JPH09130065A - 電子部品の接着剤としてセラミック前駆体ポリマーを使用する方法 - Google Patents
電子部品の接着剤としてセラミック前駆体ポリマーを使用する方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来、電子部品を基板に接着する金属系ハン
ダに代わるものとして、有機ケイ素含有セラミック前駆
体ポリマーを使用する方法を提供し、ハンダ技術で問題
であった高い温度の使用、電子部品や基板の損傷などを
解決する。 【解決手段】 電子部品と基板を用意し、それぞれの電
子部分と基板は相互に接着されるべき表面を有し、接着
されるべき表面の間に、ケイ素含有セラミック前駆体ポ
リマーを含む組成物の層を適用し、接着されるべき表面
を合わせ、ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーが介在
する電子部品と基板を含むアセンブリーを作成し、その
アセンブリーを、セラミック前駆体ポリマーがセラミッ
クに転化するに十分な温度まで加熱する、ことを含むこ
とを特徴とする電子部品を基板に接着させる方法であ
る。ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーは、ポリシロ
キサン、ポリシラザン、ポリシラン、及びポリカルボシ
ランなどから選択される。
ダに代わるものとして、有機ケイ素含有セラミック前駆
体ポリマーを使用する方法を提供し、ハンダ技術で問題
であった高い温度の使用、電子部品や基板の損傷などを
解決する。 【解決手段】 電子部品と基板を用意し、それぞれの電
子部分と基板は相互に接着されるべき表面を有し、接着
されるべき表面の間に、ケイ素含有セラミック前駆体ポ
リマーを含む組成物の層を適用し、接着されるべき表面
を合わせ、ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーが介在
する電子部品と基板を含むアセンブリーを作成し、その
アセンブリーを、セラミック前駆体ポリマーがセラミッ
クに転化するに十分な温度まで加熱する、ことを含むこ
とを特徴とする電子部品を基板に接着させる方法であ
る。ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーは、ポリシロ
キサン、ポリシラザン、ポリシラン、及びポリカルボシ
ランなどから選択される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エレクトロニクス
工業において接着剤としてセラミック前駆体ポリマーを
使用することに関する。これらの接着剤は、電子部品を
損傷させることなく、それら部品の間にしっかりした結
合を形成する。
工業において接着剤としてセラミック前駆体ポリマーを
使用することに関する。これらの接着剤は、電子部品を
損傷させることなく、それら部品の間にしっかりした結
合を形成する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
電子部品は、金属系ハンダによって、支持体や回路ボー
ドのような基板に接続されていた。このようなハンダ
は、優れた導電性と熱伝導性を有する高強度の結合を形
成する点で有利である。しかも、その結合は、低コスト
で迅速に形成される。
電子部品は、金属系ハンダによって、支持体や回路ボー
ドのような基板に接続されていた。このようなハンダ
は、優れた導電性と熱伝導性を有する高強度の結合を形
成する点で有利である。しかも、その結合は、低コスト
で迅速に形成される。
【0003】しかしながら、ハンダの使用には、多数の
欠点がある。例えば、ハンダは一般に高い温度で適用さ
れ、電子部品や基板を損傷することがある。また、ハン
ダを適用するために使用されるプロセスが、温度制御、
洗浄、溶融などに非常に影響を受けやすく、腐食、弱い
結合、応力割れのような問題を防ぐことが重要である。
欠点がある。例えば、ハンダは一般に高い温度で適用さ
れ、電子部品や基板を損傷することがある。また、ハン
ダを適用するために使用されるプロセスが、温度制御、
洗浄、溶融などに非常に影響を受けやすく、腐食、弱い
結合、応力割れのような問題を防ぐことが重要である。
【0004】これらの問題を克服するため、数多くのポ
リマーベースの代用品が提案されている。それらには、
導電性粒子を充填され、電子部品を基板に接着させるた
めに使用されるエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコー
ンが挙げられる。これらのポリマーは、低温硬化性であ
る、簡単なプロセスで強固な導電性結合を形成する、耐
疲労性や耐衝撃性を有するといった長所を有する。
リマーベースの代用品が提案されている。それらには、
導電性粒子を充填され、電子部品を基板に接着させるた
めに使用されるエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコー
ンが挙げられる。これらのポリマーは、低温硬化性であ
る、簡単なプロセスで強固な導電性結合を形成する、耐
疲労性や耐衝撃性を有するといった長所を有する。
【0005】ポリマー代用品は、エレクトロニクス工業
において、さらに付加的な長所と利用性を有する。例え
ば、フィラーなしのポリマーは、大きな電子部品を回路
ボードに単に接着させる注封材料として使用されること
もできる。また、ポリマーは、良好な熱伝導体の物質を
充填され、温度に敏感なデバイスから熱を放散させるこ
ともできる。
において、さらに付加的な長所と利用性を有する。例え
ば、フィラーなしのポリマーは、大きな電子部品を回路
ボードに単に接着させる注封材料として使用されること
もできる。また、ポリマーは、良好な熱伝導体の物質を
充填され、温度に敏感なデバイスから熱を放散させるこ
ともできる。
【0006】しかしながら、ポリマー代用品にも欠点が
ある。例えば、ポリマー適用技術は、ポリマー濃度、溶
媒タイプ、ポリマー温度などの因子に敏感である。さら
に、ポリマーを硬化させるに必要な硬化プロセスは、温
度、湿度、空気濃度、汚染物質のような因子に敏感であ
る。その上、硬化されたポリマーは、電子部品のそれ以
降のプロセスで遭遇する高温に敏感なことが多い。
ある。例えば、ポリマー適用技術は、ポリマー濃度、溶
媒タイプ、ポリマー温度などの因子に敏感である。さら
に、ポリマーを硬化させるに必要な硬化プロセスは、温
度、湿度、空気濃度、汚染物質のような因子に敏感であ
る。その上、硬化されたポリマーは、電子部品のそれ以
降のプロセスで遭遇する高温に敏感なことが多い。
【0007】また、接着剤としてセラミック前駆体ポリ
マー材料を使用することは、当該技術で公知である。例
えば、プラスチック、セラミックの各種の材料に接着す
るポリマーが使用されている。しかしながら、電子部品
を基板に接着させるためにこれらの材料を使用すること
は知られていない。
マー材料を使用することは、当該技術で公知である。例
えば、プラスチック、セラミックの各種の材料に接着す
るポリマーが使用されている。しかしながら、電子部品
を基板に接着させるためにこれらの材料を使用すること
は知られていない。
【0008】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】本発明者
は、電子部品の間にしっかりしたセラミック結合を形成
するためにセラミック前駆体ポリマーが使用可能なこと
を見出した。本発明は、電子部品を基板に接着させる方
法を提供するものである。本方法は、電子部品と基板を
提供することを含み、電子部品は、基板の表面に接着さ
れるべき表面を有する。次いでセラミック前駆体ポリマ
ーの層が、接着されるべき表面の間に施される。次いで
接着されるべき表面が一緒に合わされ、セラミック前駆
体ポリマーを介在させた電子部品と基板を有するアセン
ブリーを作成する。次いでこのアセンブリーが、セラミ
ック前駆体ポリマーをセラミックに転化するに十分な温
度まで加熱される。
は、電子部品の間にしっかりしたセラミック結合を形成
するためにセラミック前駆体ポリマーが使用可能なこと
を見出した。本発明は、電子部品を基板に接着させる方
法を提供するものである。本方法は、電子部品と基板を
提供することを含み、電子部品は、基板の表面に接着さ
れるべき表面を有する。次いでセラミック前駆体ポリマ
ーの層が、接着されるべき表面の間に施される。次いで
接着されるべき表面が一緒に合わされ、セラミック前駆
体ポリマーを介在させた電子部品と基板を有するアセン
ブリーを作成する。次いでこのアセンブリーが、セラミ
ック前駆体ポリマーをセラミックに転化するに十分な温
度まで加熱される。
【0009】本発明は、セラミック前駆体ポリマーが電
子部品と基板の間にセラミック結合を形成するために使
用され得るといった、本発明者らの予期しない発見に基
づくものである。この結合は容易に生成し、安定であ
り、熱分解や外界条件による分解を受けない。本質的
に、本発明のプロセスは、電子部品と、電子部品が接着
されるべき基板の間にセラミック前駆体ポリマーの層を
配置し、次いで加熱し、セラミック前駆体ポリマーをセ
ラミックに転化させることを含む(ことからなる)。
子部品と基板の間にセラミック結合を形成するために使
用され得るといった、本発明者らの予期しない発見に基
づくものである。この結合は容易に生成し、安定であ
り、熱分解や外界条件による分解を受けない。本質的
に、本発明のプロセスは、電子部品と、電子部品が接着
されるべき基板の間にセラミック前駆体ポリマーの層を
配置し、次いで加熱し、セラミック前駆体ポリマーをセ
ラミックに転化させることを含む(ことからなる)。
【0010】本発明において使用される「電子部品(ele
ctronic components) 」は、特定のものに限定されな
い。これらには、限定されるものではないが、電子デバ
イスや電子回路の例えばケイ素を基礎とするデバイス、
ガリウム砒素を基礎とするデバイス、フォーカルプレー
ンアレイ、光電子デバイス、光電池、光学デバイスなど
がある。同様に、本発明で使用される「基板(substrat
e) 」は、特に限定されるものではなく、回路ボード、
チップ支持体などがある。本発明は、集積回路チップや
チップ支持体を回路ボードに取り付けるために実施され
ることが好ましい。
ctronic components) 」は、特定のものに限定されな
い。これらには、限定されるものではないが、電子デバ
イスや電子回路の例えばケイ素を基礎とするデバイス、
ガリウム砒素を基礎とするデバイス、フォーカルプレー
ンアレイ、光電子デバイス、光電池、光学デバイスなど
がある。同様に、本発明で使用される「基板(substrat
e) 」は、特に限定されるものではなく、回路ボード、
チップ支持体などがある。本発明は、集積回路チップや
チップ支持体を回路ボードに取り付けるために実施され
ることが好ましい。
【0011】用語「セラミック前駆体ポリマー(precera
mic polymer)」は、加熱によってセラミックに転化され
ることができるケイ素含有ポリマーを指称するに用いら
れる。表面に適用することができ、そのように転化され
ることができる任意のポリマーが、本発明において有用
である。これらのセラミック前駆体ポリマーは、当該技
術において公知であり、公知の技術によって作成され
る。適切なポリマーの例には、ポリシロキサン、ポリシ
ラザン、ポリシラン、ポリカルボシランが挙げられる。
mic polymer)」は、加熱によってセラミックに転化され
ることができるケイ素含有ポリマーを指称するに用いら
れる。表面に適用することができ、そのように転化され
ることができる任意のポリマーが、本発明において有用
である。これらのセラミック前駆体ポリマーは、当該技
術において公知であり、公知の技術によって作成され
る。適切なポリマーの例には、ポリシロキサン、ポリシ
ラザン、ポリシラン、ポリカルボシランが挙げられる。
【0012】有機ケイ素ポリマーがポリシロキサンの場
合、一般構造単位としての〔R3 SiO1/2 〕、〔R2
SiO〕、〔RSiO3/2 〕、及び〔SiO2 〕を含む
ことができ、ここでRは、水素原子、1〜20の炭素原
子を含むアルキル基の例えばメチル、エチル、プロピル
など、アリール基の例えばフェニル、不飽和アルキル基
の例えばビニルからなる群より独立して選択される。特
定のポリシロキサン基の例には、〔PhSiO3/2 〕、
〔MeSiO3/2 〕、〔HSiO3/2 〕、〔MePhS
iO〕、〔Ph2 SiO〕、〔PhViSiO〕、〔V
iSiO3/2 〕、〔MeHSiO〕、〔MeViSi
O〕、〔Me2 SiO〕、〔Me3 SiO 1/2 〕などが
挙げられる。また、ポリシロキサンの混合物やコポリマ
ーも使用可能である。
合、一般構造単位としての〔R3 SiO1/2 〕、〔R2
SiO〕、〔RSiO3/2 〕、及び〔SiO2 〕を含む
ことができ、ここでRは、水素原子、1〜20の炭素原
子を含むアルキル基の例えばメチル、エチル、プロピル
など、アリール基の例えばフェニル、不飽和アルキル基
の例えばビニルからなる群より独立して選択される。特
定のポリシロキサン基の例には、〔PhSiO3/2 〕、
〔MeSiO3/2 〕、〔HSiO3/2 〕、〔MePhS
iO〕、〔Ph2 SiO〕、〔PhViSiO〕、〔V
iSiO3/2 〕、〔MeHSiO〕、〔MeViSi
O〕、〔Me2 SiO〕、〔Me3 SiO 1/2 〕などが
挙げられる。また、ポリシロキサンの混合物やコポリマ
ーも使用可能である。
【0013】本発明のポリシロキサンは、当該技術で周
知の技術によって調製される。ポリシロキサンを調製す
るために使用される具体的な方法は、それ程重要ではな
い。殆どの場合、ポリシロキサンは、クロロシランの加
水分解によって調製される。これらの方法、及びその他
の方法が、文献「著者: Noll、書名: Chemistry andTec
hnology of Silicones の5章 (translated 2d Ger. E
d., Academic Press,1968) 」に記載されている。
知の技術によって調製される。ポリシロキサンを調製す
るために使用される具体的な方法は、それ程重要ではな
い。殆どの場合、ポリシロキサンは、クロロシランの加
水分解によって調製される。これらの方法、及びその他
の方法が、文献「著者: Noll、書名: Chemistry andTec
hnology of Silicones の5章 (translated 2d Ger. E
d., Academic Press,1968) 」に記載されている。
【0014】また、ポリシロキサンは、種々のメタロ(m
etallo) 基(即ち、金属−O−Siの繰り返し単位を含
む)で置換されることができる。適切な化合物の例に
は、当該技術で周知のボロシロキサン(borosiloxane)や
アルミノシロキサン(aluminosiloxane) が挙げられる。
例えば、文献「著者: Noll、書名: Chemistry and Tech
nology of Silicones の7章 (translated 2d Ger. E
d., Academic Press, 1968) 」は、このタイプの多数の
ポリマー、及びそれらの製造方法を記載している。その
他の例には、特開昭54−134744号公報、米国特
許第4455414号明細書、同5112779号明細
書がある。
etallo) 基(即ち、金属−O−Siの繰り返し単位を含
む)で置換されることができる。適切な化合物の例に
は、当該技術で周知のボロシロキサン(borosiloxane)や
アルミノシロキサン(aluminosiloxane) が挙げられる。
例えば、文献「著者: Noll、書名: Chemistry and Tech
nology of Silicones の7章 (translated 2d Ger. E
d., Academic Press, 1968) 」は、このタイプの多数の
ポリマー、及びそれらの製造方法を記載している。その
他の例には、特開昭54−134744号公報、米国特
許第4455414号明細書、同5112779号明細
書がある。
【0015】好ましいポリシロキサンはシルセスキオキ
サン(silsesquioxane)〔RSiO3/ 2 〕である。適切な
シルセスキオキサンの例は、アルキルシルセスキオキサ
ン、アリールシルセスキオキサン、水素シルセスキオキ
サンである。特に好ましくは、水素シルセスキオキサン
樹脂(「H−樹脂」)である。これらには、式:HSi
(OH)x (OR)y Oz/2 のヒドリドシロキサン樹脂
が挙げられ、各々のRは有機基又は置換された有機基で
あり、酸素原子によってケイ素に結合した場合、加水分
解性置換基を形成し、x=0〜2、y=0〜2、z=1
〜3、x+y+z=3である。Rの例には、アルキル基
の例えばメチル、エチル、プロピル、ブチルなど、アリ
ール基の例えばフェニル、アルケニル基の例えばアリ
ル、ビニルが挙げられる。そのようなものとして、これ
らの樹脂は、完全に縮合され(HSiO3/2 )n 、ある
いは部分的にのみ加水分解され(即ち、一部のSi−O
Rを含む)及び/又は部分的に縮合される(即ち、一部
のSi−OHを含む)ことができる。これらの樹脂は、
この構造によって表わされるものではない、それらの生
成又は取扱いを含む種々の因子によって付着する0又は
2個の水素原子を有する少量のケイ素原子(例えば、1
0%未満)を含むことがある。
サン(silsesquioxane)〔RSiO3/ 2 〕である。適切な
シルセスキオキサンの例は、アルキルシルセスキオキサ
ン、アリールシルセスキオキサン、水素シルセスキオキ
サンである。特に好ましくは、水素シルセスキオキサン
樹脂(「H−樹脂」)である。これらには、式:HSi
(OH)x (OR)y Oz/2 のヒドリドシロキサン樹脂
が挙げられ、各々のRは有機基又は置換された有機基で
あり、酸素原子によってケイ素に結合した場合、加水分
解性置換基を形成し、x=0〜2、y=0〜2、z=1
〜3、x+y+z=3である。Rの例には、アルキル基
の例えばメチル、エチル、プロピル、ブチルなど、アリ
ール基の例えばフェニル、アルケニル基の例えばアリ
ル、ビニルが挙げられる。そのようなものとして、これ
らの樹脂は、完全に縮合され(HSiO3/2 )n 、ある
いは部分的にのみ加水分解され(即ち、一部のSi−O
Rを含む)及び/又は部分的に縮合される(即ち、一部
のSi−OHを含む)ことができる。これらの樹脂は、
この構造によって表わされるものではない、それらの生
成又は取扱いを含む種々の因子によって付着する0又は
2個の水素原子を有する少量のケイ素原子(例えば、1
0%未満)を含むことがある。
【0016】上記のH−樹脂とそれらの製造方法は、当
該技術で公知である。例えば、米国特許第361527
2号明細書は、ベンゼンスルホン酸水和物の加水分解媒
体の中でトリクロロシランを加水分解し、次いで得られ
た樹脂を水又は硫酸水溶液で洗浄することを含むプロセ
スによる、ほぼ完全に縮合したH−樹脂(100〜30
0ppmまでのシラノールを含むことがある)の製造を
教示している。同様に、米国特許第5010159号明
細書は、アリールスルホン酸水和物の加水分解媒体の中
でヒドリドシロキサンを加水分解して樹脂を生成し、次
いで中和剤に接触させることを含む別な方法を開示して
いる。
該技術で公知である。例えば、米国特許第361527
2号明細書は、ベンゼンスルホン酸水和物の加水分解媒
体の中でトリクロロシランを加水分解し、次いで得られ
た樹脂を水又は硫酸水溶液で洗浄することを含むプロセ
スによる、ほぼ完全に縮合したH−樹脂(100〜30
0ppmまでのシラノールを含むことがある)の製造を
教示している。同様に、米国特許第5010159号明
細書は、アリールスルホン酸水和物の加水分解媒体の中
でヒドリドシロキサンを加水分解して樹脂を生成し、次
いで中和剤に接触させることを含む別な方法を開示して
いる。
【0017】その他のヒドリドシロキサン樹脂として、
米国特許第4999397号明細書に開示のような、酸
性のアルコール加水分解媒体中でアルコキシ又はアシロ
キシシランの加水分解によって得られる樹脂、特開昭5
9−178749号公報、同60−86017号公報、
同63−107122号公報に開示の樹脂、又は別な同
等のヒドリドシロキサンも、本発明に使用可能である。
セラミック前駆体有機ケイ素ポリマーがポリシラザンの
場合、ポリシラザンは〔R2 SiNH〕、〔R 3 Si
(NH)1/2 〕、〔RSi(NH)3/2 〕、及び/又は
米国特許第4999397号明細書に開示のような、酸
性のアルコール加水分解媒体中でアルコキシ又はアシロ
キシシランの加水分解によって得られる樹脂、特開昭5
9−178749号公報、同60−86017号公報、
同63−107122号公報に開示の樹脂、又は別な同
等のヒドリドシロキサンも、本発明に使用可能である。
セラミック前駆体有機ケイ素ポリマーがポリシラザンの
場合、ポリシラザンは〔R2 SiNH〕、〔R 3 Si
(NH)1/2 〕、〔RSi(NH)3/2 〕、及び/又は
【0018】
【化1】
【0019】のタイプの単位を含むことができ、ここ
で、各々のRは、水素原子、1〜20の炭素原子を含む
アルキル基の例えばメチル、エチル、プロピルなど、ア
リール基の例えばフェニル、不飽和炭化水素基の例えば
ビニルからなる群より独立して選択され、各々のR' 、
R''、R''' は、水素原子、1〜4の炭素原子を含むア
ルキル基、アリール基の例えばフェニル、不飽和炭化水
素基の例えばビニルからなる群より独立して選択され
る。特定のポリシラザンの単位の例には、〔Ph2 Si
NH〕、〔RhSi(NH)3/2 〕、
で、各々のRは、水素原子、1〜20の炭素原子を含む
アルキル基の例えばメチル、エチル、プロピルなど、ア
リール基の例えばフェニル、不飽和炭化水素基の例えば
ビニルからなる群より独立して選択され、各々のR' 、
R''、R''' は、水素原子、1〜4の炭素原子を含むア
ルキル基、アリール基の例えばフェニル、不飽和炭化水
素基の例えばビニルからなる群より独立して選択され
る。特定のポリシラザンの単位の例には、〔Ph2 Si
NH〕、〔RhSi(NH)3/2 〕、
【0020】
【化2】
【0021】〔ViSi(NH)3/2 〕、〔Vi2 Si
NH〕、〔PhMeSiNH〕、〔HSi(N
H)3/2 〕、〔PhViSiNH〕、〔MeSi(N
H)3/2 〕、〔Me2 SiNH〕、〔H2 SiNH〕、
〔CH3 Si(NH)3/2 〕、〔MeViSiNH〕な
どが挙げられる。本発明で使用するポリシラザンは、当
該技術で周知の技術によって調製される。ポリシラザン
を調製するために使用される具体的な方法は、それ程重
要ではない。適切なポリシラザンは、米国特許第431
2970号明細書、同4340619号明細書、同43
95460号明細書、同4404153号明細書の方法
によって調製されることができる。その他のポリシラザ
ンには、米国特許第4482689号明細書、同439
7828号明細書の方法によって調製されるものが挙げ
られる。さらにその他のポリシラザンとしては、米国特
許第4540803号明細書、同4543344号明細
書、文献「バーンズ(Burns) ら、J. Mater.Sci, 22 (19
87), pp2609-2614 」、米国特許第4835238号明
細書、同4774312号明細書、同4929742号
明細書、同4916200号明細書による方法によって
調製されるものもある。
NH〕、〔PhMeSiNH〕、〔HSi(N
H)3/2 〕、〔PhViSiNH〕、〔MeSi(N
H)3/2 〕、〔Me2 SiNH〕、〔H2 SiNH〕、
〔CH3 Si(NH)3/2 〕、〔MeViSiNH〕な
どが挙げられる。本発明で使用するポリシラザンは、当
該技術で周知の技術によって調製される。ポリシラザン
を調製するために使用される具体的な方法は、それ程重
要ではない。適切なポリシラザンは、米国特許第431
2970号明細書、同4340619号明細書、同43
95460号明細書、同4404153号明細書の方法
によって調製されることができる。その他のポリシラザ
ンには、米国特許第4482689号明細書、同439
7828号明細書の方法によって調製されるものが挙げ
られる。さらにその他のポリシラザンとしては、米国特
許第4540803号明細書、同4543344号明細
書、文献「バーンズ(Burns) ら、J. Mater.Sci, 22 (19
87), pp2609-2614 」、米国特許第4835238号明
細書、同4774312号明細書、同4929742号
明細書、同4916200号明細書による方法によって
調製されるものもある。
【0022】本願で使用される好ましいポリシラザン
は、米国特許第4540803号明細書の方法によるも
のであり、不活性の本質的に無水雰囲気中で、25℃〜
300℃の温度範囲においてトリクロロシランとジシラ
ザンを反応させながら、揮発性の副生物を蒸留すること
によって調製される。このプロセスに使用されるジシラ
ザンは、式:(R3 Si)2 NHを有し、ここでRは、
ビニル、水素、フェニル、1〜3の炭素原子を含むアル
キル基からなる群より選択される。特に好ましい態様
は、トリクロロシランとヘキサメチルジシラザンを反応
させ、ヒドリドポリシラザンを生成させることを含む。
は、米国特許第4540803号明細書の方法によるも
のであり、不活性の本質的に無水雰囲気中で、25℃〜
300℃の温度範囲においてトリクロロシランとジシラ
ザンを反応させながら、揮発性の副生物を蒸留すること
によって調製される。このプロセスに使用されるジシラ
ザンは、式:(R3 Si)2 NHを有し、ここでRは、
ビニル、水素、フェニル、1〜3の炭素原子を含むアル
キル基からなる群より選択される。特に好ましい態様
は、トリクロロシランとヘキサメチルジシラザンを反応
させ、ヒドリドポリシラザンを生成させることを含む。
【0023】また、ポリシラザンは種々の金属基(即
ち、金属−N−Siの繰り返し単位を含むもの)で置換
されることもできる。適切な化合物の例には、当該技術
で公知のボロシラザンが挙げられる。これらには、米国
特許第4910173号明細書、同4482689号明
細書、同5164344号明細書、同5252648号
明細書、5169908号明細書、同5030744号
明細書に記載のもの、文献「Seyferthら、J. Am. Cera
m. Soc. 73, 2131-2133 (1990) 」、文献「Noth,B. Ano
rg. Chem. Org. Chem., 16(9), 618-21 (1961)」、欧州
特許出願第0364323号公開明細書に記載のものが
挙げられる。
ち、金属−N−Siの繰り返し単位を含むもの)で置換
されることもできる。適切な化合物の例には、当該技術
で公知のボロシラザンが挙げられる。これらには、米国
特許第4910173号明細書、同4482689号明
細書、同5164344号明細書、同5252648号
明細書、5169908号明細書、同5030744号
明細書に記載のもの、文献「Seyferthら、J. Am. Cera
m. Soc. 73, 2131-2133 (1990) 」、文献「Noth,B. Ano
rg. Chem. Org. Chem., 16(9), 618-21 (1961)」、欧州
特許出願第0364323号公開明細書に記載のものが
挙げられる。
【0024】セラミック前駆体有機ケイ素ポリマーがポ
リシランの場合、一般構造単位〔R 3 Si〕、〔R2 S
i〕、〔RSi〕を含むことができ、ここで各々のR
は、水素、1〜20の炭素原子を含むアルキルの例えば
メチル、エチル、プロピルなど、アリール基の例えばフ
ェニル、不飽和炭化水素基の例えばビニルからなる群よ
り独立して選択される。特定のポリシラン単位の例に
は、〔Me2 Si〕、〔PhMeSi〕、〔MeS
i〕、〔PhSi〕、〔ViSi〕、〔MeHSi〕、
〔MeViSi〕、〔Ph2 Si〕、〔Me2 Si〕、
〔Me3 Si〕などがある。
リシランの場合、一般構造単位〔R 3 Si〕、〔R2 S
i〕、〔RSi〕を含むことができ、ここで各々のR
は、水素、1〜20の炭素原子を含むアルキルの例えば
メチル、エチル、プロピルなど、アリール基の例えばフ
ェニル、不飽和炭化水素基の例えばビニルからなる群よ
り独立して選択される。特定のポリシラン単位の例に
は、〔Me2 Si〕、〔PhMeSi〕、〔MeS
i〕、〔PhSi〕、〔ViSi〕、〔MeHSi〕、
〔MeViSi〕、〔Ph2 Si〕、〔Me2 Si〕、
〔Me3 Si〕などがある。
【0025】本発明のポリシランは、当該技術で周知の
技術によって調製される。ポリシランを調製するために
使用される具体的な方法は、それ程重要ではない。適切
なポリシランは、文献「著者: Noll、書名: Chemistry
and Technology of Silicones 、347-49頁(translated
2d Ger. Ed., Academic Press, 1968)」に記載のよう
に、オルガノハロシランとアルカリ金属の反応によって
調製される。より具体的には、適切なポリシランは、米
国特許第4260780号明細書、文献「Westら、25 P
olym. Preprints 4 (1984)」に記載のように、有機基で
置換されたクロロシランのナトリウム金属還元によって
調製されることができる。その他の適切なポリシラン
は、米国特許第4298559号明細書に記載の一般的
な方法によって調製されることができる。
技術によって調製される。ポリシランを調製するために
使用される具体的な方法は、それ程重要ではない。適切
なポリシランは、文献「著者: Noll、書名: Chemistry
and Technology of Silicones 、347-49頁(translated
2d Ger. Ed., Academic Press, 1968)」に記載のよう
に、オルガノハロシランとアルカリ金属の反応によって
調製される。より具体的には、適切なポリシランは、米
国特許第4260780号明細書、文献「Westら、25 P
olym. Preprints 4 (1984)」に記載のように、有機基で
置換されたクロロシランのナトリウム金属還元によって
調製されることができる。その他の適切なポリシラン
は、米国特許第4298559号明細書に記載の一般的
な方法によって調製されることができる。
【0026】また、ポリシランは、種々の金属基(即
ち、金属−Siの繰り返し単位を含む)で置換されるこ
ともできる。その中に含められる適切な金属の例には、
ホウ素、アルミニウム、クロム、チタンが挙げられる。
そのようなポリメタロシランの調製に用いる方法は、そ
れ程重要ではない。例えば、米国特許第4762895
号明細書、同4906710号明細書による方法があ
る。
ち、金属−Siの繰り返し単位を含む)で置換されるこ
ともできる。その中に含められる適切な金属の例には、
ホウ素、アルミニウム、クロム、チタンが挙げられる。
そのようなポリメタロシランの調製に用いる方法は、そ
れ程重要ではない。例えば、米国特許第4762895
号明細書、同4906710号明細書による方法があ
る。
【0027】セラミック前駆体有機ケイ素ポリマーがポ
リカルボシランの場合、〔R2 SiCH2 〕、〔RSi
(CH2 )3/2 〕及び/又は〔R3 Si(C
H2 )1/2 〕の単位を含むことができ、ここで各々のR
は、水素、1〜20の炭素原子を含むアルキル基の例え
ばメチル、エチル、プロピルなど、アリール基の例えば
フェニル、不飽和炭化水素基の例えばビニルからなる群
より独立して選択される。適切なポリマーは、例えば米
国特許第4052430号明細書、同4100233号
明細書に開示されている。繰り返し単位(−SiHCH
3 −CH2 −)を有するポリカルボシランは、日本カー
ボン社から市販されている。
リカルボシランの場合、〔R2 SiCH2 〕、〔RSi
(CH2 )3/2 〕及び/又は〔R3 Si(C
H2 )1/2 〕の単位を含むことができ、ここで各々のR
は、水素、1〜20の炭素原子を含むアルキル基の例え
ばメチル、エチル、プロピルなど、アリール基の例えば
フェニル、不飽和炭化水素基の例えばビニルからなる群
より独立して選択される。適切なポリマーは、例えば米
国特許第4052430号明細書、同4100233号
明細書に開示されている。繰り返し単位(−SiHCH
3 −CH2 −)を有するポリカルボシランは、日本カー
ボン社から市販されている。
【0028】また、ポリカルボシランは、種々の金属基
の例えばホウ素、アルミニウム、チタンで置換されるこ
とができる。そのようなポリマーを調製するために使用
される方法は、それ程重要ではない。例えば、米国特許
第4248814号明細書、同4283376号明細
書、同4220600号明細書の方法がある。セラミッ
クを生成するその他の物質も、本願で使用可能である。
例えば、割合に低い温度で熱分解されるたとができる酸
化物前駆体化合物の種々の金属の例えばアルミニウム、
チタン、ジルコニウム、タンタル、ニオブ及び/又はバ
ナジウムの化合物、及び種々の非金属化合物の例えばホ
ウ素、燐の化合物も、本願で言う「セラミック前駆体ポ
リマー」の定義の範疇に含まれる。特定の化合物には、
ジルコニウムテトラアセチルアセトネート、チタンジブ
トキシジアセチルアセトネート、アルミニウムトリアセ
チルアセトネート、テトライソブトキシチタンが挙げら
れる。
の例えばホウ素、アルミニウム、チタンで置換されるこ
とができる。そのようなポリマーを調製するために使用
される方法は、それ程重要ではない。例えば、米国特許
第4248814号明細書、同4283376号明細
書、同4220600号明細書の方法がある。セラミッ
クを生成するその他の物質も、本願で使用可能である。
例えば、割合に低い温度で熱分解されるたとができる酸
化物前駆体化合物の種々の金属の例えばアルミニウム、
チタン、ジルコニウム、タンタル、ニオブ及び/又はバ
ナジウムの化合物、及び種々の非金属化合物の例えばホ
ウ素、燐の化合物も、本願で言う「セラミック前駆体ポ
リマー」の定義の範疇に含まれる。特定の化合物には、
ジルコニウムテトラアセチルアセトネート、チタンジブ
トキシジアセチルアセトネート、アルミニウムトリアセ
チルアセトネート、テトライソブトキシチタンが挙げら
れる。
【0029】所望により、得られるセラミックの特性を
改質するために、粒子状フィラーがセラミック前駆体ポ
リマーに添加されることもできる。例えば、金、銀、白
金、アルミニウム、銅などの金属が、セラミックを導電
性にするために添加されることもできる。同様に、種々
の金属又は非金属の酸化物、窒化物、ホウ化物、炭化物
のフィラー(例えば、ガラス、アルミナ、シリカ、二酸
化チタン、SiC、SiN、AlN、B4 C、ZrB、
ZrC)が、熱伝導率、ポリマー粘度、色などを特性や
特質を改良するために添加されることができる。このよ
うなフィラーとその使用は、当該技術で公知である。一
般に、フィラーが使用される場合、1〜90重量%の量
で添加される。
改質するために、粒子状フィラーがセラミック前駆体ポ
リマーに添加されることもできる。例えば、金、銀、白
金、アルミニウム、銅などの金属が、セラミックを導電
性にするために添加されることもできる。同様に、種々
の金属又は非金属の酸化物、窒化物、ホウ化物、炭化物
のフィラー(例えば、ガラス、アルミナ、シリカ、二酸
化チタン、SiC、SiN、AlN、B4 C、ZrB、
ZrC)が、熱伝導率、ポリマー粘度、色などを特性や
特質を改良するために添加されることができる。このよ
うなフィラーとその使用は、当該技術で公知である。一
般に、フィラーが使用される場合、1〜90重量%の量
で添加される。
【0030】本発明のコーティング用組成物の中にはさ
らにその他の物質が存在することができる。例えば、グ
リシドキシプロピルトリメトキシシラン、メルカプトプ
ロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラ
ンのような接着促進剤、あるいは当業者が周知の沈殿防
止剤も1〜20重量%の量で使用してよい。セラミック
前駆体ポリマーと随意のフィラーの層は、結合されるべ
き電子部分の表面と、結合されるべき基板の表面の間に
施される。このことは任意の望ましい仕方で行われる
が、好ましい方法は、セラミック前駆体ポリマーを溶媒
に溶かし又は分散させ、次いで計量滴下、浸漬コーティ
ング、スプレーコーティング、フローコーティングのよ
うな方法によって電子部分又は基板の表面にその混合物
を施し、次いでその溶媒を蒸発させることを含む。溶融
コーティングのようなその他の同等な方法も、使用可能
であると考えられる。
らにその他の物質が存在することができる。例えば、グ
リシドキシプロピルトリメトキシシラン、メルカプトプ
ロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラ
ンのような接着促進剤、あるいは当業者が周知の沈殿防
止剤も1〜20重量%の量で使用してよい。セラミック
前駆体ポリマーと随意のフィラーの層は、結合されるべ
き電子部分の表面と、結合されるべき基板の表面の間に
施される。このことは任意の望ましい仕方で行われる
が、好ましい方法は、セラミック前駆体ポリマーを溶媒
に溶かし又は分散させ、次いで計量滴下、浸漬コーティ
ング、スプレーコーティング、フローコーティングのよ
うな方法によって電子部分又は基板の表面にその混合物
を施し、次いでその溶媒を蒸発させることを含む。溶融
コーティングのようなその他の同等な方法も、使用可能
であると考えられる。
【0031】一般に、結合されるべき2つの表面は、セ
ラミック前駆体ポリマーを介在させて合わされる。所望
により、圧力が適用され、基板に電子部分をよりしっか
りと結合させるために保持される。次いでセラミック前
駆体ポリマーは、十分な温度に加熱することによってセ
ラミックに転化される。一般に、温度は50〜1000
℃の範囲であり、熱分解する雰囲気とポリマーに依存す
る。好ましい温度は50〜800℃であり、より好まし
くは100〜500℃である。加熱は、一般に、セラミ
ック化するに十分な時間まで行い、一般に6時間までで
あり、好ましくは3時間未満である(例えば、5分間〜
3時間)。
ラミック前駆体ポリマーを介在させて合わされる。所望
により、圧力が適用され、基板に電子部分をよりしっか
りと結合させるために保持される。次いでセラミック前
駆体ポリマーは、十分な温度に加熱することによってセ
ラミックに転化される。一般に、温度は50〜1000
℃の範囲であり、熱分解する雰囲気とポリマーに依存す
る。好ましい温度は50〜800℃であり、より好まし
くは100〜500℃である。加熱は、一般に、セラミ
ック化するに十分な時間まで行い、一般に6時間までで
あり、好ましくは3時間未満である(例えば、5分間〜
3時間)。
【0032】上記の加熱は、真空から大気圧以上の任意
の有効な雰囲気圧力下で行われ、効果的な酸化性又は非
酸化性雰囲気下でよく、例えば空気、O2 、オゾン、不
活性ガス(N2 、Arなど)、アンモニア、アミン、水
分、N2 O、H2 などである。一般に、対流式オーブ
ン、急速加熱処理、ホットプレート、光又はマイクロ波
エネルギーが本願では効果的である。また、加熱速度は
それ程重要ではないが、出来るだけ短時間に行うことが
最も現実的で好ましい。
の有効な雰囲気圧力下で行われ、効果的な酸化性又は非
酸化性雰囲気下でよく、例えば空気、O2 、オゾン、不
活性ガス(N2 、Arなど)、アンモニア、アミン、水
分、N2 O、H2 などである。一般に、対流式オーブ
ン、急速加熱処理、ホットプレート、光又はマイクロ波
エネルギーが本願では効果的である。また、加熱速度は
それ程重要ではないが、出来るだけ短時間に行うことが
最も現実的で好ましい。
【0033】加熱が完了すると、セラミックが、電子部
品と基板の間に強い結合を形成する。この結合は、使用
される随意のフィラーや添加剤に応じて、種々の物理的
・電気的特性(導電性から誘導性)を有することができ
る。また、この結合は、環境、温度、化学物質、物理的
操作による損傷に耐える。次の例は、当業者が本発明を
さらに容易に理解するために用意したものであり,限定
されるものではない。
品と基板の間に強い結合を形成する。この結合は、使用
される随意のフィラーや添加剤に応じて、種々の物理的
・電気的特性(導電性から誘導性)を有することができ
る。また、この結合は、環境、温度、化学物質、物理的
操作による損傷に耐える。次の例は、当業者が本発明を
さらに容易に理解するために用意したものであり,限定
されるものではない。
【0034】
例1 米国特許第3615272号明細書の方法によって作成
した12gの水素シルセスキオキサン(silsesquioxane)
樹脂、36gのプラズマアルミナマイクロバルーン(6
μm)、3gのグリシドキシプロピルトリメトキシシラ
ン、15gのジメチルシクロシロキサンを混合し、粘稠
なペーストの接着剤を作成した。2.5cm×7.5c
m×0.16cmのアルミニウムパネルを接着強度試験
のために使用した。パネルをトルエンで洗浄し、次いで
紫外線とオゾンの洗浄装置の中に15分間入れた。次い
で5mlの接着剤ペーストをその1つのパネルの中央に
配置し、次いでもう1枚のパネルを最初のパネルの上に
十字状に配置し、2枚のパネルを一緒に結合させた2.
5cm平方の領域を中央に有する十字形を作成した。結
合させたパネルの中央部分に50gの錘を置き、400
℃で1〜4時間熱分解させた。4.5kgのロードセル
を備えたインストロン(商標)試験機を使用し、0.6
25cm/分の引張速度で接着剤結合強度を測定した。
その結果を次に示す。
した12gの水素シルセスキオキサン(silsesquioxane)
樹脂、36gのプラズマアルミナマイクロバルーン(6
μm)、3gのグリシドキシプロピルトリメトキシシラ
ン、15gのジメチルシクロシロキサンを混合し、粘稠
なペーストの接着剤を作成した。2.5cm×7.5c
m×0.16cmのアルミニウムパネルを接着強度試験
のために使用した。パネルをトルエンで洗浄し、次いで
紫外線とオゾンの洗浄装置の中に15分間入れた。次い
で5mlの接着剤ペーストをその1つのパネルの中央に
配置し、次いでもう1枚のパネルを最初のパネルの上に
十字状に配置し、2枚のパネルを一緒に結合させた2.
5cm平方の領域を中央に有する十字形を作成した。結
合させたパネルの中央部分に50gの錘を置き、400
℃で1〜4時間熱分解させた。4.5kgのロードセル
を備えたインストロン(商標)試験機を使用し、0.6
25cm/分の引張速度で接着剤結合強度を測定した。
その結果を次に示す。
【0035】 400℃/1時間 400℃/4時間 ──────────────────────────────── 接着強度 322g/cm2 420g/cm2 (2つのサンプルの平均) (4つのサンプルの平均で、 1サンプル>700g/cm2 ) 例2 米国特許第4540803号明細書の方法によって作成
した12gのヒドリドポリシラザン(hydridopolysilaza
ne) 、28gのプラズマアルミナマイクロバルーン(6
μm)、1.5gのグリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、3.5gのジメチルシクロシロキサンを混合
し、粘稠なペーストの接着剤を作成した。例1と同じ仕
方でアルミニウムパネル(2.5cm×7.5cm×
0.16cm)を洗浄し、接着し、熱分解し、試験し
た。その結果を次に示す。
した12gのヒドリドポリシラザン(hydridopolysilaza
ne) 、28gのプラズマアルミナマイクロバルーン(6
μm)、1.5gのグリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、3.5gのジメチルシクロシロキサンを混合
し、粘稠なペーストの接着剤を作成した。例1と同じ仕
方でアルミニウムパネル(2.5cm×7.5cm×
0.16cm)を洗浄し、接着し、熱分解し、試験し
た。その結果を次に示す。
【0036】 400℃/1時間 400℃/4時間 ──────────────────────────────── 接着強度 350g/cm2 150g/cm2 (2つのサンプルの平均) (4つのサンプルの平均で、 1サンプル>700g/cm2 ) 例3 米国特許第3615272号明細書の方法によって作成
した水素シルセスキオキサン樹脂を、トルエンで10重
量%まで希釈した。その水素シルセスキオキサン樹脂の
重量を基準に50ppmの白金をその溶液に添加した。
この溶液を、シリコンウェハーの未研摩面に施し、その
上にもう1つのウェハーの未研摩面を適用した。結合さ
せたウェハーを400℃で1.5時間熱分解させた。2
枚のウェハーは非常に良好に接着し、横方向の力を与え
ても破断しなかった。
した水素シルセスキオキサン樹脂を、トルエンで10重
量%まで希釈した。その水素シルセスキオキサン樹脂の
重量を基準に50ppmの白金をその溶液に添加した。
この溶液を、シリコンウェハーの未研摩面に施し、その
上にもう1つのウェハーの未研摩面を適用した。結合さ
せたウェハーを400℃で1.5時間熱分解させた。2
枚のウェハーは非常に良好に接着し、横方向の力を与え
ても破断しなかった。
【0037】例4 米国特許第3615272号明細書の方法によって作成
した水素シルセスキオキサン樹脂を、トルエンで10重
量%まで希釈した。その水素シルセスキオキサン樹脂の
重量を基準に50ppmの白金をその溶液に添加した。
この溶液を、4枚のシリコンウェハーの研摩した面に施
し、別な4枚のウェハーをそれぞれのウェハーの上に配
置した。結合させたウェハーを400℃で1.5時間熱
分解させた。4組のウェハーのうち3組は良好に接着
し、1組のウェハーにはクラックが入り、接着が離れて
いた。
した水素シルセスキオキサン樹脂を、トルエンで10重
量%まで希釈した。その水素シルセスキオキサン樹脂の
重量を基準に50ppmの白金をその溶液に添加した。
この溶液を、4枚のシリコンウェハーの研摩した面に施
し、別な4枚のウェハーをそれぞれのウェハーの上に配
置した。結合させたウェハーを400℃で1.5時間熱
分解させた。4組のウェハーのうち3組は良好に接着
し、1組のウェハーにはクラックが入り、接着が離れて
いた。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 グリッシュ チャンドラ アメリカ合衆国,ミシガン 48640,ミッ ドランド,ショール クリーク サークル 5203 (72)発明者 ローレン アンドリュー ハルスカ アメリカ合衆国,ミシガン 48640,ミッ ドランド,ジェームズ ドライブ 4519 (72)発明者 セレサ エイリーン ジェントル アメリカ合衆国,ペンシルバニア 17356, レッド リオン,オークウッド ドライブ 710
Claims (9)
- 【請求項1】 電子部品と基板を用意し、それぞれの電
子部分と基板は相互に接着されるべき表面を有し、 接着されるべき表面の間に、ケイ素含有セラミック前駆
体ポリマーを含む組成物の層を適用し、 接着されるべき表面を合わせ、ケイ素含有セラミック前
駆体ポリマーが介在する電子部品と基板を含むアセンブ
リーを作成し、 そのアセンブリーを、セラミック前駆体ポリマーがセラ
ミックに転化するに十分な温度まで加熱する、ことを含
むことを特徴とする電子部品を基板に接着させる方法。 - 【請求項2】 電子部品が集積回路チップであり、基板
が回路ボード又はチップ支持体であることを特徴とする
請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】 電子部品が集積回路のチップ支持体であ
り、基板が回路ボードであることを特徴とする請求項1
に記載の方法。 - 【請求項4】 ケイ素含有セラミック前駆体ポリマー
が、ポリシロキサン、ポリシラザン、ポリシラン、及び
ポリカルボシランからなる群より選択されたことを特徴
とする請求項1に記載の方法。 - 【請求項5】 ケイ素含有セラミック前駆体ポリマー
が、水素シルセスキオキサン樹脂であることを特徴とす
る請求項1に記載の方法。 - 【請求項6】 ケイ素含有セラミック前駆体ポリマー
が、ヒドリドポリシラザン樹脂であることを特徴とする
請求項1に記載の方法。 - 【請求項7】 ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーを
含む組成物が、さらに溶媒を含むことを特徴とする請求
項1に記載の方法。 - 【請求項8】 ケイ素含有セラミック前駆体ポリマーを
含む組成物が、さらにフィラーを含むことを特徴とする
請求項1に記載の方法。 - 【請求項9】 そのアセンブリーが、150〜600℃
の範囲の温度に5分間〜6時間加熱されることを特徴と
する請求項1に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US53321795A | 1995-09-25 | 1995-09-25 | |
US08/533217 | 1995-09-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09130065A true JPH09130065A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=24125005
Family Applications (1)
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
JP2013543280A (ja) * | 2010-11-18 | 2013-11-28 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ポリシラザン接合層を含む発光ダイオードコンポーネント |
JP2018100401A (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 接着剤組成物及びエレクトロニクスにおけるその使用 |
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Families Citing this family (26)
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---|---|---|---|---|
EP0764704B1 (en) * | 1995-09-25 | 2000-03-08 | Dow Corning Corporation | Use of preceramic polymers as electronic adhesives |
US6472076B1 (en) * | 1999-10-18 | 2002-10-29 | Honeywell International Inc. | Deposition of organosilsesquioxane films |
US6761975B1 (en) * | 1999-12-23 | 2004-07-13 | Honeywell International Inc. | Polycarbosilane adhesion promoters for low dielectric constant polymeric materials |
DE10251317B4 (de) * | 2001-12-04 | 2006-06-14 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterchip |
JP2005526164A (ja) * | 2002-05-16 | 2005-09-02 | ダウ・コーニング・コーポレイション | 難燃性組成物 |
CA2435893A1 (en) * | 2002-07-23 | 2004-01-23 | Global Thermoelectric Inc. | High temperature gas seals |
KR100938376B1 (ko) * | 2002-12-23 | 2010-01-22 | 에스케이케미칼주식회사 | 실리콘 중간체를 포함하는 플립 칩 본딩용 비도전성접착제 조성물 |
US6943058B2 (en) | 2003-03-18 | 2005-09-13 | Delphi Technologies, Inc. | No-flow underfill process and material therefor |
US7281688B1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-10-16 | The Boeing Company | Materials for self-transpiring hot skins for hypersonic vehicles or reusable space vehicles |
DE102007034609A1 (de) * | 2007-07-25 | 2009-01-29 | Robert Bosch Gmbh | Fügeverfahren sowie Verbund aus mindestens zwei Fügepartnern |
DE102009000888B4 (de) * | 2009-02-16 | 2011-03-24 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Halbleiteranordnung |
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Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS54134744A (en) * | 1978-04-11 | 1979-10-19 | Toshiba Ceramics Co | Heat resistant adhesive material |
US4255316A (en) * | 1979-04-26 | 1981-03-10 | Dow Corning Corporation | Ceramifiable silicone adhesives |
JPS5767083A (en) * | 1980-10-06 | 1982-04-23 | Kurosaki Refractories Co | Ceramic tube jointing structure and method |
US4422891A (en) * | 1981-06-16 | 1983-12-27 | Dentsply Research & Development Corporation | Vitrifiable adhesive process |
JPS62233508A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-13 | 株式会社東芝 | セラミツクス部材の連結構造体 |
US4808653A (en) * | 1986-12-04 | 1989-02-28 | Dow Corning Corporation | Coating composition containing hydrogen silsesquioxane resin and other metal oxide precursors |
US4849296A (en) * | 1987-12-28 | 1989-07-18 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramic coatings from metal oxides and hydrogen silsesquioxane resin ceramified in ammonia |
US5073840A (en) * | 1988-10-06 | 1991-12-17 | Microlithics Corporation | Circuit board with coated metal support structure and method for making same |
US4943468A (en) * | 1988-10-31 | 1990-07-24 | Texas Instruments Incorporated | Ceramic based substrate for electronic circuit system modules |
US5336532A (en) * | 1989-02-21 | 1994-08-09 | Dow Corning Corporation | Low temperature process for the formation of ceramic coatings |
JPH03119087A (ja) * | 1989-09-30 | 1991-05-21 | Tonen Corp | セラミックス及び/又は金属接着剤と用途 |
US5256487A (en) * | 1989-12-08 | 1993-10-26 | The B. F. Goodrich Company | High char yield silazane derived preceramic polymers and cured compositions thereof |
US4973526A (en) * | 1990-02-15 | 1990-11-27 | Dow Corning Corporation | Method of forming ceramic coatings and resulting articles |
US5262201A (en) * | 1990-06-04 | 1993-11-16 | Dow Corning Corporation | Low temperature process for converting silica precursor coatings to ceramic silica coatings by exposure to ammonium hydroxide or an environment to which water vapor and ammonia vapor have been added |
US5059448A (en) * | 1990-06-18 | 1991-10-22 | Dow Corning Corporation | Rapid thermal process for obtaining silica coatings |
US5407504A (en) * | 1993-11-18 | 1995-04-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method for joining ceramic to ceramic or to carbon |
US5530293A (en) * | 1994-11-28 | 1996-06-25 | International Business Machines Corporation | Carbon-free hydrogen silsesquioxane with dielectric constant less than 3.2 annealed in hydrogen for integrated circuits |
US5601675A (en) * | 1994-12-06 | 1997-02-11 | International Business Machines Corporation | Reworkable electronic apparatus having a fusible layer for adhesively attached components, and method therefor |
US5616202A (en) * | 1995-06-26 | 1997-04-01 | Dow Corning Corporation | Enhanced adhesion of H-resin derived silica to gold |
EP0764704B1 (en) * | 1995-09-25 | 2000-03-08 | Dow Corning Corporation | Use of preceramic polymers as electronic adhesives |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013543280A (ja) * | 2010-11-18 | 2013-11-28 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ポリシラザン接合層を含む発光ダイオードコンポーネント |
JP2018100401A (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 接着剤組成物及びエレクトロニクスにおけるその使用 |
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