JPH08510093A - エンドエフェクタ上の物品のセンサ - Google Patents

エンドエフェクタ上の物品のセンサ

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Abstract

(57)【要約】 特定の位置における物品の存在が、特定の位置に物品を位置させることにより生じるキャパシタンスの変化を測定することにより検知される。この測定に使用される装置は、オシレータを含み、この周波数は3重同軸ケーブルを含む構造とボルテージフォロワ回路を含む電気回路により、測定されるキャパシタンスに対し高感度になっている。

Description

【発明の詳細な説明】 エンドエフェクタ上の物品のセンサ 発明の背景 1.発明の分野 本発明の装置は一般的には物品搬送装置に関する。搬送される物品はシリコン やガリウムヒ素等のセミコンダクタウエハや高密度インタコネクト等のセミコン ダクタパッケージング基板、マスクやレチクル等のセミコンダクタ製造プロセス の画像プレート、アクティブマトリックスLCD基板等の広面積ディスプレイパ ネル等であるが、これに限定されるものではない。 2.従来技術の説明 繊細なシリコンウエハ等をセミコンダクタデバイス製造に際してワークステー ションや所定位置の間を搬送するに際して、取扱い上の特有の問題がある。通常 このような搬送は真空チャンバ中で作動する関節アーム搬送装置をリモートコン トロールして行っている。したがって、搬送装置のエンドエフェクタにウエハが あるか否か検出できることが重要である。シリコンウエハは非常にデリケートで あり、表面が高精度に研磨されている。そのためその存在を非接触で検知するこ とが望ましい。 シリコンウエハを搬送するための装置は従来よりも多数ある。 たとえば米国特許4,666,366と4,909,701はウエハ搬送取扱い装置を開示してお り、この装置は関節アーム装置を有し、これが“カエル的”動作で伸縮して、ウ エハ等の対象物を複数位置間で搬送するようになっている。2つの関節アームは 、1つのアームがモータにより駆動されると”カエル的”或いは”カエル蹴り” タイプの動作を行って伸縮するように結合されている。プラットフォームはこの アームに連結され、搬送対称物をその上に載せる。 発明の概要 この発明は、特定の場所において物品を位置させることにより生じるキャパシ タンスの変化を測定することにより、特定の場所における物品の存在を検知する ための装置を含む。キャパシタンスにおける変化は、キャパシタンスを含む回路 内の電気的発振により測定される。キャパシタンスの変化が発振周波数の変化を 起こし、これにより該キャパシタンスの変化は測定される。この周波数の変化は 電圧に変換され、電圧計に表示される。 図面の簡単な説明 図1は本発明のキャパシタンスセンサの等角図であって、採用するプレートの 位置を示す; 図2は図1のキャパシタンスセンサの端面図; 図3は本発明のキャパシタンスセンサの回路と図1と図2のプレートを回路要 素に接続する3重同軸ケーブルを示す回路図; 図4と図5は回路図であって、図3の回路の代替回路を示し、図4に示される ”フロントエンド”発振回路は基本的に図3のものと同じであり、図5の回路は 信号調整器として機能する。 発明の詳細な説明 この発明の装置は容量型センサであって、非接触でシリコンウエハやマスクプ レートの検出が可能である。また実質的に同一レベルの表面を有する(coplanar )2つの近接するキャパシタプレートに近接することによりその容量を変化させ るどのようなものの検出も可能である。この装置の基本部分は(1)周波数が容 量センサにより調整される発振器、(2)低出力インピーダンスのボルテージフ ォロワ、(3)中央コンダクタと2つのシールドを有する3重同軸(triaxial) ケーブル、(4)周波数−電圧変換器又は他の適当な出力回路、である。 図1及び図2を参照すると、この発明のセンサはグランドプレート1、センシ ングプレート2とシールドプレート3を有する。グランドプレート1は3重同軸 (triaxial)ケーブル5のアウターシールド4に第1リード6により接続されて いる。センシングプレート2は3重同軸ケーブル5の中央コンダクタ7に第2リ ード8により接続されている。シールドプレート3は3重同軸ケーブル5のイン ナーシールド9に第3リード10により接続されている。検出されるべき物品1 1は、存在する時は、グランドプレート1とセンシングプレート2にきわめて近 接する。 この発明の発振器の周波数は、適当な抵抗−キャパシタ(RC)回路により決 定され、本発明の発振器の回路とボルテージフォロワは、オペレーショナルアン プ(オペアンプ)を使用している。抵抗とキャパシタ部品は非常に安定して作る ことができるため、また最近のオペレーショナルアンプは広帯域でハイゲイン及 び低出力インピーダンスであるため、そして3重同軸ケーブルはボルテージフォ ロワによりそのインナーシールドからアウタ(グランド)シールドに対する固定 キャパシタンスが駆動されることを許容するため、センサヘッドのキャパシタン スを合計チューニングキャパシタンスの主要部とすることが可能で、検出される べき接近するデバイスによる周波数変化が大きくなる。 図3にこの発明の一実施例の回路を示す。図3において、バイアスネットワー ク、波形形成及び同様の補助回路は示されていない。帰還抵抗13とグランドに 対する入力キャパシタンスを有するインバータ回路12により鋸歯状波が発生さ れる。入力キャパシタンスは図1および図2に示すように、オペアンプ入力(即 ちインバータ回路12の入力)に接続されたセンシングプレート2により形成さ れ、シールドプレート3はインナーシールド9に接続される。接続構造は次の通 りである:3重同軸ケーブル5の中央コンダクタ7は第2リード8によりセンシ ングプレート2に接続し、3重同軸ケーブル5のアウタ(グランド)シールド4 はグランドプレート1とオペアンプのa−cグランドとに接続している。3重同 軸ケーブル5のインナーシールド9は延長してセンシングプレート2をグランド からシールドしても良い。 ボルテージフォロワ14により駆動されてケーブルキャパシタンスをキャンセ ルするのはインナーシールド9である。インナーシールドから中央コンダクタま でのケーブルのキャパシタンスは10ピコファラドのレベルであるが、もしボル テージフォロワのために2つのコンダクタ間に電位差がなければ、電流もなく、 そして高インピーダンスノードにおける発振に与える影響も無視できるものとな る。同時に、インナーシールドのアウターシールドに対するキャパシタンスは、 ボルテージフォロワの低インピーダンスにより駆動され、要求される電流はイン ナーシールド電圧波形を著しく歪ませることはない。 従って、全てのケーブル容量性電流は、オシレータ電流ループ外のソースによ り与えられ、全てのオシレータ電流はセンサプレートのインピーダンスを流れる ことになり、センサキャパシスタの変化と共に、周波数の大きな変化を生ずる。 その結果として、回路は基本的に、グランドループや回路内のリード構成(lead dress)或いは回路に関連しない他の変動物であって放置しておくと所望の信号 を減衰したり歪ませたりする物から影響を受けない。 インバータ回路12により駆動される発振周波数、検出されるキャパシタンス の尺度である周波数はインバータ回路12の出力に表れる。インバータ回路12 は標準周波数−電圧コンバータ15の入力に接続され、その出力は電圧計により 表示することが可能である。 上記した装置において、図3に示す回路、センサ、3重同軸ケーブルはすべて エンドエフェクタを収納する真空チャンバ内にあっても良い。もしそうであれば 、グランドリードに加えて2つのコンダクタが必要であり、これらは真空チャン バの壁を通る必要がある。その中の1つはオシレータとボルテージフォロワに供 給される電力のためのコンダクタで、他の1つは周波数一電圧コンバータに供給 される矩形波電圧出力のためのコンダクタである。必要とするコンダクタの数は 、図5に示す図3の標準周波数−電圧コンバータ15の替りになる信号調整器( signal conditioner)のような回路を用いることにより1つに減じることが可能 である。更に図3の回路の残り部分(これは“フロントエンド”オシレータと呼 んでも良い)は図4に示すように若干変更される。 図5に示される信号調整器は入力オペアンプ21を有し、オペアンプ21のマ イナス入力は電流信号を受け、出力は再構成された矩形波電圧を伝達する。適宜 の電源からのパワー入力22はフロントエンドオシレータのホットリード(hot lead)Aに抵抗23を介して供給される。パワー入力22は抵抗24とツエナー ダイオード25を通ってグランドに接続している。ツエナーダイオード25は電 圧基準型(voltage-reference)であり、例えば3ボルトの電圧においてツェナ ーモードーで作動する。オペアンプ21のプラス入力は抵抗24とツエナーダイ オード25の接続点に接続している。オペアンプ21へのパワーはパワー入力2 2により供給される。フィードバック抵抗RSENSEは入力オペアンプ21のマイ ナス入力と出力との間に接続されている。図5の信号調整器のグランドは図4の “フロントエンド”オシレータのグランドに接続されている。 図4と図5に関し、矩形波電圧オシレータは、負荷抵抗RLを駆動し、この信 号は前述したように図3の15に示すような周波数−電圧コンバータの入力とし て直接用いても良い。あるいはRL上の信号が高い(通常5ボルト)時、負荷電 流がRLの出力信号が低い(通常0ボルト)時より大きくなる(5mA,RL=1 kオームの時)。負荷抵抗を流れる電流はパワー入力により与えられ、パワーサ プライにより信号調整器を通じて与えられる電流は、通常発振“高”半波に対し “低”半波に対してよりも5mA大きくなる。 調整器の入力回路は変化を感知し、入力オペアンプ21は、RSENSEを通じて 電流を発生し、このオペアンプマイナス入力を仮想グランドに維持する。この電 圧(△I×RSENSE)は再構成発振である。 キャパシタ26と2つのダイオード27、28は該発振を周波数に比例した電 圧E=kfに変換する。ポテンショメータ29は出力をスイッチングするための スレッショルドのセッティングを行うためのものである。他のかわりの回路はア ナログ出力を供給する。 更に詳細には、抵抗23の電流は、図5の信号調整器パワー供給入力22から 図4の“フロントエンド”オシレータへ供給される平均電流のままである。この 電流を、前記した負荷抵抗RLの電流における変化の結果として変化させようと する傾向は、結果的にオペアンプ21のマイナス入力における電圧を変化させよ うとする傾向となる。しかし、後者の傾向は直ちに抵抗RSENSEを通ってオペア ンプ21のフィールドバックにより修正される。その結果、負荷抵抗RLを流れ るどの ような電流の変化も帰還抵抗RSENSEを流れる電流の変化として表われる。一方 、抵抗23の電流はパワー供給入力22からの平均電流のままである。この帰還 抵抗RSENSEの電流における変化を生じさせるために、オペアンプ21の出力電 圧も図4のインバータ回路12の元の矩形波電圧出力を再構成するように変化し なければならない。この電圧出力はキャパシタンス26によりパルスに変換され 、したがってキャパシタ26は微分器として機能する。矩形波電圧出力が低から 高へ上がる時、正パルスはダイオード28を通って積分アンプとして機能するオ ペアンプ30のマイナス入力に至る。フィードバック負パルスは帰還キャパシタ ンス31を充電する。オペアンプ21からの矩形波電圧出力が高から低へ落ちる 時、充電されたキャパシタンス26はダイオード27を介して放電する。帰還キ ャパシタンス31に一時的にストアされた電気は、抵抗32を通って定常的に放 出され、この電流の合計は、帰還キャパシタンス31が充電される周波数に比例 している。したがってオペアンプ30の電圧出力は矩形波信号の周波数に比例し 、オペアンプは積分アンプとして機能する。 図5の信号調整器により、オシレータにおけるパワーリード上で変化する電流 への信号変換が、キャビネット、真空チャンバ等へのシャーシグランド以外の1 本のリードによる貫通を可能にする。そのため、ロボットアームにおけるリード の問題やチャンバ壁のシールの問題等を単純化する。信号調整器の回路は変化す る電流をフロントエンド回路の元の発振を模写する電圧波形に変換する。更なる 回路は矩形波周波数を周波数又はオン/オフスイッチシグナルに比例するアナロ グ電圧に変換する。 以上のように本発明の基本を図示する実施例と共に説明したように、上記では 特定のものが採用されているが、これらは説明のために一般的に述べられている のであって、以下の請求の範囲で設定される本発明の範囲及び限定の目的のため のものでないことが理解されるべきである。
【手続補正書】特許法第184条の7第1項 【提出日】1994年9月12日 【補正内容】 特許請求の範囲 請求項1. グランドプレート、物品がそこに近づくにつれて増加するキャパシ タンスを該グランドプレートと形成するように設けられたセンサプレート、前記 グランドプレートとセンサプレートとの間に設けられたシールドプレートと、前 記センサプレートに接続する入力を有し、前記キャパシタンスの変化につれて変 化する周波数を有し、これにより該周波数が前記キャパシタンスの大きさを示し 、これにより該周波数が前記プレートへの物品の接近を示す、オシレータと、を 含む3つのプレートと、その中央コンダクタが前記センサプレートに接続され、 そのインナーシールドが前記シールドプレートに接続され、そのアウターシール ドが前記グランドプレートに接続された1本の3重同軸ケーブルと、前記インナ ーシールドをセンサプレートから駆動するように接続されたボルテージフォロワ 回路と、前記オシレータの周波数を前記キャパシタンスの大きさを示すアナログ 又はデジタル出力信号に変換する信号調整器と、を含む対称物のセンサシステム 。 請求項2. 前記オシレータがR−C3角波源であり、前記ボルテージフォロワ が前記中央コンダクタを駆動するオシレータ信号電圧と少し異なる電圧で前記イ ンナーシールドを駆動し、前記アウターシールドが接地されている、請求項1の センサシステム。 請求項3. R−Cオシレータのキャパシタンスを形成する検出キャパシタンス が、中央コンダクタにより駆動されるプレートと接地されたプレート間のキャパ シタンスであって、検出されるべき対称物が両プレートに近接する時、該対称物 により一対となる、請求項1のセンサシステム。 請求項4. 前記信号調整回路が周波数一電圧回路又はデジタル周波数カウンタ 回路を含み、アナログ又はデジタル出力が後段の計算回路により直接使われるか 又はスイッチ動作のためにイエス・ノー型信号に変換される、請求項1のセンサ システム。 請求項5. 物品とキャパシタプレートの間のキャパシタンスが変化するにつれ て変化する周波数を有する信号を生成し、これにより該信号が前記キャパシタン スの大きさを示し、従って前記キャパシタプレート上又はこれに接近する物品の 存在を示すことにより、キャパシタプレート上又はこれに近い物品の存在を検知 するための装置であって、孔を有し、その近傍に物品を位置させるための表面を 形成する容量性グランドプレート(1)と、前記孔内で前記表面に近接し、しか し絶縁されているセンサプレートであって、これにより該センサプレートとグラ ンドプレート間のキャパシタンスの一部を該センサプレートとグランドプレート との相互位置により生成し、またこれにより物品が前記プレート上の近くに位置 する時、前記キャパシタンスが増加するセンサプレート(2)と、前記グランド プレートとセンサプレート間の他の主なキャパシタンスから前記センサプレート をシールドするために設けられる被駆動シールド(3)と、前記センサプレート に接続される入力を有し、前記キャパシタンスの関数であり前記キャパシタンス が変化する時に変化し、これにより該周波数が前記キャパシタンスの大きさを示 す周波数を有するオシレータ(12、13、2、1)と、発振中に前記センサプ レートと前記シールド間の電圧を無にするための手段(3、9、14)と、前記 周波数を測定し、これにより前記物品の存在を示すための手段(15)と、を有 するキャパシタプレート上の又はこれに近い物品の存在を検知するための装置。 請求項6. 前記信号調整回路が発振信号を前記オシレータへの電源リード上で 変化する電流に変換する回路を含む、請求項5のセンサシステム。 請求項7. 前記信号調整回路が前記変化する電流を前記オシレータの元の発振 を模写する電圧波形に変換する回路を含む、請求項6のセンサシステム。 請求項8. 前記信号調整回路が、前記電圧波形を周波数又はオン/オフスイッ チ信号に比例するアナログ電圧に変換する回路を含む、請求項7のセンサシステ ム。 【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1995年5月2日 【補正内容】 特許請求の範囲 請求項1. グランドプレートと、物品がそこに近接するにつれて増加するキャ パシタンスを該グランドプレートと形成するセンサプレート、前記センサプレー トに接続する入力を有し、前記キャパシタンスの変化につれて変化する周波数を 有し、これにより該周波数が前記キャパシタンスの大きさを示し、これにより該 周波数が前記プレートへの物品の近接を示す、オシレータと、を含む3つのプレ ートと、前記センサプレートに接続された中央コンダクタと、前記グランドプレ ートに接続されたインナーシールドとアウターシールドと、を有する1本の必要 な長さを有する3重同軸ケーブルと、前記インナーシールドをセンターコンダク タから駆動するように接続されたボルテージフォロワ回路と、前記オシレータの 周波数を前記キャパシタンスの大きさを示すアナログ又はデジタル出力信号に変 換する信号調整器と、を含む対称物のセンサシステム。 請求項2. 前記オシレータがR−C3角波源であり、前記ボルテージフォロワ が前記中央コンダクタを駆動するオシレータ信号電圧と少し異なる電圧で前記イ ンナーシールドを駆動し、前記アウターシールドが接地されている、請求項1の センサシステム。 請求項3. R−Cオシレータのキャパシタンスを形成する検出キャパシタンス が、中央コンダクタにより駆動されるプレートと接地されたプレート間のキャパ シタンスであって、検出されるべき対称物が両プレートに近接する時、該対称物 により一対となる、請求項1のセンサシステム。 請求項4. 前記信号調整回路が周波数一電圧回路又はデジタル周波数カウンタ 回路を含み、アナログ又はデジタル出力が後段の計算回路により直接使われるか 又はスイッチ動作のためにイエス・ノー型信号に変換される、請求項1のセンサ システム。 請求項5. 物品とキャパシタプレートの間のキャパシタンスが変化するにつれ て変化する周波数を有する信号を生成し、これにより該信号が前記キャパシタン スの大きさを示し、従って物品の前記キャパシタプレートへの近接を示すことに より、物品のキャパシタプレートへの近接を検知するための装置であって、孔を 有し、その近傍に物品を位置させるための表面を形成する容量性グランドプレー トと、前記孔内で前記表面に近接し、しかし絶縁されているセンサプレートであ って、これにより該センサプレートとグランドプレート間のキャパシタンスの一 部を該センサプレートとグランドプレートとの相互位置により生成し、またこれ により物品が前記プレート上に近接して来る時、前記キャパシタンスが増加する センサプレート2と、前記グランドプレートとセンサプレート間の他の主なキャ パシタンスから前記センサプレートをシールドするために設けられる被駆動シー ルド3と、前記センサプレートに接続される入力を有し、前記キャパシタンスの 関数であり前記キャパシタンスが変化する時に変化し、これにより該周波数が前 記キャパシタンスの大きさを示す周波数を有するオシレータ12、13、2、1 と、発振中に前記センサプレートと前記シールド間の電圧を無にするための手段 3、9、14と、前記周波数を測定し、これにより前記物品の存在を示すための 手段と、を有するキャパシタプレートに近接する物品の存在を検知するための装 置。 請求項6. 前記周波数を測定するための手段が、オシレータ電圧信号をオシレ ータへのパワーリード上で変化する電流に変換するように適用された回路と、前 記パワーリードが前記変換されたオシレータ信号を信号調整回路に伝達する、請 求項5のセンサシステム。 請求項7. 前記信号調整回路が前記変化する電流を前記オシレータの元の発振 を模写する電圧波形に変換するように適用された、請求項6のセンサシステム。 請求項8. 前記信号調整回路が、前記電圧波形を周波数又はオン/オフスイッ チ信号に比例するアナログ電圧に変換するように適用された、請求項7のセンサ システム。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 請求項1. グランドプレート、センサプレート及びシールドプレートとを含み 、検出されるべき物品が該プレートに近接した時該物品と協働して該物品が近接 するに従って変化するキャパシタンスを呈するように設けられた3つのプレート と、周波数が前記キャパシタンスの関数であるオシレータと、その中央コンダク タが前記センサプレートに接続され、そのインナーシールドが前記シールドプレ ートに接続され、そのアウターシールドが前記グランドプレートに接続された1 本の3重同軸ケーブルと、前記インナーシールドに接続されたボルテージフォロ ワ回路と、前記オシレータの周波数を所望のアナログ又はデジタル出力信号に変 換する信号調整器と、を含む対称物のセンサシステム。 請求項2. 前記オシレータがR−C3角波源であり、前記ボルテ−ジフォロワ が前記中央コンダクタを駆動するオシレータ信号電圧と少し異なる電圧で前記イ ンナーシールドを駆動し、前記アウターシールドが接地されている、請求項1の センサシステム。 請求項3. R−Cオシレータのキャパシタンスを形成する検出キャパシタンス が、中央コンダクタにより駆動されるプレートと接地されたプレート間のキャパ シタンスであって、検出されるべき対称物が両プレートに近接する時、該対称物 により一対となる、請求項1のセンサシステム。 請求項4. 前記信号調整回路が周波数一電圧回路又はデジタル周波数カウンタ 回路を含み、アナログ又はデジタル出力が後段の計算回路により直接使われるか 又はスイッチ動作のためにイエス・ノー型信号に変換される、請求項1のセンサ システム。 請求項5. 孔を有し物品を位置させる平面を形成する支持プレートと、前記平 面に近接し且つ下側に隙間を空けた前記孔内のセンサプレートであって、これに より該センサプレートと支持プレート間のキャパシタンスの一部を該センサプレ ートと支持プレートとの相互位置により生成し、またこれにより物品が前記支持 プレート上に位置する時キャパシタンスが増加するセンサプレートと、前記支持 プレートとセンサプレート間の他の主なキャパシタンスから前記センサプレート をシールドするために設けられる被駆動シールドと、前記センサプレートに接続 される入力を有し、前記キャパシタンスの関数である周波数を有するオシレータ と、発振中に前記センサプレートと前記シールド間の電圧を無にするための手段 と、前記周波数を測定する手段と、を有する支持プレート上の物品の存在を検知 するための装置。 請求項6. 前記信号調整回路が発振信号を前記オシレータへの電源リード上で 変化する電流に変換するように構成された回路を含む、請求項5のセンサシステ ム。 請求項7. 前記信号調整回路が前記変化する電流を前記オシレータの元の発振 を模写する電圧波形に変換するように適用された回路を含む、請求項6のセンサ システム。 請求項8. 前記信号調整回路が、前記電圧波形を周波数又はオン/オフスイッ チ信号に比例するアナログ電圧に変換するように適用された回路を含む、請求項 7のセンサシステム。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002062105A (ja) * 2000-08-23 2002-02-28 Sunx Ltd ヘッド分離型センサ、静電容量式センサ及びウエハ検出装置
JP2006032085A (ja) * 2004-07-15 2006-02-02 Fujikura Ltd 静電容量式近接センサ
JP2008539444A (ja) * 2005-04-27 2008-11-13 ローホー,インコーポレイテッド 近接センサー
JP2013516601A (ja) * 2009-12-31 2013-05-13 マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. 静電容量感知システム
JP2018137189A (ja) * 2017-02-24 2018-08-30 株式会社シンテックホズミ 近接センサ

Families Citing this family (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5876528A (en) * 1995-02-17 1999-03-02 Bently Nevada Corporation Apparatus and method for precluding fluid wicking
US5980194A (en) * 1996-07-15 1999-11-09 Applied Materials, Inc. Wafer position error detection and correction system
US5914613A (en) 1996-08-08 1999-06-22 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system with local contact scrub
JP3452456B2 (ja) 1997-01-30 2003-09-29 松下電器産業株式会社 電子機器間の接続方法と接続ケーブル
US6075375A (en) 1997-06-11 2000-06-13 Applied Materials, Inc. Apparatus for wafer detection
DE19725527A1 (de) * 1997-06-17 1998-12-24 Philips Patentverwaltung Reaktor zur Verarbeitung von Wafern mit einer Schutzvorrichtung
US6205870B1 (en) 1997-10-10 2001-03-27 Applied Komatsu Technology, Inc. Automated substrate processing systems and methods
US5948986A (en) * 1997-12-26 1999-09-07 Applied Materials, Inc. Monitoring of wafer presence and position in semiconductor processing operations
US6256882B1 (en) 1998-07-14 2001-07-10 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6215640B1 (en) 1998-12-10 2001-04-10 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for actively controlling surface potential of an electrostatic chuck
US6293005B1 (en) 1999-03-01 2001-09-25 Bently Nevada Corporation Cable and method for precluding fluid wicking
US6445202B1 (en) 1999-06-30 2002-09-03 Cascade Microtech, Inc. Probe station thermal chuck with shielding for capacitive current
US6411108B1 (en) 1999-11-05 2002-06-25 Sensor Technologies, Inc. Noncontact signal analyzer
US6965226B2 (en) 2000-09-05 2005-11-15 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US6914423B2 (en) 2000-09-05 2005-07-05 Cascade Microtech, Inc. Probe station
DE10143173A1 (de) 2000-12-04 2002-06-06 Cascade Microtech Inc Wafersonde
US6615113B2 (en) 2001-07-13 2003-09-02 Tru-Si Technologies, Inc. Articles holders with sensors detecting a type of article held by the holder
WO2003052435A1 (en) 2001-08-21 2003-06-26 Cascade Microtech, Inc. Membrane probing system
US6545483B1 (en) 2001-08-29 2003-04-08 Sensor Technologies, Inc. Analyzer sensor
US6822413B2 (en) * 2002-03-20 2004-11-23 Fsi International, Inc. Systems and methods incorporating an end effector with a rotatable and/or pivotable body and/or an optical sensor having a light path that extends along a length of the end effector
DE10234537B4 (de) * 2002-07-30 2005-05-19 Hagenuk KMT Kabelmeßtechnik GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Orten von Kabelmuffen und Kabelfehlern bei verlegten Kabeln
US7005864B2 (en) * 2002-10-21 2006-02-28 Synchrony, Inc. Capacitive position sensing system with resonant amplification
JP3669990B2 (ja) * 2003-02-12 2005-07-13 ファナック株式会社 インバータ装置の接地方法及びインバータ装置
US7057404B2 (en) 2003-05-23 2006-06-06 Sharp Laboratories Of America, Inc. Shielded probe for testing a device under test
US7492172B2 (en) 2003-05-23 2009-02-17 Cascade Microtech, Inc. Chuck for holding a device under test
US6911873B2 (en) * 2003-06-24 2005-06-28 Stmicroelectronics, Inc. Detection circuit and method for an oscillator
US7250626B2 (en) 2003-10-22 2007-07-31 Cascade Microtech, Inc. Probe testing structure
WO2005060653A2 (en) * 2003-12-18 2005-07-07 E.I. Dupont De Nemours And Company Inductive probe having a looped sensing element or a terminated transmission line sensing element and methods and system for using the same
US7187188B2 (en) 2003-12-24 2007-03-06 Cascade Microtech, Inc. Chuck with integrated wafer support
DE202004021093U1 (de) 2003-12-24 2006-09-28 Cascade Microtech, Inc., Beaverton Aktiver Halbleiterscheibenmessfühler
US7256588B2 (en) * 2004-04-16 2007-08-14 General Electric Company Capacitive sensor and method for non-contacting gap and dielectric medium measurement
US6989679B2 (en) * 2004-06-03 2006-01-24 General Electric Company Non-contact capacitive sensor and cable with dual layer active shield
WO2006031563A2 (en) 2004-09-10 2006-03-23 E.I. Dupont De Nemours And Company Method for detecting an interface between first and second strata of materials
US20080297159A1 (en) * 2004-09-10 2008-12-04 Mehrdad Mehdizadeh Sensing Apparatus for Detecting an Interface Between First and Second Strata of Materials
JP2008512680A (ja) 2004-09-13 2008-04-24 カスケード マイクロテック インコーポレイテッド 両面プロービング構造体
US7535247B2 (en) 2005-01-31 2009-05-19 Cascade Microtech, Inc. Interface for testing semiconductors
US7656172B2 (en) 2005-01-31 2010-02-02 Cascade Microtech, Inc. System for testing semiconductors
JP2006284198A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Agilent Technol Inc 抵抗器ならびにそれを用いた電流測定装置および方法
US7314997B1 (en) * 2005-07-18 2008-01-01 Yazaki North America, Inc. High speed data communication link using triaxial cable
EP1793207B1 (en) * 2005-12-02 2008-09-10 Vibro-Meter Sa Eddy current sensor and sensor coil for the same
US7403028B2 (en) 2006-06-12 2008-07-22 Cascade Microtech, Inc. Test structure and probe for differential signals
US7723999B2 (en) 2006-06-12 2010-05-25 Cascade Microtech, Inc. Calibration structures for differential signal probing
US7764072B2 (en) 2006-06-12 2010-07-27 Cascade Microtech, Inc. Differential signal probing system
US7568946B1 (en) * 2007-01-16 2009-08-04 Keithley Instruments, Inc. Triaxial cable with a resistive inner shield
US7876114B2 (en) 2007-08-08 2011-01-25 Cascade Microtech, Inc. Differential waveguide probe
JP5643991B2 (ja) * 2008-04-17 2014-12-24 シンクロニー, インコーポレイテッドSynchrony, Inc. 高速永久磁石モータおよび低損失メタルロータ付発電機
US8330311B2 (en) 2008-04-18 2012-12-11 Dresser-Rand Company Magnetic thrust bearing with integrated electronics
KR101436608B1 (ko) * 2008-07-28 2014-09-01 삼성전자 주식회사 터치 스크린을 구비한 휴대 단말기 및 그 휴대 단말기에서커서 표시 방법
DE202008010533U1 (de) * 2008-08-07 2008-10-30 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kontaktlose Schleifensonde
US7888957B2 (en) 2008-10-06 2011-02-15 Cascade Microtech, Inc. Probing apparatus with impedance optimized interface
US8410806B2 (en) 2008-11-21 2013-04-02 Cascade Microtech, Inc. Replaceable coupon for a probing apparatus
US8319503B2 (en) 2008-11-24 2012-11-27 Cascade Microtech, Inc. Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test
US9583991B2 (en) 2009-06-24 2017-02-28 Synchrony, Inc. Systems, devices, and/or methods for managing magnetic bearings
US8188754B2 (en) 2009-07-15 2012-05-29 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for sensing capacitance value and converting it into digital format
EP2586121B1 (en) 2010-06-23 2019-12-11 Synchrony, Inc. Split magnetic thrust bearing
JP5490741B2 (ja) 2011-03-02 2014-05-14 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置の位置調整方法、及び基板処理装置
CN103649688B (zh) * 2011-06-30 2017-02-22 迈普尔平版印刷Ip有限公司 用于电容式测量系统的有源屏蔽
US9983228B2 (en) * 2014-09-24 2018-05-29 Keithley Instruments, Llc Triaxial DC-AC connection system
US10890990B2 (en) * 2017-09-25 2021-01-12 Google Llc Rotation input device for a capacitive sense cord
CN108736434A (zh) * 2018-08-10 2018-11-02 中航建设集团成套装备股份有限公司 一种电缆t型插拔头
US10950369B1 (en) * 2020-07-20 2021-03-16 Dell Products L.P. Inverted cable design for high-speed, low loss signal transmission

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3626287A (en) * 1969-02-10 1971-12-07 C G I Corp System for responding to changes in capacitance of a sensing capacitor
US3883826A (en) * 1971-07-15 1975-05-13 Ici Ltd Adjustable frequency oscillator with regenerative feedback and a coupling unit including a differential amplifier for adjusting the feedback
US3870948A (en) * 1972-09-05 1975-03-11 Acme Cleveland Corp Proximity circuit with active device feedback
US4067225A (en) * 1977-03-21 1978-01-10 Mechanical Technology Incorporated Capacitance type non-contact displacement and vibration measuring device and method of maintaining calibration
US4176555A (en) * 1978-08-07 1979-12-04 Mechanical Technology Incorporated Signal amplifier system for controlled carrier signal measuring sensor/transducer of the variable impedance type
US4347741A (en) * 1980-07-17 1982-09-07 Endress & Hauser, Inc. Control system for a capacitive level sensor
US4909701A (en) * 1983-02-14 1990-03-20 Brooks Automation Inc. Articulated arm transfer device
US4666366A (en) * 1983-02-14 1987-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Articulated arm transfer device
US4763063A (en) * 1985-07-26 1988-08-09 Allied-Signal Inc. Compact digital pressure sensor circuitry
DE3544187A1 (de) * 1985-12-13 1987-06-19 Flowtec Ag Kapazitaetsmessschaltung
US5045797A (en) * 1986-10-14 1991-09-03 Drexelbrook Controls, Inc. Continuous condition sensing system determining liquid level by admittance measurement
US4794320A (en) * 1987-08-10 1988-12-27 Moore Products Co. Multi-frequency capacitance sensor
US4918376A (en) * 1989-03-07 1990-04-17 Ade Corporation A.C. capacitive gauging system
US5021740A (en) * 1989-03-07 1991-06-04 The Boeing Company Method and apparatus for measuring the distance between a body and a capacitance probe
US5166679A (en) * 1991-06-06 1992-11-24 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics & Space Administration Driven shielding capacitive proximity sensor
US5148126A (en) * 1991-12-13 1992-09-15 Sentech Corporation Capacitance sensor circuit and method for measuring capacitance and small changes in capacitance
US5363051A (en) * 1992-11-23 1994-11-08 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Steering capaciflector sensor

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002062105A (ja) * 2000-08-23 2002-02-28 Sunx Ltd ヘッド分離型センサ、静電容量式センサ及びウエハ検出装置
JP2006032085A (ja) * 2004-07-15 2006-02-02 Fujikura Ltd 静電容量式近接センサ
JP4531469B2 (ja) * 2004-07-15 2010-08-25 株式会社フジクラ 静電容量式近接センサ
JP2008539444A (ja) * 2005-04-27 2008-11-13 ローホー,インコーポレイテッド 近接センサー
JP2013516601A (ja) * 2009-12-31 2013-05-13 マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. 静電容量感知システム
JP2018137189A (ja) * 2017-02-24 2018-08-30 株式会社シンテックホズミ 近接センサ

Also Published As

Publication number Publication date
KR960702619A (ko) 1996-04-27
US5539323A (en) 1996-07-23
EP0697113A1 (en) 1996-02-21
JP3372254B2 (ja) 2003-01-27
WO1994027158A1 (en) 1994-11-24
CN1124060A (zh) 1996-06-05

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