NL8600934A - Optische registratiedrager en inrichting voor het uitlezen van de registratiedrager. - Google Patents

Description

_ * '«· PHQ 86.006 1

Optical Storage International-Holland.

Optische registratiedrager en inrichting voor het uitlezen van de registratiedrager.

De uitvinding heeft betrekking op een optische registratiedrager, welke is voorzien of voorzien kan worden van een langs sporen gerangschikte informatiestructuur, welke sporen in hoofdzaak concentrisch om een rotatiepunt zijn gelegen, waarbij de 5 drager eerste en tweede van elkaar onderscheidbare, ringvormige gebieden omvat, die concentrisch om het rotatiepunt zijn gelegen.

De uitvinding heeft eveneens betrekking op een inrichting voor het uitlezen van de registratiedrager, welke inrichting is voorzien van aandrijfmiddelen voor het doen roteren van de informatiedrager om 10 het rotatiepunt, een uitleesbundel leverende stralingsbron, een objectiefstelsel voor het focusseren van een uitleesbundel tot een aftastvlek op de registratiedrager en het daarna toevoeren van de uitleesbundel aan een stralingsgevoelig detectiestelsel, waarbij de aftastvlek onder besturing van een radiële verplaatsingsinrichting in 15 radiële zin verplaatsbaar is in het vlak waarin de registratiedrager roteert, en waarbij het detectiestelsel ten behoeve van het uitlezen van de informatiestructuur de door de structuur van de registratiedrager veroorzaakte modulatie van de uitleesbundel omzet in een elektrisch signaal.

20 Een dergelijke registratiedrager en inrichting zijn bekend uit de Nederlandse octrooiaanvrage 7510035 (PHN 8118). Bij de bekende registratiedrager onderscheiden de eerste gebieden zich van de tweede gebieden, door een spoorafstand die afwijkend is van die in de tweede gebieden. De bekende inrichting is voorzien van een 25 hulpstralingsbron voor het opwekken van een extra adresseerbundel, die een adresseervlek op de registratiedrager projecteert die zich uitstrekt over een aantal naast elkaar liggende sporen. Bij een verplaatsing van de adresseervlek en een aan de adresseerbundel gekoppelde aftastvlek in radiële richting waarbij een aantal ringvormige gebieden wordt 30 gepasseerd, zwaait als gevolg van de verschillende spoorafstanden binnen de gebieden een eerste orde verstrooiingsmaximum van de extra adresseerbundel in de ruimte heen en weer. Deze zwaaiende beweging wordt « ' Λ λ "γ t j -V - ί Ρ .Λ PHQ 86.006 2 gedetekteerd en daaruit wordt een telsignaal afgeleidt dat aangeeft hoeveel ringvormige gebieden zijn gepasseerd door de adresseervlek. Hierdoor kan snel en foutloos een bepaald gebied geadresseerd worden, waardoor een zeer snelle opzoektijd voor een willekeurig spoor bereikt 5 wordt.

De bekende registratiedrager heeft echter het bezwaar dat voor de adressering van de gebieden een extra hulpstralingsbron noodzakelijk is. Bovendien maakt de variërende spoorafstand de productie van de registratiedragers extra gecompliceerd. Buitendat is 10 adressering bij een nog lege beschrijfbare registratiedrager zonder vooraf aangebrachte groeven onmogelijk vanwege het ontbreken van sporen.

Het doel van de onderhavige uitvinding is middelen te verschaffen, die een snelle adressering van de ringvormige gebieden mogelijk maakt en waarbij aan de hiervoor genoemde bezwaren wordt 15 tegemoet gekomen.

Volgens een eerste aspect van de uitvinding vertoont een registratiedrager volgens de aanhef daartoe het kenmerk dat de registratiedrager is voorzien van eerste en tweede besturingsstructuren, welke van elkaar en van de informatiestructuur onderscheidbaar zijn, 20 waarbij ter onderscheiding van de eerste en tweede gebieden, de eerste gebieden zijn voorzien van groepen van radiêle richting naast elkaar liggende eerste besturingsstructuren en de tweede gebieden van groepen van in radiêle richting naast elkaar liggende tweede besturingsstructuren.

25 Volgens een tweede aspect van de uitvinding vertoont een inrichting volgens de aanhef daartoe het kenmerk dat de inrichting is voorzien van een detectieschakeling voor het afleiden van een meetsignaal uit eerste en tweede gedeelten van het elektrische signaal, die overeenkomen met gemoduleerde stralenbundel, wanneer deze 30 respectievelijk de eerste en tweede besturingsstructuren aftast, welk meetsignaal bij radiêle verplaatsing van de aftastvlek het passeren van een grens tussen de eerste en tweede gebieden aangeeft.

Hierdoor wordt het mogelijk om de aftastvlek over de registratiedrager te verplaatsen langs een baan welke in elk van de 35 ringvormige gebieden die gepasseerd worden, tenminste een groep besturingsstructuren snijdt. Daarbij wordt tijdens het aftasten van besturingsstructuren door de aftastvlek een elektrisch signaal opgewekt Λ ri λ ««7 7 ’· : ·’ j j o 4 Β·_ 'i PHQ 86.006 3 dat zich onderscheidt van de elektrische signalen die worden opgewekt bij aftasting van de informatiestructuren. Doordat de besturingsstructuren in radiêle richting naast elkaar liggen heeft de bewegingshoek waaronder de aftastvlek de groep besturingsstructuren 5 snijdt nauwelijks invloed op de vorm van het tijdens de aftasting van de besturingsstructuren opgewekte elektrische signaal, zodat op betrouwbare wijze een detectiesignaal uit het elektrische signaal kan worden afgeleid, dat geschikt is voor de besturing van de adressering van de ringvormige gebieden.

10 Een uitvoeringsvorm van de registratiedrager wordt gekenmerkt doordat de besturingsstructuren zodanig langs de in hoofdzaak concentrische sporen zijn gerangschikt, dat de structuur langs de sporen afwisselend besturingsstructuren en informatiestructuren omvat.

Deze uitvoeringsvorm heeft het voordeel dat bij de fabricage van de 15 plaat op eenvoudige wijze de besturingsstructuur gelijktijdig met de informatiestructuur kan worden aangebracht.

Een andere uitvoeringsvorm van de registratiedrager wordt gekenmerkt doordat de besturingsstructuren over de gehele breedte van de ringvormige gebieden zijn gelegen op posities welke zijn gedefinieerd 20 door tenminste een groep van, van het rotatiepunt afkomstige stralen met gelijke hoekverdeling. Deze registratiedrager heeft het voordeel dat bij elke radiêle verplaatsing van de aftastvlek, waarbij gedurende de tijd dat de aftastvlek een ringvormig gebied passeert de schijf verdraaid wordt over een hoek die groter is dan de hoek tussen twee stralen, de 25 aftastvlek altijd een baan beschrijft waarbij in elk ringvormig gebied tenminste een groep naast elkaar liggende besturingsstructuren wordt doorsneden.

Een verdere uitvoeringsvorm van de registratiedrager is gekenmerkt doordat eerste en tweede besturingsstructuren zich van elkaar 30 onderscheiden door eerste en tweede onderscheidingsgebiedjes welke een respectievelijk een eerste en tweede voorafbepaalde hoek ten opzichte van de stralen zijn verschoven, waarbij in de eerste besturingsstructuren de eerste onderscheidingsgebiedjes een eerste en de tweede onderscheidingsgebiedjes een tweede onderscheidelijke modulatie 35 van de uitleesbundel veroorzaken, en in de tweede besturingsstructuren respectievelijk de tweede en de eerste modulatie van de uitleesbundel.

Deze uitvoeringsvorm heeft het voordeel dat de eerste en tweede P /v PHQ 86.006 4 besturingsstructuren van elkaar kunnen worden onderscheiden door middel van een differentiële detectie, waarbij de door de eerste en tweede gebiedjes veroorzaakte modulaties met elkaar worden vergeleken, waardoor de betrouwbaarheid van de onderscheiding tussen de eerste en 5 besturingsstructuren vrijwel onafhankelijk is van de variaties in de intensiteit van de uitleesbundel.

Een uitvoeringsvorm van de inrichting, welke de besturingsstructuren door middel van differentiële detectie onderscheidt wordt gekenmerkt doordat de inrichting is voorzien van een 10 synchronisatieschakeling voor het uit het elektrische signaal afleiden van eerstelen tweede besturingssignalen, welke synchroon zijn met de ontmoetingen van de aftastvlek met respectievelijk de eerste en tweede onderscheidingsgebiedjes, een bemonsteringsschakeling voor het in reactie op eerste en tweede besturingssignalen nemen van eerste en 15 tweede monsters van het elektrisch signaal, alsmede een schakeling voor het vergelijken van de eerste en tweede monsters en voor het opwekken van het meetsignaal in afhankelijkheid van het resultaat van de vergelijking.

Uitvoeringsvormen van de uitvinding alsmede voordelen 20 hiervan worden hierna in detail beschreven onder verwijzing naar de figuren 1 tot en met 7, waarin figuren 1 en 1a een uitvoeringsvorm van de registratiedrager volgens de uitvinding weergeven, figuur 2 een schematische voorstelling van de mechanische 25 constructie van de aftastinrichting voor het uitlezen van een registratiedrager volgens de uitvinding toont, figuur 3 een voorbeeld van een baan weergeeft die een aftastvlek bij radiêle verplaatsing doorloopt ter verduidelijking van de uitvinding, 30 figuur 4 een elektrisch blokschema van de detectieschakeling van de inrichting volgens de uitvinding weergeeft, figuur 5 een aantal in de detectieschakeling en synchronisatieschakeling opgewekte signalen weergeeft.

figuur 6 een voorbeeld van een baan, die een aftastvlek 35 bij radiêle verplaatsing doorloopt en een bij een dergelijke aftasting opgewekt meetsignaal· Vm voorstelt, figuur 7 een gedetailleerd schema van de * ' ^ -y r PHQ 86.006 5 detectieschakeling toegepaste synchronisatieschakeling voorstelt, en Figuur 1 toont een registratiedrager 1 volgens de uitvinding, welke is verdeeld in eerste ringvormige gebieden A en tweede ringvormige gebieden B, welke afwisselend en concentrisch om een 5 rotatiepunt 4 zijn gelegen. Elk ringvormig gebied omvat een aantal sporen, bijvoorbeeld zestien, welke concentrisch of spiraalvormig om rotatiepunt 4 zijn gelegen, langs welke sporen een optisch uitleesbare' structuur is gerangschikt. Een gedeelte 6 van registratiedrager 1 is sterk vergroot weergegeven, in welk sterk vergrote gedeelte 6 de sporen 10 met het cijfer 5 zijn aangegeven. Elk spoor is onderverdeeld in groepen (9, 10), waarbij elke. groep (9, 10) vijftien elementaire gebieden 8 omvat, welke zich allen over een gelijk aantal radialen uitstrekken (deze groepen van elementaire gebieden zullen voortaan kortweg bytes genoemd worden). De rangnummers T tot en met "15" van de elementaire 15 gebiedjes binnen de bytes zijn eveneens in figuur 1 aangegeven. De bytes zijn onderverdeeld in informatiebytes 9 en besturingsbytes 10, welke besturingsbytes gearceerd zijn weergegeven, De besturingsbytes 10 zijn paarsgewijs gelegen op posities die worden gedefinieerd door een groep van rotatiepunt 4 afkomstige stralen 11 met gelijke hoekverdeling, 20 zodat in radiêle richting gezien de besturingsbytes van aan elkaar grenzende sporen naast elkaar zijn gelegen. (In het vervolg zullen de paarsgewijs gelegen besturingsbytes kortweg besturingswoorden genoemd worden). Informatiebytes 9 zijn voorzien van een optisch uitleesbare informatiestructuur van een gebruikelijk soort, waarbij een aantal van 25 de elementaire gebiedjes 8 zijn voorzien van een put 12, met een reflektievermogen, dat lager is dan zijn omgeving. Bij dergelijke informatiestructuren is het gebruikelijk dat slechts een beperkt aantal mogelijke verdelingen van putten 12 over de beschikbare elementaire gebieden 8 is toegestaan. In het hier beschreven voorbeeld zijn slechts 30 verdelingen toegestaan, waarbij 4 putten over de 15 beschikbare elementaire gebieden 8 van informatiebytes 9 zijn verdeeld.

Besturingswoorden 13 in ringvormige gebieden A zijn voorzien van een besturingsstructuur, die zich door de verdeling van het aantal putten over de beschikbare posities onderscheidt van de 35 toegestane informatiestructuren. In het hier beschreven voorbeeld onderscheiden de besturingsstructuren in gebieden A zich door een verdeling van putten over de beschikbare 30 posities, waarbij één * ~ * 'ir* ^ PHQ 86.006 6 put.18 in het elementaire gebied met rangnummer "3" in de eerste besturingsbyte en één synchronisatieput 16 in het elementaire gebied met rangnummer "12“ van de tweede besturingsbyte is gelegen. Besturingswoorden 14 (zie figuur 1a) in de gebieden B onderscheiden zich 5 van de besturingswoorden in de gebieden A door een besturingsstructuur waarbij één put 19 in elementaire gebied met rangnummer “5" van het eerste besturingsbyte en een synchronisatieput 20 in het elementaire gebied met rangnummer "12“ van de tweede besturingsbyte. Behalve voor de onderscheiding tussen de gebieden A en B kunnen de besturingsstructuren 10 ook gebruikt worden voor andere besturingsdoeleinden. Zo kunnen bijvoorbeeld de besturingswoorden worden voorzien van een groef 17 ten behoeve van de spoorvolging. Ter verduidelijking is in figuur 1a een langsdoorsnede van een besturingsstructuur weergegeven. Deze structuur wordt gevormd door een reliëf op een substraat 21 waarop een 15 metaallaag 22 is gelegen. De metaallaag is afgedekt met een transparant afdeklaag 22. De diepte van de groef 17 en de diepte van punt 19 en 20 worden respectievelijk met D1 en D2 aangegeven. In de praktijk komen de waarden D1 en D2 meestal overeen met respectievelijk een kwart en de helft van de golflengte van het licht van de uitleesbundel. Als gevolg 20 van de diepteverschillen wordt de bundel zodanig gemoduleerd, dat modulaties door groeven en putten van elkaar van de modulaties door het overige oppervlak onderscheidbaar zijn. De vlakke gedeelten in het reliëf, welke in de besturingsstructuren tussen de groef en synchronisetieputten 16 of 20 zijn gelegen kunnen worden gebruikt voor 25 de regeling van de focussering bij het uitlezen. Bovendien kan vanwege het feit dat de besturingswoorden op gelijke hoekafstanden van elkaar zijn gelegen met behulp van de besturingswoorden een kloksignaal worden opgewekt dat de middens van de elementaire gebiedjes 8 aangeeft. Voor een gedetailleerde beschrijving van de bovengenoemde regelingen wordt 30 verwezen naar de Amerikaanse octrooiaanvrage nr. 760.450 ingediend op 30 juli 1985.

Figuur 2 toont een inrichting voor het uitlezen van de informatiedrager 1. Hierin duidt getal 50 een aandrijfmechanisme van een gebruikelijke soort aan voor het met constante hoeksnelheid om 35 rotatiepunt 4 doen roteren van informatiedrager 1. Een laser 51 wekt een uitleesbundel 52 op welke via een half doorlatende spiegel 51a en een objectief 53 gefocusseerd op informatiedrager 1 wordt geprojecteerd,

Jr Si PHQ 86.006 7 waarbij door de uitleesbundel 52 een aftastvlek 54 op de informatiedrager wordt gevormd. Uitleesbundel 52 wordt door informatiedrager 1 gereflecteerd, waarbij de intensiteit van uitleesbundel 52 door de structuur van de informatiedrager ter plaatse 5 van aftastvlek 54 wordt gemoduleerd. De gereflekteerde en gemoduleerde uitleesbundel 52 wordt via objectief 53 en objectief 59 op een optische detector 55 van een gebruikelijke soort geprojecteerd, waarbij detector 55 elektrische signalen opwekt, welke de intensiteit van ontvangen uitleesbundel 52 vertegenwoordigen. De door de detector 55 opgewekte 10 signalen worden op een wijze zoals in detail is beschreven in de eerder genoemde Amerikaanse octrooiaanvrage nr. 760.450, verwerkt tot signalen, welke geschikt zijn voor de regeling van de spoorvolging, de regeling van de focussering van de bundel en voor het terugwinnen van de door de informatiestructuur vertegenwoordigde informatie. Daar deze regelingen 15 geen onderwerp van de onderhavige uitvinding vormen worden zij hier niet besproken. Objectieven 53 en 59, halfdoorlatende spiegel 51a en detector 55 zijn ondergebracht in een stelsel 57 dat met behulp van een aandrijfinrichting 58 van een gebruikelijke soort in een richting dwars op de spoorrichting verplaatst kan worden.

20 Bij een dergelijke radiêle verplaatsing doorloopt de aftastvlek een baan welke een aantal van ringvormige gebieden A en B doorsnijdt, waarbij de aftastvlek 54 op gezette tijden de besturingsstructuren ontmoet. Figuur 3 toont een voorbeeld van een baan 60, volgens welke aftastvlek 54 bij radiêle verplaatsing van stelsel 25 57 de ringvormige gebieden A en B doorsnijdt. De snijpunten van baan 60 met van rotatiepunt 4 afkomstige stralen 11 duiden de doorsnijdingen van baan 60 met de besturingsstructuren aan. Een doorsnijding 61 van een besturingsstructuur in een van de ringvormige gebieden A is sterk vergroot weergegeven. Het tijdens de doorsnijding 61 door detector 55 30 opgewekte signaal Vdet dat de intensiteit van de ontvangen bundel vertegenwoordigt is eveneens weergegeven. Een doorsnijding 62 van een besturingsstructuur in een van de ringvormige gebieden B en het tijdens de doorsnijding opgewekte Vdet eveneens in figuur 3 weergegeven. Zoals uit figuur 3 blijkt onderscheiden het detectiesignaal bij doorsnijding 35 van besturingsstructuren in de ringvormige gebieden A en het detectiesignaal bij doorsnijding van de ringvormige gebieden B zich van elkaar, doordat de afstanden tussen de pieken 63 in Vdet verschillend

'fi* "V

PHQ 86.006 8 zijn. Bij doorsnijding van de besturingsstructuren in gebieden A komt de afstand tussen pieken 63 overeen met een tijdspanne waarin de informatiedrager over een hoek wordt verdraaid die overeenkomt met 23 elementaire gebiedjes 8, terwijl bij doorsnijding van de 5 besturingsstructuren in gebieden B de afstand tussen pieken 63 overeenkomt met een tijdspanne waarin de informatiedrager over een hoek die overeenkomt met 21 elementaire gebiedjes 8 wordt verdraaid.

Aangezien registratiedrager 1 met konstante hoeksnelheid wordt aangedreven kunnen de doorsnijdingen van de besturingsstructuren.in de 10 gebieden A en B evenvoudig door bijvoorbeeld tijdmeting van elkaar worden onderscheiden. Daar slechts informatiestructuren zijn toegestaan waarin 4 putten 12 over de 15 elementaire gebiedjes 8 van de informatiebytes 9 zijn verdeeld, is de kans, dat bij het in radiële richting verplaatsen van de aftastvlek over de tussen de 15 besturingsstructuren gelegen informatiestructuren, het detectiesignaal Vdet 2 pieken 63 bevat, waarvan de afstand overeenkomt met 21 of 23 elementaire gebiedjes, nihil, zodat de gedeelten van het detectiesignaal die overeenkomen met doorsnijdingen van informatiestructuren goed onderscheidbaar zijn van de rest van het 20 detectiesignaal.

Zoals uit figuur 3 blijkt zal bij een radiële verplaatsing van de aftastvlek, waarbij tijdens doorsnijding van elk van de ringvormige gebieden A en B, de registratiedrager 1 verdraaid wordt over een hoek die groter is dan de hoek tussen twee opeenvolgende 25 stralen 11, steeds minstens een groep van naast elkaar liggende besturingsstructuren binnen elk van de gebieden A en B doorsneden worden. In dat geval kan eenvoudig uit het detectiesignaal Vdet een overgang van het ene naar het andere ringvormige gebied gedetecteerd, worden door bijvoorbeeld vergelijking van de gedeelten van het 30 detectiesignaal die opeenvolgende doorsnijdingen van besturingsstructuren aangeven.

In figuur 4 is een uitvoeringsvorm van een detectieschakeling 70 weergegeven, die een meetsignaal Vm opwekt die overschrijdingen van de grenzen van opeenvolgende ringvormige gebieden 35 aangeeft. Detectieschakeling 70 omvat een synchronisatieschakeling 75, welke uit het detectiesignaal Vdet besturingssignalen Vb1, Vb2 (zie figuur 5) afleidt, welke synchroon zijn met de tijdstippen waarop i ' PHQ 86.006 9 aftastvlek 54 een elementair gebied met respectievelijk rangnummer “3" en "5* van een van de eerste besturingsbytes ontmoet. Bovendien wekt synchronisatieschakeling 70 korte tijd na het opwekken van Vb2 een signaal Vb3 op. Besturingssignalen Vb1 en Vb2 besturen respectievelijk 5 een eerste bemonsterings- en houdschakeling 71 en een tweede bemonsterings- en houdschakeling 72, welke in reactie op respectievelijk besturingssignalen Vb1 en Vb2 een monster van het detectiesignaal Vdet nemen ongeveer op het moment dat het midden van aftastvlek 54 het midden van elementaire gebieden 8 met respectievelijk rangnummer "3" en *5" van 10 een van de eerste besturingsbytes passeert. De uitgangen van . bemonsterings- en houdschakelingen 70 en 71 worden naar respectievelijk de positieve en negatieve ingang van een vergelijkingsschakeling 72 gevoerd. Vergelijkingsschakeling 72 geeft afhankelijk van het resultaat van de vergelijking een logisch "0* of logisch "1" signaal, af op rijn 15 uitgang. Het signaal van de uitgang van vergelijkingsschakeling 73 wordt toegevoerd aan een flipflop 74, welke in reactie op besturingssignaal Vb3 in een toestand wordt gebracht, die overeenkomt met het uitgangssignaal van vergelijkingsschakeling 74. Het signaal Vm aan de uitgang van flipflop 74 geeft de toestand van flipflop 74 aan.

20 De door bemonsterings- en houdschakelingen 71 en 72 genomen monsters vertegenwoordigen het reflektievermogen van de bij de aftasting door aftastvlek 54 ontmoette elementaire gebieden in een van de besturingsbytes met respectievelijk rangnummer 3 en 5.

In de ringvormige gebieden A zijn de reflektievermogens 25 van de elementaire gebieden met rangnummer 3 lager dan het reflektievermogen van de elementaire gebieden met rangnummer 5, zodat gedurende de tijd dat aftastvlek 54 zich in een van de ringvormige gebieden A bevindt op de momenten dat besturingssignalen Vb3 worden opgewekt, het uitgangssignaal van vergelijkingsschakeling 73 gelijk is 30 aan "0*. Dit heeft tot gevolg dat tijdens het passeren van een van ringvormige gebieden A het signaal Vm eveneens "O" is vanaf het moment dat de eerste besturingsstructuur in dit gebied door aftastvlek 54 wordt afgetast. Op gelijksoortige wize wordt bereikt, dat bij het passeren van een van ringvormige gebieden B het signaal Vm M1e is vanaf het moment 35 dat de eerste besturingsstructuur in dit gebied door aftastvlek 54 wordt afgetast. Bij een radiêle verplaatsing van aftastvlek 5 wordt door detectieschakeling 70 een blokvormig signaal opgewekt, waarvan elke • * PHQ 86.006 10 flank een overgang tussen opeenvolgende ringvormige gebieden A en B aangeeft (zie figuur 5).

Bij een radiêle verplaatsing van aftastvlek 54 kan dit aantal overgangen electronisch geteld worden en vergeleken worden met 5 een gewenst aantal ringvormige gebieden die aftastvlek 54 moet passeren. Is het gewenste aantal bereikt, dan kan de radiêle verplaatsing stop gezet worden, zodat aftastvlek 54 op een bepaald ringvormig gebied geadresseerd blijft.

De wijze waarop het signaal Vm electronisch verwerkt 10 wordt, en de manier van de besturing van de radiêle verplaatsing van aftastvlek 54 vormen geen onderwerp van de onderhavige aanvrage, en zullen derhalve hier niet besproken worden. Is aftastvlek 54 op een bepaald ringvormig gebied geadresseerd, dan kan aftastvlek 54 op één enkel spoor binnen het ringvormige gebied geadresseerd worden door 15 bijvoorbeeld een in de sporen aangebrachte digitale kode, die het nummer van het betreffende spoor aangeeft, uit te lezen, zoals bijvoorbeeld beschreven is in de oudere Nederlandse octrooiaanvrage 7212002 (PHN 6508). Met deze adresinformatie kan aandrijfinrichting 58 zodanig bestuurd worden, dat aftastvlek 54 op het gewenste spoor geadresseerd 20 wordt.

Figuur 7 toont een uitvoeringsvoorbeeld van synchronisatieschakeling 75. Synchronisatieschakeling 75 is voorzien van een spanningsgestuurde oscillator 80, waarvan de fase en de frequentie zodanig zijn ingesteld dat pulsen Vo worden opgewekt, die synchroon zijn 25 met de tijdstippen waarop het midden van de aftastbundel de middens van de elementaire gebieden 8 passeert (zie figuur 5). Pulsen Vo fungeren als kloksignaal voor een teller 82. Met behulp van een vergelijkingsschakeling 83 wordt uit signaal Vdet een pulsvormig signaal Vs (zie figuur 5) opgewekt, dat dienst doet als terugstelsignaal voor 30 het op nul stellen van teller 82. Het zal duidelijk zijn dat het terugstelsignaal ook op andere wijze kan worden opgewekt, door bijvoorbeeld het signaal Vdet te differentiëren en vervolgens in reactie op een nuldoorgang van het gedifferentieerde signaal het terugstelsignaal op te wekken. Teller 82 is zodanig uitgevoerd dat deze 35 een pulsvormig signaal Vt (zie figuur 5) afgeeft op het moment dat de teller telstand ”20" heeft bereikt. Een pulsgever 84 geeft in reactie op signaal Vt een pulsvormig signaal Vv af, waarvan de breedte ongeveer PHQ 86.006 11 overeenkomt met 5 pulsen Vo. Signaal Vv en signaal Vs worden aan respectievelijk een eerste en tweede ingang van een twee-ingangs EN-poort 85 toegevoerd.

Met behulp van teller 82 worden ontmoetingen van 5 besturingsstructuren door aftastvlek 82 gedetecteerd. Zoals reeds beschreven onderscheiden de besturingsstructuren zich van de informatiestructuur door een grote afstand tussen de pieken 63 in het detectiesignaal Vdet, welke niet voorkomt bij aftasting van informatiestructuren. Daar teller 82 steeds bij iedere puls van signaal 10 Vs op nul gesteld wordt geeft het aantal door teller 82 getelde pulsen Vo de tijd aan die is verstreken vanaf het moment dat de laatste piek 63 in detectiesignaal Vdet is opgetreden. Overschrijdt deze tijd een bepaalde waarde die aangeeft dat een besturingsstructuur wordt afgetast, (in dit voorbeeld is dit telstand “20“) dan genereert teller 82 het 15 signaal Vt, hetgeen tot gevolg heeft dat een puls Vv wordt opgewekt. De telstand waarbij signaal Vt wordt afgegeven en de breedte van puls Vv zijn zodanig gekozen dat het tijdstip waarop een van synchronisatieputten 16 of 20 wordt afgetast altijd binnen de door de puls Vv bepaalde tijdvenster valt, zodat aan de uitgang van EN-poort 85 20 slechts pulsen worden opgewekt, op de tijdstippen die overeenkomen met de tijdstippen waarop de aftastvlek 54 synchronisatieputten 16 of 20 ontmoet.

Het uitgangssignaal van EN-poort 85 wordt toegevoerd aan een van de twee ingangen van een fasedetector 86. Aan de andere ingang 25 van fasedetector 86 wordt een signaal Vo' toegevoerd, dat is verkregen -met behulp van een frèquentiedeler 81, met een deeltal dat gelijk is aan het aantal elementaire gebiedjes dat overeenkomt met de hoek tussen opeenvolgende synchronisatieputten 16 of 20. Spanningsgestuurde oscillator 80, frequentiedeler 81, fasedetector 86 en een lusfilter 87, 30 vormen tezamen een fasevergrendelde lusschakeling waarmee de eerder genoemde instelling van de fase en frequentie van signaal Vo wordt verkregen, bij welke instelling pulsen Vo synchroon zijn met de tijdstippen, waarop het midden van aftastvlek 54 de middens van elementaire gebieden 8 passeert. In het hier beschreven voorbeeld wordt 35 frequentiedeler 81 gevormd door een teller. Met behulp van een poortschakeling 88 van een gebruikelijke soort wordt uit de telstand van frequentiedeler 81 de pulsvormige signalen Vb1, Vb2 en Vb3 afgeleid.

·* PHQ 86.006 12

In de hier beschreven uitvoeringsvorm onderscheiden de besturingsstructuren zich van de informatiestructuur door een afstand tussen de putten die niet voorkomt en de informatiestructuur. Deze afstand komt afhankelijk in welke van de twee typen ringvormige gebieden 5 besturingsstructuren zijn gelegen overeen met "21" of "23" elementaire gebieden. Het spreekt voor zich dat de besturingsstructuren ook door andere afstanden van de informatiestructuren kunnen onderscheiden, bijvoorbeeld door afstanden die niet overeenkomen met een veelvoud van elementaire gebieden, maar bijvoorbeeld met 1j of j keer 10 de lengte van een elementair gebied. Verder is het bijvoorbeeld mogelijk om de besturingsstructuren te kenmerken door een aantal opeenvolgende putten, dat groter is dan het maximaal toegestane aantal opeenvolgende putten in de informatiestructuur. Het zal duidelijk zijn dat in feite alle besturingsstructuren bruikbaar zijn die onderling onderscheidbaar 15 zijn, mits deze structuren in radiële richting naast elkaar liggen en in hoofdzaak in tangentiële richting variëren, zodat bij doorsnijding van een groep naast elkaar liggende structuren de modulatie van de aftastbundël vrijwel onafhankelijk is van de hoek de aftastvlek de besturingsstructuren snijdt. Zo is het bijvoorbeeld ook mogelijk om 20 in plaats van in de uitvoeringsvorm beschreven besturingsstructuren die in radiële richting rijen van putten vormen, besturingsstructuren toe te passen waarbij de putten elkaar overlappen en aldus een in radiële richting gelegen langgerekte groeven vormen. Ook is het niet noodzakelijk dat de putten in de besturingsstructuren in het midden van 25 de sporen zijn gelegen. Het is bijvoorbeeld mogelijk om binnen de besturingsstructuren een put links van het midden en een put rechts van het midden te positioneren. In dat geval kunnen de putten ook gebruikt worden voor de spoorvolgregeling, zodat de groef in de besturingsstructuur overbodig worden.

30 Verder zijn in het hier beschreven voorbeeld de besturingsstructuren gelegen op een groep van het rotatiepunt afkomstige stralen met gelijke hoekverdeling. Echter ook andere verdelingen zijn toepasbaar. Voldoende is om de groepen naast elkaar liggende onderscheidbare besturingsstructuren zodanig over de ringvormige 35 gebieden te verdelen dat bij een gegeven maximale radiële verplaatsingssnelheid van de aftastvlek en gegeven rotatiesnelheid van de informatiedrager in elk ringvormig gebied ten minste een groep PHQ 86.006 13 besturingsstructuren wordt ontmoet. Nog een andere mogelijkheid is om slechts radiële verplaatsing volgens een beperkt aantal banen toe te staan, en daarbij een zodanige verdeling van de groepen van naast elkaar liggende besturingsstructuren te kiezen, waarbij de toegestane banen ten 5 minste een groep besturingsstructuren doorsnijdt in elk ringvormig gebied. Dit kan bijvoorbeeld door slechts binnen een beperkt aantal, van besturingsstructuren voorziene, sectoren van de registratiedrager radiële verplaatsing van de aftastvlek toe te staan.

Claims (6)

1. Optische registratiedrager, welke is voorzien of voorzien kan worden van een langs sporen gerangschikte informatiestructuur, welke sporen in hoofdzaak concentrisch om een rotatiepunt zijn gelegen, waarbij de drager eerste en tweede van elkaar onderscheidbare, 5 ringvormige gebieden omvat, die concentrisch om het rotatiepunt zijn gelegen, met het kenmerk dat de registratiedrager is voorzien van eerste en tweede besturingsstructuren, welke van elkaar en van de informatiestructuur onderscheidbaar zijn, waarbij ter onderscheiding van de eerste en tweede gebieden de eerste gebieden zijn voorzien van 10 groepen in radiële richting naast elkaar liggende eerste besturingsstructuren en de tweede gebieden zijn voorzien van groepen van in radiële richting naast elkaar liggende tweede besturingsstructuren.

2. Optische registratiedrager volgens conclusie 1, met het kenmerk dat de besturingsstructuren zodanig langs de in hoofdzaak 15 concentrische sporen zijn gerangschikt, dat de structuur langs de sporen afwisselend besturingsstructuren en informatiestructuren omvat.

3. Optische registratiedrager volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk dat de besturingsstructuren over de gehele breedte van de ringvormige gebieden zijn gelegen op posities welke zijn gedefinieerd 20 door tenminste één groep van, van het rotatiepunt afkomstige stralen met gelijke hoekverdeling.

4. Optische registratiedrager volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat eerste en tweede besturingsstructuren zich van elkaar onderscheiden door eerste en tweede onderscheidingsgebiedjes welke een 25 respectievelijk een eerste en tweede voorafbepaalde hoek ten opzichte van de stralen zijn verschoven, waarbij in de eerste besturingsstructuren de eerste onderscheidingsgebiedjes een eerste en- de tweede onderscheidingsgebiedjes een tweede onderscheidelijke modulatie van de uitleesbundel veroorzaken, en in de tweede 30 besturingsstructuren respectievelijk de tweede en de eerste modulatie van de uitleesbundel.

5. Inrichting voor het uitlezen van de registratiedrager volgens een der conclusies 1 tot en met 4, welke inrichting is voorzien van aandrijfmiddelen voor het doen roteren van de informatiedrager om 35 het rotatiepunt, een uitleesbundel leverende stralingsbron, een objectiefstelsel voor het focusseren van een uitleesbundel tot een aftastvlek op de registratiedrager en het daarna toevoeren van de PHQ 86.006 15 uitleesbundel aan een stralingsgevoelig detectiestelsel, waarbij de aftastvlek onder besturing van een radiële verplaatsingsinrichting in radiële zin verplaatsbaar is in het vlak waarin de registratiedrager roteert, en waarbij het detectiestelsel ten behoeve van het uitlezen van 5 de informatiestructuur de door de structuur van de registratiedrager veroorzaakte modulatie van de uitleesbundel omzet in een elektrisch signaal, met het kenmerk dat de inrichting is voorzien van een detectieschakeling voor het afleiden van een meetsignaal uit eerste en tweede gedeelten van het elektrische signaal, die overeenkomen met de 10 gemoduleerde stralenbundel, wanneer deze respectievelijk de eerste en tweede besturingsstructuren aftast, welk meetsignaal bij radiële verplaatsing van de aftastvlek het passeren van een grens tussen de eerste en tweede gebieden aangeeft.

6. Inrichting volgens conclusie 5, met het kenmerk dat de 15 inrichting is voorzien van een synchronisatieschakeling voor het uit het elektrische signaal afleiden van eerste en tweede besturingssignalen, welke synchroon zijn met het treffen van de aftastvlek van respectievelijk de eerste en tweede onderscheidingsgebiedjes, een bemonsteringsschakeling voor het in reactie op eerste en tweede 20 besturingssignalen nemen van eerste en tweede monsters van het elektrisch signaal, alsmede een schakeling voor het vergelijken van de eerste en tweede monsters en voor het opwekken van het meetsignaal in afhankelijkheid van het resultaat van de vergelijking. v ** *' ·' '~9 *