JPH08335685A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPH08335685A
JPH08335685A JP7140691A JP14069195A JPH08335685A JP H08335685 A JPH08335685 A JP H08335685A JP 7140691 A JP7140691 A JP 7140691A JP 14069195 A JP14069195 A JP 14069195A JP H08335685 A JPH08335685 A JP H08335685A
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JP
Japan
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charge transfer
liquid crystal
solid
photodiode
photodiode section
Prior art date
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Pending
Application number
JP7140691A
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English (en)
Inventor
Seigo Abe
部 征 吾 安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 固体撮像装置の感度及び平坦性の改善。 【構成】 シリコン基板101内に形成されたフォトダ
イオード部と、このフォトダイオード部に蓄積された電
荷の転送を担う電荷転送電極103,104とを液晶1
08が覆う構造を有する。液晶電極部106,110は
電荷転送電極103,104に合わせてパターニングさ
れ、液晶格子が電荷転送電極103上においてのみ垂直
入射光を遮断し、フォトダイオード部上では電荷転送電
極103,−4へ斜めに向かう光をフォトダイオード部
に向けて偏向させるとともにフォトダイオード部への垂
直入射光の通過は許容するように液晶電極106,11
0間に印加する電場を制御する。 【効果】 感度及び平坦性が改善され、面内の特性ばら
つきを緩和できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は固体撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来の固体撮像装置の構造を示す
ものである。この図において、シリコン201上にはゲ
ート酸化膜202を介して第1、第2電荷転送電極20
3,204及び層間膜205が形成され、その各凸部上
面にはポリシリコン膜206を介して3層構造の遮光膜
207,208,209が形成されている。例えば、最
下層の遮光膜207及び中層の遮光膜208はタングス
テン、最上層の遮光膜209はアルミニウムによって形
成される。これらの遮光膜207〜209上の全面には
CVDメルト層210及びパッシベーション膜211が
積層されている。
【0003】この固体撮像装置は、電荷転送電極20
3,204形成後に層間膜205を設け、金属もしくは
シリサイドにより遮光膜206〜209を形成し、CV
Dメルト層210にて平坦化を行い、最後にパッシベー
ション膜211を形成する、というプロセスで形成して
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術に
おいては、斜め入射光の侵入を阻止するため、遮光膜2
06〜209を電荷転送電極203,204側壁まで落
とし込まなくてはならず、これにより符号Aで示すよう
にフォトダイオード開口面積が狭くなり、その分感度が
低下するという問題があった。
【0005】また、符号Bで示すように段差が大きくな
るためにCVDメルトによる平坦性に限度があり、面内
にて平坦性にかなりバラツキがあった。これにより特性
的には、感度及び色ムラ等の面内特性バラツキに問題が
生じていた。
【0006】本発明は、上記した問題点を解決し固体撮
像装置の感度及び平坦性の改善を図ることを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の固体撮像装置
は、半導体基板内に形成されたフォトダイオード部と、
前記半導体基板内における前記フォトダイオード部に蓄
積された電荷の転送を担う電荷転送電極部と、前記半導
体基板上に前記フォトダイオード部と前記電荷転送電極
部とを覆うように形成され、その電極部が少なくとも前
記電荷転送電極部に合わせてパターニングされた液晶部
とを備えていることを特徴とする。
【0008】
【作用】本発明によれば、電荷転送電極部を液晶部によ
って覆う構造にしたため、その液晶格子を利用すること
によって電荷転送電極へ向かう光を遮断することができ
ることとなり、デバイスの平坦化を図ることができる。
【0009】また、液晶格子が電荷転送電極部上におい
てのみ垂直入射光を遮断し、フォトダイオード部上では
電荷転送電極部へ斜めに向かう光をフォトダイオード部
に向けて偏向させるとともにフォトダイオード部への垂
直入射光の通過は許容するように液晶電極間に印加する
電場を制御することにより、電荷転送電極側部における
斜め入射光遮断専用の領域が不要となり、フォトダイオ
ード部の開口面積を広げることができ、感度向上を図る
ことができる。
【0010】さらに、電荷転送電極部へ斜めに向かって
いた光をフォトダイオード部に進入することになるた
め、フォトダイオード部における集光能力の向上分も感
度向上を図ることができたことになる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1を参照して説
明する。
【0012】図1は本発明の一実施例に係る固体撮像装
置の製造プロセスを示すものである。まず、同図(a)
において、シリコン基板101上にはゲート酸化膜10
2が形成され、このゲート酸化膜102上には第1電荷
転送電極の材料膜を堆積し、その上に酸化膜を介して第
2電荷転送電極の材料膜を堆積させ、これらの膜をパタ
ーニングすることにより第1電荷転送電極103及び第
2電荷転送電極104を形成する。その後、全面に酸化
膜を堆積させることにより層間膜105を完成させる。
その層間膜105形成後、ポリッシング加工により第2
電荷転送電極104を平坦化する。
【0013】次いで、図1(b)に示すように、層間膜
105上に透明金属(例えば、In-Ti-Ox)をスパッタリ
ングすることで透明電極膜106を形成する。この透明
電極膜106は液晶の電極材として多く用いられている
透明な金属であり、半導体に用いる場合にも特別な技術
は必要としない。さらに、液晶に方向性を持たせるため
の配向膜107をポリイミド等を用いて形成し、これら
透明電極膜106及び配向膜107をウェーハ上のフォ
トダイオード部に合わせてパターニングする。
【0014】その後、図1(c)に示すように、予め配
向膜109及び透明電極110をウェーハ上のフォトダ
イオード部に合わせてパターニングしておいたガラス板
111を、電荷転送電極103,104の形成されたウ
ェーハ凸部と距離y、フォトダイオード部をなすウェー
ハ凹部と距離xをそれぞれ持つように配し、そのウェー
ハとガラス板111との間に液晶108を封じ込めるこ
とで本発明に係るCCDが完成されることとなる。
【0015】以上のような構造のCCDにおいて、透明
電極107,110に電場を印加したとき、液晶電極1
06,110のパターニング及び距離x,yによって決
まる電場強度により、図1(d)に示すように、液晶1
08における距離yを持つ電荷転送電極103,104
上の部分108aは再配列により垂直入射光L1 を通過
させなくなり、また液晶108におけるフォトダイオー
ド部上の部分108bも透明電極107,110の電場
の影響を受けて再配列方向に動作し、電荷転送電極10
3,104へ斜めに向かう光L2 は液晶格子によって偏
向されてフォトダイオード部へ入射するようになる。フ
ォトダイオード部への垂直入射光L1 は液晶格子によっ
てその進行を阻まれることなくフォトダイオード部へ入
射するようになる。
【0016】このように本実施例によれば、電荷転送電
極103,104を液晶108によって覆い、その液晶
格子によって電荷転送電極103,104へ向かう光を
遮断するようにしたため、デバイスの平坦化を図ること
ができる。
【0017】また、液晶格子が電荷転送電極103,1
04上においてのみ垂直入射光を遮断し、フォトダイオ
ード部上では電荷転送電極103,104へ斜めに向か
う光をフォトダイオード部に向けて偏向させるとともに
フォトダイオード部への垂直入射光の通過は許容するよ
うに液晶電極間に印加する電場を制御することにより、
電荷転送電極側部における斜め入射光遮断専用の領域が
不要となり、フォトダイオード部の開口面積を広げるこ
とができ、感度向上を図ることができる。
【0018】さらに、電荷転送電極103,104へ斜
めに向かっていた光をフォトダイオード部に進入するこ
とになるため、フォトダイオード部における集光能力の
向上分も感度向上を図ることができたことになる。
【0019】なお、上記実施例では液晶電極106,1
10のパターニング及び距離x,yによって液晶の局部
的な電場強度を制御するようにしているが、電極10
6,110のパターニング及び距離x,yの調節のいず
れか一方によりその電場制御を行うようにしてもよい。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
荷転送電極部を液晶部によって覆い、その液晶格子を利
用することによって電荷転送電極へ向かう光を遮断する
ことができるようにしたため、デバイスの平坦化を図る
ことができる。
【0021】また、液晶格子が電荷転送電極部上におい
てのみ垂直入射光を遮断し、フォトダイオード部上では
電荷転送電極部へ斜めに向かう光をフォトダイオード部
に向けて偏向させるとともにフォトダイオード部への垂
直入射光の通過は許容するように液晶電極間に印加する
電場を制御することにより、電荷転送電極側部における
斜め入射光遮断専用の領域が不要となり、フォトダイオ
ード部の開口面積を広げることができ、感度向上を図る
ことができる。
【0022】さらに、電荷転送電極部へ斜めに向かって
いた光をフォトダイオード部に進入することになるた
め、フォトダイオード部における集光能力の向上分も感
度向上を図ることができたことになる。
【0023】これにより特性的な感度及び色ムラ等の面
内特性バラツキを緩和することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るに固体撮像装置の構造
及び製造プロセスを示す工程別素子断面図。
【図2】従来の固体撮像装置の構造を示す素子断面図。
【符号の説明】
101 シリコン基板 102 ゲート酸化膜 103 第1電荷転送電極 104 第2電荷転送電極 105 層間膜 106 透明電極膜 107 配向膜 108 液晶 109 配向膜 110 透明電極 111 ガラス板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板内に形成されたフォトダイオー
    ド部と、 前記半導体基板内における前記フォトダイオード部に蓄
    積された電荷の転送を担う電荷転送電極部と、 前記半導体基板上に前記フォトダイオード部と前記電荷
    転送電極部とを覆うように形成され、その電極部が少な
    くとも前記電荷転送電極部に合わせてパターニングされ
    た液晶部とを備えていることを特徴とする固体撮像装
    置。
JP7140691A 1995-06-07 1995-06-07 固体撮像装置 Pending JPH08335685A (ja)

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JP7140691A JPH08335685A (ja) 1995-06-07 1995-06-07 固体撮像装置

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JPH08335685A true JPH08335685A (ja) 1996-12-17

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JP (1) JPH08335685A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001284566A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Sharp Corp 固体撮像装置、及びその製造方法
US6320637B1 (en) 1998-10-29 2001-11-20 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Liquid crystal display with wide viewing angle

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6320637B1 (en) 1998-10-29 2001-11-20 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Liquid crystal display with wide viewing angle
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