JPH0836509A - スキャンパスの障害診断装置 - Google Patents
スキャンパスの障害診断装置Info
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- JPH0836509A JPH0836509A JP6173808A JP17380894A JPH0836509A JP H0836509 A JPH0836509 A JP H0836509A JP 6173808 A JP6173808 A JP 6173808A JP 17380894 A JP17380894 A JP 17380894A JP H0836509 A JPH0836509 A JP H0836509A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 スキャンパス内のどこで障害が発生したのか
を限定することができる診断装置の提供。 【構成】 スキャンパスを構成するＦＦ１〜３と、ＦＦ
１〜３の出力を択一的に順次導出する選択回路４と、こ
れらのいずれか一方の出力を取り出すための切り替え回
路５と、ＦＦの障害か否かかを判定する判定回路７とを
備え、判定回路７の判定結果がＦＦ障害の場合は、診断
処理装置Ｂからの制御信号１０５により切り替え回路５
が選択回路４側に切り替えられ、各ＦＦ１〜３の各内容
が順次１つづつ取り出されて診断処理装置Ｂに送出され
る。よって、スキャンパスの障害箇所で特定できること
になる。
を限定することができる診断装置の提供。 【構成】 スキャンパスを構成するＦＦ１〜３と、ＦＦ
１〜３の出力を択一的に順次導出する選択回路４と、こ
れらのいずれか一方の出力を取り出すための切り替え回
路５と、ＦＦの障害か否かかを判定する判定回路７とを
備え、判定回路７の判定結果がＦＦ障害の場合は、診断
処理装置Ｂからの制御信号１０５により切り替え回路５
が選択回路４側に切り替えられ、各ＦＦ１〜３の各内容
が順次１つづつ取り出されて診断処理装置Ｂに送出され
る。よって、スキャンパスの障害箇所で特定できること
になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スキャンパスの障害診
断装置に関し、特に複数のフリップフロップが互いに縦
続接続され前段フリップフロップの出力を次段へ順次に
シフトするスキャンパスを備えたデータ処理装置の障害
診断装置に関する。
断装置に関し、特に複数のフリップフロップが互いに縦
続接続され前段フリップフロップの出力を次段へ順次に
シフトするスキャンパスを備えたデータ処理装置の障害
診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の障害診断装置におけるスキャン制
御方式と診断制御方式は以下のとおりであった。
御方式と診断制御方式は以下のとおりであった。
【０００３】まず、スキャン制御方式から説明する。装
置のログデータの収集や装置内の任意のフリップフロッ
プ（以下、ＦＦという。）の内容の抜き取り、任意ＦＦ
へのデータ設定を行う手段としてスキャンパス機能があ
る。
置のログデータの収集や装置内の任意のフリップフロッ
プ（以下、ＦＦという。）の内容の抜き取り、任意ＦＦ
へのデータ設定を行う手段としてスキャンパス機能があ
る。
【０００４】スキャンパスとは装置内のＦＦを縦続に接
続したものであり、診断処理装置はこのスキャンパスの
データを順次シフトして抜き出すスキャンアウト動作、
および所定のデータをスキャンパスに対して順次シフト
して入力するスキャンイン動作を制御する。
続したものであり、診断処理装置はこのスキャンパスの
データを順次シフトして抜き出すスキャンアウト動作、
および所定のデータをスキャンパスに対して順次シフト
して入力するスキャンイン動作を制御する。
【０００５】診断処理装置はスキャン対象装置のクロッ
クを停止し、シフトモードを設定する。シフトモード状
態では装置内のＦＦは縦続接続に切り替わりスキャンパ
スを形成する。次に、診断処理装置から供給されるスキ
ャン用クロックにより、スキャンパス上のＦＦがこのク
ロックのタイミングで順次シフト動作する。
クを停止し、シフトモードを設定する。シフトモード状
態では装置内のＦＦは縦続接続に切り替わりスキャンパ
スを形成する。次に、診断処理装置から供給されるスキ
ャン用クロックにより、スキャンパス上のＦＦがこのク
ロックのタイミングで順次シフト動作する。
【０００６】診断処理装置は、スキャンパスの最終ＦＦ
の出力をスキャンパスアウト・データとして１ビットず
つシリアルに受信し、スキャンパス上のデータを抜き出
す。また、スキャンイン・データを１ビットずつシリア
ルに送信し、スキャンパスの最初のＦＦに入力すること
により、所定のデータを装置内のＦＦに設定することが
できる。
の出力をスキャンパスアウト・データとして１ビットず
つシリアルに受信し、スキャンパス上のデータを抜き出
す。また、スキャンイン・データを１ビットずつシリア
ルに送信し、スキャンパスの最初のＦＦに入力すること
により、所定のデータを装置内のＦＦに設定することが
できる。
【０００７】次に、診断制御方式について説明する。診
断処理装置は障害が発生した装置から障害の報告を受け
取ると、装置との診断インタフェースを介して装置内状
態を読み出し、障害箇所の診断を行う。
断処理装置は障害が発生した装置から障害の報告を受け
取ると、装置との診断インタフェースを介して装置内状
態を読み出し、障害箇所の診断を行う。
【０００８】装置内には、予め障害発生時の状態をホー
ルドする障害ごとの表示ＦＦ（ＥＩＦ：Ｅｒｒｏｒ Ｉ
ｎｄｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ）や、データパス表示用のＦ
Ｆ（ＰＩ：Ｐａｔｈ Ｉｎｄｉｃａｔｅｒ）が設けられ
ている。診断処理装置はこれらの状態表示ＦＦを読み出
し、障害箇所の判定をする。
ルドする障害ごとの表示ＦＦ（ＥＩＦ：Ｅｒｒｏｒ Ｉ
ｎｄｉｃａｔｅ Ｆｌａｇ）や、データパス表示用のＦ
Ｆ（ＰＩ：Ｐａｔｈ Ｉｎｄｉｃａｔｅｒ）が設けられ
ている。診断処理装置はこれらの状態表示ＦＦを読み出
し、障害箇所の判定をする。
【０００９】これ等ＦＦのスキャンパスによる障害診断
方式の例としては、特開昭６２−１８２９３８号公報等
に開示されている。
方式の例としては、特開昭６２−１８２９３８号公報等
に開示されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の障害診
断装置ではスキャンパス内で故障が発生した場合は、ス
キャンパス内のどのＦＦで障害が発生したのか限定でき
ないという欠点があった。これは、スキャンパス内で
「０」故障または「１」故障が発生した場合、スキャン
パス内のＦＦは直列に接続されているため、データが順
次シフトされることによりスキャンパスの出力データが
「０」または「１」に固定されてしまうからであった。
この時、ＥＩＦやＰＩなどの情報がないため故障箇所を
限定することができず、またＦＦ等の情報がないために
障害の解析が困難な場合があった。
断装置ではスキャンパス内で故障が発生した場合は、ス
キャンパス内のどのＦＦで障害が発生したのか限定でき
ないという欠点があった。これは、スキャンパス内で
「０」故障または「１」故障が発生した場合、スキャン
パス内のＦＦは直列に接続されているため、データが順
次シフトされることによりスキャンパスの出力データが
「０」または「１」に固定されてしまうからであった。
この時、ＥＩＦやＰＩなどの情報がないため故障箇所を
限定することができず、またＦＦ等の情報がないために
障害の解析が困難な場合があった。
【００１１】そこで本発明の目的は、スキャンパス内で
故障が発生した場合に、スキャンパス内のどこで障害が
発生したのかを限定することができるスキャンパスの障
害診断装置を提供することにある。
故障が発生した場合に、スキャンパス内のどこで障害が
発生したのかを限定することができるスキャンパスの障
害診断装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、複数のフリップフロップが互いに縦続接続
され前段フリップフロップの出力を次段へ順次シフトす
るスキャンパスと、前記スキャンパスを構成する各フリ
ップフロップの出力を順次択一的に導出する選択手段
と、前記スキャンパスのスキャン出力と前記選択手段の
出力とのいずれか一方に出力を切り替える切り替え手段
とを備えたことを特徴とする。
に本発明は、複数のフリップフロップが互いに縦続接続
され前段フリップフロップの出力を次段へ順次シフトす
るスキャンパスと、前記スキャンパスを構成する各フリ
ップフロップの出力を順次択一的に導出する選択手段
と、前記スキャンパスのスキャン出力と前記選択手段の
出力とのいずれか一方に出力を切り替える切り替え手段
とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
【作用】スキャンパス出力とこのスキャンパスのＦＦの
各出力とを切り替え得る様にし、ＦＦ障害時に各ＦＦの
出力を順次択一的に導出するようにする。これにより、
ＦＦ障害時にフリップフロップ毎の内容を知ることがで
きる。
各出力とを切り替え得る様にし、ＦＦ障害時に各ＦＦの
出力を順次択一的に導出するようにする。これにより、
ＦＦ障害時にフリップフロップ毎の内容を知ることがで
きる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の一実施例について添付図面を
参照しながら説明する。図１は本発明に係るスキャンパ
スの障害診断装置の構成図である。障害診断装置は、ス
キャンパスを構成する３個の縦続接続のＦＦ１，２，３
と、これらのＦＦ１，２，３の出力を択一的に導出する
選択回路４と、スキャンパスのスキャン出力（ＦＦ１，
２，３の直列出力）と選択回路４の出力とのいずれか一
方に出力を切り替える切り替え回路５と、選択回路４を
駆動するためのカウンタ６と、障害がスキャンパスを構
成するＦＦ１，２，３の障害か否かを判定する判定回路
７とにより構成されるデータ処理装置Ａと、データ処理
装置Ａに対するスキャン動作を制御するスキャン制御部
１１を備え、判定結果に基づいて障害の診断を行う診断
処理装置Ｂとにより構成される。
参照しながら説明する。図１は本発明に係るスキャンパ
スの障害診断装置の構成図である。障害診断装置は、ス
キャンパスを構成する３個の縦続接続のＦＦ１，２，３
と、これらのＦＦ１，２，３の出力を択一的に導出する
選択回路４と、スキャンパスのスキャン出力（ＦＦ１，
２，３の直列出力）と選択回路４の出力とのいずれか一
方に出力を切り替える切り替え回路５と、選択回路４を
駆動するためのカウンタ６と、障害がスキャンパスを構
成するＦＦ１，２，３の障害か否かを判定する判定回路
７とにより構成されるデータ処理装置Ａと、データ処理
装置Ａに対するスキャン動作を制御するスキャン制御部
１１を備え、判定結果に基づいて障害の診断を行う診断
処理装置Ｂとにより構成される。
【００１５】また、選択回路４は各ＦＦの出力を１ビッ
トずつ選択できる回路であればよく、たとえば３接点の
リレーやマルチプレクサで構成することができる。ま
た、ＦＦ等で構成した並列・直列変換回路を用いてもよ
い。
トずつ選択できる回路であればよく、たとえば３接点の
リレーやマルチプレクサで構成することができる。ま
た、ＦＦ等で構成した並列・直列変換回路を用いてもよ
い。
【００１６】また、判定回路７は、たとえば、ＦＦ１に
入力したデータとＦＦ３から出力されたシリアルデータ
とが一致するか否かを判定する。そして、データが一致
しない場合はＦＦ障害と判定する。一方、データが一致
するにもかかわらず障害がある場合はＦＦ以外の障害と
判定する。
入力したデータとＦＦ３から出力されたシリアルデータ
とが一致するか否かを判定する。そして、データが一致
しない場合はＦＦ障害と判定する。一方、データが一致
するにもかかわらず障害がある場合はＦＦ以外の障害と
判定する。
【００１７】なお、本実施例ではＦＦを３個で構成した
が３個に限定されるものではなく任意の個数でよい。
が３個に限定されるものではなく任意の個数でよい。
【００１８】次に、この装置の動作について図２を参照
しながら説明する。図２は障害診断装置の障害時の動作
を示すフローチャートである。
しながら説明する。図２は障害診断装置の障害時の動作
を示すフローチャートである。
【００１９】診断処理装置Ｂから出力されたスキャン入
力データ（ＳＩＤ）１０１はＦＦ１で受信され、ＦＦ
２，３および切り替え回路５を介して出力データ（ＳＩ
Ｄ）１０２がスキャンパスとして診断処理装置Ｂに入力
される。すなわち、スキャンパスはＦＦ１，２，３を経
由する。
力データ（ＳＩＤ）１０１はＦＦ１で受信され、ＦＦ
２，３および切り替え回路５を介して出力データ（ＳＩ
Ｄ）１０２がスキャンパスとして診断処理装置Ｂに入力
される。すなわち、スキャンパスはＦＦ１，２，３を経
由する。
【００２０】このようなスキャンパスを備えたデータ処
理装置Ａにおいて障害が発生した場合、データ処理装置
Ａ内の障害を検出している判定回路７は、ステップ２１
にて障害があったことを検出すると、ステップ２２に進
みその障害がＦＦ障害か否かを判定して障害通知を診断
処理装置Ｂに送出する。
理装置Ａにおいて障害が発生した場合、データ処理装置
Ａ内の障害を検出している判定回路７は、ステップ２１
にて障害があったことを検出すると、ステップ２２に進
みその障害がＦＦ障害か否かを判定して障害通知を診断
処理装置Ｂに送出する。
【００２１】判定結果がＦＦ障害でない場合（ＦＦ以外
の障害）は、ステップ２３に進み判定回路７は診断処理
装置Ｂに対してＦＦ以外の障害通知１０３を送出する。
そして、診断制御装置Ｂはスキャン制御部１１により従
来のスキャン動作と同様にデータ処理装置Ａ内の読み出
しやＦＦ１，２，３の内容の抜き取りを行う。診断処理
装置Ｂはこれらの情報に基づいて障害箇所の診断を行
う。
の障害）は、ステップ２３に進み判定回路７は診断処理
装置Ｂに対してＦＦ以外の障害通知１０３を送出する。
そして、診断制御装置Ｂはスキャン制御部１１により従
来のスキャン動作と同様にデータ処理装置Ａ内の読み出
しやＦＦ１，２，３の内容の抜き取りを行う。診断処理
装置Ｂはこれらの情報に基づいて障害箇所の診断を行
う。
【００２２】一方、判定結果がＦＦ障害の場合は、ステ
ップ２２からステップ２４に進み判定回路７は診断処理
装置Ｂに対してＦＦ障害通知１０４を送出する。そし
て、診断処理装置Ｂはデータ処理装置Ａに対してスキャ
ンパス切り替え指示１０５を送出し、切り替え回路５を
ＦＦ１，２，３のスキャンパス側から選択回路４側に切
り替える。
ップ２２からステップ２４に進み判定回路７は診断処理
装置Ｂに対してＦＦ障害通知１０４を送出する。そし
て、診断処理装置Ｂはデータ処理装置Ａに対してスキャ
ンパス切り替え指示１０５を送出し、切り替え回路５を
ＦＦ１，２，３のスキャンパス側から選択回路４側に切
り替える。
【００２３】次に、ステップ２５に進み診断処理装置Ｂ
はデータ処理装置Ａ内のカウンタ６に対しカウントアッ
プ指示１０６を送出する。カウンタ６の初期値は０であ
り、カウントアップ指示が送られてくるとカウント値を
０から１にする。そして、ステップ２６に進みＦＦ１の
データを選択回路４および切り替え回路５を介して出力
データ（ＳＯＤ）１０２として診断処理装置Ｂに送出す
る。次に、ステップ２７に進みデータの収集はまだ完了
していないのでステップ２５に戻る。そして、カウンタ
６を１カウントアップしてカウント値を２とし、ステッ
プ２６でＦＦ２のデータを出力データ（Ｓ０Ｄ）１０２
として診断処理装置Ｂに送出する。以後、ステップ２
７、２５、２６と進みＦＦ３について再度データを収集
し出力データ（ＳＯＤ）１０２として診断処理装置Ｂに
送出する。
はデータ処理装置Ａ内のカウンタ６に対しカウントアッ
プ指示１０６を送出する。カウンタ６の初期値は０であ
り、カウントアップ指示が送られてくるとカウント値を
０から１にする。そして、ステップ２６に進みＦＦ１の
データを選択回路４および切り替え回路５を介して出力
データ（ＳＯＤ）１０２として診断処理装置Ｂに送出す
る。次に、ステップ２７に進みデータの収集はまだ完了
していないのでステップ２５に戻る。そして、カウンタ
６を１カウントアップしてカウント値を２とし、ステッ
プ２６でＦＦ２のデータを出力データ（Ｓ０Ｄ）１０２
として診断処理装置Ｂに送出する。以後、ステップ２
７、２５、２６と進みＦＦ３について再度データを収集
し出力データ（ＳＯＤ）１０２として診断処理装置Ｂに
送出する。
【００２４】そして、ＦＦ１，２，３のデータをすべて
診断処理装置Ｂに送出し終えると、ステップ２８に進み
診断処理装置Ｂは切り替え回路５に対し切り替え指示１
０５を送出し、切り替え回路５をＦＦ１，２，３のスキ
ャンパス側に切り替える。そして、ステップ２３に戻り
従来のスキャン制御によりデータ処理装置Ａ内の状態読
み出しやＦＦ内容の抜き取りを行う。診断処理装置Ｂ
は、これら抜き取られた情報に基づいて障害箇所の診断
を行う。
診断処理装置Ｂに送出し終えると、ステップ２８に進み
診断処理装置Ｂは切り替え回路５に対し切り替え指示１
０５を送出し、切り替え回路５をＦＦ１，２，３のスキ
ャンパス側に切り替える。そして、ステップ２３に戻り
従来のスキャン制御によりデータ処理装置Ａ内の状態読
み出しやＦＦ内容の抜き取りを行う。診断処理装置Ｂ
は、これら抜き取られた情報に基づいて障害箇所の診断
を行う。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、切り替え手段を選択手
段側に切り替えることにより、複数のＦＦの出力を順次
択一的に導出可能であるので、ＦＦごとの内容を知るこ
とができる。よって、障害発生時にスキャンパスを構成
するＦＦの障害位置が特定でき、より正確な解析が可能
となって、解析時間を短縮することができるという効果
がある。
段側に切り替えることにより、複数のＦＦの出力を順次
択一的に導出可能であるので、ＦＦごとの内容を知るこ
とができる。よって、障害発生時にスキャンパスを構成
するＦＦの障害位置が特定でき、より正確な解析が可能
となって、解析時間を短縮することができるという効果
がある。
【図１】本発明に係るスキャンパスの障害診断装置の構
成図である。
成図である。
【図２】同障害診断装置の障害時の動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
１，２，３ ＦＦ ４ 選択回路 ５ 切り替え回路 ７ 判定回路 Ａ データ処理装置 Ｂ 診断処理装置
Claims (3)
- 【請求項１】 複数のフリップフロップが互いに縦続接
続され前段フリップフロップの出力を次段へ順次シフト
するスキャンパスと、前記スキャンパスを構成する各フ
リップフロップの出力を順次択一的に導出する選択手段
と、前記スキャンパスのスキャン出力と前記選択手段の
出力とのいずれか一方に出力を切り替える切り替え手段
とを備えたことを特徴とするスキャンパスの障害診断装
置。 - 【請求項２】 障害が前記スキャンパスを構成するフリ
ップフロップの障害か否かを判定する判定手段を備え、
この判定手段は前記スキャンパスを構成するフリップフ
ロップの障害の場合は前記切り替え手段を前記選択手段
側に切り替え、それ以外の障害の場合は前記スキャンパ
スのスキャン出力側に切り替えることを特徴とする請求
項１記載のスキャンパスの障害診断装置。 - 【請求項３】 前記判定手段の判定結果が入力される診
断処理手段を備え、この診断処理手段は前記判定結果に
従って前記選択手段と前記切り替え手段とを制御し、前
記切り替え手段の出力側から得た内容に基づいて障害の
診断を行うことを特徴とする請求項２記載のスキャンパ
スの障害診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6173808A JPH0836509A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | スキャンパスの障害診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6173808A JPH0836509A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | スキャンパスの障害診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0836509A true JPH0836509A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=15967549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6173808A Pending JPH0836509A (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | スキャンパスの障害診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0836509A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9110140B2 (en) | 2013-01-17 | 2015-08-18 | Socionext Inc. | Scan circuit, semiconductor device, and method for testing semiconductor device |
-
1994
- 1994-07-26 JP JP6173808A patent/JPH0836509A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9110140B2 (en) | 2013-01-17 | 2015-08-18 | Socionext Inc. | Scan circuit, semiconductor device, and method for testing semiconductor device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20021008 |