JPH0862631A - 粘性液体塗布方法 - Google Patents

粘性液体塗布方法

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JPH0862631A
JPH0862631A JP19408594A JP19408594A JPH0862631A JP H0862631 A JPH0862631 A JP H0862631A JP 19408594 A JP19408594 A JP 19408594A JP 19408594 A JP19408594 A JP 19408594A JP H0862631 A JPH0862631 A JP H0862631A
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JP
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substrate
viscous liquid
resist
nozzle
glass substrate
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JP19408594A
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Rei Otsuka
玲 大塚
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 大版基板の塗布において、粘性液体の滴下量
を減らして、基板全面に均一な膜厚で粘性液体を塗布す
る塗布方法を提供する。 【構成】 レジスト2をガラス基板4に100μm程度
の厚みで塗布した後、ステージ3を回転させて、均一で
1〜3μmまでの薄い膜厚のレジスト2を塗布する。こ
れにより、基板1枚当たりに使用する粘性液体の量の削
減を図り、未使用で廃棄する量を削減することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、微細加工分野、あるい
は半導体分野に用いる粘性物を基板に均一に塗布する塗
布方法に関するもので、特に大型基板を有する液晶技術
のレジスト材や配向膜の塗布方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、非晶質シリコン(以下a−Siと
略す)を用いた薄膜トランジスタ(以下TFTと略す)
アレーは低温で大面積に容易に作成することができ、安
定性も優れていることから、液晶表示用基板やイメージ
センサへの応用が積極的に行われている。TFTアレー
を形成するためには、大きく分けて、成膜、フォト、エ
ッチングの3つの工程があり、それを繰り返し行ってい
く。そのうちのフォトリソグラフィー技術に関しては、
近年、顕著な進歩があり、特に露光機は製品の信頼性、
再現性を高めるような工夫がなされている。ところが、
従来の塗布システムにおいては、半導体分野の域を出て
いず、基板が四角形にも関わらず、面内を均一に塗布す
ることを重点におきすぎて、スピンコーターなどのレジ
ストを大量に使ったシステムを改良する技術は進歩して
いない。
【0003】従来の液晶技術の塗布装置は、液晶用基板
のサイズが大きく変化しながら、ユーザーごとに違うた
めに、要求やコスト等を考え、スピンコーターをメイン
にした技術開発を行っており、面内均一性の維持や露光
機の性能等のプロセスを考えた膜厚のために、どうして
もレジスト量を無視した仕様にならざるを得ず、使用量
の99%を廃棄する状況になっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな塗布装置では、液晶パネルの価格が年々下がる方向
に進んでいることから、レジストや配向膜の使用量を下
げる必要はあるが、TFT構造のアレー基板は凹凸が激
しく塗りムラが生じやすいので、パネルの品質にかかわ
るために容易には実施できない。
【0005】また、現在の塗布装置の種類として大きく
分けて2種類がある。1つは、スピンコーターであり、
これはレジストや配向膜の性能から考え、基板の大きさ
を300×400mm2として算出すると、使用量は4
0cc/plate以上で、そのうち機能として使用さ
れる量は、0.4cc/plate以下である。残り
は、蒸発するか廃液するかであり、環境問題によって廃
液の処理に対しても多大なコストをかけなければいけな
い。また、装置のメンテ方法についても特殊なモードを
付加させるか、あるいはある時期が来ればオーバーホー
ルを行うかを考慮しなければならない。
【0006】もう1つは、ロールコータであり、これは
STN液晶のようなアレープロセスの平坦な基板の上に
塗布する場合のみに用いられていて、現在の技術の進歩
で20μmの厚さまで制御できるようになってきたが、
0.1〜0.2μm/μmぐらいの段差(傾斜)がある
基板において既に塗布ムラが発生し、現段階でのロール
コータは均一な塗布を行う技術には達していない。ま
た、膜厚を1μmまで抑え込むまでにはまだまだ多大の
技術革新がなければ難しいと考えられる。
【0007】本発明は上記問題点に鑑み、1回のレジス
トや配向膜の使用量を6cc程度にして、使用効率を格
段にアップさせ、使用量の低減と廃液量の削減を大幅に
行うものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明は、ローラー表面上に粘性液体を塗布し、そのロ
ーラーを基板に押し当てながら、前記粘性液体を基板に
塗布した後、前記基板を300rpm以上の回転数で回
転させることを特徴とする粘性液体塗布方法である。
【0009】また、本発明は、粘性液体を溜めている槽
に基板のパターン形成面を浸漬した後、前記基板を前記
槽内から離すとともに、前記粘性液体の溶媒がすべて蒸
発する前に前記基板のパターン形成面に窒素流を吹き付
けながら前記基板を300rpm以上の回転数で回転さ
せる粘性液体塗布方法である。
【0010】また、本発明は、粘性液体を溜めている槽
に基板パターン形成面を浸漬した後、前記基板の横斜め
上方向から窒素流を一方向に向かって噴射させ、前記基
板を浮上させるとともに、前記基板を浮上させたまま、
他方の一方向から窒素流を噴射させて前記粘性液体膜厚
を制御する粘性液体塗布方法である。
【0011】さらに、本発明は、鉛直方向より45°か
ら90°までの間の角度で粘性液体を噴射するノズル
と、前記ノズルとの間に100μmから10mmの間隔
をあけて基板を前記ノズルから前記粘性液体を噴出する
方向と反対側に5mm/secから200mm/sec
の速度で進める搬送系とを有し、前記ノズルから前記粘
性液体を噴出せしめ、前記基板に塗布する粘性液体塗布
方法である。
【0012】
【作用】従来の方法のように、レジストを基板に垂らす
方法と違い、レジストや配向膜をはじめから基板のパタ
ーン形成部だけに薄く塗布するか、あるいは、レジスト
や配向膜を溜めている槽に基板のパターン形成面を浸漬
させることによって、レジストや配向膜の面内均一性も
維持でき、未使用のまま捨てる量も格段に少なくてす
み、製品コストの低減と装置のメンテナンスサイクルを
伸ばすことができるとともに、環境問題対策のための設
備投資の削減を図ることができる。
【0013】
【実施例】
(実施例1)以下本発明の一実施例の塗布方法につい
て、図1の図面を参照しながら説明する。図1におい
て、1はローラー、2はEL(乳酸を主成分とした有機
溶媒)を溶媒としたレジストで、あらかじめ50μm程
度の厚みでフィルムの間に注入されており、ローラー1
に付着させるときに、フィルムを剥がしレジスト2を露
出させてローラー1に付着させるものである。3は基板
を固定し基板の中心を含んだ垂線を中心軸として回転さ
せる機能をもったステージ、4はTFTを形成する30
0×400mm2ガラス基板である。
【0014】図1(A)はレジスト充填工程で、ステー
ジ3から十分離れた所でローラー1にレジスト2を付着
させる工程であり、そのときのレジスト膜厚は50μm
程度で均一にし、6ccのレジスト量となる。そして、
ガラス基板4は、TFT構造を形成するのに必要な膜
(例えば、iTO膜、Cr膜、Al膜、SiN膜、a−
Si膜等)が成膜されているか、あるいはそれらの膜が
パターン形成された後に違う膜を全面に成膜されている
表面にレジスト2が密着できやすいように密着増強材を
十分に塗られている。
【0015】次に、図1(B)は塗布工程であり、ステ
ージ3にガラス基板4を固定させ、ローラー1をガラス
基板4上で回転させ、レジスト2を転写させる工程であ
る。このとき、ローラー1にはメモリー機能があり、ガ
ラス基板4の端から10mmの位置を記憶させて出発点
で塗布開始し、終点でローラー1の回転を止め、図1
(A)の工程にあるローラー1の位置に戻る動作を行
う。
【0016】図1(C)はスピン工程であり、図1
(B)の工程の後でレジスト2が乾燥しない前にステー
ジ3が300rpm以上の自転でガラス基板4を水平に
回転させることにより、図1(B)の工程でほぼ均一に
レジスト膜厚50μmに塗布したレジスト2を1から3
μmにまで薄くする工程である。このとき、レジスト2
を乾燥させないようにするためには、図1(C)の工程
が始まるまで溶剤で環境を保持したり、従来より蒸発し
にくいELをレジスト溶媒とするなどの工夫を行ってい
る。また、スピンコートは、遠心力と周辺気流によって
レジスト膜厚を制御するため、レジスト粘度が10cP
程度であれば、回転数を300rpm以上にしなければ
3μm以下の膜厚は確保できないし、均一性に対しても
保証できない。また、レジスト粘度を10cP程度なけ
れば、ローラーや部材間に塗布しきれずに自重に負けて
コントロールしにくい。
【0017】なお、本実施例では、ELを溶媒としたレ
ジストと定義しているが、レジストでなくても、図1
(A)の工程のときに50μm程度に吸い付けられ、図
1(C)の工程におけるスピンで1から3μmに薄く形
成させるような粘性液体であれば溶媒溶質の種類を問わ
ずに本発明と同様に適用することができる。そして、図
1(B)の工程の後に図1(C)の工程を行っている
が、レジスト2の溶媒が蒸発してしまうのを防ぐために
雰囲気を一度溶媒蒸気に満たしてから図1(C)の工程
を行ってもよい。また、ローラー1にレジスト2を塗布
しているが、フィルム上に塗布したままガラス基板4に
レジスト2を張り付け、フィルムのみを剥がすことによ
りガラス基板4にレジスト2を塗布する工程としてもよ
い。
【0018】(実施例2)図2は本発明の他の実施例に
おける塗布方法を示すものである。図2において、5は
レジスト槽で、ガラス基板4のレジスト2がついていな
い面を昇降ピン6で回転ステージ7まで持ち上げる機能
を有する。回転ステージ7は、ガラス基板4をレジスト
2が下にある状態で固定し、回転させる機能を有する。
8は回転ステージ7の下方から窒素を噴射させるノズル
で、回転ステージ7が回転中のみ回転中心に噴射させて
レジスト2の膜厚を均一に1から3μmに調整するもの
である。
【0019】また、図2(A)はレジスト充填工程で、
レジスト槽5からレジスト2を表面張力で50μmほど
高く維持させ、一方、ガラス基板4はTFT構造を形成
するのに必要な膜(例えば、iTO膜、Cr膜、Al
膜、SiN膜、a−Si膜等)が成膜されているか、あ
るいはそれらの膜がパターン形成された後に違う膜を全
面に成膜されている表面にレジスト2が密着できやすい
ように密着増強材を十分に塗られており、その面にレジ
スト2がつくような状態にしている。
【0020】次に、図2(B)は塗布工程であり、ガラ
ス基板4とレジスト2の間に空気層が入らないようにガ
ラス基板4を搬送して昇降ピン6があたる位置に停止す
る工程である。
【0021】図2(C)はスピン工程であり、図2
(B)の工程の後でレジスト2が乾燥しない前に回転ス
テージ7に昇降ピン6でガラス基板4を持ち上げ、回転
ステージ7にガラス基板4を固定させてから300rp
m以上の自転でガラス基板4を水平に回転させながらノ
ズル8から窒素を回転中心に噴射させることにより、図
2(B)の工程でほぼ均一にレジスト膜厚50μmに塗
布したレジスト2を1から3μmにまで薄くする。
【0022】なお、スピンコートは遠心力と周辺気流に
よってレジスト膜厚を制御するため、レジスト粘度が1
0cP程度であれば、回転数を300rpm以上にしな
ければ3μm以下の膜厚は確保できないし、均一性に対
しても保証できない。また、レジスト粘度を10cP以
上でなければ、表面張力を維持できないし、基板を搬送
している間に自重にてレジスト2がガラス基板4から剥
離される。
【0023】また、本実施例では、ELを溶媒としたレ
ジストと定義しているが、レジストでなくても、粘性液
体が図2(A)の工程のときに50μm程度に表面張力
で盛り上げることができ、図2(C)の工程でスピンで
1から3μmに薄く形成できるものであれば溶媒溶質の
種類を問わずに本発明と同様に適用することができる。
そして、図2(C)の工程を行うときには、レジスト2
の溶媒が蒸発してしまうのを防ぐために、雰囲気を一度
溶媒蒸気に満たしてから、図2(C)の工程を行っても
よいし、レジスト2をなるべく大気に曝さないようにす
るためにレジスト槽5に堆積させる時間や堆積してから
ガラス基板4につけるまでの時間を短くさせるためにガ
ラス基板4がレジスト槽5の真上に来てからレジスト2
を注出してもよく、さらには従来よりも蒸発しにくいレ
ジスト溶媒(例えば、EL)を用いてもよい。
【0024】(実施例3)図3は本発明の他の実施例に
おける塗布方法を示すものである。図3において、9は
レジスト槽で、端の方に2本の固定ポール10を設けて
いる。11は上下駆動ノズルで、ガラス基板4をレジス
ト槽9から垂直に上昇させるためにガラス基板のTFT
形成面の裏側に高速流を起こさせガラス基板4の表と裏
とに圧力差を生じさせ浮力を作るものであり、ガラス基
板4が上昇していくに従って駆動するように基板位置セ
ンサー11aを内蔵してある。固定ポール10は、レジ
スト槽9から突き出ていてガラス基板4が上昇するとき
に固定するものである。12はガラス基板4に塗布され
たレジスト2を1から3μmの膜厚にするためにガラス
基板4の形成面の横方向から窒素を吹きかけるノズルで
ある。
【0025】図3(A)は塗布工程であり、レジスト槽
9からレジスト2を表面張力で50μmほど高く維持さ
せ、ガラス基板4は、TFT構造を形成するのに必要な
膜(例えば、iTO膜、Cr膜、Al膜、SiN膜、a
−Si膜等)が成膜されているか、あるいはそれらの膜
がパターン形成された後に違う膜を全面に成膜されてい
る表面にレジスト2が密着できやすいように密着増強材
を十分に塗られて、その面にレジスト2がつくような状
態にして、ガラス基板4とレジスト2の間に空気層が入
らないように搬送して固定ポール10で停止させる工程
である。
【0026】次に、図3(B)は基板上昇工程であり、
レジスト槽9から垂直に上昇させるためにガラス基板4
の表と裏とに圧力差を生じさせて浮力を作るように上下
駆動ノズル11から窒素を高速流でガラス基板4のTF
T形成面の反対側の面に吹きかける工程である。
【0027】図3(C)はレジスト薄膜乾燥工程であ
り、図3(B)の工程の後で、ほぼ均一にレジスト2を
1から3μmにまで薄くするようにノズル12で窒素を
吹き付ける工程である。ガラスの厚みを1.1mmとす
ると、ガラスの比重より0.15g/cm2の浮力が必
要であるので、0.15cm/以上の流速でノズルから
噴射させるとガラスは浮く。
【0028】なお、本実施例では、ELを溶媒としたも
のをレジストと定義しているが、レジストでなくてもレ
ジスト2が図3(A)の工程のときに50μm程度に表
面張力で盛り上げることができる粘性液体であれば溶媒
溶質の種類を問わずに本発明と同様に適用することがで
きる。そして、図3(B)の工程の後に図3(C)の工
程を行っているが、レジスト2の溶媒が蒸発してしまう
のを防ぐために雰囲気を一度溶媒蒸気に満たしてから図
3(C)の工程を行ってもよく、従来よりも蒸発しにく
いレジスト溶媒(例えば、EL)を用いてもよい。
【0029】(実施例4)図4は本発明の他の実施例に
おける塗布方法を示すものである。図4において、13
はレジスト2をステージ14に充填させるレジストノズ
ル、14はステージで、レジスト2が垂直方向から45
°から90°までの間の角度で上向きに噴射されるよう
にスリット14aが設けられ、そのスリット14aにレ
ジストノズル1が内蔵されている。
【0030】ガラス基板4は、TFT形成面を裏側にし
てレジスト2が噴射される反対方向から搬送され、ガラ
ス基板4の先端がレジストノズル13を通過するととも
に、レジストノズル13からレジスト2が1から3μm
の膜厚に噴射される。そして、ガラス基板4の終端が通
過するとともにレジストノズル13からレジスト2が切
れることとなる。そのとき、レジストノズル13のスリ
ット幅、噴射圧、レジスト粘度とレジスト膜とは、相関
があるものの一意的には決まらないが、スリット幅は、
100μmで、噴射圧を3atm、レジスト粘度を15
cPにして行うと3μmの膜厚が得られる。
【0031】基板搬送方向に対してレジスト噴射方向が
同一成分を有すると、基板段差に対して、段差の死角を
有しレジスト膜厚の均一性に対して問題があり、反対成
分を有していても進入角があまりにも鋭角でも同様の死
角を有するために均一性に問題を生じる。よって、レジ
ストノズル13の角度は45°から90°までの間の角
度にし、噴出圧力は、現在の配管材料からの安全性と原
動供給範囲から10atm程度までが噴出圧力限界と考
えられる。また、レジスト粘性は溶媒によって違うが、
レジストの感光成分の粘性が70cP前後であり、配管
等のコントロール性を考えると、30cPまでだと考え
られる。噴射圧力とレジスト粘性からレジストノズル1
3のスリット幅は1μmから500μmにしておくと、
噴出距離が100μmから10mmまでである。また、
基板搬送スピードは、300×400mm2のガラス基
板4を搬送する機構部の性能と安全性、それとレジスト
噴出速度と膜厚制御性から5mm/sから200mm/
sにしなければならない。
【0032】なお、本実施例では、ELを溶媒としたも
のをレジストと定義しているが、レジストでなくてもス
テージ14から1から3μmの薄さで噴出できる粘性液
体であれば溶媒溶質の種類を問わずに本発明と同様に適
用することができる。
【0033】また、レジストを塗布するときは、100
μmの膜厚で塗布し、その後、所定の膜厚をコントロー
ルするために300rpm以上の回転を加えてもよい。
さらに、レジスト2をノズル13より噴射させて塗布す
るとともに、実施例2,3と同様に窒素流を基板横斜め
前方からノズル噴射方向と同一方向に噴射させてもよ
い。
【0034】なお、スピンコートは遠心力と周辺気流に
よってレジスト膜厚を制御するため、レジスト粘度が1
0cP程度であれば、回転数を300rpm以上にしな
ければ3μm以下の膜厚は確保できないし、均一性に対
しても保証できない。また、レジスト粘度を10cP以
上でなければ、表面張力を維持できないし、基板を搬送
している間に自重にてレジスト2がガラス基板4から剥
離される。レジスト2の溶媒が蒸発してしまうのを防ぐ
ために、雰囲気を一度溶媒蒸気に満たしてもよいし、レ
ジスト2をなるべく大気に曝さないようにするためにレ
ジスト配管に気泡を入れないようなレジストフィルター
を使用してもよい。また、従来よりも蒸発しにくいレジ
スト溶媒(例えば、EL)を用いてもよい。
【0035】
【発明の効果】以上のように本発明は、従来のローラー
コート方式のように膜厚に対し基板面内の不均一が生じ
る問題を解消するとともに、スピンコート方式のように
レジスト使用効率が悪くなる問題を解消することがで
き、レジストの使用量を減らすことにより未利用なレジ
ストをなくすことができるとともに、基板に凹凸があっ
ても均一に塗布することができる。また、使用量が減る
ために装置のメンテナンスサイクルが長くなり、稼働率
を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本発明の一実施例における塗布方法を
示す工程図 (B)は本発明の一実施例における塗布方法を示す工程
図 (C)は本発明の一実施例における塗布方法を示す工程
【図2】(A)は本発明の他の実施例における塗布方法
を示す工程図 (B)は本発明の他の実施例における塗布方法を示す工
程図 (C)は本発明の他の実施例における塗布方法を示す工
程図
【図3】(A)は本発明の他の実施例における塗布方法
を示す工程図 (B)は本発明の他の実施例における塗布方法を示す工
程図 (C)は本発明の他の実施例における塗布方法を示す工
程図
【図4】本発明の他の実施例における塗布方法を示す工
程図
【符号の説明】
1 ローラー 2 レジスト 3,14 ステージ 4 ガラス基板 5,9 レジスト槽 7 回転ステージ 8,12 ノズル 11 上下駆動ノズル 13 レジストノズル

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ローラー表面上に粘性液体を塗布し、そ
    のローラーを基板に押し当てながら、前記粘性液体を基
    板に塗布した後、前記基板を300rpm以上の回転数
    で回転させることを特徴とする粘性液体塗布方法。
  2. 【請求項2】 フィルム上の粘性液体を基板に張り付け
    た後、フィルムのみを剥がして粘性液体を基板に塗布さ
    せ、その後前記基板を300rpm以上の回転数で回転
    させることを特徴とする粘性液体塗布方法。
  3. 【請求項3】 粘性液体を溜めている槽に基板のパター
    ン形成面を浸漬した後、前記基板を前記槽内から離すと
    ともに、前記粘性液体の溶媒がすべて蒸発する前に前記
    基板のパターン形成面に窒素流を吹き付けながら前記基
    板を300rpm以上の回転数で回転させることを特徴
    とする粘性液体塗布方法。
  4. 【請求項4】 粘性液体を溜めている槽に基板パターン
    形成面を浸漬した後、前記基板の横斜め上方向から窒素
    流を一方向に向かって噴射させ、前記基板を浮上させる
    とともに、前記基板を浮上させたまま、他方の一方向か
    ら窒素流を噴射させて前記粘性液体膜厚を制御すること
    を特徴とする粘性液体塗布方法。
  5. 【請求項5】 基板を浮上させたまま、他方の一方向か
    ら窒素流を噴射させて粘性液体膜厚を制御する代わり
    に、前記粘性液体成分の溶媒がすべて蒸発する前に前記
    基板を300rpm以上の回転数で回転させることを特
    徴とする請求項4記載の粘性液体塗布方法。
  6. 【請求項6】 鉛直方向より45°から90°までの間
    の角度で粘性液体を噴射するノズルと、前記ノズルとの
    間に100μmから10mmの間隔をあけて基板を前記
    ノズルから前記粘性液体を噴出する方向と反対側に5m
    m/secから200mm/secの速度で進める搬送
    系とを有し、前記ノズルから前記粘性液体を噴出せし
    め、前記基板に塗布することを特徴とする粘性液体塗布
    方法。
  7. 【請求項7】 粘性液体をノズルより噴射させて基板塗
    布した後、粘性液体成分の溶媒がすべて蒸発する前に前
    記基板を300rpm以上の回転数で回転させることを
    特徴とする請求項6記載の粘性液体塗布方法。
  8. 【請求項8】 基板のパターン形成面を下向きにしてノ
    ズルから粘性液体を噴射するとともに、基板横斜め前方
    から窒素流を前記粘性液体が噴射する方向と同一方向に
    噴射させることを特徴とする請求項6記載の粘性液体塗
    布方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6251542B1 (en) * 1993-11-04 2001-06-26 Nippondenso Co., Ltd. Semiconductor wafer etching method
WO2016132830A1 (ja) * 2015-02-19 2016-08-25 住友精密工業株式会社 充填方法および充填装置

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