JPH0918087A - マルチビーム半導体レーザ装置 - Google Patents

マルチビーム半導体レーザ装置

Info

Publication number
JPH0918087A
JPH0918087A JP7160586A JP16058695A JPH0918087A JP H0918087 A JPH0918087 A JP H0918087A JP 7160586 A JP7160586 A JP 7160586A JP 16058695 A JP16058695 A JP 16058695A JP H0918087 A JPH0918087 A JP H0918087A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
reflecting mirror
laser device
light
chips
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7160586A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideyuki Yamada
英行 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7160586A priority Critical patent/JPH0918087A/ja
Publication of JPH0918087A publication Critical patent/JPH0918087A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクの読み書きに用いられる安価なマ
ルチビーム半導体レーザを提供する。 【構成】 角錐形状の反射鏡4を挾んだ両側若しくは四
方に半導体レーザチップ2を配置し、チップ2からの出
射光は反射鏡4によりマウント面から垂直に出射する。
通常ディスクリードチップを用いた場合、出射点の間隔
は約300μmとなり単一レンズ系では扱い難いが、本
発明の構成では光学的な出射点の距離を50〜100μ
mまで低減することができるので、単一レンズ系で扱う
ことができ、モノリシックなマルチビーム半導体レーザ
と同様に有効な構成となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光情報処理・光通信等に
用いられる半導体レーザ装置、特に発光点を複数有する
マルチビーム半導体レーザ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】マルチビーム半導体レーザ装置でもっと
も簡単なものは、一つの発光領域を有する半導体レーザ
装置を複数個横方向に並べて配し、各々の光が平行に出
射されるようにしたものである。これは、各々の出射光
の距離が約200〜300μmと大きく、単一のレンズ
系を有する光ディスクシステムに利用することはできな
い。
【0003】そこで図2(a),(b)に示すように、
一つの半導体レーザチップ11内に複数個の発光領域1
2を有する構造としている。図中5は放熱板,13は受
光領域,14は仕切板である。図2に示された構造のも
のによれば、出射光の距離を50〜100μmとするこ
とができ、単一のレンズ系で用いることができるために
光ディスク装置を高速化することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図2に
示されたマルチビーム半導体レーザ装置は以下の問題点
を有する。すなわち、まず第一に歩留りを向上すること
が難しく、コスト高になることが挙げられる。なぜな
ら、例えば4つの受光領域12を集積化した場合、一つ
の発光領域の歩留りが90%とすると、4つの受光領域
がすべて正常な可能性は66%となってしまい、4つと
も正常でないチップは不良品として廃棄することになる
からである。
【0005】また発光領域間がつながっているため、発
光領域間の熱干渉が起こるという問題もある。さらに各
々の出射光の強度をモニターするのが難しいという問題
もある。図2の例では仕切板14を用いてモニター用受
光器の方向に出射された光が入り交じらないようにして
いるが、このような仕切板14を用いることは、大きな
コスト高の要因となる。
【0006】本発明の目的は、前記課題を解消したマル
チビーム半導体レーザ装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るマルチビーム半導体レーザ装置は、半
導体レーザチップと、反射鏡とを有するマルチビーム半
導体レーザ装置であって、半導体レーザチップは、反射
鏡を中心として該反射鏡の周囲に複数設置され、レーザ
光を反射鏡に向けて出射するものであり、反射鏡は、前
記各半導体レーザチップから出力されたレーザ光の出射
方向を変更させて反射するものである。
【0008】また前記反射鏡は、周囲に複数の反射面を
もつ角錐形状をなすものである。
【0009】また受光素子を有し、受光素子は、各半導
体レーザチップの反射鏡側とは反対側の出射面からの光
を受光するものである。
【0010】また前記複数の半導体レーザチップは、同
一の放熱板に搭載されており、前記反射鏡は、前記放熱
板の凹んだ位置に搭載されたものである。
【0011】また前記半導体レーザチップは、AlGa
As系若しくはAlGaInP系の素材からなり、前記
受光素子は、Si系の素材からなるものである。
【0012】
【作用】反射鏡を中心としてその周囲に複数の半導体レ
ーザチップを配置し、反射鏡により各半導体レーザチッ
プからのレーザ光を所望の出射方向に反射することによ
り、コスト高を招く仕切板を削除する。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を図により説明する。
図1(a)は本発明の一実施例を示す平面図、(b)は
図1(a)のA−A’線断面図である。
【0014】図において本発明に係るマルチビーム半導
体レーザ装置は基本的構成として、半導体レーザチップ
2と、反射鏡4とを有している。
【0015】各構成の機能について説明すると、半導体
レーザチップ2は、反射鏡4を中心としてその周囲に複
数設置され、レーザ光を反射鏡4に向けて出射するよう
になっている。
【0016】また反射鏡4は、各半導体レーザチップ2
から出力されたレーザ光の出射方向を変更させて反射す
るようになっており、具体的には反射鏡4は、周囲に複
数の反射面4aをもつ角錐形状をなし、隣接する半導体
レーザチップ2からのレーザ光同士が混じり合わないよ
うに各反射面4aでレーザ光を独立して反射するように
なっている。
【0017】次に本発明を具体例を用いて説明する。図
1において、放熱板5としてのn−Siウェハにボロン
を拡散してp−n接合を形成することにより4個の受光
素子1を形成し、また各受光素子1に受光電流用の電極
6aを形成する。
【0018】次にPR工程により放熱板5としてのSi
ウェハを約30μmエッチングして、凹部7を4個の受
光素子1間の中央位置に形成する。凹部7は、幅640
μm,長さ640μm,深さ30μmの寸法をもつ凹ん
だくぼみとして形成してある。
【0019】次にPR工程により、放熱板5としてのS
iウェハの半導体レーザチップがマウントされる領域す
なわち凹部7と受光素子1との間に電極6bを形成す
る。また放熱板5としてのSiウェハの電極6bが設け
られた領域をダイシングすることによりストライプ3を
設けて、個々のヒートシンクチップに分割する。
【0020】またストライプ3をもつヒートシンクチッ
プの電極6b上に、単一の発光領域を有する半導体レー
ザチップ2をマウントする。ここで半導体レーザチップ
2は、AlGaAs系若しくはAlGaInP系の素材
から構成されている。半導体レーザチップ2のマウント
用ソルダーはAuSnを用い、半導体レーザチップ2の
表面に部分蒸着し、チップ2を電極6b上にマウントし
ており、マウントが容易に行なえるようになっている。
半導体レーザチップ2は幅320μm,長さ400μ
m,厚さ100μmのものを用いており、また半導体レ
ーザチップ2は、パルス電流による電気的光学的の特性
選別を行ったものを用いている。
【0021】図1では4個の半導体レーザチップ2を凹
部7を挾んで対向する位置に向き合わせに配置している
が、これに限られるものではない。
【0022】反射鏡4は、周面に4つの反射面4aをも
つ四角錐形状をなすものであって、各反射面4aを各半
導体レーザチップ2に向き合わせて凹部7内に紫外線硬
化樹脂により接着してある。反射鏡4は四角錐形状に成
形されたガラスにアルミニウムを薄膜コーティングして
各反射面4aの反射率を98%まで高めたものを用いて
いる。また反射鏡4は、マウント面に対する各反射面4
aの立ち上げ角度が図1(b)に示すように45deg
となっており、四角錐の底辺の正方形の一部の長さが2
00μmとなっている。また半導体レーザチップ2及び
受光素子1に対する必要な配線処理を行い、半導体レー
ザチップ2及び受光素子1並びに反射鏡4を気密封止し
てマルチビーム半導体レーザ装置として完成させる。
【0023】実施例において、各々の半導体レーザチッ
プ2からの出射光は反射鏡4の反射面4aに45deg
の角度をもって入射し、反射面4aで90degの方向
(図1(b)の上方)に反射される。4個の半導体レー
ザチップ2の発光点は、一辺300μmの正方形の頂点
に位置しているが、図1のように角錐形状の反射鏡4で
反射されるため、光学的には、発光点の位置はより近接
している。すなわち反射後の各発光領域の光軸は光軸8
のような軌跡を取るため、一辺100μmの正方形の頂
点から発光したかのようになる。したがって、単一レン
ズの光学系で有効なマルチビーム(最大発光点4)半導
体レーザ装置を得ることができる。
【0024】また各発光領域のレーザ強度も、各々の半
導体レーザチップ2の後方に配された受光素子1によっ
て独立にモニターすることができる。
【0025】尚、反射鏡4の反射面傾斜角度を45de
gより大きくすれば、光学的な発光点の距離を小さくす
ることができる。反射面4aの傾斜角度を例えば50d
egとすると、発光点の距離を100μmから50μm
とすることができ、発光点の距離をより小さくしたい光
学系では有効となる。但し、反射後の光軸はマウント面
に垂直ではなく、各々離れていくので、コリメートレン
ズを用いて集束する必要がある。また実施例では反射鏡
4は4つの反射面4aをもつ4角錐形状のものを用いた
が、これに限られるものではなく、多面構造のものであ
れば、いずれの角錐形状のものでもよい。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、角錐形状
をなす反射鏡を用いて複数の半導体レーザチップからの
レーザ光を相互干渉させることなく出射することがで
き、従来の装置で最もコストがかかっていた仕切板をな
くすとともに、その組立工数をなくすことができ、発光
領域1個あたりのコストを従来に比べて30%とするこ
とができる。また従来に比べ、反射鏡が必要となるが、
安価なガラスを用いることにより、コストを安価にする
ことができる。
【0027】またマウント面に対してレーザ光を垂直に
出射することにより、半導体レーザ専用のパッケージで
はなく、半導体一般に用いられるリードフレームを使用
することができるため、更に低コスト化を図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るマルチビーム半導体レーザ装置を
示す図であって、(a)は平面図、(b)は(a)のA
−A’線断面図である。
【図2】従来のマルチビーム半導体レーザ装置を示す図
であって、(a)は平面図、(b)は(a)のA−A’
線断面図である。
【符号の説明】
1 受光素子 2 半導体レーザチップ 3 ストライプ 4 反射鏡 4a 反射鏡の反射面 5 放熱板 6a,6b 電極 7 凹部 8 光軸

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザチップと、反射鏡とを有す
    るマルチビーム半導体レーザ装置であって、 半導体レーザチップは、反射鏡を中心として該反射鏡の
    周囲に複数設置され、レーザ光を反射鏡に向けて出射す
    るものであり、 反射鏡は、前記各半導体レーザチップから出力されたレ
    ーザ光の出射方向を変更させて反射するものであること
    を特徴とするマルチビーム半導体レーザ装置。
  2. 【請求項2】 前記反射鏡は、周囲に複数の反射面をも
    つ角錐形状をなすものであることを特徴とする請求項1
    に記載のマルチビーム半導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】 受光素子を有し、 受光素子は、各半導体レーザチップの反射鏡側とは反対
    側の出射面からの光を受光するものであることを特徴と
    する請求項1に記載のマルチビーム半導体レーザ装置。
  4. 【請求項4】 前記複数の半導体レーザチップは、同一
    の放熱板に搭載されており、 前記反射鏡は、前記放熱板の凹んだ位置に搭載されたも
    のであることを特徴とする請求項1に記載のマルチビー
    ム半導体レーザ装置。
  5. 【請求項5】 前記半導体レーザチップは、AlGaA
    s系若しくはAlGaInP系の素材からなり、 前記受光素子は、Si系の素材からなるものであること
    を特徴とする請求項3に記載のマルチビーム半導体レー
    ザ装置。
JP7160586A 1995-06-27 1995-06-27 マルチビーム半導体レーザ装置 Pending JPH0918087A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7160586A JPH0918087A (ja) 1995-06-27 1995-06-27 マルチビーム半導体レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7160586A JPH0918087A (ja) 1995-06-27 1995-06-27 マルチビーム半導体レーザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0918087A true JPH0918087A (ja) 1997-01-17

Family

ID=15718165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7160586A Pending JPH0918087A (ja) 1995-06-27 1995-06-27 マルチビーム半導体レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0918087A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1104061A2 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser array and optical scanner
JP2005057188A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ装置、集積化光ピックアップ及び光ディスク装置
JP2005268394A (ja) * 2004-03-17 2005-09-29 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd レーザ光照射装置
JP2009064979A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光ダイオードを用いた光源

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61203692A (ja) * 1985-03-07 1986-09-09 Sony Corp 半導体レ−ザ装置の製造方法
JPH03225983A (ja) * 1990-01-31 1991-10-04 Nec Corp 半導体レーザ
JPH04287996A (ja) * 1991-01-25 1992-10-13 Fuji Electric Co Ltd 半導体レーザ素子
JPH06104535A (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 Sony Corp マルチビーム半導体レーザ
JPH0738205A (ja) * 1993-07-20 1995-02-07 Mitsubishi Electric Corp 面発光レーザダイオードアレイ及びその駆動方法,光検出素子,光検出素子アレイ,空間光接続システム,並びに波長多重光通信システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61203692A (ja) * 1985-03-07 1986-09-09 Sony Corp 半導体レ−ザ装置の製造方法
JPH03225983A (ja) * 1990-01-31 1991-10-04 Nec Corp 半導体レーザ
JPH04287996A (ja) * 1991-01-25 1992-10-13 Fuji Electric Co Ltd 半導体レーザ素子
JPH06104535A (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 Sony Corp マルチビーム半導体レーザ
JPH0738205A (ja) * 1993-07-20 1995-02-07 Mitsubishi Electric Corp 面発光レーザダイオードアレイ及びその駆動方法,光検出素子,光検出素子アレイ,空間光接続システム,並びに波長多重光通信システム

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1104061A2 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser array and optical scanner
EP1104061A3 (en) * 1999-11-29 2002-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser array and optical scanner
US6867796B1 (en) 1999-11-29 2005-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser array and optical scanner
JP2005057188A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ装置、集積化光ピックアップ及び光ディスク装置
JP2005268394A (ja) * 2004-03-17 2005-09-29 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd レーザ光照射装置
JP4554242B2 (ja) * 2004-03-17 2010-09-29 三井造船株式会社 レーザ光照射装置およびそれを用いた蛍光観察装置
JP2009064979A (ja) * 2007-09-06 2009-03-26 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光ダイオードを用いた光源

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6178991B2 (ja) 光源ユニットおよびそれを用いた光源モジュール
US6860621B2 (en) LED module and methods for producing and using the module
CA2173059C (en) Microoptical device
US5218223A (en) Opto-electronic semiconductor component
JP2000502819A (ja) オプトエレクトロニクス送信モジュール
JPH0595169A (ja) 半導体レーザ装置および半導体レーザモジユール
JPH09222540A (ja) 高さの低い光学的サブアセンブリ
JPH10321900A (ja) 光モジュール
JP7119271B2 (ja) レーザダイオードパッケージモジュールおよび距離検出装置、電子機器
JP3167650B2 (ja) 一体化鏡を備えた光検出器及びその作成方法
JPS62260384A (ja) 半導体装置
JP6189638B2 (ja) 光学系
JPH0918087A (ja) マルチビーム半導体レーザ装置
JP6517285B2 (ja) 光学系
JP2003188454A (ja) 半導体レーザ装置および集積化光ピックアップ
JPS6410804B2 (ja)
JP3464921B2 (ja) 半導体レーザ装置の製造方法
JPH08148756A (ja) 半導体レーザ装置
JP2892812B2 (ja) 半導体レーザ装置
JPH11340574A (ja) 光半導体装置およびその装置に組み込まれる光半導体素子
JPH08202247A (ja) 半導体レーザ装置および半導体レーザ装置に用いるホログラム板の製造方法
JPH11150341A (ja) レーザデバイスとその製造方法
JP3169917B2 (ja) 半導体レーザ装置
JP2004333717A (ja) マルチビームレーザ走査装置
WO2020066868A1 (ja) レーザ光源装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees