JPH0894684A - 電解コンデンサの検査方法 - Google Patents
電解コンデンサの検査方法Info
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- JPH0894684A JPH0894684A JP6227965A JP22796594A JPH0894684A JP H0894684 A JPH0894684 A JP H0894684A JP 6227965 A JP6227965 A JP 6227965A JP 22796594 A JP22796594 A JP 22796594A JP H0894684 A JPH0894684 A JP H0894684A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】インバータ回路に組み込まれた状態で高精度
で、容易に検査できる電解コンデンサの検査方法を提供
する。 【構成】インバータ回路２０を構成するトランジスタＱ
1 〜Ｑ6 をオフ状態にし、直流電源２からの電流により
抵抗１１を介して電解コンデンサＣを充電し、充電中の
電解コンデンサＣの端子電圧を計測し充電開始時から充
電中における前記端子電圧が予め定めた電圧に達するま
での期間を計測し、計測した期間と抵抗１１の抵抗値と
に基づいて電解コンデンサＣの静電容量値を演算し、充
電された電解コンデンサＣの電荷を放電し、放電中にお
ける電解コンデンサＣの端子電圧を計測するとともに電
解コンデンサＣからの放電電流を計測し、放電開始時に
おける電解コンデンサＣの端子電圧と静電容量値と計測
した放電電流および電解コンデンサＣの端子電圧とに基
づいて電解コンデンサＣの等価直列抵抗値を演算する。
で、容易に検査できる電解コンデンサの検査方法を提供
する。 【構成】インバータ回路２０を構成するトランジスタＱ
1 〜Ｑ6 をオフ状態にし、直流電源２からの電流により
抵抗１１を介して電解コンデンサＣを充電し、充電中の
電解コンデンサＣの端子電圧を計測し充電開始時から充
電中における前記端子電圧が予め定めた電圧に達するま
での期間を計測し、計測した期間と抵抗１１の抵抗値と
に基づいて電解コンデンサＣの静電容量値を演算し、充
電された電解コンデンサＣの電荷を放電し、放電中にお
ける電解コンデンサＣの端子電圧を計測するとともに電
解コンデンサＣからの放電電流を計測し、放電開始時に
おける電解コンデンサＣの端子電圧と静電容量値と計測
した放電電流および電解コンデンサＣの端子電圧とに基
づいて電解コンデンサＣの等価直列抵抗値を演算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はインバータ回路において
平滑コンデンサとして用いられる電解コンデンサの検査
方法に関し、インバータ回路に接続した状態で電解コン
デンサの良否を検査することができる電解コンデンサの
検査方法に関する。
平滑コンデンサとして用いられる電解コンデンサの検査
方法に関し、インバータ回路に接続した状態で電解コン
デンサの良否を検査することができる電解コンデンサの
検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】電解コンデンサの従来の検査はＬＣＲメ
ータを用いて電解コンデンサの静電容量値および電解コ
ンデンサの等価直列抵抗値を測定し、測定した静電容量
値および測定した等価直列抵抗値から、電解コンデンサ
の良否を検査していた。しかしながらＬＣＲメータによ
る測定は、電解コンデンサに数ｍＡの交流小電流を流し
たときにおける電解コンデンサの端子電圧を測定し、測
定した端子電圧に基づいて電解コンデンサの静電容量値
および等価直列抵抗値を算出して、算出した静電容量値
および等価直列抵抗値が所定範囲内に入っているか否か
によって電解コンデンサの良否を検査していた。
ータを用いて電解コンデンサの静電容量値および電解コ
ンデンサの等価直列抵抗値を測定し、測定した静電容量
値および測定した等価直列抵抗値から、電解コンデンサ
の良否を検査していた。しかしながらＬＣＲメータによ
る測定は、電解コンデンサに数ｍＡの交流小電流を流し
たときにおける電解コンデンサの端子電圧を測定し、測
定した端子電圧に基づいて電解コンデンサの静電容量値
および等価直列抵抗値を算出して、算出した静電容量値
および等価直列抵抗値が所定範囲内に入っているか否か
によって電解コンデンサの良否を検査していた。
【０００３】他の方法として、例えば特開平５−２１５
８００号に示されているごとく、抵抗を通して電解コン
デンサを充電し、充電開始時から電解コンデンサの端子
電圧が所定電圧に充電されるまでの充電時間、例えば電
解コンデンサの端子電圧がほぼ一定となるまでの充電時
間を測定し、正常な電解コンデンサを充電した場合にお
いて、電解コンデンサの端子電圧が前記所定電圧に達す
るまでの充電時間を基準時間とし、被検査電解コンデン
サによって測定した充電時間と前記基準時間とを比較し
て、測定充電時間が基準時間より短いときは電解コンデ
ンサが劣化していると判定することが行われている。
８００号に示されているごとく、抵抗を通して電解コン
デンサを充電し、充電開始時から電解コンデンサの端子
電圧が所定電圧に充電されるまでの充電時間、例えば電
解コンデンサの端子電圧がほぼ一定となるまでの充電時
間を測定し、正常な電解コンデンサを充電した場合にお
いて、電解コンデンサの端子電圧が前記所定電圧に達す
るまでの充電時間を基準時間とし、被検査電解コンデン
サによって測定した充電時間と前記基準時間とを比較し
て、測定充電時間が基準時間より短いときは電解コンデ
ンサが劣化していると判定することが行われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記した
ＬＣＲメータによる測定に基づいて静電容量値および等
価直列抵抗値を演算して、電解コンデンサの良否を検査
する場合、通電電流が少ないため印加電圧も低く、イン
バータなどの平滑コンデンサとして使用される電解コン
デンサの場合に、検査時の条件と実際の使用条件とが大
きく異なるため、電解コンデンサの使用条件での良否検
査が行えたのか否かが不明で、良否結果を電解コンデン
サの使用条件時のものとしてよいか否かが判断できない
という問題点があった。その上、検査される電解コンデ
ンサをインバータなどの電力変換装置から取り外さなけ
ればならないという問題点があった。
ＬＣＲメータによる測定に基づいて静電容量値および等
価直列抵抗値を演算して、電解コンデンサの良否を検査
する場合、通電電流が少ないため印加電圧も低く、イン
バータなどの平滑コンデンサとして使用される電解コン
デンサの場合に、検査時の条件と実際の使用条件とが大
きく異なるため、電解コンデンサの使用条件での良否検
査が行えたのか否かが不明で、良否結果を電解コンデン
サの使用条件時のものとしてよいか否かが判断できない
という問題点があった。その上、検査される電解コンデ
ンサをインバータなどの電力変換装置から取り外さなけ
ればならないという問題点があった。
【０００５】一方、等価直列抵抗値が電解コンデンサの
発熱の原因となって、電解コンデンサの寿命に大きな影
響を与えることから、電解コンデンサの等価直列抵抗値
が重要視されている。しかしながら上記した測定充電時
間と基準時間とを比較して判定する場合においては、単
に被検査電解コンデンサの静電容量値が基準となる電解
コンデンサの静電容量値から規定以上減少していること
のみしか判定できず、等価直列抵抗値を測定もしくは演
算することができないという問題点があった。
発熱の原因となって、電解コンデンサの寿命に大きな影
響を与えることから、電解コンデンサの等価直列抵抗値
が重要視されている。しかしながら上記した測定充電時
間と基準時間とを比較して判定する場合においては、単
に被検査電解コンデンサの静電容量値が基準となる電解
コンデンサの静電容量値から規定以上減少していること
のみしか判定できず、等価直列抵抗値を測定もしくは演
算することができないという問題点があった。
【０００６】本発明は、実際の動作状態と同等の状態に
おいて、容易に、高精度で、かつインバータなどの電力
変換装置に接続された状態で良否を検査することができ
る電解コンデンサの検査方法を提供することを目的とす
る。
おいて、容易に、高精度で、かつインバータなどの電力
変換装置に接続された状態で良否を検査することができ
る電解コンデンサの検査方法を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明にかかる電解コン
デンサの検査方法は、インバータ回路に接続されている
電解コンデンサの検査方法であって、インバータ回路を
構成するスイッチング素子をオフ状態に制御し直流電源
からの電流により抵抗を介して電解コンデンサを充電す
る第１の過程と、充電中における電解コンデンサの端子
電圧を計測し充電開始時から充電中における電解コンデ
ンサの端子電圧が予め定めた電圧に達するまでの期間を
計測する第２の過程と、第２の過程で計測した期間と前
記抵抗の抵抗値とに基づいて電解コンデンサの静電容量
値を演算する第３の過程と、充電された電解コンデンサ
を放電させる第４の過程と、放電中における電解コンデ
ンサの端子電圧を計測するとともに電解コンデンサから
の放電電流を計測する第５の過程と、放電開始時におけ
る電解コンデンサの端子電圧と第３の過程で演算した静
電容量値と第５の過程において計測した放電電流および
電解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサ
の等価直列抵抗値を演算する第６の過程とを備えたこと
を特徴とする。
デンサの検査方法は、インバータ回路に接続されている
電解コンデンサの検査方法であって、インバータ回路を
構成するスイッチング素子をオフ状態に制御し直流電源
からの電流により抵抗を介して電解コンデンサを充電す
る第１の過程と、充電中における電解コンデンサの端子
電圧を計測し充電開始時から充電中における電解コンデ
ンサの端子電圧が予め定めた電圧に達するまでの期間を
計測する第２の過程と、第２の過程で計測した期間と前
記抵抗の抵抗値とに基づいて電解コンデンサの静電容量
値を演算する第３の過程と、充電された電解コンデンサ
を放電させる第４の過程と、放電中における電解コンデ
ンサの端子電圧を計測するとともに電解コンデンサから
の放電電流を計測する第５の過程と、放電開始時におけ
る電解コンデンサの端子電圧と第３の過程で演算した静
電容量値と第５の過程において計測した放電電流および
電解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサ
の等価直列抵抗値を演算する第６の過程とを備えたこと
を特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明にかかる電解コンデンサの検査方法は、
直流電源からの電流により抵抗を介して電解コンデンサ
が充電され、充電中における電解コンデンサの端子電圧
が計測され、充電開始時から充電中における電解コンデ
ンサの端子電圧が予め定めた電圧に達するまでの期間が
計測されて、計測した期間と前記抵抗の抵抗値とに基づ
いて電解コンデンサの静電容量値が演算される。
直流電源からの電流により抵抗を介して電解コンデンサ
が充電され、充電中における電解コンデンサの端子電圧
が計測され、充電開始時から充電中における電解コンデ
ンサの端子電圧が予め定めた電圧に達するまでの期間が
計測されて、計測した期間と前記抵抗の抵抗値とに基づ
いて電解コンデンサの静電容量値が演算される。
【０００９】しかるに直流電源の電圧を選択することに
よって電解コンデンサの実使用条件に近い電圧条件にお
いての静電容量値が演算される。さらに、電解コンデン
サの端子電圧の測定は容易であって、この端子電圧と期
間の計測のみで済み、電解コンデンサがインバータ回路
に接続された状態で、容易に、かつ高精度で、電解コン
デンサの検査が行えることになる。
よって電解コンデンサの実使用条件に近い電圧条件にお
いての静電容量値が演算される。さらに、電解コンデン
サの端子電圧の測定は容易であって、この端子電圧と期
間の計測のみで済み、電解コンデンサがインバータ回路
に接続された状態で、容易に、かつ高精度で、電解コン
デンサの検査が行えることになる。
【００１０】充電された電解コンデンサは放電させら
れ、放電中における電解コンデンサの端子電圧が計測さ
れるとともに電解コンデンサからの放電電流が計測さ
れ、放電開始時における電解コンデンサの端子電圧と演
算された前記静電容量値と計測された放電電流および電
解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサの
等価直列抵抗値が演算される。
れ、放電中における電解コンデンサの端子電圧が計測さ
れるとともに電解コンデンサからの放電電流が計測さ
れ、放電開始時における電解コンデンサの端子電圧と演
算された前記静電容量値と計測された放電電流および電
解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサの
等価直列抵抗値が演算される。
【００１１】しかるに、電解コンデンサの実使用条件に
近い条件において充電された電解コンデンサを放電させ
ることによって等価直列抵抗値の演算ができるため、電
解コンデンサの実使用条件に近い状態での等価直列抵抗
値が得られる。さらに、充電中における電解コンデンサ
の端子電圧および放電電流の計測によって等価直列抵抗
値が演算でき、電圧の測定および放電電流の測定は容易
であって、電解コンデンサがインバータ回路に接続され
た状態で、容易に、かつ高精度で、電解コンデンサの検
査が行えることになる。
近い条件において充電された電解コンデンサを放電させ
ることによって等価直列抵抗値の演算ができるため、電
解コンデンサの実使用条件に近い状態での等価直列抵抗
値が得られる。さらに、充電中における電解コンデンサ
の端子電圧および放電電流の計測によって等価直列抵抗
値が演算でき、電圧の測定および放電電流の測定は容易
であって、電解コンデンサがインバータ回路に接続され
た状態で、容易に、かつ高精度で、電解コンデンサの検
査が行えることになる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明を実施例により説明する。
【００１３】図１は本発明にかかる電解コンデンサの検
査方法が適用される検査回路の第１実施例のブロック図
であって、インバータ回路と共に示してある。
査方法が適用される検査回路の第１実施例のブロック図
であって、インバータ回路と共に示してある。
【００１４】図１において、符号１は本発明にかかる電
解コンデンサの検査方法が適用される第１実施例の検査
回路を示している。
解コンデンサの検査方法が適用される第１実施例の検査
回路を示している。
【００１５】インバータ回路２０はオン・オフ制御され
るトランジスタＱ1 〜Ｑ6 と、平滑コンデンサとして作
用する電解コンデンサＣと、スナバーダイオードを構成
するダイオードＤ1 〜Ｄ6 と、トランジスタＱ1 〜Ｑ6
をオン・オフ制御するインバータ制御回路２１とを備
え、トランジスタＱ1 とＱ2 とを直列接続し、トランジ
スタＱ3 とＱ4 とを直列接続し、トランジスタＱ5 とＱ
6 とを直列接続し、直列接続されたトランジスタＱ1 と
Ｑ2 に電解コンデンサＣを並列接続し、トランジスタＱ
1 とＱ2 との直列回路にトランジスタＱ3 とＱ4 との直
列回路およびトランジスタＱ5 とＱ6 との直列回路を並
列接続し、トランジスタＱ1 〜Ｑ6 のそれぞれには各別
にダイオードＤ1 〜Ｄ6 を並列接続して構成し、インバ
ータ制御回路２１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ
6 を所定のタイミングでオン・オフ制御するように構成
してある。
るトランジスタＱ1 〜Ｑ6 と、平滑コンデンサとして作
用する電解コンデンサＣと、スナバーダイオードを構成
するダイオードＤ1 〜Ｄ6 と、トランジスタＱ1 〜Ｑ6
をオン・オフ制御するインバータ制御回路２１とを備
え、トランジスタＱ1 とＱ2 とを直列接続し、トランジ
スタＱ3 とＱ4 とを直列接続し、トランジスタＱ5 とＱ
6 とを直列接続し、直列接続されたトランジスタＱ1 と
Ｑ2 に電解コンデンサＣを並列接続し、トランジスタＱ
1 とＱ2 との直列回路にトランジスタＱ3 とＱ4 との直
列回路およびトランジスタＱ5 とＱ6 との直列回路を並
列接続し、トランジスタＱ1 〜Ｑ6 のそれぞれには各別
にダイオードＤ1 〜Ｄ6 を並列接続して構成し、インバ
ータ制御回路２１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ
6 を所定のタイミングでオン・オフ制御するように構成
してある。
【００１６】トランジスタＱ1 とＱ2 との共通接続点
ａ、トランジスタＱ3 とＱ4 との共通接続点ｂ、トラン
ジスタＱ5 とＱ6 との共通接続点ｃは図示しない例えば
３相交流モータの捲線端にそれぞれ接続してあって、イ
ンバータ制御回路２１の制御のもとにトランジスタＱ1
〜Ｑ6 をオン・オフ制御して直流電源２からの電圧を交
流電圧に変換し前記３相交流モータを駆動する。
ａ、トランジスタＱ3 とＱ4 との共通接続点ｂ、トラン
ジスタＱ5 とＱ6 との共通接続点ｃは図示しない例えば
３相交流モータの捲線端にそれぞれ接続してあって、イ
ンバータ制御回路２１の制御のもとにトランジスタＱ1
〜Ｑ6 をオン・オフ制御して直流電源２からの電圧を交
流電圧に変換し前記３相交流モータを駆動する。
【００１７】検査回路１は、電解コンデンサＣを充電す
るための直流電源２と、電解コンデンサＣに流れる充電
電流および放電電流を検出する電流検出器３と、電解コ
ンデンサＣの端子電圧を検出する電圧検出器４と、電解
コンデンサＣの電荷の放電をさせるためのドライバ５お
よびドライバ５の出力によって駆動されるトランジスタ
６と、後記する制御回路７と、表示装置９と、マトリッ
クス状に接続され制御回路７の出力によって制御されて
電解コンデンサＣの放充電路を形成する切り換え接点に
より構成された切り換え回路１０と、静電容量測定指示
キー８１と、等価直列抵抗測定指示キー８２とを備えて
おり、直流電源２からの電流を直接にまたは抵抗１１を
通して切り換え回路１０を介して電解コンデンサＣに導
き直流電源２からの電流によって電解コンデンサＣを充
電し、電解コンデンサＣの電荷を電流制限抵抗８および
トランジスタ６を介して放電するように構成してある。
るための直流電源２と、電解コンデンサＣに流れる充電
電流および放電電流を検出する電流検出器３と、電解コ
ンデンサＣの端子電圧を検出する電圧検出器４と、電解
コンデンサＣの電荷の放電をさせるためのドライバ５お
よびドライバ５の出力によって駆動されるトランジスタ
６と、後記する制御回路７と、表示装置９と、マトリッ
クス状に接続され制御回路７の出力によって制御されて
電解コンデンサＣの放充電路を形成する切り換え接点に
より構成された切り換え回路１０と、静電容量測定指示
キー８１と、等価直列抵抗測定指示キー８２とを備えて
おり、直流電源２からの電流を直接にまたは抵抗１１を
通して切り換え回路１０を介して電解コンデンサＣに導
き直流電源２からの電流によって電解コンデンサＣを充
電し、電解コンデンサＣの電荷を電流制限抵抗８および
トランジスタ６を介して放電するように構成してある。
【００１８】ここで、抵抗１１の抵抗値は直流電源２の
内部抵抗値および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値よ
りも大きい抵抗値に設定してある。電流検出器３は例え
ば、通電路を挿通させて通電路に流れる電流を検出する
変成器（カレントトランス）と変成器の出力を所定レベ
ルに変換する変換器とから構成してあり、電圧検出器４
は電解コンデンサＣの端子電圧を検出し所定レベルに変
換して出力するように構成してある。
内部抵抗値および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値よ
りも大きい抵抗値に設定してある。電流検出器３は例え
ば、通電路を挿通させて通電路に流れる電流を検出する
変成器（カレントトランス）と変成器の出力を所定レベ
ルに変換する変換器とから構成してあり、電圧検出器４
は電解コンデンサＣの端子電圧を検出し所定レベルに変
換して出力するように構成してある。
【００１９】切り換え回路１０は制御回路７の出力に基
づいてオン・オフが制御される切り換え接点１０１〜１
１４から構成してある。
づいてオン・オフが制御される切り換え接点１０１〜１
１４から構成してある。
【００２０】電流検出器３からの出力、電圧検出器４か
らの出力、静電容量測定指示キー８１の出力、等価直列
抵抗測定指示キー８２からの出力は制御回路７に供給
し、制御回路７からの出力によって切り換え回路１０の
切り換え接点１０１〜１１４の切り換えを制御し、ドラ
イバ５を駆動してトランジスタ６のオン・オフを制御す
る。
らの出力、静電容量測定指示キー８１の出力、等価直列
抵抗測定指示キー８２からの出力は制御回路７に供給
し、制御回路７からの出力によって切り換え回路１０の
切り換え接点１０１〜１１４の切り換えを制御し、ドラ
イバ５を駆動してトランジスタ６のオン・オフを制御す
る。
【００２１】ここで、制御回路７は例えばマイクロコン
ピュータからなり、制御回路７を制御するプログラムが
格納されたＲＯＭ７１と、作業領域を備えたＲＡＭ７２
とを備える他に、機能的に、切り換え接点１０１〜１１
４をオン・オフ制御するスイッチ駆動制御回路７３と、
静電容量測定指示キー８１からの出力を受けて電解コン
デンサＣに抵抗１１を介して直流電源２の電流を供給す
るようにスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切り
換え回路１０を切り換え、かつこの切り換え時から電圧
検出器４により検出した電解コンデンサＣの端子電圧を
読み込み、読み込んだ電解コンデンサＣの端子電圧が直
流電源の出力電圧Ｅ1 の６３．２１％に達するまでの時
間を計時する計時回路７４と、抵抗１１の抵抗値Ｒ1 と
計時回路７４によって計時した充電時間τとから電解コ
ンデンサの静電容量値ＣT を演算し演算した静電容量値
ＣT が設定静電容量値の範囲内か否かを判別する演算・
判別回路７５と、電解コンデンサＣの等価直列抵抗測定
指示キー８２からの出力を受けて電解コンデンサＣに、
直流電源２の電流を供給するようにスイッチ駆動制御回
路７３の制御のもとに切り換え回路１０を切り換えかつ
この切り換え時から電圧検出器４の出力電圧が変化しな
くなるまで切り換え回路１０の状態を維持する充電制御
回路７６と、充電制御回路７６の制御による充電終了時
からスイッチ駆動制御回路７３を介してドライバ５を駆
動しトランジスタ６をオン状態に制御し、スイッチ駆動
制御回路７３の制御のもとに切り換え回路１０を制御し
て直流電源２の電流の電解コンデンサＣへの通電を遮断
し、ついでスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切
り換え回路１０を制御して電解コンデンサＣの電荷を放
電し充電終了時において電圧検出器４により検出した電
解コンデンサＣの端子電圧と、放電中における電解コン
デンサＣの端子電圧と、電流検出器３によって検出した
放電電流とから等価直列抵抗値を演算し演算等価直列抵
抗値が設定等価直列抵抗値の範囲内か否かを判別する演
算・判別回路７７とを備えている。
ピュータからなり、制御回路７を制御するプログラムが
格納されたＲＯＭ７１と、作業領域を備えたＲＡＭ７２
とを備える他に、機能的に、切り換え接点１０１〜１１
４をオン・オフ制御するスイッチ駆動制御回路７３と、
静電容量測定指示キー８１からの出力を受けて電解コン
デンサＣに抵抗１１を介して直流電源２の電流を供給す
るようにスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切り
換え回路１０を切り換え、かつこの切り換え時から電圧
検出器４により検出した電解コンデンサＣの端子電圧を
読み込み、読み込んだ電解コンデンサＣの端子電圧が直
流電源の出力電圧Ｅ1 の６３．２１％に達するまでの時
間を計時する計時回路７４と、抵抗１１の抵抗値Ｒ1 と
計時回路７４によって計時した充電時間τとから電解コ
ンデンサの静電容量値ＣT を演算し演算した静電容量値
ＣT が設定静電容量値の範囲内か否かを判別する演算・
判別回路７５と、電解コンデンサＣの等価直列抵抗測定
指示キー８２からの出力を受けて電解コンデンサＣに、
直流電源２の電流を供給するようにスイッチ駆動制御回
路７３の制御のもとに切り換え回路１０を切り換えかつ
この切り換え時から電圧検出器４の出力電圧が変化しな
くなるまで切り換え回路１０の状態を維持する充電制御
回路７６と、充電制御回路７６の制御による充電終了時
からスイッチ駆動制御回路７３を介してドライバ５を駆
動しトランジスタ６をオン状態に制御し、スイッチ駆動
制御回路７３の制御のもとに切り換え回路１０を制御し
て直流電源２の電流の電解コンデンサＣへの通電を遮断
し、ついでスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切
り換え回路１０を制御して電解コンデンサＣの電荷を放
電し充電終了時において電圧検出器４により検出した電
解コンデンサＣの端子電圧と、放電中における電解コン
デンサＣの端子電圧と、電流検出器３によって検出した
放電電流とから等価直列抵抗値を演算し演算等価直列抵
抗値が設定等価直列抵抗値の範囲内か否かを判別する演
算・判別回路７７とを備えている。
【００２２】さらに、演算・判別回路７５および７７の
出力に基づいて電解コンデンサＣの良否を表示装置９に
表示する。
出力に基づいて電解コンデンサＣの良否を表示装置９に
表示する。
【００２３】上記のように構成した本実施例の作用を、
静電容量値演算の場合について図２に示すフローチャー
トに基づいて説明する。
静電容量値演算の場合について図２に示すフローチャー
トに基づいて説明する。
【００２４】静電容量測定指示キー８１の押圧によって
電解コンデンサＣの静電容量の測定が開始される。静電
容量測定指示キー８１が押圧されるとインバータ制御回
路２１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ6 の総てが
オフ状態に制御され、演算・判別回路７５の制御のもと
に切り換え接点１０１、１０３、１０９、１１３、１１
４のみがオン状態に制御されて、直流電源２からの電流
にて抵抗１１を介して電解コンデンサＣが充電される状
態に制御される（ステップＳ１）。この状態において電
解コンデンサＣに抵抗１１を介して電流が流れて充電が
開始され（ステップＳ２）、充電開始時から計時回路７
４による計時が開始されると共に電圧検出器４によって
検出された電解コンデンサＣの端子電圧ＥCTが読み込ま
れる（ステップＳ３）。ステップＳ３において読み込ま
れた電圧検出器４の出力は電解コンデンサＣの端子電圧
であり、電解コンデンサＣの端子電圧は抵抗１１の抵抗
値Ｒ1 と電解コンデンサＣの静電容量値ＣT とに基づく
時定数によって順次増加する。ステップＳ３に続いて電
圧検出器４によって読み込んだ電解コンデンサＣの端子
電圧ＥCTが０．６３２１Ｅ1 に達するまで充電が継続さ
れる（ステップＳ４）。
電解コンデンサＣの静電容量の測定が開始される。静電
容量測定指示キー８１が押圧されるとインバータ制御回
路２１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ6 の総てが
オフ状態に制御され、演算・判別回路７５の制御のもと
に切り換え接点１０１、１０３、１０９、１１３、１１
４のみがオン状態に制御されて、直流電源２からの電流
にて抵抗１１を介して電解コンデンサＣが充電される状
態に制御される（ステップＳ１）。この状態において電
解コンデンサＣに抵抗１１を介して電流が流れて充電が
開始され（ステップＳ２）、充電開始時から計時回路７
４による計時が開始されると共に電圧検出器４によって
検出された電解コンデンサＣの端子電圧ＥCTが読み込ま
れる（ステップＳ３）。ステップＳ３において読み込ま
れた電圧検出器４の出力は電解コンデンサＣの端子電圧
であり、電解コンデンサＣの端子電圧は抵抗１１の抵抗
値Ｒ1 と電解コンデンサＣの静電容量値ＣT とに基づく
時定数によって順次増加する。ステップＳ３に続いて電
圧検出器４によって読み込んだ電解コンデンサＣの端子
電圧ＥCTが０．６３２１Ｅ1 に達するまで充電が継続さ
れる（ステップＳ４）。
【００２５】ステップＳ４において電解コンデンサＣの
端子電圧ＥCTが、ＥCT＝０．６３２１Ｅ1 になったと判
別されたときは、充電開始時からの経過時間、すなわち
充電時間τが読み取られ（ステップＳ５）、ステップＳ
５に続いてＣT ＝τ／Ｒ1 が演算される（ステップＳ
６）。
端子電圧ＥCTが、ＥCT＝０．６３２１Ｅ1 になったと判
別されたときは、充電開始時からの経過時間、すなわち
充電時間τが読み取られ（ステップＳ５）、ステップＳ
５に続いてＣT ＝τ／Ｒ1 が演算される（ステップＳ
６）。
【００２６】ステップＳ６に続いて静電容量値ＣT が設
定範囲内か否かがチェックされ（ステップＳ７）、ステ
ップＳ７において設定範囲内と判別されたときは表示装
置９に“良”の表示がなされ（ステップＳ８）、ステッ
プＳ７において設定範囲外と判別されたときは表示装置
９に“不良”の表示がなされる（ステップＳ９）。
定範囲内か否かがチェックされ（ステップＳ７）、ステ
ップＳ７において設定範囲内と判別されたときは表示装
置９に“良”の表示がなされ（ステップＳ８）、ステッ
プＳ７において設定範囲外と判別されたときは表示装置
９に“不良”の表示がなされる（ステップＳ９）。
【００２７】ここで、充電による電解コンデンサＣの端
子電圧ＥCTは一般にＥCT＝Ｅ1 （１−ｅ-(t/CR1)）によ
って表される。ここで、τ＝ＣＲ1 であり、ｔ＝τのと
き電解コンデンサＣの端子電圧ＥCTはＥCT＝Ｅ1 （１−
ｅ-1）となって、ＥCT≒０．６３２１Ｅ1 となる。従っ
て、ステップＳ６においてＥCT≒０．６３２１Ｅ1 に達
したときの比からＣT ＝τ／Ｒ1 によって静電容量値が
演算できる。
子電圧ＥCTは一般にＥCT＝Ｅ1 （１−ｅ-(t/CR1)）によ
って表される。ここで、τ＝ＣＲ1 であり、ｔ＝τのと
き電解コンデンサＣの端子電圧ＥCTはＥCT＝Ｅ1 （１−
ｅ-1）となって、ＥCT≒０．６３２１Ｅ1 となる。従っ
て、ステップＳ６においてＥCT≒０．６３２１Ｅ1 に達
したときの比からＣT ＝τ／Ｒ1 によって静電容量値が
演算できる。
【００２８】また、上記したように直流電源２の電圧お
よび抵抗１１の抵抗値Ｒ1 を設定することによって電解
コンデンサＣに実際の使用条件に近い電流値の電流を流
すことができ、実使用条件に近い条件における静電容量
値の測定・演算をすることができる。
よび抵抗１１の抵抗値Ｒ1 を設定することによって電解
コンデンサＣに実際の使用条件に近い電流値の電流を流
すことができ、実使用条件に近い条件における静電容量
値の測定・演算をすることができる。
【００２９】次に本実施例における等価直列抵抗値演算
の場合について説明する。
の場合について説明する。
【００３０】電解コンデンサＣの等価回路は図３に示す
ごとく静電容量値ＣT と抵抗値ＲES R との直列回路にて
表され、抵抗値ＲESR は等価直列抵抗値と称されてお
り、等価直列抵抗値ＲESR が増加したとき温度上昇が増
加し、電解コンデンサＣの寿命に影響を与えることは前
記のとおりである。
ごとく静電容量値ＣT と抵抗値ＲES R との直列回路にて
表され、抵抗値ＲESR は等価直列抵抗値と称されてお
り、等価直列抵抗値ＲESR が増加したとき温度上昇が増
加し、電解コンデンサＣの寿命に影響を与えることは前
記のとおりである。
【００３１】等価直列抵抗値演算の場合について図４に
示すフローチャートに基づいて説明する。
示すフローチャートに基づいて説明する。
【００３２】等価直列抵抗測定指示キー８２の押圧によ
って等価直列抵抗値の測定が開始される。等価直列抵抗
測定指示キー８２が押圧されるとインバータ制御回路２
１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ6 の総てがオフ
状態に制御され、充電制御回路７６およびスイッチ駆動
制御回路７３の制御のもとに切り換え接点１０１、１０
３、１０９、１１３、１１４のみがオン状態に制御され
る（ステップＳ１１）。この状態において電解コンデン
サＣは直流電源２からの電流によって充電され、この充
電中において電圧検出器４により検出された電解コンデ
ンサＣの端子電圧が変化しなくなるまで充電が継続され
る（ステップＳ１２）。ステップＳ１２における充電は
電解コンデンサＣの端子電圧が変化しなくなるまで充電
されるために、ステップＳ１２の終了時においては電解
コンデンサＣは完全に充電された状態になる。
って等価直列抵抗値の測定が開始される。等価直列抵抗
測定指示キー８２が押圧されるとインバータ制御回路２
１の制御のもとにトランジスタＱ1 〜Ｑ6 の総てがオフ
状態に制御され、充電制御回路７６およびスイッチ駆動
制御回路７３の制御のもとに切り換え接点１０１、１０
３、１０９、１１３、１１４のみがオン状態に制御され
る（ステップＳ１１）。この状態において電解コンデン
サＣは直流電源２からの電流によって充電され、この充
電中において電圧検出器４により検出された電解コンデ
ンサＣの端子電圧が変化しなくなるまで充電が継続され
る（ステップＳ１２）。ステップＳ１２における充電は
電解コンデンサＣの端子電圧が変化しなくなるまで充電
されるために、ステップＳ１２の終了時においては電解
コンデンサＣは完全に充電された状態になる。
【００３３】ステップＳ１２に続いて、スイッチ駆動制
御回路７３の制御のもとに切り換え接点１１３、１１４
のみがオン状態に制御され、ドライバ５を介してトラン
ジスタ６がオン状態に制御される（ステップＳ１３）。
この状態で直流電源２の電圧の電解コンデンサＣへの印
加は遮断され、電解コンデンサＣの電荷は電流制限抵抗
８およびトランジスタ６を介して放電させられる（ステ
ップＳ１４）。ステップＳ１４の放電による放電電流Ｉ
d は電流制限抵抗８およびトランジスタ６を介して流
れ、電流検出器３によって検出され、電解コンデンサＣ
の端子電圧ＶC は電圧検出器４によって検出されて読み
込まれる（ステップＳ１５）。
御回路７３の制御のもとに切り換え接点１１３、１１４
のみがオン状態に制御され、ドライバ５を介してトラン
ジスタ６がオン状態に制御される（ステップＳ１３）。
この状態で直流電源２の電圧の電解コンデンサＣへの印
加は遮断され、電解コンデンサＣの電荷は電流制限抵抗
８およびトランジスタ６を介して放電させられる（ステ
ップＳ１４）。ステップＳ１４の放電による放電電流Ｉ
d は電流制限抵抗８およびトランジスタ６を介して流
れ、電流検出器３によって検出され、電解コンデンサＣ
の端子電圧ＶC は電圧検出器４によって検出されて読み
込まれる（ステップＳ１５）。
【００３４】ステップＳ１５に続いて放電電流Ｉd と端
子電圧ＶC とから演算・判別回路７７により等価直列抵
抗値ＲESR が演算される（ステップＳ１６）。等価直列
抵抗値ＲESR の演算については後記する。ステップＳ１
６に続いて放電電流Ｉd が零か否か、すなわち完全に放
電が行われたか否かがチェックされ、零になるまでステ
ップＳ１４から繰り返して実行される（ステップＳ１
７）。ついでステップＳ１６において演算された等価直
列抵抗値ＲESR が設定範囲内か否かがチェックされ（ス
テップＳ１８）、ステップＳ１８において設定範囲内と
判別されたときは表示装置９に“良”の表示がなされ
（ステップＳ１９）、ステップＳ１８において設定範囲
外と判別されたときは表示装置９に“不良”の表示がな
される（ステップＳ２０）。
子電圧ＶC とから演算・判別回路７７により等価直列抵
抗値ＲESR が演算される（ステップＳ１６）。等価直列
抵抗値ＲESR の演算については後記する。ステップＳ１
６に続いて放電電流Ｉd が零か否か、すなわち完全に放
電が行われたか否かがチェックされ、零になるまでステ
ップＳ１４から繰り返して実行される（ステップＳ１
７）。ついでステップＳ１６において演算された等価直
列抵抗値ＲESR が設定範囲内か否かがチェックされ（ス
テップＳ１８）、ステップＳ１８において設定範囲内と
判別されたときは表示装置９に“良”の表示がなされ
（ステップＳ１９）、ステップＳ１８において設定範囲
外と判別されたときは表示装置９に“不良”の表示がな
される（ステップＳ２０）。
【００３５】ここで、ステップＳ１６における等価直列
抵抗値ＲESR の演算について説明する。
抵抗値ＲESR の演算について説明する。
【００３６】電解コンデンサＣの放電中の等価回路は図
５に示すごとくであり、図５において抵抗Ｒtrはトラン
ジスタ６のオン抵抗と電流制限抵抗８の抵抗との和の抵
抗値の抵抗である。一方、Ｑd は放電中においても電解
コンデンサＣに残っている電荷を、ＶESR は電解コンデ
ンサＣの等価直列抵抗値ＲESR による電圧降下を示す。
充電終了時、すなわち放電開始直前における電圧検出器
４によって検出した電解コンデンサＣの端子電圧はＶcT
であるとする。この場合はまだ放電電流Ｉd は流れてい
ない。
５に示すごとくであり、図５において抵抗Ｒtrはトラン
ジスタ６のオン抵抗と電流制限抵抗８の抵抗との和の抵
抗値の抵抗である。一方、Ｑd は放電中においても電解
コンデンサＣに残っている電荷を、ＶESR は電解コンデ
ンサＣの等価直列抵抗値ＲESR による電圧降下を示す。
充電終了時、すなわち放電開始直前における電圧検出器
４によって検出した電解コンデンサＣの端子電圧はＶcT
であるとする。この場合はまだ放電電流Ｉd は流れてい
ない。
【００３７】一方、電解コンデンサＣの静電容量値はＣ
T であり、放電開始直前の電解コンデンサＣの端子電圧
はＶcTであるために、放電開始直前における電解コンデ
ンサＣに充電された電荷Ｑは、 Ｑ＝ＣT ・ＶCT …（１） である。
T であり、放電開始直前の電解コンデンサＣの端子電圧
はＶcTであるために、放電開始直前における電解コンデ
ンサＣに充電された電荷Ｑは、 Ｑ＝ＣT ・ＶCT …（１） である。
【００３８】時間ｔ＝０から放電が開始されると、図６
に示すごとく電圧検出器４によって検出される電解コン
デンサＣの端子電圧Ｖc は順次低下し、図７に示すごと
く放電電流Ｉd も減少していく。
に示すごとく電圧検出器４によって検出される電解コン
デンサＣの端子電圧Ｖc は順次低下し、図７に示すごと
く放電電流Ｉd も減少していく。
【００３９】放電中における電解コンデンサＣに残って
いる電荷Ｑd (t) は（２）式となる。
いる電荷Ｑd (t) は（２）式となる。
【００４０】 Ｑd (t) ＝Ｑ−∫Ｉd (t) ｄｔ …（２） ここで、（２）式の両辺を（合成）静電容量値ＣT で割
ると、電圧Ｖd が（３）式のように得られる。
ると、電圧Ｖd が（３）式のように得られる。
【００４１】Ｖd (t) ＝Ｑd (t) ／ＣT ＝ＶcT−（１／ＣT ）∫Ｉd (t) ｄｔ …（３） （３）式に示す電圧Ｖd (t) は、放電中における等価直
列抵抗値が零の理想的な電解コンデンサＣの端子電圧で
ある。
列抵抗値が零の理想的な電解コンデンサＣの端子電圧で
ある。
【００４２】放電中において電圧検出器４によって検出
される電解コンデンサＣの端子電圧Ｖc (t) は等価直列
抵抗による電圧降下も含まれているため、等価直列抵抗
による電圧降下ＶESR は（４）式となる。
される電解コンデンサＣの端子電圧Ｖc (t) は等価直列
抵抗による電圧降下も含まれているため、等価直列抵抗
による電圧降下ＶESR は（４）式となる。
【００４３】 ＶESR (t) ＝Ｖd (t) −Ｖc (t) …（４） 従って、等価直列抵抗値ＲESR は（５）式によって得ら
れる。
れる。
【００４４】ＲESR ＝ＶESR ／Ｉd …（５） 上記からも明らかなように、ステップＳ１６において下
記に示す（６）式の演算が行われて、等価直列抵抗値Ｒ
ESR が求められる。
記に示す（６）式の演算が行われて、等価直列抵抗値Ｒ
ESR が求められる。
【００４５】 ｛（ＶcT−（１／ＣT ）∫Ｉd (t) ｄｔ−Ｖc (t) ｝／Ｉd (t) …（６） この結果、放電時間に対する等価直列抵抗値ＲESR は図
８に示すごとくであり、放電電流に対する等価直列抵抗
値ＲESR は図９に示す如くである。
８に示すごとくであり、放電電流に対する等価直列抵抗
値ＲESR は図９に示す如くである。
【００４６】次に、本発明にかかる電解コンデンサの検
査方法が適用される検査回路の第２実施例について説明
する。
査方法が適用される検査回路の第２実施例について説明
する。
【００４７】図１０は本発明にかかる電解コンデンサの
検査方法が適用される検査回路の第２実施例のブロック
図であって、インバータ回路と共に示してある。
検査方法が適用される検査回路の第２実施例のブロック
図であって、インバータ回路と共に示してある。
【００４８】図１０において、符号１Ａは本発明にかか
る電解コンデンサの検査方法が適用される第２実施例の
検査回路を示している。
る電解コンデンサの検査方法が適用される第２実施例の
検査回路を示している。
【００４９】第２実施例の検査回路１Ａは、切り換え回
路１０にさらに切り換え接点１１５および１１６を加え
て切り換え回路１０Ａを構成し、放電時の電流制限抵抗
８を切り換え接点１１５および１１６によって放電時に
接続するように構成して切り換え接点１１５および１１
６をスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切り換
え、かつ、第１実施例の検査回路１におけるドライバ５
とトランジスタ６とに代わって、インバータ回路２０中
のトランジスタＱ1 とトランジスタＱ4 を介して電解コ
ンデンサＣの電荷を放電するように構成し、電流検出器
３によって共通接続点ａに流れる電流を検出するように
構成したものである。
路１０にさらに切り換え接点１１５および１１６を加え
て切り換え回路１０Ａを構成し、放電時の電流制限抵抗
８を切り換え接点１１５および１１６によって放電時に
接続するように構成して切り換え接点１１５および１１
６をスイッチ駆動制御回路７３の制御のもとに切り換
え、かつ、第１実施例の検査回路１におけるドライバ５
とトランジスタ６とに代わって、インバータ回路２０中
のトランジスタＱ1 とトランジスタＱ4 を介して電解コ
ンデンサＣの電荷を放電するように構成し、電流検出器
３によって共通接続点ａに流れる電流を検出するように
構成したものである。
【００５０】この場合に、電流検出器３の検出端は変成
器によって構成されているから電流の検出のために挿入
することは容易である。
器によって構成されているから電流の検出のために挿入
することは容易である。
【００５１】上記した検査回路１Ａにおいて、電解コン
デンサＣの静電容量値を演算し、判定する演算・判定の
作用および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値の演算・
判定時において電解コンデンサＣを充電する場合の作用
については、検査回路１の場合と同様であるため、その
説明は省略する。
デンサＣの静電容量値を演算し、判定する演算・判定の
作用および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値の演算・
判定時において電解コンデンサＣを充電する場合の作用
については、検査回路１の場合と同様であるため、その
説明は省略する。
【００５２】検査回路１Ａの場合において、電解コンデ
ンサＣの等価直列抵抗値の演算・判定時において電解コ
ンデンサＣを放電する場合、すなわちステップＳ１３お
よびステップＳ１４における作用が検査回路１の場合と
異なっていて、他の各ステップは検査回路１の場合と同
様である。このため検査回路１Ａにおける場合のステッ
プＳ１３およびステップＳ１４について説明する。
ンサＣの等価直列抵抗値の演算・判定時において電解コ
ンデンサＣを放電する場合、すなわちステップＳ１３お
よびステップＳ１４における作用が検査回路１の場合と
異なっていて、他の各ステップは検査回路１の場合と同
様である。このため検査回路１Ａにおける場合のステッ
プＳ１３およびステップＳ１４について説明する。
【００５３】ステップＳ１２に続いて、インバータ制御
回路２１の制御によってトランジスタＱ1 のみがオン状
態に制御され、スイッチ駆動制御回路７３の制御のもと
に切り換え接点１０５、１１１、１１３、１１４、１１
５および１１６のみがオン状態に制御される。
回路２１の制御によってトランジスタＱ1 のみがオン状
態に制御され、スイッチ駆動制御回路７３の制御のもと
に切り換え接点１０５、１１１、１１３、１１４、１１
５および１１６のみがオン状態に制御される。
【００５４】このように切り換えられたことによって、
電解コンデンサＣの放電開始直前の端子電圧および電解
コンデンサＣの放電中における端子電圧は切り換え接点
１１３および１１４を介して電圧検出器４によって検出
される。また電解コンデンサＣの電荷の放電は、トラン
ジスタＱ4 をオン状態に制御することでトランジスタＱ
1 、切り換え接点１０５、１１５、電流制限抵抗８、切
り換え接点１１６、１１１、トランジスタＱ4 を介して
行われる。また、電解コンデンサＣの放電電流Ｉd は電
流検出器３によって検出される。したがってステップＳ
１３に続いて放電電流Ｉd が零になるまで、検査回路１
の場合と同様にステップＳ１４〜ステップＳ１６が繰り
返して実行されて、検査回路１の場合と同様に等価直列
抵抗値Ｒ ESR が演算されることになる。
電解コンデンサＣの放電開始直前の端子電圧および電解
コンデンサＣの放電中における端子電圧は切り換え接点
１１３および１１４を介して電圧検出器４によって検出
される。また電解コンデンサＣの電荷の放電は、トラン
ジスタＱ4 をオン状態に制御することでトランジスタＱ
1 、切り換え接点１０５、１１５、電流制限抵抗８、切
り換え接点１１６、１１１、トランジスタＱ4 を介して
行われる。また、電解コンデンサＣの放電電流Ｉd は電
流検出器３によって検出される。したがってステップＳ
１３に続いて放電電流Ｉd が零になるまで、検査回路１
の場合と同様にステップＳ１４〜ステップＳ１６が繰り
返して実行されて、検査回路１の場合と同様に等価直列
抵抗値Ｒ ESR が演算されることになる。
【００５５】なお、以上においてトランジスタＱ1 およ
びＱ4 をオン状態にした場合を例示したが、トランジス
タＱ4 をオン状態にしてからトランジスタＱ1 をオン状
態にして放電させても同様である。また、トランジスタ
Ｑ1 およびＱ4 に代わってトランジスタＱ2 およびＱ3
をオン状態に制御し、切り換え接点１０５および１１１
に代わって切り換え接点１０６および１１０をオン状態
に制御するようにしても同様であるし、トランジスタＱ
3 およびＱ6 をオン状態に制御するようにしても、また
トランジスタＱ5 およびＱ4 をオン状態に制御するよう
にしてもよく、このようにした場合も容易に類推できる
であろう。
びＱ4 をオン状態にした場合を例示したが、トランジス
タＱ4 をオン状態にしてからトランジスタＱ1 をオン状
態にして放電させても同様である。また、トランジスタ
Ｑ1 およびＱ4 に代わってトランジスタＱ2 およびＱ3
をオン状態に制御し、切り換え接点１０５および１１１
に代わって切り換え接点１０６および１１０をオン状態
に制御するようにしても同様であるし、トランジスタＱ
3 およびＱ6 をオン状態に制御するようにしても、また
トランジスタＱ5 およびＱ4 をオン状態に制御するよう
にしてもよく、このようにした場合も容易に類推できる
であろう。
【００５６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる電
解コンデンサの検査方法によれば、電解コンデンサの充
電において直流電源の電圧値および抵抗の抵抗値を選択
することによって実使用条件に近い条件において充電が
でき、実使用条件に近い条件においての静電容量値が演
算される効果がある。さらに、電解コンデンサの端子電
圧の測定は容易であって、静電容量値の演算のためには
この端子電圧と期間の計測のみで済み、電解コンデンサ
がインバータ回路に接続された状態で、容易に、かつ高
精度で、電解コンデンサの検査が行える効果がある。
解コンデンサの検査方法によれば、電解コンデンサの充
電において直流電源の電圧値および抵抗の抵抗値を選択
することによって実使用条件に近い条件において充電が
でき、実使用条件に近い条件においての静電容量値が演
算される効果がある。さらに、電解コンデンサの端子電
圧の測定は容易であって、静電容量値の演算のためには
この端子電圧と期間の計測のみで済み、電解コンデンサ
がインバータ回路に接続された状態で、容易に、かつ高
精度で、電解コンデンサの検査が行える効果がある。
【００５７】また、充電された電解コンデンサは放電さ
れ、放電中における電解コンデンサの端子電圧が計測さ
れるとともに電解コンデンサからの放電電流が計測さ
れ、放電開始時における電解コンデンサの端子電圧と演
算された前記静電容量値と計測された放電電流および電
解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサの
等価直列抵抗値が演算されて、静電容量値と等価直列抵
抗値とを合わせて検査することができる効果がある。
れ、放電中における電解コンデンサの端子電圧が計測さ
れるとともに電解コンデンサからの放電電流が計測さ
れ、放電開始時における電解コンデンサの端子電圧と演
算された前記静電容量値と計測された放電電流および電
解コンデンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサの
等価直列抵抗値が演算されて、静電容量値と等価直列抵
抗値とを合わせて検査することができる効果がある。
【００５８】また、等価直列抵抗値の演算のための充電
において、電解コンデンサの端子電圧が変化しなくなる
まで電解コンデンサが充電されるため、電解コンデンサ
は満充電状態から放電されることになり、正確に測定・
演算が行える効果が得られる。
において、電解コンデンサの端子電圧が変化しなくなる
まで電解コンデンサが充電されるため、電解コンデンサ
は満充電状態から放電されることになり、正確に測定・
演算が行える効果が得られる。
【００５９】さらに、実使用条件に近い条件において充
電された電解コンデンサを用いて等価直列抵抗値の演算
ができるため、実使用条件に近い条件での等価直列抵抗
値が得られる効果がある。
電された電解コンデンサを用いて等価直列抵抗値の演算
ができるため、実使用条件に近い条件での等価直列抵抗
値が得られる効果がある。
【００６０】さらにまた、放電中における電解コンデン
サの端子電圧および放電電流の計測によって等価直列抵
抗値が演算でき、電圧の測定および放電電流の測定は容
易であって、電解コンデンサがインバータ回路に接続さ
れた状態で、容易に、かつ高精度で、電解コンデンサの
検査が行える効果がある。
サの端子電圧および放電電流の計測によって等価直列抵
抗値が演算でき、電圧の測定および放電電流の測定は容
易であって、電解コンデンサがインバータ回路に接続さ
れた状態で、容易に、かつ高精度で、電解コンデンサの
検査が行える効果がある。
【００６１】また、電解コンデンサの放電は電流制限抵
抗を介して行われるため、放電電流が過大になることも
ない。
抗を介して行われるため、放電電流が過大になることも
ない。
【００６２】また、放電電流の計測は変成器を検出端と
する電流検出器によって行われるため、測定点の位置の
移動が容易であり、インバータ回路の接続を一々はずす
必要もないという効果が得られる。
する電流検出器によって行われるため、測定点の位置の
移動が容易であり、インバータ回路の接続を一々はずす
必要もないという効果が得られる。
【図１】本発明にかかる電解コンデンサの検査方法が適
用される検査回路の第１実施例の構成例を示すブロック
図である。
用される検査回路の第１実施例の構成例を示すブロック
図である。
【図２】本発明にかかる電解コンデンサの静電容量値の
測定・演算の説明に供するフローチャートである。
測定・演算の説明に供するフローチャートである。
【図３】電解コンデンサの等価回路図である。
【図４】本発明にかかる電解コンデンサの等価直列抵抗
値の測定・演算の説明に供するフローチャートである。
値の測定・演算の説明に供するフローチャートである。
【図５】本発明にかかる電解コンデンサの等価直列抵抗
値の測定・演算の説明に供する等価回路図である。
値の測定・演算の説明に供する等価回路図である。
【図６】本発明にかかる電解コンデンサの等価直列抵抗
値の測定・演算のときにおける電解コンデンサの端子電
圧の変化を示す図である。
値の測定・演算のときにおける電解コンデンサの端子電
圧の変化を示す図である。
【図７】本発明にかかる電解コンデンサの等価直列抵抗
値の測定・演算のときにおける電解コンデンサの放電電
流の変化を示す図である。
値の測定・演算のときにおける電解コンデンサの放電電
流の変化を示す図である。
【図８】本発明にかかる電解コンデンサの測定時間によ
る等価直列抵抗値の変化を示す図である。
る等価直列抵抗値の変化を示す図である。
【図９】本発明にかかる電解コンデンサの放電電流値に
よる等価直列抵抗値の変化を示す図である。
よる等価直列抵抗値の変化を示す図である。
【図１０】本発明にかかる電解コンデンサの検査方法が
適用される検査回路の第２実施例の構成例を示すブロッ
ク図である。
適用される検査回路の第２実施例の構成例を示すブロッ
ク図である。
１、１Ａ…検査回路 ２…直流電
源 ３…電流検出器 ４…電圧検
出器 ５…ドライバ ６…トラン
ジスタ ７…制御回路 ８…電流制
限抵抗 ９…表示装置 １０、１０
Ａ…切り換え回路 ２０…インバータ回路 ２１…イン
バータ制御回路 ７１…ＲＯＭ ７２…ＲＡ
Ｍ ７３…スイッチ駆動制御回路 ７４…計時
回路 ７５、７７…演算・判別回路 ７６…充電
制御回路 １０１〜１１６…切り換え接点 Ｃ…電解コ
ンデンサ Ｑ1 〜Ｑ6 …トランジスタ
源 ３…電流検出器 ４…電圧検
出器 ５…ドライバ ６…トラン
ジスタ ７…制御回路 ８…電流制
限抵抗 ９…表示装置 １０、１０
Ａ…切り換え回路 ２０…インバータ回路 ２１…イン
バータ制御回路 ７１…ＲＯＭ ７２…ＲＡ
Ｍ ７３…スイッチ駆動制御回路 ７４…計時
回路 ７５、７７…演算・判別回路 ７６…充電
制御回路 １０１〜１１６…切り換え接点 Ｃ…電解コ
ンデンサ Ｑ1 〜Ｑ6 …トランジスタ
【手続補正書】
【提出日】平成６年９月２６日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項５
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１８】ここで、抵抗１１の抵抗値は直流電源２の
内部抵抗値および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値よ
りも大きい抵抗値に設定してある。電流検出器３は例え
ば、通電路を挿通させて通電路に流れる電流を検出する
変流器（カレントトランス）と変流器の出力を所定レベ
ルに変換する変換器とから構成してあり、電圧検出器４
は電解コンデンサＣの端子電圧を検出し所定レベルに変
換して出力するように構成してある。
内部抵抗値および電解コンデンサＣの等価直列抵抗値よ
りも大きい抵抗値に設定してある。電流検出器３は例え
ば、通電路を挿通させて通電路に流れる電流を検出する
変流器（カレントトランス）と変流器の出力を所定レベ
ルに変換する変換器とから構成してあり、電圧検出器４
は電解コンデンサＣの端子電圧を検出し所定レベルに変
換して出力するように構成してある。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５０】この場合に、電流検出器３の検出端は変流
器によって構成されているから電流の検出のために挿入
することは容易である。
器によって構成されているから電流の検出のために挿入
することは容易である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６２】また、放電電流の計測は変流器を検出端と
する電流検出器によって行われるため、測定点の位置の
移動が容易であり、インバータ回路の接続を一々はずす
必要もないという効果が得られる。
する電流検出器によって行われるため、測定点の位置の
移動が容易であり、インバータ回路の接続を一々はずす
必要もないという効果が得られる。
Claims (5)
- 【請求項１】インバータ回路に接続されている電解コン
デンサの検査方法であって、インバータ回路を構成する
スイッチング素子をオフ状態に制御し直流電源からの電
流により抵抗を介して電解コンデンサを充電する第１の
過程と、充電中における電解コンデンサの端子電圧を計
測し充電開始時から充電中における電解コンデンサの端
子電圧が予め定めた電圧に達するまでの期間を計測する
第２の過程と、第２の過程で計測した期間と前記抵抗の
抵抗値とに基づいて電解コンデンサの静電容量値を演算
する第３の過程と、充電された電解コンデンサを放電さ
せる第４の過程と、放電中における電解コンデンサの端
子電圧を計測するとともに電解コンデンサからの放電電
流を計測する第５の過程と、放電開始時における電解コ
ンデンサの端子電圧と第３の過程で演算した静電容量値
と第５の過程において計測した放電電流および電解コン
デンサの端子電圧とに基づいて電解コンデンサの等価直
列抵抗値を演算する第６の過程とを備えたことを特徴と
する電解コンデンサの検査方法。 - 【請求項２】請求項１記載の電解コンデンサの検査方法
において、第４の過程における電解コンデンサの放電は
インバータ回路を構成するスイッチング素子を介して行
うことを特徴とする電解コンデンサの検査方法。 - 【請求項３】請求項１または２記載の電解コンデンサの
検査方法において、第４の過程における電解コンデンサ
は電解コンデンサの端子電圧が変化しなくなるまで充電
された電解コンデンサであることを特徴とする電解コン
デンサの検査方法。 - 【請求項４】請求項１または２記載の電解コンデンサの
検査方法において、第４の過程における電解コンデンサ
の放電は電流制限抵抗を介して行うことを特徴とする電
解コンデンサの検査方法。 - 【請求項５】請求項１記載の電解コンデンサの検査方法
において、第５の過程における放電電流の計測は変成器
を検出端とする電流検出器によって行うことを特徴とす
る電解コンデンサの検査方法。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6227965A JP2962654B2 (ja) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | 電解コンデンサの検査方法 |
| EP03076066A EP1326085A3 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| EP94308219A EP0652445B1 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric components for inverter circuit |
| DE69428326T DE69428326T2 (de) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Gerät zur Prüfung der elektrischen Bauteile eines Wechselrichters |
| DE69433701T DE69433701T2 (de) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Gerät zur Prüfung der elektrischen Bauteile eines Wechselrichters |
| EP00202365A EP1046923B1 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| US08/337,479 US5497095A (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| US08/610,754 US5694051A (en) | 1993-11-08 | 1996-03-04 | Inspecting transistors in an inverter circuit |
| US08/768,205 US5798648A (en) | 1993-11-08 | 1996-12-17 | Apparatus and method for inspecting an electrolytic capacitor in an inverter circuit containing transistor switching elements |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6227965A JP2962654B2 (ja) | 1994-09-22 | 1994-09-22 | 電解コンデンサの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894684A true JPH0894684A (ja) | 1996-04-12 |
| JP2962654B2 JP2962654B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=16869039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6227965A Expired - Fee Related JP2962654B2 (ja) | 1993-11-08 | 1994-09-22 | 電解コンデンサの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2962654B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6469516B2 (en) | 1998-12-04 | 2002-10-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for inspecting capacitors |
| WO2005002927A1 (ja) * | 2003-07-08 | 2005-01-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 車両用電源装置 |
| JP2011130653A (ja) * | 2009-03-05 | 2011-06-30 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ハイブリッド型作業機械 |
| US9097747B2 (en) | 2010-12-24 | 2015-08-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same |
| JP2016220495A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 日本電信電話株式会社 | Ａｃアダプタ劣化度判定装置およびそのシステム。 |
| CN112098880A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-12-18 | 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院) | 线性电源故障检测方法 |
-
1994
- 1994-09-22 JP JP6227965A patent/JP2962654B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6469516B2 (en) | 1998-12-04 | 2002-10-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for inspecting capacitors |
| WO2005002927A1 (ja) * | 2003-07-08 | 2005-01-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 車両用電源装置 |
| JP2005028908A (ja) * | 2003-07-08 | 2005-02-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 車両用電源装置 |
| CN100336681C (zh) * | 2003-07-08 | 2007-09-12 | 松下电器产业株式会社 | 车辆用电源装置 |
| US7380891B2 (en) | 2003-07-08 | 2008-06-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Power supply apparatus for vehicle |
| JP2011130653A (ja) * | 2009-03-05 | 2011-06-30 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ハイブリッド型作業機械 |
| US9097747B2 (en) | 2010-12-24 | 2015-08-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same |
| US9882410B2 (en) | 2010-12-24 | 2018-01-30 | Toshiba Memory Corporation | Electronic device, and capacitor capacitance detection method applied to the same |
| JP2016220495A (ja) * | 2015-05-26 | 2016-12-22 | 日本電信電話株式会社 | Ａｃアダプタ劣化度判定装置およびそのシステム。 |
| CN112098880A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-12-18 | 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院) | 线性电源故障检测方法 |
| CN112098880B (zh) * | 2020-03-26 | 2022-09-30 | 哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院) | 线性电源故障检测方法 |
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|---|---|
| JP2962654B2 (ja) | 1999-10-12 |
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