JPH0843466A - Ｅｍｉ測定装置 - Google Patents
Ｅｍｉ測定装置Info
- Publication number
- JPH0843466A JPH0843466A JP17497194A JP17497194A JPH0843466A JP H0843466 A JPH0843466 A JP H0843466A JP 17497194 A JP17497194 A JP 17497194A JP 17497194 A JP17497194 A JP 17497194A JP H0843466 A JPH0843466 A JP H0843466A
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- Japan
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- emi
- receiving antennas
- measuring device
- measured
- measuring
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＥＭＩ測定器において、簡単な構成でかつ全
ての方向の放射電磁波を検出する。 【構成】 被測定物１の周囲を取り囲むように複数のア
ンテナ４１〜４６を設置する。これ等アンテナの出力を
全て合成して測定する。各アンテナは直交３軸の偏波面
全てを検出できるように３つのループアンテナ素子４
ｘ，４ｙ，４ｚによ構成することで、全ての方向の放射
電磁波を漏れなく検出できる。
ての方向の放射電磁波を検出する。 【構成】 被測定物１の周囲を取り囲むように複数のア
ンテナ４１〜４６を設置する。これ等アンテナの出力を
全て合成して測定する。各アンテナは直交３軸の偏波面
全てを検出できるように３つのループアンテナ素子４
ｘ，４ｙ，４ｚによ構成することで、全ての方向の放射
電磁波を漏れなく検出できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＥＭＩ測定装置に関し、
特に電子機器からの干渉雑音を検出測定するＥＭＩ測定
装置に関するものである。
特に電子機器からの干渉雑音を検出測定するＥＭＩ測定
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電子機器に対する影響を与える妨害波を
測定するＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉ
ｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ：電波雑音干渉）測定装置があ
り、その一例を図３に示す。図３（Ａ）に平面図及び側
面図を示す如く、被測定物１を回転台２の上に載置し、
この回転台２を３６０°回転させつつこの回転台２から
所定距離Ｌだけ離れた受信アンテナ４にて妨害波を受信
し、これを測定器５で測定するものである。このとき、
アンテナ４の高さｈを可変として上下させることにより
被測定物１からの放射電磁波の合成波としての最大値を
測定することにより、被測定物１である完成品の良否判
別をなすものである。
測定するＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉ
ｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ：電波雑音干渉）測定装置があ
り、その一例を図３に示す。図３（Ａ）に平面図及び側
面図を示す如く、被測定物１を回転台２の上に載置し、
この回転台２を３６０°回転させつつこの回転台２から
所定距離Ｌだけ離れた受信アンテナ４にて妨害波を受信
し、これを測定器５で測定するものである。このとき、
アンテナ４の高さｈを可変として上下させることにより
被測定物１からの放射電磁波の合成波としての最大値を
測定することにより、被測定物１である完成品の良否判
別をなすものである。
【０００３】尚、図３（Ａ）において、３は金属大地面
を示しており、（Ｂ）に（Ａ）の各寸法Ｄ，ｄ，Ｗ，
ａ，Ｌ，ｈの例を示す。
を示しており、（Ｂ）に（Ａ）の各寸法Ｄ，ｄ，Ｗ，
ａ，Ｌ，ｈの例を示す。
【０００４】この様な従来のＥＭＩ装置を用いて、上述
の完成品の測定の他に、プリント配線板やＦＤＤ（フロ
ッピィディスクドライブ）等のユニットの半完成品の評
価を行い、更に設計変更や部品追加等の処置の評価を行
ったりして設計評価をも行っている。
の完成品の測定の他に、プリント配線板やＦＤＤ（フロ
ッピィディスクドライブ）等のユニットの半完成品の評
価を行い、更に設計変更や部品追加等の処置の評価を行
ったりして設計評価をも行っている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この様な従来のＥＭＩ
測定装置では、図３（Ｂ）の寸法が示すように、測定の
ための場所が広く必要であり、また測定のためにアンテ
ナや回転台の駆動制御を行うための制御が繁雑であり、
更に測定時間も長いという欠点がある。
測定装置では、図３（Ｂ）の寸法が示すように、測定の
ための場所が広く必要であり、また測定のためにアンテ
ナや回転台の駆動制御を行うための制御が繁雑であり、
更に測定時間も長いという欠点がある。
【０００６】そこで、本発明はかかる従来技術の欠点を
排除すべくなされたものであり、その目的とするところ
は、測定場所をとらずにかつ機械的な駆動制御を必要と
することなく簡単な構成で短時間に測定が可能なＥＭＩ
測定装置を提供することにある。
排除すべくなされたものであり、その目的とするところ
は、測定場所をとらずにかつ機械的な駆動制御を必要と
することなく簡単な構成で短時間に測定が可能なＥＭＩ
測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電子機
器からの干渉雑音を検出測定するＥＭＩ測定装置であっ
て、被測定対象の電子機器の周囲を取り囲むように配置
された複数個の受信アンテナと、これ等受信アンテナの
出力を合成する合成手段とを含むことを特徴とするＥＭ
Ｉ測定装置が得られる。
器からの干渉雑音を検出測定するＥＭＩ測定装置であっ
て、被測定対象の電子機器の周囲を取り囲むように配置
された複数個の受信アンテナと、これ等受信アンテナの
出力を合成する合成手段とを含むことを特徴とするＥＭ
Ｉ測定装置が得られる。
【０００８】
【作用】被測定物を取り囲むように複数の受信アンテナ
を配置してこれ等各受信アンテナからの受信出力を合成
して合成電界強度を測定するようにする。このとき、各
アンテナ出力を同一の中心周波数を有するバンドパスフ
ィルタで帯域制限して、これ等帯域制限出力を合成して
当該中心周波数の電界強度を測定すると共に、順次バン
ドパスフィルタの中心周波数を同時に可変制御して周波
数スぺクトラムの検出が可能となる。
を配置してこれ等各受信アンテナからの受信出力を合成
して合成電界強度を測定するようにする。このとき、各
アンテナ出力を同一の中心周波数を有するバンドパスフ
ィルタで帯域制限して、これ等帯域制限出力を合成して
当該中心周波数の電界強度を測定すると共に、順次バン
ドパスフィルタの中心周波数を同時に可変制御して周波
数スぺクトラムの検出が可能となる。
【０００９】
【実施例】以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説
明する。
明する。
【００１０】図１は本発明の実施例の構成を示す図であ
り、（Ａ）は全体斜視図、（Ｂ）は受信アンテナの構造
の詳細を示す図である。
り、（Ａ）は全体斜視図、（Ｂ）は受信アンテナの構造
の詳細を示す図である。
【００１１】図１（Ａ）に示す如く、被測定物１は例え
ばプリント基板１１とその上に載置された回路素子１２
とからなり、この被測定物１の周囲にこれを取り囲むよ
うに複数個の受信アンテナ４１〜４６を取り付ける。本
例では、これ等アンテナは、被測定物１の中心を原点と
するｘ，ｙ，ｚの直交３軸上の各２箇所に配置されてお
り、被測定物１の上下（ｘ軸上），左右（ｙ軸上），前
後（ｚ軸上）の各位置に夫々配置されている。
ばプリント基板１１とその上に載置された回路素子１２
とからなり、この被測定物１の周囲にこれを取り囲むよ
うに複数個の受信アンテナ４１〜４６を取り付ける。本
例では、これ等アンテナは、被測定物１の中心を原点と
するｘ，ｙ，ｚの直交３軸上の各２箇所に配置されてお
り、被測定物１の上下（ｘ軸上），左右（ｙ軸上），前
後（ｚ軸上）の各位置に夫々配置されている。
【００１２】これ等６個の各アンテナ４の構造は、図１
（Ｂ）に示す如く、直交３軸の各偏波面を同時に測定可
能なように３つのループアンテナ４ｘ，４ｙ，４ｚを組
み合わせたものであり、全方位からの電磁波を受信でき
る構造となっている。
（Ｂ）に示す如く、直交３軸の各偏波面を同時に測定可
能なように３つのループアンテナ４ｘ，４ｙ，４ｚを組
み合わせたものであり、全方位からの電磁波を受信でき
る構造となっている。
【００１３】これ等６個のアンテナ４１〜４６の各受信
出力（３軸×６個＝１８本）は図２に示す混合器７へケ
ーブル６を介して入力される。これ等１８本の出力は通
過中心周波数が全て同一のＢＰＦ（バンドパスフィル
タ）７１・１〜７１・１８へ夫々供給されて帯域制限さ
れ、増幅器７２・１〜７２・１８にて夫々増幅される。
しかる後に、整流器７３・１〜７３・１８にて直流レベ
ルに変換されてオア合成回路７４で加算合成され、ケー
ブル８を介して測定器９へ供給され、ＢＰＦの中心周波
数の電界強度化測定されるのである。
出力（３軸×６個＝１８本）は図２に示す混合器７へケ
ーブル６を介して入力される。これ等１８本の出力は通
過中心周波数が全て同一のＢＰＦ（バンドパスフィル
タ）７１・１〜７１・１８へ夫々供給されて帯域制限さ
れ、増幅器７２・１〜７２・１８にて夫々増幅される。
しかる後に、整流器７３・１〜７３・１８にて直流レベ
ルに変換されてオア合成回路７４で加算合成され、ケー
ブル８を介して測定器９へ供給され、ＢＰＦの中心周波
数の電界強度化測定されるのである。
【００１４】このとき、ＢＰＦ７１・１〜７１・１８の
中心周波数を同時に変化制御すれば、被測定物１からの
電磁放射の周波数スぺクトラムが測定可能であることは
明白である。
中心周波数を同時に変化制御すれば、被測定物１からの
電磁放射の周波数スぺクトラムが測定可能であることは
明白である。
【００１５】アンテナ４の構造は、図２にその詳細を示
すように、同軸の受信ケーブル６（特性抵抗５０Ω）を
加工してループアンテナとしたものであり、芯４６で適
当な大きさのループを形成し、その先端を、外被４７に
終端抵抗４８（５０Ω）を使用して終端する。外被４７
はループの途中で一部切断して芯線をその部分で露出す
る構造とし、電界成分の影響をなくして磁界成分のみを
検出可能なようにする。
すように、同軸の受信ケーブル６（特性抵抗５０Ω）を
加工してループアンテナとしたものであり、芯４６で適
当な大きさのループを形成し、その先端を、外被４７に
終端抵抗４８（５０Ω）を使用して終端する。外被４７
はループの途中で一部切断して芯線をその部分で露出す
る構造とし、電界成分の影響をなくして磁界成分のみを
検出可能なようにする。
【００１６】被測定物１が例えば、パーソナルコンピュ
ータやワードプロセッサ等のＦＤＤユニットの場合に
は、各アンテナ４１〜４６の被測定物１からの距離は大
体２０〜５０ｃｍとし、各アンテナ４１〜４６のループ
径は５ｃｍ位に設定すると良いが、特にこれ等数値例に
限定されるものではない。
ータやワードプロセッサ等のＦＤＤユニットの場合に
は、各アンテナ４１〜４６の被測定物１からの距離は大
体２０〜５０ｃｍとし、各アンテナ４１〜４６のループ
径は５ｃｍ位に設定すると良いが、特にこれ等数値例に
限定されるものではない。
【００１７】一般に、放射電磁波の周波数は被測定物１
の動作周波数のＮ倍（Ｎは整数）となり、被測定物の種
類にもよるが、３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚと広い周波数の妨
害波が放射されるので、それに応じた寸法のアンテナを
設ける。
の動作周波数のＮ倍（Ｎは整数）となり、被測定物の種
類にもよるが、３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚと広い周波数の妨
害波が放射されるので、それに応じた寸法のアンテナを
設ける。
【００１８】また、アンテナの数及び配置位置は図１の
例に限らず、被測定物を取り囲むように設ければ十分で
ある。
例に限らず、被測定物を取り囲むように設ければ十分で
ある。
【００１９】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明によれば、被測
定対象物を回転したりアンテナ位置を上下したりする駆
動制御が必要なくなり、装置が簡略化され小形化される
という効果がある。また、被測定物に合わせてアンテナ
の寸法や設置位置、設置数を設定すれば良いので更に小
形化が可能となり、また被測定対象物のほぼ全周に亘る
放射電磁波を全て測定することが可能となり、被測定物
の設計変更や部品変更に起因して生ずる恐れがある放射
方向の変化を見逃すこともなくなるものである。
定対象物を回転したりアンテナ位置を上下したりする駆
動制御が必要なくなり、装置が簡略化され小形化される
という効果がある。また、被測定物に合わせてアンテナ
の寸法や設置位置、設置数を設定すれば良いので更に小
形化が可能となり、また被測定対象物のほぼ全周に亘る
放射電磁波を全て測定することが可能となり、被測定物
の設計変更や部品変更に起因して生ずる恐れがある放射
方向の変化を見逃すこともなくなるものである。
【図１】（Ａ）は本発明の実施例の斜視図、（Ｂ）は実
施例のアンテナの一例を示す図である。
施例のアンテナの一例を示す図である。
【図２】本発明の実施例の具体的構成例を示す図であ
る。
る。
【図３】（Ａ）は従来のＥＭＩ測定装置の構成を示す
図、（Ｂ）はその寸法例を示す図てある。
図、（Ｂ）はその寸法例を示す図てある。
１ 被測定対象物 ４，４１〜４６ 受信アンテナ ６，８ ケーブル ７ 混合器 ９ 測定器 ７１・１〜７１・１８ ＢＰＦ ７２・１〜７２・１８ 増幅器 ７３・１〜７３・１８ 整流器 ７４ オア合成回路
Claims (7)
- 【請求項１】 電子機器からの干渉雑音を検出測定する
ＥＭＩ測定装置であって、被測定対象物の電子機器の周
囲を取り囲むように配置された複数個の受信アンテナ
と、これ等受信アンテナの出力を合成する合成手段とを
含むことを特徴とするＥＭＩ測定装置。 - 【請求項２】 前記受信アンテナは、前記電子機器の上
下、左右及び前後に少なくとも６個設けられていること
を特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定装置。 - 【請求項３】 前記受信アンテナの各々はループアンテ
ナからなることを特徴とする請求項１または２記載のＥ
ＭＩ測定装置。 - 【請求項４】 前記受信アンテナの各々は、互いに直交
する３軸の偏波面の電波を同時に測定可能な構造を有す
ることを特徴とする請求項１〜３いずれか記載のＥＭＩ
測定装置。 - 【請求項５】 前記受信アンテナの各々は、前記３軸の
偏波面にループ面を夫々有する３つのループアンテナ素
子からなることを特徴とする請求項４記載のＥＭＩ測定
装置。 - 【請求項６】 前記合成手段は、前記受信アンテナの各
々の出力の供給を受けて前記干渉雑音の帯域制限をなす
バンドパスフィルタと、これ等各バンドパスフィルタの
出力の整流をなす整流手段と、これ等整流出力を加算合
成する加算手段とを有することを特徴とする請求項１〜
６いずれか記載のＥＭＩ測定装置。 - 【請求項７】 前記バンドパスフィルタの全ては同一中
心周波数を有し、この中心周波数が同時に変化自在に構
成されていることを特徴とする請求項６記載のＥＭＩ測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6174971A JP2743839B2 (ja) | 1994-07-27 | 1994-07-27 | Ｅｍｉ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6174971A JP2743839B2 (ja) | 1994-07-27 | 1994-07-27 | Ｅｍｉ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843466A true JPH0843466A (ja) | 1996-02-16 |
| JP2743839B2 JP2743839B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=15987945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6174971A Expired - Lifetime JP2743839B2 (ja) | 1994-07-27 | 1994-07-27 | Ｅｍｉ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2743839B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08293725A (ja) * | 1995-04-11 | 1996-11-05 | Kyung Chang Ind Co Ltd | 全方向性ループアンテナ及びそれを用いる受信装置 |
| JPH1138057A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Ricoh Co Ltd | 外来ノイズ除去装置及び該外来ノイズ除去装置を具備した輻射測定装置 |
| JP2003533702A (ja) * | 2000-05-16 | 2003-11-11 | インスティテュート ナショナル デ レチェルヒ サー レス トランスポーツ エト レウアー セキュリテ（インレッツ） | 電磁適合性試験装置 |
| JP2006208019A (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Candox Systems Inc | 電磁波結合装置 |
| JP2008009474A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Matsushita Electric Works Ltd | アクティブタグシステム |
| JP2008185575A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-14 | Gcomm Corp | 三次元電磁界測定装置 |
| JP2010505307A (ja) * | 2006-09-27 | 2010-02-18 | ローデ ウント シュバルツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディト ゲゼルシャフト | アンテナ結合器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6052355B1 (ja) * | 2015-08-24 | 2016-12-27 | 株式会社デンソーＥｍｃエンジニアリングサービス | 試験装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0198974A (ja) * | 1987-10-12 | 1989-04-17 | Sanki Denshi Kogyo Kk | 電磁界測定装置 |
-
1994
- 1994-07-27 JP JP6174971A patent/JP2743839B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0198974A (ja) * | 1987-10-12 | 1989-04-17 | Sanki Denshi Kogyo Kk | 電磁界測定装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08293725A (ja) * | 1995-04-11 | 1996-11-05 | Kyung Chang Ind Co Ltd | 全方向性ループアンテナ及びそれを用いる受信装置 |
| JPH1138057A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-02-12 | Ricoh Co Ltd | 外来ノイズ除去装置及び該外来ノイズ除去装置を具備した輻射測定装置 |
| JP2003533702A (ja) * | 2000-05-16 | 2003-11-11 | インスティテュート ナショナル デ レチェルヒ サー レス トランスポーツ エト レウアー セキュリテ（インレッツ） | 電磁適合性試験装置 |
| JP4909483B2 (ja) * | 2000-05-16 | 2012-04-04 | インスティテュート ナショナル デ レチェルヒ サー レス トランスポーツ エト レウアー セキュリテ（インレッツ） | 電磁適合性試験装置 |
| JP2006208019A (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Candox Systems Inc | 電磁波結合装置 |
| JP2008009474A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Matsushita Electric Works Ltd | アクティブタグシステム |
| JP2010505307A (ja) * | 2006-09-27 | 2010-02-18 | ローデ ウント シュバルツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディト ゲゼルシャフト | アンテナ結合器 |
| KR101354606B1 (ko) * | 2006-09-27 | 2014-01-22 | 로오데운트쉬바르츠게엠베하운트콤파니카게 | 안테나 커플러 |
| JP2008185575A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-14 | Gcomm Corp | 三次元電磁界測定装置 |
| JP4683342B2 (ja) * | 2007-01-26 | 2011-05-18 | ジーコム株式会社 | 三次元電磁界測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2743839B2 (ja) | 1998-04-22 |
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