JPH08509314A - 記録キャリヤに信号を記録する方法および記録装置 - Google Patents

記録キャリヤに信号を記録する方法および記録装置

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JPH08509314A JP7521097A JP52109795A JPH08509314A JP H08509314 A JPH08509314 A JP H08509314A JP 7521097 A JP7521097 A JP 7521097A JP 52109795 A JP52109795 A JP 52109795A JP H08509314 A JPH08509314 A JP H08509314A
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ヨハヌス レオポルダス バックス
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フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェン ノートシャップ
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Abstract

(57)【要約】 本明細書は、放射ビーム(15)によってユーザ情報を記録キャリヤ(1)に記録する装置および方法に与えられるものである。前記ユーザ情報を、光学的に検出可能なマーク(30,31)の形式で同心トラックに書き込む。前記トラックを、セクタ(98)に再分割する。使用される前記記録キャリヤ(81)は、リング状ゾーン(84,85,86)を有する。これらのゾーン(84,85,86)内に、半径方向に整列したセクタがある。前記マークを前記トラックに書き込むために、前記放射ビーム(15)の強度を決定された設定値に設定する。この目的のために、テスト情報パターンを、ゾーンの縁に位置するバッファセクタに書き込む。次に前記テスト情報パターンを読み出し、その動作の間に前記テスト情報パターンを対応するテストデータパターンに変換する。前記テストデータパターンに基づいて、前記書き込み強度の設定値を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】 記録キャリヤに信号を記録する方法および記録装置技術分野 本発明は、記録キャリヤがセクタに分割されたほぼ同心のトラックを有し、前 記記録キャリヤがリング状ゾーンを有し、このゾーン内でセクタが半径方向に見 て整列している、書換え可能型の記録キャリヤに信号を記録する方法であって、 本方法において、光学的に検出可能なマークのユーザ情報パターンを前記セクタ に書き込み、一方前記マークの書き込みのために、予め決められた設定値の書き 込み強度を有する放射ビームによってトラックを走査する、書換え可能型の記録 キャリヤに情報を記録する方法に関することである。 さらに本発明は、記録キャリヤがセクタに分割されたほぼ同心のトラックを有 し、前記記録キャリヤがリング状ゾーンを有し、このゾーン内でセクタが半径方 向に見て整列している、書換え可能型の記録キャリヤに情報を記録する記録装置 であって、前記本記録装置が、決定された設定値の書き込み強度を有する走査書 き込み放射ビームによって光学的に検出可能なマークのユーザ情報パターンと等 価のデータパターンを前記セクタに書き込む走査書き込み手段を具える記録装置 に関するものである。背景技術 記録キャリヤに信号を記録するこのような方法およびこのような装置は、欧州 特許出願公開明細書EP−A第0577214号(PHN14.129)により 既知である。 情報をこのようなゾーン化記録キャリヤに記録することは、高い情報密度が得 られる点で有利である。発明の開示 確実に記録するために、すなわち記録した後に記録情報を容易に読み出すこと ができるように記録するために、書き込み強度を正しい値に設定することが望ま しい。 本発明の目的は、書き込み強度の正しい設定値を能率的に決定することができ る方法を提供することである。 本発明による方法は、テスト情報パターンを前記ゾーンの1つの縁に位置する 少なくとも1つのバッファセクタに書き込み、書き込まれたテスト情報パターン を読み出し、対応するデータパターンに変換し、ユーザ情報パターンを書き込む 書き込み強度の設定値を、前記テストデータパターンに依存して決定することを 特徴とする。 本発明による装置は、前記書き込み強度の設定値を決定する書き込み強度決定 手段を具え、この書き込み強度決定手段が、テスト情報パターンをゾーンの縁に 位置するバッファセクタに書き込む手段と、前記テスト情報パターンを読み出し 読み出されたテスト情報パターンを対応する信号に変換する読み出し手段と、こ の信号に依存して設定値を決定する決定手段とを具えることを特徴とする。 ゾーン化記録キャリヤにおいて、ゾーンの最初の部分(または端)におけるバ ッファセクタは、隣接したトラック内のセクタに関して半径方向に完全に整列し ていない。結果として、これらのバッファセクタは、ユーザ情報を記録するのに あまり適していない。 それについては、この不整列のために、記録情報が正確に読み出されることが 常に保証されるとは限らない。 したがって、これらのバッファセクタは、ユーザ情報の記録には使用されない 。 しかしながら、テスト情報パターンに依存した書き込み強度の設定の決定に関 して、正確な読み出しの必要条件は、さほど厳密ではない。したがって、これら のバッファセクタを、書き込み強度の決定に有利に使用するとこができる。書き 込み強度の決定にバッファセクタを使用することは、ユーザ情報を記録するのに 利用できる領域を侵さないという点で有利である。 本発明の実施例は、異なったゾーンのバッファセクタに書き込まれ読み出され たテスト情報パターンに対応するテストデータパターンに応じて、書き込み強度 の関連した設定値を決定し、これらの決定された設定値の補間によって、書き込 み強度設定値を、前記異なったゾーン間に位置するゾーンへのユーザ情報パター ンの書き込みに関して決定することを特徴とする。 この実施例は、書き込みパラメータ、特に記録層の放射感度が記録キャリヤ全 体で均一でない場合でも、書き込み強度の正しい設定値が、各ゾーンに対して得 られる点で有利である。好適には、内側の縁付近のゾーンにおいてテスト情報パ ターンに応じて決定したある設定値と、記録キャリヤの外側の縁付近のゾーンに おいてテスト情報パターンに応じて決定した他の設定値とに補間を使用する。 書き込まれたユーザ情報の読み出しを不必要に妨げないために、好適にはテス ト情報パターンを、新たに決定された設定値によって新規のユーザ情報が書き込 まれる前に消去する。 本発明による方法の他の実施例は、エラーレートをテストデータパターンにお いてエラー検出および訂正アルゴリズムによって検出し、その後に設定値をこの エラーレートに応じて決定する。 この実施例において、信号が記録される場合に、従来のエラー検出および訂正 アルゴリズムを利用する。ランダムまたは自由に選択可能なテストデータパター ンから得られたテスト情報パターンを書き込んだ後、この書き込まれた情報パタ ーンを読み出し、エラー検出および訂正アルゴリズムによって処理すると、既知 のテストデータパターンにおけるエラーレートの大きさを検出することができる 。得られたエラーレートにより、所望の方向における放射ビームの強度を調節す ることができる。 書き込み強度を自動的に最適に設定する実施例は、例えば光磁気記録装置にお けるように、マークの記録が書き込み強度に強く依存する記録装置に特に好適で ある。しかしながら本発明は、光磁気記録に制限されず、例えば相変化形式の記 録キャリヤへの再書換え可能な記録のような他の記録原理に用いることができる が、そのためには、放射ビームによって走査された場合、アモルファスから結晶 へ、または結晶からアモルファスヘ、放射方法に応じて変化することができる構 造を有する記録キャリヤを使用する。図面の簡単な説明 他の実施例およびそれらの利点を、図1から8の参照とともに以下に詳細に記 述する。ここで、 図1aおよび1bは、記録キャリヤを示し、 図2は、本発明による光磁気装置を示し、 図3は、書き込み信号および対応する情報パターンを示し、 図4は、書き込み強度に対してプロットした読み出し信頼性を示し、 図5は、本発明による書き込み強度を調節する方法の好適な実施例のフローチ ャートを示し、 図6は、エラーレート特性曲線における書き込みウィンドウに対してプロット した初期書き込み強度の第1の状況を示し、 図7は、書き込みウィンドウに対してプロットした初期書き込み強度の他の状 況を示し、 図8は、ゾーン化記録キャリヤの上面図を示し、 図9および10は、図8に示す記録キャリヤの大きく拡大した詳細を示し、 図11は、ゾーン化記録キャリヤの実行可能な条件を示す。発明を実施するための最良の形態 図1は、書換え可能型の記録キャリヤ1を示し、図1aは、その上面図を示し 、図1bは、ラインb−bに沿った断面図の小さい部分を示す。記録キャリヤ1 は、互いにほぼ同心的な関係で位置し、以下でトラックとも称される情報領域を 示すトラックパターンを有し、光学的に検出可能なマークの情報パターンの形式 において情報を記録することを目的とする。トラックを、例えば、連続的な螺旋 状の溝4によって、または基板5における同心の溝によって設置することができ る。トラックを溝それ自身によって形成する代わりに、溝の間に位置するランド によって形成することもできる。同心トラックを、溝によって形成できるだけで なく、例えば米国特許明細書US−第4866686号および欧州特許出願公開 明細書EP−A第0310162号に記載されているようないわゆるサーボパタ ーンの構造によって形成することもできる。記録の目的のために、記録キャリヤ 1は、透明層5上に積層され保護層7によって覆われた記録層6を有する。情報 層6は、慣例的な形式のものであり、特定のしきい値を越えた書き込み強度を有 する放射ビームによって、光学的に検出可能なマークを書き込むことができる。 情報層6を、光磁気記録に適した材料によって形成することができる。しかしな がら情報層6を、例えば、適当な放射手段によってアモルファスから結晶へ、お よびその逆に変化させることができる構造を有する、いわゆる相変化材料のよう な他の材料によって形成することもできることに気づくはずである。 記録キャリヤの情報密度を高くするために、しばしばいわゆるゾーン化記録キ ャリヤが使用される。この形式の記録キャリヤは、欧州特許出願公開明細書EP −A第0577214号に記述されており、この刊行物は、参考のためにここに 含まれているものとする。 説明のために、図8は、ゾーン化記録キャリヤの可能な実施例を示す。 図8は、例として、ゾーン化記録キャリヤ81の上面図を示す。ほぼ環状のト ラックを、回転の中心点82の周囲に同心円状に配置する。記録キャリヤ81を 、図8においては4つ示されるリング状ゾーンに再分割する。これらを、84、 85、86および87で示す。各トラックを、すべて同じ情報容量例えば512 データバイトを有する整数の数n=8のセクタに分割する。各ゾーン内で、トラ ック(回転)あたりのセクタの数は、同一である。各セクタは、情報の記録およ び/または読み出しを制御する制御情報を収容するいわゆるヘッダ部分9を有す る。各ゾーン内で、セクタを半径方向にみて整列させる。さらに各セクタは、デ ータ部分を有し、この部分にユーザ情報を記録する、または記録することができ る。 記録キャリヤ81をゾーンに分割し、連続するゾーンの各トラックのセクタの 数を、2つずつ変更する。図8は、ゾーン86および87の各トラックのセクタ の合計の数のみを示す。他のゾーンのトラックも同様にセクタに分割する。 図9は、トラックの位置が基板における溝によって決定される場合の記録キャ リヤ81の上面図を大幅に拡大した部分83を示す。ラインX−Xに沿った部分 83の断面図を、図10に示す。図9および10において、溝を4で示す。溝4 の間のランド20は、トラックを形成し、このトラックに情報を記録する、また は記録することができる。基板を5で示す。基板5の溝21が存在する側を、記 録層6によって覆う。図9において、セクタの長さをS1で表す。トラックピッ チ、すなわち隣接するトラック20の中心間の距離をSpで示す。 セクタのヘッダ部分の長さをH1で示す。セクタのデータ部分の長さをD1で 示す。ヘッダ部分は、光学的に検出可能なピット23のパターンを有する。この パターンを、ヘッダ部分であるということが認識でき、記録すべきまたは読み出 すべき信号のデータレートに関係するクロック信号を取り出すことができる、慣 例的な形式のものとする。さらにヘッダ部分におけるピットパターンは、アドレ スを表す。アドレスは、トラック番号を示す部分と、トラック内のセクタ番号を 示す部分とを具える。 ゾーン間の境界領域において、セクタは、互いに整列しない(図8参照)。好 適には、境界領域内の多数のセクタを、ユーザ情報の記録に使用しない。バッフ ァセクタを、各ゾーンの最初の部分および終端部に配置し、例えば各ゾーンの最 初の2つおよび最後の2つのトラック内のセクタによって形成することができる 。ユーザ情報の記録を目的としないこれらのセクタを、本明細書においてさらに バッファセクタと呼称する。 これらのバッファセクタを、キャラクタを記録層6に確実に形成する間の放射 ビームの(書き込み)強度の設定値を決定するのに十分に使用することできる。 説明のために図11は、ゾーン全体のトラックの可能な分布を示す表である。 この表の第1列は、ゾーン番号を示す。第2列は、このゾーンの各トラックにお けるセクタの数を示す。第3および第8列は、最初のトラック番号および最後の トラック番号を各々示す。第4列は、各ゾーンの最初の部分にバッファセクタを 有するトラックのトラック番号を示す。第6列は、ユーザ情報の記録を目的とす る各ゾーン内のトラックの数を示す。第7列は、各ゾーンに関する、当該ゾーン の終端部においてバッファセクタを有するトラックのトラック番号を示す。 好適には、ゾーンの終端部に位置するバッファセクタを、テスト情報パターン の記録に使用する。このようにした場合、ヘッダ部分H1において利用できる予 め記録された構造に応じて書き込みクロックを設定するのに利用できる十分なセ クタが常に存在する。これは、ゾーン遷移部がバッファセクタより先行するため 、ゾーンの最初の部分におけるバッファセクタと逆である。 図2は、記録キャリヤ1に情報を記録するための、本発明による光磁気記録装 置10の実施例を示す。記録装置10は、ターンテーブル11と駆動モータ12 とを具え、記録キャリヤ1を軸13の回りで回転させる。回転する記録キャリヤ と向かい合わせに、好適には光磁気記録および読み出し用の慣例的な形式の光学 式読み出し/書き込みヘッド14を組み込み、この読み出し/書き込みヘッド1 4によって放射ビームを記録層6上で焦点に集める。記録装置10は、放射ビー ム15の焦点をサーボトラック4上に保つ慣例的なトラッキング手段(図示せず )と、放射ビーム15の焦点を記録層6上に保つ慣例的な焦点手段と、ヘッダ部 分88において使用可能なアドレス情報に応じてセクタを探索する慣例的なアド レス手段とを具える。読み出し/書き込みヘッド14と反対側の記録キャリヤ1 の他方の側において、磁界変調器16を配置し、放射ビーム15によって生じた 記録層6上のスポットに記録層6と本質的に垂直方向を向いた磁界Hを発生させ る。磁界変調器16を、読み出し/書き込みヘッド14にブラケット17によっ て剛固に接続する。読み出し/書き込みヘッド14および磁界変調器16を、移 動システム18によって記録キャリヤに対して半径方向に移動させることができ 、一方ブラケット17が、磁界変調器16が読み出し/書き込みヘッドに正確に 向かい合って位置し続けるようにする。磁界変調器16を、発生された磁界の方 向をバイナリ書き込み信号Vmに応じて変調することができる形式のものとする 。このような磁界変調器は、例えば欧州特許出願公開明細書EP−A第0312 143号(PHN12.294)に詳細に記載されており、この刊行物は、参考 のためにここに含まれているものとする。 さらに装置10は、読み出し/書き込みヘッド14と、移動システム18と、 書き込み信号Vmの発生とを制御する制御回路19aを具える。情報を記録する 場合、サーボトラック4を放射ビーム15によって走査し、このビームの強度を 、記録層6の放射ビーム15によって走査されている部分が十分高温に加熱され 、記録層6の材料のキュリー温度付近になるような書き込み強度に設定する。同 時に、書き込み信号Vmと、それによって発生される磁界Hとを、記録すべき情 報にしたがって変調し、サーボトラック4のすでに走査された部分に、書き込み 信号Vmに対応する磁区の形状のキャラクタのパターンを発達させる。このよう に得られた磁区を、以下に詳細に記述するように、光学的に走査することができ る。 本発明による記録装置10に不可欠な要素は、制御回路19aに双方向データ バス19cによって結合された信号処理手段19bである。データバス19cを 、シリアルデータバス(1ビット幅)またはパラレルデータバス(数ビット幅) とすることができる。信号処理手段19bは、双方向(入力および出力)バス1 9cを通じてデータパターンを受け、このデータパターンを、プログラム信号処 理手段19bにおいてエラー検出および訂正アルゴリズム(CIRCまたは他の リードソロモンコード)によって符号化する。このように符号化されたデータパ ターンを、制御手段19aにバス19cを通じて、放射ビーム15の書き込み強 度の設定値として供給し、この強度によって、符号化されたデータパターンに対 応する情報パターンを記録キャリヤ1の記録層6に書き込む。 読み出された情報パターンに対応する読み出し信号V1を、制御回路19aに 読み出し/書き込みヘッド14によって供給する。制御回路19aは、読み出し 信号V1から読み出し情報パターンに対応する符号化データパターンを抽出する 慣例的な抽出手段を具える。制御回路19aは、この抽出された符号化データパ ターンを、バス19cを通じて処理手段19bに転送し、この処理手段19bは 、元データパターンの符号化データパターンからのエラー検出および訂正アルゴ リズムによる抽出を試みる。次に処理手段19bは、データパターン中に生じる エラーレートを決定し、このエラーレートに応じて放射ビーム15の書き込み強 度を設定する設定信号を決定する。さらに制御回路19aは、この設定信号をバ ス19cを通じて受ける。 説明のために図3は、書き込み信号Vmの波形と、関連する磁界Hと、その結 果得られる異なった方向の磁化によって得られる磁区のパターンとを示す。異な った方向の磁化による磁区を、異なった参照符、すなわち30および31によっ て示す。パターンが記録されているサーボトラックの中心を、ライン4′によっ て図式的に示す。磁区30および31のパターンを、読み出し/書き込みヘッド 14がパターンを直線偏光の放射ビームによって走査することによって読み出す ことができる。放射ビームが反射するとき、放射ビームの偏波の方向が、記録層 6の走査された領域の磁化の方向によって決定される方向に変化する。この方法 において、偏波方向の変化の変調パターンが得られ、これは、磁区30および3 1の走査パターンに対応する。この変調は、読み出し/書き込みヘッド14にお いて、例えば、ウォラストン・プリズムと、光電子変換器と、例えばオランダ国 特許出願NL−A第8602304号(PHQ86.017)において記載され ている光電子変換器の出力信号を読み出したパターンを表す信号である読み出し 信号V1に変換する増幅回路とを用いた慣例的な方法で検出される。 本発明による記録の一つの特徴は、信頼性をもって記録情報を読み出すことが できる信頼性である。エラー訂正を可能にする冗長データを含む記録信号の読み 出しの信頼性を表すことができる既知のパラメータは、いわゆる(バイト)エラ ーレート、略して(B)ERである。パラメータ(B)ERは、エラー検出およ び訂正アルゴリズムによって読み出されたブロックで、1つまたはそれ以上の訂 正不可能なエラーが一回検出される、各単位時間の情報ブロックの数を示す。 図4は、放射強度の関数としてのBER値の変化を示す。PminからPmaxまで の範囲内のBER値は、ほぼ一定の最小値とみなされ、一方この範囲外でのBE R値は、急激に増加することが分かる。PminおよびPmax間で、読み出し信頼性 は、記録システムにおける種々の公差による避けられない強度変化にほぼ影響を 受けない。 図4においてエラーレートBERを、記録中のトラック4の特定の走査速度に 対する書き込み強度Pの関数として示す。最適な書き込み強度は、Pminおよび Pmaxの中間にあるのではなく、丁度Pminである。特定の記録キャリヤに対して 、書き込み強度の最適な値を、あらかじめ決めておくことができる。情報を記録 キャリヤに記録する前に、記録装置の書き込み強度を、原則的にはこの値に設定 することができる。 しかしながらこのとき、以下の問題が生じる。 1)たとえそれらが同一の光磁気材料によって形成されているとしても、記録層 の放射感度が広く分布してしまう。これは、記録層を積層するのに慣例的に使用 される方法、例えばスパッタリングによって引き起こされる。 2)実際問題としてこれは、実際の放射パワーを正確に決定する上で大きな問題 である。パワー検出器の性能のばらつきは、10%程度である。さらに、種々の 調節状態が、追加の偏りを生じさせる。 3)さらに記録層6上の放射ビームによって生じる走査スポットの形状と、放 射の波長とは、最適な書き込み強度に影響を与える。 4)最後に、周囲温度は、最適な書き込み強度に相当の影響を与える。 以上はすべて、最適な書き込み強度の変化は、一定の書き込み強度設定値によ っては確実でなくなる恐れがあるほど大きいことを意味し、この書き込み強度は 、記録キャリヤの書き込み強度ウィンドウ内にあり、このウィンドウ内において BER値は低い。 以下に、最適な書き込み強度を確実にかつ簡単に設定することができる方法を 記述する。まず第1に、図5の参照とともに本発明による好適な実施例について 記述し、図5においてこの好適な実施例のフローチャートを示す。 図5は、本発明による方法による、書き込み強度の最適な設定値を決定する装 置10によって実行されるプログラムのフローチャートを、例として示す。第1 段階S1において、記述した方法の初期書き込み強度EIと、書き込み強度Eにお ける変化を表す初期ステップ幅ΔEとを設定する。前記ステップ幅ΔEを、(( Emax−Emin)/2とする。ここでEmaxおよびEminは、各々放射ビーム15の 強度Eの設定範囲の上限および下限である。本方法の次の段階S2において、ス テップ幅ΔEを、二分の一にする。これらの2つの段階によって、次のようにな る。初期書き込み強度EIは、書き込みヘッド14の設定範囲の中間になるよう に選択される。段階S2におけるステップ幅ΔEの設定により、書き込み強度E の次の設定に関し、この強度は、最小強度Eminに設定範囲全体の1/4を加え た値か、最大強度Emaxから設定範囲の1/4を減じた値かになる。段階S3にお いて、バッファセクタ(好適には、ゾーンの終端部に位置するバッファセクタ) を、セクタ先頭部分88におけるアドレスに基づいて探索し、その後、テスト情 報パターンを探索されたバッファセクタに設定書き込み強度Eによって書き込む 。このテスト情報パターンは、処理手段19bによって前記エラー検出および訂 正アルゴリズムに従って符号化されたテスト情報パターンに対応する。本方法の 次の段階S4において、テストデータパターンは、テスト情報パターンが読み出 されるため、取り消す。このテスト情報パターンから、エラーレートERが決定 される。次の段階S5において、エラーレートが許容しうるレベルACCより小 さいかどうかを決定する。次の段階S6において、エラーレートERが 許容しうるレベルACCより小さい場合、ステップ幅ΔEが最小ステップ幅ΔEmin 以下かどうかをテストする。このステップ幅がより大きい場合、放射強度E を、次の段階S7においてステップ幅ΔEによって修正し、その後に段階S2、S3 、S4およびS5を繰り返す。段階S5において、エラーレートERが、許容しう るレベルACCより依然として低い場合、段階S6において、ステップ幅ΔEが 最小ステップ幅ΔEminより依然として小さいかどうか、さらにテストをする。 もしそうであれば、エラーレートERが許容しうるレベルACCより小さいかど うかをテストする段階S14に、所望の放射強度Ewを、定数Rにその時点におい て設定された放射強度Eを乗算したものに等しくなるように設定する段階S8を 続ける。定数Rを、1.1より大きくするとともに2.2より小さくする。好適 にはこの係数を、光磁気記録において1.3から1.1の範囲内のものとする。 この所望の放射強度Ewが設定されるとすぐに、本プログラムは、段階S9におい て停止する。本発明による方法の上述した部分は、放射強度の初期設定Eを、Pmin とPmaxとの間のウィンドウのどこかにあるものと仮定したので、図4に示す 書き込みウィンドウの低い方Pminを設定する。 図6は、このような状況における、書き込みウィンドウPminおよびPmaxに関 係する初期放射強度EIを示す。段階S7において設定放射強度をステップ幅ΔE によって一様に減少させることから、ある特定の段階が行われると、放射感度E は終了時に書き込みウィンドウのしきい値Pminより低くなるかもしれないこと は明らかであろう。これは、段階S4における次のエラーレートの計算と、エラ ーレートERを許容しうるエラーレベルACCに関してテストする段階S5にお けるテストとにおいて明らかになる。このような場合、段階S5に段階S10を続 け、カウンタをセットし、1の値を持っているかどうかをテストする。これにつ いて以下にさらに説明する。このカウンタがセットされていない場合、段階S11 において、放射強度のステップ幅ΔEが、最小ステップ幅ΔEmin以下であるか どうかをテストする。もしこれが違う場合、放射強度Eを、次の段階S12におい てステップΔEによって増加する。この新たな設定放射強度Eによって、段階S2 における強度ステップ幅ΔEの変更と、段階S3における情報の移動と、段階S4 における情報の読み出しとの後に、エラーレートERを再び決定し、段 階S5においてこのエラーレートERが許容しうるレベルACCより小さいかど うかをテストする。上述した方法において、エラーレート特性曲線および関連す る放射強度Eにおけるニー点Pminは、極めて急峻であることが分かる。したが って放射強度Eは、書き込み強度Ewを決定する基準として使用できるようにな り、書き込み強度Ewは、放射強度Eに一定の係数Rを掛けることによって得ら れる。この結果、情報は、記録キャリヤ6に最小書き込み強度Pminを越える強 度によって書き込まれ、一方情報を、許容しうるエラーレートERで読み出すこ とができる。 上述した方法は、初期放射強度EIが書き込みウィンドウ内または最小書き込 み強度Pmin以下の間、正確に動作する。初期放射強度EIがPmax、すなわち書 き込みウィンドウとエラーレート特性曲線の上昇部分との間のニー点より高い場 合、上述した方法においては書き込みヘッド14の設定に影響を及ぼし、このよ うな設定においては、放射ビーム15が常により高い放射強度を与えられる。こ れは、設定の制御が間違った方法で機能していることを意味する。したがって、 強度ステップ幅ΔEを一様に減少させる何回かの繰り返しの段階を実行した後、 ステップ幅ΔEをステップS11においてテストし、このステップにおいてΔEが 最小ステップ幅ΔEmin以下になった後、ステップS13において、ステップ幅Δ Eを再びステップS1において仮定した初期ステップ幅に等しくする。さらに段 階S13において、計数Cを1に等しくする。それから、上述した手順において段 階S7にフィードバックを行う。この段階S7において、放射強度Eの設定を変更 し、放射強度Eを減少させ、その後明らかに既知の段階S2、S3、S4およびS5 を実行する。ここで再び2つの状況が存在しうる。エラーレートERが、許容し うるレベルACCより低くなるので、次のテストに対する放射強度が、段階S6 およびS7によって減少する。しかしながらエラーレートが許容しうるレベル以 上である場合、ステップS10において、計数Cが1に等しいかどうかをテストす る。もし等しければ、段階S6およびS7にフィードバックして、エラーレートE Rが許容しうるレベルACCを依然として越えているにもかかわらず、次のテス トサイクルにおける放射強度Eは、前のテストサイクルにおける前の放射強度以 下になる。すなわち図7における点EIから、はじめにいくつかのテ ストサイクルを、放射強度EIより大きい放射強度によって行い、その後にEIよ り低い放射強度Eに戻す。計数Iを有するセットカウンタは、テストサイクルを 常により低い放射強度EIによって行い、その結果、エラーレート特性曲線を左 にPmaxおよびPmin間の平坦な書き込みウィンドウに向かって動く。一度この書 き込みウィンドウ内に入ると、放射強度Eの次の設定の各々は、最小調節可能放 射強度Eminに到達するか、最小書き込み強度Pminに到達するまで、常により低 くなる。後者の場合、この最小書き込み強度のニー点は、このニー点の周囲の数 回の繰り返しの段階が行われる場合、十分に正確になると考えられる。したがっ て、段階S5のテストにおいてエラーレートERが、許容しうるレベルACCよ り低くなったら、カウンタの計数を0にリセットする必要がある。これを、段階 S5およびS6間で行うべきであり、一方ステップS10からS6へのフィードバッ クを行う。 好適な実施例において、放射強度の設定範囲の中央値から始めるとともに、各 繰り返しの後にステップ幅を半分にすることによって、エラーレート特性曲線に おけるニー点Pminは一般に、4つまたは5つのステップの後に得ることができ る。本発明による方法の好適な実施例において、書き込みヘッド14の放射強度 の最適な設定を、極めて迅速に得ることができる。 バッファセクタが空であるべきという、ゾーン化記録キャリヤに関して既知の 一般的な規定から、ひとたび設定値が決定されたら、バッファセクタ内にロード されたすべてのテスト情報パターンを消去するのが好適である。図6に示すプロ グラムはそれに加えて、当該プログラムが設定値の決定を終える直前または直後 に実行され、媒体キャリブレーションに使用されるバッファセクタの消去を行う プログラムステップを含んでもよい。 明らかに、放射ビーム15の最適な放射強度を得る他の方法が存在する。この ような方法の一例を、以下に記述する。 ある方法において、この媒体キャリブレーションを、記録キャリヤ1の内側の 縁および/または外側の縁付近の限定されたバッファセクタにおいて実行する。 もちろん最初に、書き込むべきテスト領域を十分高い消去パワーによって消去し 、きれいなテスト領域において開始できるようにする。次に、放射強度の最小設 定値に基づいて、各々の512ユーザビット程度のいくつかのセクタに書き込み 、各放射強度設定のための情報を、十分信頼できるものに修正する。放射源の設 定範囲を、最小設定値から最大強度設定値に、例えば4から8mWに、各々1/ 10mWのステップで変化させる。その結果として、書き込まれたセクタが読み 出され、各々の放射強度に対して関連するエラーレートが決定される。次に基準 として、ある放射強度に関する訂正できない誤りを許容する書き込まれたセクタ の数を1つのみとすることができる。放射強度を、書き込まれたセクタの列から 得ることができる一方、書き込まれた情報を、十分信頼できるものに修正できる ことは明らかである。書き込みウィンドウの下限における放射強度を、上述した 方法において、書き込みヘッド14の最適な書き込み強度を決定するのに使用す る。好適には、最小放射強度に対する最適な書き込み強度の比を表す乗数Rを、 1.4程度に選択する。 図5の参照とともに上述した方法を、多くの方法によって変更できることは明 らかである。例えば放射強度のステップ幅ΔEを、エラーレート特性曲線のニー 点に達するまでの連続する繰り返しの間、一定に保つことができる。この後、ス テップ幅を減少し、達したエラーレート特性曲線のニー点が位置する放射強度の 範囲をこのより小さいステップ幅でカバーし、ニー点にある放射強度をより正確 に決定し、ニー点が位置するより狭い範囲を決定することができる。次に、所望 の最小ステップ幅ΔEに達するまで、ステップ幅ΔEをさらに減少することがで きる。明らかに、この変更は、より多くの段階を必要とし、それは、その時点で 存在する記録キャリヤへの記録装置の設定に、より長い時間がかかることを意味 する。 さらに、上述した方法と、図5の参照とともに記述した方法とを、組み合わせ ることができる。このようにした場合、最初に放射源の設定範囲をかなり大きい ステップ幅ΔEでカバーし、いくつかの段階を実行した後に、エラーレート特性 曲線のニー点と、ステップ幅によって決定されるその関連する範囲とを知るよう にする。その結果、その時点において設定された書き込み強度に基づいて、図5 の参照とともに記述した方法を続けることができる。このようにした場合、図5 に示すフローチャートにおける方法の段階S10、S13、S14およびS15を省略し てもよい。 上述した方法を、MOまたは相変化材料から成る記録層を有する媒体のような 多くの媒体に用いることができる。しかしながら、エラーレート特性曲線に比較 的狭い書き込みウィンドウを有する媒体の群によって、制限が形成される。この ような場合、ウィンドウの下限を決定するだけでなく、上限も同様の方法で決定 すべきであり、その後上限および下限の平均値を最適なパワーとして選択するこ とができる。 上述した実施例において、媒体のキャリブレーションを1つのゾーンで行い、 得られた書き込み強度の設定値をすべてのゾーンにおけるユーザ情報の記録に使 用する。記録層の放射感度がすべてのゾーンに対して均一でない記録キャリヤを 使用する場合、各々のゾーンに対して別々に書き込み強度の設定値を決定するこ とは有利である。 しかしながら、記録層の放射感度が均一でない場合、好適には媒体キャリブレ ーションを制限された数のゾーンに行うべきである。媒体キャリブレーションを 実際に行ったゾーン間に位置するゾーンの設定値を、異なったゾーンに対する媒 体キャリブレーションによって得られた設定値の補間によって得ることができる 。この方法は、記録キャリヤの内側の縁付近に位置するゾーンおよび外側の縁付 近に位置するゾーンにおいて媒体キャリブレーションを行う上で大変魅力がある 。 上記の方法を実行する目的のために、媒体キャリブレーションを1つより多く のゾーンに対して行い、中間のゾーンの設定値を補間によって決定することによ って、本装置は、図5のフローチャートによって表されるプログラムを多数のゾ ーンに対して実行するとともに、中間のゾーンの設定値を決定する常套的な形式 の補間プログラムを実行するプログラムを含むことができる。前記において、本 発明を、書き込み強度の設定値をすでに読み出したテスト情報パターンにおける エラーレートに応じて決定する媒体キャリブレーションに関して説明してきた。 しかしながら本発明を、テスト情報パターンもバッファセクタに記録する別の 形式の媒体キャリブレーションに用いることも同様に可能である。この目的に好 適な媒体キャリブレーションに関しては、例えば欧州特許出願公開明細書EP− A第0400726号および第0404251号が参考文献となり、これらの刊 行物は、参考のためにここに含まれているものとする。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),JP

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.記録キャリヤがセクタに分割されたほぼ同心のトラックを有し、前記記録キ ャリヤがリング状ゾーンを有し、前記セクタが半径方向にみて整列しており、光 学的に検出可能なマークのユーザ情報パターンがセクタに書き込まれ、前記マー クの書き込み中に、前記トラックが決定された設定値を有する書き込み強度を有 する放射ビームによって走査される、書換え可能型の記録キャリヤに信号を記録 する方法において、テスト情報パターンが前記ゾーンの一方の縁に位置する少な くとも1つのバッファセクタに書き込まれ、この書き込まれた情報パターンが読 み出され、対応するデータパターンに変換され、前記ユーザ情報パターンを書き 込む書き込み強度の設定値をこのテストデータパターンに応じて決定することを 特徴とする方法。 2.請求の範囲1に記載の方法において、異なったゾーンのバッファセクタに書 き込まれ読み出されたテスト情報パターンに対応するテストデータパターンに応 じて、書き込み強度の関連する設定値を決定し、これらの決定された設定値の補 間によって前記異なったゾーン間に位置するゾーンへのユーザ情報パターンの書 き込みのための書き込み強度設定値を決定することを特徴とする方法。 3.請求の範囲2に記載の方法において、前記テスト情報パターンを書き込まれ た前記異なったゾーンを、前記記録キャリヤの内側の縁付近に位置するゾーンと 外側の縁付近に位置するゾーンとしたことを特徴とする方法。 4.請求の範囲1、2、3または4に記載の方法において、前記書き込まれたテ スト情報パターンを消去することを特徴とする方法。 5.請求の範囲1に記載の方法において、テストデータパターンにおけるエラー レートをエラー検出および訂正アルゴリズムの手段によって決定し、その後前記 設定値を前記エラーレートに応じて決定することを特徴とする方法。 6.請求の範囲5に記載の方法において、各テスト情報パターンが情報サブパタ ーンの系列を具え、これらの情報サブパターンを記録層に各々増加するテスト書 き込み強度によって書き込み、その後各テスト情報パターンを読み出し、対応す るデータサブパターンに変換し、エラーレートを前記データサブパターン ごとに決定し、これらの連続するエラーレートから、エラーレートが所定の限界 値になる放射強度の最小設定値を決定し、その後前記書き込み強度の決定された 設定値を前記得られた最小設定値に一定の計数を乗算することによって得ること を特徴とする方法。 7.請求の範囲5に記載の記録キャリヤに信号を記録する方法において、放射源 が書き込み強度の設定範囲を有し、最初に前記放射源をその設定範囲の中央値に 設定し、テスト情報パターンを関連する放射強度で書き込み、その後このテスト 情報パターンを読み出し、そのエラーレートを決定し、前記放射強度を決定され たエラーレートに依存するステップによって変更し、テスト情報パターンの書き 込みおよび連続する読み出しを行い、この書き込まれ読み出されたテスト情報パ ターンのエラーレートを決定し、この決定されたエラーレートに基づく前記放射 源の設定を前記エラーレートによって決定されるステップによって補正し、先行 のステップをエラーレート強度特性曲線にニー点が生ずるまで繰り返し、その後 書き込み強度の設定値を、前記エラーレート強度特性曲線におけるニー点に対応 する最小設定値に一定の係数を乗算することによって決定することを特徴とする 方法。 8.請求の範囲1から7のいずれか1項に記載の記録キャリヤに信号を記録する 方法において、前記情報パターンを1つまたはそれ以上のゾーンの終端部に位置 するバッファセクタに書き込むことを特徴とする方法。 9.記録キャリヤがセクタに分割されたほぼ同心のトラックを有し、前記記録キ ャリヤがリング状ゾーンを有し、前記リング状ゾーン内で前記セクタが半径方向 にみて線上にあり、光学的に検出可能なマークのユーザ情報パターンに相当する データパターンを決定された設定値の書き込み強度を有する走査放射ビームによ ってセクタに書き込む、書換え可能型の記録キャリヤに情報を記録する記録装置 において、前記記録装置が前記書き込み強度の設定値を決定する書き込み強度決 定手段を具え、前記書き込み強度決定手段が、テスト情報パターンをゾーンの縁 に位置するバッファセクタに書き込む手段と、前記テスト情報パターンを読み出 しこの読み出されたテスト情報パターンを対応する信号に変換する読み出し手段 と、この信号に応じて前記設定値を決定する決定手段とを具 えることを特徴とする記録装置。 10.請求の範囲9に記載の記録装置において、前記テスト情報パターンを書き 込む手段を、テスト情報パターンを異なったゾーンのバッファセクタに書き込む ように構成し、前記設定値決定手段が、前記書き込み強度設定値を前記試験情報 パターンの1つを書き込まれたバッファセクタの各々に対して決定する手段と、 これらの決定された設定値の補間によって、前記異なったゾーン間に位置するゾ ーンにユーザ情報パターンを書き込む設定値を決定する手段とを具えることを特 徴とする記録装置。 11.請求の範囲10に記載の記録装置において、前記テスト情報パターンを書 き込む手段を、これらのテスト情報パターンを前記記録キャリヤの外側の縁付近 に位置するゾーンのバッファセクタと内側の縁付近に位置するゾーンのバッファ セクタとに記録するように構成したことを特徴とする記録装置。 12.請求の範囲9、10または11に記載の記録装置において、前記装置が、 前記ユーザ情報パターンを前記決定された設定値によって書き込む前に、前記バ ッファセクタにおける前記テスト情報パターンを消去する方法を具えることを特 徴とする記録装置。 13.請求の範囲9、10、11または12に記載の記録装置において、前記設 定を決定する手段が、 − テストテータパターンを、このテストデータパターンに対応するテスト情 報パターンを記録する前に、エラー検出および訂正アルゴリズムによって符号化 し、 − 前記試験情報パターンを読み出すことによって得られるエラーレートであ る、符号化テストデータパターンにおけるエラーレートを決定し、 − エラーレートに応じて前記設定値を決定するデータ処理手段を具えること を特徴とする記録装置。 14.請求の範囲13に記載の記録装置において、試験情報パターンを前記トラ ックに設定書き込み強度によって書き込む各周期の後に、前記書き込まれたテス ト情報パターンを読み出すとともに各読み出されたテスト情報パターンに属する 符号化データパターンのエラーレートを決定し、新たな設定値を前記エラ ーレートに応じて発生し、前記書き込み強度の設定値のステップ幅を減少させる ように構成したことを特徴とする記録装置。 15.請求の範囲13または14に記載の記録装置において、許容しうるエラー レートを有する最小テスト設定値に属するエラーレート特性曲線におけるニー点 を反復的に得て、前記設定値を前記決定された最小テスト設定値に一定の係数を 乗算することによって得るように構成したことを特徴とする記録装置。 16.請求の範囲13、14または15に記載の記録装置において、前記テスト 情報パターンに対応する符号化データパターンを種々の情報ブロックから構成し 、このブロックの数を少なくとも3つとし、許容しうるエラーレートを、読み出 した後、誤った訂正不可能の情報ブロックが多くて一つであるとしたことを特徴 とする記録装置。 17.請求の範囲9から16のいずれか1項に記載の記録装置において、前記装 置が、前記テスト情報パターンを、1つまたはそれ以上のゾーンの終端部に位置 するバッファセクタに書き込む手段を具えることを特徴とする記録装置。
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