CN210665889U

CN210665889U - 探头滑轨测试系统

Info

Publication number: CN210665889U
Application number: CN201921525568.XU
Authority: CN
Inventors: 夏冬雪
Original assignee: Shenzhen Rongsheng Technology Co Ltd
Current assignee: Shenzhen Rongsheng Technology Co Ltd
Priority date: 2019-09-12
Filing date: 2019-09-12
Publication date: 2020-06-02
Anticipated expiration: 2029-09-12

Abstract

本实用新型涉及一种探头滑轨测试系统，包括：环形轨道、至少两个探头和控制装置。其中，所述探头用于对位于所述环形轨道中心且转动连接于转台的被测件DUT进行辐射性能的测试；所述至少两个探头在所述环形轨道上间隔设置，并且，每一所述探头与所述环形轨道滑动连接；所述探头与所述被测件均与测量仪器连接。本实用新型探头滑轨系统不仅可以进行低频测试，也可以进行高频测试，并且，测试效率大幅提高。

Description

探头滑轨测试系统

技术领域

本实用新型涉及微波暗室测量技术领域，尤其涉及一种探头滑轨测试系统。

背景技术

目前，为了对DUT(被测件)的辐射性能进行更加完整和充分的分析，通常的探头轨道测试系统包括两类：

第一类是在轨道上设置单个探头，通过探头位置的移动获得被测件辐射性能，该系统的缺点是，效率低下。

第二类是在轨道上间隔设置有多个已经固定好位置的探头，通过多个不同位置的探头分别获得辐射性能，进而评估DUT的辐射性能。该系统的缺点是，只能进行低频段测试，这是因为：高频段测试需要探头之间保持较小距离；但是，探头本身的物理尺寸较大，导致探头之间的信号会相互干扰，故探头间距不能满足高频测试需要。

实用新型内容

为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本实用新型提供一种探头滑轨测试系统。

本实用新型探头滑轨测试系统包括：环形轨道、至少两个探头和控制装置。其中，所述探头用于对位于所述环形轨道中心且转动连接于转台的被测件DUT进行辐射性能的测试；所述至少两个探头在所述环形轨道上间隔设置，并且，每一所述探头与所述环形轨道滑动连接；所述探头与所述被测件均与测量仪器连接。通过测量仪器，可以方便的确定被测件和探头的相关参数。本实用新型的实施例中，通过在环形轨道上间隔设置多个可以在环形轨道上滑动的探头，实现了对被测件DUT的辐射性能，包括发射性能和接收性能多个方位的测试。对于高频测试而言，所需方位的辐射性能的测定无需通过密集设置固定于轨道的探头来完成，只需按照探头之间不产生干扰的安全距离，将该距离设定为给定间隔即可，也就是说，本实用新型不仅能够进行低频测试，也可以进行高频测试。并且，本实用新型可以在同一时刻能够实现多个位置的测量，克服了现有技术中通过一个探头的移动进行被测件DUT所需方位的辐射性能的测试，提高了测试效率。

进一步地，所述控制装置与所述探头电连接，用于控制所述探头在所述环形轨道上位置的移动。由于多个探头可以在控制装置中的一个控制器的作用下联动，也可以分别由控制装置中的多个控制器分别自动控制每一控制器对应的探头，使探头的位置的发生变化。可以看出，当探头与控制装置中的一个或者多个控制器连接时，在同一时刻能够自动实现多个位置的测量，由此，克服了现有技术中通过一个探头的移动进行被测件DUT所需方位的辐射性能的测试，提高了测试效率。并且，由于探头的位置可以通过由控制装置控制的滑动操作进行改变，因此，对于高频测试而言，所需方位的辐射性能的测定无需通过密集设置固定于轨道的探头来完成，只需按照探头之间不产生干扰的安全距离，将该距离设定为给定间隔即可，也就是说，本实用新型不仅能够进行低频测试，也可以进行高频测试。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述环形轨道为圆形轨道、半圆形轨道或圆弧形轨道。

本实用新型的实施例并不限定环形滑轨的具体形状，圆形、半圆形、或者圆弧形皆可，满足被测件DUT到轨道的距离是固定的即可。探头的输入功率稳定，又由于通常情况下，电磁波在固定距离的空间损耗是固定的，则最终保证被测件DUT接收的功率也是稳定的，故其增益也是稳定的；由此保证了被测件DUT接收功率的稳定和准确。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述控制装置包括多个控制器，每一所述控制器与一个所述探头电连接，用于控制探头在所述环形轨道上单独发生位移。本实用新型的实施例中，根据控制需要，控制装置中设有多个控制器，每一个控制器对应一个探头，每一个控制器控制其对应探头的位置的变化。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述控制装置包括一个控制器，该控制器同时与多个探头连接，用于控制多个探头形成联动。本实用新型的实施例中，根据控制需要，多个探头可以在控制装置中的一个控制器的作用下联动，进而使探头发生位置改变，从而适应不同位置的测试需要。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述每一探头通过齿轮与齿条机构在所述轨道上滑动。本实用新型的实施例中，探头与环形轨道的连接方式有很多种，可以通过齿轮与齿条连接的方式，使探头在环形轨道上滑动。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述环形轨道通过固定架固定在地面上。本实用新型的实施例中，环形轨道是固定的，通过探头在环形轨道上的相对位置的变化，形成对被测件多个方位的测试。

进一步地，上述探头滑轨测试系统中，所述控制装置与上位机连接,所述转台与所述上位机连接。本实用新型的实施例中，通过将控制装置与上位机连接，为操控控制装置提供了友好的界面，可以更加方便的对控制装置所控制的探头进行位置移动的控制，从而满足对辐射性能的测量；通过将转台与上位机连接，也为操控转台提供了友好的界面，可以更加方便地对转台的转速等参数进行设定，方便被测件DUT进行测试。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本实用新型。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本实用新型的实施例，并与说明书一起用于解释本实用新型的原理。

图1为本实用新型探头滑轨测试系统实施例的结构示意图；

图2为本实用新型探头滑轨测试系统实施例中，相邻的探头与圆环轨道中心连线的夹角的示意图；

图3为本实用新型探头滑轨测试系统实施例中，探头通过齿轮与齿条机构在轨道上滑动的结构示意图。

其中：

1 暗室

2 圆形轨道

3 固定架

4 被测件

5 抱杆

6 探头

7 转台

8 齿条

9 齿轮

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参照图1，图1示出了本实用新型探头滑轨系统一个实施例的结构示意图。本实施例探头滑轨系统包括位于暗室1中的圆形轨道2、四个探头6以及控制装置(未示出)。本实施例可的测试频率可以为70MHz-110GHz之间。

其中，探头6用于对被测件4进行辐射性能的测试，被测件4位于圆形轨道2的中心，并且，被测件4固定在抱杆5上，抱杆5转动连接于转台7。这里的辐射性能包括辐射性能和接收性能。探头6在圆形轨道2上间隔设置，并且，每一探头6与圆形轨道2滑动连接，探头6与测量仪器(未示出)连接，被测件4也与测量仪器连接。控制装置与探头6电连接，用于控制探头6在环形轨道2上位置的移动。

需要说明的是，在本实施例中，圆形轨道2也可以替换为半圆形轨道或者一段圆弧形轨道，本实用新型对此不做限定。本实用新型的实施例并不限定环形滑轨的具体形状，圆形、半圆形、或者圆弧形皆可，满足被测件DUT到轨道上个点的距离相同的即可。探头6的输入功率稳定，又由于通常情况下，电磁波在固定距离的空间损耗是固定的，则最终保证被测件DUT接收的功率也是稳定的，故其增益也是稳定的；由此保证了被测件DUT接收功率的稳定和准确。

当本实施例探头滑轨系统进行工作时，探头6对被测件4进行包括发射性能或接收性能的辐射性能的测试。由控制装置控制探头4在圆形滑轨上滑动，使探头6的位置相对于被测件4的改变。在实际操作中，探头的采样间隔与被测件的频率和尺寸有关。

在一个实施例中，控制装置可以只包括一个控制器，该控制器与每一个探头6电连接，能够实现对所有探头6的控制，所有的探头6可以为联动的方式进行移动。

在另一个实施例中，控制装置可以包括多个控制器，每一控制器控制一个探头6，根据测试需要，使探头6的位置分别发生变化。

由此可以看出，当探头6与控制装置中的一个或者多个控制器连接时，在同一时刻能够自动实现多个位置的测量，由此，克服了现有技术中通过一个探头的移动进行被测件DUT所需方位的辐射性能的测试，提高了测试效率。

并且，由于探头的位置可以通过由控制装置控制的滑动操作进行改变，因此，对于高频测试而言，所需方位的辐射性能的测定无需通过密集设置固定于轨道的探头来完成，只需按照探头之间不产生干扰的安全距离，将该距离设定为给定间隔即可，也就是说，本实用新型不仅能够进行低频测试，也可以进行高频测试。

此外，控制装置可以实现自动对探头的位置进行控制，若没有控制装置，通过手动的方式进行测量，测试效率和位置精度相对于系统中设置控制装置可能会有所降低，但相对于现有技术中用一个探头的移动来进行测量还有有气技术的优势的。所以，控制装置的并非必须选择。

在一个实施例中，相邻的探头6与圆环轨道中心连线的夹角可以通过以下方式确定：

其中：

θ为相邻探头之间的夹角；

R为环形轨道的半径；

λ为相应测试频率的波长。

参数θ确定的原理如下：参照图2，在图2中，相邻的两个探头6分别位于环形轨道2的A点和B点，相邻两个探头与圆环轨道中心连线的夹角为θ，当系统在近场距离测量时，同时测量结果需要通过傅里叶变换公式将近场转换成远场结果时，探头的采样间隔与被测件的频率和尺寸有关，被测件的最大尺寸的旋转的球面上，当被测信号频率所对应的波长为λ时，球面上任意两个采样点的A点和B点的间隔≦λ/2，也就是A点和B点之间的弧长要≦λ/2那么：

因此：

通过对相邻探头与被测件之间的形成的夹角进行设计。

需要说明时，上述相邻探头与被测件之间的形成的夹角的设计仅仅是一种实施时的可能，本实用新型并不对相邻探头与被测件之间的夹角做限定，也可以按照其他的方式在轨道上排列探头。

此外，在一个实施例中，探头6可以通过齿轮与齿条配合的机构实现在环形轨道2上滑动。参照图3，探头固定连接在齿轮9上，环形轨道2上设置有齿条8，探头通过齿轮9与齿条8的啮合，实现在环形轨道2上位置的移动。

需要说明的是，探头6与环形轨道2的连接方式有很多种，并不局限于通过齿轮连接的方式，其他能够实现探头滑动的机械结构也在本实用新型的保护范围之内。

在一个实施例中，环形轨道2通过固定架3固定在地面上。通过探头6在环形轨道2上的相对位置的变化，形成对被测件多个方位的测试。

在一个实施例中，控制装置还可以与上位机连接,转台7也可以与所述上位机连接。本实施例中，通过将控制装置与上位机连接，为操控控制装置提供了友好的界面，可以更加方便的对控制装置所控制的探头进行位置移动的控制；另一方面，通过将转台与上位机连接，也为操控转台提供了友好的界面，可以更加方便地对转台的转速等参数进行设定，方便被测件DUT进行测试。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims

1.一种探头滑轨测试系统，其特征在于，包括：

环形轨道；

至少两个探头，用于对位于所述环形轨道中心且转动连接于转台的被测件DUT进行辐射性能的测试；所述至少两个探头在所述环形轨道上间隔设置，并且，每一所述探头与所述环形轨道滑动连接；所述探头与所述被测件均与测量仪器连接。

2.根据权利要求1所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，还包括：

控制装置，与所述探头电连接，用于控制所述探头在所述环形轨道上位置的移动。

3.根据权利要求2所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述环形轨道为圆形轨道、半圆形轨道或圆弧形轨道。

4.根据权利要求3所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述控制装置包括多个控制器，每一所述控制器与一个所述探头电连接，用于控制探头在所述环形轨道上单独发生位移。

5.根据权利要求3所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述控制装置包括一个控制器，该控制器同时与多个探头连接，用于控制多个探头形成联动。

6.根据权利要求1所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述每一探头通过齿轮与齿条机构在所述轨道上滑动。

7.根据权利要求1所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述环形轨道通过固定架固定在地面上。

8.根据权利要求2所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述控制装置与上位机连接。

9.根据权利要求8所述的探头滑轨测试系统，其特征在于，

所述转台与所述上位机连接。