JPH08509070A - 画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック - Google Patents

画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック

Info

Publication number
JPH08509070A
JPH08509070A JP6522046A JP52204694A JPH08509070A JP H08509070 A JPH08509070 A JP H08509070A JP 6522046 A JP6522046 A JP 6522046A JP 52204694 A JP52204694 A JP 52204694A JP H08509070 A JPH08509070 A JP H08509070A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
stack
image forming
range
laminated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6522046A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3587847B2 (ja
Inventor
ディサナヤカ、ビムサラ
Original Assignee
ミネソタ・マイニング・アンド・マニュファクチュアリング・カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ミネソタ・マイニング・アンド・マニュファクチュアリング・カンパニー filed Critical ミネソタ・マイニング・アンド・マニュファクチュアリング・カンパニー
Publication of JPH08509070A publication Critical patent/JPH08509070A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3587847B2 publication Critical patent/JP3587847B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2002Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/26Measuring radiation intensity with resistance detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 画像形成装置内の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック(30)。ポリマー層(34)が1つの平坦な表面、および表面粗さRA0.5〜2.5μmの範囲内を有する第2の反対主要表面(35)を有する。そのポリマー層の粗化表面に提供された接着剤(36)は屈折率n2を有し、それはそのポリマー層の屈折率n1と少なくとも0.02の差を有する。μmで表したRAと(n2-n1)の絶対値Δnの積が、約0.01〜0.05の範囲内である。

Description

【発明の詳細な説明】 画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック (技術分野) 本発明は一般に画像形成装置、特にそのような装置の干渉縞を最少にする手段 に関する。 (背景技術) 放射線のビームが2つの部分に分離され、それぞれが異なる径路を進み、次い で共に戻って単一ビームを形成することがある。その2つの径路が同一の光学距 離を有さない場合、2つのビームは位相が異なり、いくつかの点では減算的に干 渉し(相対的に暗い領域となり)、その他の点では加算的に干渉する(相対的に 明るい領域となる)。光線(ビーム)が透明フィルムのスタックに当たる場合は 2つに分かれ得る。ビームのいくらかはスタックの上部表面で反射し、ビームの 残りはスタックに入り、下側のあるフィルム表面で反射するまで通過し続け、反 射時点で、光はスタック中を逆戻りして入ったのと同一表面から出る。2つの光 線の光路長さの差は、第2の光線が通過する付加的フィルムの厚さの関数である 。その結果、相対的に暗い領域および明るい領域の縞パターンとなり、それは各 等高線がλ/2(λは用いた放射線の波長)の厚さの差を表すフィルムの厚さの等 高線地図を提供する。この等高線地図状パターンは一般に「ニュートン・リング (Newton's Rings)」として公知である。 これらの干渉パターンは、画像形成システム、例えば写真装置およびデジタル 放射線画像形成システムに生じる場合に特に問題となる。デジタル放射線画像形 成システムは光導電性材料を用いて、物体の画像を表す入射放射線を吸収する。 好適な光導電性材料は放射線を吸収し、空孔対(電荷(charge)キャリア)を形 成し、それは光導電体を横切る電場により互いに分離され、その光導電体の表面 (通常、平滑な薄層)に潜像を形成し得る。走査放射線の振幅の小さいビームは 、第2の組の電荷キャリアを運動させることにより、実質的にその光導電体を完 全に放電させる。その光導電体の平面内のこれら第2の電荷キャリアの分布は、 第1の電荷キャリアの分布、即ち潜像により影響を受ける。第2の電荷キャリア の運 動を適当な回路により、検出し、デジタル化して、その潜像をデジタル形態に表 す。 干渉縞の作用を最小にする様々な方法が特許権利化されている。様々な公知の 方法には、積層画像形成スタック内または表面上に粒子を分散添加して光線散乱 することを含む。その他の公知の方法には、その上部表面を粗面化またはディン プルをつけて光散乱を誘導することを含む。 上記方法は干渉縞を異なる程度に低減する。しかし、そのような低減は通常、 画像分解能の低下を伴う。良好な画像分解能を維持すると同時に、干渉縞の影響 を最小にすることが望ましい。 (発明の要旨) 従って、本発明により、画像形成装置に形成される干渉縞を最小にする積層画 像形成スタックを提供する。その積層画像形成スタックには、1つの実質的に平 坦な、平滑な表面を有し、反対表面が表面粗さRAを有するポリマー層を含む。 約50μm以下の厚さのポリマー被膜を、表面粗さRAを有するポリマー層の側に提 供する。表面粗さRA、およびそのポリマー層および被膜に用いた材料は、RAと ポリマー層および被膜の屈折率の差の絶対値、Δnの積が、0.01〜0.05となるよ うに選択されるべきであり、RAはμmで与えられる。その被膜は好ましくは厚さ 約5〜15μmであり、好ましくは接着剤である。屈折率の差の絶対値は好ましく は約0.02〜0.08の範囲内である。平均表面粗さRAは好ましくは約0.5〜2.5μmの 範囲内である。その被膜は好ましくはそのポリマー層を光活性(photoactive) 層に結合する。 (図面の簡単な説明) 本発明を以下の図面により説明する。 図1は、従来技術の放射線画像形成用積層画像形成スタックの断面側面概略図 を示す。 図2は、干渉縞を最小にする本発明の積層画像形成スタックの断面側面概略図 を示す。 (詳細な説明) X線画像形成に用いる従来技術の積層画像形成スタックを図1に示す。積層画 像形成スタック10は、透明導電性層12、誘電性層14、接着剤層16、光活性層18、 導電性層20および絶縁性ガラス基材22から成る。透明導電性層12は通常、酸化イ ンジウム錫(ITO)および誘電性層14は通常、ポリマーである。光活性層18は通 常、光導電体である。 使用中、大きな電場(5〜10V/μm)を、導電性層20と透明導電性層12の間に 電位差を与えることにより、積層画像形成スタック10を横切って保持する。X線 照射すべき物体を、X線源および荷電した積層画像形成スタック10の間に置く。 その物体を素通りまたは通過するX線は光活性層18に吸収され、電場により分離 される空孔対を形成する。その物体に吸収されたX線は、積層画像形成スタック 10に到達せず、それにより光活性層18の上部表面17に潜像を形成する。露光積層 画像形成スタック10はレーザースキャナに移動し、潜像を読み取る。 その画像読出し段階の間に、高電圧を積層画像形成スタック10を横切って保持 する。走査放射線の振幅の狭い、集束したレーザービーム(a)を直接、積層画 像形成スタック10に照射する。ビーム(a)のある部分はスタック10の上部表面 で反射する。残りのビーム(a)は誘電性層14を通って接着剤層16に伝わる。残 りのビーム(a)の一部は、誘電性層14の下側表面15ビーム(b)として反射され る。そのビーム(a)の残りは接着剤層16を通過して光活性層18に当たるまで進 み、その光の一部は光活性層により吸収され、その残りはビーム(c)として光 活性層の上側表面17で反射される。光活性層18により吸収された放射線は光活性 層の未露光領域の荷電対を有効に分離し、導電性層20に陽電荷を生じる。その陽 電荷は、増幅され、積算され、デジタル信号に変換される。デジタル化信号は読 み取られて、潜像からの実像を形成し得る。 図1に見られるように、反射したビーム(a、bおよびc)はそれぞれ互いに平 行であるが、それぞれが進んだ異なる距離により異なる位相を有する。これが、 前述の干渉縞およびニュートン・リングとなる。図1のビーム(c)がない場合 、即ち下側表面17で反射した放射線がない場合でも、ビーム(a)および(b)の 間の干渉により形成される干渉縞は存在することに注目すべきである。ビーム( a)が異な る光路に沿って進む2つ以上のビームに分割される場合にはいつでも、干渉縞が 形成される。 従来技術のX線画像形成に用いられる積層画像形成スタック10を図1に示す。 積層画像形成スタック10は透明導電性層12、誘電性層14、接着剤層16、光活性層 18、導電性層20および絶縁性ガラス基材22から成る。透明導電性層12は通常、酸 化インジウム錫(ITO)および誘電性層14は通常、ポリマーである。光活性層18 は通常、光導電体である。 使用中、大きな電場(5〜10V/μm)を、導電性層20と透明導電性層12の間に 電位差を与えることにより、積層画像形成スタック10を横切って保持する。X線 照射すべき物体を、X線源および荷電した積層画像形成スタック10の間に置く。 その物体を素通りまたは通過するX線は光活性層18に吸収され、電場により分離 される空孔対を形成する。その物体に吸収されたX線は、積層画像形成スタック 10に到達せず、それにより光活性層18の上部表面17に潜像を形成する。露光積層 画像形成スタック10はレーザースキャナに移動し、潜像を読み取る。 その画像読出し段階の間に、高電圧を積層画像形成スタック10を横切って保持 する。走査放射線の振幅の狭い、集束したレーザービーム(a)を直接、積層画 像形成スタック10に照射する。ビーム(a)のある部分はスタック10の上部表面 で反射する。残りのビーム(a)は誘電性層14を通って接着剤層16に伝わる。残 りのビーム(a)の一部は、誘電性層14の下側表面15ビーム(b)として反射され る。そのビーム(a)の残りは接着剤層16を通過して光活性層18に当たるまで進 み、その光の一部は光活性層により吸収され、その残りはビーム(c)として光 活性層の上側表面17で反射される。光活性層18により吸収された放射線は光活性 層の未露光領域の荷電対を有効に分離し、導電性層20に陽電荷を生じる。その陽 電荷は、増幅され、積算され、デジタル信号に変換される。デジタル化信号は読 み取られて、潜像からの実像を形成し得る。 図1に見られるように、反射したビーム(a、bおよびc)はそれぞれ互いに平 行であるが、それぞれが進んだ異なる距離により異なる位相を有する。これが、 前述の干渉縞およびニュートン・リングとなる。図1のビーム(c)がない場合 、即 ち下側表面17で反射した放射線がない場合でも、ビーム(a)および(b)の間の 干渉により形成される干渉縞は存在することに注目すべきである。ビーム(a) が異なる光路に沿って進む2つ以上のビームに分割される場合にはいつでも、干 渉縞が形成される。 本発明のX線画像形成に用いられる積層画像形成スタック30を図2に示す。積 層画像形成スタック30は透明導電性層32、誘電性層34、接着剤層36、光活性層38 、導電性層40および基材42から成る。誘電性層34の下側表面35は粗化されている 。誘電性層34の下側表面35の表面粗度RAは好ましくは、約0.5〜2.5μm、より好 ましくは約1〜2μmの範囲内であり、および最も好ましくは約1.5μmである。 最小値では、平均表面粗度RAはいつも用いられる走査放射線の波長λの約半分 より大きくあるべきである。 透明導電性層32は好ましくは酸化インジウム錫(ITO)であり、厚さ約10〜75n mを有する。誘電性層34は、好ましくは高絶縁耐力および誘電率3.5以下を有する ポリマー、例えばポリカーボネートである。誘電性層34は好ましくは、厚さ約75 〜250μmを有する。 接着剤層36は好ましくは誘電率約4.0以下を有する。接着剤層36は好ましくは 紫外線(UV)硬化性接着剤、例えばニュージャージー州ニューブランスウィック (New Brunswick)のノーランド・プロダクツ(Norland Products)社から市販 のノーランド・オプティカル・アドヒーシブ(Norland Optical Adhesive)61で ある。接着剤層36の平均厚さは好ましくは50μm以下、より好ましくは30μm以下 、および最も好ましくは約5〜15μmの範囲内である。層36は好ましくは接着剤 であると同時に、同様の物理特性を有する透明ポリマー被膜であってもよい。 誘電性層34の下側表面35の所望の表面粗度RA、および誘電性層の屈折率n1お よび接着剤層36の屈折率n2の差の絶対値Δnの間に数学的に逆比例の関係が存 在することを見い出した。RAおよびΔnの積は好ましくは約0.01〜0.05の範囲 内であり、RAはμmで与えられる。RAk好ましい範囲は上記の通りである。屈 折率の差Δnは好ましくは約0.02以上、およびより好ましくは約0.02〜0.08の範 囲内である。 光活性層38は、光導電性または感光性のどちらかである。好ましい光導電体は 非晶質セレンである。導電性層40は好ましくは200nm厚の蒸着アルミニウム被膜 である。基材42は好ましくは絶縁性基材、例えばガラスである。 潜像が形成され、積層画像形成スタック10に関する前述の方法により読み取ら れる。走査放射線ビーム(a)は積層画像形成スタック30に向かって直射するの で、ビーム(a)のある部分はそのスタックの上部表面で反射される。ビーム(a )の残りは誘電性層34を通過し、接着剤層36内に進み、ビーム(b)として反射 される。ビーム(b)は接着剤層36、誘電性層34を通過して、誘電性層32から再 び出てくる。誘電性層34の下側表面35の表面粗度RAのために、ビーム(b)は反 射したビーム(a)と平行ではなく、従って干渉縞は見られない。 誘電性層34および接着剤層36の屈折率の差の絶対値がΔnが増加すると、粗化 表面34による光散乱の量は増加し、更に干渉縞の作用は減少する。しかし、Δn を増加することもまた画像分解能を低下する。従って、Δn値は約0.02〜0.08の 範囲内であるべきである。 本発明を以下の非限定的実施例により説明する。 実施例 積層画像形成スタック30に類似の積層画像形成スタックを有する放射線検出機 を組立てた。425μm厚の非晶質セレン層を、アルミニウム被覆研磨基材上に蒸着 した。厚さ175μmおよびセレンに面する側の艶消し仕上げを有するポリカーボネ ートフィルムをセレンにUV硬化性アクリレート接着剤によりラミネートし、誘電 性層を形成した。屈折率1.586を有する光学グレードポリカーボネートフィルム を用いた。用いた接着剤はノーランド・オプティカル・アドヒーシブ(Norland Optical Adhesive)61であり、屈折率1,56を有する。その接着剤をUV光により 5分間硬化した。抵抗100Ω/スクエアを有する75nm厚ITO層を、積層画像形成ス タックの上部の誘電性層の上部に蒸着した。 検出器プレート上のX線潜像を、100μm幅の442nmレーザービームを用いて読 み取った。得られたデジタル画像では、干渉縞の存在を実際に評価し、その分解 能は1mm当たり5.8ラインペア(line pair)であった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG ,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN, TD,TG),AT,AU,BB,BG,BR,BY, CA,CH,CN,CZ,DE,DK,ES,FI,G B,HU,JP,KP,KR,KZ,LK,LU,LV ,MG,MN,MW,NL,NO,NZ,PL,PT, RO,RU,SD,SE,SK,UA,UZ,VN

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.屈折率n1を有し、第1の実質的に平滑な主要表面および表面粗さRAを有 する第2の反対主要表面(35)を有するポリマー層(34);および 該ポリマー層の第2表面上に提供されたポリマー被膜(36)であって、該被膜 が屈折率n2および厚さ50μm以下を有し、RAおよびΔnの積が、約0.01〜0.05 の範囲内であり、Δnが(n2-n1)の絶対値を表し、RAがμmで表されるポリ マー被膜(36); を含む画像形成装置内の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック(30)。 2.該被膜の厚さが約5〜15μmの範囲内である請求項1記載の積層画像形成 スタック。 3.Δnが約0.02〜0.08の範囲内である請求項1記載の積層画像形成スタック 。 4.RAが約0.5〜2.5μmの範囲内である請求項1、2または3のいずれかに記 載の積層画像形成スタック。 5.該ポリマー層の反対側の該被膜側に提供された光活性層(38)を更に含む 請求項4記載の積層画像形成スタック。 6.屈折率n1、第1の実質的に平滑な主要表面、および表面粗さRAを有する 第2の反対主要表面(35)を有するポリマー層(34); 該ポリマー層の第2表面上に提供された接着剤(36)であって、該接着剤が屈 折率n2および厚さ50μm以下を有し、RAおよびΔnの積が、約0.01〜0.05の範 囲内であり、Δnが(n2-n1)の絶対値を表し、RAがμmで表される接着剤(3 6);および 該ポリマー層の反対側の該接着剤層側に提供された光活性層(38); を含む画像形成装置内の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック(30)。 7.該光活性層が非晶質セレンである請求項6記載の積層画像形成スタック。 8.該接着剤層の厚さが約5〜15μmの範囲内である請求項6記載の積層画像 形成スタック。 9.Δnが約0.02〜0.08の範囲内である請求項6、7または8のいずれかに記 載の積層画像形成スタック。 10.RAが約0.5〜2.5μmの範囲内である請求項9記載の積層画像形成スタック。
JP52204694A 1993-04-01 1994-02-02 画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック Expired - Fee Related JP3587847B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/041,484 US5311033A (en) 1993-04-01 1993-04-01 Layered imaging stack for minimizing interference fringes in an imaging device
US08/041,484 1993-04-01
PCT/US1994/001334 WO1994023316A1 (en) 1993-04-01 1994-02-02 Layered imaging stack for minimizing interference fringes in an imaging device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08509070A true JPH08509070A (ja) 1996-09-24
JP3587847B2 JP3587847B2 (ja) 2004-11-10

Family

ID=21916762

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52204694A Expired - Fee Related JP3587847B2 (ja) 1993-04-01 1994-02-02 画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック

Country Status (10)

Country Link
US (1) US5311033A (ja)
EP (1) EP0692101A1 (ja)
JP (1) JP3587847B2 (ja)
CN (1) CN1120370A (ja)
AR (1) AR248460A1 (ja)
AU (1) AU6134794A (ja)
BR (1) BR9405800A (ja)
CA (1) CA2157585A1 (ja)
NO (1) NO953890L (ja)
WO (1) WO1994023316A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012168059A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置
WO2020040123A1 (ja) * 2018-08-21 2020-02-27 Jsr株式会社 光学フィルターおよび環境光センサー

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09511616A (ja) * 1994-03-31 1997-11-18 イメイション・コーポレイション 可変の電極配列および処理を用いるイメージングシステム
US5693446A (en) * 1996-04-17 1997-12-02 Minnesota Mining And Manufacturing Company Polarizing mass transfer donor element and method of transferring a polarizing mass transfer layer
JP4395349B2 (ja) * 2003-09-29 2010-01-06 大日本印刷株式会社 光学フィルムおよびこの光学フィルムを具備する光学表示装置
US7088488B2 (en) * 2004-07-13 2006-08-08 Imation Corp. Spatial light modulator device with diffusive element
US7202919B2 (en) * 2004-07-13 2007-04-10 Imation Corp. Holographic data storage with PDLC spatial light modulator generating reference and object beams
US20070111480A1 (en) * 2005-11-16 2007-05-17 Denso Corporation Wafer product and processing method therefor
US20070281129A1 (en) * 2006-06-06 2007-12-06 Chi Kwong Chan Diffuser films and methods for making and using the same
US20080055729A1 (en) * 2006-08-28 2008-03-06 Micron Technology, Inc. Reducing reflections in image sensors
CN101373221B (zh) * 2007-08-22 2010-12-08 远东新世纪股份有限公司 光学膜片及其制作方法
CN104966789A (zh) * 2015-06-30 2015-10-07 深圳市华星光电技术有限公司 一种电荷连接层及其制造方法、叠层oled器件
JP7142018B2 (ja) * 2017-02-20 2022-09-26 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー コントラスト低減層を有する再帰性反射物品
CN111696841B (zh) * 2020-06-22 2022-11-29 合肥维信诺科技有限公司 显示面板及其制备方法
WO2022271685A1 (en) * 2021-06-21 2022-12-29 The Board Of Regents For Oklahoma Agricultural And Mechanical Colleges Optical roic integration for oled-based infrared sensors

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2992101A (en) * 1957-02-18 1961-07-11 Eastman Kodak Co Suppression of newton's rings in printing color films
US3411907A (en) * 1965-03-04 1968-11-19 Eastman Kodak Co Photographic compositions containing combination of soft and hard matting agents
DE1810627B2 (de) * 1968-11-23 1978-03-09 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Verfahren zur Unterdrückung von Interferenzstreifen in photoempfindlichem Material
EP0003627B1 (en) * 1978-02-03 1982-03-17 Agfa-Gevaert N.V. Method for preparing a hydrophilic composition containing a matting agent, and photographic materials comprising a layer containing this composition
GB1588370A (en) * 1978-05-11 1981-04-23 Standard Telephones Cables Ltd Infra-red transmitting elements
US4575398A (en) * 1982-06-30 1986-03-11 Michael Tschishow Method for preventing Newton ring type patterns particularly in color separation scanning of transparencies
US4618552A (en) * 1984-02-17 1986-10-21 Canon Kabushiki Kaisha Light receiving member for electrophotography having roughened intermediate layer
US4696884A (en) * 1984-02-27 1987-09-29 Canon Kabushiki Kaisha Member having photosensitive layer with series of smoothly continuous non-parallel interfaces
AU558667B2 (en) * 1984-04-06 1987-02-05 Canon Kabushiki Kaisha Light receiving member
US4596745A (en) * 1984-05-04 1986-06-24 Cotek Company Non-glare coating
US4711838A (en) * 1985-08-26 1987-12-08 Minnesota Mining And Manufacturing Company Photographic elements sensitive to near infrared
DE3677709D1 (de) * 1985-09-21 1991-04-04 Canon Kk Photorezeptorelemente.
US4808504A (en) * 1985-09-25 1989-02-28 Canon Kabushiki Kaisha Light receiving members with spherically dimpled support
US4756993A (en) * 1986-01-27 1988-07-12 Fuji Photo Film Co., Ltd. Electrophotographic photoreceptor with light scattering layer or light absorbing layer on support backside
CA1276320C (en) * 1987-12-01 1990-11-13 John Allan Rowlands System for measuring the charge distribution on a photoreceptor surface
JP2722470B2 (ja) * 1988-01-08 1998-03-04 富士ゼロックス株式会社 電子写真感光体
US4999505A (en) * 1990-02-08 1991-03-12 Eastman Kodak Company Transparent radiation image storage panel

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012168059A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像検出装置
WO2020040123A1 (ja) * 2018-08-21 2020-02-27 Jsr株式会社 光学フィルターおよび環境光センサー
JPWO2020040123A1 (ja) * 2018-08-21 2021-08-26 Jsr株式会社 光学フィルターおよび環境光センサー

Also Published As

Publication number Publication date
CA2157585A1 (en) 1994-10-13
WO1994023316A1 (en) 1994-10-13
JP3587847B2 (ja) 2004-11-10
EP0692101A1 (en) 1996-01-17
CN1120370A (zh) 1996-04-10
AR248460A1 (es) 1995-08-18
NO953890D0 (no) 1995-09-29
US5311033A (en) 1994-05-10
AU6134794A (en) 1994-10-24
NO953890L (no) 1995-10-02
BR9405800A (pt) 1995-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3587847B2 (ja) 画像形成装置の干渉縞を最少にする積層画像形成スタック
JP3389380B2 (ja) Duv/euvパターン描画を用いたデバイス作製
Neitzel et al. Determination of the modulation transfer function using the edge method: Influence of scattered radiation: Scatter influence on MTF determination
US3436216A (en) Image storage comprising a thermoplastic deformation pattern
JPH0531564Y2 (ja)
JPS58164778A (ja) 蒸着金属層を保護する方法
JP3161760B2 (ja) 感光性画像形成部材とその作成方法
Wang et al. On the Structure and Morphology of the “Diffuse Ionized Medium” in Star-forming Galaxies
US4641158A (en) Electrophotographic apparatus
US4636069A (en) Method for reading deformation images on electrophotographic media
JPS6129851A (ja) 電子写真装置
EP1037123A2 (en) Method and element for holographic replication
JPH01316752A (ja) 電子写真装置
Dam et al. Photoelectron microscopy of organic surfaces: The effect of substrate reflectivity
US3819369A (en) Surface deformable imaging member of improved dark decay characteristics
NL1018377C2 (nl) Toestel voor meten van een brandpunt van een belichtingssysteem gebruikt voor vervaardiging van een halfgeleiderinrichting.
US4103071A (en) Thermoplastic recording members containing silicone oil, fluorocarbon oil or chlorofluorocarbon oil having improved deformation properties of surface
Fatouros et al. On optimizing the xeromammographic image
JPS61273550A (ja) 電子写真用記録材料
JPS62250401A (ja) 光学装置及びその製造方法
JPS641721B2 (ja)
JPH024271A (ja) 電子写真用感光体
SU1089549A1 (ru) Голографический способ исследовани и контрол фотоэлектретных свойств фототермопластических материалов на основе полимерных полупроводников
SU1056126A1 (ru) Способ записи оптической информации на электрофотографическом носителе
US4131795A (en) Instant radiation image display element

Legal Events

Date Code Title Description
A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20040218

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20040405

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040713

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040811

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070820

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820

Year of fee payment: 4

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080820

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090820

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090820

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100820

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees