JPH08592A - Mr装置 - Google Patents

Mr装置

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Publication number
JPH08592A
JPH08592A JP6160578A JP16057894A JPH08592A JP H08592 A JPH08592 A JP H08592A JP 6160578 A JP6160578 A JP 6160578A JP 16057894 A JP16057894 A JP 16057894A JP H08592 A JPH08592 A JP H08592A
Authority
JP
Japan
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magnetic field
gradient magnetic
coil
waveform
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP6160578A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Shimoda
宏 下田
Kazuya Koyabu
一弥 小薮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPH08592A publication Critical patent/JPH08592A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁場均一性に悪影響がおよばないようにして
傾斜磁場コイルにおける温度監視を行なう。 【構成】 波形発生回路53から傾斜磁場パルスの波形
が発生させられると、それに対応した関数i(t)で表
わされる波形の電流が、傾斜磁場電源21より傾斜磁場
コイル12に流されるので、この関数i(t)から、コ
ンピュータ51が傾斜磁場コイル12における温度を計
算する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、NMR(核磁気共
鳴)現象を利用してイメージングやNMRスペクトロス
コピ等を行なうMR装置に関する。
【0002】
【従来の技術】MR装置では、被検体をRF信号で励起
し、そこから生じるNMR信号をRFコイルによって受
信し、検波した後A/D変換してデジタルデータとし、
コンピュータに取り込んで画像再構成などを行なう。こ
の場合、特定のスライス面のみを選択的に励起するた
め、励起用RFパルスと同時にスライス選択用傾斜磁場
をパルス状に印加することがある。また、NMR信号に
位置の周波数エンコードや位相エンコードを施すため、
周波数エンコード用傾斜磁場や位相エンコード用傾斜磁
場をパルス状に印加することも行なわれる。
【0003】これらの傾斜磁場は、通常、直交3軸方向
の傾斜磁場を生じるように巻かれた3組の傾斜磁場コイ
ルにパルス状に電流を流すことによって発生するように
している。このように傾斜磁場コイルに電流が流れる
と、ジュール熱が発生し、温度上昇する。この温度が所
定値以上になれば、システム全体の損傷の危険も生じる
が、従来では電流量が少ないこともあって温度監視まで
行なわないのが普通である。また、監視する必要のある
場合、傾斜磁場コイルに直接熱電対を取り付けて温度を
測定していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、傾斜磁
場コイルに電流を供給する傾斜磁場電源は近年容量が増
加され、コイルに流す電流はますます増加されつつあ
り、傾斜磁場コイルにおける温度上昇を監視する必要性
が高まっている。ところが、従来のように熱電対で温度
を測定するという構成では、熱電対が傾斜磁場コイルに
取り付けられることにより磁場の均一性に悪影響がおよ
ぶという問題がある。
【0005】この発明は、上記に鑑み、磁場均一性が損
なわれないようにして傾斜磁場コイルにおける温度監視
を行なうことができるように改善したMR装置を提供す
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるMR装置においては、RFパルスに
より被検体を励起するRF印加手段と、傾斜磁場コイル
と、該傾斜磁場コイルに電流を流して傾斜磁場を発生さ
せる傾斜磁場電源と、傾斜磁場パルスの波形を発生しそ
の波形に応じて上記傾斜磁場電源を制御する波形発生回
路と、上記傾斜磁場コイルに流れる電流から該コイルに
おける温度を算出する温度算出手段と、被検体から生じ
たNMR信号を受信する手段とが備えられることが特徴
となっている。
【0007】温度算出手段は、波形発生回路より発生さ
れる傾斜磁場パルスの波形に基づいて傾斜磁場コイルに
おける温度を算出するものであってもよい。
【0008】また、温度算出手段は、傾斜磁場コイルに
流れる電流の実測値から該傾斜磁場コイルにおける温度
を算出するものであってもよい。
【0009】
【作用】傾斜磁場コイルに電流が流れることにより、そ
のコイルで発熱し、温度が上昇する。この発熱量および
それによって上昇した温度は、傾斜磁場コイルに流れる
電流がわかれば計算によって求めることができる。そこ
で、傾斜磁場コイルに流れる電流より該コイルにおける
温度を算出することとしている。このように計算によっ
て温度を求めているため、傾斜磁場コイルの温度を実際
に測定することがなく、熱電対などを傾斜磁場コイル周
辺に取り付ける必要がなくなる。その結果、磁場の均一
性に悪影響を与えるようなものを装着することなしに、
傾斜磁場コイルの温度監視が可能となる。
【0010】波形発生回路から発生させられる傾斜磁場
パルスの波形にしたがって傾斜磁場コイルに流れる電流
の波形が定められる。そのため、波形発生回路から発生
させられる傾斜磁場パルスの波形がわかれば、それから
傾斜磁場コイルにおける温度を計算することができる。
【0011】また、傾斜磁場コイルに流れる電流を実際
に測定し、それから該コイルにおける温度を計算するこ
ともできる。
【0012】
【実施例】以下、この発明の好ましい一実施例について
図面を参照しながら詳細に説明する。この発明の一実施
例にかかるMR装置は図1に示すように構成されてい
る。この図1に示すMR装置はイメージングをも行なう
ことができるものとして構成されている。この図1にお
いて、静磁場マグネット11は、たとえば超電導磁石な
どからなり、強い静磁場を発生する。傾斜磁場コイル1
2は、この静磁場に重畳する傾斜磁場を発生するもので
ある。傾斜磁場は、直交3軸つまりX、Y、Zの3軸方
向に磁場強度がそれぞれ傾斜する傾斜磁場Gx、Gy、
Gzとして発生させられる。これら3軸方向の傾斜磁場
Gx、Gy、Gzをそれぞれ発生するように、傾斜磁場
コイル12は実際には3組のコイル(Gxコイル、Gy
コイル、Gzコイルという)からなる。これら傾斜磁場
Gx、Gy、Gzの1つが、あるいはそれらを組み合わ
せて合成した任意の方向の傾斜磁場が、イメージングの
ためのパルスシーケンスにおけるスライス選択用傾斜磁
場、読み出し及び周波数エンコード用傾斜磁場、位相エ
ンコード用傾斜磁場とされる。
【0013】この静磁場及び傾斜磁場が加えられる空間
には図示しない被検体が配置される。この被検体には、
RFパルスを被検体に照射するとともにこの被検体で発
生したNMR信号を受信するためのRFコイル13が取
り付けられている。
【0014】静磁場マグネット11の傾斜磁場コイルに
加えられる傾斜磁場用電流は傾斜磁場電源21によって
供給され、図2に示すような波形のパルスとされた傾斜
磁場Gz(あるいはGy、Gx)が発生するようにされ
る。そのパルス波形の各々は波形発生回路53で発生さ
れ、その波形に応じた電流制御信号が傾斜磁場電源21
に与えられる。RF発振回路31で発生したRF信号は
振幅変調回路32に送られ、これが搬送波となり、波形
発生回路53から送られてくる波形信号に応じて振幅変
調される。この振幅変調後のRF信号は、RF電力増幅
器33を経て増幅された後、RFコイル13に加えられ
る。波形発生回路53やRF発振回路31のタイミング
はシーケンスコントローラ52により定められる。
【0015】RFコイル13によって受信されたエコー
信号は前置増幅器41を経て位相検波回路42に送られ
て位相検波される。この位相検波のためのリファレンス
信号として上記のRF発振回路31からのRF信号が送
られている。位相検波によって得られた信号は、シーケ
ンスコントローラ52によって制御されたA/D変換器
43により所定のサンプリングタイミングでサンプルさ
れ、デジタルデータに変換される。A/D変換器43か
ら得られたデータはコンピュータ51に取り込まれる。
コンピュータ51は、収集したデジタルデータから画像
を再構成する処理などを行なう。またこのコンピュータ
51は、種々の撮像スキャンを構成するパルスシーケン
スに応じて、シーケンスコントローラ52や波形発生回
路53に必要なデータをセットするとともに、RF発振
回路31を制御してその周波数を定め、また前置増幅器
41や位相検波回路42、A/D変換器43を制御す
る。
【0016】このようなMR装置において、コンピュー
タ51及びシーケンスコントローラ52の制御の下にグ
ラジェントエコー法やスピンエコー法などに基づくパル
スシーケンスが行なわれる。そのパルスシーケンスでた
とえば図2に示すような波形の電流を傾斜磁場コイル
(Gzコイル)12に流すことにより、その波形通りの
波形のGzパルスが発生させられる。この電流は時間t
の関数で表わすことができるのでi(t)と表現するこ
とにする。傾斜磁場コイル12にこのような電流i
(t)が流れるとき、そのコイル12の温度θ(t)は
つぎの数式1を解くことにより求めることができる。
【数1】 ただし、この式で、αはコイルの比熱、βはコイルと冷
媒との熱伝達率、γはコイルと冷媒との接触面積、Rは
コイルの抵抗、θoは冷媒の温度である。
【0017】そこで、波形発生回路53から傾斜磁場パ
ルスの波形が発生させられたとき、電流i(t)がわか
るわけであるから、傾斜磁場コイル12に実際に電流を
流す前に、あるいは流している間に、コンピュータ51
において温度θ(t)を算出することが可能となる。こ
のようにコンピュータ51によって電流波形から傾斜磁
場コイル12の温度を求めることができるため、規定の
温度以上に温度が上昇しないように電流を制限したり、
あるいはそのような規定を越えるような傾斜磁場電流波
形の設定がなされたことの警報などを発生することがで
きる。そして、この場合、磁場中にはなんらのハードウ
ェアも設置する必要がないので、磁場の均一性が損なわ
れる心配はいっさいない。
【0018】なお、上記では温度の計算はコンピュータ
51で行なうこととしたが、別個の温度計算用のコンピ
ュータを設けてもよい。また、波形発生回路53から傾
斜磁場電源21に実際に送られる電流制御信号を用いた
り、傾斜磁場電源21から傾斜磁場コイル12に流す電
流を電流検出器22を用いて実際に測定して、温度の計
算を行なうように構成することもできる。このように電
流検出器22を用いる場合、磁場から離れた位置に設置
することは可能であるため、磁場の均一性を害すること
を避けることは容易である。
【0019】
【発明の効果】以上実施例について説明したように、こ
の発明のMR装置によれば、基本的に計算によって傾斜
磁場コイルの温度を求めるようにしているので、温度の
予測が可能であり、規定温度以上にならないようにす
る、実効的な監視が可能となる。さらに熱電対などを用
いて直接温度を測定する場合の、磁場の均一性が悪影響
を受ける不都合を避けることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例にかかるMR装置のブロッ
ク図。
【図2】同実施例における傾斜磁場電流波形を示すタイ
ムチャート。
【符号の説明】
11 静磁場マグネット 12 傾斜磁場コイル 13 RFコイル 21 傾斜磁場電源 31 RF発振回路 32 振幅変調回路 33 RF電力増幅器 41 前置増幅器 42 位相検波回路 43 A/D変換器 51 コンピュータ 52 シーケンスコントローラ 53 波形発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 RFパルスにより被検体を励起するRF
    印加手段と、傾斜磁場コイルと、該傾斜磁場コイルに電
    流を流して傾斜磁場を発生させる傾斜磁場電源と、傾斜
    磁場パルスの波形を発生しその波形に応じて上記傾斜磁
    場電源を制御する波形発生回路と、上記傾斜磁場コイル
    に流れる電流から該コイルにおける温度を算出する温度
    算出手段と、被検体から生じたNMR信号を受信する手
    段とを備えることを特徴とするMR装置。
JP6160578A 1994-06-20 1994-06-20 Mr装置 Pending JPH08592A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6160578A JPH08592A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 Mr装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP6160578A JPH08592A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 Mr装置

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JPH08592A true JPH08592A (ja) 1996-01-09

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ID=15718000

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6160578A Pending JPH08592A (ja) 1994-06-20 1994-06-20 Mr装置

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JP (1) JPH08592A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6977501B2 (en) 2002-05-07 2005-12-20 Kabushiki Kaisha Toshiba MRI apparatus and method for calculating predicted and/or actual net accumulated gradient coil heat and/or temperature
JP2010075753A (ja) * 2010-01-12 2010-04-08 Toshiba Corp Mri装置
JP2020183894A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 東芝エネルギーシステムズ株式会社 電磁石の制御装置、その制御方法及びその制御プログラム並びに粒子線照射装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0399633A (ja) * 1989-09-13 1991-04-24 Hitachi Medical Corp 核磁気共鳴イメージング装置
JPH04176440A (ja) * 1990-11-13 1992-06-24 Toshiba Corp 磁気共鳴装置用傾斜磁場発生装置

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