JPH08300234A - ネジ有無認識方法 - Google Patents

ネジ有無認識方法

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JPH08300234A
JPH08300234A JP10877395A JP10877395A JPH08300234A JP H08300234 A JPH08300234 A JP H08300234A JP 10877395 A JP10877395 A JP 10877395A JP 10877395 A JP10877395 A JP 10877395A JP H08300234 A JPH08300234 A JP H08300234A
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JP
Japan
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density
screw
contour
absence
image
Prior art date
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Pending
Application number
JP10877395A
Other languages
English (en)
Inventor
Misuzu Takano
みすゞ 高野
Yoshihiro Itsuzaki
嘉浩 逸崎
Kinji Horigami
欣司 堀上
Kazumasa Okumura
一正 奥村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH08300234A publication Critical patent/JPH08300234A/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 ネジの存在を判断するネジ有無認識方法を提
供する。 【構成】 ネジ対象物を撮像手段1で撮像して得られた
濃淡画像の円形状の輪郭に等しい走査輪郭に直交したこ
の走査輪郭の内外の画像濃度を測定する濃度相関ライン
を複数設けた輪郭走査ウィンドによって前記濃淡画像を
走査し、各濃度相関ライン毎に所定数の内側画像濃度測
定点からなる内側濃度相関ラインの測定濃度計測値と、
所定数の外側画像濃度測定点からなる外側濃度相関ライ
ンの測定濃度計測値との差の絶対値を演算し、この絶対
値が所定濃度しきい値より大きな濃度相関ラインの本数
が極大になる輪郭走査ウィンドの位置を、ネジの基準位
置として検出し、その位置よりエッジ走査ラインを設定
し、検出されたエッジ本数によってネジの有無を判断す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ネジ締めロボット用
視覚認識装置の位置認識方法に関し、撮像手段で撮像さ
れた画像からネジの位置を検出し、ネジ締めを行った後
のネジの有無の判断を行うネジ有無認識方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】近年、撮像装置で撮像された画像から対
象物の位置を検出する位置認識方法が、各種生産設備に
おけるロボットの視覚認識装置に広く使用されている。
上記の位置認識方法の中から円形対象物の位置を認識す
る場合の従来例を説明する。
【0003】図6は、従来の位置認識方法の原理につい
て示すもので、円形対象物の中心位置を検出するための
基本構成を示している。図6において、20は対象物を
撮像して映像信号を出す撮像手段、21は前記映像信号
を画像データに記憶する濃淡画像記憶手段、22は後述
する輪郭走査ウィンドによって前記濃淡画像データを走
査する走査手段、23は前記の走査データを使用して対
象物の位置を演算する位置演算手段である。
【0004】図7は輪郭走査ウィンドを示すものであ
る。図7において、24は円形対象物の輪郭に等しい走
査輪郭で、25はこの走査輪郭に直交しこの走査輪郭の
内外の画像濃度を測定する濃度相関ラインで、輪郭走査
ウィンドはこの濃度相関ラインを複数設けたウィンドで
ある。位置演算手段23は濃度相関ライン25において
対象物の輪郭より内側測定点の測定濃度計測値と対象物
の輪郭より外側測定点の測定濃度計測値との差の絶対値
を演算するものである。
【0005】撮像手段20から撮像され濃淡画像記憶手
段21によって記憶された円形対象物の画像データを輪
郭走査ウィンド22で走査し、各濃度相関ライン毎に位
置演算手段23で演算し、その値が所定しきい値より大
きな濃度相関ラインの本数が極大になる輪郭走査ウィン
ドの位置が円形対象物の位置として検出できる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来の
方法では、図2で示すように対象物のネジ穴の大きさで
教示した輪郭走査ウィンドの極大となる位置を検出する
ことは可能であるが、実際にネジ締めが行われているか
どうかの判断はできず、ネジ締めされないまま次工程に
進むという問題点があった。この発明は、上記従来の問
題点を解決するもので、対象物のネジが締まっていると
きはネジの位置を検出した後、プラスマークのエッジを
検出し、エッジの検出本数からネジの有無を判断してネ
ジ締め検査不良を防ぐネジ有無認識方法を提供すること
を目的とする。
【0007】
【問題点を解決するための手段】この発明のネジ有無認
識方法は、上記の課題を解決するために従来の方法と同
様に対象物撮像手段で得られた画像データを用いて、対
象物の円形状の輪郭に直交する濃度相関ラインを複数設
けた輪郭走査ウィンドにより画像を走査し、前記円形状
の輪郭より内側測定点の測定濃度計測値と、前記円形状
の輪郭より外側測定点の測定濃度計測値との差の絶対値
が所定しきい値より大きな濃度相関ラインの本数が極大
になる輪郭走査ウィンドの位置を対象物の位置として検
出し、ネジ頭の中心から一定距離離れた円周上でネジ頭
のプラスマークのエッジを検出し、エッジの検出本数か
らネジの有無を判断することを特徴とするものである。
【0008】
【作用】この発明のネジ有無認識方法は、上記した方法
によって、ネジ頭の位置を検出しプラスマークのエッジ
の本数を検出することによりネジの有無を判断し、ネジ
締め不良を未然に防ぐことができる。
【0009】
【実施例】以下、この発明の一実施例であるネジ頭の位
置認識とネジの有無認識方法について図面を参照しなが
ら説明する。図1は、この発明のネジ有無認識方法を使
用する認識装置の主要部を示すブロック図である。
【0010】図1において、本実施例は、撮像手段1が
対象物を撮像して映像信号を出し、濃淡画像記憶手段2
が前記映像信号を濃淡画像データにして記憶し、走査手
段3が輪郭走査ウィンドによって前記濃淡画像データを
走査し、位置演算手段4が前記の走査データを使用して
対象物の位置を演算する。さらにエッジ検出手段5でネ
ジ頭の中心から一定距離離れた円周上でネジ頭のプラス
マークのエッジを検出し、ネジ有無判断手段6でエッジ
検出手段5で得られたエッジ検出本数からネジの有無を
判断する。
【0011】図2は、図1の濃淡画像走査手段3によっ
て得られた濃淡画像データを示し、7はネジ、8はネジ
頭のプラスマークである。図3は、本実施例で使用する
輪郭走査ウィンドを示し、9は、ネジ頭の画像の円弧部
分の直径と等しい直径を有する輪郭走査である。10a
〜10hは、輪郭走査9に直交しこの輪郭走査9の内外
の画像濃度を測定する複数本の濃度相関ラインである。
【0012】図4は、本実施例で使用する輪郭走査ウィ
ンドの濃度相関ライン10a〜10hの中の10cの詳
細を示し、11cは、濃度相関ライン10cの走査輪郭
位置、12c、13c、14cは内側濃度相関ラインB
を構成する所定数の内側画像濃度測定点、15c、16
c、17cは外側濃度相関ラインCを構成する所定数の
外側画像濃度測定点である。
【0013】図5は、本実施例で使用するネジ頭のエッ
ジを検出する構成を示す。18はネジの中心位置、19
は中心位置18を中心として一定距離を半径とする円周
であり、この円周上を走査して濃度変化のある位置をエ
ッジとして検出する。円周19の中心位置18からの半
径の距離は自由に設定できる。次に、本実施例における
ネジ有無認識動作を図1〜図5に基づいて説明する。
【0014】まず、図1に示す撮像手段1で対象物を撮
像して得られた濃淡画像を、濃淡画像記憶手段2に濃淡
画像データとして記憶させる。ネジの輪郭周囲とプラス
マークの部分が暗くなるように照明を当て撮像すると図
2に示すような濃淡画像が得られる。3は濃淡画像走査
手段で、図3に示す輪郭走査ウインドで走査し、各濃度
相関ライン毎に位置演算手段4で演算し、その値が所定
しきい値より大きな濃度相関ライン本数が極大になる輪
郭走査ウインドの位置が円形対象物の位置として検出さ
れる。5はエッジ検出手段、6はネジ有無判定手段であ
る。
【0015】次に、本実施例の動作を以下に説明する。
まず、図1に示す走査手段1が、図3に示す輪郭走査ウ
ィンドで走査し撮像され、濃淡画像記憶手段2によって
記憶されたデータを、濃淡画像の左上から右方向に走査
し、一画素移動する度に位置演算手段が演算する。図4
に示すように、位置演算手段4において各濃度相関ライ
ン毎に、所定数の内側画像濃度測定点からなる内側濃度
相関ラインBの測定濃度計測値12c+13c+14c
と、所定数の外側画像濃度測定点からなる外側濃度相関
ラインCの測定濃度計測値15c+16c+17cとの
差の絶対値を演算し、この絶対値が所定濃度しきい値よ
り大きく濃度相関ラインの本数がもっとも大きくなる前
記輪郭走査ウィンドの位置をネジの位置として検出す
る。
【0016】上記の方法で検出された位置19を基準と
して、エッジ検出手段5において、予め設定されていた
エッジ走査ライン19であるしきい値以上の濃度変化が
あった場合にエッジとして検出し、プラスマークのエッ
ジ本数を検出する。次に、ネジ有無判定手段6におい
て、エッジ検出手段5において検出されたエッジ本数が
指定したエッジ本数以上検出されればネジが有るとの判
断をし、ネジの位置が検出されなかったり、また検出エ
ッジが指定したエッジ本数より少なかった場合にはネジ
が無いものと判断する。
【0017】以上の手段によって、ネジの有無を判断す
る。
【0018】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
エッジ検出手段によってあるしきい値以上の濃度変化が
あった場合にエッジとして検出し、プラスマークのエッ
ジ本数を検出し、次にネジ有無判定手段において指定し
たエッジ本数を基準として、ネジの有無を判定するの
で、ネジ締めが行われているかどうかの判断を正確にで
き、ネジ締め工程の不良を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のネジ有無認識方法を使用する位置認識
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明のネジ有無認識方法で使用する濃淡画像
の一例を示す図である。
【図3】本発明の実施例で使用する輪郭走査ウィンドの
構成を示す図である。
【図4】図3の輪郭走査ウィンドの一部詳細図である。
【図5】本発明の実施例で使用するネジ頭のエッジを検
出する走査ラインを示す図である。
【図6】従来例の位置認識方法を使用する位置認識装置
の構成を示すブロック図である。
【図7】従来例で使用する輪郭走査ウィンドの構成を示
す図である。
【図8】従来例で使用する円型対象物の一例を示す図で
ある。
【符号の説明】
1 撮像手段 2 濃淡画像記憶手段 3 輪郭走査ウィンドによる走査手段 4 位置演算手段 5 エッジ検出手段 6 ネジ有無判断手段 10a〜10h、25 濃度相関ライン 11c 走査輪郭位置 12c、13c、14c 内側画像濃度測定点 15c、16c、17c 外側画像濃度測定点 19 エッジ走査ライン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 奥村 一正 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ネジ対象物を撮像手段で撮像して得られ
    た濃淡画像上のネジ形状の輪郭に等しい走査輪郭に直交
    し、この走査輪郭の内外の画像濃度を測定する濃度相関
    ラインを複数設けた輪郭走査ウィンドによって前記濃淡
    画像を走査し、各濃度相関ライン毎に所定数の内側画像
    濃度計測点からなる内側濃度相関ラインの測定濃度計測
    値と、所定数の外側画像濃度測定点からなる外側濃度相
    関ラインの測定濃度計測値との差の絶対値を演算し、こ
    の絶対値が所定濃度しきい値より大きく、濃度相関ライ
    ンの本数が極大になる前記輪郭走査ウィンドの位置を、
    ネジ対象物の位置として検出し、検出された位置を基準
    としてネジ頭のプラスマークのエッジ本数を検出し、こ
    のエッジ検出本数からネジの有無を判断することを特徴
    とするネジ有無認識方法。
JP10877395A 1995-05-02 1995-05-02 ネジ有無認識方法 Pending JPH08300234A (ja)

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JP10877395A JPH08300234A (ja) 1995-05-02 1995-05-02 ネジ有無認識方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015226964A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 セイコーエプソン株式会社 ロボット、ロボットシステム、制御装置、及び制御方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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