JPH0844443A - 定電圧電源回路 - Google Patents

定電圧電源回路

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JPH0844443A
JPH0844443A JP17649794A JP17649794A JPH0844443A JP H0844443 A JPH0844443 A JP H0844443A JP 17649794 A JP17649794 A JP 17649794A JP 17649794 A JP17649794 A JP 17649794A JP H0844443 A JPH0844443 A JP H0844443A
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俊郎 唐木
Toshiaki Shinohara
俊朗 篠原
Noriyuki Abe
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Abstract

(57)【要約】 【目的】半導体基板上の占有面積が従来よりも小さく、
しかもサージ保護機能が確実な、サージ保護回路付き定
電圧電源回路を提供することにある。 【構成】定電圧電源回路のドライバトランジスタをnp
n形バイポーラトランジスタとし、其のベースとエミッ
タの間を短絡または開放する第1スイッチング素子と、
ベースとベース電流供給回路との間を短絡または開放す
る第2スイッチング素子とを設け、更に、通常動作時に
は上記第1スイッチング素子を開放、第2スイッチング
素子を短絡する信号を出力し、電源入力端子に過電圧が
印加された場合には上記第1スイッチング素子を短絡、
第2スイッチング素子を開放する信号を出力する過電圧
検知回路を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体基板上に構成され
た、基板占有面積が比較的小さくて済むようにした、サ
ージ保護回路付き定電圧電源回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図21は半導体基板上に構成された従来
の定電圧電源回路の一例を説明するための図である。電
源回路は、オペアンプ4a、抵抗5a〜7a、基準電圧
源8a、ドライバnpnトランジスタ9a及びnpnト
ランジスタ10aにより構成され、本従来例では電源回
路の負荷として内部回路ブロック3aが接続されてい
る。ここでドライバトランジスタにnpn形を用いてい
るが、それには下記の理由がある。電源回路を半導体基
板上に形成する場合、そのチップ占有面積が小さい方が
原価低減のために望ましい。一般的な製造工程を用いて
ドライバのトランジスタを形成する場合、npn形は縦
形構造となり、pnp形は横形構造となる。従って許容
電流当りの面積はnpn形の方が小さく、チップ占有面
積という点ではnpn形を使用した方が良い、また、n
pn形ドライバトランジスタ9aのベース電流はオペア
ンプ4aの出力に応じて制御され、抵抗7aとnpn形
トランジスタ10aにより供給される。なお、1aはI
C、2aはバッテリである。
【0003】この従来の定電圧電源回路の電源入力端子
の電圧をVB、出力電圧VCCとし、抵抗6aの値をR1
抵抗5aの値をR2とし、基準電圧源8aの出力電圧を
re fとする。通常、基準電圧源としてはバンドギャッ
プレファレンス回路が用いられ、その出力電圧は≒1.
2V程度である。この図21の回路は、図より明らかな
ようにオペアンプ4aを中心にしたフィードバックルー
プを形成している。オペアンプ4aの+側入力にはV
refが入力され、−側入力には出力電圧VCCが抵抗分圧
された電圧VCC2/(R1+R2)が入力される。オペ
アンプの基本動作によりこれら入力が等しくなるよう
に、オペアンプ出力、トランジスタ9a、トランジスタ
10aのバイアスが決定される。出力電圧VCCは下記式
(1)のようになる。 VCC=Vref×(1+R1/R2) …(1) つまりVrefとR1、R2の値によってVCCは決定される
ため、内部回路3aの消費電流値の変動が電源回路の各
素子の通常動作の許容値内であれば、この回路は定電圧
電源回路として動作する。しかし、上記回路では、電源
入力端子VBにサージ電圧が入力された場合、たとえオ
ペアンプ4aの出力がベース電流供給用のトランジスタ
10aを遮断状態にするにしても、抵抗7aを介して入
力電圧の一部がドライバトランジスタ9aに印加されて
トランジスタ9aをオンさせて入力サージ電圧が直接オ
ペアンプ4aや内部回路ブロック3aに印加され、ま
た、入力サージ電圧がドライバトランジスタ9aのエミ
ッタ−コレクタ間の耐圧を超えているとアバランシェブ
レークダウンを起こさせる。このサージ電圧が長時間に
わたって入力されるとドライバトランジスタ9aおよび
内部回路ブロック3aの破壊が起きる。よって通常は、
サージ保護回路が付加される。
【0004】サージ保護回路付き定電圧電源回路の従来
例としては例えば特開平5−175427号公報に記載
された図22に示すものが挙げられる。この図22に示
す回路で、通常動作時に、電圧コンパレータ6の出力”
H”が出力されているものとすると、pnp形のスイッ
チングトランジスタ9はオフ状態である。このとき電流
源10から電流が供給されて、pnpトランジスタ11
とpnpトランジスタ12、13、14のカレントミラ
ー回路により、回路ブロックa、b、cに電流が供給さ
れる。異常時は、例えば、サージ電圧が電源入力端子2
から入力されたとすると、その電圧は抵抗4、5により
分圧され、電圧コンパレータ6に入力され、基準電圧源
7の電圧と比較され、コンパレータ6は”L”を出力す
る。これによりスイッチングトランジスタ9がオンし、
pnpトランジスタ11、12、13、14のベース、
エミッタ間が短絡される。一般的にベース、エミッタ間
を短絡するとエミッタ、コレクタ間の耐圧が向上する。
従って、トランジスタ11、12、13、14に印加さ
れるサージ電圧がこの耐圧以内であれば、回路ブロック
a、b、cにサージ電圧が印加されることを防止でき
る。この第2の従来例では、ドライバトランジスタにp
np形が使用されているが、電源回路のチップ占有面積
の減少という点ではnpn形を用いた方が良い。この従
来例と同様なサージ保護回路付き定電圧電源回路で、ド
ライバトランジスタにnpn形を用いた第3の従来例を
図23に示す。
【0005】次に図23の従来例について回路構成と動
作を説明する。本回路は、オペアンプ24と基準電圧電
源32と抵抗26、27、31と、ドライバnpnトラ
ンジスタ33と、ベース電流供給用抵抗30と、レベル
シフト用npnトランジスタ35で構成される電源回路
本体、及び、抵抗28、29と、コンパレータ25とド
ライバnpnトランジスタ33のエミッタ、ベース間短
絡用のスイッチングトランジスタ34で構成されるサー
ジ保護回路から成る。また本従来例では負荷として内部
回路ブロック23が接続されている。ここで通常動作時
には、コンパレータ25の出力は”L”となるように抵
抗28、29、31と基準電圧源32の値が設定されて
いるものとする。通常動作時にはコンパレータ25の出
力が”L”なので、スイッチングトランジスタ34はオ
フとなり、抵抗26、27と基準電圧源32の値に応じ
た出力電圧VCCが内部回路ブロック23に供給される。
異常時は、例えばサージ電圧が電源入力端子VBから入
力されたものとすると、その電圧は抵抗28、29によ
り分圧され、コンパレータ25で基準電圧源32の電圧
値と比較され、コンパレータ25は”H”を出力する。
するとスイッチングトランジスタ34がオンし、ドライ
バnpnトランジスタ33のベース、エミッタ間が短絡
され、其のコレクタ、エミッタ間の耐圧が向上し、サー
ジ電流が抵抗30を通り、トランジスタ35から接地端
子への経路と、スイッチングトランジスタ34を通って
オペアンプ24と内部回路ブロック23への経路に流れ
る。この時、サージ電流値は抵抗30によって絞ること
ができるので、オペアンプ24および内部回路ブロック
23は破壊には至らない。なお、抵抗28、29によっ
て構成される経路、抵抗26、27によって構成される
経路は、通常抵抗値を高く設計するので、サージ電流は
絞られる。また、このサージ保護動作をする場合は、ド
ライバnpnトランジスタ33のベースとエミッタを短
絡したことにより高くなるコレクタとエミッタ間の耐圧
より、サージ電圧入力時にドライバnpnトランジスタ
33のコレクタとエミッタ間に印加される電圧が低い場
合に限られる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図23に示す
ような従来のサージ保護回路では、サージ電流がドライ
バnpnトランジスタのエミッタ、ベース間短絡用のス
イッチングトランジスタを流れてしまい、このエミッ
タ、ベース間短絡用のスイッチングトランジスタのオン
抵抗を低くしないとドライバnpnトランジスタの耐圧
が下がり、サージ保護機能が働かなかった。これを防ぐ
には、このスイッチングトランジスタのサイズを大きく
し、オン抵抗を低くしなければならず、チップ面積の増
大を招くという問題点があった。
【0007】本発明は上記したような従来の定電圧電源
回路の問題点をなくし、しかも半導体基板チップ上の占
有面積は比較的小さくて済むサージ保護回路つき定電圧
電源回路を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明においては、定電圧電源回路のドライバトラン
ジスタをnpn形バイポーラトランジスタとし、其のベ
ースとエミッタの間を短絡もしくは開放する第1のスイ
ッチング素子と、ベースとベース電流供給回路との間を
短絡もしくは開放する第2のスイッチング素子とを設
け、さらに、通常動作時には上記第1スイッチング素子
を開放、第2スイッチング素子を短絡する信号を出力
し、電源入力端子に過電圧が印加された場合には上記第
1スイッチング素子を短絡、第2スイッチング素子を開
放する信号を出力する過電圧検知回路を設けて、その一
つの出力信号により、第1、第2スイッチング素子の双
方を上記の如く制御させるか、又は、ドライバトランジ
スタ部を電源ドライバ用の第1のnpn形バイポーラト
ランジスタと此の第1のnpn形トランジスタのベース
電流供給用の第2のnpn形バイポーラトランジスタと
をダーリントン接続して構成し、上記第1と第2のnp
n形バイポーラトランジスタそれぞれのベース、エミッ
タ間を短絡もしくは開放する第1、第2スイッチング素
子と、上記第2のnpn形バイポーラトランジスタのベ
ースとベース電流供給回路との間を短絡もしくは開放す
る第3スイッチング素子とを設け、さらに、通常動作時
は上記第1、第2スイッチング素子を開放、第3スイッ
チング素子を短絡する信号を出力し、電源入力端子に過
電圧が印加された場合は第1、第2スイッチング素子を
短絡、第3スイッチング素子を開放する信号を出力する
過電圧検知回路を設けて、その一つの出力信号により、
第1、第2および第3スイッチング素子の全てを上記の
如く制御させるようにした。
【0009】
【作用】上記のような手段を採れば、ドライバトランジ
スタのベース、エミッタ間を短絡させるスイッチング素
子のサイズを小さくすることができ、また本発明のため
に、ドライバトランジスタへのベース電流供給を遮断す
るスイッチング素子を新たに設けることになるが、回路
全体としては、そうしないでドライバトランジスタのベ
ース、エミッタ間短絡用スイッチング素子の電流容量を
大きくした場合に比較して、サージ保護回路のチップ上
の占有面積を小さくできる。
【0010】
【実施例】図1は本発明の第1実施例図である。第1実
施例の回路は、オペアンプ44、基準電圧源50、抵抗
45、46、47、48、ドライバnpnトランジスタ
51、ベース電流供給用抵抗49、及びレベルシフト用
npnトランジスタ53によって主として構成される電
源回路本体と、過電圧検知回路55、ドライバトランジ
スタのエミッタ、ベース間短絡用のスイッチングトラン
ジスタ52、及びドライバトランジスタのベース電流供
給を遮断するためのスイッチングトランジスタ54によ
って構成されるサージ保護回路とから成る。また本実施
例では負荷として内部回路ブロック43が接続されてい
る。なお、過電圧検知回路55については、回路構成と
動作について別に後述する。
【0011】過電圧検知回路の出力Aの電圧は下記の式
が成り立つように出力される。 通常動作時: C−D>VF54 …(2) F−VCC<VF52…(3) なお、VF54:pnpトランジスタ54のターンオン電
圧の絶対値 VF52:npnトランジスタ52のターンオン電圧の絶
対値 C、D、F:図中のC、D、F点の電圧 VCC:電源回路の出力電圧 異常時(サージ電圧入力時): C−D<VF54 …(4) F−VCC>VF52…(5) 通常動作時は上記のように、スイッチングトランジスタ
54はオンし、スイッチングトランジスタ52はオフし
ている。従って抵抗45、46と基準電圧源50の値に
応じた出力電圧VCCが内部ブロック回路43に供給され
る。
【0012】異常時は、例えばサージ電圧が電源入力端
子VBから入力されたとするとスイッチングトランジス
タ52はオンし、ドライバトランジスタ51のベース、
エミッタ間が短絡され、コレクタ、エミッタ間の耐圧が
向上する。またスイッチングトランジスタ54はオフす
る。サージ電流は抵抗49からトランジスタ53へ流れ
るが、サージ電流は抵抗49によって絞られるのでトラ
ンジスタ53は破壊には至らない。つまり、電源入力端
子VBへのサージ電圧入力時に内部回路ブロック43へ
のサージ電圧の侵入および各トランジスタの破壊は起き
ない。従来例ではサージ電流がドライバトランジスタの
エミッタ、ベース間を短絡するスイッチングトランジス
タを流れる構造になっており、ドライバトランジスタを
オンさせないためには、オン抵抗の低い大きなサイズの
スイッチングトランジスタが必要であった。本発明実施
例では、ドライバトランジスタ51へのベース電流の供
給を遮断する構造となっているため、ドライバトランジ
スタ51のエミッタ、ベース間を短絡させるスイッチン
グトランジスタ52は、オン抵抗は高くても良いので小
さなサイズで対応できる。また、ベース電流の供給を断
つスイッチングトランジスタ54のサイズも大きくする
必要はなく、過電圧を検知する回路も、従来例たとえば
図23に示した従来例のコンパレータ25、抵抗28、
29を用いた回路と同規模で実現できる。よって回路全
体として考えた場合、従来例に比べて小さなチップ面積
でサージ保護回路を実現できる。なお、上記構成で対応
できるのは、サージ電圧入力時にトランジスタ54、5
1のコレクタ、エミッタ間に印加される電圧が其の耐圧
より低い場合に限られる。
【0013】次に過電圧検知回路について説明する。本
回路は基本的に通常動作時はスイッチングトランジスタ
52をオフ、スイッチングトランジスタ54をオンす
る”L”レベルを出力し、サージ電圧入力時にはスイッ
チングトランジスタ52をオンし、スイッチングトラン
ジスタ54をオフする”H”レベルを出力すれば良い。
過電圧検知回路の第1の例を図17に示す。本回路はV
Bを電源とするコンパレータ61と抵抗62、63より
構成される。動作はコンパレータの−側入力端子に入力
される電源回路内の基準電圧源50の電圧値と、電源端
子VBの入力電圧値を抵抗分圧し+側端子に入力した値
とを比較し、VBがあるしきい値を超えた場合に”H”
レベルを出力する。なお、コンパレータ61の電源はV
Bから供給されるので”H”レベルはVBの電圧に応じた
値となる。しきい値は、抵抗62、63と基準電圧源5
0の値で設定できる。過電圧検知回路の第2の例を図1
8に示す。この例の回路は抵抗66、67、68とツェ
ナーダイオード69とpnpバイポーラトランジスタ7
0により構成される。電源入力端子VBの電圧が正常の
場合、トランジスタ70はオフでAには”L”レベルが
出力される。電源入力端子VBの入力電圧値が上昇し、
ツェナーダイオード69の両端に印加される電圧がツェ
ナー電圧以上になった場合、抵抗66、67とツェナー
ダイオード69に電流が流れ、pnpトランジスタ70
がオンし、”H”レベルが出力される。なお、”H”レ
ベルは電源入力端子VBの電圧に応じた値でトランジス
タ70のオン抵抗と抵抗68によって決まる。過電圧検
知回路の第3の例を図19に示す。本回路は抵抗72、
73により構成される。動作は電源入力端子VBの上昇
に応じて抵抗分圧された値が出力される。前記各例のよ
うに出力レベルが急激に変化することはないが、電源回
路内のスイッチングトランジスタのベース抵抗値(図1
の47、48)、抵抗72、73の値を最適化すれば設
計可能である。更に、図20に示すような過電圧検知回
路も実現できる。この過電圧検知回路は図17に示した
第1の過電圧検知回路と同様であるが、通常動作時、異
常動作時のA端子出力電圧の極性が逆である。従って、
異常動作時に、ドライバトランジスタのベース、エミッ
タ間短絡用のスイッチング素子とドライバトランジスタ
のベース電流供給遮断用のスイッチング素子として、図
1に示した第1実施例の場合と逆極性の出力によって動
作するトランジスタを使用する場合に適する。
【0014】図2は本発明の第2実施例の図である。本
実施例の構成と既述の第1実施例の構成とで違う点は、
ドライバトランジスタのベース、エミッタ間を短絡させ
るスイッチングトランジスタをnチャネルMOSトラン
ジスタ(以後MOSFETとよぶ)にした点とベース電
流供給遮断用スイッチングトランジスタにpチャネルM
OSFETを用いている点である。過電圧検知検知回路
の構成は第1実施例の場合と同じで良い。ここで過電圧
検知回路の出力電圧Aは以下に示す式が成り立つように
出力するものとする。 通常動作時: C−A>VT92 …(6) A−VCC<VT90…(7) なお、VT92:pチャネルMOSFET92のしきい値
の絶対値 VT90:nチャネルMOSFET90のしきい値の絶対
値 C、A:図中C、Aの電圧 VCC:電源回路の出力電圧 異常時(サージ電圧入力時): C−A<VT92 …(8) A−VCC>VT90…(9) 動作は第1実施例の場合と基本的に同じである。効果と
しては第1実施例と同様にスイッチングトランジスタ9
0のサイズを大きくする必要のないことである。従って
回路全体とした考えた場合、従来のドライバトランジス
タのエミッタ、ベース間を短絡させるスイッチング素子
のみを備えたサージ保護回路に比べて、小さなチップ面
積でサージ保護回路が実現できる。
【0015】更に上述の第1、第2実施例と同様な考え
方で下記表1に示す各実施例も考えられる。
【0016】
【表1】
【0017】上記各実施例の動作は基本的に第1、第2
実施例と同じである。
【0018】次にドライバトランジスタ部を、2つのn
pnトランジスタをダーリントン接続して構成した場合
の実施例について説明する。これを図9に第9実施例と
して示す。図9に示す回路は、オペアンプ304と基準
電圧源311と抵抗305〜309とドライバnpnト
ランジスタ312とベース電流供給用の抵抗310とn
pnトランジスタ313、316によって主に構成され
る電源回路本体と、過電圧検知回路318とドライバn
pnトランジスタ312とnpnトランジスタ313の
エミッタ、ベース間短絡用のスイッチングnpnトラン
ジスタ314、315とベース電流供給遮断用のスイッ
チングpnpトランジスタ317によって構成されるサ
ージ保護回路から成る。本実施例では負荷として内部回
路ブロック303が接続されている。第1〜第8実施例
と大きく違う点は、ドライバトランジスタ部にダーリン
トン接続を用いている点であり、これに伴って2つのト
ランジスタそれぞれのベース、エミッタ間を短絡させる
スイッチングトランジスタをそれぞれ備えていることで
ある。なお、過電圧検知回路の構成は第1実施例の場合
などとと同じで良い。ここで過電圧検知回路318の出
力電圧Aは以下に示す式が成り立つように出力するもの
とする。
【0019】通常動作時: C−D>VF317 …(10) I−VCC<VF314…(11) F−H<VF315 …(12) なお、VF317:pnpトランジスタ317のターンオン
電圧の絶対値 VF314:npnトランジスタ314のターンオン電圧の
絶対値 VF315:npnトランジスタ315のターンオン電圧の
絶対値 C、D、I、H、F:図中のC、D、I、H、F点の電
圧 VCC:電源回路の出力電圧 異常時(サージ電圧入力時): C−D<VF317 …(13) I−VCC>VF314…(14) F−H>VF315 …(15) 通常動作時は上記のように、スイッチングトランジスタ
314、315はオフし、スイッチングトランジスタ3
17はオンしている。また異常時(サージ電圧入力時)
はスイッチングトランジスタ314、315はオンし、
スイッチングトランジスタ317はオフしている。つま
り基本動作は既述の実施例と同じである。効果について
も同様で、ドライバトランジスタ部の2つのトランジス
タそれぞれのベース、エミッタ間短絡用のスイッチング
トランジスタ2個のサイズを小さくできる。なお、ダー
リントン接続にしてあるため抵抗310の値を大きく設
定できるので、ドライバトランジスタ部が1つのトラン
ジスタのタイプに比べると、効果の割合は低い。しか
し、一層高いサージ電圧が印加された場合や、ドライバ
トランジスタのHFEが大きく取れない場合には、サージ
保護回路を小形化する有効な手段であることは言うまで
もない。更に上記第9実施例と同様な考え方で、下記表
2に示す各実施例も考えられる。
【0020】
【表2】
【0021】上記各実施例の動作は基本的に第9実施例
と同じである。また、上記実施例ではドライバトランジ
スタ部のエミッタ、ベース間短絡用トランジスタは2つ
とも同じものとしているが、例えばpnpトランジスタ
2個のところをpnpトランジスタ1個とpチャネルM
OSFET1個というような構成も可能である。
【0022】以上、第1〜第16実施例について説明し
てきたが、全ての実施例について以下に述べることが言
える: (a)全ての実施例においてドライバトランジスタ部の
エミッタ、ベース短絡用スイッチング素子(一つまたは
2つ)の入力(ベース又はゲート)とドライバトランジ
スタ部のベース電流供給遮断用スイッチング素子の入力
(ベース又はゲート)は同じとして説明しているが、別
々に構成することも可能である。但しその場合、過電圧
検知回路の回路規模は同じにした場合より大きくなる。 (b)実施例の中でスイッチングトランジスタにMOS
FETを使用しているものもあるが、MOSFETを使
用した方がバイポーラトランジスタを使用した場合より
もチップ面積が小さく、なお且つスイッチング動作に関
しては電流を消費しないため回路全体の消費電流を抑え
ることが可能になる。よってスイッチング素子にMOS
FETを使用した場合には、バイポーラトランジスタを
使用した場合よりも更に上記効果が加わることになる。
【0023】
【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、ドライバトランジスタのベース、エミッタ間を短絡
させるスイッチング素子の他にドライバトランジスタへ
のベース電流供給を遮断するスイッチング素子を備えた
回路構成とすることによりドライバトランジスタのベー
ス、エミッタ間を短絡させるスイッチング素子のサイズ
を小さくすることができる。またドライバトランジスタ
へのベース電流供給を遮断するスイッチング素子が増加
するにも関わらず、回路全体として考えた場合、サージ
保護回路を小形化できるという効果が得られる。結局、
半導体基板上の占有面積が従来よりも小さく、しかもサ
ージ保護機能が確実な、サージ保護回路付き定電圧電源
回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例図である。
【図2】本発明の第2実施例図である。
【図3】本発明の第3実施例図である。
【図4】本発明の第4実施例図である。
【図5】本発明の第5実施例図である。
【図6】本発明の第6実施例図である。
【図7】本発明の第7実施例図である。
【図8】本発明の第8実施例図である。
【図9】本発明の第9実施例図である。
【図10】本発明の第10実施例図である。
【図11】本発明の第11実施例図である。
【図12】本発明の第12実施例図である。
【図13】本発明の第13実施例図である。
【図14】本発明の第14実施例図である。
【図15】本発明の第15実施例図である。
【図16】本発明の第16実施例図である。
【図17】過電圧検知回路の第1例図である。
【図18】過電圧検知回路の第2例図である。
【図19】過電圧検知回路の第3例図である。
【図20】過電圧検知回路の第4例図である。
【図21】定電圧電源回路の従来の第1例図である。
【図22】サージ保護回路付き定電圧電源回路の既出願
の従来の第2例図である。
【図23】サージ保護回路付き定電圧電源回路の従来の
第3例図である。
【符号の説明】
41…IC 42…バッテリ 43…内部回路ブロック 44…オペアン
プ 45〜49…抵抗 50…基準電圧
源 51…ドライバnpnトランジスタ 52、53…n
pnトランジスタ 54…pnpトランジスタ 55…過電圧検
知回路 81…IC 82…バッテリ 83…内部回路ブロック 84…オペアン
プ 85〜87…抵抗 88…基準電圧
源 89…ドライバnpnトランジスタ 90…nチャネ
ルMOSFET 91…npnトランジスタ 92…pチャネ
ルMOSFET 93…過電圧検知回路 101…IC 102…バッテリ 103…内部回
路ブロック 104…オペアンプ 105〜109
…抵抗 110…基準電圧源 111…ドライ
バnpnトランジスタ 112…pnpトランジスタ 113、114
…npnトランジスタ 115…過電圧検知回路 121…IC 122…バッテリ 123…内部回
路ブロック 124…オペアンプ 125〜127
…抵抗 128…基準電圧源 129…ドライ
バnpnトランジスタ 130…pチャネルMOSFET 131…npn
トランジスタ 132…nチャネルMOSFET 133…過電圧
検知回路 141…IC 142…バッテ
リ 143…内部回路ブロック 144…オペア
ンプ 145〜148…抵抗 149…基準電
圧源 150…ドライバnpnトランジスタ 151、152
…npnトランジスタ 153…pチャネルMOSFET 154…過電圧
検知回路 161…IC 162…バッテ
リ 163…内部回路ブロック 164…オペア
ンプ 165〜168…抵抗 169…基準電
圧源 170…ドライバnpnトランジスタ 171…pチャ
ネルMOSFET 172、173…npnトランジスタ 174…過電圧
検知回路 181…IC 182…バッテ
リ 183…内部回路ブロック 184…オペア
ンプ 185〜188…抵抗 189…基準電
圧源 190…ドライバnpnトランジスタ 191…pnp
トランジスタ 192…npnトランジスタ 193…nチャ
ネルMOSFET 194…過電圧検知回路 201…IC 202…バッテリ 203…内部回
路ブロック 204…オペアンプ 205〜208
…抵抗 209…基準電圧源 210…ドライ
バnpnトランジスタ 211…nチャネルMOSFET 212…npn
トランジスタ 213…pnpトランジスタ 214…過電圧
検知回路 301…IC 302…バッテ
リ 303…内部回路ブロック 304…オペア
ンプ 305〜310…抵抗 311…基準電
圧源 312…ドライバnpnトランジスタ 313〜316
…npnトランジスタ 317…pnpトランジスタ 318…過電圧
検知回路 321…IC 322…バッテ
リ 323…内部回路ブロック 324…オペア
ンプ 325〜330…抵抗 331…基準電
圧源 332…ドライバnpnトランジスタ 333、336、337…npnトランジスタ 334、335…pnpトランジスタ 338…過電圧
検知回路 341…IC 342…バッテ
リ 343…内部回路ブロック 344…オペア
ンプ 345〜347…抵抗 348…基準電
圧源 349…ドライバnpnトランジスタ 350、353
…npnトランジスタ 351、352…nチャネルMOSFET 354…pチャネルMOSFET 355…過電圧
検知回路 361…IC 362…バッテ
リ 363…内部回路ブロック 364…オペア
ンプ 365〜367…抵抗 368…基準電
圧源 369…ドライバnpnトランジスタ 370、373
…npnトランジスタ 371、372…pチャネルMOSFET 374…nチャネルMOSFET 375…過電圧
検知回路 381…IC 382…バッテ
リ 383…内部回路ブロック 384…オペア
ンプ 385〜389…抵抗 390…基準電
圧源 391…ドライバnpnトランジスタ 392〜395
…npnトランジスタ 396…pチャネルMOSFET 397…過電圧
検知回路 401…IC 402…バッテ
リ 403…内部回路ブロック 404…オペア
ンプ 405〜408…抵抗 409…基準電
圧源 410…ドライバnpnトランジスタ 411、414、415…npnトランジスタ 412、413…pチャネルMOSFET 416…過電圧検知回路 421…IC 422…バッテリ 423…内部回
路ブロック 424…オペアンプ 425〜429
…抵抗 430…基準電圧源 431…ドライ
バnpnトランジスタ 432、435…npnトランジスタ 433、434
…pnpトランジスタ 436…nチャネルMOSFET 437…過電圧
検知回路 441…IC 442…バッテ
リ 443…内部回路ブロック 444…オペア
ンプ 445〜448…抵抗 449…基準電
圧源 450…ドライバnpnトランジスタ 451、454
…npnトランジスタ 452、453…nチャネルMOSFET 455…pnpトランジスタ 456…過電圧
検知回路

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板上に構成され、ドライバトラン
    ジスタのベース電流を制御して定電圧を出力する定電圧
    電源回路において、ドライバトランジスタをnpn形バ
    イポーラトランジスタとし、其のベースとエミッタの間
    を短絡または開放する第1のスイッチング素子と、ベー
    スとベース電流供給回路との間を短絡または開放する第
    2のスイッチング素子とを設け、さらに、通常動作時に
    は上記第1スイッチング素子を開放、第2スイッチング
    素子を短絡する信号を出力し、電源入力端子に過電圧が
    印加された場合には上記第1スイッチング素子を短絡、
    第2スイッチング素子を開放する信号を出力する過電圧
    検知回路を設けたことを特徴とする定電圧電源回路。
  2. 【請求項2】過電圧検知回路の1つの出力信号によっ
    て、第1スイッチング素子と第2スイッチング素子の双
    方を所望の如く動作させることを特徴とする請求項1記
    載の定電圧電源回路。
  3. 【請求項3】第1スイッチング素子をnpn形バイポー
    ラトランジスタに、第2スイッチング素子をpnp形バ
    イポーラトランジスタにした、又は、第1スイッチング
    素子をpnp形バイポーラトランジスタに、第2スイッ
    チング素子をnpn形バイポーラトランジスタにしたこ
    とを特徴とする請求項2記載の定電圧電源回路。
  4. 【請求項4】第1スイッチング素子をnチャネル形MO
    Sトランジスタに、第2スイッチング素子をpチャネル
    形MOSトランジスタにした、又は、第1スイッチング
    素子をpチャネル形MOSトランジスタに、第2スイッ
    チング素子をnチャネル形MOSトランジスタにしたこ
    とを特徴とする請求項2記載の定電圧電源回路。
  5. 【請求項5】第1スイッチング素子をnpn形バイポー
    ラトランジスタに、第2スイッチング素子をpチャネル
    形MOSトランジスタにした、又は、第1スイッチング
    素子をpチャネル形MOSトランジスタに、第2スイッ
    チング素子をnpn形バイポーラトランジスタにしたこ
    とを特徴とする請求項2記載の定電圧電源回路。
  6. 【請求項6】第1スイッチング素子をpnp形バイポー
    ラトランジスタに、第2スイッチング素子をnチャネル
    形MOSトランジスタにした、又は、第1スイッチング
    素子をnチャネル形MOSトランジスタに、第2スイッ
    チング素子をpnp形バイポーラトランジスタにしたこ
    とを特徴とする請求項2記載の定電圧電源回路。
  7. 【請求項7】半導体基板上に構成され、ドライバトラン
    ジスタのベース電流を制御して定電圧を出力する定電圧
    電源回路において、ドライバトランジスタ部を電源ドラ
    イバ用の第1のnpn形バイポーラトランジスタと此の
    第1のnpn形トランジスタのベース電流供給用の第2
    のnpn形バイポーラトランジスタとをダーリントン接
    続して構成し、上記第1および第2のnpn形バイポー
    ラトランジスタそれぞれのベース、エミッタ間を短絡ま
    たは開放する第1および第2のスイッチング素子と、上
    記第2のnpn形バイポーラトランジスタのベースとベ
    ース電流供給回路との間を短絡または開放する第3のス
    イッチング素子とを設け、さらに、通常動作時は上記第
    1および第2のスイッチング素子を開放、第3のスイッ
    チング素子を短絡する信号を出力し、電源入力端子に過
    電圧が印加された場合は第1および第2のスイッチング
    素子を短絡、第3のスイッチング素子を開放する信号を
    出力する過電圧検知回路を設けたことを特徴とする定電
    圧電源回路。
  8. 【請求項8】過電圧検知回路の1つの出力信号で、第
    1、第2および第3のスイッチング素子を所望の如く動
    作させることを特徴とする請求項7記載の定電圧電源回
    路。
  9. 【請求項9】第1および第2のスイッチング素子をnp
    n形バイポーラトランジスタに、第3のスイッチング素
    子をpnp形バイポーラトランジスタにし、又は、第1
    および第2のスイッチング素子をpnp形バイポーラト
    ランジスタに、第3のスイッチング素子をnpn形バイ
    ポーラトランジスタにしたことを特徴とする請求項8記
    載の定電圧電源回路。
  10. 【請求項10】第1および第2のスイッチング素子をn
    チャネル形MOSトランジスタに、第3のスイッチング
    素子をpチャネル形MOSトランジスタにし、又は、第
    1および第2のスイッチング素子をpチャネル形MOS
    トランジスタに、第3のスイッチング素子をnチャネル
    形MOSトランジスタにしたことを特徴とする請求項8
    記載の定電圧電源回路。
  11. 【請求項11】第1および第2のスイッチング素子をn
    pn形バイポーラトランジスタに、第3のスイッチング
    素子をpチャネル形MOSトランジスタにし、又は、第
    1および第2のスイッチング素子をpチャネル形MOS
    トランジスタに、第3のスイッチング素子をnpn形バ
    イポーラトランジスタにしたことを特徴とする請求項8
    記載の定電圧電源回路。
  12. 【請求項12】第1および第2のスイッチング素子をp
    np形バイポーラトランジスタに、第3のスイッチング
    素子をnチャネル形MOSトランジスタにし、又は、第
    1および第2のスイッチング素子をnチャネル形MOS
    トランジスタに、第3のスイッチング素子をpnp形バ
    イポーラトランジスタにしたことを特徴とする請求項8
    記載の定電圧電源回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH10322916A (ja) * 1997-05-20 1998-12-04 Sony Corp 電池パック
US7038430B2 (en) 2002-10-22 2006-05-02 Denso Corporation Power control circuit
JP4507292B2 (ja) * 1999-04-23 2010-07-21 ソニー株式会社 定電圧レギュレータ回路

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