JPH089115A - 画像読取装置 - Google Patents

画像読取装置

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JPH089115A
JPH089115A JP6132877A JP13287794A JPH089115A JP H089115 A JPH089115 A JP H089115A JP 6132877 A JP6132877 A JP 6132877A JP 13287794 A JP13287794 A JP 13287794A JP H089115 A JPH089115 A JP H089115A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
reading
resolution
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photodiode
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JP6132877A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Shiichi
一宏 私市
Nobuhiro Inoue
信浩 井上
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】高速な読み取りを行うことが可能で、しかも複
数種類の解像度での読み取りを画像処理を行うことなし
に実現することを可能とする。 【構成】フォトダイオードの配置密度が低い2つのライ
ンセンサを、それぞれのフォトダイオードのピッチの1
/2に相当する長さだけフォトダイオードの配列方向に
ずらして平行に配置してCCDパッケージ1を構成す
る。選択回路2は、合成処理制御部3の制御の下に、低
解像度な読み取りを行うときには2つのラインセンサの
うちの一方の出力信号を選択出力する。また選択回路2
は、高解像度な読み取りを行うときには2つのラインセ
ンサの出力信号を交互に選択出力することにより2つの
ラインセンサの出力信号を合成した画像信号を生成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばファクシミリ装
置などに適用され、画像をラインセンサなどを用いて1
ライン毎に順次読み取る画像読取装置に関する。
【0002】
【従来の技術】縮小光学系等を廃し、画像を1:1の大
きさで読み取るようにした画像読取装置では、ラインセ
ンサにおける光電変換素子の配置密度が得られる解像度
に一致する。すなわち例えば、光電変換素子が8個/mm
で配置されていれば、得られる解像度は8ppm (pel pe
r mm)となる。このため、高い解像度での読み取りを行
おうとすれば、光電変換素子をより高密度に配置してな
るラインセンサを用いる必要がある。
【0003】ところが、光電変換素子の配置密度を高め
ようとすると、1つ1つの光電変換素子を小型化しなけ
ればならず、受光部分(アパーチャ)の面積が小さくな
る。光電変換素子におけるある単位時間当たりの電荷蓄
積量は、入射光量を一定とするならばアパーチャの面積
にほぼ比例する。すなわち、アパーチャの面積が1/2
となれば、単位時間当たりの電荷蓄積量はおよそ1/2
となる。逆に言えば、所定の電荷量を蓄積するまでに要
する時間は、アパーチャの面積にほぼ反比例する。
【0004】このため、光電変換素子の配置密度が高い
ほど、十分な電荷を蓄積するまでに必要な時間が長くな
り、読取速度が低下してしまうという不具合があった。
なお、読取画像を照明するための光源の光量を増加すれ
ば読取速度を向上することが可能であるが、光源の寿命
を縮めてしまうなどの不具合が生じるため好ましくな
い。
【0005】また従来の画像読取装置では、得られる解
像度がラインセンサの光電変換素子の配置密度によって
一義的に決まるため、異なる複数種類の解像度で選択的
に読み取りを行うことができない。
【0006】そこで従来は、ラインセンサで得られる画
像信号に対して画像処理を施し、異なる解像度の画像信
号を生成しているが、このような画像処理を行うために
は構成が複雑化し、また余計な処理時間を要するために
読取速度の低下を来すという不具合があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のように従来の画
像読取装置では、高解像度を得るために光電変換素子の
配置密度が高いラインセンサを用いると、アパーチャが
小さいために読取速度の低下を来すという不具合や、ラ
インセンサにおける光電変換素子の配置密度に対応する
解像度とは異なる解像度を得るためには画像処理によっ
て対処しなければならず、構成の複雑化や読取速度の低
下を来すという不具合があった。
【0008】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たものであり、その目的とするところは、高速な読み取
りを行うことが可能で、しかも複数種類の解像度での読
み取りを画像処理を行うことなしに実現することができ
る画像読取装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに本発明は、それぞれ多数の例えばフォトダイオード
などの光電変換素子を、所定の密度(例えば8個/mm)
でほぼ等間隔、かつほぼ直線状に配置してなるn個(例
えば2個)の例えばフォトダイオード群などの光電変換
素子群と、このn個の光電変換素子群のそれぞれに対応
して設けられ、対応する光電変換素子群を構成している
多数の光電変換素子のそれぞれの出力を連ねて素子群信
号を生成する、例えばシフトゲート、アナログシフトレ
ジスタおよび出力バッファからなる素子群信号生成手段
と、この素子群信号生成手段のそれぞれで生成されたn
個の素子群信号のうちの少なくとも1つを選択するとと
もに、この選択した素子群信号を合成して画像信号を生
成する、例えば選択回路および合成処理制御部からなる
画像信号生成手段とを備え、かつ前記n個の光電変換素
子群を、前記光電変換素子の配列方向に沿った方向につ
いては、前記光電変換素子の配置間隔の1/nに相当す
る長さずつ互いにずらして配置した。
【0010】
【作用】このような手段を講じたことにより、それぞれ
多数の光電変換素子を、所定の密度でほぼ等間隔、かつ
ほぼ直線状に配置してなるn個の光電変換素子群と、こ
のn個の光電変換素子群のそれぞれに対応して設けら
れ、対応する光電変換素子群を構成している多数の光電
変換素子のそれぞれの出力を連ねて素子群信号を生成す
る素子群信号生成手段とにより、n個の素子群信号が生
成される。そして画像信号生成手段により、前記n個の
素子群信号のうちの少なくとも1つが選択され、この選
択された素子群信号が合成されて画像信号が生成され
る。
【0011】ここでn個の光電変換素子群は、前記光電
変換素子の配列方向に沿った方向については、前記光電
変換素子の配置間隔の1/nに相当する長さずつ互いに
ずらして配置されているので、前記光電変換素子の配列
方向に沿った方向についてはおのおの違う位置の読み取
りを行うことになり、前記n個の素子群信号のうちの少
なくとも1つを合成することにより、最大で各素子群信
号における光電変換素子の密度のn倍の解像度の画像信
号が生成される。また合成する素子群信号の数を任意に
設定することにより、解像度が任意に変更される。
【0012】また、このように光電変換素子の密度に対
応する解像度のn倍の解像度での読み取りが可能であり
ながら、各光電変換素子群における光電変換素子のピッ
チは最大の解像度における画素のピッチに比較して大き
いため、前記光電変換素子のアパーチャが大きく設定で
きる。
【0013】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例につ
き説明する。図1は本実施例に係る画像読取装置の要部
構成を示す機能ブロック図である。図中、1はCCDパ
ッケージであり、フォトダイオード群11-1,11-2、シフ
トゲート12-1,12-2,13-1,13-2、アナログシフトレジ
スタ14-1,14-2,15-1,15-2および出力バッファ16-1,
16-2を一体的に集積してなる。
【0014】フォトダイオード群11-1,11-2はそれぞ
れ、図2に示すように多数のフォトダイオード21-1,21
-2が1mm当たり8個の密度で、直線状に等間隔で配置
して構成されている。そしてフォトダイオード群11-1と
フォトダイオード群11-2とは、互いに平行に配置されて
いる。またフォトダイオード21-1,21-2の配列方向に沿
った方向については、フォトダイオード21-1とフォトダ
イオード21-2とはフォトダイオード21-1どうしまたは、
フォトダイオード21-2どうしのピッチ(1/8mm)の
1/2に相当する長さ(1/16mm)だけずらした状
態で配置されている。
【0015】さて、フォトダイオード群11-1、シフトゲ
ート12-1,13-1、アナログシフトレジスタ14-1,15-1お
よび出力バッファ16-1が一組となり、バイリニア構成の
CCDラインセンサを形成している。またフォトダイオ
ード群11-2、シフトゲート12-2,13-2、アナログシフト
レジスタ14-2,15-2および出力バッファ16-2が一組とな
り、やはりバイリニア構成のCCDラインセンサを形成
している。そして、この2組のCCDラインセンサをお
のおの動作させるべく、シフトゲート12-1,12-2,13-
1,13-2のそれぞれにシフトパルスSHが、アナログシ
フトレジスタ14-1に転送パルスφ1Aが、アナログシフト
レジスタ14-2に転送パルスφ1Bが、アナログシフトレジ
スタ15-1に転送パルスφ2Aが、アナログシフトレジスタ
15-2に転送パルスφ2Bが、そして出力バッファ16-1,16
-2のそれぞれにリセットパルスRSがそれぞれ与えられ
ている。
【0016】出力バッファ16-1の出力信号O1および出
力バッファ16-2の出力信号O2は、ともに選択回路2に
入力される。選択回路2は、合成処理制御部3から出力
される選択制御信号SELに基づき、出力信号O1およ
び出力信号O2のいずれか一方を選択し、A/D変換回
路4へと出力する。
【0017】合成処理制御部3は、外部から与えられる
解像度情報(8ppm および16ppmのいずれの解像度で
の読み取りを行うかを示す情報)に基づき、選択制御信
号SELを予め設定された2種類のパターンのいずれか
とする。
【0018】A/D変換回路4は、選択回路2から与え
られる信号をディジタル化し、画像データとして出力す
る。次に以上のように構成された画像読取装置の動作を
図3に示すタイムチャートを参照しながら説明する。
【0019】まず各フォトダイオード21-1で光電変換に
より得られた電荷は、シフトパルスSHが「H」レベル
である期間にシフトゲート12-1,13-1が開くことによっ
てアナログシフトレジスタ14-1,15-1へと一斉に転送さ
れる。
【0020】アナログシフトレジスタ14-1,15-1に転送
された電荷は、転送パルスφ1A,φ2Aに同期してアナロ
グシフトレジスタ14-1,15-1中を転送されていき、出力
バッファ16-1へと出力される。ここで転送パルスφ1A
φ2Aは、図3に示すように同一の信号であり、アナログ
シフトレジスタ14-1,15-1のそれぞれでは、この転送パ
ルスφ1A,φ2Aの立下り2回に1素子分の割合いで電荷
が転送されて行く。また、フォトダイオード群11-1、シ
フトゲート12-1,13-1、アナログシフトレジスタ14-1,
15-1および出力バッファ16-1が一組となってバイリニア
構成のCCDラインセンサを形成しているので、出力バ
ッファ16-1への出力が変化するタイミングは、アナログ
シフトレジスタ14-1,15-1のそれぞれで異なっている。
従って出力バッファ16-1には、アナログシフトレジスタ
14-1を転送される電荷、すなわちフォトダイオード群11
-1における奇数番目のフォトダイオードが出力した電荷
と、アナログシフトレジスタ14-2を転送される電荷、す
なわちフォトダイオード群11-1における偶数番目のフォ
トダイオードが出力した電荷とが交互に与えられること
になる。結果として出力バッファ16-1には、転送パルス
φ1A,φ2Aの立下りに同期して、フォトダイオード群11
-1の各フォトダイオード21-1のそれぞれの出力電荷が順
番に与えられることになる。
【0021】出力バッファ16-1は、その出力をアナログ
シフトレジスタ14-1,15-1から与えられる電荷に応じた
レベルとするが、図3に示すようなリセットパルスRS
の立上がりに同期して出力をリセットする。これにより
出力バッファ16-1からは、図3に示すような出力信号O
1が出力される。なお図3において、ハッチングして示
す部分が各フォトダイオード21-1のそれぞれの出力電荷
に対応するレベルとなっている部分を示す。
【0022】一方、フォトダイオード群11-2、シフトゲ
ート12-2,13-2、アナログシフトレジスタ14-2,15-2お
よび出力バッファ16-2でも、以上説明したのと同様な動
作が行われる。ただし、アナログシフトレジスタ14-2,
15-2に与えられる転送パルスφ1B,φ2Bは、図3に示す
ように転送パルスφ1A,φ2Aとは位相が逆となっている
ので、出力バッファ16-2からは図3に示すように、各フ
ォトダイオード21-2のそれぞれの出力電荷に対応するレ
ベルとなっている部分が出力信号O1に対して時間的に
ずれている出力信号O2が出力される。
【0023】さて合成処理制御部3では、解像度8ppm
での読み取りが指定されているときには解像度8ppm を
示す解像度情報が与えられており、このときには選択制
御信号SELを出力バッファ16-1の出力の選択を示す
「L」レベルに固定する。そうすると選択回路2は、出
力バッファ16-1の出力信号O1のみを選択出力し、出力
バッファ16-2の出力O2は遮断する。
【0024】一方、合成処理制御部3では、解像度16
ppm での読み取りが指定されているときには解像度16
ppm を示す解像度情報が与えられており、このときには
合成処理制御部3は選択制御信号SELを図3に示すよ
うに、出力バッファ16-1の出力の選択を示す「L」レベ
ルと出力バッファ16-2の出力の選択を示す「H」レベル
とに転送パルスφ1A,φ2A,φ1B,φ2Bと同一の周期で
交互に変化させる。そうすると選択回路2は、出力バッ
ファ16-1の出力信号O1と出力バッファ16-2の出力信号
O2とを交互に選択出力する。
【0025】そして選択回路2の出力は、A/D変換回
路4において、例えば各フォトダイオード21-1,21-2の
出力をそれぞれ8ビットで示す画像データに変換され、
出力される。
【0026】かくして画像データは、図3に示すように
解像度8ppm が指定されている期間TAにおいては、フ
ォトダイオード群11-1によって得られた情報のみを含ん
だものとなる。フォトダイオード群11-1は8個/mmの密
度でフォトダイオード21-1が配置されているので、この
ときの画像データは8ppm の解像度を有している。
【0027】また解像度16ppm が指定されている期間
TBにおいては、フォトダイオード群11-1によって得ら
れた情報とフォトダイオード群11-2によって得られた情
報とが交互に合成されたものとなる。フォトダイオード
群11-1,11-2はともに8個/mmの密度でフォトダイオー
ド21-1,21-2が配置されており、かつフォトダイオード
群11-1とフォトダイオード群11-2とはフォトダイオード
21-1どうしまたは、フォトダイオード21-2どうしのピッ
チ(1/8mm)の1/2に相当する長さ(1/16m
m)だけずらした状態で配置されているので、このとき
の画像データは16ppm の解像度を有している。
【0028】このようにして、指定された解像度を有す
る画像データを、画像処理を行うことなしに簡単に生成
することができる。画像処理を行う必要がないので、読
取速度の低下は生じず、高速な読み取りが可能である。
【0029】また、以上のように16ppm の解像度を有
した画像データを生成可能でありながら、フォトダイオ
ード21-1,21-2の実際の配置密度は8個/mmである。こ
のため、16個/mmの密度でフォトダイオードを配置す
る場合に比べてフォトダイオードどうしのピッチが大き
くなり、フォトダイオードのアパーチャを大きく取るこ
とができる。ただし、フォトダイオード群11-1とフォト
ダイオード群11-2とは同一のラインを読み取るため、フ
ォトダイオード群11-1とフォトダイオード群11-2との間
隔が大きくなるほど実際の読取位置のずれが大きくな
り、得られる画像データが読取画像に忠実ではなくなっ
てしまう。このため、フォトダイオード21-1,21-2の配
列方向に直交する方向についてのアパーチャの長さはで
きるだけ小さくすることが望ましい。しかし、フォトダ
イオード21-1,21-2のアパーチャのフォトダイオード21
-1,21-2の配列方向に直交する方向の長さを16ppm 相
当にしたとしても、フォトダイオード21-1,21-2の配列
方向に沿った長さを可能な限り大きくすれば、フォトダ
イオード21-1,21-2のアパーチャは16個/mmで配置す
る場合の約2倍にすることができる。このように、フォ
トダイオード21-1,21-2のアパーチャを16個/mmの密
度で配置する場合の2倍に設定したとすれば、フォトダ
イオード21-1,21-2の蓄積電荷量と読取時間との関係は
図4に示すようになる。これにより、図5(a)に示す
ように、フォトダイオード21-1,21-2の蓄積電荷量Qが
所定量(例えば飽和電荷量)Qsに到達するのに要する
時間を基準に読取周期を設定すれば、読取周期(シフト
パルスSHの周期)を図5(b)に示す16個/mmの密
度でフォトダイオードを配置する場合に比べて1/2と
することができ、2倍の速度での読み取りが可能とな
る。
【0030】逆に、1ラインの読取時間を一定とすれ
ば、本実施例の画像読取装置を用いる場合には光源の光
量を1/2に低減することができる。なお、本発明は上
記実施例に限定されるものではない。例えば上記実施例
では、フォトダイオード21-1,21-2の配列方向に直交す
る方向についてのアパーチャの長さは16ppm 相当と
し、フォトダイオード21-1,21-2のアパーチャを長方形
としているが、図6に示すようにフォトダイオード22-
1,22-2の配列方向に直交する方向についてのアパーチ
ャの長さをフォトダイオード22-1,22-2の配列方向に沿
う方向の長さとほぼ一致させ、フォトダイオード22-1,
22-2のアパーチャを正方形に近い形としても良い。この
ようにすると、アパーチャをより大きくすることがで
き、読取速度のさらなる高速化を図ることが可能とな
る。
【0031】また上記実施例では、8個/mmの密度のフ
ォトダイオード群を2つ設けることにより、8ppm およ
び16ppm の解像度を得られるものとして説明している
が、フォトダイオード群のフォトダイオードの密度は任
意であって良く、またフォトダイオード群も3つ以上設
けるようにしても良い。このほか、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々の変形実施が可能である。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、それぞれ多数の例えば
フォトダイオードなどの光電変換素子を、所定の密度
(例えば8個/mm)でほぼ等間隔、かつほぼ直線状に配
置してなるn個(例えば2個)の例えばフォトダイオー
ド群などの光電変換素子群と、このn個の光電変換素子
群のそれぞれに対応して設けられ、対応する光電変換素
子群を構成している多数の光電変換素子のそれぞれの出
力を連ねて素子群信号を生成する、例えばシフトゲー
ト、アナログシフトレジスタおよび出力バッファからな
る素子群信号生成手段と、この素子群信号生成手段のそ
れぞれで生成されたn個の素子群信号のうちの少なくと
も1つを選択するとともに、この選択した素子群信号を
合成して画像信号を生成する、例えば選択回路および合
成処理制御部からなる画像信号生成手段とを備え、かつ
前記n個の光電変換素子群を、前記光電変換素子の配列
方向に沿った方向については、前記光電変換素子の配置
間隔の1/nに相当する長さずつ互いにずらして配置し
たので、高速な読み取りを行うことが可能で、しかも複
数種類の解像度での読み取りを画像処理を行うことなし
に実現することができる画像読取装置となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る画像読取装置の要部構
成を示す機能ブロック図。
【図2】図1中のフォトダイオード群11-1,11-2におけ
るフォトダイオード21-1,21-2の配置状態を模式的に示
す図。
【図3】図1に示す画像読取装置の動作を示すタイムチ
ャート。
【図4】フォトダイオード21-1,21-2の蓄積電荷量と読
取時間との関係を示す図。
【図5】フォトダイオード21-1,21-2の蓄積電荷量Qが
所定量Qsに到達するのに要する時間を基準に読取周期
を設定した場合の読取周期の違いを比較する図。
【図6】図1中のフォトダイオード群11-1,11-2におけ
るフォトダイオードの配置状態を変形例を模式的に示す
図。
【符号の説明】
1…CCDパッケージ 2…選択回路 3…合成処理制御部 4…A/D変換回路 11-1,11-2…フォトダイオード群 12-1,12-2,13-1,13-2…シフトゲート 14-1,14-2,15-1,15-2…アナログシフトレジスタ 16-1,16-2…出力バッファ 21-1,21-2…フォトダイオード

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれ多数の光電変換素子を、所定の
    密度でほぼ等間隔、かつほぼ直線状に配置してなるn個
    の光電変換素子群と、 このn個の光電変換素子群のそれぞれに対応して設けら
    れ、対応する光電変換素子群を構成している多数の光電
    変換素子のそれぞれの出力を連ねて素子群信号を生成す
    る素子群信号生成手段と、 この素子群信号生成手段のそれぞれで生成されたn個の
    素子群信号のうちの少なくとも1つを選択するととも
    に、この選択した素子群信号を合成して画像信号を生成
    する画像信号生成手段とを有し、 前記n個の光電変換素子群は、前記光電変換素子の配列
    方向に沿った方向については、前記光電変換素子の配置
    間隔の1/nに相当する長さずつ互いにずらして配置し
    てなることを特徴とする画像読取装置。
JP6132877A 1994-06-15 1994-06-15 画像読取装置 Pending JPH089115A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001054021A (ja) * 1999-08-12 2001-02-23 Seiko Epson Corp 固体撮像装置及びその駆動方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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