JPH0882594A - 測光装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ２５０ナノメータ以上の紫外光領域で動作可
能であり、高精度測定可能な構造動作簡潔の経済的かつ
維持容易な複数試料の光学特性を計測するための測光装
置を提供する。 【構成】 本装置は、第１の波長領域を有する第１の光
を発する励起光源５０と、光源５０から受け取った第１
の光に応じて第１の波長領域内の所定の第２波長領域を
有する第２の光を生ずるモノクロメータ５４と、モノク
ロメータ５４に連結してこれから第１の方向に延出し、
第２の光を受け取って第１方向に検査光を伝送する光フ
ァイバー５８と、第２の方向に延出する一連の分配光フ
ァイバー７６を含む分配ネットワーク２４と、光ファイ
バー５８からの検査光を受け取って検査光を第２方向に
伝送して分配光ファイバー７６に連続的に供給するロー
ター手段７０と、計測用光フラッシュを受け取り、試料
の各々に対応する光学特性を表現する電気信号を出力す
る光検出器手段８８とを備える。
能であり、高精度測定可能な構造動作簡潔の経済的かつ
維持容易な複数試料の光学特性を計測するための測光装
置を提供する。 【構成】 本装置は、第１の波長領域を有する第１の光
を発する励起光源５０と、光源５０から受け取った第１
の光に応じて第１の波長領域内の所定の第２波長領域を
有する第２の光を生ずるモノクロメータ５４と、モノク
ロメータ５４に連結してこれから第１の方向に延出し、
第２の光を受け取って第１方向に検査光を伝送する光フ
ァイバー５８と、第２の方向に延出する一連の分配光フ
ァイバー７６を含む分配ネットワーク２４と、光ファイ
バー５８からの検査光を受け取って検査光を第２方向に
伝送して分配光ファイバー７６に連続的に供給するロー
ター手段７０と、計測用光フラッシュを受け取り、試料
の各々に対応する光学特性を表現する電気信号を出力す
る光検出器手段８８とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は血液分析等に用いられる
測光装置に一般に関するものであり、特に、紫外光およ
び８行１２列の配列形態を有する９６個の受容器（ベッ
セル）を備える一般にマイクロプレートと称されるマル
チアッセイプレートを用いる測光装置に関する。なお、
本出願に測光装置およびその技術に関する米国特許証第
４５９１５５０号、４９６８１４８号および５１１２１
３４号を参考文献として記載する。
測光装置に一般に関するものであり、特に、紫外光およ
び８行１２列の配列形態を有する９６個の受容器（ベッ
セル）を備える一般にマイクロプレートと称されるマル
チアッセイプレートを用いる測光装置に関する。なお、
本出願に測光装置およびその技術に関する米国特許証第
４５９１５５０号、４９６８１４８号および５１１２１
３４号を参考文献として記載する。
【０００２】
【従来の技術】試料の光透過率を決定することにより流
体や他の半透明な試料中に存する物質の検出や計測のた
めの多くの技術や装置が一般に知られている。これらは
一または少数の試料の光学特性をほぼ同時に計測する装
置および多数の試料をほぼ同時に計測する装置とに大ま
かに分類できる。
体や他の半透明な試料中に存する物質の検出や計測のた
めの多くの技術や装置が一般に知られている。これらは
一または少数の試料の光学特性をほぼ同時に計測する装
置および多数の試料をほぼ同時に計測する装置とに大ま
かに分類できる。
【０００３】複数の液体や他の半透明試料についての個
々のアッセイを同時に実行する測光装置は、８列１２行
（８×１２）、４列６行（４×６）、２列３行（２×
３）、５列８行（５×８）等の受容器アレイを含むマル
チアッセイプレートを使用する。一般に、このようなマ
ルチアッセイプレートの受容器はそれぞれ９ミリメート
ル前後に離間しており、約４００ミリリットルの容積
で、約１センチメートルの高さを有している。また、当
該マルチアッセイプレートはポリスチレンまたはポリエ
チレン等の材料から成り、同材料は関与の波長において
光学的に透明である。
々のアッセイを同時に実行する測光装置は、８列１２行
（８×１２）、４列６行（４×６）、２列３行（２×
３）、５列８行（５×８）等の受容器アレイを含むマル
チアッセイプレートを使用する。一般に、このようなマ
ルチアッセイプレートの受容器はそれぞれ９ミリメート
ル前後に離間しており、約４００ミリリットルの容積
で、約１センチメートルの高さを有している。また、当
該マルチアッセイプレートはポリスチレンまたはポリエ
チレン等の材料から成り、同材料は関与の波長において
光学的に透明である。
【０００４】この場合、試料の光学密度は光の減衰率を
測定することにより測定される。すなわち、マルチアッ
セイプレートの受容器中に収容される半透明試料を透過
する光が従来の光検出器により一定のリファレンスと比
較される。
測定することにより測定される。すなわち、マルチアッ
セイプレートの受容器中に収容される半透明試料を透過
する光が従来の光検出器により一定のリファレンスと比
較される。
【０００５】このようなマルチアッセイプレートは学術
研究やバイオテクノロジー並びに臨床検査における広範
囲な物質および生物細胞の検出や定量において使用され
る酵素結合性免疫吸収アッセイ（ＥＬＩＳＡ）の技法に
おいて広く用いられている。当該アッセイにおいては、
標識酵素（アルカリフォスファターゼ等）の分子がマル
チアッセイプレートにおける各受容器の底面および各側
面上の一部に配置され、各受容器が関与の分析物質を含
む試料と予め、直接的または間接的に、相互作用するべ
く選定されている。なお、当該プレートの各受容器にお
ける標識酵素分子の数は関与の試料中の分析物質濃度の
関数である。それゆえ、当該結合酵素の活性を測定する
ことにより、分析物質の検出や定量が可能になる。
研究やバイオテクノロジー並びに臨床検査における広範
囲な物質および生物細胞の検出や定量において使用され
る酵素結合性免疫吸収アッセイ（ＥＬＩＳＡ）の技法に
おいて広く用いられている。当該アッセイにおいては、
標識酵素（アルカリフォスファターゼ等）の分子がマル
チアッセイプレートにおける各受容器の底面および各側
面上の一部に配置され、各受容器が関与の分析物質を含
む試料と予め、直接的または間接的に、相互作用するべ
く選定されている。なお、当該プレートの各受容器にお
ける標識酵素分子の数は関与の試料中の分析物質濃度の
関数である。それゆえ、当該結合酵素の活性を測定する
ことにより、分析物質の検出や定量が可能になる。
【０００６】このような流体相中の酵素活性を測定する
ために、現在の研究用および臨床用の双方における技法
においては、酵素によって触媒された過剰の酵素基質の
存在下におけるクロモゲン反応の初期速度測定を含む速
度論的解析や、酵素を一定時間のクロモゲン基質と反応
させて同酵素のクエンチ後に単一の光学密度を測定する
交互「終点」解析法における幾つかの周知の利点を有す
る処理が用いられている。すなわち、当該速度論的解析
においては、区間（一般に線形）反応時間中に多数回の
読み取りが行われ、同読み取り処理の間隔はできるだけ
短く（一般に３０秒より短い）する必要がある。このよ
うな速度論的解析を行うことにより、（ａ）初期光学密
度（吸光度）における差異および／または（ｂ）基質濃
度からの独立成分の損失により生じる誤差をほぼ回避す
ることができる。このような例としては、例えば、本明
細書の参考文献であるＬｅｈｎｉｎｇｅｒの「生物化
学、細胞構造および機能における分子基剤」（Ｗｏｒｔ
ｈ Ｐｕｂｌｉｉｓｈｅｒｓ Ｉｎｃ．，Ｎｅｗ Ｙｏ
ｒｋ，１９７０）において記載されるＮＡＤＨおよびＮ
ＡＤＰＨの使用が挙げられる。なお、このようなアッセ
イにおいては、特に、約３４０ナノメータにおけるＮＡ
ＤＨまたはＮＡＤＰＨによる紫外光吸収の測定が可能な
測光装置が有用である。
ために、現在の研究用および臨床用の双方における技法
においては、酵素によって触媒された過剰の酵素基質の
存在下におけるクロモゲン反応の初期速度測定を含む速
度論的解析や、酵素を一定時間のクロモゲン基質と反応
させて同酵素のクエンチ後に単一の光学密度を測定する
交互「終点」解析法における幾つかの周知の利点を有す
る処理が用いられている。すなわち、当該速度論的解析
においては、区間（一般に線形）反応時間中に多数回の
読み取りが行われ、同読み取り処理の間隔はできるだけ
短く（一般に３０秒より短い）する必要がある。このよ
うな速度論的解析を行うことにより、（ａ）初期光学密
度（吸光度）における差異および／または（ｂ）基質濃
度からの独立成分の損失により生じる誤差をほぼ回避す
ることができる。このような例としては、例えば、本明
細書の参考文献であるＬｅｈｎｉｎｇｅｒの「生物化
学、細胞構造および機能における分子基剤」（Ｗｏｒｔ
ｈ Ｐｕｂｌｉｉｓｈｅｒｓ Ｉｎｃ．，Ｎｅｗ Ｙｏ
ｒｋ，１９７０）において記載されるＮＡＤＨおよびＮ
ＡＤＰＨの使用が挙げられる。なお、このようなアッセ
イにおいては、特に、約３４０ナノメータにおけるＮＡ
ＤＨまたはＮＡＤＰＨによる紫外光吸収の測定が可能な
測光装置が有用である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】現在において入手可能
なマルチアッセイプレート用の自動化された光学密度測
定装置は放射熱、すなわち、金属表面の加熱や同熱を当
該マルチアッセイプレート上に放射することによって同
プレートの温度を調節する。あるいは、当該マルチアッ
セイプレートは空気対流、すなわち、空気の加熱や同加
熱空気をプレート上に流通させることにより加熱され
る。しかしながら、このような既存の空気対流による加
熱方式は計測に要する時間に加えて、プレートを温めて
平衡状態にする時間がかなりかかる。さらに、当該既存
方式では、外側の受容器がより大きな露出表面を有して
いるために内側の受容器よりも速く温められて異なる平
衡温度になる。一方、試料によっては、反応速度や光吸
収率の変化速度が試料温度により決定される場合があ
る。したがって、このような試料についての速度論的検
査においては、上述した受容器間の温度差異によって誤
差が生じやすい。さらに、既存の方式では、光学部品上
に水分が結露して集光能力の低下や光信号の散乱による
減衰が起こり得る。また、水分中に含まれる溶媒が光学
的、器械的および電気的な各要素の表面を腐食して、さ
らに光信号を減衰させたり、当該装置の故障を引き起す
恐れがある。
なマルチアッセイプレート用の自動化された光学密度測
定装置は放射熱、すなわち、金属表面の加熱や同熱を当
該マルチアッセイプレート上に放射することによって同
プレートの温度を調節する。あるいは、当該マルチアッ
セイプレートは空気対流、すなわち、空気の加熱や同加
熱空気をプレート上に流通させることにより加熱され
る。しかしながら、このような既存の空気対流による加
熱方式は計測に要する時間に加えて、プレートを温めて
平衡状態にする時間がかなりかかる。さらに、当該既存
方式では、外側の受容器がより大きな露出表面を有して
いるために内側の受容器よりも速く温められて異なる平
衡温度になる。一方、試料によっては、反応速度や光吸
収率の変化速度が試料温度により決定される場合があ
る。したがって、このような試料についての速度論的検
査においては、上述した受容器間の温度差異によって誤
差が生じやすい。さらに、既存の方式では、光学部品上
に水分が結露して集光能力の低下や光信号の散乱による
減衰が起こり得る。また、水分中に含まれる溶媒が光学
的、器械的および電気的な各要素の表面を腐食して、さ
らに光信号を減衰させたり、当該装置の故障を引き起す
恐れがある。
【０００８】加えて、これまでのマルチアッセイプレー
ト計測可能な測光装置では、計測および分析に使用され
る光スペクトルの範囲およびその選定に制限があった。
しかしながら、このような制限下においては、光源を複
数の試料に分配する必要があるために、多極分配素子や
当該試料への垂直照射のための技法が一般に必要とされ
ていた。蛋白質や核酸（ＤＮＡ）並びに多数のクロモゲ
ン基質は３４０ナノメータ以下の波長の光を吸収する。
しかしながら、約３４０ナノメータ以下の波長で動作可
能な現存の測光装置では、一または少数の試料について
のアッセイに制限され、延々としたサンプリング時間の
ために大スケールの速度論解析アッセイ方式には非実用
的となる。また、現存の測光装置は単一または少数の励
起波長における分析に制限され、全スペクトルにおよぶ
分析には非実用的である。
ト計測可能な測光装置では、計測および分析に使用され
る光スペクトルの範囲およびその選定に制限があった。
しかしながら、このような制限下においては、光源を複
数の試料に分配する必要があるために、多極分配素子や
当該試料への垂直照射のための技法が一般に必要とされ
ていた。蛋白質や核酸（ＤＮＡ）並びに多数のクロモゲ
ン基質は３４０ナノメータ以下の波長の光を吸収する。
しかしながら、約３４０ナノメータ以下の波長で動作可
能な現存の測光装置では、一または少数の試料について
のアッセイに制限され、延々としたサンプリング時間の
ために大スケールの速度論解析アッセイ方式には非実用
的となる。また、現存の測光装置は単一または少数の励
起波長における分析に制限され、全スペクトルにおよぶ
分析には非実用的である。
【０００９】さらに、従来の測光装置における他の制限
としては、クロモゲン反応の速度論的アッセイに使用さ
れる場合に、速度論解析中における不定な相分離および
／または試料水性相の不制御下のバルクの移動による有
色生成物の再分布に起因する誤差が生じる。さらに具体
的に言えば、ＥＬＩＳＡの手順の場合、酵素がマルチア
ッセイプレート受容器のプラスチック表面（底面および
側面の一部）に結合しており、当該結合酵素は、同酵素
の高い局部的な濃度により酵素反応で生じた有色生成物
の局所的相分離から生じる未撹拌状態の水性相の相と相
互作用する。而して、このような分離は不定量な誤差を
生じ、当該反応速度計測に非線形的な結果をもたらす。
また、この有色生成物が真の溶液中に残存する場合で
も、水性相の不定なバルクの移動が当該凝縮した生成物
の不均一な再分布を引き起こすために、不定量な誤差が
生じることになる。
としては、クロモゲン反応の速度論的アッセイに使用さ
れる場合に、速度論解析中における不定な相分離および
／または試料水性相の不制御下のバルクの移動による有
色生成物の再分布に起因する誤差が生じる。さらに具体
的に言えば、ＥＬＩＳＡの手順の場合、酵素がマルチア
ッセイプレート受容器のプラスチック表面（底面および
側面の一部）に結合しており、当該結合酵素は、同酵素
の高い局部的な濃度により酵素反応で生じた有色生成物
の局所的相分離から生じる未撹拌状態の水性相の相と相
互作用する。而して、このような分離は不定量な誤差を
生じ、当該反応速度計測に非線形的な結果をもたらす。
また、この有色生成物が真の溶液中に残存する場合で
も、水性相の不定なバルクの移動が当該凝縮した生成物
の不均一な再分布を引き起こすために、不定量な誤差が
生じることになる。
【００１０】さらに、従来のマルチアッセイプレート式
測光装置では、検査光の特定波長を選択する場合に干渉
フィルタを用いることによってその用途が制約される。
すなわち、所定の単一検査波長が固定式の干渉フィルタ
を備えることにより与えられており、これを変更するこ
とは容易でない。すなわち、ユーザは検査波長を変更す
るためにフィルタを取り換える必要がある。たとえフィ
ルタホイールを用いたとしても、数種以上の波長やスペ
クトル計測を行う場合には非実用的である。つまり、連
続的に波長が可変な干渉フィルタを高精度に再現性良く
製造することは困難であり、このようなフィルタを具備
する測光装置の計測基準を設けることも困難である。さ
らに、十分な紫外光透過率を得るために、３４０ナノメ
ータ以下の可変フィルタを製造することも困難である。
測光装置では、検査光の特定波長を選択する場合に干渉
フィルタを用いることによってその用途が制約される。
すなわち、所定の単一検査波長が固定式の干渉フィルタ
を備えることにより与えられており、これを変更するこ
とは容易でない。すなわち、ユーザは検査波長を変更す
るためにフィルタを取り換える必要がある。たとえフィ
ルタホイールを用いたとしても、数種以上の波長やスペ
クトル計測を行う場合には非実用的である。つまり、連
続的に波長が可変な干渉フィルタを高精度に再現性良く
製造することは困難であり、このようなフィルタを具備
する測光装置の計測基準を設けることも困難である。さ
らに、十分な紫外光透過率を得るために、３４０ナノメ
ータ以下の可変フィルタを製造することも困難である。
【００１１】
【課題を解決するための手段】第１の主要態様におい
て、本発明はマルチアッセイプレートにおける試料の光
学特性を計測するための測光装置である。励起光源およ
びモノクロメータが実質的に単色の検査光を供給し、当
該検査光が光ファイバーの分配ネットワークを介して連
続的に分配されて試料を照射しかつ検査する。プレート
キャリヤがマルチアッセイプレートを移動させ、照射お
よび検査用の計測ステーションにおける受容器の各列の
位置決めを順番に行う。光検出器が試料を通過する検査
光を対応する電気出力信号に変換する。
て、本発明はマルチアッセイプレートにおける試料の光
学特性を計測するための測光装置である。励起光源およ
びモノクロメータが実質的に単色の検査光を供給し、当
該検査光が光ファイバーの分配ネットワークを介して連
続的に分配されて試料を照射しかつ検査する。プレート
キャリヤがマルチアッセイプレートを移動させ、照射お
よび検査用の計測ステーションにおける受容器の各列の
位置決めを順番に行う。光検出器が試料を通過する検査
光を対応する電気出力信号に変換する。
【００１２】第２の主要態様において、本発明は測光装
置において使用するための改良された検査光発生システ
ムに関する。当該発生システムは第１の波長領域を有す
る一連の光フラッシュを供給するためのフラッシュラン
プを含む。また、同システムに対応して、モノクロメー
タが第１領域内の第２の波長領域を有する実質的に単色
の検査光を供給する。さらに、当該システムは２００ナ
ノメータ程度から１１００ナノメータ程度の波長領域を
有する紫外検査光を発生できる。
置において使用するための改良された検査光発生システ
ムに関する。当該発生システムは第１の波長領域を有す
る一連の光フラッシュを供給するためのフラッシュラン
プを含む。また、同システムに対応して、モノクロメー
タが第１領域内の第２の波長領域を有する実質的に単色
の検査光を供給する。さらに、当該システムは２００ナ
ノメータ程度から１１００ナノメータ程度の波長領域を
有する紫外検査光を発生できる。
【００１３】第３の主要態様において、本発明は検査光
から基準光を分割するためのビームスプリッタに関す
る。当該分割基準光によって、フラッシュランプにより
発せられる検査光における固有の振幅変動による誤差を
概ね回避することができる。
から基準光を分割するためのビームスプリッタに関す
る。当該分割基準光によって、フラッシュランプにより
発せられる検査光における固有の振幅変動による誤差を
概ね回避することができる。
【００１４】第４の主要態様において、本発明は強度を
実質的に低下することなく２５０ナノメータ程度の紫外
光の方向を変更するメカニズムに関する。当業界におい
て知られるように、「可塑性な」または「折り曲げ可能
な」光ファイバーは紫外光を吸収するので、このような
光を必要とする用途に不適である。一方、グラスファイ
バーは、特に同ファイバー径の１０倍よりも小さい曲率
半径を有する非線形経路に用いることにおいて充分な柔
軟性がない。
実質的に低下することなく２５０ナノメータ程度の紫外
光の方向を変更するメカニズムに関する。当業界におい
て知られるように、「可塑性な」または「折り曲げ可能
な」光ファイバーは紫外光を吸収するので、このような
光を必要とする用途に不適である。一方、グラスファイ
バーは、特に同ファイバー径の１０倍よりも小さい曲率
半径を有する非線形経路に用いることにおいて充分な柔
軟性がない。
【００１５】当該方向変更メカニズムは光ファイバーに
より第１の方向に発せられる光を受け取る。また、同メ
カニズムは一連の動作位置において移動可能な少なくと
も一の鏡を備えるロータ組合体を含んでおり、当該動作
位置の各々が変更される光の伝送方向に対応している。
而して、当該ロータ組合体は、装置構成に基本的に必要
とされる、折曲形状および曲線形状を含む非線形な光経
路に適応できる。加えて、該ロータ組合体は光源からの
「単一経路の」光を「多数経路の」光に変えてマルチア
ッセイプレートにおける多数の受容器への転送に対応す
るための構成成分の数を有効に低減する。
より第１の方向に発せられる光を受け取る。また、同メ
カニズムは一連の動作位置において移動可能な少なくと
も一の鏡を備えるロータ組合体を含んでおり、当該動作
位置の各々が変更される光の伝送方向に対応している。
而して、当該ロータ組合体は、装置構成に基本的に必要
とされる、折曲形状および曲線形状を含む非線形な光経
路に適応できる。加えて、該ロータ組合体は光源からの
「単一経路の」光を「多数経路の」光に変えてマルチア
ッセイプレートにおける多数の受容器への転送に対応す
るための構成成分の数を有効に低減する。
【００１６】さらに、上記第４の態様に関連する第５の
主要態様において、本発明はフラッシュランプを用いる
光検出装置に関するものであり、「多数経路の」光への
変換に先立って「単一経路の」光が一定の基準光に分割
される。なお、当該基準光は励起光源から発せられる光
において固有の振幅変動を検出するために使用される。
主要態様において、本発明はフラッシュランプを用いる
光検出装置に関するものであり、「多数経路の」光への
変換に先立って「単一経路の」光が一定の基準光に分割
される。なお、当該基準光は励起光源から発せられる光
において固有の振幅変動を検出するために使用される。
【００１７】さらに、第６の主要態様において、本発明
はマルチアッセイプレートにおける受容器中の試料の光
学特性を計測するための測光装置に伴って使用される温
度制御メカニズムに関する。この制御メカニズムは光学
計測処理中の試料温度を調節して、マルチアッセイプレ
ートに配置された試料の実質的に均一かつ迅速な加熱を
実行する。当該温度制御メカニズムはマルチアッセイプ
レートを実質的封入状態に囲むハウジングと加熱空気の
供給部材とを備えている。すなわち、加熱空気がバフル
中の穴を介してマルチアッセイプレートの露出面上に流
出する。この穴はマルチアッセイプレートにおける中央
の受容器が周辺の受容器に比してより大量の加熱空気流
を受けて実質的均一な加熱速度と最終温度とを実現する
ように配置構成されている。
はマルチアッセイプレートにおける受容器中の試料の光
学特性を計測するための測光装置に伴って使用される温
度制御メカニズムに関する。この制御メカニズムは光学
計測処理中の試料温度を調節して、マルチアッセイプレ
ートに配置された試料の実質的に均一かつ迅速な加熱を
実行する。当該温度制御メカニズムはマルチアッセイプ
レートを実質的封入状態に囲むハウジングと加熱空気の
供給部材とを備えている。すなわち、加熱空気がバフル
中の穴を介してマルチアッセイプレートの露出面上に流
出する。この穴はマルチアッセイプレートにおける中央
の受容器が周辺の受容器に比してより大量の加熱空気流
を受けて実質的均一な加熱速度と最終温度とを実現する
ように配置構成されている。
【００１８】さらに、第７の主要態様において、本発明
はマイクロプロセッサベースの測光装置に関する。この
プロセッサは当該装置の動作を制御するものであり、試
料を通過した光が表現する電気信号の計測およびマルチ
アッセイプレートを囲む部屋の温度制御を行う。好まし
くは、同プロセッサはキー入力システムと表示部を含ん
でおり、これらによって、検査が開始かつ順序付けら
れ、その検査結果が表示されかつプリントされる。な
お、代表的な検査結果としては、吸光度、光散乱、蛍光
および／または燐光が挙げられる。
はマイクロプロセッサベースの測光装置に関する。この
プロセッサは当該装置の動作を制御するものであり、試
料を通過した光が表現する電気信号の計測およびマルチ
アッセイプレートを囲む部屋の温度制御を行う。好まし
くは、同プロセッサはキー入力システムと表示部を含ん
でおり、これらによって、検査が開始かつ順序付けら
れ、その検査結果が表示されかつプリントされる。な
お、代表的な検査結果としては、吸光度、光散乱、蛍光
および／または燐光が挙げられる。
【００１９】したがって、本発明の目的は経済的かつ維
持容易な測光装置を提供することである。また、本発明
の他の目的は紫外光領域、すなわち、２５０ナノメータ
程度の波長において動作可能な測光装置を提供すること
である。さらに他の目的は構造および動作が簡単なマル
チアッセイプレート用測光装置である。また、さらに他
の目的はマイクロプレート当たり１０秒よりも短い速度
で正確に計測可能な測光装置である。
持容易な測光装置を提供することである。また、本発明
の他の目的は紫外光領域、すなわち、２５０ナノメータ
程度の波長において動作可能な測光装置を提供すること
である。さらに他の目的は構造および動作が簡単なマル
チアッセイプレート用測光装置である。また、さらに他
の目的はマイクロプレート当たり１０秒よりも短い速度
で正確に計測可能な測光装置である。
【００２０】さらに、他の目的は、光を当初光源から単
一の光ファイバーを介して伝送することにより、必要な
構成部材および成分を実質的に減少し、かつ、当該光の
波長調節および振幅のサンプリングを実質的に容易にす
る測光システムを提供することである。本発明のさらに
他の目的は光を単一の光ファイバーからマルチアッセイ
プレート中の受容器の各列に対応する一連の光ファイバ
ーに分配するための改良されたメカニズムである。さら
に他の目的は回転可能な鏡を用いて上記分配光の振幅損
失を実質的に回避するための光分配メカニズムである。
一の光ファイバーを介して伝送することにより、必要な
構成部材および成分を実質的に減少し、かつ、当該光の
波長調節および振幅のサンプリングを実質的に容易にす
る測光システムを提供することである。本発明のさらに
他の目的は光を単一の光ファイバーからマルチアッセイ
プレート中の受容器の各列に対応する一連の光ファイバ
ーに分配するための改良されたメカニズムである。さら
に他の目的は回転可能な鏡を用いて上記分配光の振幅損
失を実質的に回避するための光分配メカニズムである。
【００２１】本発明のさらに他の目的は流体試料の温度
を高精度に調節可能なマルチアッセイプレート用測光装
置を提供することである。さらに、他の目的は上記ハウ
ジング内における流体試料からの可燃蒸気（ヘキサン、
イソオクタンおよびニトロメタン等）の蓄積を実質的に
減少して、出火や爆発の発生の恐れを実質的に低減し得
る温度制御システムである。さらに、本発明の他の目的
は測光装置のハウジング内における凝縮を実質的に回避
することである。
を高精度に調節可能なマルチアッセイプレート用測光装
置を提供することである。さらに、他の目的は上記ハウ
ジング内における流体試料からの可燃蒸気（ヘキサン、
イソオクタンおよびニトロメタン等）の蓄積を実質的に
減少して、出火や爆発の発生の恐れを実質的に低減し得
る温度制御システムである。さらに、本発明の他の目的
は測光装置のハウジング内における凝縮を実質的に回避
することである。
【００２２】本発明の上記およびその他の特徴、目的お
よび利点は以下の詳細な説明によってより一層に理解さ
れかつ明白となる。
よび利点は以下の詳細な説明によってより一層に理解さ
れかつ明白となる。
【００２３】
【実施例】図１はマルチアッセイプレート１２に受容さ
れる流体試料を検査するための全体的に参照番号１０に
より示された本発明による測光装置または計測システム
の好ましい実施態様を示している。マルチアッセイプレ
ート１２は従来のマイクロプレートで、８行×１２列に
配列された受容器の標準的アレイを含むものである。当
該測光システム１０は、後述する取得および制御プロセ
ッサ手段１４、中央処理ユニット手段１５およびユーザ
インターフェイスコンピュータ３０による命令および制
御に基づいて、従来と同様に、動作するものであり、こ
れらの制御手段は共同してプロセッサ手段２５として作
用して初期化、セットアップ、データ取得、解析および
表示を実行する。
れる流体試料を検査するための全体的に参照番号１０に
より示された本発明による測光装置または計測システム
の好ましい実施態様を示している。マルチアッセイプレ
ート１２は従来のマイクロプレートで、８行×１２列に
配列された受容器の標準的アレイを含むものである。当
該測光システム１０は、後述する取得および制御プロセ
ッサ手段１４、中央処理ユニット手段１５およびユーザ
インターフェイスコンピュータ３０による命令および制
御に基づいて、従来と同様に、動作するものであり、こ
れらの制御手段は共同してプロセッサ手段２５として作
用して初期化、セットアップ、データ取得、解析および
表示を実行する。
【００２４】同図において、光源手段２２が約２００ナ
ノメータから約１１００ナノメータの第１波長領域を有
する帯域幅の光を発する。次いで、２５０ないし７５０
ナノメータの領域内の波長を有する所望の実質的に単色
の光が波長選択手段２３により選択され、光ファイバー
５８を介して光分配手段２４に送られる。この光分配手
段２４はマルチアッセイプレート１２の８個の受容器列
における各試料に対して順番に８経路の検査光（図１に
概略的に示す）に分配して、光源手段２２から発せられ
る光の振幅における時間に関する変動による測定誤差を
実質的に除去するべく動作する。この時、光検出手段２
６は各受容器を通過した検査光とその基準光の双方を検
出計測する。その後、当該光検出手段２６に連結する取
得および制御プロセッサ手段１４が基準光および検査光
に従って従来様式で電気出力信号を供給する。
ノメータから約１１００ナノメータの第１波長領域を有
する帯域幅の光を発する。次いで、２５０ないし７５０
ナノメータの領域内の波長を有する所望の実質的に単色
の光が波長選択手段２３により選択され、光ファイバー
５８を介して光分配手段２４に送られる。この光分配手
段２４はマルチアッセイプレート１２の８個の受容器列
における各試料に対して順番に８経路の検査光（図１に
概略的に示す）に分配して、光源手段２２から発せられ
る光の振幅における時間に関する変動による測定誤差を
実質的に除去するべく動作する。この時、光検出手段２
６は各受容器を通過した検査光とその基準光の双方を検
出計測する。その後、当該光検出手段２６に連結する取
得および制御プロセッサ手段１４が基準光および検査光
に従って従来様式で電気出力信号を供給する。
【００２５】また、当該測光システム１０は開閉の各状
態を有しかつ入室／外出扉１１１を備えるマルチアッセ
イプレート１２を囲むためのチャンバー手段１６を含
む。さらに、プレートキャリヤ手段２０がマルチアッセ
イプレートを受け取り、周辺支持しながらこれをチャン
バー手段１６から離れた挿入位置からその中における計
測ステーションまで運んで、受容器の各列が順番に同計
測ステーションに進入するようにする。なお、当該チャ
ンバー手段１６およびプレートキャリヤ手段２０は従来
様式で動作する。
態を有しかつ入室／外出扉１１１を備えるマルチアッセ
イプレート１２を囲むためのチャンバー手段１６を含
む。さらに、プレートキャリヤ手段２０がマルチアッセ
イプレートを受け取り、周辺支持しながらこれをチャン
バー手段１６から離れた挿入位置からその中における計
測ステーションまで運んで、受容器の各列が順番に同計
測ステーションに進入するようにする。なお、当該チャ
ンバー手段１６およびプレートキャリヤ手段２０は従来
様式で動作する。
【００２６】さらに、温度制御手段２８は、取得および
制御プロセッサ手段１４の制御下において、マルチアッ
セイプレート１２における流体試料の温度をユーザによ
り予め決められた一定のレベルに維持する。また、当該
温度制御手段２８は加熱空気流を所定のパターンでマル
チアッセイプレート１２の下面に送って、試料を所定温
度まで実質的に均一かつ迅速に加熱する。
制御プロセッサ手段１４の制御下において、マルチアッ
セイプレート１２における流体試料の温度をユーザによ
り予め決められた一定のレベルに維持する。また、当該
温度制御手段２８は加熱空気流を所定のパターンでマル
チアッセイプレート１２の下面に送って、試料を所定温
度まで実質的に均一かつ迅速に加熱する。
【００２７】また、中央処理ユニット手段１５は取得お
よび制御プロセッサ手段１４を初期化し、ユーザはユー
ザインターフェイスコンピュータ３０を介して当該ユニ
ット手段１５と通信する。このユーザインターフェイス
コンピュータ３０は測定パラメータを設定し、分析を行
い、ユーザのために結果を表示する仕様プログラムを収
容している。
よび制御プロセッサ手段１４を初期化し、ユーザはユー
ザインターフェイスコンピュータ３０を介して当該ユニ
ット手段１５と通信する。このユーザインターフェイス
コンピュータ３０は測定パラメータを設定し、分析を行
い、ユーザのために結果を表示する仕様プログラムを収
容している。
【００２８】図２において、測光装置１０は実質的に単
色の光ビームをフラッシュの形態で生成し、同光を複数
の光経路（本実施例においては８個）に連続的に送っ
て、マルチアッセイプレート１２における流体試料を連
続的に照射する。
色の光ビームをフラッシュの形態で生成し、同光を複数
の光経路（本実施例においては８個）に連続的に送っ
て、マルチアッセイプレート１２における流体試料を連
続的に照射する。
【００２９】励起光源５０（本実施例においてはキセノ
ンフラッシュランプ）は２００ナノメータ以上で１１０
０ナノメータまでの波長を含むフラッシュ光を発する。
この励起光源５０からの光は当該光ア−クを約１０°に
制限する穴５１を通過してビームを形成する。その後、
この光は供給源レンズ５２を通過し、同レンズはフィル
タホイール５６中に含まれる一連のフィルタ５５のひと
つを介して光を参照番号５４により概略的に示されるモ
ノクロメータ上に集光する。なお、これらの励起光源５
０、穴５１および供給源レンズ５２は共同して光源手段
２２を構成する。
ンフラッシュランプ）は２００ナノメータ以上で１１０
０ナノメータまでの波長を含むフラッシュ光を発する。
この励起光源５０からの光は当該光ア−クを約１０°に
制限する穴５１を通過してビームを形成する。その後、
この光は供給源レンズ５２を通過し、同レンズはフィル
タホイール５６中に含まれる一連のフィルタ５５のひと
つを介して光を参照番号５４により概略的に示されるモ
ノクロメータ上に集光する。なお、これらの励起光源５
０、穴５１および供給源レンズ５２は共同して光源手段
２２を構成する。
【００３０】本実施例における供給源レンズ５２は１
２．７ミリメータの直径、１６ミリメータの焦点距離お
よび光学的倍率１を有する熔融シリカプラノ凸レンズで
ある。この供給源レンズ５２は励起光源５０から３２ミ
リメータ離間しており、さらに、モノクロメータ５４か
ら３２ミリメータ離間している。
２．７ミリメータの直径、１６ミリメータの焦点距離お
よび光学的倍率１を有する熔融シリカプラノ凸レンズで
ある。この供給源レンズ５２は励起光源５０から３２ミ
リメータ離間しており、さらに、モノクロメータ５４か
ら３２ミリメータ離間している。
【００３１】図１７において、フィルタホイール５６上
に７個のフィルタ５５Ａ−Ｇが示されている。このう
ち、フィルタ５５Ａ−Ｅはそれぞれ２５０ないし３８０
ナノメータ（一般にＵＧ５フィルタと称される）、３８
０ないし４４０（ＢＧ３７）、４４０ないし５３０（Ｖ
Ｇ６）、５３０ないし６３０（ＯＧ５５０）および６３
０ないし７５０ナノメータ（ＲＧ６４５）の領域内の波
長の光を通す。また、残りのフィルタはモノクロメータ
５４の初期キャリブレーションに用いるディディミアム
グラスフィルタ５５Ｆおよびキャリブレーション用のダ
ークフィルタ５５Ｇである。当該多数のグラスフィルタ
５５はモノクロメータ５４に送られる波長の領域を予め
設定して、広帯域の光信号、特に、光スペクトルの混合
を引き起こす当該モノクロメータ５４を通過してしまう
所望波長以下の波長部分を実質的に除去する。このよう
な予備設定により、モノクロメータ５４は２５０ナノメ
ータないし７５０ナノメータの波長領域にわたって約５
ナノメータの帯域幅を有する実質的に単色の光を発する
ことが可能になる。さらに、ディディミアムグラスフィ
ルタ５５Ｆはモノクロメータ５４の初期的な波長キャリ
ブレーションに用いる高精度の狭い吸収波長を供給す
る。当該ディディミアムグラスフィルタ５５Ｆを当該測
光装置１０内に備える前の製造過程の一部として、低圧
水銀−アルゴンランプにより同ディディミアムグラスフ
ィルタのスペクトルを確認する。加えて、付加的なフィ
ルタ位置５５ＨおよびＩがさらに設けられており、ユー
ザの必要に応じてさらにフィルタを具備することができ
る。例えば、ユーザは干渉フィルタを設置して約５ナノ
メータより狭い光の帯域幅を選択することが可能であ
る。さらに、当該フィルタホイール５６におけるダーク
フィルタ位置５５Ｇは基準の暗黒時電流オフセットキャ
リブレーションの測定時における基準光検出器６４に対
する光照射を行わない場合を実行するために用いられ
る。
に７個のフィルタ５５Ａ−Ｇが示されている。このう
ち、フィルタ５５Ａ−Ｅはそれぞれ２５０ないし３８０
ナノメータ（一般にＵＧ５フィルタと称される）、３８
０ないし４４０（ＢＧ３７）、４４０ないし５３０（Ｖ
Ｇ６）、５３０ないし６３０（ＯＧ５５０）および６３
０ないし７５０ナノメータ（ＲＧ６４５）の領域内の波
長の光を通す。また、残りのフィルタはモノクロメータ
５４の初期キャリブレーションに用いるディディミアム
グラスフィルタ５５Ｆおよびキャリブレーション用のダ
ークフィルタ５５Ｇである。当該多数のグラスフィルタ
５５はモノクロメータ５４に送られる波長の領域を予め
設定して、広帯域の光信号、特に、光スペクトルの混合
を引き起こす当該モノクロメータ５４を通過してしまう
所望波長以下の波長部分を実質的に除去する。このよう
な予備設定により、モノクロメータ５４は２５０ナノメ
ータないし７５０ナノメータの波長領域にわたって約５
ナノメータの帯域幅を有する実質的に単色の光を発する
ことが可能になる。さらに、ディディミアムグラスフィ
ルタ５５Ｆはモノクロメータ５４の初期的な波長キャリ
ブレーションに用いる高精度の狭い吸収波長を供給す
る。当該ディディミアムグラスフィルタ５５Ｆを当該測
光装置１０内に備える前の製造過程の一部として、低圧
水銀−アルゴンランプにより同ディディミアムグラスフ
ィルタのスペクトルを確認する。加えて、付加的なフィ
ルタ位置５５ＨおよびＩがさらに設けられており、ユー
ザの必要に応じてさらにフィルタを具備することができ
る。例えば、ユーザは干渉フィルタを設置して約５ナノ
メータより狭い光の帯域幅を選択することが可能であ
る。さらに、当該フィルタホイール５６におけるダーク
フィルタ位置５５Ｇは基準の暗黒時電流オフセットキャ
リブレーションの測定時における基準光検出器６４に対
する光照射を行わない場合を実行するために用いられ
る。
【００３２】而して、単色入口スリット５３を介してモ
ノクロメータ５４に入った光が平行化／集光ミラー５７
に送られ、さらに、同ミラーは当該光ビームを反射しか
つ平行化して回折格子５９に送る。この場合、光は当該
格子５９に対して一定角度で分散され、モノクロメータ
５４を通過する光の波長はこの角度によって決まる。そ
の後、当該分散光は平行化／集光ミラー５７に戻った後
に、出口スリット６３において実質的に単色の光に集光
する。このスリット６３は好ましくは金属製端部キャッ
プ（図示せず）により形成され、光ファイバー５８から
成るファイバー５８Ａを保持し、０．７ミリメータ×
１．３ミリメータの長方形状である。さらに、光ファイ
バー５８Ａの各々は当該金属製端部キャップによる出口
スリット６３において長方形状のアレイに配列されてい
る。また、当該光ファイバー５８の外側被覆部が出口ス
リット６３として形成されていてもよい。而して、当該
フィルタホイール５６、光学フィルタ−５５、モノクロ
メータ５４および入口および出口スリット５３、６３は
共同して波長選択手段２３を構成する。
ノクロメータ５４に入った光が平行化／集光ミラー５７
に送られ、さらに、同ミラーは当該光ビームを反射しか
つ平行化して回折格子５９に送る。この場合、光は当該
格子５９に対して一定角度で分散され、モノクロメータ
５４を通過する光の波長はこの角度によって決まる。そ
の後、当該分散光は平行化／集光ミラー５７に戻った後
に、出口スリット６３において実質的に単色の光に集光
する。このスリット６３は好ましくは金属製端部キャッ
プ（図示せず）により形成され、光ファイバー５８から
成るファイバー５８Ａを保持し、０．７ミリメータ×
１．３ミリメータの長方形状である。さらに、光ファイ
バー５８Ａの各々は当該金属製端部キャップによる出口
スリット６３において長方形状のアレイに配列されてい
る。また、当該光ファイバー５８の外側被覆部が出口ス
リット６３として形成されていてもよい。而して、当該
フィルタホイール５６、光学フィルタ−５５、モノクロ
メータ５４および入口および出口スリット５３、６３は
共同して波長選択手段２３を構成する。
【００３３】したがって、モノクロメータ５４の出力は
光源５０により供給される第１の波長領域内の所定の連
続的に選択可能な第２の波長領域を有する光を供給す
る。なお、当該好ましい実施態様においては、この第２
波長領域は所定の帯域幅を有しており、２５０ないし７
５０ナノメータの間でユーザにより連続的に選択可能な
すべての中心帯域波長に対して約４ないし５ナノメータ
から成る最大光伝送量の１／２における波長幅として定
義される。この帯域幅は、例えば出口スリット６３とし
て機械的に調節可能なスリットを用いることにより、当
該出口スリット６３を変更して約１ないし２０ナノメー
タのより広い領域内に予め設定することが可能である。
光源５０により供給される第１の波長領域内の所定の連
続的に選択可能な第２の波長領域を有する光を供給す
る。なお、当該好ましい実施態様においては、この第２
波長領域は所定の帯域幅を有しており、２５０ないし７
５０ナノメータの間でユーザにより連続的に選択可能な
すべての中心帯域波長に対して約４ないし５ナノメータ
から成る最大光伝送量の１／２における波長幅として定
義される。この帯域幅は、例えば出口スリット６３とし
て機械的に調節可能なスリットを用いることにより、当
該出口スリット６３を変更して約１ないし２０ナノメー
タのより広い領域内に予め設定することが可能である。
【００３４】光ファイバー５８は１９本の光ファイバー
を備えており、これらは各々２００ミリメータの直径と
０．２２の開口数を有し、その入力部において６本、７
本および６本のファイバーの３列に配列されている。こ
れは０．７ミリメータ×１．３ミリメータの長方形状の
出口スリット６３を定め、当該光ファイバー５８の出力
部は１．３ミリメータの直径の円として形成されてい
る。その後、約１０°の立体角に発せられる光ファイバ
ー５８の出力光はビームスプリッタ６０（本実施例にお
いてはサファイア製のウインドウ）により分割される。
この結果、該ビームスプリッタ６０は光を分割してロー
タ−組合体７０に送られる検査光と当該ビームスプリッ
タ６０からフラットリファレンスミラー６２に反射する
基準光とを生成する。さらに、該リファレンスミラー６
２はこの基準光を反射してリファレンスレンズ６６を介
して光検出器手段２６におけるリファレンス光検出器６
４に送る。なお、このリファレンスレンズ６６は両凸レ
ンズであり、熔融シリカにより形成され、６．８ミリメ
ータの焦点距離と６．８ミリメータの直径を有してい
る。
を備えており、これらは各々２００ミリメータの直径と
０．２２の開口数を有し、その入力部において６本、７
本および６本のファイバーの３列に配列されている。こ
れは０．７ミリメータ×１．３ミリメータの長方形状の
出口スリット６３を定め、当該光ファイバー５８の出力
部は１．３ミリメータの直径の円として形成されてい
る。その後、約１０°の立体角に発せられる光ファイバ
ー５８の出力光はビームスプリッタ６０（本実施例にお
いてはサファイア製のウインドウ）により分割される。
この結果、該ビームスプリッタ６０は光を分割してロー
タ−組合体７０に送られる検査光と当該ビームスプリッ
タ６０からフラットリファレンスミラー６２に反射する
基準光とを生成する。さらに、該リファレンスミラー６
２はこの基準光を反射してリファレンスレンズ６６を介
して光検出器手段２６におけるリファレンス光検出器６
４に送る。なお、このリファレンスレンズ６６は両凸レ
ンズであり、熔融シリカにより形成され、６．８ミリメ
ータの焦点距離と６．８ミリメータの直径を有してい
る。
【００３５】この場合、上記キセノンフラッシュ光５０
により発せられるフラッシュ光の強度はそのエネルギー
および経路長を変えることによって過剰フラッシュ量の
５０％程度まで変更することができる。また、リファレ
ンス光検出器６４は当該励起光源５０の各フラッシュに
対応して光ファイバー５８により伝送される単色光の振
幅を表現する電気信号を出力する。さらに、この電気信
号はマルチアッセイプレート１２における試料を通過し
た検査光の読み取りの強度基準として用いられる。
により発せられるフラッシュ光の強度はそのエネルギー
および経路長を変えることによって過剰フラッシュ量の
５０％程度まで変更することができる。また、リファレ
ンス光検出器６４は当該励起光源５０の各フラッシュに
対応して光ファイバー５８により伝送される単色光の振
幅を表現する電気信号を出力する。さらに、この電気信
号はマルチアッセイプレート１２における試料を通過し
た検査光の読み取りの強度基準として用いられる。
【００３６】ローター７０は光を１８０°まで屈折でき
る２基のほぼ同一のローターミラー７２Ａおよび７２Ｂ
と当該ローターミラー７２Ａおよび７２Ｂの間で光ビー
ムを集光するローターレンズ７４とを備えている。これ
らのローターミラー７２Ａ、７２Ｂおよびローターレン
ズ７４は当該ローター組合体７０の入力部において１．
３ミリメータ径である光ビームのスポットサイズをその
出力部において０．６５ミリメータに減少するべく作用
する。このようにローター７０内においてビーム径を減
少することにより、ほとんどすべての光を光分配手段２
４における受光ファイバー７６に約２０°の立体角で放
出することができ、当該ローター７０を通過する検査光
の作用効率を大幅に高めることができる。この場合、当
該検査光の集光を、約２４°の立体角にわたる光を受光
し得る受光ファイバー７６の開口数を越えないように行
う必要がある。
る２基のほぼ同一のローターミラー７２Ａおよび７２Ｂ
と当該ローターミラー７２Ａおよび７２Ｂの間で光ビー
ムを集光するローターレンズ７４とを備えている。これ
らのローターミラー７２Ａ、７２Ｂおよびローターレン
ズ７４は当該ローター組合体７０の入力部において１．
３ミリメータ径である光ビームのスポットサイズをその
出力部において０．６５ミリメータに減少するべく作用
する。このようにローター７０内においてビーム径を減
少することにより、ほとんどすべての光を光分配手段２
４における受光ファイバー７６に約２０°の立体角で放
出することができ、当該ローター７０を通過する検査光
の作用効率を大幅に高めることができる。この場合、当
該検査光の集光を、約２４°の立体角にわたる光を受光
し得る受光ファイバー７６の開口数を越えないように行
う必要がある。
【００３７】光を多数の曲線形状の経路に送り込む既存
方法の大半において、折曲状若しくは曲線状のファイバ
ーを用いて当該光ビームを曲げる方法が採られている。
この場合、プラスチック材料は所望の曲率に容易に折り
曲げることができるが、約３４０ナノメータ以下の波長
の光はたいていのプラスチック材において吸収率が高
い。一方、約３４０ナノメータよりも短い波長を透過す
る材料は折り曲げることが困難である。さらに、光を折
り曲げるために光ファイバーを用いるシステムは、その
性質上、効率を高めるために画像サイズを減少すること
が困難である。そこで、上述ローター７０の主たる特徴
は伝送媒体として空気を使用することにある。すなわ
ち、当該空気媒体により、システムはプラスチック材料
のような高い吸収損を伴うことなく光の方向を変えるこ
とができ、さらに、出力ビームの大きさを減少すること
によって光の伝送効率を高めることができる。
方法の大半において、折曲状若しくは曲線状のファイバ
ーを用いて当該光ビームを曲げる方法が採られている。
この場合、プラスチック材料は所望の曲率に容易に折り
曲げることができるが、約３４０ナノメータ以下の波長
の光はたいていのプラスチック材において吸収率が高
い。一方、約３４０ナノメータよりも短い波長を透過す
る材料は折り曲げることが困難である。さらに、光を折
り曲げるために光ファイバーを用いるシステムは、その
性質上、効率を高めるために画像サイズを減少すること
が困難である。そこで、上述ローター７０の主たる特徴
は伝送媒体として空気を使用することにある。すなわ
ち、当該空気媒体により、システムはプラスチック材料
のような高い吸収損を伴うことなく光の方向を変えるこ
とができ、さらに、出力ビームの大きさを減少すること
によって光の伝送効率を高めることができる。
【００３８】而して、ローター組合体７０は検査光をオ
フセット用キャリブレーションのための暗経路と、測定
シーケンスにより決められる一連の光分配経路の一に送
る。この光分配経路は上記分配用光ファイバー７６によ
って構成され、シリカまたは石英から成り、１ミリメー
タの直径と０．２２の開口数を有している。さらに、当
該ファイバー７６から出た光はＭｇＦ2 から成る平坦面
を有するテストミラー７８において反射してほぼ垂直の
検査光検出部位に到達する。ここでは、テスト開口部８
０が当該ビームの開口数をさらに制限し、各々両凸レン
ズで６．８ミリメータの焦点距離および６．８ミリメー
タの直径を有するテストレンズ８２およびテスト光検出
レンズ８６がさらに当該検査光を集光する。図示の簡単
化のために、図２においては、８個のほぼ同一の分配光
ファイバー７６、テストミラー７８、テスト開口部８
０、テストレンズ８２およびテスト光検出レンズ８６の
一のみが示されている。
フセット用キャリブレーションのための暗経路と、測定
シーケンスにより決められる一連の光分配経路の一に送
る。この光分配経路は上記分配用光ファイバー７６によ
って構成され、シリカまたは石英から成り、１ミリメー
タの直径と０．２２の開口数を有している。さらに、当
該ファイバー７６から出た光はＭｇＦ2 から成る平坦面
を有するテストミラー７８において反射してほぼ垂直の
検査光検出部位に到達する。ここでは、テスト開口部８
０が当該ビームの開口数をさらに制限し、各々両凸レン
ズで６．８ミリメータの焦点距離および６．８ミリメー
タの直径を有するテストレンズ８２およびテスト光検出
レンズ８６がさらに当該検査光を集光する。図示の簡単
化のために、図２においては、８個のほぼ同一の分配光
ファイバー７６、テストミラー７８、テスト開口部８
０、テストレンズ８２およびテスト光検出レンズ８６の
一のみが示されている。
【００３９】このようにして、一連の光分配経路はマル
チアッセイプレート１２中の複数の試料を検査光で連続
的に照射し、当該複数試料の各々はモノクロメータ５４
により供給される第２波長領域内のほぼ同一の光強度の
スペクトル分布を有する検査光を受ける。したがって、
当該測光装置１０はマルチアッセイプレート中の複数試
料に上述のように検査光を供給することにより、従来の
８×１２型マイクロプレートにおいて収容される９６個
の試料についての１回の光学特性測定が約９秒以内で実
行できる。同様に、このような９６個の試料の光学特性
が各試料についての繰り返しの光学特性測定間において
約９秒で速度論的に決定できる。さらに、振動の休止と
最終測定の間における約９秒よりも短い時間での繰り返
しの振動移動によって当該マルチアッセイプレート中の
試料を振動しながら、当該２５０ないし７５０ナノメー
タの連続的に可変の波長領域内において選択される光学
特性の速度論的測定が行える。すなわち、図１に示すよ
うに、当該測光装置１０はマルチアッセイプレート１２
を断続的に振動して各試料を混合するための従来式のア
ジテータ（振動）手段２０Ａを備えている。而して、当
該光ファイバー５８、ビームスプリッタ６０、リファレ
ンスミラー６２、リファレンスレンズ６６、光分配経路
７６、および、ローターミラー７２Ａおよび７２Ｂおよ
びローターレンズ７４を含むローター７０が共同して光
分配手段２４を構成する。
チアッセイプレート１２中の複数の試料を検査光で連続
的に照射し、当該複数試料の各々はモノクロメータ５４
により供給される第２波長領域内のほぼ同一の光強度の
スペクトル分布を有する検査光を受ける。したがって、
当該測光装置１０はマルチアッセイプレート中の複数試
料に上述のように検査光を供給することにより、従来の
８×１２型マイクロプレートにおいて収容される９６個
の試料についての１回の光学特性測定が約９秒以内で実
行できる。同様に、このような９６個の試料の光学特性
が各試料についての繰り返しの光学特性測定間において
約９秒で速度論的に決定できる。さらに、振動の休止と
最終測定の間における約９秒よりも短い時間での繰り返
しの振動移動によって当該マルチアッセイプレート中の
試料を振動しながら、当該２５０ないし７５０ナノメー
タの連続的に可変の波長領域内において選択される光学
特性の速度論的測定が行える。すなわち、図１に示すよ
うに、当該測光装置１０はマルチアッセイプレート１２
を断続的に振動して各試料を混合するための従来式のア
ジテータ（振動）手段２０Ａを備えている。而して、当
該光ファイバー５８、ビームスプリッタ６０、リファレ
ンスミラー６２、リファレンスレンズ６６、光分配経路
７６、および、ローターミラー７２Ａおよび７２Ｂおよ
びローターレンズ７４を含むローター７０が共同して光
分配手段２４を構成する。
【００４０】試料を通過した後、検査光は検査光検出器
８８に到達する。すなわち、光分配手段２４がモノクロ
メータ５４の出口スリット６３において長方形アレイ状
に配列された多数の分離光ファイバーを用いて検査光を
マルチアッセイプレート１２上に配列した多数の試料に
垂直に透過させた後に光検出器８８に至らしめる。
８８に到達する。すなわち、光分配手段２４がモノクロ
メータ５４の出口スリット６３において長方形アレイ状
に配列された多数の分離光ファイバーを用いて検査光を
マルチアッセイプレート１２上に配列した多数の試料に
垂直に透過させた後に光検出器８８に至らしめる。
【００４１】なお、マルチアッセイプレート１２はチャ
ンバー手段１６内のアッセイプレートコンパートメント
１２７の中に収容される。この場合、プロセッサ手段２
５の制御下において、当該マルチアッセイプレート１２
が離れた挿入ステーションからコンパートメント１２７
に移動して、ドア１１１が閉じる。ここで重要なこと
は、多数試料の各々がモノクロメータ５４により供給さ
れる第２波長領域内のほぼ同一強度のスペクトル分布を
有する検査光を受けることである。なお、この好ましい
実施態様においては、光エネルギーの統計的平均波長が
分配光ファイバー７６において０．１ナノメータよりも
小さい範囲で変化する。ただし、２５０ないし７５０ナ
ノメータの波長の場合、当該光エネルギーの統計的平均
波長が分配光ファイバー７６内において０．５ナノメー
タよりも大きい範囲で変化することはあり得ない。な
お、マルチアッセイプレート１２中の試料が光吸収性ま
たは光透過に影響を及ぼす（例えば、光散乱または光反
射）物質を含んでいる場合でも、当該２５０ないし７５
０ナノメータの波長領域において、該マルチアッセイプ
レート１２上の各試料にほぼ同一強度のスペクトル分布
を送ることによって、当該測光装置１０はほぼ均一な光
学特性の測定結果を確実に提供できる。また、当該マル
チアッセイプレート１２上の各試料に２５０ないし７５
０ナノメータの波長領域におけるほぼ同一強度のスペク
トル分布はモノクロメータ５４の出口スリット６３にお
いて長方形状の束に形成された石英製光ファイバー５８
の使用により可能となっている。さらに、このようにし
て集光された光は検査光として送られ、ローター組合体
７０によるスペクトル分配においてほとんど変化するこ
となく、光分配ファイバー７６に到達する。
ンバー手段１６内のアッセイプレートコンパートメント
１２７の中に収容される。この場合、プロセッサ手段２
５の制御下において、当該マルチアッセイプレート１２
が離れた挿入ステーションからコンパートメント１２７
に移動して、ドア１１１が閉じる。ここで重要なこと
は、多数試料の各々がモノクロメータ５４により供給さ
れる第２波長領域内のほぼ同一強度のスペクトル分布を
有する検査光を受けることである。なお、この好ましい
実施態様においては、光エネルギーの統計的平均波長が
分配光ファイバー７６において０．１ナノメータよりも
小さい範囲で変化する。ただし、２５０ないし７５０ナ
ノメータの波長の場合、当該光エネルギーの統計的平均
波長が分配光ファイバー７６内において０．５ナノメー
タよりも大きい範囲で変化することはあり得ない。な
お、マルチアッセイプレート１２中の試料が光吸収性ま
たは光透過に影響を及ぼす（例えば、光散乱または光反
射）物質を含んでいる場合でも、当該２５０ないし７５
０ナノメータの波長領域において、該マルチアッセイプ
レート１２上の各試料にほぼ同一強度のスペクトル分布
を送ることによって、当該測光装置１０はほぼ均一な光
学特性の測定結果を確実に提供できる。また、当該マル
チアッセイプレート１２上の各試料に２５０ないし７５
０ナノメータの波長領域におけるほぼ同一強度のスペク
トル分布はモノクロメータ５４の出口スリット６３にお
いて長方形状の束に形成された石英製光ファイバー５８
の使用により可能となっている。さらに、このようにし
て集光された光は検査光として送られ、ローター組合体
７０によるスペクトル分配においてほとんど変化するこ
となく、光分配ファイバー７６に到達する。
【００４２】なお、本発明の変更態様として、光ファイ
バー５８による分割での均一なスペクトル光分布を直接
使用することも可能である。この場合、各光分配経路７
６はビームスプリッタ６０、リファレンスミラー６２、
リファレンスレンズ６６およびリファレンス光検出器６
４および所望の光検出器回路に付随するものとなる。最
も簡単な形態としては、出口スリット６３に平行でこの
中に線形に収容される約０．５ｍｍの直径を有する８本
の光分配ファイバーが挙げられる。しかしながら、一般
に、各分配光ファイバー７６に送られるスペクトル光強
度の分布はローター７０を使用することにより実質的に
均一度を増す。
バー５８による分割での均一なスペクトル光分布を直接
使用することも可能である。この場合、各光分配経路７
６はビームスプリッタ６０、リファレンスミラー６２、
リファレンスレンズ６６およびリファレンス光検出器６
４および所望の光検出器回路に付随するものとなる。最
も簡単な形態としては、出口スリット６３に平行でこの
中に線形に収容される約０．５ｍｍの直径を有する８本
の光分配ファイバーが挙げられる。しかしながら、一般
に、各分配光ファイバー７６に送られるスペクトル光強
度の分布はローター７０を使用することにより実質的に
均一度を増す。
【００４３】当該光分配経路７６は、各々、検査光検出
器８８を含む一連の電気的経路に対応している。上記リ
ファレンス光検出器６４および光検出器８８は９．６ミ
リメータの活性領域を有して１５０ピコファラッドの接
合容量を有するシリコンフォトダイオードであり、検査
光を検出してこれに相当する電気信号をその出力として
図５に示すような電気計測システム３２４のインテグレ
ータ３４２における検査経路に供給する。
器８８を含む一連の電気的経路に対応している。上記リ
ファレンス光検出器６４および光検出器８８は９．６ミ
リメータの活性領域を有して１５０ピコファラッドの接
合容量を有するシリコンフォトダイオードであり、検査
光を検出してこれに相当する電気信号をその出力として
図５に示すような電気計測システム３２４のインテグレ
ータ３４２における検査経路に供給する。
【００４４】従来の９６ウェル型マイクロプレートまた
はその他のマルチアッセイプレートが当該測光装置１０
の好ましい実施態様における試料の収容手段として使用
できる。しかしながら、約３３０ナノメータよりも短い
波長において光透過率を計測するためには、当該電磁ス
ペクトルの紫外光部分に適当な透過性を確保するための
特別なマルチアッセイプレートを使用する必要がある。
すなわち、石英、サファイアまたはその他のＵＶ透過性
材料により形成されたマルチアッセイプレートが使用で
きる。このような石英マイクロプレートは、例えば、モ
レキュラーデバイス社（Ｍｅｌｎｏ Ｐａｒｋ，Ｃａｌ
ｉｆｏｒｎｉａ）の部品番号Ｒ１０７７およびＲ１０７
６が相当する。加えて、２５０ないし７５０ナノメータ
の全波長領域において適度に透過性を有するポリマー製
マルチアッセイプレートが同時係属出願であり共存かつ
共有の「紫外線透過性マルチアッセイプレート」と題す
る出願番号（ ）において記載されており、そ
の教示を参考文献として本明細書に記載している。
はその他のマルチアッセイプレートが当該測光装置１０
の好ましい実施態様における試料の収容手段として使用
できる。しかしながら、約３３０ナノメータよりも短い
波長において光透過率を計測するためには、当該電磁ス
ペクトルの紫外光部分に適当な透過性を確保するための
特別なマルチアッセイプレートを使用する必要がある。
すなわち、石英、サファイアまたはその他のＵＶ透過性
材料により形成されたマルチアッセイプレートが使用で
きる。このような石英マイクロプレートは、例えば、モ
レキュラーデバイス社（Ｍｅｌｎｏ Ｐａｒｋ，Ｃａｌ
ｉｆｏｒｎｉａ）の部品番号Ｒ１０７７およびＲ１０７
６が相当する。加えて、２５０ないし７５０ナノメータ
の全波長領域において適度に透過性を有するポリマー製
マルチアッセイプレートが同時係属出願であり共存かつ
共有の「紫外線透過性マルチアッセイプレート」と題す
る出願番号（ ）において記載されており、そ
の教示を参考文献として本明細書に記載している。
【００４５】次に、図３について説明する。測光装置１
０はマルチアッセイプレート１２内の試料を所定の温度
に維持するための恒温室１６と温度制御手段とを備えて
いる。すなわち、ファン１０２が周囲の空気を密閉プレ
ナム１０４から空気加熱素子１０８の近傍の狭い流通路
１０６送り込み、同素子により空気が所定温度に加熱さ
れる。その後、当該空気加熱素子１０８によって加熱さ
れた空気が加熱後流通路１０７に送り込まれ、さらに内
部底面１０９の開口部を介して主加熱後プレナム１１２
および副加熱後プレナム１１３に移動する。さらに、当
該主加熱後プレナム１１２における空気温度センサー１
１０が加熱空気の温度を計測して、空気加熱素子１０８
が所望かつ所定の空気温度を実現するべく制御される。
０はマルチアッセイプレート１２内の試料を所定の温度
に維持するための恒温室１６と温度制御手段とを備えて
いる。すなわち、ファン１０２が周囲の空気を密閉プレ
ナム１０４から空気加熱素子１０８の近傍の狭い流通路
１０６送り込み、同素子により空気が所定温度に加熱さ
れる。その後、当該空気加熱素子１０８によって加熱さ
れた空気が加熱後流通路１０７に送り込まれ、さらに内
部底面１０９の開口部を介して主加熱後プレナム１１２
および副加熱後プレナム１１３に移動する。さらに、当
該主加熱後プレナム１１２における空気温度センサー１
１０が加熱空気の温度を計測して、空気加熱素子１０８
が所望かつ所定の空気温度を実現するべく制御される。
【００４６】その後、当該加熱空気は主加熱後プレナム
１１２および副加熱後プレナム１１３から穴１１４を介
して図４に最良に示されるバッフル１３０中に送られ
る。すなわち、この穴１１４は当該バッフル１３０上に
配置されたマルチアッセイプレートのコンパートメント
１２７におけるマルチアッセイプレート１２の所定領域
に加熱空気を送る。このマルチアッセイプレートコンパ
ートメント１２７は、図４に示すように、上壁１０１、
ドア側壁１０３、ドア対向側壁１１７、内部底面１０９
並びに正面側壁１０５、後部側壁１１５および閉塞用ド
ア１１１によって構成されている。なお、当該好ましい
実施態様においては、マルチアッセイプレートコンパー
トメント１２７は断熱部材１３４により周囲の空気と熱
的に隔絶しており、同部材１３４はドア側壁１０３およ
びドア１１１を除く恒温室１１６の全面を覆う１／４イ
ンチ厚のポリウレタン発泡材料から成る。なお、ドア側
壁１０３のコンパートメント１２７に面する内部表面は
１／１６インチのポリウレタンによって断熱処理されて
いる。また、ドア１１１は（ゼネラルエレクトリック社
製の）ノリル（Ｎｏｒｙｌｅ、登録商標）から形成され
ており、付加的な断熱処理は施されていない。
１１２および副加熱後プレナム１１３から穴１１４を介
して図４に最良に示されるバッフル１３０中に送られ
る。すなわち、この穴１１４は当該バッフル１３０上に
配置されたマルチアッセイプレートのコンパートメント
１２７におけるマルチアッセイプレート１２の所定領域
に加熱空気を送る。このマルチアッセイプレートコンパ
ートメント１２７は、図４に示すように、上壁１０１、
ドア側壁１０３、ドア対向側壁１１７、内部底面１０９
並びに正面側壁１０５、後部側壁１１５および閉塞用ド
ア１１１によって構成されている。なお、当該好ましい
実施態様においては、マルチアッセイプレートコンパー
トメント１２７は断熱部材１３４により周囲の空気と熱
的に隔絶しており、同部材１３４はドア側壁１０３およ
びドア１１１を除く恒温室１１６の全面を覆う１／４イ
ンチ厚のポリウレタン発泡材料から成る。なお、ドア側
壁１０３のコンパートメント１２７に面する内部表面は
１／１６インチのポリウレタンによって断熱処理されて
いる。また、ドア１１１は（ゼネラルエレクトリック社
製の）ノリル（Ｎｏｒｙｌｅ、登録商標）から形成され
ており、付加的な断熱処理は施されていない。
【００４７】マルチアッセイプレート１２内の流体試料
の温度はほぼ２３℃の一般的な実験室環境において±１
／２℃の範囲内に維持される。また、冷却空気が空気ガ
イド１２１により出口ポート１２０を介してマルチアッ
セイプレートコンパートメント１２７の外部に送られ
る。さらに、ドア１１１は従来様式におけるマルチアッ
セイプレートコンパートメント１２７に対するマルチア
ッセイプレート１２の入出を可能にする。
の温度はほぼ２３℃の一般的な実験室環境において±１
／２℃の範囲内に維持される。また、冷却空気が空気ガ
イド１２１により出口ポート１２０を介してマルチアッ
セイプレートコンパートメント１２７の外部に送られ
る。さらに、ドア１１１は従来様式におけるマルチアッ
セイプレートコンパートメント１２７に対するマルチア
ッセイプレート１２の入出を可能にする。
【００４８】また、マルチアッセイプレート１２におけ
る流体試料中の水、塩酸および硝酸等の溶媒は当該流体
試料から蒸発して加熱空気により吸収される。なお、こ
れらの溶媒が当該測光装置１０内において凝縮するのを
防ぐために、図４に示すように、内部壁加熱素子１２６
が内部底面１０９内の室壁温度センサー１２８と共に、
同温度センサー１２８近傍の恒温室の内部表面を加熱空
気の温度よりも僅かに（一般に０．５ないし２．０℃、
さらに一般的には０．５ないし１．０℃）高い所定のハ
ウジング温度に維持する。而して、上記ファン１０２、
空気加熱素子１０８、空気温度センサー１１０、内部壁
加熱素子１２６、室壁温度センサー１２８、バッフル１
３０および図５に基づいて以下に説明する付随の制御回
路は共同して温度制御手段２８を構成する。
る流体試料中の水、塩酸および硝酸等の溶媒は当該流体
試料から蒸発して加熱空気により吸収される。なお、こ
れらの溶媒が当該測光装置１０内において凝縮するのを
防ぐために、図４に示すように、内部壁加熱素子１２６
が内部底面１０９内の室壁温度センサー１２８と共に、
同温度センサー１２８近傍の恒温室の内部表面を加熱空
気の温度よりも僅かに（一般に０．５ないし２．０℃、
さらに一般的には０．５ないし１．０℃）高い所定のハ
ウジング温度に維持する。而して、上記ファン１０２、
空気加熱素子１０８、空気温度センサー１１０、内部壁
加熱素子１２６、室壁温度センサー１２８、バッフル１
３０および図５に基づいて以下に説明する付随の制御回
路は共同して温度制御手段２８を構成する。
【００４９】図４はバッフル１３０内の穴１１４の配列
を示している。すなわち、この穴１１４の配列により、
加熱空気の増大する流れがマルチアッセイプレート１２
中央部の受容器に（これらはマルチアッセイプレート１
２の外側の受容器に比して表面積が小さいために加熱速
度が遅い）送り込まれるようになっており、当該マルチ
アッセイプレート１２のすべての受容器が同一速度で所
定の温度に到達できる。また、穴１１４は加熱空気を所
望の方向に向けるノズルとして形成することもできる。
さらに、内側の受容器に向けられた内側の穴を外側の受
容器に向けられた外側の穴よりも大きな直径に形成し
て、内側の受容器が外側の受容器よりも大量に加熱空気
を受けるようにすることにより、すべての受容器が同一
速度で所定の平衡温度に到達できるようにすることもで
きる。
を示している。すなわち、この穴１１４の配列により、
加熱空気の増大する流れがマルチアッセイプレート１２
中央部の受容器に（これらはマルチアッセイプレート１
２の外側の受容器に比して表面積が小さいために加熱速
度が遅い）送り込まれるようになっており、当該マルチ
アッセイプレート１２のすべての受容器が同一速度で所
定の温度に到達できる。また、穴１１４は加熱空気を所
望の方向に向けるノズルとして形成することもできる。
さらに、内側の受容器に向けられた内側の穴を外側の受
容器に向けられた外側の穴よりも大きな直径に形成し
て、内側の受容器が外側の受容器よりも大量に加熱空気
を受けるようにすることにより、すべての受容器が同一
速度で所定の平衡温度に到達できるようにすることもで
きる。
【００５０】図５は６８０００型マイクロプロセッサ、
メモリーおよび付随のデジタルハードウエアを含む測光
装置１０の電気的構成成分を示している。すなわち、ユ
ーザはキーパッド３０１、ディスプレイ３０３、プリン
タポート３０４およびシリアルポート３０５を介して中
央処理装置（ＣＰＵ）３００と通信する。次いで、ＣＰ
Ｕ３００はアルテラ（Ａｌｔｅｒａ）社（Ｓａｎ Ｊｏ
ｓｅ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ）製等のプログラマブルロ
ジック装置（ＰＬＤ）３２２を介して取得および制御プ
ロセッサ手段１４を初期化および制御する。而して、当
該ＣＰＵ３００、プリンタポート３０４、シリアルポー
ト３０５およびＰＬＤ３２２は中央処理ユニット手段１
５を構成し、キーパッド３０１およびディスプレイ３０
３は共同してユーザインターフェイスコンピュータ３０
を構成する。
メモリーおよび付随のデジタルハードウエアを含む測光
装置１０の電気的構成成分を示している。すなわち、ユ
ーザはキーパッド３０１、ディスプレイ３０３、プリン
タポート３０４およびシリアルポート３０５を介して中
央処理装置（ＣＰＵ）３００と通信する。次いで、ＣＰ
Ｕ３００はアルテラ（Ａｌｔｅｒａ）社（Ｓａｎ Ｊｏ
ｓｅ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ）製等のプログラマブルロ
ジック装置（ＰＬＤ）３２２を介して取得および制御プ
ロセッサ手段１４を初期化および制御する。而して、当
該ＣＰＵ３００、プリンタポート３０４、シリアルポー
ト３０５およびＰＬＤ３２２は中央処理ユニット手段１
５を構成し、キーパッド３０１およびディスプレイ３０
３は共同してユーザインターフェイスコンピュータ３０
を構成する。
【００５１】また、制御プロセッサ３２０は電気計測シ
ステム３２４を制御する。この電気計測システム３２４
は当該測光装置１０のキャリブレーションに用いるデジ
タル−アナログ変換器（ＤＡＣ）３２５、インテグレー
タ３４２における一連の検査経路、リファレンスインテ
グレータ３４０、マルチプレクサ３４４および増幅器／
ＡＤＣ３２３を備えている。一連の８個の検査光検出器
８８および基準光検出器６４は検査光と基準光フラッシ
ュを表現する電気信号パルスをインテグレータ３４２お
よびリファレンスインテグレータ３４０の一連の検査経
路にそれぞれ送る。これらのインテグレータ３４０、３
４２は当該検査光検出器８８および基準光検出器６４か
ら受け取った電気パルスのそれぞれのエネルギーをその
出力信号としてそれぞれ積分処理しかつ供給する。ま
た、ＰＬＤ３２２は制御プロセッサ３２０に応じて当該
インテグレータ３４０、３４２により供給される積分処
理の開始時間および終了時間を決める。さらに、マルチ
プレクサ３４４は当該インテグレータからの積分処理さ
れた出力信号を並列に受け取って同信号を直列に多重化
する。その後、増幅器／ＡＤＣ３２３が当該マルチプレ
クサ３４４からのアナログ信号を増幅してデジタル信号
に変換する。なお、単一の電気経路には基準光検出器６
４または検査光検出器８８およびこれらに対応する基準
インテグレータ３４０またはインテグレータ３４２が含
まれる。而して、当該基準光検出器６４、検査光検出器
８８および電気計測システム３２４は共同して光検出手
段２６を構成する。
ステム３２４を制御する。この電気計測システム３２４
は当該測光装置１０のキャリブレーションに用いるデジ
タル−アナログ変換器（ＤＡＣ）３２５、インテグレー
タ３４２における一連の検査経路、リファレンスインテ
グレータ３４０、マルチプレクサ３４４および増幅器／
ＡＤＣ３２３を備えている。一連の８個の検査光検出器
８８および基準光検出器６４は検査光と基準光フラッシ
ュを表現する電気信号パルスをインテグレータ３４２お
よびリファレンスインテグレータ３４０の一連の検査経
路にそれぞれ送る。これらのインテグレータ３４０、３
４２は当該検査光検出器８８および基準光検出器６４か
ら受け取った電気パルスのそれぞれのエネルギーをその
出力信号としてそれぞれ積分処理しかつ供給する。ま
た、ＰＬＤ３２２は制御プロセッサ３２０に応じて当該
インテグレータ３４０、３４２により供給される積分処
理の開始時間および終了時間を決める。さらに、マルチ
プレクサ３４４は当該インテグレータからの積分処理さ
れた出力信号を並列に受け取って同信号を直列に多重化
する。その後、増幅器／ＡＤＣ３２３が当該マルチプレ
クサ３４４からのアナログ信号を増幅してデジタル信号
に変換する。なお、単一の電気経路には基準光検出器６
４または検査光検出器８８およびこれらに対応する基準
インテグレータ３４０またはインテグレータ３４２が含
まれる。而して、当該基準光検出器６４、検査光検出器
８８および電気計測システム３２４は共同して光検出手
段２６を構成する。
【００５２】温度感知回路３２６は上記流通路１０６お
よび内部底面１０９における加熱空気の温度をそれぞれ
指示する空気温度センサー１１０および室壁温度センサ
ー１２８からの電気信号出力を受け取って増幅する。そ
の後、当該増幅信号は増幅器／ＡＤＣ３２３に出力され
る。さらに、該増幅器／ＡＤＣ３２３はこの温度感知回
路３２６からの信号を増幅してアナログ−デジタル変換
を行う。次いで、取得および制御プロセッサ３２０は室
壁および空気の温度を示す増幅器／ＡＤＣ３２３からの
信号を受け取って、信号をヒータ−ドライバ３２８を介
して室壁ヒーター１２６および空気ヒーター１０８に送
り、マルチアッセイプレート１２の流体試料温度を所定
レベルに制御する。
よび内部底面１０９における加熱空気の温度をそれぞれ
指示する空気温度センサー１１０および室壁温度センサ
ー１２８からの電気信号出力を受け取って増幅する。そ
の後、当該増幅信号は増幅器／ＡＤＣ３２３に出力され
る。さらに、該増幅器／ＡＤＣ３２３はこの温度感知回
路３２６からの信号を増幅してアナログ−デジタル変換
を行う。次いで、取得および制御プロセッサ３２０は室
壁および空気の温度を示す増幅器／ＡＤＣ３２３からの
信号を受け取って、信号をヒータ−ドライバ３２８を介
して室壁ヒーター１２６および空気ヒーター１０８に送
り、マルチアッセイプレート１２の流体試料温度を所定
レベルに制御する。
【００５３】すなわち、当該取得および制御プロセッサ
３２０は従来様式において（Ｉ）励起光源電力供給手段
３０６を介する励起光源５０によるフラッシュ発光時間
の制御、（ＩＩ）フィルタホイール駆動回路３１４およ
びフィルタホイールステップモータ３０８を介するフィ
ルタホイール５６の位置制御、（ＩＩＩ）モノクロメー
タ駆動回路３１６および格子ステップモータ３１０を介
するモノクロメータ５４における回折格子５９の制御、
（ＩＶ）ローター駆動回路３１８およびローターステッ
プモータ３１２を介するローター７０の制御、および、
（Ｖ）プレートキャリヤ駆動回路３３４およびプレート
キャリヤステップモータ３３２を介するプレートキャリ
ヤ手段２０の制御を行うべく動作する。而して、当該制
御プロセッサ３２０、励起光源電力供給手段３０６、フ
ィルタホイール駆動回路３１４、フィルタホイールステ
ップモータ３０８、モノクロメータ駆動回路３１６、格
子ステップモータ３１０、ローター駆動回路３１８、ロ
ーターステップモータ３１２、プレートキャリヤ駆動回
路３３４およびプレートキャリヤステップモータ３３２
は共同して取得および制御プロセッサ手段１４を構成す
る。
３２０は従来様式において（Ｉ）励起光源電力供給手段
３０６を介する励起光源５０によるフラッシュ発光時間
の制御、（ＩＩ）フィルタホイール駆動回路３１４およ
びフィルタホイールステップモータ３０８を介するフィ
ルタホイール５６の位置制御、（ＩＩＩ）モノクロメー
タ駆動回路３１６および格子ステップモータ３１０を介
するモノクロメータ５４における回折格子５９の制御、
（ＩＶ）ローター駆動回路３１８およびローターステッ
プモータ３１２を介するローター７０の制御、および、
（Ｖ）プレートキャリヤ駆動回路３３４およびプレート
キャリヤステップモータ３３２を介するプレートキャリ
ヤ手段２０の制御を行うべく動作する。而して、当該制
御プロセッサ３２０、励起光源電力供給手段３０６、フ
ィルタホイール駆動回路３１４、フィルタホイールステ
ップモータ３０８、モノクロメータ駆動回路３１６、格
子ステップモータ３１０、ローター駆動回路３１８、ロ
ーターステップモータ３１２、プレートキャリヤ駆動回
路３３４およびプレートキャリヤステップモータ３３２
は共同して取得および制御プロセッサ手段１４を構成す
る。
【００５４】図６は電気計測システム３２４におけるイ
ンテグレータ３４２およびリファレンスインテグレータ
３４０のタイミングを示している。すなわち、フラッシ
ュ光が励起光源５０により発光されて基準光検出器６４
と検査光検出器８８に送られる。次いで、波形４４で示
されるように、当該基準光検出器６４および検査光検出
器８８は当該フラッシュ光を表現する電気パルスを供給
する。その後、波形４５で示されるように、インテグレ
ータ３４２およびリファレンスインテグレータ３４０は
当該光検出器により供給される電気パルス中に存する全
エネルギーを表現する出力信号を積分して供給する。さ
らに、波形４６で示されるように、インテグレータ３４
２およびリファレンスインテグレータ３４０の出力は当
該パルスエネルギーがまだゼロの「フラッシュ前」にお
いて、また、当該電気パルスにおけるほぼ全エネルギー
が積分処理された後の「フラッシュ後」における電気パ
ルスに先立ってＰＬＤ３２２により決定される時間でサ
ンプル処理される。さらに、当該インテグレータ３４２
およびリファレンスインテグレータ３４０からの信号に
ついて、「フラッシュ後」の読取値から「フラッシュ
前」の読取値を差し引くことによって当該積分処理にお
けるオフセットのためのキャリブレーション処理が行わ
れる。さらに、波形４６においては、タイミング信号が
インテグレータ３４２およびリファレンスインテグレー
タ３４０を「フラッシュ後」にゼロにして次のパルスに
対して備える。
ンテグレータ３４２およびリファレンスインテグレータ
３４０のタイミングを示している。すなわち、フラッシ
ュ光が励起光源５０により発光されて基準光検出器６４
と検査光検出器８８に送られる。次いで、波形４４で示
されるように、当該基準光検出器６４および検査光検出
器８８は当該フラッシュ光を表現する電気パルスを供給
する。その後、波形４５で示されるように、インテグレ
ータ３４２およびリファレンスインテグレータ３４０は
当該光検出器により供給される電気パルス中に存する全
エネルギーを表現する出力信号を積分して供給する。さ
らに、波形４６で示されるように、インテグレータ３４
２およびリファレンスインテグレータ３４０の出力は当
該パルスエネルギーがまだゼロの「フラッシュ前」にお
いて、また、当該電気パルスにおけるほぼ全エネルギー
が積分処理された後の「フラッシュ後」における電気パ
ルスに先立ってＰＬＤ３２２により決定される時間でサ
ンプル処理される。さらに、当該インテグレータ３４２
およびリファレンスインテグレータ３４０からの信号に
ついて、「フラッシュ後」の読取値から「フラッシュ
前」の読取値を差し引くことによって当該積分処理にお
けるオフセットのためのキャリブレーション処理が行わ
れる。さらに、波形４６においては、タイミング信号が
インテグレータ３４２およびリファレンスインテグレー
タ３４０を「フラッシュ後」にゼロにして次のパルスに
対して備える。
【００５５】この場合、当該電気計測にはノイズが常に
混在するが、これを最小に抑えることによって当該測定
の精度および再現性を改善することができる。すなわ
ち、上述のフラッシュ光を用いる技法における利点は、
連続的な光源を用いてノイズが常に蓄積される式の技法
に比して、当該計測に混在するノイズ量が積分処理時に
のみ蓄積する。したがって、当該好ましい実施態様にお
ける技法は概ね周期時間に対する積分時間の比率分だけ
計測におけるノイズを減少できる。
混在するが、これを最小に抑えることによって当該測定
の精度および再現性を改善することができる。すなわ
ち、上述のフラッシュ光を用いる技法における利点は、
連続的な光源を用いてノイズが常に蓄積される式の技法
に比して、当該計測に混在するノイズ量が積分処理時に
のみ蓄積する。したがって、当該好ましい実施態様にお
ける技法は概ね周期時間に対する積分時間の比率分だけ
計測におけるノイズを減少できる。
【００５６】図７、８、９、１０、１１、１２、１３お
よび１４は後述する本発明に従うマルチアッセイプレー
ト１２における受容器中試料の光学特性連続測定に関連
する動作シーケンスを示している。図７は電力供給時に
おいて当該測光装置により実行されるシーケンスを示す
フローチャートである。ステップ１４０は光分配経路を
介する光の伝送量を最大にするためにローター７０を位
置合わせする取得および制御プロセッサ３２０制御下の
反復処理を実行する。
よび１４は後述する本発明に従うマルチアッセイプレー
ト１２における受容器中試料の光学特性連続測定に関連
する動作シーケンスを示している。図７は電力供給時に
おいて当該測光装置により実行されるシーケンスを示す
フローチャートである。ステップ１４０は光分配経路を
介する光の伝送量を最大にするためにローター７０を位
置合わせする取得および制御プロセッサ３２０制御下の
反復処理を実行する。
【００５７】ステップ１４２においては、大まかな「ダ
ーク電流」オフセットキャリブレーションが決定され
る。ダーク電流は光が伝送されない時に各光検出器から
電気計測システム３２４が読み取る見かけ上の光に相当
する。したがって、ダーク電流オフセットキャリブレー
ションは増幅器／ＡＤＣ３２３における各利得設定に対
応するインテグレータ３４２における一連の検査経路の
各々に対応して決められる。つまり、ステップ１４２は
一連の光分配経路に光が通過しない時の暗位置にロータ
ー７０を合わせる。この時、電気計測システム３２４の
一部として含まれるＤＡＣ３２５が微分入力信号をイン
テグレータ３４２における一連の検査経路の各々に供給
するように調節されており、当該入力信号によってダー
ク電流の作用が補われる。したがって、取得および制御
プロセッサ３２０の制御下での反復処理がＤＡＣ３２５
の調節を検出かつ記憶するために行われ、これによっ
て、増幅器／ＡＤＣ３２３の各利得設定およびリファレ
ンスインテグレータ３４０に対応する一連の光分配経路
および対応するインテグレータ３４２の検査経路の各々
における見かけ上の光の計測を最小にする。而して、こ
のように決定されたＤＡＣ３２５の調節が以下の図１０
において詳述するシーケンスにおける大まかなダーク電
流オフセットキャリブレーションとして使用される。
ーク電流」オフセットキャリブレーションが決定され
る。ダーク電流は光が伝送されない時に各光検出器から
電気計測システム３２４が読み取る見かけ上の光に相当
する。したがって、ダーク電流オフセットキャリブレー
ションは増幅器／ＡＤＣ３２３における各利得設定に対
応するインテグレータ３４２における一連の検査経路の
各々に対応して決められる。つまり、ステップ１４２は
一連の光分配経路に光が通過しない時の暗位置にロータ
ー７０を合わせる。この時、電気計測システム３２４の
一部として含まれるＤＡＣ３２５が微分入力信号をイン
テグレータ３４２における一連の検査経路の各々に供給
するように調節されており、当該入力信号によってダー
ク電流の作用が補われる。したがって、取得および制御
プロセッサ３２０の制御下での反復処理がＤＡＣ３２５
の調節を検出かつ記憶するために行われ、これによっ
て、増幅器／ＡＤＣ３２３の各利得設定およびリファレ
ンスインテグレータ３４０に対応する一連の光分配経路
および対応するインテグレータ３４２の検査経路の各々
における見かけ上の光の計測を最小にする。而して、こ
のように決定されたＤＡＣ３２５の調節が以下の図１０
において詳述するシーケンスにおける大まかなダーク電
流オフセットキャリブレーションとして使用される。
【００５８】次に、ステップ１４４において、モノクロ
メータ５４において選択される光の波長のキャリブレー
ション処理が行われる。この場合、フィルタホイール５
６に含まれる既知波長吸収スペクトルを有するディディ
ミアムグラスフィルターが当該測光装置における波長キ
ャリブレータとして使用される。すなわち、モノクロメ
ータ５４の波長をキャリブレーションするために、ステ
ップ１４４において、モノクロメータ５４により受け取
られた光がディディミアムグラスフィルターを通過する
位置にフィルタホイール５６が位置合わせされる。次い
で、受け取る光ビームに対するモノクロメータ５４の角
度が制御プロセッサ３２０の制御による格子モータ３１
０のステップ動作によって調節され、基準光検出器６４
により検出される光が最小にされる。而して、メモリー
中に記憶された格子モーター３１０の調節情報により当
該モノクロメータ５４の波長オフセットキャリブレーシ
ョンが行われる。
メータ５４において選択される光の波長のキャリブレー
ション処理が行われる。この場合、フィルタホイール５
６に含まれる既知波長吸収スペクトルを有するディディ
ミアムグラスフィルターが当該測光装置における波長キ
ャリブレータとして使用される。すなわち、モノクロメ
ータ５４の波長をキャリブレーションするために、ステ
ップ１４４において、モノクロメータ５４により受け取
られた光がディディミアムグラスフィルターを通過する
位置にフィルタホイール５６が位置合わせされる。次い
で、受け取る光ビームに対するモノクロメータ５４の角
度が制御プロセッサ３２０の制御による格子モータ３１
０のステップ動作によって調節され、基準光検出器６４
により検出される光が最小にされる。而して、メモリー
中に記憶された格子モーター３１０の調節情報により当
該モノクロメータ５４の波長オフセットキャリブレーシ
ョンが行われる。
【００５９】次に、ステップ１４６では増幅器／ＡＤＣ
３２３の利得がキャリブレーション処理される。この場
合、制御プロセッサ３２０はＤＡＣ３２５を光検出器に
より検出される所定の光レベルを表現する電気信号に調
節して、同レベルをインテグレータ３４２の一連の検査
経路における第１のものの入力およびリファレンスイン
テグレータ３４０の入力に適用する。さらに、予想出力
に対する当該電気計測システム３２４からの実際の出力
の比率がメモリーに記憶され、同電気計測システム３２
４の利得キャリブレーション係数として用いられる。
３２３の利得がキャリブレーション処理される。この場
合、制御プロセッサ３２０はＤＡＣ３２５を光検出器に
より検出される所定の光レベルを表現する電気信号に調
節して、同レベルをインテグレータ３４２の一連の検査
経路における第１のものの入力およびリファレンスイン
テグレータ３４０の入力に適用する。さらに、予想出力
に対する当該電気計測システム３２４からの実際の出力
の比率がメモリーに記憶され、同電気計測システム３２
４の利得キャリブレーション係数として用いられる。
【００６０】図８は本発明による動作の一般的なシーケ
ンスを示すフローチャートである。当該シーケンスは初
期化ステップ１５０において開始され、同ステップにお
いては、ユーザがキーパッド３０１またはユーザインタ
ーフェイスコンピュータ３０を用いて測定プロトコルを
設定して測定を開始する。ステップ１５０は終点、スペ
クトルまたは速度論的計測用の測光装置を構成して、波
長、スペクトルパラメータ、振動時間、休止時間、読み
取るべき受容器および他の類似パラメータの数および値
を決定する。
ンスを示すフローチャートである。当該シーケンスは初
期化ステップ１５０において開始され、同ステップにお
いては、ユーザがキーパッド３０１またはユーザインタ
ーフェイスコンピュータ３０を用いて測定プロトコルを
設定して測定を開始する。ステップ１５０は終点、スペ
クトルまたは速度論的計測用の測光装置を構成して、波
長、スペクトルパラメータ、振動時間、休止時間、読み
取るべき受容器および他の類似パラメータの数および値
を決定する。
【００６１】マルチアッセイプレート１２に収容された
複数試料の振動は当該試料の光学特性を決定する前に所
定時間の間ユーザによって選択することができる。この
試料振動は振動手段２０Ａによってステップ１５２およ
びステップ１５６において行われ、同手段には従来のス
テップモータおよびマルチアッセイプレートキャリヤ手
段に連結するベルト駆動式メカニズムが含まれ、同キャ
リヤ手段はマルチアッセイプレートを支持および確実保
持して図３に示されるように光検出器８８上においてプ
レート中の受容器列を連続的かつ線形に位置決めする。
この振動手段は図３に示されるようにマルチアッセイプ
レートコンパートメント１２７の上壁１０１および内部
壁１０９に平行かつ線形の穏やかな振動移動を実行す
る。さらに、当該振動線形移動の振幅は各々約１２５ミ
リ秒の同一周期の約２０Ｈｚおよび約３０Ｈｚの交流周
波数において約１／１６インチである。この交流振動周
波数のシーケンスは最短１秒からユーザにより選択され
る任意長の時間、例えば、１分、１時間、１日または１
週間までの一定時間の間継続する。通常、５０ないし４
００マイクロリットルで２３℃において水とほぼ同一粘
度を有する液体試料を好適に混合するために、当該振動
処理は３秒間継続される。さらに、当該振動処理後に
は、読取プレートステップ１５４の開始前に一定の遅延
時間が置かれる。なお、この遅延時間は約２００ミリ秒
から１分、１時間または１日に及ぶ範囲においてユーザ
により選択可能である。
複数試料の振動は当該試料の光学特性を決定する前に所
定時間の間ユーザによって選択することができる。この
試料振動は振動手段２０Ａによってステップ１５２およ
びステップ１５６において行われ、同手段には従来のス
テップモータおよびマルチアッセイプレートキャリヤ手
段に連結するベルト駆動式メカニズムが含まれ、同キャ
リヤ手段はマルチアッセイプレートを支持および確実保
持して図３に示されるように光検出器８８上においてプ
レート中の受容器列を連続的かつ線形に位置決めする。
この振動手段は図３に示されるようにマルチアッセイプ
レートコンパートメント１２７の上壁１０１および内部
壁１０９に平行かつ線形の穏やかな振動移動を実行す
る。さらに、当該振動線形移動の振幅は各々約１２５ミ
リ秒の同一周期の約２０Ｈｚおよび約３０Ｈｚの交流周
波数において約１／１６インチである。この交流振動周
波数のシーケンスは最短１秒からユーザにより選択され
る任意長の時間、例えば、１分、１時間、１日または１
週間までの一定時間の間継続する。通常、５０ないし４
００マイクロリットルで２３℃において水とほぼ同一粘
度を有する液体試料を好適に混合するために、当該振動
処理は３秒間継続される。さらに、当該振動処理後に
は、読取プレートステップ１５４の開始前に一定の遅延
時間が置かれる。なお、この遅延時間は約２００ミリ秒
から１分、１時間または１日に及ぶ範囲においてユーザ
により選択可能である。
【００６２】図８におけるステップ１５２は初期化ステ
ップ１５０において予め決められた時間長だけマルチア
ッセイプレート１２を振動する。なお、一定の終点計測
処理を含む計測処理ではマルチアッセイプレート１２を
振動する必要がない場合もあるので、当該ステップ１５
２は常に適用されるとは限らない。
ップ１５０において予め決められた時間長だけマルチア
ッセイプレート１２を振動する。なお、一定の終点計測
処理を含む計測処理ではマルチアッセイプレート１２を
振動する必要がない場合もあるので、当該ステップ１５
２は常に適用されるとは限らない。
【００６３】図８のステップ１５４は所定波長、光分配
経路および対応するインテグレータ３４２内の検査経
路、およびマルチアッセイプレート１２の列をつなげて
各所定受容器を通過した光の透過率を読み取り、ダーク
電流オフセットと１００％透過率係数のための各測定を
行う。この読取プレートステップ１５４は以下において
図９により詳述する。
経路および対応するインテグレータ３４２内の検査経
路、およびマルチアッセイプレート１２の列をつなげて
各所定受容器を通過した光の透過率を読み取り、ダーク
電流オフセットと１００％透過率係数のための各測定を
行う。この読取プレートステップ１５４は以下において
図９により詳述する。
【００６４】多数時間区間における多数読み取り処理は
速度論的計測において一般に必要とされ、これら多数の
速度論的計測は各々図８に示されるフローチャートにお
ける多数経路により行われる。また、終点およびスペク
トル計測は単一経路により行われる。さらに、当該読取
プレートステップ１５４に続いて、ステップ１５８が所
定の速度論的読み取り周期におけるすべての読み取り処
理が完了したか否かを確かめる。当該ステップ１５８の
答えがノーである場合は、ステップ１５６が初期化ステ
ップ１５０において設定されたプロトコルに従ってマル
チアッセイプレート１２を付随的に振動する。このステ
ップ１５６においては、速度論的読み取り処理は一般に
試料が休止状態にある第１の時間区間、続いて当該試料
が振動される振動時間区間、さらに続いて当該試料が休
止状態となる第２の時間区間を含む。なお、当該各時間
区間は初期化ステップ１５０において予め決められる。
また、ステップ１５６が完了している場合、当該シーケ
ンスはステップ１５４に帰還して速度論的計測サイクル
における別の読み取り処理を行う。なお、読み取り処理
の間に振動処理を必要としない計測仕様もあるので、ス
テップ１５６は常に適用されるとは限らない。このよう
にして、当該ステップ１５８、１５６および１５４は完
全な速度論的読み取り処理が実行されるまで当該システ
ムによって反復される。
速度論的計測において一般に必要とされ、これら多数の
速度論的計測は各々図８に示されるフローチャートにお
ける多数経路により行われる。また、終点およびスペク
トル計測は単一経路により行われる。さらに、当該読取
プレートステップ１５４に続いて、ステップ１５８が所
定の速度論的読み取り周期におけるすべての読み取り処
理が完了したか否かを確かめる。当該ステップ１５８の
答えがノーである場合は、ステップ１５６が初期化ステ
ップ１５０において設定されたプロトコルに従ってマル
チアッセイプレート１２を付随的に振動する。このステ
ップ１５６においては、速度論的読み取り処理は一般に
試料が休止状態にある第１の時間区間、続いて当該試料
が振動される振動時間区間、さらに続いて当該試料が休
止状態となる第２の時間区間を含む。なお、当該各時間
区間は初期化ステップ１５０において予め決められる。
また、ステップ１５６が完了している場合、当該シーケ
ンスはステップ１５４に帰還して速度論的計測サイクル
における別の読み取り処理を行う。なお、読み取り処理
の間に振動処理を必要としない計測仕様もあるので、ス
テップ１５６は常に適用されるとは限らない。このよう
にして、当該ステップ１５８、１５６および１５４は完
全な速度論的読み取り処理が実行されるまで当該システ
ムによって反復される。
【００６５】図９は所定波長においてマルチアッセイプ
レート１２の列を読み取る動作シーケンスを説明するた
めに上記読取プレートステップ１５４を拡張して示して
いる。すなわち、ステップ１６０はローター７０を検査
光検出器８８を照射する光が全くないように光が送られ
る暗位置に位置合わせする。次に、ステップ１６２は各
利得設定に対応するインテグレータ３４２における一連
の検査経路の各々およびリファレンスインテグレータ３
４０に対応する「ダーク電流」として知られる計測オフ
セットを読み取ってメモリー中に記憶する。この結果、
それぞれのダーク電流が各試料の読み取り処理に適用さ
れて計測オフセットの影響に対応する補正を行う。な
お、当該ダーク電流の計測および記憶シーケンスは以下
において図１０によりさらに詳述する。
レート１２の列を読み取る動作シーケンスを説明するた
めに上記読取プレートステップ１５４を拡張して示して
いる。すなわち、ステップ１６０はローター７０を検査
光検出器８８を照射する光が全くないように光が送られ
る暗位置に位置合わせする。次に、ステップ１６２は各
利得設定に対応するインテグレータ３４２における一連
の検査経路の各々およびリファレンスインテグレータ３
４０に対応する「ダーク電流」として知られる計測オフ
セットを読み取ってメモリー中に記憶する。この結果、
それぞれのダーク電流が各試料の読み取り処理に適用さ
れて計測オフセットの影響に対応する補正を行う。な
お、当該ダーク電流の計測および記憶シーケンスは以下
において図１０によりさらに詳述する。
【００６６】次に、図９におけるステップ１６４は一連
の光分配経路の各々とこれに対応するインテグレータ３
４２における検査経路とに対応する各所定波長について
の１００％透過率の場合の各値をメモリーに読み取って
記憶する。その後、当該それぞれの１００％透過率値が
マルチアッセイプレート１２における試料を透過した検
査光の読み取り処理に適用されて、当該試料により吸収
された検査光の部分を計算する。なお、当該１００％透
過率値を計測および記憶するシーケンスは以下において
図１１によりさらに詳述する。
の光分配経路の各々とこれに対応するインテグレータ３
４２における検査経路とに対応する各所定波長について
の１００％透過率の場合の各値をメモリーに読み取って
記憶する。その後、当該それぞれの１００％透過率値が
マルチアッセイプレート１２における試料を透過した検
査光の読み取り処理に適用されて、当該試料により吸収
された検査光の部分を計算する。なお、当該１００％透
過率値を計測および記憶するシーケンスは以下において
図１１によりさらに詳述する。
【００６７】次に、ステップ１６６は読み取り処理にお
いて検査光検出器８８上の位置にマルチアッセイプレー
ト１２における受容器の第１列を移動する。その後、約
２４０ミリ秒の最短遅延区間が当該線形配置処理の後
で、検査光が試料の第１列に伝送される前に置かれて、
受容器内の流体試料の安定化における影響をほぼ回避す
る。次いで、ステップ１６８は第１の所定波長を選択す
る。その後、ステップ１７０は図１２に基づいてさらに
詳述するように受容器列内の各々について読み取り処理
を行う。さらに、ステップ１７２はすべての所定波長に
ついて読み取り処理が行われたか否かについて確かめ
る。この時、その答えがノーであれば、ステップ１７４
が次の所定波長を選択して当該シーケンスをステップ１
７０に帰還させる。この波長選択手段にはモノクロメー
タ５４が含まれており、当該モノクロメータは図２に示
すような所定波長領域の光の位置決めを行うために０．
５ナノメータの波長解像度の回折格子５９を正確に位置
決めする従来のステップモータと回折格子駆動メカニズ
ムを備えている。当該波長選択手段はステップ１７４に
おいて約５ナノメータの小波長幅に対して約１００ミリ
秒から、５００ナノメータの大波長幅（例えば、モノク
ロメータの位置決めにおいて２５０ないし７５０ナノメ
ータ）に対して約３秒までにわたる時間区間で作用す
る。この結果、すべての波長における読み取り処理が完
了すると、当該シーケンスはステップ１７６に進み、マ
ルチアッセイプレート１２中のすべての所定列が読み取
られたか否かが確かめられる。この答えがノーであれ
ば、ステップ１７８においてマルチアッセイプレート１
２の次の列が位置決めされて当該シーケンスがステップ
１６８に帰還する。
いて検査光検出器８８上の位置にマルチアッセイプレー
ト１２における受容器の第１列を移動する。その後、約
２４０ミリ秒の最短遅延区間が当該線形配置処理の後
で、検査光が試料の第１列に伝送される前に置かれて、
受容器内の流体試料の安定化における影響をほぼ回避す
る。次いで、ステップ１６８は第１の所定波長を選択す
る。その後、ステップ１７０は図１２に基づいてさらに
詳述するように受容器列内の各々について読み取り処理
を行う。さらに、ステップ１７２はすべての所定波長に
ついて読み取り処理が行われたか否かについて確かめ
る。この時、その答えがノーであれば、ステップ１７４
が次の所定波長を選択して当該シーケンスをステップ１
７０に帰還させる。この波長選択手段にはモノクロメー
タ５４が含まれており、当該モノクロメータは図２に示
すような所定波長領域の光の位置決めを行うために０．
５ナノメータの波長解像度の回折格子５９を正確に位置
決めする従来のステップモータと回折格子駆動メカニズ
ムを備えている。当該波長選択手段はステップ１７４に
おいて約５ナノメータの小波長幅に対して約１００ミリ
秒から、５００ナノメータの大波長幅（例えば、モノク
ロメータの位置決めにおいて２５０ないし７５０ナノメ
ータ）に対して約３秒までにわたる時間区間で作用す
る。この結果、すべての波長における読み取り処理が完
了すると、当該シーケンスはステップ１７６に進み、マ
ルチアッセイプレート１２中のすべての所定列が読み取
られたか否かが確かめられる。この答えがノーであれ
ば、ステップ１７８においてマルチアッセイプレート１
２の次の列が位置決めされて当該シーケンスがステップ
１６８に帰還する。
【００６８】マルチアッセイプレート１２が一の列から
次の列に移動する時に、試料の安定化処理を行って、速
度論的計測における試料の光学特性計測を変更すること
ができる。なお、図９に示される好ましい実施態様では
マルチアッセイプレート１２の移動回数を最小にするた
めに次の列を選択する前に所定波長についてのシーケン
ス処理が行われる。また、別の実施態様においては、次
の波長を選択する前に列についてのシーケンス処理が行
われる。このような変更シーケンスは当該好ましい実施
態様よりも短い時間で完了する。なお、当該測光装置は
これらのいずれの態様も採り得る。
次の列に移動する時に、試料の安定化処理を行って、速
度論的計測における試料の光学特性計測を変更すること
ができる。なお、図９に示される好ましい実施態様では
マルチアッセイプレート１２の移動回数を最小にするた
めに次の列を選択する前に所定波長についてのシーケン
ス処理が行われる。また、別の実施態様においては、次
の波長を選択する前に列についてのシーケンス処理が行
われる。このような変更シーケンスは当該好ましい実施
態様よりも短い時間で完了する。なお、当該測光装置は
これらのいずれの態様も採り得る。
【００６９】図１０はステップ１６２を拡張しており、
ダーク電流に対する測光装置のキャリブレーション動作
シーケンスを示している。ダーク電流は光が透過してい
ない状態で電気計測システム３２４により読み取られる
見かけ上の光をいう。当該測光装置におけるこのような
ダーク電流の主たる供給源は電気計測システム３２４に
おける固有電圧オフセットである。インテグレータ３４
２における一連の検査経路の各々が増幅器／ＡＤＣ３２
３の各利得設定に対応してキャリブレーション処理さ
れ、さらに、リファレンスインテグレータ３４０がキャ
リブレーション処理されてそれぞれのキャリブレーショ
ン値がメモリーに記憶される。これにより、大まかなダ
ーク電流のオフセットキャリブレーションが図７におい
て説明したパワーアップシーケンスの一部として決定さ
れ記憶される。図１０のシーケンスはこの大まかなダー
ク電流のオフセットキャリブレーションが行われた後に
残っているダーク電流オフセットのキャリブレーション
を決定してこれらの残存ダーク電流オフセットキャリブ
レーションをメモリー中に記憶する。而して、これらの
大まかなダーク電流オフセットキャリブレーションと残
存ダーク電流オフセットキャリブレーションとを組み合
わせることによって、試料計測におけるダーク電流によ
る誤差をほとんど除去することができる。
ダーク電流に対する測光装置のキャリブレーション動作
シーケンスを示している。ダーク電流は光が透過してい
ない状態で電気計測システム３２４により読み取られる
見かけ上の光をいう。当該測光装置におけるこのような
ダーク電流の主たる供給源は電気計測システム３２４に
おける固有電圧オフセットである。インテグレータ３４
２における一連の検査経路の各々が増幅器／ＡＤＣ３２
３の各利得設定に対応してキャリブレーション処理さ
れ、さらに、リファレンスインテグレータ３４０がキャ
リブレーション処理されてそれぞれのキャリブレーショ
ン値がメモリーに記憶される。これにより、大まかなダ
ーク電流のオフセットキャリブレーションが図７におい
て説明したパワーアップシーケンスの一部として決定さ
れ記憶される。図１０のシーケンスはこの大まかなダー
ク電流のオフセットキャリブレーションが行われた後に
残っているダーク電流オフセットのキャリブレーション
を決定してこれらの残存ダーク電流オフセットキャリブ
レーションをメモリー中に記憶する。而して、これらの
大まかなダーク電流オフセットキャリブレーションと残
存ダーク電流オフセットキャリブレーションとを組み合
わせることによって、試料計測におけるダーク電流によ
る誤差をほとんど除去することができる。
【００７０】図１０におけるシーケンスはステップ１８
０において開始し、同ステップではインテグレータ３４
２の第１経路が選択される。ステップ１８２は増幅器／
ＡＤＣ３２３における利得１を選択する。次いで、ステ
ップ１８４では、ＤＡＣ３２５が図７において記載され
るパワーアップシーケンス中にメモリーに記憶された大
まかなダーク電流オフセットキャリブレーションをイン
テグレータ３４２の選択された経路に入力する。なお、
当該大まかなダーク電流オフセットキャリブレーション
は電気計測システム３２４における固有電圧オフセット
とほぼ同一であり反対符号を有する。
０において開始し、同ステップではインテグレータ３４
２の第１経路が選択される。ステップ１８２は増幅器／
ＡＤＣ３２３における利得１を選択する。次いで、ステ
ップ１８４では、ＤＡＣ３２５が図７において記載され
るパワーアップシーケンス中にメモリーに記憶された大
まかなダーク電流オフセットキャリブレーションをイン
テグレータ３４２の選択された経路に入力する。なお、
当該大まかなダーク電流オフセットキャリブレーション
は電気計測システム３２４における固有電圧オフセット
とほぼ同一であり反対符号を有する。
【００７１】次に、ステップ１８６では、ローター７０
が一連の分配光ファイバー７６または検査光検出器８８
に全く光が透過しない暗位置に位置決めされる。すなわ
ち、当該ステップ１８６は上述の図６における電気的タ
イミング図で詳述した検査「フラッシュ前」の読取値か
ら検査「フラッシュ後」の読取値を差し引くことにより
インテグレータ３４２の選択された経路に対応する見か
け上の検査光を読み取る。この結果、ステップ１８６は
９個の読取値を得て、その平均値を算出し、当該平均値
を残存ダーク電流オフセットキャリブレーションとして
メモリー中に記憶する。この場合、励起光源５０が各キ
ャリブレーション読み取りにおいてフラッシュ処理され
て、放射ならびに導電連結による電気計測システム３２
４中の電圧オフセットが計測シーケンスにおける検査試
料の読み取り処理と同様に当該キャリブレーションシー
ケンス中に出現する。
が一連の分配光ファイバー７６または検査光検出器８８
に全く光が透過しない暗位置に位置決めされる。すなわ
ち、当該ステップ１８６は上述の図６における電気的タ
イミング図で詳述した検査「フラッシュ前」の読取値か
ら検査「フラッシュ後」の読取値を差し引くことにより
インテグレータ３４２の選択された経路に対応する見か
け上の検査光を読み取る。この結果、ステップ１８６は
９個の読取値を得て、その平均値を算出し、当該平均値
を残存ダーク電流オフセットキャリブレーションとして
メモリー中に記憶する。この場合、励起光源５０が各キ
ャリブレーション読み取りにおいてフラッシュ処理され
て、放射ならびに導電連結による電気計測システム３２
４中の電圧オフセットが計測シーケンスにおける検査試
料の読み取り処理と同様に当該キャリブレーションシー
ケンス中に出現する。
【００７２】この検査ダーク電流は増幅器／ＡＤＣ３２
３の利得１、４、１６および６４の各々に対してキャリ
ブレーション処理される。次いで、ステップ１８８で
は、すべての利得がキャリブレーション処理されたか否
かが決められる。この場合の答えがノーであれば、ステ
ップ１９０において、次の利得が順番に選択されてシー
ケンスはステップ１８４に帰還する。また、ステップ１
８８における答えがイエスであれば、ステップ１９２に
おいて、インテグレータ３４２におけるすべての検査経
路が計測されたか否かが決められる。さらに、この答え
がノーであれば、ステップ１９４において、インテグレ
ータ３４２における次の経路が選択され、シーケンスが
ステップ１８２に帰還する。また、ステップ１９２にお
ける答えがイエスであれば、当該シーケンスは完了し
て、インテグレータ３４２のすべての経路および増幅器
／ＡＤＣ３２３のすべての利得がダーク電流についてキ
ャリブレーション処理されたことになる。
３の利得１、４、１６および６４の各々に対してキャリ
ブレーション処理される。次いで、ステップ１８８で
は、すべての利得がキャリブレーション処理されたか否
かが決められる。この場合の答えがノーであれば、ステ
ップ１９０において、次の利得が順番に選択されてシー
ケンスはステップ１８４に帰還する。また、ステップ１
８８における答えがイエスであれば、ステップ１９２に
おいて、インテグレータ３４２におけるすべての検査経
路が計測されたか否かが決められる。さらに、この答え
がノーであれば、ステップ１９４において、インテグレ
ータ３４２における次の経路が選択され、シーケンスが
ステップ１８２に帰還する。また、ステップ１９２にお
ける答えがイエスであれば、当該シーケンスは完了し
て、インテグレータ３４２のすべての経路および増幅器
／ＡＤＣ３２３のすべての利得がダーク電流についてキ
ャリブレーション処理されたことになる。
【００７３】基準ダーク電流が同様のシーケンスにより
キャリブレーション処理される。すなわち、フィルタホ
イール５６がモノクロメータ５４または基準光検出器６
４に全く光が透過しない暗位置に移動する。この結果、
上述の図６における電気タイミング図について詳述した
基準「フラッシュ後」の読取値から基準「フラッシュ
前」の読取値を差し引くことにより基準ダーク電流が計
測できる。
キャリブレーション処理される。すなわち、フィルタホ
イール５６がモノクロメータ５４または基準光検出器６
４に全く光が透過しない暗位置に移動する。この結果、
上述の図６における電気タイミング図について詳述した
基準「フラッシュ後」の読取値から基準「フラッシュ
前」の読取値を差し引くことにより基準ダーク電流が計
測できる。
【００７４】図１１はステップ１６４を拡張してインテ
グレータ３４２における一連の光分配経路および対応す
る検査経路の各々に対応する各所定波長について１００
％透過率値が計測され記憶される動作シーケンスを示し
ている。まず、図１１のステップ１９９において、プレ
ートキャリヤ２０がマルチアッセイプレート１２を透過
することなく検査光が検査光検出器８８を直接に照射す
る位置に移動する。次に、ステップ２０２において、ロ
ーター７０が一連の分配光ファイバーにおける第１のも
のを照射する位置に移動され、インテグレータ３４２の
第１経路が選択される。なお、当該ローター７０におけ
る第１の分配光ファイバーから第２の分配光ファイバー
への位置合わせには約３０ミリ秒の時間を要し、当該時
間には移動および安定化のための時間が含まれる。その
後、ステップ２０４において、以下に図１３において詳
述するＷn の計測値で示される空気の場合の吸光率が読
み取られる。このＷn の計測値はステップ２０６におい
てＷnairとして記憶される。次いで、ステップ２０８に
おいて、１００％透過率値がインテグレータ３４２にお
ける一連の光分配経路および対応する検査経路の各々に
ついて得られたか否かが決められる。この答えがノーで
ある場合は、ステップ２１０において、ローターが一連
の分配光ファイバーにおける次のものに位置合わせさ
れ、インテグレータ３４２の一連の検査経路における次
のものが選択され、さらに、当該シーケンスがステップ
２０４に帰還する。また、ステップ２０８における答え
がイエスであれば、ステップ２１２において、すべての
所定波長についての読み取り処理が行われたか否かが確
かめられる。さらに、この答えがノーであれば、ステッ
プ２１４において当該シーケンスにおける次の波長が選
択され、同シーケンスはステップ２０２に帰還する。ま
た、ステップ２１４における答えがイエスであれば、当
該シーケンスは完了する。
グレータ３４２における一連の光分配経路および対応す
る検査経路の各々に対応する各所定波長について１００
％透過率値が計測され記憶される動作シーケンスを示し
ている。まず、図１１のステップ１９９において、プレ
ートキャリヤ２０がマルチアッセイプレート１２を透過
することなく検査光が検査光検出器８８を直接に照射す
る位置に移動する。次に、ステップ２０２において、ロ
ーター７０が一連の分配光ファイバーにおける第１のも
のを照射する位置に移動され、インテグレータ３４２の
第１経路が選択される。なお、当該ローター７０におけ
る第１の分配光ファイバーから第２の分配光ファイバー
への位置合わせには約３０ミリ秒の時間を要し、当該時
間には移動および安定化のための時間が含まれる。その
後、ステップ２０４において、以下に図１３において詳
述するＷn の計測値で示される空気の場合の吸光率が読
み取られる。このＷn の計測値はステップ２０６におい
てＷnairとして記憶される。次いで、ステップ２０８に
おいて、１００％透過率値がインテグレータ３４２にお
ける一連の光分配経路および対応する検査経路の各々に
ついて得られたか否かが決められる。この答えがノーで
ある場合は、ステップ２１０において、ローターが一連
の分配光ファイバーにおける次のものに位置合わせさ
れ、インテグレータ３４２の一連の検査経路における次
のものが選択され、さらに、当該シーケンスがステップ
２０４に帰還する。また、ステップ２０８における答え
がイエスであれば、ステップ２１２において、すべての
所定波長についての読み取り処理が行われたか否かが確
かめられる。さらに、この答えがノーであれば、ステッ
プ２１４において当該シーケンスにおける次の波長が選
択され、同シーケンスはステップ２０２に帰還する。ま
た、ステップ２１４における答えがイエスであれば、当
該シーケンスは完了する。
【００７５】図１２はステップ１７０を拡張して、マル
チアッセイプレート１２の受容器列の読み取り処理に関
連する動作シーケンスを示している。まず、ステップ２
２０において、ＣＰＵ３２０がローター７０を移動して
検査光を一連の分配光ファイバー７６における第１のも
のに位置合わせし、さらに、当該取得および制御プロセ
ッサ３２０がインテグレータ３４２における一連の検査
経路の第１のものを選択する。次に、ステップ２２２に
おいて、以下に図１３において詳述する選択された受容
器中の試料を透過した検査光が読み取られる。次いで、
ステップ２２４においてすべての経路が読み取られたか
否かが確かめられる。この答えがノーであれば、ステッ
プ２２６において、ローター７０が一連の分配光ファイ
バー７６における次のものに位置合わせされる。その
後、ステップ２２８において、インテグレータ３４２に
おける次の経路が選択され、シーケンスがステップ２２
２に帰還する。また、ステップ２２４における答えがイ
エスであれば、ローター７０が一連の分配光ファイバー
７６における第１のものに位置合わせされてシーケンス
が完了する。
チアッセイプレート１２の受容器列の読み取り処理に関
連する動作シーケンスを示している。まず、ステップ２
２０において、ＣＰＵ３２０がローター７０を移動して
検査光を一連の分配光ファイバー７６における第１のも
のに位置合わせし、さらに、当該取得および制御プロセ
ッサ３２０がインテグレータ３４２における一連の検査
経路の第１のものを選択する。次に、ステップ２２２に
おいて、以下に図１３において詳述する選択された受容
器中の試料を透過した検査光が読み取られる。次いで、
ステップ２２４においてすべての経路が読み取られたか
否かが確かめられる。この答えがノーであれば、ステッ
プ２２６において、ローター７０が一連の分配光ファイ
バー７６における次のものに位置合わせされる。その
後、ステップ２２８において、インテグレータ３４２に
おける次の経路が選択され、シーケンスがステップ２２
２に帰還する。また、ステップ２２４における答えがイ
エスであれば、ローター７０が一連の分配光ファイバー
７６における第１のものに位置合わせされてシーケンス
が完了する。
【００７６】図１３はステップ２０４およびステップ２
２２を拡張しており、試料の光学特性計測に関連する動
作シーケンスを示している。まず、シーケンス２４０に
おいて、以下に図１４により詳述するように、電気計測
システム３２４の利得が最適化される。ステップ２４２
においては、検査光検出器８８により検出された検査光
と基準光検出器６４により検出された基準光が計測され
る。この時、励起光源５０は一連の光フラッシュを供給
する。すなわち、すなわち２４２では、検査「フラッシ
ュ前」読取値から検査「フラッシュ後」読取値を差し引
くことにより検査光検出器８８に送られた検査光が計測
され、基準「フラッシュ後」読取値から基準「フラッシ
ュ前」読取値を差し引くことにより基準光検出器６４に
送られた基準光が計測される。なお、当該計測処理につ
いては上述の図６における電気的タイミング図により詳
述している。このステップ２４２は７回繰り返されて、
その結果が合計される。次いで、ステップ２４４におい
て、ステップ２４２において計測した検査光を同ステッ
プ２４２において計測した基準光で割ることにより、検
査下の試料の吸光率における未キャリブレーション読取
値であるＷn が計算される。その後、ステップ２４６に
おいて、ローター７０が次の光分配経路に位置合わせさ
れる。さらに、ステップ２４８では、未キャリブレーシ
ョン読取値Ｗn とこれに対応してステップ２０６におい
て計測記憶した１００％透過率値Ｗnairの逆数とを掛け
合わすことにより、検査下の試料の吸光率におけるキャ
リブレーション処理された読取値Ａn が計算されて当該
シーケンスが完了する。
２２を拡張しており、試料の光学特性計測に関連する動
作シーケンスを示している。まず、シーケンス２４０に
おいて、以下に図１４により詳述するように、電気計測
システム３２４の利得が最適化される。ステップ２４２
においては、検査光検出器８８により検出された検査光
と基準光検出器６４により検出された基準光が計測され
る。この時、励起光源５０は一連の光フラッシュを供給
する。すなわち、すなわち２４２では、検査「フラッシ
ュ前」読取値から検査「フラッシュ後」読取値を差し引
くことにより検査光検出器８８に送られた検査光が計測
され、基準「フラッシュ後」読取値から基準「フラッシ
ュ前」読取値を差し引くことにより基準光検出器６４に
送られた基準光が計測される。なお、当該計測処理につ
いては上述の図６における電気的タイミング図により詳
述している。このステップ２４２は７回繰り返されて、
その結果が合計される。次いで、ステップ２４４におい
て、ステップ２４２において計測した検査光を同ステッ
プ２４２において計測した基準光で割ることにより、検
査下の試料の吸光率における未キャリブレーション読取
値であるＷn が計算される。その後、ステップ２４６に
おいて、ローター７０が次の光分配経路に位置合わせさ
れる。さらに、ステップ２４８では、未キャリブレーシ
ョン読取値Ｗn とこれに対応してステップ２０６におい
て計測記憶した１００％透過率値Ｗnairの逆数とを掛け
合わすことにより、検査下の試料の吸光率におけるキャ
リブレーション処理された読取値Ａn が計算されて当該
シーケンスが完了する。
【００７７】図１４はステップ２４０を拡張して、電気
計測システム３２４の利得の最適化に関連する動作シー
ケンスを示している。すなわち、増幅器／ＡＤＣ３２３
において４種の利得設定処理が行われて当該測光装置に
試料の吸光率計測時における５段階の大きさから成る計
測領域が与えられる。これにより、高すぎる利得設定が
行われると、電気計測システム３２４における回路が飽
和して当該測光装置がエラー読み取りを表示する。ま
た、低すぎる利得設定が行われると、電気的なノイズが
読み取り処理の精度および感度を低下させる。
計測システム３２４の利得の最適化に関連する動作シー
ケンスを示している。すなわち、増幅器／ＡＤＣ３２３
において４種の利得設定処理が行われて当該測光装置に
試料の吸光率計測時における５段階の大きさから成る計
測領域が与えられる。これにより、高すぎる利得設定が
行われると、電気計測システム３２４における回路が飽
和して当該測光装置がエラー読み取りを表示する。ま
た、低すぎる利得設定が行われると、電気的なノイズが
読み取り処理の精度および感度を低下させる。
【００７８】まず、ステップ２６０において、増幅器／
ＡＤＣ３２３の利得が１に設定される。次いで、ステッ
プ２６２において、上述の図６における電気的タイミン
グ図により詳述したように検査「フラッシュ前」読取値
から検査「フラッシュ後」読取値を差し引くことにより
検査光検出器８８に送られた検査光が計測される。その
後、ステップ２６４において、１２８で割った当該レベ
ル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全スケールよりも小さい
か否かが確かめられる。この答えがイエスであれば、ス
テップ２６６において、増幅器／ＡＤＣ３２３経路の利
得が６４に設定され、当該シーケンスが完了して利得が
最適化されたことになる。また、答えがノーであれば、
ステップ２６８において、３２で割ったステップ２６２
の計測レベル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全スケールよ
りも小さいか否かが確かめられる。この答えがイエスで
あれば、ステップ２７０において、当該増幅器／ＡＤＣ
３２３の利得が１６に設定され、当該シーケンスが完了
して利得が最適化されたことになる。また、答えがノー
であれば、ステップ２７２において、８で割ったステッ
プ２６２の計測レベル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全ス
ケールよりも小さいか否かが確かめられる。この答えが
イエスであれば、ステップ２７４において、当該増幅器
／ＡＤＣ３２３の利得が４に設定され、当該シーケンス
が完了して利得が最適化されたことになる。また、この
答えがノーであれば、当該利得が１のまま保留されてシ
ーケンスが完了する。
ＡＤＣ３２３の利得が１に設定される。次いで、ステッ
プ２６２において、上述の図６における電気的タイミン
グ図により詳述したように検査「フラッシュ前」読取値
から検査「フラッシュ後」読取値を差し引くことにより
検査光検出器８８に送られた検査光が計測される。その
後、ステップ２６４において、１２８で割った当該レベ
ル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全スケールよりも小さい
か否かが確かめられる。この答えがイエスであれば、ス
テップ２６６において、増幅器／ＡＤＣ３２３経路の利
得が６４に設定され、当該シーケンスが完了して利得が
最適化されたことになる。また、答えがノーであれば、
ステップ２６８において、３２で割ったステップ２６２
の計測レベル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全スケールよ
りも小さいか否かが確かめられる。この答えがイエスで
あれば、ステップ２７０において、当該増幅器／ＡＤＣ
３２３の利得が１６に設定され、当該シーケンスが完了
して利得が最適化されたことになる。また、答えがノー
であれば、ステップ２７２において、８で割ったステッ
プ２６２の計測レベル値が増幅器／ＡＤＣ３２３の全ス
ケールよりも小さいか否かが確かめられる。この答えが
イエスであれば、ステップ２７４において、当該増幅器
／ＡＤＣ３２３の利得が４に設定され、当該シーケンス
が完了して利得が最適化されたことになる。また、この
答えがノーであれば、当該利得が１のまま保留されてシ
ーケンスが完了する。
【００７９】図１５および１６は温度制御手段２８の他
の好ましい実施態様を示している。当該実施態様は初期
温度から所定の測定温度への加熱速度がより均一であ
り、当該到達所定温度の維持性に優れた温度制御を実行
する。
の好ましい実施態様を示している。当該実施態様は初期
温度から所定の測定温度への加熱速度がより均一であ
り、当該到達所定温度の維持性に優れた温度制御を実行
する。
【００８０】すなわち、多数の室壁加熱素子とこれらに
付随する温度センサーがマルチアッセイプレートコンパ
ートメント１２７の各室壁における異なる領域に配置さ
れて同コンパートメント中に分離した熱放射領域を形成
する。上述の実施態様と同様に、マルチアッセイプレー
トコンパートメント１２７を囲むほとんどすべての壁は
穴１１４を介して流通する空気や他の対流ガスの温度よ
りも高い温度を有している。これにより、マルチアッセ
イプレート１２の上方に位置することになる当該測光装
置１０の内部や任意の被覆部（図示せず）上での凝縮が
ほとんど防止できる。なお、当該多数の加熱素子および
温度感知素子は、上壁部１０１、内壁部１０９、前方側
壁１０５、後方側壁１１５、ドア側壁１０３またはドア
対向側壁１１７、さらには、これらの室壁部の一以上と
熱的に連通する他の表面を含むマルチアッセイプレート
コンパートメント１２７を囲む室壁部分のいずれに配置
してもよい。
付随する温度センサーがマルチアッセイプレートコンパ
ートメント１２７の各室壁における異なる領域に配置さ
れて同コンパートメント中に分離した熱放射領域を形成
する。上述の実施態様と同様に、マルチアッセイプレー
トコンパートメント１２７を囲むほとんどすべての壁は
穴１１４を介して流通する空気や他の対流ガスの温度よ
りも高い温度を有している。これにより、マルチアッセ
イプレート１２の上方に位置することになる当該測光装
置１０の内部や任意の被覆部（図示せず）上での凝縮が
ほとんど防止できる。なお、当該多数の加熱素子および
温度感知素子は、上壁部１０１、内壁部１０９、前方側
壁１０５、後方側壁１１５、ドア側壁１０３またはドア
対向側壁１１７、さらには、これらの室壁部の一以上と
熱的に連通する他の表面を含むマルチアッセイプレート
コンパートメント１２７を囲む室壁部分のいずれに配置
してもよい。
【００８１】図１５に示されるように、当該好ましい実
施態様は上壁部１０１上の所定位置に７個の加熱素子と
７個の温度感知素子を対にして備えている。周辺壁部加
熱素子４０２および周辺壁部温度感知素子４２２が壁１
０１、１０５および１１７の上端近傍に配置されてい
る。さらに、周辺壁部加熱素子４０４および周辺壁部温
度感知素子４２４が壁１０１、１１５および１１７の上
端近傍に配置されている。また、周辺壁部加熱素子４０
６および周辺壁部温度感知素子４２６が壁１０１、１１
５および１０３の上端近傍に配置されている。さらに、
周辺壁部加熱素子４０８および周辺壁部温度感知素子４
２８が壁１０１、１０３および１０５の上端近傍に配置
されている。加えて、副中央加熱素子４１４と副中央温
度感知素子４３４が副加熱後プレナム１１３の直上に配
置されており、主中央加熱素子４１２と主中央温度感知
素子４３２が主加熱後プレナム１１２の直上に配置され
ている。さらに、ドア加熱素子４１０およびドア温度感
知素子４３０が側壁部１０３およびドア１１１の近傍に
配置されている。さらに、図１５は検査光検出器８８に
対するそれぞれの加熱装置およびセンサーの配置も示し
ている。
施態様は上壁部１０１上の所定位置に７個の加熱素子と
７個の温度感知素子を対にして備えている。周辺壁部加
熱素子４０２および周辺壁部温度感知素子４２２が壁１
０１、１０５および１１７の上端近傍に配置されてい
る。さらに、周辺壁部加熱素子４０４および周辺壁部温
度感知素子４２４が壁１０１、１１５および１１７の上
端近傍に配置されている。また、周辺壁部加熱素子４０
６および周辺壁部温度感知素子４２６が壁１０１、１１
５および１０３の上端近傍に配置されている。さらに、
周辺壁部加熱素子４０８および周辺壁部温度感知素子４
２８が壁１０１、１０３および１０５の上端近傍に配置
されている。加えて、副中央加熱素子４１４と副中央温
度感知素子４３４が副加熱後プレナム１１３の直上に配
置されており、主中央加熱素子４１２と主中央温度感知
素子４３２が主加熱後プレナム１１２の直上に配置され
ている。さらに、ドア加熱素子４１０およびドア温度感
知素子４３０が側壁部１０３およびドア１１１の近傍に
配置されている。さらに、図１５は検査光検出器８８に
対するそれぞれの加熱装置およびセンサーの配置も示し
ている。
【００８２】なお、これらの加熱素子は各壁およびドア
に埋め込まれている。また、内壁部はアルミニウムや真
鍮、スチール、銅等の適当な熱伝導性を有する材料から
構成され、外壁部は上述したような断熱材料１３４から
構成されている。また、温度感知素子はマルチアッセイ
プレート１２に面する壁の表面上に配置されている。し
たがって、加熱素子による試料上への直接の熱放射が回
避され、センサーは試料から放射状に在って同一の壁部
温度を感知する。
に埋め込まれている。また、内壁部はアルミニウムや真
鍮、スチール、銅等の適当な熱伝導性を有する材料から
構成され、外壁部は上述したような断熱材料１３４から
構成されている。また、温度感知素子はマルチアッセイ
プレート１２に面する壁の表面上に配置されている。し
たがって、加熱素子による試料上への直接の熱放射が回
避され、センサーは試料から放射状に在って同一の壁部
温度を感知する。
【００８３】而して、当該加熱素子は周囲の温度作用を
ほとんど減少し、コンパートメント１２７内全体を均一
に放射加熱する。なお、温度センサー４２２、４２４、
４２６、４２８、４３０、４３２および４３４は図５に
示される温度感知回路３２６の適当な分離経路に接続し
ている。さらに、当該実施態様においては、温度感知回
路３２６は少なくとも９個の分離した温度感知経路を備
えている。なお、同回路３２６の多重出力は増幅器／Ａ
ＤＣ３２３に送られ、該増幅器は制御プロセッサ３２０
に電気的に連携しており、さらに、該プロセッサは加熱
素子制御回路３２８に電気的に連携している。さらに、
当該実施態様においては、加熱素子制御回路３２８が少
なくとも９個の分離した出力経路を備えている。この分
離出力経路は加熱素子４０２、４０４、４０６、４０
８、４１２および４１４の各々にそれぞれ適当な態様で
接続しており、加熱器４０２とセンサー４２２、加熱器
４０４とセンサー４２４、加熱器４０６とセンサー４２
６、加熱器４０８とセンサー４２３、加熱器４１０とセ
ンサー４３０、加熱器４２３とセンサー４３２および加
熱器４１４とセンサー４３４が７種の分離した制御ルー
プにおいてそれぞれ対になって作用する。この場合、こ
れらの７種の分離制御ループは図５において説明した壁
部ヒータ１２６およびセンサー１２８と空気ヒータ１０
８および空気温度センサー１１０とによってそれぞれ形
成される２種の分離した制御ループ対と同様に作用す
る。さらに、これら９種の分離した温度制御ループは温
度制御に関する分野において周知の標準的な温度回路に
よって制御される。而して、上記多数の加熱素子はマル
チアッセイプレートコンパートメント１２７内に多数の
放射熱領域を形成して、マルチアッセイプレート上の多
数の受容器中に収容される各試料の温度を均一安定に保
つ。
ほとんど減少し、コンパートメント１２７内全体を均一
に放射加熱する。なお、温度センサー４２２、４２４、
４２６、４２８、４３０、４３２および４３４は図５に
示される温度感知回路３２６の適当な分離経路に接続し
ている。さらに、当該実施態様においては、温度感知回
路３２６は少なくとも９個の分離した温度感知経路を備
えている。なお、同回路３２６の多重出力は増幅器／Ａ
ＤＣ３２３に送られ、該増幅器は制御プロセッサ３２０
に電気的に連携しており、さらに、該プロセッサは加熱
素子制御回路３２８に電気的に連携している。さらに、
当該実施態様においては、加熱素子制御回路３２８が少
なくとも９個の分離した出力経路を備えている。この分
離出力経路は加熱素子４０２、４０４、４０６、４０
８、４１２および４１４の各々にそれぞれ適当な態様で
接続しており、加熱器４０２とセンサー４２２、加熱器
４０４とセンサー４２４、加熱器４０６とセンサー４２
６、加熱器４０８とセンサー４２３、加熱器４１０とセ
ンサー４３０、加熱器４２３とセンサー４３２および加
熱器４１４とセンサー４３４が７種の分離した制御ルー
プにおいてそれぞれ対になって作用する。この場合、こ
れらの７種の分離制御ループは図５において説明した壁
部ヒータ１２６およびセンサー１２８と空気ヒータ１０
８および空気温度センサー１１０とによってそれぞれ形
成される２種の分離した制御ループ対と同様に作用す
る。さらに、これら９種の分離した温度制御ループは温
度制御に関する分野において周知の標準的な温度回路に
よって制御される。而して、上記多数の加熱素子はマル
チアッセイプレートコンパートメント１２７内に多数の
放射熱領域を形成して、マルチアッセイプレート上の多
数の受容器中に収容される各試料の温度を均一安定に保
つ。
【００８４】さらに別の実施態様においては、上記加熱
素子４０２、４０４、４０６、４０８、４１２、４１４
および１２６は各々単一の制御ループにおいて制御する
こともできる。この場合、上述の実施例におけるそれぞ
れの加熱素子４０２、４０４、４０６、４０８、４１
２、４１４および１２６の相対的な電力消費量が任意の
配置を有する当該加熱素子４０２、４０４、４０６、４
０８、４１２、４１４および１２６によるそれぞれの放
射熱領域を有するチャンバー手段１６の任意の形態およ
び構成の場合についてまず計測される。この計測値は室
温から３７℃にマルチアッセイプレートの各試料を加熱
するに要する時間について平均化され、特に後者の温度
は生物化学測定における最終温度として頻繁に使用され
る値である。この結果、これらの加熱素子により消費さ
れる加熱電力の相互関係が当該加熱素子の最終的に固定
される相互間の仕様として用いられる。また、この実施
態様においては、制御ループを開始するための単一の温
度センサー４２８が図５に示される温度感知回路３２６
の適当な経路に接続している。また、当該実施態様にお
いては、温度感知回路３２６が最少の２種の分離した温
度感知経路を必要とし、このうちの一は空気加熱素子１
０８の制御を行い、また他のものは加熱素子４０２、４
０４、４０６、４０８、４１２、４１４および１２６の
制御を行う。この場合、回路３２６の多重出力は増幅器
／ＡＤＣ３２３に送られ、該増幅器は制御プロセッサ３
２０に電気的に連携しており、さらに、当該プロセッサ
は加熱素子制御回路３２８に電気的に連携している。さ
らに、当該実施態様においては、加熱素子制御回路３２
８が２種の分離した出力経路のみを要する。すなわち、
適当な出力経路の一が空気加熱素子１０８に接続され、
また、他の一が加熱素子４０２、４０４、４０６、４０
８、４１２、４１４および１２６に接続されており、こ
れらは並列または直列のいずれの動作も可能である。し
たがって、前述の実施態様と同様に、多数の加熱素子は
マルチアッセイプレートコンパートメント１２７内に多
数の放射熱領域を形成して、マルチアッセイプレート上
の多数の受容器中に収容される各試料の温度を均一安定
に保つ。
素子４０２、４０４、４０６、４０８、４１２、４１４
および１２６は各々単一の制御ループにおいて制御する
こともできる。この場合、上述の実施例におけるそれぞ
れの加熱素子４０２、４０４、４０６、４０８、４１
２、４１４および１２６の相対的な電力消費量が任意の
配置を有する当該加熱素子４０２、４０４、４０６、４
０８、４１２、４１４および１２６によるそれぞれの放
射熱領域を有するチャンバー手段１６の任意の形態およ
び構成の場合についてまず計測される。この計測値は室
温から３７℃にマルチアッセイプレートの各試料を加熱
するに要する時間について平均化され、特に後者の温度
は生物化学測定における最終温度として頻繁に使用され
る値である。この結果、これらの加熱素子により消費さ
れる加熱電力の相互関係が当該加熱素子の最終的に固定
される相互間の仕様として用いられる。また、この実施
態様においては、制御ループを開始するための単一の温
度センサー４２８が図５に示される温度感知回路３２６
の適当な経路に接続している。また、当該実施態様にお
いては、温度感知回路３２６が最少の２種の分離した温
度感知経路を必要とし、このうちの一は空気加熱素子１
０８の制御を行い、また他のものは加熱素子４０２、４
０４、４０６、４０８、４１２、４１４および１２６の
制御を行う。この場合、回路３２６の多重出力は増幅器
／ＡＤＣ３２３に送られ、該増幅器は制御プロセッサ３
２０に電気的に連携しており、さらに、当該プロセッサ
は加熱素子制御回路３２８に電気的に連携している。さ
らに、当該実施態様においては、加熱素子制御回路３２
８が２種の分離した出力経路のみを要する。すなわち、
適当な出力経路の一が空気加熱素子１０８に接続され、
また、他の一が加熱素子４０２、４０４、４０６、４０
８、４１２、４１４および１２６に接続されており、こ
れらは並列または直列のいずれの動作も可能である。し
たがって、前述の実施態様と同様に、多数の加熱素子は
マルチアッセイプレートコンパートメント１２７内に多
数の放射熱領域を形成して、マルチアッセイプレート上
の多数の受容器中に収容される各試料の温度を均一安定
に保つ。
【００８５】さらに、当該好ましい実施態様において
は、バッフル１３０における穴１１４が加熱対流空気や
窒素、アルゴン、ヘリウム、二酸化炭素等の不活性な加
熱対流ガスの流れをマルチアッセイプレート１２の表面
の所定領域に集中させるように調節される。さらに、当
該マルチアッセイプレートの所定領域への対流ガスの流
速を調節にすることによって迅速な均一加熱および温度
維持が容易に行える。なお、図３および１６に示される
ように、穴１１４はマルチアッセイプレート１２の各内
側受容器が主加熱後プレナム１１２の上方に位置する時
に当該受容器に直接対向するように配置されている。し
たがって、９６ウェル式のマルチアッセイプレートの場
合は、周辺上にない６０個の内側の受容器を備えている
ため、主加熱後プレナム１１２の上方に位置するバッフ
ル１３０の部分には６０個の穴１１４が設けられてい
る。さらに、これらの穴は当該９６ウェル式マルチアッ
セイプレート内の受容器と同一の幾何学的パタンおよび
間隔に配列されている。例えば、８×１２パタンで中心
間隔が９ｍｍである９６ウェル式マルチアッセイプレー
トにおいては、当該穴１１４は６×１０のパタンで９ｍ
ｍの中心間距離に配列される。
は、バッフル１３０における穴１１４が加熱対流空気や
窒素、アルゴン、ヘリウム、二酸化炭素等の不活性な加
熱対流ガスの流れをマルチアッセイプレート１２の表面
の所定領域に集中させるように調節される。さらに、当
該マルチアッセイプレートの所定領域への対流ガスの流
速を調節にすることによって迅速な均一加熱および温度
維持が容易に行える。なお、図３および１６に示される
ように、穴１１４はマルチアッセイプレート１２の各内
側受容器が主加熱後プレナム１１２の上方に位置する時
に当該受容器に直接対向するように配置されている。し
たがって、９６ウェル式のマルチアッセイプレートの場
合は、周辺上にない６０個の内側の受容器を備えている
ため、主加熱後プレナム１１２の上方に位置するバッフ
ル１３０の部分には６０個の穴１１４が設けられてい
る。さらに、これらの穴は当該９６ウェル式マルチアッ
セイプレート内の受容器と同一の幾何学的パタンおよび
間隔に配列されている。例えば、８×１２パタンで中心
間隔が９ｍｍである９６ウェル式マルチアッセイプレー
トにおいては、当該穴１１４は６×１０のパタンで９ｍ
ｍの中心間距離に配列される。
【００８６】さらに、当該穴１１４の大きさは種々に変
えることができる。例えば、内側の１２個の穴４５２の
直径は３ミリメータであり、当該１２個の穴のすぐ周り
の２０個の穴は約２ミリメータの直径を有している。さ
らに次の周りの２８個の穴は約１ミリメータの直径を有
している。なお、当該９６ウェル式マルチアッセイプレ
ートの最外部の３６個の受容器はこれらの穴１１４のい
ずれにも直接に対向していないが、既に述べたように当
該周辺領域まで迅速に加熱できる構成になっている。
えることができる。例えば、内側の１２個の穴４５２の
直径は３ミリメータであり、当該１２個の穴のすぐ周り
の２０個の穴は約２ミリメータの直径を有している。さ
らに次の周りの２８個の穴は約１ミリメータの直径を有
している。なお、当該９６ウェル式マルチアッセイプレ
ートの最外部の３６個の受容器はこれらの穴１１４のい
ずれにも直接に対向していないが、既に述べたように当
該周辺領域まで迅速に加熱できる構成になっている。
【００８７】また、図１６に示されるように、穴１１４
は副加熱後プレナム１１３の上方に位置したバッフル１
３０の部分にも備えられており、この領域内における試
料の計測温度を均一に加熱維持するために作用する。こ
の場合、当該副加熱後プレナム１１３の上方に位置する
穴は３０個ある。なお、これらの穴の直径および相互間
の配置は、図１６に示されるように、検査光検出器８８
に最も近い主加熱後プレナム１１２の上方に位置する３
０個の穴と同一である。
は副加熱後プレナム１１３の上方に位置したバッフル１
３０の部分にも備えられており、この領域内における試
料の計測温度を均一に加熱維持するために作用する。こ
の場合、当該副加熱後プレナム１１３の上方に位置する
穴は３０個ある。なお、これらの穴の直径および相互間
の配置は、図１６に示されるように、検査光検出器８８
に最も近い主加熱後プレナム１１２の上方に位置する３
０個の穴と同一である。
【００８８】而して、統合式の放射加熱領域を形成する
べく配置された放射加熱素子とマルチアッセイプレート
の中央部に加熱空気を集中するように変形された熱分配
バッフルとが共同して放射／対流式加熱手段を構成し、
同加熱手段は図１５において総括的に参照番号４６０で
示され、周囲の影響を概ね除去し、試料上への空気の回
流を減少し、さらに、マルチアッセイプレート１２内の
均一な熱分配をほぼ確実にする。したがって、同アッセ
イプレート中の各試料は所定温度に迅速かつ均一に加熱
されると共に、温度の維持性が向上する。
べく配置された放射加熱素子とマルチアッセイプレート
の中央部に加熱空気を集中するように変形された熱分配
バッフルとが共同して放射／対流式加熱手段を構成し、
同加熱手段は図１５において総括的に参照番号４６０で
示され、周囲の影響を概ね除去し、試料上への空気の回
流を減少し、さらに、マルチアッセイプレート１２内の
均一な熱分配をほぼ確実にする。したがって、同アッセ
イプレート中の各試料は所定温度に迅速かつ均一に加熱
されると共に、温度の維持性が向上する。
【００８９】
【発明の効果】本発明の上記各実施例は８×１２の受容
器マイクロプレートの光学特性分析のための単一計測を
約９秒で実行できる。なお、１２列よりも少ないマルチ
アッセイプレートの場合は、当該時間は比例的に減少す
る。また、試料の光学特性の速度論的変化を決定するた
めに計測処理を連続反復する場合は、当該反復計測間の
間隔は約９秒であり、このような速さは既存の測光装置
では実現しえないものである。また、必要に応じて、当
該計測処理の連続反復に振動ステップ１５６を含むこと
が可能であり、この場合、同ステップは１秒程度に短く
できるので、当該間隔時間を選択的に１０秒に増加する
ことになる。また、当該光学特性計測はユーザにより選
択可能な任意の波長で行うことができ、その間隔は１ナ
ノメータ刻みで、２５０ナノメータから７５０ナノメー
タの範囲に及ぶ。それゆえ、当該多数試料の光学特性に
関するスペクトルが速度論的態様においてモニターする
ことができ、この場合には必要に応じて振動ステップ１
５６を含むことができる。なお、本発明に従う測光装置
により計測できる光学特性には、吸光率、光散乱、蛍光
および燐光が含まれる。
器マイクロプレートの光学特性分析のための単一計測を
約９秒で実行できる。なお、１２列よりも少ないマルチ
アッセイプレートの場合は、当該時間は比例的に減少す
る。また、試料の光学特性の速度論的変化を決定するた
めに計測処理を連続反復する場合は、当該反復計測間の
間隔は約９秒であり、このような速さは既存の測光装置
では実現しえないものである。また、必要に応じて、当
該計測処理の連続反復に振動ステップ１５６を含むこと
が可能であり、この場合、同ステップは１秒程度に短く
できるので、当該間隔時間を選択的に１０秒に増加する
ことになる。また、当該光学特性計測はユーザにより選
択可能な任意の波長で行うことができ、その間隔は１ナ
ノメータ刻みで、２５０ナノメータから７５０ナノメー
タの範囲に及ぶ。それゆえ、当該多数試料の光学特性に
関するスペクトルが速度論的態様においてモニターする
ことができ、この場合には必要に応じて振動ステップ１
５６を含むことができる。なお、本発明に従う測光装置
により計測できる光学特性には、吸光率、光散乱、蛍光
および燐光が含まれる。
【図１】測光装置の主構成要素を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１に示される本発明の好ましい実施態様にお
ける光学システムの概略図である。
ける光学システムの概略図である。
【図３】密閉状態の測光装置の一断面図である。
【図４】図３に示される実施態様の部分的断面かつ部分
的上面図である。
的上面図である。
【図５】本発明の好ましい実施態様に従う電気的概略図
である。
である。
【図６】本発明により実行される計測プロセスに関連す
るタイミング図である。
るタイミング図である。
【図７】本発明の好ましい実施態様のためのパワーアッ
プシーケンスを示すフローチャートである。
プシーケンスを示すフローチャートである。
【図８】本発明の好ましい実施態様に従う一般的な動作
シーケンスを示すフローチャートである。
シーケンスを示すフローチャートである。
【図９】マイクロプレートを用いる本発明の好ましい実
施態様のための計測シーケンスを示すフローチャートで
ある。
施態様のための計測シーケンスを示すフローチャートで
ある。
【図１０】本発明の好ましい実施態様のためのダーク電
流キャリブレーションシーケンスを示すフローチャート
である。
流キャリブレーションシーケンスを示すフローチャート
である。
【図１１】伝送キャリブレーションシーケンスを示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図１２】本発明の好ましい実施態様に従うマルチアッ
セイプレート上の各列についての光学的計測シーケンス
を示すフローチャートである。
セイプレート上の各列についての光学的計測シーケンス
を示すフローチャートである。
【図１３】試料計測シーケンスを示すフローチャートで
ある。
ある。
【図１４】本発明の好ましい実施態様における電気的構
成要素のための最適化シーケンスを示すフローチャート
である。
成要素のための最適化シーケンスを示すフローチャート
である。
【図１５】第２の加熱システムの実施態様を示す測光装
置チャンバーの概略的上面図である。
置チャンバーの概略的上面図である。
【図１６】図１５に示される加熱システムの実施態様に
組み込まれるバッフルの上面図である。
組み込まれるバッフルの上面図である。
【図１７】図１に示される測光装置における光学システ
ムに組み込まれるフィルタホイールの正面図である。
ムに組み込まれるフィルタホイールの正面図である。
１０ 測光装置 １２ マルチアッセイプレート １４ 取得および制御プロセッサ手段 １５ 中央処理ユニット手段 １６ チャンバー手段 ２０ プレートキャリヤ手段 ２０Ａ 振動手段 ２２ 光源手段 ２３ 波長選択手段 ２４ 光分配手段 ２５ プロセッサ手段 ２６ 光検出器手段 ２８ 温度制御手段 ３０ ユーザインタフェイスコンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハワード エイチ． バーニー アメリカ合衆国 97209 オレゴン州 ポ ートランド エヌ．ダブリュー． グリサ ン ナンバー２ビー 1100 (72)発明者 ロジャー エイ． ケイ アメリカ合衆国 94041 カリフォルニア 州 マウンテン ヴィュー ロレト スト リート 344 (72)発明者 デイヴィッド ジー． オグル アメリカ合衆国 95024 カリフォルニア 州 ロス アルトス ノエル ドライブ 1982 (72)発明者 マイケル エム． レイスィー アメリカ合衆国 95005 カリフォルニア 州 ベン ロモンド レイルロード アヴ ェニュー 330 (72)発明者 カルヴィン ワイ． チョウ アメリカ合衆国 94025 カリフォルニア 州 ポートラ ヴァリー サンタ マリア 45 (72)発明者 キンバリー エル． クロフォード アメリカ合衆国 95014 カリフォルニア 州 カパティーノ ロザリオ アヴェニュ ー 2158 (72)発明者 ディーン ジー． ハフマン アメリカ合衆国 94010 カリフォルニア 州 ヒルスボロー バッキンガム ウェイ 1350
Claims (37)
- 【請求項１】 マルチアッセイプレート中の複数の受容
器中に収容された複数の試料の光学特性を計測するため
の測光装置において、 第１の波長領域を有する第１の光を発する励起光源と、 当該励起光源から受け取った第１の光に応じて当該第１
の波長領域内の所定の第２波長領域を有する第２の光を
生ずるモノクロメータと、 当該モノクロメータに連結してこれから第１の方向に延
出し、当該第２の光を受け取って該第１方向に検査光を
伝送する光ファイバーと、 第２の方向に延出する一連の分配光ファイバーを含む分
配ネットワークと、 前記光ファイバーからの検査光を受け取って当該検査光
を該第２方向に伝送して当該分配光ファイバーの各々に
連続的に供給するローター手段とを備え、 該ローター手段が前記一連の分配光ファイバーにそれぞ
れ対応する一連のミラー位置において動作可能な少なく
とも１つの第１のミラー含んでおり、 該分配ネットワークが前記検査光を前記受容器に概ね垂
直かつ連続的に透過させて、当該検査光が前記試料の各
々の作用を受けることにより複数の計測用光フラッシュ
を生成し、さらに、 当該計測用光フラッシュを受け取り、これに応じて、当
該試料の各々に対応する光学特性を表現する複数の電気
的計測出力信号をそれぞれ供給する光検出器手段とを備
えていることを特徴とする測光装置。 - 【請求項２】 前記ローター手段が第２のミラーと、前
記第１ミラーと当該第２ミラーとの間に介在するレンズ
とを備えていることを特徴とする請求項１に記載の測光
装置。 - 【請求項３】 前記第１ミラー、前記第２ミラーおよび
前記レンズが機械的に連携して相互に協調移動すること
を特徴とする請求項２に記載の測光装置。 - 【請求項４】 さらに、前記マルチアッセイプレートを
断続的に進行かつ振動するためのプレートキャリヤ手段
と、 前記のローター手段、モノクロメータ、光検出器および
当該プレートキャリヤ手段に連結して、当該プレートキ
ャリヤ手段を制御可能に動作させ、前記ミラー位置を介
して当該ローター手段を制御可能にシーケンス動作さ
せ、前記第２の所定波長領域を選択し、さらに、前記電
気的計測出力信号を分析するためのマイクロプロセッサ
手段とを備えることを特徴とする請求項３に記載の測光
装置。 - 【請求項５】 さらに、前記マルチアッセイプレートを
ほぼ封入状態に囲んで計測中に前記試料の温度を調節す
るための温度制御手段を備えることを特徴とする請求項
１に記載の測光装置。 - 【請求項６】 前記温度制御手段が加熱空気流を発生す
る供給手段と、前記マルチアッセイプレートと当該供給
手段との間に介在して当該加熱空気を当該マルチアッセ
イプレート上に所定パターンで分配するためのバッフル
とを備えることを特徴とする請求項５に記載の測光装
置。 - 【請求項７】 前記供給手段がヒーターと当該ヒーター
上で周囲空気を移動して前記加熱空気流を生成するため
のファンとを備え、前記バッフルが中央孔および周辺孔
を有しており、当該中央孔が当該周辺孔よりも大きいこ
とを特徴とする請求項６に記載の測光装置。 - 【請求項８】 さらに、前記マルチアッセイプレートを
断続的に進行かつ振動するためのプレートキャリヤ手段
と、 前記のローター手段、モノクロメータ、光検出器および
当該プレートキャリヤ手段に連結して、当該プレートキ
ャリヤ手段を制御可能に動作させ、前記ミラー位置を介
して当該ローター手段を制御可能にシーケンス動作さ
せ、前記第２の所定波長領域を選択し、さらに、前記電
気的計測出力信号を分析するためのマイクロプロセッサ
手段とを備えることを特徴とする請求項７に記載の測光
装置。 - 【請求項９】 前記励起光源が一連の第１光フラッシュ
を供給するフラッシュランプを備えており、前記検査光
はこれらに対応する一連の検査光フラッシュを含むこと
を特徴とする請求項１に記載の測光装置。 - 【請求項１０】 さらに、前記検査光フラッシュの各々
の一部を転向して対応する一連の基準光フラッシュを生
成して当該基準光フラッシュを前記光検出器手段に送る
ためのビームスプリッタ手段を備えることを特徴とする
請求項９に記載の測光装置。 - 【請求項１１】 前記ビームスプリッタ手段は前記光フ
ァイバーと前記ローター手段との間に介在することを特
徴とする請求項１０に記載の測光装置。 - 【請求項１２】 さらに、前記マルチアッセイプレート
をほぼ封入状態に囲んで計測中に前記試料の温度を調節
するための温度制御手段を備え、当該温度制御手段は加
熱空気流を発生するための供給手段と、該マルチアッセ
イプレートと供給手段との間に介在するバッフルとを有
し、当該バッフルは該加熱空気をマルチアッセイプレー
トおよび前記受容器に向けて送るための中央孔と周辺孔
とを有しており、さらに、 前記の励起光源、ローター手段、光検出器および温度制
御手段に連結して、前記フラッシュランプを制御可能に
動作させ、前記ミラー位置を介して当該ローター手段を
制御可能にシーケンス動作させ、前記基準光フラッシュ
に基づいて前記出力信号をそれぞれ分析し、さらに、前
記供給手段を制御可能に動作させるためのマイクロプロ
セッサ手段とを備えることを特徴とする請求項１１に記
載の測光装置。 - 【請求項１３】 前記第１波長領域は連続体であり、前
記モノクロメータが前記光ファイバーによる受光に対応
する第２波長領域を与える規則的回折格子およびスリッ
ト手段を備えていることを特徴とする請求項１に記載の
測光装置。 - 【請求項１４】 前記励起光源は一連の第１光フラッシ
ュを供給するフラッシュランプを備えており、前記検査
光がこれらに対応する一連の検査光フラッシュを含んで
おり、前記光検出手段が基準光検出器を備えていること
を特徴とする請求項１３に記載の測光装置。 - 【請求項１５】 さらに、前記検査光フラッシュの各々
の一部を一連の電気基準信号として前記基準光検出器に
転向するためのスプリッタ手段を備えることを特徴とす
る請求項１４に記載の測光装置。 - 【請求項１６】 さらに、前記アッセイプレートを断続
的に進行かつ振動するためのプレートキャリヤ手段と、 前記のローター手段、モノクロメータ、光検出手段およ
び当該プレートキャリヤに連結して、該プレートキャリ
ヤ手段を制御可能に動作させ、前記ミラー位置を介して
該ローター手段を制御可能にシーケンス動作させ、前記
第２波長領域を設定し、さらに、前記電気基準信号に基
づいて前記電気計測出力信号を分析するためのマイクロ
プロセッサ手段とを備えることを特徴とする請求項１５
に記載の測光装置。 - 【請求項１７】 マルチアッセイプレートと第１の方向
に供給源から光を伝送するための光ファイバーとを用い
る方式の測光装置において、 第２の方向に延出する一連の分配光ファイバーと、 一連の動作位置を有する少なくとも１つの第１のミラー
を備えて、前記光ファイバーから前記光を受け取って当
該光を該分配光ファイバーの各々に沿って連続的に伝送
するローター手段とを備え、当該動作位置がそれぞれ該
分配光ファイバーに対応していることを特徴とする改
善。 - 【請求項１８】 さらに、前記第１ミラーに関連して固
定された第２ミラーと、当該第１ミラーおよび第２ミラ
ーの間に介在しかつこれらに関連して固定されたレンズ
とを備えることを特徴とする請求項１７に記載の改善。 - 【請求項１９】 マルチアッセイプレートの受容器中に
収容される多数試料の光学特性を計測するための測光装
置において、 加熱後プレナムと、当該マルチアッセイプレートを概ね
囲むマルチアッセイプレートコンパートメントとを構成
する室壁部分を有するチャンバー手段と、 当該マルチアッセイプレートコンパートメントに加熱空
気流を送るための供給手段を備え、該供給手段は前記マ
ルチアッセイプレートと前記受容器の大半に加熱空気を
送って前記試料をほぼ均一速度で加熱しかつ当該試料を
ほぼ均一温度に保つための複数の穴を有するバッフルを
備えていることを特徴とする改善された温度制御手段。 - 【請求項２０】 さらに、前記マルチアッセイプレート
コンパートメントを加熱するための壁部加熱手段を備え
ることを特徴とする請求項１９に記載の改善された温度
制御手段。 - 【請求項２１】 前記壁部加熱手段が所定の領域パタ−
ンで前記室壁部分上に配され、当該室壁部分を加熱しか
つ前記ほぼ均一の温度を維持するべく共同作用する複数
の抵抗性加熱素子を備えることを特徴とする請求項２０
に記載の改善された温度制御手段。 - 【請求項２２】 前記供給手段がヒーターと、当該ヒー
ター上の周囲空気を前記加熱後プレナムに移動するため
のファンとを備えており、前記バッフルが該加熱後プレ
ナムと前記マルチアッセイプレートコンパートメントと
の間に介在して一連の中央孔と一連の周辺孔とを備えて
おり、当該供給手段および前記壁部加熱手段が共同して
温度／湿度調整器を構成することを特徴とする請求項１
９に記載の改善された温度制御手段。 - 【請求項２３】 前記中央孔が前記周辺孔よりも大きい
ことを特徴とする請求項２２に記載の改善された温度制
御手段。 - 【請求項２４】 さらに、前記温度／湿度調整器を制御
可能に動作させるマイクロプロセッサ手段を備えること
を特徴とする請求項２２に記載の改善された温度制御手
段。 - 【請求項２５】 複数の受容器中に複数の試料を収容す
るマルチアッセイプレートを用いる方式の測光装置にお
いて、 フラッシュランプと、 当該フラッシュランプに応じて少なくとも２５０ナノメ
ータないし７５０ナノメータの範囲内の所定波長を有す
る検査光を構成する一連の検査光フラッシュを生じるモ
ノクロメータと、 当該検査光を受光および伝送するための光ファイバー
と、 当該光ファイバーに連結して前記複数試料を透過する検
査光フラッシュを分配する分配手段と、 当該第１光ファイバーと分配手段との間に介在して該検
査光フラッシュの各々をサンプリングし、かつこれらに
関連する基準値を光検出手段に供給するためのスプリッ
タ手段とを備えることを特徴とする前記受容器に連続的
かつほぼ垂直に送られて当該光検出手段に受けられる検
査光を発生するための改善された手段。 - 【請求項２６】 前記フラッシュランプがキセノンラン
プであることを特徴とする請求項２４に記載の改善され
た手段。 - 【請求項２７】 前記検査光が連続体であり、前記モノ
クロメータが前記光ファイバーにより受光される当該連
続体の所定部分を通過させるスリット手段を備えること
を特徴とする請求項２５に記載の測光装置。 - 【請求項２８】 マルチアッセイプレート上に配列され
た複数の試料部位中に収容される複数試料の光学パラメ
ータを計測するための測光装置において、 当該試料部位の８個以上の部位に検査光を供給するため
の励起光源と、 当該検査光を当該試料部位の２個以上の部位にほぼ垂直
に透過させるための一連の分配光ファイバーを備える光
分配ネットワークと、 当該８個以上の試料部位から発する光を受け取って当該
２個以上の試料を透過した検査光の強度に関連する電気
信号を供給する複数の光検出器と、 当該２個以上の試料部位における光学パラメータの少な
くとも２種の連続する計測処理の各々の前に所定時間だ
け前記マルチアッセイプレートを反復振動させるための
振動手段と、 当該電気信号の速度論的分析を行う手段とを備え、 さらに、当該測光装置における改善部分が、 前記励起光源から励起光を受け取って、その平均波長に
相当する所定波長帯域部分を前記光分配ネットワークに
伝送するためのモノクロメータ手段と、 当該モノクロメータ手段を該光分配ネットワークに連結
して前記８個以上の試料部位の各々に送られる検査光の
平均波長の変動を１ナノメータよりも小さくする連結手
段とを備えることを特徴とする測光装置。 - 【請求項２９】 前記平均波長が２５０ないし７５０ナ
ノメータの間であることを特徴とする請求項２８に記載
の改善。 - 【請求項３０】 前記モノクロメータ手段が回折格子を
備えていることを特徴とする請求項２９に記載の改善。 - 【請求項３１】 前記モノクロメータ手段がさらに発光
スリットを備えており、前記光分配ネットワークは当該
発光スリットに連結する複数の光ファイバーを備えるこ
とを特徴とする請求項３０に記載の改善。 - 【請求項３２】 前記測光装置が一連の基準光検出器を
備えており、前記光ファイバーの各々が当該光検出器の
一にそれぞれ付随していることを特徴とする請求項３１
に記載の改善。 - 【請求項３３】 前記連結手段が前記複数の光ファイバ
ーの各々に光を連続的に分配するためのローター手段を
備えていることを特徴とする請求項３０に記載の改善。 - 【請求項３４】 さらに、前記マルチアッセイプレート
をほぼ封じて前記光学パラメータの計測中に前記試料を
ほぼ均一な所定温度に保つためのマルチアッセイプレー
トコンパートメントを備えることを特徴とする請求項３
０に記載の改善。 - 【請求項３５】 さらに、加熱空気流を前記マルチアッ
セイプレートに供給するための温度制御手段を備えるこ
とを特徴とする請求項３４に記載の改善。 - 【請求項３６】 前記温度制御手段が、 前記加熱空気を供給するための空気加熱手段と、 前記加熱空気を圧縮するための空気圧縮手段と、 前記加熱圧縮空気を貯留するためのプレナムと、 当該プレナムとマルチアッセイプレートとの間に介在
し、当該加熱圧縮空気をマルチアッセイプレート上に所
定パタ−ンで分配するバッフルとを備えることを特徴と
する請求項３５に記載の改善。 - 【請求項３７】 前記フラッシュランプがキセノンフラ
ッシュランプであることを特徴とする請求項３６に記載
の改善。
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| CA (1) | CA2146684A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003021593A (ja) * | 2002-05-20 | 2003-01-24 | Aloka Co Ltd | 検体検査装置 |
| JP2005233938A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-09-02 | Sysmex Corp | 核酸検出装置 |
Families Citing this family (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19615957A1 (de) * | 1996-04-22 | 1997-10-23 | Hans Joachim Bruins | Verteilervorrichtung |
| US6020141A (en) * | 1996-05-09 | 2000-02-01 | 3-Dimensional Pharmaceuticals, Inc. | Microplate thermal shift assay for ligand development and multi-variable protein chemistry optimization |
| GB9621122D0 (en) * | 1996-10-10 | 1996-11-27 | Cambridge Imaging Ltd | Improvements in and relating to methods and apparatus for assay analysis |
| US6071748A (en) * | 1997-07-16 | 2000-06-06 | Ljl Biosystems, Inc. | Light detection device |
| US6097025A (en) * | 1997-10-31 | 2000-08-01 | Ljl Biosystems, Inc. | Light detection device having an optical-path switching mechanism |
| US6469311B1 (en) | 1997-07-16 | 2002-10-22 | Molecular Devices Corporation | Detection device for light transmitted from a sensed volume |
| WO2000050877A1 (en) | 1999-02-23 | 2000-08-31 | Ljl Biosystems, Inc. | Frequency-domain light detection device |
| US6825921B1 (en) | 1999-11-10 | 2004-11-30 | Molecular Devices Corporation | Multi-mode light detection system |
| WO2000006991A2 (en) | 1998-07-27 | 2000-02-10 | Ljl Biosystems, Inc. | Apparatus and methods for spectroscopic measurements |
| WO2000006990A2 (en) | 1998-07-27 | 2000-02-10 | Ljl Biosystems, Inc. | Apparatus and methods for time-resolved spectroscopic measurements |
| US6297018B1 (en) | 1998-04-17 | 2001-10-02 | Ljl Biosystems, Inc. | Methods and apparatus for detecting nucleic acid polymorphisms |
| US6326605B1 (en) | 1998-02-20 | 2001-12-04 | Ljl Biosystems, Inc. | Broad range light detection system |
| US6576476B1 (en) | 1998-09-02 | 2003-06-10 | Ljl Biosystems, Inc. | Chemiluminescence detection method and device |
| DK1030678T3 (da) | 1997-11-12 | 2006-12-11 | Johnson & Johnson Pharm Res | Fremgangsmåde med höj kapacitet til funktionel klassificering af proteiner der identificeres under anvendelse af en genomikfremgangsmåde |
| US6349160B2 (en) | 1998-07-24 | 2002-02-19 | Aurora Biosciences Corporation | Detector and screening device for ion channels |
| US6608671B2 (en) * | 1998-07-17 | 2003-08-19 | Vertex Pharmaceuticals (San Diego) Llc | Detector and screening device for ion channels |
| US6569631B1 (en) * | 1998-11-12 | 2003-05-27 | 3-Dimensional Pharmaceuticals, Inc. | Microplate thermal shift assay for ligand development using 5-(4″dimethylaminophenyl)-2-(4′-phenyl)oxazole derivative fluorescent dyes |
| US6496260B1 (en) * | 1998-12-23 | 2002-12-17 | Molecular Devices Corp. | Vertical-beam photometer for determination of light absorption pathlength |
| US7248667B2 (en) * | 1999-05-04 | 2007-07-24 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system with a grating element |
| US20050279949A1 (en) * | 1999-05-17 | 2005-12-22 | Applera Corporation | Temperature control for light-emitting diode stabilization |
| US7423750B2 (en) * | 2001-11-29 | 2008-09-09 | Applera Corporation | Configurations, systems, and methods for optical scanning with at least one first relative angular motion and at least one second angular motion or at least one linear motion |
| US6621574B1 (en) * | 2000-05-25 | 2003-09-16 | Inphotonics, Inc. | Dual function safety and calibration accessory for raman and other spectroscopic sampling |
| US6563581B1 (en) * | 2000-07-14 | 2003-05-13 | Applera Corporation | Scanning system and method for scanning a plurality of samples |
| US6661512B2 (en) | 2002-02-13 | 2003-12-09 | Varian, Inc. | Sample analysis system with fiber optics and related method |
| US6611334B1 (en) | 2002-02-14 | 2003-08-26 | Varian, Inc. | Sample analysis system with fiber optics and related method |
| US6950568B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-09-27 | Varian, Inc. | Fiber-optic channel selecting apparatus |
| US6496618B1 (en) | 2002-02-14 | 2002-12-17 | Varian, Inc. | Fiber-optic channel selecting apparatus |
| US20040072356A1 (en) * | 2002-02-20 | 2004-04-15 | Guillermo Senisterra | Methods and apparatuses for characterizing stability of biological molecules |
| US20050180013A1 (en) * | 2002-03-21 | 2005-08-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Grating element for filtering wavelengths < 100 nm |
| AU2003900377A0 (en) * | 2003-01-30 | 2003-02-13 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Optical assembly |
| US6859581B1 (en) | 2003-04-02 | 2005-02-22 | Process Instruments, Inc. | Optical fiber multiplexer for Raman spectroscopy |
| WO2005016527A2 (en) * | 2003-08-04 | 2005-02-24 | Irm, Llc | Non-pressure based fluid transfer in assay detection systems and related methods |
| US20050118060A1 (en) * | 2003-08-04 | 2005-06-02 | Irm, Llc | Multi-well container positioning devices and related systems and methods |
| US20050164375A1 (en) * | 2004-01-23 | 2005-07-28 | Sysmex Corporation | Nucleic acid detection apparatus |
| DE102004017039A1 (de) * | 2004-04-02 | 2005-11-03 | Rwth Aachen | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Prozessparametern von Reaktionsflüssigkeiten in mehreren geschüttelten Mikroreaktoren |
| US20050250173A1 (en) * | 2004-05-10 | 2005-11-10 | Davis Charles Q | Detection device, components of a detection device, and methods associated therewith |
| EP2701194B1 (en) | 2004-06-07 | 2018-08-29 | Fluidigm Corporation | Method and apparatus for imaging a microfluidic device under temperature control |
| US20050287040A1 (en) * | 2004-06-29 | 2005-12-29 | Molecular Devices Corporation | Fluorescence validation plate |
| US7267546B2 (en) * | 2004-08-09 | 2007-09-11 | Ultradent Products, Inc. | Light meter for detecting and measuring intensity of two or more wavelengths of light |
| CA2601704A1 (en) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Irm Llc | Compound profiling devices, systems, and related methods |
| US7595473B2 (en) * | 2005-08-22 | 2009-09-29 | Tufts University | Method and system of array imaging |
| US20070046939A1 (en) * | 2005-08-23 | 2007-03-01 | Tsai George P | Methods and systems for positioning sample containing assemblies in an optical device |
| US7733488B1 (en) * | 2007-01-26 | 2010-06-08 | Revolution Optics, Llc | Compact multi-wavelength optical reader and method of acquiring optical data on clustered assay samples using differing-wavelength light sources |
| US7808641B2 (en) * | 2007-04-13 | 2010-10-05 | C Technologies Inc. | Interactive variable pathlength device |
| US7684955B2 (en) * | 2007-05-16 | 2010-03-23 | Raytheon Company | Noncontinuous resonant position feedback system |
| US9006684B2 (en) | 2007-10-31 | 2015-04-14 | Perkinelmer Singapore Pte. Ltd. | Sample measurement system |
| FI20096021A0 (fi) | 2009-10-06 | 2009-10-06 | Wallac Oy | Optinen mittausinstrumentti |
| US8735803B2 (en) * | 2009-11-06 | 2014-05-27 | Precision Energy Services, Inc | Multi-channel detector assembly for downhole spectroscopy |
| US8164050B2 (en) | 2009-11-06 | 2012-04-24 | Precision Energy Services, Inc. | Multi-channel source assembly for downhole spectroscopy |
| US8436296B2 (en) * | 2009-11-06 | 2013-05-07 | Precision Energy Services, Inc. | Filter wheel assembly for downhole spectroscopy |
| US8988684B1 (en) * | 2011-09-08 | 2015-03-24 | Lawrence Livermore National Security, Llc | System and method for measuring fluorescence of a sample |
| US8808643B1 (en) | 2011-09-08 | 2014-08-19 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Fluidics platform and method for sample preparation and analysis |
| US9372135B1 (en) | 2011-09-08 | 2016-06-21 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Fluidics platform and method for sample preparation |
| CN106596405A (zh) * | 2016-12-22 | 2017-04-26 | 江苏国泰环境监测有限公司常熟分公司 | 一种用于测量水中水溶性蛋白浓度的测量装置 |
| US10281329B2 (en) * | 2017-06-14 | 2019-05-07 | Simmonds Precision Products, Inc. | Method and system for fast determination of the wavelength of a light beam |
| WO2021126160A1 (en) | 2019-12-16 | 2021-06-24 | Halliburton Energy Services, Inc. | Radiometric modeling for optical identification of sample materials |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5766361A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Olympus Optical Co Ltd | Plate-shaped apparatus for judging cohesion of particle |
| JPS5879263U (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-28 | オリンパス光学工業株式会社 | 粒子パタ−ン判定容器 |
| US4626684A (en) * | 1983-07-13 | 1986-12-02 | Landa Isaac J | Rapid and automatic fluorescence immunoassay analyzer for multiple micro-samples |
| JPS62115348A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-05-27 | モレキユラ− デバイスイズ コ−ポレイシヨン | 多ビ−ムによる光度測定装置および測定方法 |
| JPS62188938A (ja) * | 1974-05-08 | 1987-08-18 | ナシヨナル・リサ−チ・デイベロツプメント・コ−ポレ−シヨン | 試料分析装置 |
| JPS62201047U (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-22 | ||
| JPH05157684A (ja) * | 1991-12-02 | 1993-06-25 | Seikagaku Kogyo Co Ltd | 吸光光度計 |
| JPH0579450U (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | 株式会社高岳製作所 | 光ファイバ伝送路型センサ |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2449266C2 (de) * | 1974-10-16 | 1978-08-24 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verteilvorrichtung für optische Signale |
| JPS56111808A (en) * | 1980-02-08 | 1981-09-03 | Mitsubishi Electric Corp | Rotary optical switch |
| US4545680A (en) * | 1983-04-08 | 1985-10-08 | Allied Corporation | Spectroanalysis system |
| JPS6039533A (ja) * | 1983-08-12 | 1985-03-01 | Japan Spectroscopic Co | マイクロプレ−ト分光分析装置 |
| FI833076A0 (fi) * | 1983-08-30 | 1983-08-30 | Labsystems Oy | Anordning foer maetning av uppvaermbara vaetskeprov |
| US5112134A (en) * | 1984-03-01 | 1992-05-12 | Molecular Devices Corporation | Single source multi-site photometric measurement system |
| US4591550A (en) * | 1984-03-01 | 1986-05-27 | Molecular Devices Corporation | Device having photoresponsive electrode for determining analytes including ligands and antibodies |
| US4968148A (en) * | 1984-03-01 | 1990-11-06 | Molecular Devices Corporation | Single source multi-site photometric measurement system |
| CA1247398A (en) * | 1984-06-29 | 1988-12-28 | Daniel J. Meier | Automatic monochromator-testing system |
| FR2569864B1 (fr) * | 1984-09-04 | 1987-01-30 | Commissariat Energie Atomique | Equipement d'emission et de distribution de lumiere par fibres optiques, notamment pour le controle spectrophotometrique en ligne a l'aide d'un spectrophotometre double faisceau |
| DE3439905A1 (de) * | 1984-10-31 | 1986-04-30 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Drehschalter fuer lichtwellenleiter |
| JP2546701B2 (ja) * | 1988-01-18 | 1996-10-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 血液等の供給方法 |
| DE3938565A1 (de) * | 1989-11-21 | 1991-05-23 | Behringwerke Ag | Inkubationseinrichtung fuer mikrotitrationsplatten |
| US5002392A (en) * | 1989-12-01 | 1991-03-26 | Akzo N.V. | Multichannel optical monitoring system |
| US5304492A (en) * | 1991-11-26 | 1994-04-19 | The State Of Oregon Acting By And Through The State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University | Spectrophotometer for chemical analyses of fluids |
-
1994
- 1994-04-15 US US08/228,436 patent/US5557398A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-04-11 CA CA002146684A patent/CA2146684A1/en not_active Abandoned
- 1995-04-13 EP EP95302485A patent/EP0677732A3/en not_active Withdrawn
- 1995-04-17 JP JP7090948A patent/JPH0882594A/ja active Pending
-
1997
- 1997-09-15 US US08/929,552 patent/US6151111A/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-10-07 US US10/266,062 patent/US6693709B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62188938A (ja) * | 1974-05-08 | 1987-08-18 | ナシヨナル・リサ−チ・デイベロツプメント・コ−ポレ−シヨン | 試料分析装置 |
| JPS5766361A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Olympus Optical Co Ltd | Plate-shaped apparatus for judging cohesion of particle |
| JPS5879263U (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-28 | オリンパス光学工業株式会社 | 粒子パタ−ン判定容器 |
| US4626684A (en) * | 1983-07-13 | 1986-12-02 | Landa Isaac J | Rapid and automatic fluorescence immunoassay analyzer for multiple micro-samples |
| JPS62115348A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-05-27 | モレキユラ− デバイスイズ コ−ポレイシヨン | 多ビ−ムによる光度測定装置および測定方法 |
| JPS62201047U (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-22 | ||
| JPH05157684A (ja) * | 1991-12-02 | 1993-06-25 | Seikagaku Kogyo Co Ltd | 吸光光度計 |
| JPH0579450U (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | 株式会社高岳製作所 | 光ファイバ伝送路型センサ |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003021593A (ja) * | 2002-05-20 | 2003-01-24 | Aloka Co Ltd | 検体検査装置 |
| JP2005233938A (ja) * | 2004-01-23 | 2005-09-02 | Sysmex Corp | 核酸検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6693709B2 (en) | 2004-02-17 |
| EP0677732A2 (en) | 1995-10-18 |
| US6151111A (en) | 2000-11-21 |
| US5557398A (en) | 1996-09-17 |
| US20030081207A1 (en) | 2003-05-01 |
| CA2146684A1 (en) | 1995-10-16 |
| EP0677732A3 (en) | 1996-06-12 |
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| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0882594A (ja) | 測光装置 | |
| US5850623A (en) | Method for standardizing raman spectrometers to obtain stable and transferable calibrations | |
| CN100520353C (zh) | 具有全谱定标、监测和控制的加速老化测试设备 | |
| FI77736B (fi) | Foerfarande foer reglering av straolkaella och reglerbar straolkaella. | |
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