JPH09139080A - ダイナミックランダムアクセスメモリに使用する出力バッファユニットおよび信号処理方法 - Google Patents
ダイナミックランダムアクセスメモリに使用する出力バッファユニットおよび信号処理方法Info
- Publication number
- JPH09139080A JPH09139080A JP8138642A JP13864296A JPH09139080A JP H09139080 A JPH09139080 A JP H09139080A JP 8138642 A JP8138642 A JP 8138642A JP 13864296 A JP13864296 A JP 13864296A JP H09139080 A JPH09139080 A JP H09139080A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- terminal
- transistor
- output buffer
- buffer unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/09425—Multistate logic
- H03K19/09429—Multistate logic one of the states being the high impedance or floating state
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dram (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ダイナミックランダムアクセスメモリに使用
する出力バッファユニットを得る。 【解決手段】 ダイナミックランダムアクセスメモリ5
に使用する出力バッファユニット27は相補論理信号を
発生する第1段40,41を含んでいる。中間段42,
43において、相補信号の発生とは別個に、相補信号が
バッファされて出力ドライバ段44,45へ加えられ
る。信号発生段をバッファリング段から分離することに
より、論理レベルから論理レベルへの遷移速度を高める
ことができる。
する出力バッファユニットを得る。 【解決手段】 ダイナミックランダムアクセスメモリ5
に使用する出力バッファユニット27は相補論理信号を
発生する第1段40,41を含んでいる。中間段42,
43において、相補信号の発生とは別個に、相補信号が
バッファされて出力ドライバ段44,45へ加えられ
る。信号発生段をバッファリング段から分離することに
より、論理レベルから論理レベルへの遷移速度を高める
ことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体データ処理シ
ステム、特に、ダイナミックランダムアクセスメモリユ
ニットの出力バッファユニットに関する。従来、出力バ
ッファユニットは中間状態すなわちトライステートから
1つの論理状態へ駆動される。最近、データブロックの
選定された転送において、出力バッファユニットは1つ
の論理状態から相補論理状態へ駆動することができるよ
うになっている。従来技術の出力バッファユニットでは
論理状態から論理状態への遷移を容認できる性能を生じ
る方法で実行できない。
ステム、特に、ダイナミックランダムアクセスメモリユ
ニットの出力バッファユニットに関する。従来、出力バ
ッファユニットは中間状態すなわちトライステートから
1つの論理状態へ駆動される。最近、データブロックの
選定された転送において、出力バッファユニットは1つ
の論理状態から相補論理状態へ駆動することができるよ
うになっている。従来技術の出力バッファユニットでは
論理状態から論理状態への遷移を容認できる性能を生じ
る方法で実行できない。
【0002】
【従来の技術】図1にはDRAMユニットとデータ処理
の残部との間のインターフェイスが図示されている。中
央処理装置1はコントロールバス6、アドレスバス7、
およびデータバス8と論理信号を交換する。アドレスバ
ス7からの論理信号はラッチユニット2およびメモリコ
ントローラ4へ加えられる。ラッチユニット2からのア
ドレス信号はキャッシュメモリユニット3へ加えられ
る。キャッシュメモリユニット3からの論理信号はデー
タバス8と交換される。コントロールバス6およびアド
レスバスからの信号はメモリコントローラ4へ加えられ
る。メモリコントローラユニット4はRAS 信号、C
AS 信号、W 信号、およびアドレス信号をDRAM
ユニット5へ加える。DRAMユニットはデータバス8
と信号を交換する。
の残部との間のインターフェイスが図示されている。中
央処理装置1はコントロールバス6、アドレスバス7、
およびデータバス8と論理信号を交換する。アドレスバ
ス7からの論理信号はラッチユニット2およびメモリコ
ントローラ4へ加えられる。ラッチユニット2からのア
ドレス信号はキャッシュメモリユニット3へ加えられ
る。キャッシュメモリユニット3からの論理信号はデー
タバス8と交換される。コントロールバス6およびアド
レスバスからの信号はメモリコントローラ4へ加えられ
る。メモリコントローラユニット4はRAS 信号、C
AS 信号、W 信号、およびアドレス信号をDRAM
ユニット5へ加える。DRAMユニットはデータバス8
と信号を交換する。
【0003】図2を参照すると、従来技術のDRAMユ
ニットのブロック図が図示されている。アドレス信号が
ローアドレス情報をアドレス信号グループからセレクト
するローアドレスユニット20およびコラムアドレス情
報をアドレス信号グループからセレクトするコラムアド
レスユニット21へ加えられる。ローアドレスユニット
20からの出力信号はローアドレスデコーダ22へ加え
られ、コラムアドレスユニット21からの出力信号はコ
ラムアドレスデコーダユニット23へ加えられる。ロー
アドレスデコーダユニット22およびコラムアドレスデ
コーダユニット23からの出力信号はメモリセルアレイ
24へ加えられる。DQPAD29からのデータ信号は
データ入力ラッチ28へ加えられる。データ入力ラッチ
からの信号はドライバユニット26と交換される。ドラ
イバユニット26からの信号はメモリセルアレイ24へ
加えられる。メモリセルアレイからのデータ信号はプリ
バッファユニット25へ加えられる。プリバッファユニ
ット25からのデータ信号は出力バッファユニット27
へ加えられ出力バッファユニット27からのデータ信号
はDQPAD29へ加えられる。
ニットのブロック図が図示されている。アドレス信号が
ローアドレス情報をアドレス信号グループからセレクト
するローアドレスユニット20およびコラムアドレス情
報をアドレス信号グループからセレクトするコラムアド
レスユニット21へ加えられる。ローアドレスユニット
20からの出力信号はローアドレスデコーダ22へ加え
られ、コラムアドレスユニット21からの出力信号はコ
ラムアドレスデコーダユニット23へ加えられる。ロー
アドレスデコーダユニット22およびコラムアドレスデ
コーダユニット23からの出力信号はメモリセルアレイ
24へ加えられる。DQPAD29からのデータ信号は
データ入力ラッチ28へ加えられる。データ入力ラッチ
からの信号はドライバユニット26と交換される。ドラ
イバユニット26からの信号はメモリセルアレイ24へ
加えられる。メモリセルアレイからのデータ信号はプリ
バッファユニット25へ加えられる。プリバッファユニ
ット25からのデータ信号は出力バッファユニット27
へ加えられ出力バッファユニット27からのデータ信号
はDQPAD29へ加えられる。
【0004】図3を参照すると、従来技術の出力バッフ
ァの模式図が示されている。WOEN信号がn−チャネ
ルトランジスタPMN1のゲート端子へ加えられる。ト
ランジスタPMN1のドレイン端子はp−チャネルトラ
ンジスタPMP1のドレイン端子、n−チャネルトラン
ジスタPMN2のドレイン端子、およびp−チャネルト
ランジスタPMP2のゲート端子に接続されている。ト
ランジスタPMP1のソース端子は基板およびVpp電
圧源に接続されている。トランジスタPMN1のソース
端子はWOEB 信号およびn−チャネルトランジスタ
PMN4のゲート端子に接続されている。WOEN 信
号がトランジスタPMN2のゲート端子およびトランジ
スタPMN3のゲート端子に接続されている。トランジ
スタPMN3のソース端子はグラウンド端子に接続さ
れ、トランジスタPMN3のドレイン端子はトランジス
タPMP1のゲート端子、PMP2のドレイン端子、ト
ランジスタPMN4のドレイン端子、n−チャネルトラ
ンジスタPMN5のゲート端子、p−チャネルトランジ
スタPMP3のゲート端子、p−チャネルトランジスタ
PMP4のゲート端子、およびn−チャネルトランジス
タPMN6のゲート端子に接続されている。トランジス
タPMP2のドレイン端子はVpp電圧源および基板に
接続されている。トランジスタPMN4のソース端子は
グラウンド電位に接続されている。トランジスタPMP
3のソース端子はVpp電圧源および基板に接続されて
いる。トランジスタPMP3のドレイン端子は論理NO
RゲートPNR1の第1の入力端子およびトランジスタ
PMN5の第1の導通端子に接続されている。トランジ
スタPMN5の第2の導通端子は反転増幅器PIV3の
入力端子および反転増幅器PIV2の出力端子に接続さ
れている。
ァの模式図が示されている。WOEN信号がn−チャネ
ルトランジスタPMN1のゲート端子へ加えられる。ト
ランジスタPMN1のドレイン端子はp−チャネルトラ
ンジスタPMP1のドレイン端子、n−チャネルトラン
ジスタPMN2のドレイン端子、およびp−チャネルト
ランジスタPMP2のゲート端子に接続されている。ト
ランジスタPMP1のソース端子は基板およびVpp電
圧源に接続されている。トランジスタPMN1のソース
端子はWOEB 信号およびn−チャネルトランジスタ
PMN4のゲート端子に接続されている。WOEN 信
号がトランジスタPMN2のゲート端子およびトランジ
スタPMN3のゲート端子に接続されている。トランジ
スタPMN3のソース端子はグラウンド端子に接続さ
れ、トランジスタPMN3のドレイン端子はトランジス
タPMP1のゲート端子、PMP2のドレイン端子、ト
ランジスタPMN4のドレイン端子、n−チャネルトラ
ンジスタPMN5のゲート端子、p−チャネルトランジ
スタPMP3のゲート端子、p−チャネルトランジスタ
PMP4のゲート端子、およびn−チャネルトランジス
タPMN6のゲート端子に接続されている。トランジス
タPMP2のドレイン端子はVpp電圧源および基板に
接続されている。トランジスタPMN4のソース端子は
グラウンド電位に接続されている。トランジスタPMP
3のソース端子はVpp電圧源および基板に接続されて
いる。トランジスタPMP3のドレイン端子は論理NO
RゲートPNR1の第1の入力端子およびトランジスタ
PMN5の第1の導通端子に接続されている。トランジ
スタPMN5の第2の導通端子は反転増幅器PIV3の
入力端子および反転増幅器PIV2の出力端子に接続さ
れている。
【0005】WDLAT信号が反転増幅器PIV1の入
力端子およびパスゲートPPG1のn−チャネルゲート
へ加えられる。反転増幅器PIV1の出力端子はパスゲ
ートPPG1のp−チャネルゲートに接続されている。
パスゲートPPG1の第1の導通端子は反転増幅器PI
V3の出力端子に接続され、パスゲートPPG1の第2
の導通端子は反転増幅器PIV2の入力端子と、IOP
RBN信号とトランジスタPMN6の第1の導通端子に
接続されている。トランジスタPMN6の第2の導通端
子はトランジスタPMP4のドレイン端子と論理NOR
ゲートPNR2の第1の入力端子に接続されている。ト
ランジスタPMP4のソース端子はVpp電圧源と基板
に接続されている。論理NORゲートPNR2の第2の
入力端子は論理NORゲートPNR1の出力端子と、抵
抗PR1の第1の端子と、スイッチPSW1の第1の端
子に接続されている。論理NORゲートPNR2の出力
端子は論理NORゲートPNR1の第2の入力端子とn
−チャネルトランジスタPMN9の第1の導通端子に接
続されている。トランジスタPMN9のゲート端子はV
pp電圧源に接続され、トランジスタPMN9の第2の
導通端子はn−チャネルトランジスタPMNAのゲート
端子に接続されている。トランジスタPMNAの第2の
端子は第2のグラウンド電位に接続され、トランジスタ
PMNAのドレイン端子は抵抗PR2の第1の端子と、
n−チャネルトランジスタPMN7のソース端子とn−
チャネルトランジスタPMN8のソース端子に接続され
ている。トランジスタPMN8のゲート端子は第2のグ
ラウンド電位に接続され、トランジスタPMN8のドレ
イン端子は抵抗PR1の第2の端子と、スイッチPSW
1の第2の端子とトランジスタPMN7の入力端子に接
続されている。トランジスタPMN7のドレイン端子は
Vext電圧源に接続されている。抵抗PR2の第2の
端子は出力バッファユニットの出力端子に接続されそこ
に加わる信号は(DQN)信号として示されている。
力端子およびパスゲートPPG1のn−チャネルゲート
へ加えられる。反転増幅器PIV1の出力端子はパスゲ
ートPPG1のp−チャネルゲートに接続されている。
パスゲートPPG1の第1の導通端子は反転増幅器PI
V3の出力端子に接続され、パスゲートPPG1の第2
の導通端子は反転増幅器PIV2の入力端子と、IOP
RBN信号とトランジスタPMN6の第1の導通端子に
接続されている。トランジスタPMN6の第2の導通端
子はトランジスタPMP4のドレイン端子と論理NOR
ゲートPNR2の第1の入力端子に接続されている。ト
ランジスタPMP4のソース端子はVpp電圧源と基板
に接続されている。論理NORゲートPNR2の第2の
入力端子は論理NORゲートPNR1の出力端子と、抵
抗PR1の第1の端子と、スイッチPSW1の第1の端
子に接続されている。論理NORゲートPNR2の出力
端子は論理NORゲートPNR1の第2の入力端子とn
−チャネルトランジスタPMN9の第1の導通端子に接
続されている。トランジスタPMN9のゲート端子はV
pp電圧源に接続され、トランジスタPMN9の第2の
導通端子はn−チャネルトランジスタPMNAのゲート
端子に接続されている。トランジスタPMNAの第2の
端子は第2のグラウンド電位に接続され、トランジスタ
PMNAのドレイン端子は抵抗PR2の第1の端子と、
n−チャネルトランジスタPMN7のソース端子とn−
チャネルトランジスタPMN8のソース端子に接続され
ている。トランジスタPMN8のゲート端子は第2のグ
ラウンド電位に接続され、トランジスタPMN8のドレ
イン端子は抵抗PR1の第2の端子と、スイッチPSW
1の第2の端子とトランジスタPMN7の入力端子に接
続されている。トランジスタPMN7のドレイン端子は
Vext電圧源に接続されている。抵抗PR2の第2の
端子は出力バッファユニットの出力端子に接続されそこ
に加わる信号は(DQN)信号として示されている。
【0006】従来技術の出力バッファユニットから発生
される非重畳信号は交差結合された論理NORゲートP
NR1およびPNR2から供給される(図3)。論理N
ORゲートPNR1およびPNR2の出力信号により
(トランジスタPMN7およびPMNAを含む)最終ド
ライバ回路が活性化される。この技術はプリドライバ回
路がトライステート(0,0)レベルから(0,1)も
しくは(1,0)論理レベルへ遷移する時には申し分の
ないものである。しかしながら、(0,1)から(1,
0)レベルへの遷移もしくは(1,0)から(0,1)
への遷移の場合には、論理レベルから論理レベルへ遷移
する時間が長くなる。この遅延が生じるのは出力ドライ
バの比較的大きい負荷を駆動するのに論理NORゲート
は他の回路素子ほど効率的ではないためである。
される非重畳信号は交差結合された論理NORゲートP
NR1およびPNR2から供給される(図3)。論理N
ORゲートPNR1およびPNR2の出力信号により
(トランジスタPMN7およびPMNAを含む)最終ド
ライバ回路が活性化される。この技術はプリドライバ回
路がトライステート(0,0)レベルから(0,1)も
しくは(1,0)論理レベルへ遷移する時には申し分の
ないものである。しかしながら、(0,1)から(1,
0)レベルへの遷移もしくは(1,0)から(0,1)
への遷移の場合には、論理レベルから論理レベルへ遷移
する時間が長くなる。この遅延が生じるのは出力ドライ
バの比較的大きい負荷を駆動するのに論理NORゲート
は他の回路素子ほど効率的ではないためである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】したがって、現在利用
できる回路よりも高い応答時間で出力バッファにおいて
論理レベルから論理レベルへの遷移を駆動することがで
きる出力バッファに対するニーズが痛感される。
できる回路よりも高い応答時間で出力バッファにおいて
論理レベルから論理レベルへの遷移を駆動することがで
きる出力バッファに対するニーズが痛感される。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記した特徴およびその
他の特徴は、本発明に従って、出力段を駆動するのに必
要なバッファリングの前にそれとは別個に相補論理信号
が発生される出力バッファユニットにより達成される。
出力バッファユニットは第1段を含みそこにラッチされ
たデータおよびコントロール信号が処理される。相補信
号が第2段へ加えられ、第2段および第3段により信号
がバッファリングされて第4および最終ドライバ段へ加
えられる。このようにして、論理状態から論理状態への
遷移は従来技術の装置のような性能損失なしで実現する
ことができる。
他の特徴は、本発明に従って、出力段を駆動するのに必
要なバッファリングの前にそれとは別個に相補論理信号
が発生される出力バッファユニットにより達成される。
出力バッファユニットは第1段を含みそこにラッチされ
たデータおよびコントロール信号が処理される。相補信
号が第2段へ加えられ、第2段および第3段により信号
がバッファリングされて第4および最終ドライバ段へ加
えられる。このようにして、論理状態から論理状態への
遷移は従来技術の装置のような性能損失なしで実現する
ことができる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1、図2および図3については
関連技術に関して検討を行った。
関連技術に関して検討を行った。
【0010】図4を参照すると、本発明による出力バッ
ファユニットのブロック図が示されている。コントロー
ルユニット40およびデータラッチ/レベルシフトユニ
ット41の各々が中間段42および中間段43へ信号を
加える。中間段42はプリドライバユニット44へ信号
を加え、中間段43はプリドライバユニット45へ信号
を加える。プリドライバユニット44はドライバユニッ
ト46へ信号を加え、プリドライバユニット45はドラ
イバユニット47へ信号を加える。ドライバユニット4
6およびドライバユニット47はDQPAD49へ信号
を加える。
ファユニットのブロック図が示されている。コントロー
ルユニット40およびデータラッチ/レベルシフトユニ
ット41の各々が中間段42および中間段43へ信号を
加える。中間段42はプリドライバユニット44へ信号
を加え、中間段43はプリドライバユニット45へ信号
を加える。プリドライバユニット44はドライバユニッ
ト46へ信号を加え、プリドライバユニット45はドラ
イバユニット47へ信号を加える。ドライバユニット4
6およびドライバユニット47はDQPAD49へ信号
を加える。
【0011】図5を参照すると、本発明による出力バッ
ファの模式図が示されている。WOENM信号がn−チ
ャネルトランジスタMN1のゲート端子に加えられる。
WOEM 信号がトランジスタMN1のソース端子とn
−チャネルMN4のゲート端子へ加えられる。WOEN
M 信号がn−チャネルトランジスタMN2のソース端
子と、トランジスタMN2のゲート端子と、トランジス
タMN3のゲート端子へ加えられる。トランジスタMN
1のドレイン端子はp−チャネルトランジスタMP1の
ドレイン端子と、トランジスタMN2のドレイン端子
と、p−チャネルトランジスタMP2のゲート端子に接
続されている。トランジスタMP1のソース端子と基板
およびトランジスタMP2のソース端子と基板は供給電
圧Vppに接続されている。トランジスタMP1のゲー
ト端子はトランジスタMN3のドレイン端子と、トラン
ジスタMN4のドレイン端子と、p−チャネルトランジ
スタMP5のゲート端子と、n−チャネルトランジスタ
MNAのゲート端子と、p−チャネルトランジスタMP
8のゲート端子に接続されている。トランジスタMN3
のソース端子とトランジスタMN4のソース端子はグラ
ウンド電位に接続されている。
ファの模式図が示されている。WOENM信号がn−チ
ャネルトランジスタMN1のゲート端子に加えられる。
WOEM 信号がトランジスタMN1のソース端子とn
−チャネルMN4のゲート端子へ加えられる。WOEN
M 信号がn−チャネルトランジスタMN2のソース端
子と、トランジスタMN2のゲート端子と、トランジス
タMN3のゲート端子へ加えられる。トランジスタMN
1のドレイン端子はp−チャネルトランジスタMP1の
ドレイン端子と、トランジスタMN2のドレイン端子
と、p−チャネルトランジスタMP2のゲート端子に接
続されている。トランジスタMP1のソース端子と基板
およびトランジスタMP2のソース端子と基板は供給電
圧Vppに接続されている。トランジスタMP1のゲー
ト端子はトランジスタMN3のドレイン端子と、トラン
ジスタMN4のドレイン端子と、p−チャネルトランジ
スタMP5のゲート端子と、n−チャネルトランジスタ
MNAのゲート端子と、p−チャネルトランジスタMP
8のゲート端子に接続されている。トランジスタMN3
のソース端子とトランジスタMN4のソース端子はグラ
ウンド電位に接続されている。
【0012】WDLATM信号がn−チャネルトランジ
スタMN5のゲート端子に加えられる。IOPRBM信
号がトランジスタMN5の第1の導通端子と、n−チャ
ネルトランジスタMN6のゲート端子と、p−チャネル
トランジスタMP9のドレイン端子と、反転増幅器IV
3の入力端子へ加えられる。トランジスタMP9のソー
スと基板はVperiに接続され、トランジスタMP9
のゲート端子は反転増幅器IV3の出力端子とn−チャ
ネルトランジスタMN7のゲート端子に接続されてい
る。トランジスタMN6のソース端子とトランジスタM
N7のソース端子はグラウンド電位に接続されている。
トランジスタMN5の第2の導通端子はp−チャネルト
ランジスタMP3のゲート端子と、トランジスタMN7
のドレイン端子と、p−チャネルトランジスタMP4の
ドレイン端子と、n−チャネルトランジスタMN8のゲ
ート端子と、p−チャネルトランジスタMP6のゲート
端子に接続されている。トランジスタMN6のドレイン
端子はトランジスタMP3のドレイン端子とトランジス
タMP4のゲート端子に接続されている。トランジスタ
MP3の基板およびソース端子はスイッチSW3を介し
てVpp電圧源と、p−チャネルトランジスタMPOの
ドレイン端子と、トランジスタMP4の基板およびソー
ス端子に接続されている。トランジスタMPOのゲート
端子はグラウンド電位に接続され、トランジスタMPO
のソース端子と基板はVpp電圧源に接続されている。
スタMN5のゲート端子に加えられる。IOPRBM信
号がトランジスタMN5の第1の導通端子と、n−チャ
ネルトランジスタMN6のゲート端子と、p−チャネル
トランジスタMP9のドレイン端子と、反転増幅器IV
3の入力端子へ加えられる。トランジスタMP9のソー
スと基板はVperiに接続され、トランジスタMP9
のゲート端子は反転増幅器IV3の出力端子とn−チャ
ネルトランジスタMN7のゲート端子に接続されてい
る。トランジスタMN6のソース端子とトランジスタM
N7のソース端子はグラウンド電位に接続されている。
トランジスタMN5の第2の導通端子はp−チャネルト
ランジスタMP3のゲート端子と、トランジスタMN7
のドレイン端子と、p−チャネルトランジスタMP4の
ドレイン端子と、n−チャネルトランジスタMN8のゲ
ート端子と、p−チャネルトランジスタMP6のゲート
端子に接続されている。トランジスタMN6のドレイン
端子はトランジスタMP3のドレイン端子とトランジス
タMP4のゲート端子に接続されている。トランジスタ
MP3の基板およびソース端子はスイッチSW3を介し
てVpp電圧源と、p−チャネルトランジスタMPOの
ドレイン端子と、トランジスタMP4の基板およびソー
ス端子に接続されている。トランジスタMPOのゲート
端子はグラウンド電位に接続され、トランジスタMPO
のソース端子と基板はVpp電圧源に接続されている。
【0013】トランジスタMP5の基板およびソース端
子はトランジスタMP6のソース端子および基板と、p
−チャネルトランジスタMP7のソース端子および基板
と、トランジスタMP8のソース端子および基板とVp
p電圧源に接続されている。トランジスタMP5のドレ
イン端子はトランジスタMP6のドレイン端子と、トラ
ンジスタMN8のドレイン端子と、トランジスタIV1
の入力端子に接続されている。トランジスタMNAのド
レイン端子はトランジスタMN8のソース端子とn−チ
ャネルトランジスタMN9のソース端子に接続され、ト
ランジスタMNAのソース端子はグラウンド電位に接続
されている。トランジスタMN9のドレイン端子はトラ
ンジスタMP7のドレイン端子と、トランジスタMP8
のドレイン端子と、反転増幅器IV2の入力端子に接続
されている。トランジスタMN9のゲート端子はトラン
ジスタMP7のゲート端子とトランジスタMP4のゲー
ト端子に接続されている。
子はトランジスタMP6のソース端子および基板と、p
−チャネルトランジスタMP7のソース端子および基板
と、トランジスタMP8のソース端子および基板とVp
p電圧源に接続されている。トランジスタMP5のドレ
イン端子はトランジスタMP6のドレイン端子と、トラ
ンジスタMN8のドレイン端子と、トランジスタIV1
の入力端子に接続されている。トランジスタMNAのド
レイン端子はトランジスタMN8のソース端子とn−チ
ャネルトランジスタMN9のソース端子に接続され、ト
ランジスタMNAのソース端子はグラウンド電位に接続
されている。トランジスタMN9のドレイン端子はトラ
ンジスタMP7のドレイン端子と、トランジスタMP8
のドレイン端子と、反転増幅器IV2の入力端子に接続
されている。トランジスタMN9のゲート端子はトラン
ジスタMP7のゲート端子とトランジスタMP4のゲー
ト端子に接続されている。
【0014】反転増幅器IV2の出力端子はn−チャネ
ルトランジスタMNDのゲート端子に接続されている。
トランジスタMNDのソース端子は第2のグラウンド電
位に接続され、トランジスタMNDのドレイン端子は抵
抗R2の第1の端子と、n−チャネルトランジスタMN
Bのソース端子と、n−チャネルトランジスタMNUの
ソース端子に接続されている。トランジスタMNBのゲ
ート端子はグラウンド電位に接続され、トランジスタM
NBのドレイン端子はスイッチSW1の第1の端子と、
トランジスタMPUのゲート端子と、抵抗R1を介した
反転増幅器IV1の出力端子に接続されている。トラン
ジスタMNUのドレイン端子はVext電圧源とスイッ
チSW2の第1の端子に接続されている。スイッチSW
1の第2の端子はn−チャネルトランジスタMNCの第
1の導通端子に接続され、スイッチSW2の第2の端子
はトランジスタMNCの第2の導通端子に接続されてい
る。トランジスタMNCのゲート端子はグラウンド電位
に接続されている。抵抗R2の第2の端子は出力信号D
QMを供給する。
ルトランジスタMNDのゲート端子に接続されている。
トランジスタMNDのソース端子は第2のグラウンド電
位に接続され、トランジスタMNDのドレイン端子は抵
抗R2の第1の端子と、n−チャネルトランジスタMN
Bのソース端子と、n−チャネルトランジスタMNUの
ソース端子に接続されている。トランジスタMNBのゲ
ート端子はグラウンド電位に接続され、トランジスタM
NBのドレイン端子はスイッチSW1の第1の端子と、
トランジスタMPUのゲート端子と、抵抗R1を介した
反転増幅器IV1の出力端子に接続されている。トラン
ジスタMNUのドレイン端子はVext電圧源とスイッ
チSW2の第1の端子に接続されている。スイッチSW
1の第2の端子はn−チャネルトランジスタMNCの第
1の導通端子に接続され、スイッチSW2の第2の端子
はトランジスタMNCの第2の導通端子に接続されてい
る。トランジスタMNCのゲート端子はグラウンド電位
に接続されている。抵抗R2の第2の端子は出力信号D
QMを供給する。
【0015】図6を参照すると、代表的な拡張されたデ
ータ出力が示されている。拡張されたデータ出力期間中
に、CAS 信号がハイに遷移すると、前のデータが出
力端子に維持される。この前のデータはCAS 信号が
最小データ保持時間(TDOH)だけローとなった後で
も出力に維持される。次のアクセスがTCACアクセス
であり新しいデータが反対の論理状態であれば、出力バ
ッファ回路は論理レベルから論理レベルへの遷移を生じ
る。
ータ出力が示されている。拡張されたデータ出力期間中
に、CAS 信号がハイに遷移すると、前のデータが出
力端子に維持される。この前のデータはCAS 信号が
最小データ保持時間(TDOH)だけローとなった後で
も出力に維持される。次のアクセスがTCACアクセス
であり新しいデータが反対の論理状態であれば、出力バ
ッファ回路は論理レベルから論理レベルへの遷移を生じ
る。
【0016】再び図4の出力バッファユニットのブロッ
ク図を参照すると、コントロールユニット40は出力イ
ネーブル信号を結合してレベルシフトされたコントロー
ル信号を発生する。データラッチ/レベルシフトユニッ
ト41は入データをラッチしてラッチされたデータ信号
のレベルをシフトさせる。ダイナミックランダムアクセ
スユニットの出力端子に適切なレベルを得るために、出
力ドライバユニット45および47が内部供給レベルよ
りも高いレベルで駆動される。したがってデータラッチ
/レベルシフトユニット41が実施するレベルシフトに
より入来電圧レベルは高いレベルへ変換される。データ
ラッチ/レベルシフタ41内の交差結合されたトランジ
スタは相補信号を発生するのに使用される。さらに、相
補信号は重畳されていない。相補信号が重畳されていな
いことはクローバー(crowbar)電流を最小限に
抑えるのに重要である。中間段42および43におい
て、コントロールユニット40からのコントロール信号
(出力イネーブル)はデータラッチ/レベルシフタから
のデータ信号によりゲートされ、最小の遅延で、非重畳
相補信号がプリドライバユニット44および45へ通さ
れる。中間段42および43はトライステート出力に対
しては(0,0)であり出力データ信号に対しては
(1,0)もしくは(0,1)である。プリドライバユ
ニット44および45はドライバユニット46および4
7へ最適活性化信号を与えるインバータ要素を含んでい
る。要素42,43,44および45はコントロールユ
ニット40から発生される相補信号の非重畳特性を維持
するように最適化される。
ク図を参照すると、コントロールユニット40は出力イ
ネーブル信号を結合してレベルシフトされたコントロー
ル信号を発生する。データラッチ/レベルシフトユニッ
ト41は入データをラッチしてラッチされたデータ信号
のレベルをシフトさせる。ダイナミックランダムアクセ
スユニットの出力端子に適切なレベルを得るために、出
力ドライバユニット45および47が内部供給レベルよ
りも高いレベルで駆動される。したがってデータラッチ
/レベルシフトユニット41が実施するレベルシフトに
より入来電圧レベルは高いレベルへ変換される。データ
ラッチ/レベルシフタ41内の交差結合されたトランジ
スタは相補信号を発生するのに使用される。さらに、相
補信号は重畳されていない。相補信号が重畳されていな
いことはクローバー(crowbar)電流を最小限に
抑えるのに重要である。中間段42および43におい
て、コントロールユニット40からのコントロール信号
(出力イネーブル)はデータラッチ/レベルシフタから
のデータ信号によりゲートされ、最小の遅延で、非重畳
相補信号がプリドライバユニット44および45へ通さ
れる。中間段42および43はトライステート出力に対
しては(0,0)であり出力データ信号に対しては
(1,0)もしくは(0,1)である。プリドライバユ
ニット44および45はドライバユニット46および4
7へ最適活性化信号を与えるインバータ要素を含んでい
る。要素42,43,44および45はコントロールユ
ニット40から発生される相補信号の非重畳特性を維持
するように最適化される。
【0017】WOENおよびWOEN (およびWOE
NMおよびWOENM )信号は相補出力イネーブルコ
ントロール信号である。WOEB (およびWWOEM
)信号はコラムアドレス遷移に関連する出力イネーブ
ル信号であり出力バッファの入力端子に新しいデータが
準備されていることを示す。WDLAT信号はデータラ
ッチ信号である。WDLAT信号がロー状態となると、
ラッチ回路はディセーブルされIOPRBNからの入力
データはラッチユニットへ入力される。WDLAT信号
がハイ状態となると、IOPRBN信号のデータがラッ
チユニットへラッチされる。(WDLATMはWDLA
Tに関連している)。DQN(およびDQM)信号は出
力データである。
NMおよびWOENM )信号は相補出力イネーブルコ
ントロール信号である。WOEB (およびWWOEM
)信号はコラムアドレス遷移に関連する出力イネーブ
ル信号であり出力バッファの入力端子に新しいデータが
準備されていることを示す。WDLAT信号はデータラ
ッチ信号である。WDLAT信号がロー状態となると、
ラッチ回路はディセーブルされIOPRBNからの入力
データはラッチユニットへ入力される。WDLAT信号
がハイ状態となると、IOPRBN信号のデータがラッ
チユニットへラッチされる。(WDLATMはWDLA
Tに関連している)。DQN(およびDQM)信号は出
力データである。
【0018】本発明による出力バッファでは、高負荷を
駆動するのに使用される装置から発生される非重畳信号
を分離するために非重畳信号は第1段において発生され
る。相補信号が発生されると、信号発生の非重畳部を乱
すことなく適切なバッファリングを達成することができ
る。
駆動するのに使用される装置から発生される非重畳信号
を分離するために非重畳信号は第1段において発生され
る。相補信号が発生されると、信号発生の非重畳部を乱
すことなく適切なバッファリングを達成することができ
る。
【0019】データラッチ/レベルシフトユニット41
により入力データレベルはVperi電圧源レベルから
より高いVpp電圧源レベルへシフトされる。これらの
電圧レベルは出力バッファユニットの次の部分を駆動し
て最終出力レベルの劣化を回避するのに使用される。出
力バッファユニットの最終部分はVext電圧源により
給電され、したがって、DQ出力レベルはVext電圧
源によって決まる。
により入力データレベルはVperi電圧源レベルから
より高いVpp電圧源レベルへシフトされる。これらの
電圧レベルは出力バッファユニットの次の部分を駆動し
て最終出力レベルの劣化を回避するのに使用される。出
力バッファユニットの最終部分はVext電圧源により
給電され、したがって、DQ出力レベルはVext電圧
源によって決まる。
【0020】第1段は許容供給電圧範囲、使用するシミ
ュレーション(spice)モデルに反映されるプロセ
スコーナー変動、および所要の変動に対する温度変動の
影響を考慮して設計される。これらの最適化手順により
パス41−>42−>44およびパス41−>43−>
45における速度はおよそ2nsだけ低減されている。
ュレーション(spice)モデルに反映されるプロセ
スコーナー変動、および所要の変動に対する温度変動の
影響を考慮して設計される。これらの最適化手順により
パス41−>42−>44およびパス41−>43−>
45における速度はおよそ2nsだけ低減されている。
【0021】図7を参照して、従来技術の出力バッファ
ユニットの性能と本発明による出力バッファユニットの
性能を比較するシミュレーション結果を示す。実線波形
は本発明の最終ドライバユニットを活性化する信号を示
し、点線は従来技術のバッファユニットの波形を示す。
ユニットの性能と本発明による出力バッファユニットの
性能を比較するシミュレーション結果を示す。実線波形
は本発明の最終ドライバユニットを活性化する信号を示
し、点線は従来技術のバッファユニットの波形を示す。
【0022】スイッチに関しては、図3のスイッチPS
W1は元々抵抗PR1をバイパスするのに使用されてい
たが、不要であることが判った。図5において、SW1
およびSW2は実験的理由で設けられており実施例では
使用されない。スイッチSW3が開くと、相補出力信号
はより非重畳とすることができ、したがってクローバー
電流および出力信号のリンギングを低減することができ
る。この改善は回路速度を犠牲にして達成される。
W1は元々抵抗PR1をバイパスするのに使用されてい
たが、不要であることが判った。図5において、SW1
およびSW2は実験的理由で設けられており実施例では
使用されない。スイッチSW3が開くと、相補出力信号
はより非重畳とすることができ、したがってクローバー
電流および出力信号のリンギングを低減することができ
る。この改善は回路速度を犠牲にして達成される。
【0023】実施例について本発明を説明してきたが、
当業者であれば発明を逸脱することなく実施例にさまざ
まな変更を加えたり構成要素を置換できることがお判り
と思われる。さらに、本発明の本質的な教示を逸脱する
ことなくさまざまな修正を加えて特定の状況や材料を本
発明の教示に適合させることができる。
当業者であれば発明を逸脱することなく実施例にさまざ
まな変更を加えたり構成要素を置換できることがお判り
と思われる。さらに、本発明の本質的な教示を逸脱する
ことなくさまざまな修正を加えて特定の状況や材料を本
発明の教示に適合させることができる。
【0024】前記した検討から明らかなように、本発明
のある局面は実施例の特定の詳細に限定されることはな
く、したがって当業者であれば他の修正や応用がお判り
と思われる。したがって特許請求の範囲には発明の精神
および範囲を逸脱しない修正および応用が全て含まれる
ものとする。
のある局面は実施例の特定の詳細に限定されることはな
く、したがって当業者であれば他の修正や応用がお判り
と思われる。したがって特許請求の範囲には発明の精神
および範囲を逸脱しない修正および応用が全て含まれる
ものとする。
【0025】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 (1) ダイナミックランダムアクセスメモリに使用す
る出力バッファユニットであって、該出力バッファユニ
ットは、データ信号およびコントロール信号に応答して
相補論理信号を発生する第1段と、前記相補論理信号に
応答して前記相補信号をバッファリングする第2段と、
前記第2段からのバッファされた信号に応答して出力端
子へ論理信号を加える出力段とを具備する出力バッファ
ユニット。
る。 (1) ダイナミックランダムアクセスメモリに使用す
る出力バッファユニットであって、該出力バッファユニ
ットは、データ信号およびコントロール信号に応答して
相補論理信号を発生する第1段と、前記相補論理信号に
応答して前記相補信号をバッファリングする第2段と、
前記第2段からのバッファされた信号に応答して出力端
子へ論理信号を加える出力段とを具備する出力バッファ
ユニット。
【0026】(2) 第1項記載の出力バッファユニッ
トであって、前記第3段は2つのドライバ段を含む出力
バッファユニット。
トであって、前記第3段は2つのドライバ段を含む出力
バッファユニット。
【0027】(3) 第2項記載の出力バッファユニッ
トであって、前記第2段は2つの中間段と2つのプリド
ライバ段を含む出力バッファユニット。
トであって、前記第2段は2つの中間段と2つのプリド
ライバ段を含む出力バッファユニット。
【0028】(4) 第3項記載の出力バッファユニッ
トであって、前記第1段は、データ信号を受信して前記
2つの中間段へ相補データ信号を加えるラッチおよびレ
ベルシフトと、コントロール信号を受信して前記中間段
へ加えるコントロールユニットとを含む出力バッファユ
ニット。
トであって、前記第1段は、データ信号を受信して前記
2つの中間段へ相補データ信号を加えるラッチおよびレ
ベルシフトと、コントロール信号を受信して前記中間段
へ加えるコントロールユニットとを含む出力バッファユ
ニット。
【0029】(5) ダイナミックランダムアクセスメ
モリユニットの出力バッファユニットにおける信号処理
方法であって、該方法は、入力データ信号およびコント
ロール信号に応答して相補データ信号を発生するステッ
プと、前記出力バッファユニットの別個の段において、
バッファされた相補データ信号を発生するステップと、
前記バッファされた相補データ信号に応答して、出力端
子を前記入力データ信号により決定される論理状態へ駆
動するステップとを含む信号処理方法。
モリユニットの出力バッファユニットにおける信号処理
方法であって、該方法は、入力データ信号およびコント
ロール信号に応答して相補データ信号を発生するステッ
プと、前記出力バッファユニットの別個の段において、
バッファされた相補データ信号を発生するステップと、
前記バッファされた相補データ信号に応答して、出力端
子を前記入力データ信号により決定される論理状態へ駆
動するステップとを含む信号処理方法。
【0030】(6) 第5項記載の方法であって、前記
バッファされた相補データ信号を発生するステップには
バッファされた各相補データ信号を別個の段で発生する
ステップが含まれる信号処理方法。
バッファされた相補データ信号を発生するステップには
バッファされた各相補データ信号を別個の段で発生する
ステップが含まれる信号処理方法。
【0031】(7) ダイナミックランダムアクセスメ
モリに使用する出力バッファユニットであって、該出力
バッファユニットは、コントロール信号および入力デー
タ信号に応答して相補データ信号を発生する相補手段
と、前記相補データ信号に応答してバッファされた相補
データ信号を与える前記相補手段とは別個のバッファ手
段と、前記バッファされた相補データ信号に応答して、
前記入力データ信号によって決まる、論理状態信号を加
えるドライバ手段とを具備する出力バッファユニット。
モリに使用する出力バッファユニットであって、該出力
バッファユニットは、コントロール信号および入力デー
タ信号に応答して相補データ信号を発生する相補手段
と、前記相補データ信号に応答してバッファされた相補
データ信号を与える前記相補手段とは別個のバッファ手
段と、前記バッファされた相補データ信号に応答して、
前記入力データ信号によって決まる、論理状態信号を加
えるドライバ手段とを具備する出力バッファユニット。
【0032】(8) 第7項記載の出力バッファユニッ
トであって、前記相補手段は、前記コントロール信号に
応答して、前記バッファ手段へ加えられる、第1のコン
トロール信号を発生するコントロール手段と、前記入力
データ信号をラッチしてレベルシフトし、さらに前記相
補データ信号を前記バッファ手段へ加えるデータ手段と
を含む出力バッファユニット。
トであって、前記相補手段は、前記コントロール信号に
応答して、前記バッファ手段へ加えられる、第1のコン
トロール信号を発生するコントロール手段と、前記入力
データ信号をラッチしてレベルシフトし、さらに前記相
補データ信号を前記バッファ手段へ加えるデータ手段と
を含む出力バッファユニット。
【0033】(9) 第8項記載の出力バッファユニッ
トであって、前記バッファ手段には各々が前記相補デー
タ信号の1つを受信して前記バッファされた相補データ
信号の1つを与える第1および第2のバッファ要素が含
まれている出力バッファユニット。
トであって、前記バッファ手段には各々が前記相補デー
タ信号の1つを受信して前記バッファされた相補データ
信号の1つを与える第1および第2のバッファ要素が含
まれている出力バッファユニット。
【0034】(10) 第9項記載の出力バッファユニ
ットであって、前記データ手段には各々にバッファされ
た相補データ信号が加えられ、各々が出力端子へ信号を
加える第1および第2のドライバ要素が含まれており、
前記出力端子には前記入力データ信号によって決まる論
理状態信号が加えられる出力バッファユニット。
ットであって、前記データ手段には各々にバッファされ
た相補データ信号が加えられ、各々が出力端子へ信号を
加える第1および第2のドライバ要素が含まれており、
前記出力端子には前記入力データ信号によって決まる論
理状態信号が加えられる出力バッファユニット。
【0035】(11) ダイナミックランダムアクセス
メモリに使用する出力バッファユニットは相補論理信号
を発生する第1段を含んでいる。中間段において、相補
信号の発生とは別個に、相補信号がバッファされて出力
ドライバ段へ加えられる。信号発生段をバッファリング
段から分離することにより、論理レベルから論理レベル
への遷移速度を高めることができる。
メモリに使用する出力バッファユニットは相補論理信号
を発生する第1段を含んでいる。中間段において、相補
信号の発生とは別個に、相補信号がバッファされて出力
ドライバ段へ加えられる。信号発生段をバッファリング
段から分離することにより、論理レベルから論理レベル
への遷移速度を高めることができる。
【図1】従来技術によるダイナミックランダムアクセス
メモリとのインターフェイスを示すデータ処理システム
のブロック図。
メモリとのインターフェイスを示すデータ処理システム
のブロック図。
【図2】従来技術によるデータ処理システムのDRAM
ユニットのブロック図。
ユニットのブロック図。
【図3】従来技術による出力バッファユニットの模式
図。
図。
【図4】本発明による、DRAMメモリユニットに使用
する、出力バッファユニットのブロック図。
する、出力バッファユニットのブロック図。
【図5】本発明による出力バッファユニットの模式図。
【図6】従来技術の出力バッファの信号を本発明の出力
バッファユニットの信号と比較するシミュレーション結
果を示すグラフ。
バッファユニットの信号と比較するシミュレーション結
果を示すグラフ。
【図7】従来技術の出力バッファユニットのリンギング
を本発明の出力バッファユニットのリンギングと比較す
るシミュレーション結果を示すグラフ。
を本発明の出力バッファユニットのリンギングと比較す
るシミュレーション結果を示すグラフ。
1 中央処理装置 2 ラッチユニット 3 キャッシュメモリユニット 4 メモリコントローラ 5 DRAMユニット 6 コントロールバス 7 アドレスバス 8 データバス 20 ローアドレスユニット 21 コラムアドレスユニット 22 ローアドレスデコーダ 23 コラムアドレスデコーダ 24 メモリセルアレイ 25 プリバッファユニット 26 ドライバユニット 27 出力バッファユニット 28 データ入力ラッチ 29,49 DQ PAD 40 コントロールユニット 41 データラッチ/レベルシフトユニット 42,43 中間段 44,45 プリドライバユニット 46,47 ドライバユニット
フロントページの続き (72)発明者 サダシバ ラオ インド国カラナタカ、バンガロレー 560052、ミラー ロード 71 テキサス インスツルメンツ インディア リミテッ ド 内
Claims (2)
- 【請求項1】 ダイナミックランダムアクセスメモリに
使用する出力バッファユニットであって、該出力バッフ
ァユニットは、データ信号およびコントロール信号に応
答して相補論理信号を発生する第1段と、前記相補論理
信号に応答して前記相補信号をバッファリングする第2
段と、前記第2段からのバッファされた信号に応答して
出力端子へ論理信号を加える出力段とを具備する出力バ
ッファユニット。 - 【請求項2】 ダイナミックランダムアクセスメモリユ
ニットの出力バッファユニットにおける信号処理方法で
あって、該方法は、入力データ信号およびコントロール
信号に応答して相補データ信号を発生するステップと、
前記出力バッファの別個の段においてバッファされた相
補データ信号を発生するステップと、前記バッファされ
た相補データ信号に応答して前記入力データ信号によっ
て決まる論理状態へ出力端子を駆動するステップとを含
む信号処理方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IN653MA1995 | 1995-06-01 | ||
IN653/MAS/95 | 1995-06-01 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09139080A true JPH09139080A (ja) | 1997-05-27 |
Family
ID=11095883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8138642A Pending JPH09139080A (ja) | 1995-06-01 | 1996-05-31 | ダイナミックランダムアクセスメモリに使用する出力バッファユニットおよび信号処理方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5831450A (ja) |
JP (1) | JPH09139080A (ja) |
GB (1) | GB2301721B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6118323A (en) * | 1997-01-10 | 2000-09-12 | Texas Instruments Incorporated | Electrostatic discharge protection circuit and method |
US20040249997A1 (en) * | 2003-02-26 | 2004-12-09 | Umberhocker Richard B. | System and method for communicating data |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5027315A (en) * | 1984-09-28 | 1991-06-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable logic array using internally generated dynamic logic signals as selection signals for controlling its functions |
JPS61126818A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-14 | Pioneer Electronic Corp | 出力バツフア駆動回路 |
JPS62144411A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-27 | Hitachi Shonan Denshi Kk | 電力増幅回路 |
US5042004A (en) * | 1986-03-06 | 1991-08-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable logic device with subroutine stack and random access memory |
JPH02226589A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-10 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
US5028817A (en) * | 1990-06-14 | 1991-07-02 | Zoran Corporation | Tristable output buffer with state transition control |
US5097149A (en) * | 1990-07-02 | 1992-03-17 | Micron Technology, Inc. | Two stage push-pull output buffer circuit with control logic feedback for reducing crossing current, switching noise and the like |
JPH04341997A (ja) * | 1991-05-20 | 1992-11-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
US5204557A (en) * | 1991-10-15 | 1993-04-20 | National Semiconductor Corporation | Digital signal level translator |
KR950010564B1 (en) * | 1992-10-02 | 1995-09-19 | Samsung Electronics Co Ltd | Data output buffer of synchronous semiconductor memory device |
US5329175A (en) * | 1992-11-13 | 1994-07-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Reduced noise, low power, high speed output buffer |
JPH08228141A (ja) * | 1995-02-21 | 1996-09-03 | Kawasaki Steel Corp | 出力バッファ回路 |
JPH08335860A (ja) * | 1995-06-08 | 1996-12-17 | Mitsubishi Electric Corp | 差動ラッチ回路 |
US5684410A (en) * | 1995-07-03 | 1997-11-04 | Guo; Frank Tzen-Wen | Preconditioning of output buffers |
-
1996
- 1996-05-31 US US08/656,502 patent/US5831450A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-31 JP JP8138642A patent/JPH09139080A/ja active Pending
- 1996-06-03 GB GB9611558A patent/GB2301721B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2301721A (en) | 1996-12-11 |
US5831450A (en) | 1998-11-03 |
GB2301721B (en) | 2000-04-19 |
GB9611558D0 (en) | 1996-08-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100308792B1 (ko) | 레벨시프터를 가지는 반도체 장치의 데이터 출력회로 및 데이터 출력방법 | |
US5311076A (en) | Tristate data output buffer having reduced switching noise and intermediate-level setting | |
JP3440454B2 (ja) | 集積回路用電圧インタフェース回路および集積回路をインタフェースする方法 | |
US5594380A (en) | Bootstrap circuit and data output buffer having the bootstrap circuit | |
US7408482B2 (en) | Integrated circuit devices having data inversion circuits therein with multi-bit prefetch structures and methods of operating same | |
US7161860B2 (en) | Local input/output line precharge circuit of semiconductor memory device | |
US5805505A (en) | Circuit and method for converting a pair of input signals into a level-limited output signal | |
JP2868990B2 (ja) | データ出力バッファー | |
US20030042932A1 (en) | Combined dynamic logic gate and level shifter and method employing same | |
US20070263465A1 (en) | Precharge circuit of semiconductor memory apparatus | |
KR100259070B1 (ko) | 데이터 출력 버퍼 회로 | |
JPH09139080A (ja) | ダイナミックランダムアクセスメモリに使用する出力バッファユニットおよび信号処理方法 | |
JPH03223918A (ja) | 出力回路 | |
KR100660668B1 (ko) | 용량 결합된 구동부 회로 | |
KR100211149B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이터 출력버퍼 제어회로 | |
EP0811978A1 (en) | Output buffer for dynamic random access memories | |
KR0172238B1 (ko) | 멀티-비트 데이타 출력 완충장치 | |
CN110838316A (zh) | 芯片外驱动器 | |
JP3769310B2 (ja) | 入力回路 | |
KR0172783B1 (ko) | 데이타 출력 버퍼 | |
US7031200B2 (en) | Data output apparatus for memory device | |
KR0172787B1 (ko) | 컬럼 어드레스 스트로브 신호 입력 버퍼 장치 | |
KR100557591B1 (ko) | 데이타 출력버퍼 | |
JP3157313B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR100206603B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이타 출력 버퍼 |