aにおいてもスパッタリ
ングが充分に行われる。
【0040】ところで、従来の装置によれば、図5に示
すように、ターゲットの中央部分に化合物薄膜が堆積を
防止しようとするために、センターホールを中心とする
内径側に複数配される矩形状のマグネット等の形状や位
置について種々の工夫がなされていたが、図6に示すよ
うに、ターゲットの中央部分はスパッタリングが充分に
行われず、このために、円形状のターゲットの中央部分
に化合物薄膜が堆積してしまっていた。
すように、ターゲットの中央部分に化合物薄膜が堆積を
防止しようとするために、センターホールを中心とする
内径側に複数配される矩形状のマグネット等の形状や位
置について種々の工夫がなされていたが、図6に示すよ
うに、ターゲットの中央部分はスパッタリングが充分に
行われず、このために、円形状のターゲットの中央部分
に化合物薄膜が堆積してしまっていた。
【0041】これに対して、本実施の形態の装置によれ
ば、上記従来の場合の図6と図4とを比較すれば明らか
なように、実際に、スパッタリングを行った場合にも、
ターゲット13の中央部分13bにおける化合物薄膜の
堆積が生じるようなことがなかった。したがって、この
化合物薄膜の堆積が原因となって発生するアーク放電の
発生を抑制することができ、その結果、本実施の形態の
装置により化合物薄膜が成膜されて製造される光磁気デ
ィスク等は、バイトエラーや、ピンホールがなく、しか
も、腐食等の問題もない精度の高いものとなる。また、
アーク放電の発生を抑制することができために、ターゲ
ット13の割れも防止することができる。
ば、上記従来の場合の図6と図4とを比較すれば明らか
なように、実際に、スパッタリングを行った場合にも、
ターゲット13の中央部分13bにおける化合物薄膜の
堆積が生じるようなことがなかった。したがって、この
化合物薄膜の堆積が原因となって発生するアーク放電の
発生を抑制することができ、その結果、本実施の形態の
装置により化合物薄膜が成膜されて製造される光磁気デ
ィスク等は、バイトエラーや、ピンホールがなく、しか
も、腐食等の問題もない精度の高いものとなる。また、
アーク放電の発生を抑制することができために、ターゲ
ット13の割れも防止することができる。
【0042】以上、本実施の形態では、ディスク状基板
に化合物薄膜を成膜して、磁気ディスクを製造する場合
について説明したが、本発明は、光磁気ディスク等の円
盤状のディスク状光学記録媒体の製造においてディスク
状基板に対して化合物薄膜を成膜するような場合のみな
らず、磁気テープ等の長尺な磁気記録媒体の製造におい
てベースフィルムに対して化合物薄膜を成膜するような
場合にも適用できるものである。
に化合物薄膜を成膜して、磁気ディスクを製造する場合
について説明したが、本発明は、光磁気ディスク等の円
盤状のディスク状光学記録媒体の製造においてディスク
状基板に対して化合物薄膜を成膜するような場合のみな
らず、磁気テープ等の長尺な磁気記録媒体の製造におい
てベースフィルムに対して化合物薄膜を成膜するような
場合にも適用できるものである。
【0043】
【発明の効果】本発明のマグネトロン型スパッタリング
装置によれば、長尺状の積層マグネットが閉じる両端部
近傍にマグネットが介在されてなることにより、センタ
ーホールの位置に対応したターゲットの中央部分のスパ
ッタリングも充分に行われるようになり、そのため、タ
ーゲットの表面の中央部分にディスク状基板上に成膜さ
れるべき化合物薄膜が堆積するような事態を有効に防止
することができる。
装置によれば、長尺状の積層マグネットが閉じる両端部
近傍にマグネットが介在されてなることにより、センタ
ーホールの位置に対応したターゲットの中央部分のスパ
ッタリングも充分に行われるようになり、そのため、タ
ーゲットの表面の中央部分にディスク状基板上に成膜さ
れるべき化合物薄膜が堆積するような事態を有効に防止
することができる。
【0044】したがって、ターゲットの使用効率の大幅
な向上が図られるとともに、ターゲットの表面に堆積し
た化合物薄膜によって発生するアーク放電の発生を抑制
することができる。このため、製造される磁気記録媒体
は、バイトエラーや、ピンホールがなく、しかも、腐食
等の問題もない精度の高いものとなる効果を有する。
な向上が図られるとともに、ターゲットの表面に堆積し
た化合物薄膜によって発生するアーク放電の発生を抑制
することができる。このため、製造される磁気記録媒体
は、バイトエラーや、ピンホールがなく、しかも、腐食
等の問題もない精度の高いものとなる効果を有する。
【0045】また、アーク放電の発生を抑制することが
できために、ターゲットの割れも防止することができ
る。
できために、ターゲットの割れも防止することができ
る。
【図1】本発明の一実施の形態のマグネトロン型スパッ
タリング装置の構成を模式的に示す図である。
タリング装置の構成を模式的に示す図である。
【図2】上記マグネトロン型スパッタリング装置のカソ
ードの構造を示す断面図である。
ードの構造を示す断面図である。
【図3】上記マグネトロン型スパッタリング装置のマグ
ネットの構成を示す平面図である。
ネットの構成を示す平面図である。
【図4】上記装置によるスパッタリング前のターゲット
とスパッタリング後のターゲットを比較して示す断面図
である。
とスパッタリング後のターゲットを比較して示す断面図
である。
【図5】従来のマグネトロン型スパッタリング装置のマ
グネットの構成を示す平面図である。
グネットの構成を示す平面図である。
【図6】従来のマグネトロン型スパッタリング装置にお
けるスパッタリング前のターゲットとスパッタリング後
のターゲットを比較して示す断面図である。
けるスパッタリング前のターゲットとスパッタリング後
のターゲットを比較して示す断面図である。
【図7】アーク放電数と光磁気ディスクの平均バイトエ
ラーレートとの関係を示す図である。
ラーレートとの関係を示す図である。
2 アノード 10 ディスク状基板 11 カソード 13 ターゲット 14 (回転式の)マグネット 15 センターホール 16、17,18、19 矩形状のマグネット 21 長尺状の積層マグネット 22 積層マグネットの両端部側に介在される矩形状の
マグネット 21a,21b 長尺状の積層マグネットの端面 N,S 磁極
マグネット 21a,21b 長尺状の積層マグネットの端面 N,S 磁極
Claims (3)
- 【請求項1】 ターゲットと対向して回転式のマグネッ
トが配置されて、ターゲットの表面に磁界を発生させる
マグネトロン型スパッタリング装置において、 上記回転式マグネットがセンターホールを中心とする内
径側に複数配される矩形状のマグネットと、 この矩形状のマグネットを囲むように配され厚み方向に
磁極を発生させる長尺状の積層マグネットとからなり、 上記長尺状の積層マグネットが閉じられる両端突き合わ
せ部近傍にマグネットが配置されてなることを特徴とす
るマグネトロン型スパッタリング装置。 - 【請求項2】 長尺状の積層マグネットが閉じられる両
端突き合わせ部近傍に配されるマグネットがセンターホ
ールを中心とする内径側に複数配される矩形状のマグネ
ットととともにセンターホールを囲むように配され、こ
れら隣接同士のマグネットの磁極が異なることを特徴と
する請求項1記載のマグネトロン型スパッタリング装
置。 - 【請求項3】 ターゲットの形状が円盤状であることを
特徴とする請求項1記載のマグネトロン型スパッタリン
グ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP250296A JPH09195042A (ja) | 1996-01-10 | 1996-01-10 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP250296A JPH09195042A (ja) | 1996-01-10 | 1996-01-10 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09195042A true JPH09195042A (ja) | 1997-07-29 |
Family
ID=11531144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP250296A Withdrawn JPH09195042A (ja) | 1996-01-10 | 1996-01-10 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09195042A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100340700C (zh) * | 2005-03-21 | 2007-10-03 | 西安交通大学 | 霍尔源激励磁控溅射增强型多弧离子镀膜方法 |
-
1996
- 1996-01-10 JP JP250296A patent/JPH09195042A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100340700C (zh) * | 2005-03-21 | 2007-10-03 | 西安交通大学 | 霍尔源激励磁控溅射增强型多弧离子镀膜方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030401 |