JPH0894936A - 位相差顕微鏡 - Google Patents

位相差顕微鏡

Info

Publication number
JPH0894936A
JPH0894936A JP6235420A JP23542094A JPH0894936A JP H0894936 A JPH0894936 A JP H0894936A JP 6235420 A JP6235420 A JP 6235420A JP 23542094 A JP23542094 A JP 23542094A JP H0894936 A JPH0894936 A JP H0894936A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
pupil position
phase
phase difference
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6235420A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3583480B2 (ja
Inventor
Yutaka Ishiwatari
裕 石渡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP23542094A priority Critical patent/JP3583480B2/ja
Publication of JPH0894936A publication Critical patent/JPH0894936A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3583480B2 publication Critical patent/JP3583480B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 観察すべき標本が比較的厚い場合に、本来標
本には存在しない空間周波数成分(非線形項)の影響を
低減して、正確な位相差像を再現できる位相差顕微鏡を
提供する。 【構成】 照明光学系1の瞳位置に輪帯状の開口2を配
置し、照明光学系1と結像光学系3とを含む光学系の全
部もしくは一部に関して、輪帯状の開口2と標本面を介
して共役な位置関係にある結像光学系3の瞳位置に位相
板4を配置して、標本面に配置される標本5を位相差法
により観察するようにした位相差顕微鏡において、位相
板4を、複数の異なる変調領域をもって構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば細胞やバクテ
リア等の透明な標本を観察するのに用いられる位相差顕
微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】位相差顕微鏡においては、一般に、照明
光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配置し、この輪帯開
口、照明光学系および結像光学系を含めた光学系の全部
または一部に関して共役な位置関係にある対物レンズの
瞳位置に輪帯状の位相膜を配置して、標本面で回折した
光のうちの0次光の位相および振幅に変化を与えて他の
回折光と干渉させることにより、標本の位相量を像のコ
ントラストに変えて観察し得るようにしている。
【0003】また、位相差顕微鏡による位相差像のコン
トラストについては、例えば、「"Some improvements i
n the phase contrast microscope" K.Yamamoto,A.Tair
a,J.Microscopy,129(1983),p.49-62」に、その改善方法
が記載されている。従来の位相差顕微鏡においては、一
般に、輪帯状の位相膜の径を、対物レンズの瞳径の半分
程度にすることにより、像コントラストを改善するよう
にしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、位相差
顕微鏡では、例えば、「 "位相差顕微鏡の像コントラス
トに関する考察" 大木裕史,光学,vol.20,No.9(1991),
p.590-594 」に記載されているように、位相リングの径
と瞳径との比によってカットオフ周波数が決定されるた
め、通常の明視野顕微鏡と比較して、解像力が劣るとい
う問題がある。
【0005】また、生体標本のように、波長と比較して
厚い標本の場合には、「”光学顕微鏡の基礎と応用
(4)”小松啓、応用物理、Vol.60, No.11(1991),p.11
36-1254」に記載されているように、ハロー現象が顕著
に現れて、位相標本の構造の境界の細部が覆い隠されて
しまうという問題があると共に、「 "顕微鏡における逆
問題について" 高橋,根本,電気通信学会技術研究報告
MBE88-58,P.35-42,1988 」において指摘されているよう
に、本来標本には存在しない空間周波数成分(非線形
項)の影響が現れ、正確な位相差像が再現されなくなる
という問題もある。
【0006】この発明は、上記の点に鑑みてなされたも
ので、その第1の目的は、観察すべき標本が比較的厚い
場合に、本来標本には存在しない空間周波数成分(非線
形項)の影響を低減し、正確な位相差像を再現できるよ
う適切に構成した位相差顕微鏡を提供することにある。
【0007】また、第2の目的は、上記第1の目的に加
え、観察すべき標本に容易に対処でき、標本に応じて正
確な位相差像を再現できるよう適切に構成した位相差顕
微鏡を提供することにある。
【0008】さらに、第3の目的は、上記第1の目的に
加え、光学系に変化を生じさせることなく、観察すべき
標本に容易かつ迅速に対処でき、標本に応じて正確な位
相差像を再現できるよう適切に構成した位相差顕微鏡を
提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るため、この発明は、照明光学系の瞳位置に輪帯状の開
口を配置し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学
系の全部もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標
本面を介して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳
位置に位相板を配置して、前記標本面に配置される標本
を位相差法により観察するようにした位相差顕微鏡にお
いて、前記位相板を、複数の異なる変調領域をもって構
成する。
【0010】前記位相板は、前記照明光学系の瞳位置に
配置された輪帯状の開口とほぼ共役な輪帯状の位相およ
び振幅を変調する領域と、輪帯状の吸収領域または遮光
領域とを有するのが、標本の位相量に比例した位相差像
のコントラスト成分を強調する点で、好ましい。
【0011】また、上記第2の目的を達成するため、こ
の発明は、照明光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配置
し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学系の全部
もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標本面を介
して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳位置に位
相板を配置して、前記標本面に配置される標本を位相差
法により観察するようにした位相差顕微鏡において、前
記結像光学系は、前記照明光学系の瞳位置と共役な位置
関係にある1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレーする
リレー光学系と、このリレー光学系によりリレーされた
2次瞳位置とを有し、前記位相板を前記1次瞳位置また
は2次瞳位置のいずれかに配置すると共に、輪帯状の吸
収領域または遮光領域を有する変調素子を前記1次瞳位
置または2次瞳位置のいずれかに配置する。
【0012】さらに、上記第3の目的を達成するため、
この発明は、照明光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配置
し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学系の全部
もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標本面を介
して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳位置に位
相板を配置して、前記標本面に配置される標本を位相差
法により観察するようにした位相差顕微鏡において、前
記結像光学系は、前記照明光学系の瞳位置と共役な位置
関係にある1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレーする
リレー光学系と、このリレー光学系によりリレーされた
2次瞳位置とを有し、前記1次瞳位置または2次瞳位置
に前記位相板を配置すると共に、前記2次瞳位置または
1次瞳位置に、選択的に機能し得る輪帯状の吸収領域ま
たは遮光領域を有する変調素子を配置する。
【0013】
【作用】図1は、この発明の原理を説明するための位相
差顕微鏡の構成を示すものである。この位相差顕微鏡
は、コンデンサレンズ1aを有する照明光学系1の瞳位
置に輪帯開口2を配置し、この輪帯開口2と標本面を介
して共役な位置関係にある対物レンズ3aを有する結像
光学系3の瞳位置に位相板4を配置して、標本面に配置
される標本5を照明光学系1により照明して、その位相
差像を結像光学系3の像面6において観察するものであ
る。
【0014】以下、図1に示す位相差顕微鏡の結像につ
いて、1次元のモデルを用いて説明する。いま、結像光
学系3の瞳関数をP(ξ) 、照明光学系1の瞳関数をQ
(ξ) 、標本5の位相分布をφ(x) として弱位相近似
(ボルン近似)、 exp i φ(x) =1 + iφ(x) を行うと、標本5の像強度分布I(x)は、
【数1】 I(x)=R(0,0) + i∫ R(f,0) −R(0,-f) Φ(f)exp(-ifx)df +∫∫Φ(f) Φ* (f')R(f,f')exp -i(f-f')x dfdf' (1) R(f,f') =∫Q(ξ) P(ξ+f) P(ξ+f') dξ (但し、f ≠0 、f'≠0) で与えられる。ただし、Φ(f) はφ(x) のフーリエ変換
を表し、fは空間周波数を示す。また、結像光学系3の
瞳関数P(ξ) は、下記の(2)式で示す関数の線形結合
で表すことができるものとする。
【数2】
【0015】ここで、照明光学系1の瞳関数Q(ξ) が、
Q(ξ) = Pb(ξ) で表せるものとすると、上記(1)式
は、
【数3】 I(x)=DC C2-2Csinθ∫F(f)Φ(f)exp(-ifx)df +∫∫Φ(f) Φ* (f')R(f,f')exp -(f-f')x dfdf' (4) 但し、DC=∫ Pb(ξ)dξ F(f)=∫ Pb(ξ)Pa(ξ+f)dξ/DC になる。したがって、位相差顕微鏡における像コントラ
ストは、近似的に(4)式で表される。
【0016】上記(4)式をさらに近似展開すると、
【数4】 I(x)=DC C2 - 2Csinθ∫F(f)Φ(f)exp(-ifx)df +{ 2Ccosθ∫F(f)Φ(f) Φ* (0)exp(-ifx)df + C2∫G(f)Φ(f) Φ* (0)exp(-ifx)df} +{∫F(f)|Φ(f) |2 df + C2∫G(f)|Φ(f) |2 df} +∫Φ(f) Φ* (-f)R(f,-f)exp(-i2fx)df ( 以上 f≠0) +∫∫Φ(f) Φ* (f')R(f,f')exp -i(f-f')x dfdf' (5) (f≠0 f'≠0 f ≠f') 但し、DC=∫ Pb(ξ)dξ F(f)=∫ Pb(ξ)Pa(ξ+f)dξ/DC G(f)=∫ Pb(ξ)Pb(ξ+f)dξ/DC R(f,f') =∫Q(ξ) P(ξ+f) P(ξ+f') dξ (但し、f ≠
0 、f'≠0) となる。
【0017】以上の式展開では、輪帯開口2と位相板4
とが一致するものとしているが、輪帯開口2の形状が、
【数5】 を満足していれば、F(f)、G(f)は、 DC=∫Q(ξ)dξ F(f)=∫Q(ξ)Pa(ξ+f)dξ/DC G(f)=∫Q(ξ)Pb(ξ+f)dξ/DC で与えることができる。
【0018】位相差顕微鏡における像コントラストは、
(5)式の像コントラストの特性から、それぞれの成分
に分解して表すことができる。すなわち、(5)式の各
成分を物理的に解釈すると、第1項は位相差像の背景の
明るさを表すバックグラウンド成分、第2項は標本の位
相量に比例した位相差像のコントラスト成分、第3項は
位相板で位相変調を受けない明視野像のコントラスト成
分、第4項は0次の非線形成分(ハロー成分)、第5項
は2次の非線形成分、第6項は高次の非線形成分をそれ
ぞれ表している。したがって、位相差像のコントラスト
を改善するためには、(5)式において相対的に第2項
を強調すれば良いことになる。
【0019】すなわち、標本5が比較的薄い場合には、
|Φ(f) |2 等の位相の2乗成分が非常に小さくなり、
第4項以降の項の影響を無視することができるので、位
相板4の透過率Cを小さくすることで、第2項を強調す
ることができ、これにより像コントラストを改善するこ
とができる。
【0020】これに対し、標本5が厚い場合には、|Φ
(f) |2 等の位相の2乗成分の影響が無視できなくなっ
て、(5)式の第4項以降の影響が現れるため、位相板
4の透過率Cを小さくするだけでは、位相差像のコント
ラストを改善することができなくなる。しかも、標本5
が厚いと、その特性によって(5)式の各項の強調のさ
れ方が変わってくる。
【0021】例えば、標本5に非対称で一定の位相勾配
が存在すると、位相勾配付近で標本5で回折される光に
偏りが生じて、特定の方向の回折光だけが強調されるた
め、特定のfに対して、|Φ(f) |2 の値が大きくな
り、(5)式の第4項の影響が大きくなる。また、標本
5に周期的な位相変化があると、標本5で回折される光
が対称となって、Φ(f) =Φ(-f)となり、位相変化の周
期および変化量によって特定のfに対するΦ(f) および
Φ(-f)の値が大きくなり、(5)式の第5項の影響が大
きくなる。
【0022】したがって、標本5が厚い場合には、
(5)式の第2項が強調されるように、その観察する標
本5の特性に応じてF(f)および G(f) を適切に選択し
て、標本5の位相量に比例した位相差像のコントラスト
成分を強調すれば良い。このためには、結像光学系3の
瞳位置に挿入する位相板4を、位相差像を形成するため
の位相変調を与える領域と、ハロー成分や非線形成分を
減衰するための吸収領域との異なる変調領域をもって構
成すれば良い。
【0023】ここで、(2)式で示した Pa(ξ) を、
【数6】 の2つの関数に分解し、新たにこの関数の線形結合とし
て、 Pa(ξ) = PF(ξ) +TPf(ξ) ( 0≦ T(透過率)< 1) (7) で表すと、(5)式は、以下のように表すことができ
る。
【数7】
【0024】上記(8)式においては、第4項の影響を
小さくすることによって、ハロー成分を低減することが
できる。ここで、ハロー成分は、観察する標本5に一定
の位相勾配が存在する場合に、標本5をフーリエ変換す
ると、特定の周波数成分が強調されて発生する。したが
って、この特定の周波数成分を選択的に減衰するような
フィルタを、結像光学系の瞳面に挿入すれば、ハロー成
分を低減することが可能となる。すなわち、(8)式に
おいて、H'(f) をハロー成分を強調するような特性を持
った伝達関数とし、F'(f) をハロー成分を減衰するよう
な特性を持った伝達関数とし、さらにTを小さい値に設
定すれば、第4項全体の値を小さくすることができ、そ
の影響を低減することができる。
【0025】一方、標本5が対称で周期性がある場合に
は、標本5での回折光は特定の周波数でΦ(f) ≒Φ(-f)
となり、また、標本5が厚くなると、Φ(f) およびΦ(-
f)の値が大きくなって、Φ(f) ・Φ* (-f)の値が無視で
きなくなり、(5)式および(8)式の第5項の影響が
現れる。この第5項の影響を小さくするためには、ハロ
ー成分の低減と同様に、位相板4に、位相差像を形成す
るための位相および振幅を変調する領域と、吸収または
遮光する領域との異なる変調領域を形成すれば良い。
【0026】このようにすれば、標本5の周波数に対応
したR(f,-f) の値を小さくでき、したがって(5)式お
よび(8)式の第5項の影響を小さくすることができ、
非線形成分の影響を小さくすることができる。すなわ
ち、R(f,-f) の値は、従来の位相差顕微鏡の理想光学系
を仮定すると、ほぼ図2の斜線部の面積に相当すること
になるが、上記のように、位相板4に、位相差像を形成
するための位相および振幅を変調する領域の他に、吸収
または遮光する領域を形成すれば、図3に示すように、
R(f,-f) の値に相当する部分の面積が小さくなる。
【0027】以上のようなハロー成分や非線形成分の低
減方法は、位相板4を照明光学系1の瞳と共役な関係が
保たれる瞳位置であれば、何処の瞳位置に配置しても同
様の効果が得られる。また、ハロー成分や非線形成分を
低減するための吸収または遮光領域を有する変調素子
は、上記のように位相差像を形成するための位相膜を有
する位相板と一体に形成して同一の瞳面内に配置する
他、位相板とは別体に形成して、位相板と変調素子とを
同一または別々の瞳位置に配置することもでき、これに
より同等の効果を得ることができる。
【0028】なお、上記のハロー成分や非線形成分は、
観察する標本によって発生の仕方が異なるので、ハロー
成分や非線形成分を低減する変調素子は、標本毎に最適
化するのが望ましい。このためには、位相板と変調素子
とを別体に形成し、これらを同一または別々の瞳位置に
配置するのが、観察すべき標本に応じて変調素子のみを
交換して、ハロー成分や非線形成分の低減の最適化を行
うことができるので、標本に容易に対処することが可能
となる。また、変調素子を、例えば、液晶シャッタ等の
電気的作用により選択できるように、複数の輪帯状の吸
収または遮光領域をもって構成すれば、光学系に変化を
生じさせることなく、吸収または遮光領域の選択によっ
て、ハロー成分や非線形成分の低減の最適化を行うこと
ができるので、観察すべき標本に容易かつ迅速に対応す
ることが可能となる。
【0029】
【実施例】以下、この発明の実施例について説明する。
この発明の第1実施例においては、図1に示す構成の位
相差顕微鏡において、位相板4として、図4に示すよう
に、位相差像を形成するための位相θおよび振幅Cを変
調させる輪帯状領域4aと、透過率Tがほぼ0の輪帯状
の遮光領域4bとの2つの領域を形成したものを用い
る。
【0030】この実施例において、θ=π/2になるよ
うにすると、上記(8)式は、
【数8】 I(x)=DC C2 - 2C ∫F'(f) Φ(f)exp(-ifx)df + C2 ∫G'(f) Φ(f) Φ* (0)exp(-ifx)df +{∫F'(f) |Φ(f) |2 df + C2 ∫G'(f) |Φ(f) |2 df} +∫Φ(f) Φ* (-f)R(f,-f)exp(-i2fx)df ( 以上 f≠0) +∫∫Φ(f) Φ* (f')R(f,f')exp -i(f-f')x dfdf' (10) (f≠0 f'≠0 f ≠f') となる。
【0031】図5は、第1実施例において、照明光学系
1の瞳位置に配置される輪帯開口2の内径NAi ' および
外径NAO ’、位相板4における輪帯状領域4aの内径NA
i および外径NAO 、同じく位相板4における遮光領域4
bの内径NAf および外径NAFを、結像光学系3の瞳の半
径を1に規格化した座標を用いて、それぞれ、NAi '=
0.3、NAO ’=0.4、NAi =0.3、NAO =0.
4、NAf =0.25、NAF =0.3としたとき、上記
(9)式によって計算したF'(f) およびG'(f) のそれぞ
れの伝達関数を示すものである。ここで、λは観察時の
波長、NAは対物レンズ3aの開口数を示す。なお、比
較のために、図6に、従来の位相差顕微鏡において、NA
i =0.3、NAO =0.4としたときのF(f)およびG(f)
の伝達関数を示す。
【0032】図5および図6に示すF'(f) およびF(f)を
比較すると、低周波数において、F'(f) はF(f)よりも小
さくなることがわかる。したがって、この周波数帯域で
の位相差像のコントラストは、(10)式から明らかな
ように、従来の位相差顕微鏡におけるよりも低下するこ
とになるが、F'(f) が小さくなることで、ハローの影響
が低減されるので、Cの値を小さく設定しても、ハロー
の影響が小さくなり、相対的にコントラストの高い位相
差像を得ることができる。なお、ハローの影響を低減す
るためには、NAi =0.25、NAO =0.4とするだけ
でも、同様の効果が得られるが、この場合には、G'(f)
<G(f)となって、上記(10)式の第3項の明視野成分
の影響が大きくなり、相対的に位相差像のコントラスト
を低下させることになる。
【0033】このように、この実施例によれば、位相板
4に、位相差像を形成するための位相θおよび振幅Cを
変調させる輪帯状領域4aと、透過率Tがほぼ0の輪帯
状の遮光領域4bとの2つの領域を形成したので、観察
すべき標本が比較的厚い場合に、ハロー成分や非線形成
分を低減することができ、位相差像のコントラストを改
善することができる。
【0034】この発明の第2実施例においては、図1に
示す構成の位相差顕微鏡において、位相板4として、図
7に示す構成のものを用いる。この位相板4は、図4に
示す位相板4において、透過率Tがほぼ0の輪帯状の遮
光領域4bを、位相差像を形成するための位相θおよび
振幅Cを変調させる輪帯状領域4aの外側に形成したも
のである。
【0035】図8は、第2実施例において、結像光学系
3の瞳の半径を1に規格化した座標を用い、位相板4の
輪帯状領域4aの内径NAi および外径NAO を、NAi
0.3,NAO =0.4、遮光領域4bの内径NAf および
外径NAF を、NAf =0.4,NAF =0.45としたとき
のF'(f) およびG'(f) のそれぞれの伝達関数を示すもの
である。なお、図8には、比較のために、図7において
遮光領域4bを形成しないときのF(f)の伝達関数をも示
す。
【0036】図8から明らかなように、この実施例にお
いても、第1実施例におけると同様に、F'(f) の伝達関
数を、低周波数において遮光領域4bを有しないF(f)よ
りも低くなる。したがって、第1実施例におけると同様
に、比較的厚い標本を観察する場合に、ハロー成分や非
線形成分を低減することができ、位相差像のコントラス
トを改善することができる。
【0037】図9は、この発明の第3実施例を示すもの
である。この実施例は、図1に示す構成において、対物
レンズ3aの瞳をリレーするリレー光学系7を設け、対
物レンズ3aの瞳位置(1次瞳位置)に位相膜を有する
位相板4を配置し、リレー光学系6によってリレーされ
る瞳位置(2次瞳位置)に遮光膜を有する変調素子8を
配置したものである。ここで、照明光学系1の瞳位置に
配置された輪帯開口2と、結像光学系3の1次瞳位置に
配置された位相板4の位相膜とは、互いに共役関係を有
するように、例えば、輪帯開口2および位相膜のそれぞ
れの内径NAi および外径NAO を、NAi =0.3,NAO
0.4で一致させる。
【0038】図10は、この実施例において、結像光学
系3の2次瞳位置に配置する変調素子8における遮光膜
の内径NAf および外径NAF を、NAf =0.2,NAF =
0.25としたときのF'(f) およびG'(f) のそれぞれの
伝達関数を示し、図11は、NAf =0.5,NAF =0.
55としたときのF'(f) およびG'(f) のそれぞれの伝達
関数を示す。なお、図10および図11には、比較のた
めに、図9において変調素子8を有しないときのF(f)の
伝達関数をも示してある。
【0039】図10および図11から明らかなように、
いずれの場合においても、F'(f) の伝達関数は、低周波
数において変調素子8を有しないF(f)よりも低くなる。
したがって、第1実施例におけると同様に、比較的厚い
標本を観察する場合には、ハロー成分や非線形成分を低
減することができ、位相差像のコントラストを改善する
ことができる。しかも、F'(f) は、変調素子8の遮光膜
の内径および外径によって、その変化が異なるので、観
察する標本に応じて最適な遮光膜を有する変調素子8を
配置することにより、ハロー成分や非線形成分をより有
効に低減することができる。
【0040】この発明の第4実施例においては、変調素
子8として、図12AおよびBに示す構成のものを用い
る。この変調素子8は、液晶シャッタをもって構成した
もので、図12Bに断面図を示すように、共通の透明電
極9を形成した硝子基板10aと、図12Aに平面図を
示すように、複数の輪帯状の透明電極11を形成した硝
子基板10bとで液晶12をサンドイッチすると共に、
硝子基板10a,10bの液晶12とは反対側の面に、
それぞれパラニコルの状態となるように偏光板13a,
13bを設けたものである。
【0041】この実施例によれば、観察すべき標本に応
じて、変調素子8の電圧を印加する輪帯状の透明電極1
1を選択することにより、吸収または遮光する領域を選
択することができるので、第3実施例におけるよりも、
観察すべき標本に容易かつ迅速に対処でき、ハロー成分
や非線形成分を有効に低減することができる。
【0042】なお、この発明は、上述した実施例にのみ
限定されるものではなく、幾多の変形または変更が可能
である。例えば、第1および第2実施例においては、位
相板4に、位相差像を形成するための位相θおよび振幅
Cを変調させる輪帯状領域4aと、透過率Tがほぼ0の
輪帯状の遮光領域4bとを一体に形成したが、輪帯状領
域4aを有する位相板と、遮光領域4bを有する変調素
子とを別体に構成して、これらを図1に示す対物レンズ
3aの瞳位置に重ねて配置したり、あるいは図9に示す
リレー光学系7による2次瞳位置に重ねて配置すること
もできる。このように構成すれば、変調素子のみの交換
によって、観察すべき標本に容易に対処でき、ハロー成
分や非線形成分を有効に低減することができる。
【0043】また、第3および第4実施例においては、
対物レンズ3aの1次瞳位置に位相板4を配置し、2次
瞳位置に変調素子8を配置するようにしたが、逆に、1
次瞳位置に変調素子8を、2次瞳位置に位相板4を配置
することもできる。
【0044】付記 1.請求項1記載の位相差顕微鏡において、前記位相板
は、位相差像を形成するための位相変調を与える領域
と、ハロー成分や非線形成分を減衰する吸収領域とを有
することを特徴とする位相差顕微鏡。
【0045】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、結像
光学系の瞳位置に配置される位相板を、複数の異なる変
調領域をもって構成するようにしたので、この位相板
に、位相差像を形成するための位相および振幅を変調す
る領域と、吸収領域または遮光領域とを設けることによ
り、観察する標本が比較的厚い場合に発生するハロー成
分や非線形成分を低減でき、位相差像のコントラストを
改善することができる。
【0046】また、結像光学系に、照明光学系の瞳位置
と共役な1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレー光学系
によりリレーした2次瞳位置とを設け、これら1次瞳位
置または2次瞳位置のいずれかに位相板を配置すると共
に、輪帯状の吸収領域または遮光領域を有する変調素子
を前記1次瞳位置または2次瞳位置のいずれかに配置す
る構成にあっては、変調素子のみの交換によって、観察
すべき標本に容易に対処でき、これにより標本が比較的
厚い場合に発生するハロー成分や非線形成分を有効に低
減して、位相差像のコントラストを改善することができ
る。
【0047】さらに、結像光学系に、照明光学系の瞳位
置と共役な1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレー光学
系によりリレーした2次瞳位置とを設け、1次瞳位置ま
たは2次瞳位置に位相板を配置し、2次瞳位置または1
次瞳位置に、選択的に機能し得る輪帯状の吸収領域また
は遮光領域を有する変調素子を配置する構成にあって
は、光学系に変化を生じさせることなく、輪帯状の吸収
領域または遮光領域の選択によって観察すべき標本に容
易かつ迅速に対処でき、これにより標本が比較的厚い場
合に発生するハロー成分や非線形成分を有効に低減し
て、位相差像のコントラストを改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の原理を説明するための位相差顕微鏡
の構成を示す図ある。
【図2】従来の位相差顕微鏡によるR(f,-f) の値を説明
するための図である。
【図3】この発明の位相差顕微鏡によるR(f,-f) の値を
説明するための図である。
【図4】この発明の第1実施例による位相板の構成を示
す図である。
【図5】第1実施例における光学系の伝達関数の一例を
示す図である。
【図6】従来の位相差顕微鏡における光学系の伝達関数
を示す図である。
【図7】この発明の第2実施例による位相板の構成を示
す図である。
【図8】第2実施例における光学系の一例の伝達関数
と、従来の位相差顕微鏡における光学系の伝達関数とを
比較して示す図である。
【図9】この発明の第3実施例を示す図である。
【図10】第3実施例における光学系の一例の伝達関数
と、従来の位相差顕微鏡における光学系の伝達関数とを
比較して示す図である。
【図11】第3実施例における光学系の他の例の伝達関
数と、従来の位相差顕微鏡における光学系の伝達関数と
を比較して示す図である。
【図12】この発明の第4実施例による変調素子の構成
を示す図である。
【符号の説明】
1 照明光学系 1a コンデンサレンズ 2 輪帯開口 3 結像光学系 3a 対物レンズ 4 位相板 5 標本 6 像面 7 リレー光学系 8 変調素子

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配
    置し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学系の全
    部もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標本面を
    介して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳位置に
    位相板を配置して、前記標本面に配置される標本を位相
    差法により観察するようにした位相差顕微鏡において、 前記位相板を、複数の異なる変調領域をもって構成した
    ことを特徴とする位相差顕微鏡。
  2. 【請求項2】 前記位相板は、前記照明光学系の瞳位置
    に配置された輪帯状の開口とほぼ共役な輪帯状の位相お
    よび振幅を変調する領域と、輪帯状の吸収領域または遮
    光領域とを有することを特徴とする請求項1記載の位相
    差顕微鏡。
  3. 【請求項3】 照明光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配
    置し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学系の全
    部もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標本面を
    介して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳位置に
    位相板を配置して、前記標本面に配置される標本を位相
    差法により観察するようにした位相差顕微鏡において、 前記結像光学系は、前記照明光学系の瞳位置と共役な位
    置関係にある1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレーす
    るリレー光学系と、このリレー光学系によりリレーされ
    た2次瞳位置とを有し、 前記位相板を前記1次瞳位置または2次瞳位置のいずれ
    かに配置すると共に、輪帯状の吸収領域または遮光領域
    を有する変調素子を前記1次瞳位置または2次瞳位置の
    いずれかに配置したことを特徴とする位相差顕微鏡。
  4. 【請求項4】 照明光学系の瞳位置に輪帯状の開口を配
    置し、前記照明光学系と結像光学系とを含む光学系の全
    部もしくは一部に関して、前記輪帯状の開口と標本面を
    介して共役な位置関係にある前記結像光学系の瞳位置に
    位相板を配置して、前記標本面に配置される標本を位相
    差法により観察するようにした位相差顕微鏡において、 前記結像光学系は、前記照明光学系の瞳位置と共役な位
    置関係にある1次瞳位置と、この1次瞳位置をリレーす
    るリレー光学系と、このリレー光学系によりリレーされ
    た2次瞳位置とを有し、 前記1次瞳位置または2次瞳位置に前記位相板を配置す
    ると共に、前記2次瞳位置または1次瞳位置に、選択的
    に機能し得る輪帯状の吸収領域または遮光領域を有する
    変調素子を配置したことを特徴とする位相差顕微鏡。
JP23542094A 1994-09-29 1994-09-29 位相差顕微鏡 Expired - Fee Related JP3583480B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23542094A JP3583480B2 (ja) 1994-09-29 1994-09-29 位相差顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23542094A JP3583480B2 (ja) 1994-09-29 1994-09-29 位相差顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0894936A true JPH0894936A (ja) 1996-04-12
JP3583480B2 JP3583480B2 (ja) 2004-11-04

Family

ID=16985844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23542094A Expired - Fee Related JP3583480B2 (ja) 1994-09-29 1994-09-29 位相差顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3583480B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6130776A (en) * 1996-09-19 2000-10-10 Olympus Optical Co., Ltd. Optical microscope which has optical modulation elements
US6819435B2 (en) 2000-04-12 2004-11-16 Nano Or Technologies Inc. Spatial and spectral wavefront analysis and measurement
JP2006163090A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Nikon Corp 位相差顕微鏡
JP2011002514A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 位相差顕微鏡

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58184115A (ja) * 1982-04-16 1983-10-27 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 位相差顕微鏡
JPH0327515A (ja) * 1989-03-20 1991-02-05 Hitachi Ltd パターン位置検出装置及び露光装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58184115A (ja) * 1982-04-16 1983-10-27 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 位相差顕微鏡
JPH0327515A (ja) * 1989-03-20 1991-02-05 Hitachi Ltd パターン位置検出装置及び露光装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6130776A (en) * 1996-09-19 2000-10-10 Olympus Optical Co., Ltd. Optical microscope which has optical modulation elements
US6819435B2 (en) 2000-04-12 2004-11-16 Nano Or Technologies Inc. Spatial and spectral wavefront analysis and measurement
US7327470B2 (en) 2000-04-12 2008-02-05 Icos Vision Systems N.V. Spatial and spectral wavefront analysis and measurement
US7542144B2 (en) 2000-04-12 2009-06-02 Icos Vision Systems N.V. Spatial and spectral wavefront analysis and measurement
JP2006163090A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Nikon Corp 位相差顕微鏡
JP2011002514A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 位相差顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP3583480B2 (ja) 2004-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Schwarz et al. Imaging interferometric microscopy
Lee et al. Reflective Fourier ptychographic microscopy using a parabolic mirror
Zheng Fourier ptychographic imaging: A MATLAB® tutorial
Paturzo et al. Super-resolution in digital holography by a two-dimensional dynamic phase grating
US8081378B2 (en) Microscope
Wilson Optical sectioning in fluorescence microscopy
Lee et al. Single-shot phase retrieval via Fourier ptychographic microscopy
Di Fabrizio et al. Diffractive optical elements for differential interference contrast x-ray microscopy
US20090310214A1 (en) Structural illumination and evanescent coupling for the extension of imaging interferometric microscopy
JPH04348017A (ja) パターン形成方法、および投影露光装置
JPH10268197A (ja) 光制御部材を有する光学顕微鏡
JP2003121749A (ja) 顕微鏡
JPS63163300A (ja) X線顕微鏡
Otaki Artifact halo reduction in phase contrast microscopy using apodization
US4472023A (en) High resolution image forming optical system
JPH07225341A (ja) 位相差顕微鏡
Chen et al. Apodized coherent transfer function constraint for partially coherent Fourier ptychographic microscopy
Steiger et al. Mapping of phase singularities with spiral phase contrast microscopy
JPH0894936A (ja) 位相差顕微鏡
Hazra Walsh filters for tailoring of resolution in microscopic imaging
JP3790905B2 (ja) 位相差顕微鏡
Kaulich et al. Diffracting aperture based differential phase contrast for scanning X-ray microscopy
JP3523734B2 (ja) 位相差顕微鏡
JP6095382B2 (ja) 光学系、光学系に用いる位相板及び光学系の製造方法
Zhou et al. Single-shot through-focus image acquisition and phase retrieval from chromatic aberration and multi-angle illumination

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040224

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040422

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040527

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040713

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040729

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080806

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090806

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100806

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100806

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110806

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120806

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees