JPH09115692A - 形状創成装置 - Google Patents

形状創成装置

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JPH09115692A
JPH09115692A JP7265957A JP26595795A JPH09115692A JP H09115692 A JPH09115692 A JP H09115692A JP 7265957 A JP7265957 A JP 7265957A JP 26595795 A JP26595795 A JP 26595795A JP H09115692 A JPH09115692 A JP H09115692A
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electrode
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reaction gas
gas
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JP7265957A
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Inventor
Hideo Takino
日出雄 瀧野
Hiroshi Mizukami
浩 水上
Terunori Kobayashi
輝紀 小林
Hiroshi Ito
伊藤  博
Norio Shibata
規夫 柴田
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Nikon Corp
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Nikon Corp
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C15/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching

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  • Plasma Technology (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】プラズマを用いて生成したラジカルの反応を利
用した形状創成装置であって、被加工物の表面の荒れを
防ぎ、光学物品の加工に適した装置を提供する。 【解決手段】電極2は、被加工物10と対向する部分に
局部的なプラズマ201を生成する。また、電極2の内
部から、電極2と被加工物10との間の空間に、反応ガ
スを噴出させる。電極2に取り付けられた円板701
は、電極2周囲の被加工物10と接する空間を狭める。
これにより、反応ガスを被加工物10に沿わせて流す流
路202を形成される。流路202により、被加工物1
0に沿って流れる反応ガスの流速が速められ、反応ガス
が被加工物10の表面を荒らすのを防止することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ラジカル反応を利
用した無歪加工装置および加工方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ラジカル反応を利用した無歪加工方法
は、例えば、特開平1−125829号公報等によって
すでに開示されている。この加工方法において、プラズ
マを用いるものは特にプラズマCVM(Chemica
l VaporizationMachining)と
呼ばれている(森ら、精密工学会春季大会学術講演会講
演論文集 P.637 1992)。
【0003】プラズマCVMとは、つぎのような原理に
基づくものである。すなわち、高圧力下において、被加
工物近傍に設置された加工電極にプラズマを発生させ
る。このプラズマにハロゲンなどの電気陰性度の高い反
応ガスを供給する。これにより、反応ガスは解離し、反
応性に富んだラジカルになる。ラジカルを被加工物表面
と反応させ、反応により生じた生成物を連続的に気化さ
せることにより、被加工物表面を加工する。なお、反応
ガスは、被加工物と反応し、生成物が気化する特性を有
するものを選択して用いる。
【0004】この加工方法では、高圧力下でプラズマを
生成するために、従来にない高濃度のラジカルを生成で
きる。このため、機械加工に匹敵する高加工速度が得ら
れる。また、高圧力下であるために、加工電極周辺の電
界強度の高い箇所だけに局在化したプラズマを生成でき
る。その結果、加工領域を加工電極近傍に限定すること
ができ、加工電極形状に依存した極めて空間分解能の高
い加工を達成できる。さらに、機械加工では塑性変形、
ぜい性破壊といった物理現象を利用しているために、加
工によって被加工物表面にダメージを与えることになる
が、プラズマCVMでは化学的に加工が進行するので、
被加工物表面に欠陥や熱的変質層が形成されず無歪であ
る。
【0005】プラズマCVMでは、加工時間と加工量と
に相関がある。したがって、必要除去量に応じて、所定
の時間または速度で加工電極と被加工物とを相対的に移
動させることにより、加工量がコントロールできる。こ
の特性から、特開平4ー246184に開示されている
ように、数値制御を用いることにより、ガラスやセラミ
ックス等の絶縁体、シリコン単結晶等の半導体、および
導体を高精度に加工できる。
【0006】なお、プラズマCVMにおいて、プラズマ
への反応ガスの供給方法としては、プラズマを生成する
ための電極をパイプ状にし、このパイプの内部を反応ガ
スを通し、パイプの端面でプラズマを生成させ、パイプ
端面から反応ガスを噴出させることにより、プラズマに
反応ガスを供給する方法が知られている。
【0007】また、プラズマを用いた化学エッチングに
おける従来技術として、特開平5−267233号公報
では、反応ガスのプラズマを生成し、このプラズマを加
工すべき基体に局部的に供給するためのプラズマ室の出
口を、反応ガスのプラズマと反応する犠牲部材で囲む構
成が開示されている。これにより、プラズマ室の出口の
周辺に流れたプラズマの反応粒子は、犠牲部材と反応す
るため、基体とは反応せず、基体とプラズマとの反応
を、プラズマ室出口部分のみに制限することができる。
したがって、プラズマと反応させる基体表面の領域を、
正確に制御することができるというものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来のプラズマCVM
によって、パイプ状の加工電極先端から反応ガスを噴出
させながら加工を行うと、加工電極の周辺部の被加工物
の表面粗さが大きくなる、すなわち表面が荒れるという
問題点があった。
【0009】被加工面の表面の荒れは、光学物品におい
ては大きな問題である。たとえば光学レンズでは表面粗
さは透過率と密接に関係しており、表面の荒れにより光
学性能が著しく低下する。
【0010】一方、上述した特開平5−267233号
公報記載の技術は、犠牲部材の材質をプラズマの反応粒
子と反応する材質にしなければならず、反応ガスの種類
によって、犠牲部材の材質を選択しなければならない。
また、反応粒子と犠牲部材とを反応させるため、反応生
成物が生じ、この反応生成物が、基体を汚染するという
問題がある。また、この技術は、プラズマ補助化学エッ
チングの反応領域を制御する技術であるため、この技術
をプラズマCVMに応用することによって、プラズマC
VMにおける被加工物の表面荒れが解決できるかどうか
も不明である。
【0011】また、特開平5−267233号公報記載
の技術を、パイプ状の加工電極先端でプラズマを生成す
るプラズマCVMに応用しようとすると、加工電極と犠
牲部材とを絶縁するか、犠牲部材として絶縁性の材料を
用いなければならないため、犠牲部材の材質がさらに制
限されるという問題も生じる。
【0012】本発明は、プラズマを用いて生成したラジ
カルの反応を利用した形状創成装置であって、被加工物
の表面の荒れを防ぎ、光学物品の加工に適した装置を提
供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】プラズマCVMにおける
被加工物の表面の荒れの原因を明らかにするため、本発
明者らは、図2のように、パイプ状の加工電極501を
用い、加工電極501の端面503にプラズマを生成
し、加工電極501の内部からプラズマに反応ガスを供
給し、加工電極501と被加工物502とを相対的に静
止させた状態で、被加工物502を加工する実験を行っ
た。被加工物502には、加工電極501の形状に対応
したリング状の深さ分布をもつの加工痕が形成された。
この加工痕およびその周辺の表面粗さを測定したこと
ろ、電極中心軸から離れるにしたがって表面粗さが大き
くなることがわかった。このことから、問題となってい
る被加工物502の加工表面の荒れは、加工電極501
から離れた位置に生じる表面荒れ領域が、加工電極50
1と被加工物502とを相対的に走査することにより、
被加工物502の全体におよぶためである考えられる。
【0014】さらに、電極から離れるにしたがって表面
が粗くなる原因を究明するため、以下のような実験を行
った。
【0015】加工電極と被加工物の配置を図2の配置で
一定にし、反応ガス流量、投入電力、反応ガス濃度など
の加工条件を変えて加工を行い、加工条件と表面粗さと
の関係を調べた。その結果、反応ガス流速が表面粗さに
影響を及ぼすことがわかった。図3に示すように、反応
ガス流量が低下するほど、表面粗さRaが大きくなるこ
とがわかる。
【0016】そこで、つぎに、図2の配置における加工
電極501周辺の反応ガスの流速分布を数値解析により
調べた。解析では、ナビエストークス方程式、連続の式
を差分法により計算した。解析モデルには加工電極50
1の中心を軸とする軸対称モデルを採用し、簡単のため
に加工電極501と被加工物502表面のみで構成し
た。加工電極501は、外径φ1mm、内径φ0.8m
mのパイプ状のものとした。電極501と被加工物50
2との間隔は0.2mmとした。反応ガスは、Heと
し、加工電極の上部から200cc/minで供給する
ものとした。Heの物性値は、動粘性係数1.34×1
-42/s、密度1.72×10-1kg/m3とした。
解析結果の一例を図4に示す。図4では、ベクトルの大
きさが流速を、向きが流れの方向を表している。図4か
ら、被加工物501表面の近傍における反応ガス流速
は、加工電極501の直下に比べて、電極から離れた位
置で小さくなっていることがわかる。
【0017】以上のことから、本発明者らは、前記のよ
うに、プラズマCVMにおいて、被加工物502の加工
表面全面の表面粗さが粗くなるという問題は、加工電極
501から離れた位置において、反応ガスの流速が低下
し、被加工物502に何らかの作用を生じさせることが
原因と考えた。そこで、本発明者らは、加工電極周辺で
の反応ガスの流速を速めることにより、被加工物の加工
表面の荒れを減少させることができると考えた。
【0018】そのために、本発明によれば、被加工物を
搭載するための支持部と、前記被加工物と対向する部分
に、局部的なプラズマを生成するための電極と、前記電
極を前記被加工物に対して相対的に移動させる移動手段
と、前記電極と前記被加工物とが対向する空間に反応ガ
スを噴出するためのガス噴出手段と、前記ガス噴出手段
から噴出された反応ガスを前記被加工物に沿わせて流す
ために、前記電極の周囲の前記被加工物と接する空間を
狭める手段とを有することを特徴とする形状創成装置が
提供される。
【0019】図4の解析結果より、加工電極から離れた
位置における反応ガス流速の低下は、反応ガスが鉛直方
向に上昇してまうことが一つの原因として考えられる。
そこで、本発明では、加工電極と被加工物との間の空間
に噴出されたガスを、被加工物に沿わせて流すことによ
り、反応ガス流速の低下を防ぐことができると考え、電
極の周囲の被加工物と接する空間を狭める手段を配置す
ることにした。空間を狭める手段は、例えば、加工電極
先端に取り付けた絶縁材料の円板状の部材で構成するこ
とができる。これにより反応ガスの上昇流れが生じない
ため、被加工物表面のガス流速の低下を抑えることがで
き、被加工物と接する反応ガスの流速を高めることがで
きるため、被加工物表面の荒れを防ぐことができる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態である形状創
成装置について、図7を用いて説明する。
【0021】本発明の形状創成装置は、被加工物10を
搭載するためのワークテーブル1と、被加工物10の近
傍でプラズマ201を発生させるための加工電極2とを
加工チャンバ9aの内部に備えている。ワークテーブル
1は、導電性の材料で形成されている。
【0022】加工電極2は、本実施の形態の場合には、
図1のように先端部がパイプ形状である。加工電極2の
先端には、絶縁性の材料からなる円板701が取り付け
られている。
【0023】ワークテーブル1には、加工電極2の先端
を、被加工物10の加工したい部分に所望の間隔をあけ
て対向させるために、被加工物10をxyz方向および
回転移動させる位置決めユニット6が、連結棒101を
介して取り付けられている。
【0024】位置決めユニット6は、機構部収納チャン
バ9b内に配置され、反応ガスによって腐食されるのを
防止している。加工チャンバ9aと機構部収納チャンバ
とは、蛇腹部702と隔壁703とによって連結されて
いる。連結棒101は、隔壁703を貫通している。
【0025】また、位置決めユニット6には、動作を制
御する制御部7が接続されている。
【0026】加工電極2とワークテーブル1とには、プ
ラズマ生成のために加工電極2とワークテーブル1との
間に電圧を印加し、電力を供給する電力供給システム3
が接続されている。
【0027】電力供給システム3は、130MHzの高
周波電源301と、マッチング回路302とにより構成
されている。マッチング回路302は、高周波電源30
1と加工電極2とのインピーダンスを一致させ、電力を
有効に電極に供給するためにある。
【0028】また、チャンバ9aには、ダクト401、
402を介して、パイプ状の加工電極2の内部に反応ガ
スを送り込むガス供給システム4が取り付けられてい
る。
【0029】加工電極2に供給された反応ガスは、図1
のように、パイプ状の加工電極2の内部を流れ、加工電
極2の先端から、被加工物10と加工電極2との間の空
間に噴出される。このとき、加工電極2の先端部には、
円板701が取り付けられているため、加工電極2の周
囲の被加工物10に接する空間は、円板701によって
狭められ、被加工物101と円板701とによって流路
202が形成されている。したがって、加工電極2から
噴出された反応ガスは、加工電極2を中心に外側に向か
って流路202を流れ、円板701の外側に噴出され
る。よって、加工電極2の周囲においては、反応ガス
は、被加工物10の表面に沿うように流れるため、反応
ガスの上昇流れが形成されず、加工電極2の周囲の反応
ガスの流速を速めることができる。
【0030】また、チャンバ9aには、ガス排気システ
ム5も取り付けられている。ガス排気システム5は、チ
ャンバ9aに取り付けられたダクト602と、ダクト6
02を介してチャンバ9a内のガスを吸引するドライポ
ンプ(不図示)と、有害ガスを吸着する吸着装置(不図
示)とにより構成され、チャンバ9a内の未反応な反応
ガスと、生成ガスとを排気する。
【0031】つぎに、図7の形状創成装置を用いて、被
加工物を加工する動作について説明する。
【0032】まず、被加工物10を図7の形状創成装置
のワークテーブル1上に設置する。そして、チャンバ9
aを閉じ、ガス排気システム5により、チャンバ9を一
旦減圧する。その後、ガス供給システム4により、加工
電極2の内部に反応ガス送り込み、加工電極2の先端か
ら反応ガスを噴出させ、チャンバ内の圧力を所定の圧力
にする。
【0033】加工電極2の先端を被加工物10にあらか
じめ定めた距離まで接近させる。電力供給システム3に
より、加工電極2に高周波電力を印加する。これによ
り、加工電極2のプラズマ生成面にプラズマが発生し、
このプラズマにより、反応ガスのラジカルが生成され
る。
【0034】制御部7は、加工電極2の先端が、被加工
物10の表面に、加工量に応じた時間だけ滞在するよう
に、加工電極2に対する被加工物10の移動量を位置決
めユニット6に指示する。このとき、加工量は、被加工
物の加工前の形状データと、目的とする形状データの差
を求めることによって定められる。このように、加工電
極2の先端を、被加工物10上で相対的に移動させるこ
とにより、加工電極2によって形成されたプラズマが、
被加工物10上で移動する。このとき、加工電極2の先
端から反応ガスを噴出しているため、プラズマによって
反応ガスのラジカルが生成して被加工物10と反応し、
被加工物10の表面が所望の形状に加工される。
【0035】加工電極2の先端から噴出された反応ガス
は、加工電極2の先端に取り付けられた円板701と被
加工物10表面とによって形成された流路202を流れ
るため、円板701がない場合と比較し、反応ガスの流
速が大きくなる。このため、加工電極2の周囲において
被加工物10の表面の粗さを小さくすることができる。
【0036】流路202を流れた反応ガスは、ガス排気
システム5によって排気される。
【0037】上述のように、本発明では、加工電極2の
周囲における反応ガスの流速を高めることができるた
め、被加工物10の表面の荒れを防ぐことができ、光学
レンズのような光学部品を高精度に加工することができ
る。
【0038】加工電極2の周囲の反応ガスの流速をさら
に速めるために、図6のように、円板701を加工電極
2の先端よりも被加工物10側に突き出させる構成にす
ることもできる。図6の構成が反応ガスの流速をさらに
速めることができるのは、以下のような理由による。
【0039】図1の流路202において、加工電極中心
から半径rにおける反応ガスの平均流速Vは、次式で表
される。
【0040】
【数1】V=k・Q/(r・H) ここに、Qは電極上部から一定流量で供給される反応ガ
ス流量、kは比例定数である。また、Hは、円板701
と被加工物10との距離である。
【0041】(数1)から、Hを小さくすると、平均流
速Vは大きくなることがわかる。したがって、図6のよ
うに、円板は加工電極端面よりも被加工物側に突き出す
ことにより、被加工物表面における反応ガス流速を速く
するのに効果的である。
【0042】また、(数1)より、加工電極中心からr
が大きくなるに従ってVが低下することがわかる。そこ
で、これを防ぐために、下式の H=1/r を満たすように、流路の幅Hを中心から外に向かって狭
くすることにより、Vは、 V=k’・Q となり、流速を半径によらず一定にすることもできる。
【0043】また、被加工物の加工面が球面である場
合、円板の被加工物側の面も加工面と等しいか、ほぼ同
等の曲率半径を有する球面にすればよい。また、被加工
物の加工面が非球面である場合、円板の被加工物側の面
は加工面の近似曲率半径と等しいか、ほぼ同等の近似曲
率半径を有する球面にすればよい。
【0044】さらに、本発明では、円板701と加工電
極2側面とが接する部分に、図5のように切り欠き60
1を設けることができる。これにより、加工電極の熱が
円板701に伝わるのを防止でき、円板の過熱損傷を防
ぐことができる。
【0045】また、円板701を導電性材料により構成
し、加工電極2と円板701との間に、絶縁物を配置
し、両者を絶縁する構成にすることもできる。
【0046】一方、電極2の周囲における反応ガスの流
速を高めるために、図8のように、加工電極2に回転翼
1001を取り付ける構成にすることもできる。加工電
極2の途中には、モータ1002が、取り付け部材10
03により取り付けられている。モータ1002の回転
軸は、パイプ状に加工されており、パイプ状の回転軸と
パイプ状の加工電極2とが連通するように接続されてい
る。加工電極2の先端部は、モータ1003によって回
転駆動され、加工電極2の先端部に取り付けられた回転
翼1001が回転する。回転翼1001は、被加工物1
0に向かってチャンバ9a内のガスを噴出するように取
り付けられている。
【0047】したがって、反応ガスは、モータ1002
のパイプ状の回転軸を通って、加工電極2の先端から噴
出される。このとき、モータ1002が、加工電極2の
先端を回転させることにより、回転翼1001が、被加
工物10に向かってチャンバ内のガスを吹きつける。吹
き付けられたチャンバ内のガスは、被加工物10表面に
ぶつかり、加工電極2を中心に外側に流れる流れを形成
する。この流れの速度をQとし、加工電極2から噴出さ
れた反応ガスの速度をqとすると、加工電極2の周囲に
おいて、加工電極2から離れる方向に向かう反応ガスの
流速は、Q+qに付勢される。これにより、加工電極2
の周囲における反応ガスの流速を速めることができ、加
工電極2の周囲における被加工物10表面の荒れを防止
することができる。
【0048】
【実施例】本発明の一実施例について説明する。本実施
例は、図7の形態を実施した例である。加工電極の先端
部は、図1の形態で実施した。
【0049】加工チャンバ9aは約φ600mm、高さ
約300mmのステンレス製とした。ワークテーブル1
は、φ400mmのステンレス製とした。位置決めユニ
ット6はX、Y方向がそれぞれ約150mm、Z方向が
50mmのストロークを有するものとした。機構部収納
チャンバ9bは、約φ1500mm、高さ1000mm
のステンレス製とした。
【0050】加工電極2の先端部は、外径φ1mm、内
径φ0.8mmのNi製パイプとした。円板701は、
外径φ3mmのセラミックス製とした。
【0051】上記の構成の装置を用いて、以下の手順で
石英ガラス(SiO2)製の被加工物10を加工した。
【0052】まず、被加工物10をワークテーブル1上
に設置したのち、チャンバ9aを密閉し、約1torr
まで排気した。加工電極2先端から反応ガスを300c
c/minで吹き出させた。チャンバ内の圧力が700
torr一定になったのを確認したのち、電力を電力供
給システムから加工電極2に印加し、加工電極2先端に
プラズマを生成させた。反応ガスには、Heに対してS
6を1%混合したものを用いた。ここで、被加工物1
0の石英ガラスと反応ガスは以下のように反応し、除去
加工が進行するものと考えられる。Heは反応に寄与し
ない。
【0053】SF6→S+6F* 3SiO2+2SF6→3SiF4+3O2+2S つぎに、ワークを走査させて約15×15mmの領域
を、約1時間加工した。加工終了後、表面粗さを評価し
たところ、本発明で得られた加工面の表面粗さは従来技
術で得られたものに比べて向上しており、本発明の効果
が確認できた。
【0054】また、実施例の加工電極2周辺の反応ガス
の流速分布を数値解析により調べた。解析では、ナビエ
ストークス方程式、連続の式を差分法により計算した。
解析モデルには加工電極2の中心軸を中心とする軸対称
モデルを採用し、簡単のために加工電極2と被加工物1
0表面のみで構成した。加工電極2と被加工物10との
間隔は0.2mmとした。反応ガスは、物性値は、動粘
性係数1.34×10-42/s、密度1.72×10
-1kg/m3とした。
【0055】解析結果を図9に示す。図9から、加工電
極2周辺における被加工物10表面の近傍のガス流速
は、従来技術である図4に比べて高い値となっているこ
とが確認でき、これにより、被加工物表面の表面粗さが
小さくできたと考えられる。
【0056】本発明では、パイプ状の加工電極の内部か
ら反応ガスを噴出させる方法を用いている。この方法
は、反応ガスの供給手段とプラズマ生成部が一体になっ
ているので、プラズマへのガス供給が極めて容易に行え
るという利点がある。また、電極の中心軸から放射状に
ガスが噴出されるので、加工痕の形状が円形となるとい
う利点もある。このため、被加工物と加工電極とを相対
的に走査させた場合に、加工される形状の予測が簡単に
行える。そのため、高精度な加工が行いやすい。これに
加えて、本実施例では、被加工物表面を流れる反応ガス
の流速が大きいため、被加工物の表面粗さを小さくでき
るため、本実施例の形状創成装置は、光学物品の製造に
適している。
【0057】
【発明の効果】本発明によれば、プラズマを用いて生成
したラジカルの反応を利用した形状創成装置において、
パイプ状の加工電極を用いて反応ガスを噴出させたとき
に生じる被加工物表面の荒れを防ぐことができる。これ
により、たとえば光学レンズを加工する場合、光学性能
の低下を防止でき、光学物品の加工に適した装置を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の加工装置の電極部分の
形状を表す断面図。
【図2】従来のプラズマCVM装置の電極部分の形状を
示す断面図。
【図3】従来のプラズマCVM装置において、反応ガス
の流量と被加工物の表面粗さとの関係を示すグラフ。
【図4】図2の電極周辺の反応ガスの流れの解析結果を
示す説明図。
【図5】本発明の別の実施の形態の加工装置の電極部分
の形状を示す断面図。
【図6】本発明の別の実施の形態の加工装置の電極部分
の形状を示す断面図。
【図7】本発明の一実施の形態の加工装置の全体の構成
を示す説明図。
【図8】本発明の別の実施の形態の加工装置の電極部分
の構成を示す部分断面図。
【図9】図1の電極周辺の反応ガスの流れの解析結果を
示す説明図。
【符号の説明】
1・・・ワークテーブル、2、501・・・加工電極、
3・・・電力供給システム、4・・・ガス供給システ
ム、5・・・ガス排気システム、6・・・位置決めユニ
ット、7・・・制御部、9a,9b・・・チャンバ、1
0、502・・・被加工物、202・・・流路、701
・・・円板、601・・・切り欠き、1001・・・回
転翼、1002・・・モータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 輝紀 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 伊藤 博 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 柴田 規夫 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被加工物を搭載するための支持部と、 前記被加工物と対向する部分に、局部的なプラズマを生
    成するための電極と、 前記電極を前記被加工物に対して相対的に移動させる移
    動手段と、 前記電極と前記被加工物とが対向する空間に反応ガスを
    噴出するためのガス噴出手段と、 前記ガス噴出手段から噴出された反応ガスを前記被加工
    物に沿わせて流すために、前記電極の周囲の前記被加工
    物と接する空間を狭める手段とを有することを特徴とす
    る形状創成装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記空間を狭める手段
    は、前記電極の周囲に取り付けられた円板状の部材を有
    することを特徴とする形状創成装置。
  3. 【請求項3】被加工物を搭載するための支持部と、 前記被加工物と対向する部分に、局部的なプラズマを生
    成するための電極と、 前記電極を前記被加工物に対して相対的に移動させる移
    動手段と、 前記電極と前記被加工物とが対向する空間に反応ガスを
    噴出するためのガス噴出手段と、 前記ガス噴出手段から噴出された反応ガスの流れを、前
    記電極から遠ざける方向に付勢するために、前記電極か
    ら外側に向かう流れを形成する手段とを有することを特
    徴とする形状創成装置。
  4. 【請求項4】請求項3において、前記流れを形成する手
    段は、前記電極に取り付けられた回転翼と、前記回転翼
    を回転させるための駆動手段とを有し、 前記回転翼の回転中心は、前記電極の中心軸と一致する
    ように配置されていることを特徴とする形状創成装置。
  5. 【請求項5】請求項1または3において、前記ガス噴出
    手段は、前記電極の前記被加工物と対向する部分に設け
    られた開口部と、前記開口部まで反応ガスを導くため
    に、前記電極の内部に設けられた流路とを有することを
    特徴とする形状創成装置。
  6. 【請求項6】請求項2において、前記円板状の部材は、
    前記電極と絶縁されていることを特徴とする形状創成装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002158180A (ja) * 2000-08-07 2002-05-31 Applied Materials Inc 基板プロセス・チャンバ内のガスの流れを導く方法
JP2006022392A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Yuzo Mori 回転電極を用いたプラズマ処理方法及びその装置
JP2010157487A (ja) * 2008-12-31 2010-07-15 Ind Technol Res Inst 広域常圧プラズマジェット装置

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US8381678B2 (en) 2008-12-31 2013-02-26 Industrial Technology Research Institute Wide area atmosphere pressure plasma jet apparatus

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