JPH08300225A - ワイヤ放電加工機の位置決め方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ワイヤ電極の振動中心位置へ相対移動して接
触位置を精度良く検出することができるワイヤ放電加工
機機の位置決め方法を提供する。 【構成】 一対のワイヤガイド２４，２６間に張架され
たワイヤ電極６と被加工物Ｗを相対移動して放電加工を
行なうワイヤ放電加工機の位置決め方法において、前記
ワイヤ電極を所定のテンション下で走行させるワイヤ走
行ステップと、前記ワイヤ電極と被加工物を相対移動さ
せる相対移動ステップと、振動中心に移動してサーボす
るステップと、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に
検出電圧を印加して両者間の電圧を検出する電圧検出ス
テップと、前記検出電圧に基づき前記ワイヤ電極の接触
位置を求める接触位置演算ステップとを備えるように構
成する。これにより、ワイヤ電極を加工時と同じ環境下
に置いて、これを走行させながら位置決めを行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ワイヤ放電加工機の位
置決め方法及びその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、略垂直方向に張架されたワイヤ
電極を更新送りしつつこれと被加工物との間に放電現象
を発生させて、あたかも糸ノコのように被加工物に所望
の場所に所望の輪郭形状で加工を施すようにした装置と
して、ワイヤ放電加工機が知られている。この種のワイ
ヤ放電加工機は、非常に加工精度が高く、精密機械加工
に適している。加工を行なうに際しては、被加工物の決
められた箇所に精度良く加工を行うため、加工の位置に
対する基準となる被加工物の基準面または基準孔とワイ
ヤ電極を接触させて、基準位置を求め、その基準位置を
基準として被加工物上の各位置が相対的に決定される。
従って、加工前のこの基準位置の位置決めは、加工精度
に大きな影響を与え、非常に重要な操作となる。

【０００３】ここで、図９に基づいて従来のワイヤ放電
加工機の位置決め方法について説明する。図示するよう
に被加工物Ｗは、Ｘ・Ｙテーブル２上に設けたワークス
タンド４に固定されており、この被加工物Ｗに臨ませて
ワイヤ電極６を走行させるためのワイヤ供給移送手段８
は、ワイヤボビン９に巻回されたワイヤ電極６を、最下
流の回収ローラ１０とピンチローラ１２で挟み込んで一
定の力で引っ張ることにより送り出すようになってお
り、途中にプーリ１４や、プーリ１６、パウダーブレー
キ１８及びピンチローラ２０よりなるテンション付与機
構２２やプーリ２１、２３を介している。また、被加工
物Ｗを挟み込むような形で、この上下にはワイヤ電極６
の走行方向を案内する上ガイド２４及び下ガイド２６が
配置されている。

【０００４】更に、上ガイド２４の上方には、ワイヤ電
極６と接触してこれに給電を可能とするための給電子２
８が配置されており、この給電子２８とワークスタンド
４との間にパルス状の加工電圧を供給する加工電圧供給
部３０及び中心位置を決定する時に用いる接触検出部３
２からの給電ラインが接続される。そして、マイクロコ
ンピュータ等よりなるＮＣ装置３３は、これらの動作を
制御するものであり、Ｘ・Ｙテーブル２に設けたエンコ
ーダ３４からの座標情報に基づいてドライバ３８を介し
て駆動モータ３６を制御して、ワイヤ電極６と被加工物
Ｗとの相対位置を制御している。尚、実際には上ガイド
２４或いは下ガイド２６も移動させて相対位置を制御す
るが、図示例においては説明の簡単化のために記載を省
略している。このような構成において、ワイヤ電極６と
被加工物Ｗが、最初に接触した位置を接触検出部３２で
検出し、ここを基準位置、或いは基準座標として各部の
座標を決定するようになっている。

【０００５】ところで、ワイヤ電極のテンションはワイ
ヤ供給側とワイヤ電極巻取り側の間に設けたテンション
付与機構２２により与えられるが、ワイヤ電極の供給移
送手段８で送られるワイヤ電極が一対の上下のガイド２
４、２６間で僅かに振動することは避けられない。この
振動の原因は、テンションが加えられることによるワイ
ヤ電極の伸びや、給電子２８とワイヤ間の摩擦抵抗や、
テンション制御によるテンションの変動等に起因して発
生するが、この振動をできる限り少なくするよう設計し
ても無振動状態にできない。ワイヤの振動周波数は複数
の周波数が混在した状態であるが、約１ＫＨｚ〜２ＫＨ
ｚ程度の振動が位置決め精度に大きく影響する。

【０００６】そこで、このようなワイヤ電極の振動を考
慮して、一例として以下のような種々の位置決め方法が
提案されている。特開昭６３−９３５２４号公報では、
上下の各接触検出電極を有する治具を用いて、検出しよ
うとする上下の溝幅を対称に設けてあり、そこにワイヤ
電極の走行を止めた状態の接触検出位置と、ワイヤ電極
を走行させた状態で接触検出位置と、ワイヤ電極と走行
させた状態で接触検出位置の差から振動幅を求め、真の
垂直座標を得るようになっている。また、特開平２−１
６０４２３号公報では、ワイヤ電極を走行させながら位
置決めを行うと、走行によってワイヤ電極に微少振動が
発生し、精度及び再現性を低下させてしまうので、ワイ
ヤ電極の走行を停止させて所定の張力を与えた状態にし
つつ位置決めを行なうようにしている構成が提案されて
いる。

【０００７】更に、特開平１−３０６１３２号公報で
は、ワイヤ電極と検出点が上下に２つ有している垂直出
し用治具とを利用し、ワイヤ電極の垂直出しを行うもの
であって、ワイヤ電極が検出点に接触する回数を例えば
上部のみ、下部のみ、上下両方のみ、上下共に接触無し
の各々がカウントされるようになっており、そして各々
のカウントにより上部ワイヤガイドを前進或いは後退駆
動させてワイヤ電極を垂直に補正するようにした構成が
開示されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た各従来装置には、次のような問題点があった。まず、
第１の特開昭６３−９３５２４号公報に示す技術にあっ
ては、ワイヤの走行状態と停止状態で接触させ、これら
の差を持ってワイヤ電極の振動幅と見なし差分を補正し
ようとしている。しかしながら、ワイヤ電極を停止して
位置決めすると、ワイヤ電極を停止させた位置が常に同
じ位置で停止せず振動幅のどこかで止まるので停止位置
が安定しない。この理由は、ガイドの孔径とワイヤ電極
の径に差があること及び、給電子はワイヤ電極軸線上に
張り出しているためにワイヤ電極は常に給電子によりし
ごかれている状態下におかれることにある。また、ゴミ
等の付着物に起因する場合も少なくない。従って、ワイ
ヤ電極が被加工物と接触したときの位置が振動幅のどの
位置で接触したのか確定することができない。すなわち
ワイヤ電極が振動していない場合にあるべき位置までワ
イヤ電極と被加工物をサーボにて相対移動させ位置決め
するものであるが、振動しているワイヤ電極のどの振動
位置で接触したのか不明である。

【０００９】また、加工は所定のワイヤ電極送り速度と
所定のテンション下で行われるので、加工を行うときの
走行状態で位置検出しないと加工中の真の中心位置とし
て位置決めできない。 また、第２の特開平２−１６０
４２３号公報では、ワイヤ電極を停止させて振動のない
状態で位置決めしているが、この場合にも上記第１の公
報にて説明したように、ワイヤ電極は振動幅のどの位置
で停止するか判らないので停止位置が安定せず、第１の
公報の場合と同様な問題点を有する。また、第３の特開
平１−３０６１３２号公報では、垂直出し操作は、ワイ
ヤ電極を停止させた状態でなされており、この場合にも
前述したと同様な問題点が生ずる。

【００１０】本発明は、以上のような問題点を解決すべ
く創案されたものである。本発明の目的は接触位置決め
の際、ワイヤ電極を加工時と同じ環境下に置きワイヤ電
極を走行させながらワイヤ電極の接触位置を検出するこ
とにより、ワイヤ電極の振動による検出誤差をなくすこ
とのできるワイヤ放電加工機の位置決め方法とその装置
を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題を解
決するために、一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
ヤ電極と被加工物を相対移動して放電加工を行なうワイ
ヤ放電加工機の位置決め方法において、前記ワイヤ電極
を所定のテンション下で走行させるワイヤ走行ステップ
と、前記ワイヤ電極と被加工物を相対移動させる相対移
動ステップと、振動中心移動してサーボするステップ
と、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に検出電圧を
印加して両者間の電圧を検出する電圧検出ステップと、
前記検出電圧に基づき前記ワイヤ電極の接触位置を求め
る接触位置演算ステップとを備えるように構成したもの
である。

【００１２】

【作用】以上のように構成することにより、位置決め時
には、ワイヤ電極を所定のテンション下で走行させつつ
ワイヤ電極と被加工物とを相対移動させる。この相対移
動時には、ワイヤ電極と被加工物との接触・離反の繰り
返し動作をするサーボで両者の移動を制御する。そし
て、この接触・離反時の各位置座標を記憶しておき、所
定の回数の位置座標を検出したならば、不定振幅による
中心位置への移動制御のばらつきを平均化する演算をす
ることにより、接触位置を求めることが可能となる。こ
の場合、接触・離反操作中において、相対移動量が許容
量を逸脱した場合にはエラーとし、基準位置となる初期
座標を設定し直して再実行する。これにより、ワイヤ電
極を加工時と同じ環境下に置き、ワイヤ電極を走行させ
ながらこの接触位置を求めることが可能となる。

【００１３】

【実施例】以下に、本発明に係るワイヤ放電加工機の位
置決め方法及びその装置の一実施例を添付図面を参照し
つつ説明する。図１は本発明の係るワイヤ放電加工機の
位置決め装置を示す概略構成図、図２は図１に示す位置
決め装置の制御ユニットを示すブロック構成図である。
尚、図９にて示した部分と同一部分については同一符号
を付して説明する。

【００１４】図示するようにこのワイヤ放電加工機は、
基台４０上に設置したＸ・Ｙテーブル２を有しており、
この上にワークスタンド４を介して被加工物Ｗを固定し
ている。このＸ・Ｙテーブル２は、テーブルを動かすボ
ールネジ４２とこれを回転駆動するステップモータの如
き駆動モータ３６を有し、Ｘ方向及びこれに直交するＹ
方向の任意の位置に移動し得るようになっている。被加
工物Ｗの位置（座標）は、それぞれの駆動モータ３６に
設けたエンコーダ３４（図中においては一方のみ示す）
により検出される。尚、図示例の移動機構では、Ｘ・Ｙ
テーブル２のみ移動できるようになっているが、実際
は、上ガイド２４或いは下ガイド２６も移動できるよう
になっており、これらの相対移動によって位置制御され
るが、図示例では、説明の容易化のためにガイドの移動
機構を省略している。

【００１５】一方、被加工物Ｗに臨ませて、ワイヤ電極
Ｗを走行させるためのワイヤ供給移送手段８は、ワイヤ
ボビン９に巻回されたワイヤ電極６を、最下流の回収ロ
ーラ１０とピンチローラ１２で挟み込んで一定の力で引
っ張ることにより送り出すようになっており、途中にプ
ーリ１４や、プーリ１６、パウダーケーキ１８及びピン
チローラ２０よりなるテンション付与機構２２やプーリ
２１、２３を介設している。また、被加工物Ｗを挟み込
むような形で、この上下にはワイヤ電極６の走行方向を
案内する上ガイド２４及び下ガイド２６が配置される。
更に、上ガイド２４の上方には、ワイヤ電極６と接触し
てこれに給電を可能とするための給電子２８が配置され
ており、この給電子２８とワークスタンドとの間にパル
ス状の加工電圧を供給するための加工電圧供給部３０及
び中心位置を決定する時に用いる、位置決め装置４２の
一部を構成する接触検出部３２からの給電ラインが接続
される。

【００１６】そして、マイクロコンピュータ等よりなる
ＮＣ装置３３は、これらの動作を制御するものであり、
Ｘ・Ｙテーブル２に設けたエンコーダ３４からの座標情
報を基にドライバ３８を介して駆動モータ３６を制御し
て、ワイヤ電極６と被加工物との相対位置を制御する。
また、ＮＣ装置３３は、本発明の一部を構成する移動機
構制御部４１を内蔵する。この移動機構制御部４１は、
上記接触検出部３２からの信号を受けてワイヤ電極６と
被加工物Ｗとの接触状態の時間をカウントする接触状態
カウント部４４とこれらの非接触状態の時間をカウント
する非接触状態カウント部４６と、それぞれのカウント
値が所定時間に達する毎に、前進パルス或いは後退パル
スを出力する移動制御部４８とにより主に構成されてお
り、両者が接触しない時は前進パルスを出力し、接触し
た時には後退パルスを出力して両者が付かず離れずの関
係を維持するように制御している。

【００１７】上記した制御系は、機械部の制御系である
が、次に、接触位置を求める本発明の特徴とする演算ユ
ニット５０の構成について図２を参照して説明する。図
２は演算ユニット５０を示すブロック構成図である。こ
の演算の概要について説明すると、まず、ワイヤ電極と
被加工物とが接近して最初に接触するとその座標値が記
憶され、その後、連続的に入力されてくる座標値を所定
の数だけ記憶する。この間は、前述のようにワイヤ電極
と被加工物は付かず離れずの相対移動制御が行われてお
り、そして、所定の数の座標値を記憶したならば、この
平均値を求めて、目的とする接触位置座標を求める。た
だし、所定の数の座標値を求めるに当たり、各種のエラ
ー要素が侵入する恐れがあるので、複数のチェック工程
を設けておく。例えば基準座標として第１と第２の初期
座標を設けて、これらの座標値を中心とした所定の許容
範囲以外に座標値が逸脱した場合や、付かず離れずの動
作途中において前進方向或いは後退方向に所定の数だけ
連続的に移動パルスが発生した場合等をエラーとし、こ
の場合には再度、座標値の検出動作を行なうようになっ
ている。

【００１８】まず、図中、第１の初期座標記憶部５２
は、ワイヤ電極と被加工物が最初に接触して接触信号が
きた時の座標値を記憶するメモリであり、ここで記憶さ
れた第１の初期座標を基に、最大許容範囲が決められ
る。この座標値は、後述するようにエラーが発生しても
更新されることはなく、固定値となる。第２の初期座標
記憶部５４は、基準となる第２の初期座標を記憶するメ
モリであり、この座標値は、第１の初期座標とは異な
り、エラー信号が入力される毎にその座標値が更新され
て新しい座標値となる。

【００１９】広域許容範囲記憶部５６は、上記第１の初
期座標を中心として現在の座標値が取り得る最大の許容
範囲を記憶するメモリであり、本実施例ではこの広域許
容範囲を記憶するメモリであり、本実施例ではこの広域
許容範囲は例えば±９μｍの範囲に設定される。狭域許
容範囲記憶部５８は、上記第２の初期座標を中心として
現在の座標値が取り得る許容範囲を記憶するメモリであ
り、この許容範囲は上記広域許容範囲よりも狭く設定さ
れており、本実施例ではこの狭域許容範囲は例えば±４
μｍの範囲に設定されている。

【００２０】第１の初期座標比較部６０は、現在の座標
値が、上記第１の初期座標を基準として定まる上記広域
許容範囲内に納まっているか否かを比較判断するもので
あり、この許容範囲を逸脱した時には、エラー信号を出
力する。第２の初期座標比較部６２は、現在の座標値
が、上記第２の初期座標を基準として定まる上記狭域許
容範囲内に納まっているか否かを比較判断するものであ
り、この許容範囲を逸脱した時には、エラー信号を出力
する。

【００２１】連続値カウンタ部６４は、座標値が上記広
域及び狭域許容範囲内に入った状態で所定の回数だけ連
続的に増加或いは減少した時の数をカウントするもので
あり、従って、このカウンタ部６４は、連続増加数をカ
ウントする連続増加カウンタ６４Ａと、連続減少数をカ
ウントする連続減少カウンタ６４Ｂを内蔵している。連
続値比較部６６は、上記カウンタ部６４のカウント値が
所定値になった時にエラー信号を出力するものであり、
この比較部６６は、上記２つのカウンタ６４Ａ，６４Ｂ
に対応させて連続増加比較器６６Ａと、連続減少比較器
６６Ｂとを内蔵している。本実施例では、設定値は、例
えば［３］に設定されている。

【００２２】座標検出回数記憶部６８は、ワイヤ電極と
被加工物とが最初に接触した後の、サンプリングによる
座標の検出回数を記憶するメモリであり、このメモリ内
容は、エラー信号が検出される毎にリセットされる。座
標記憶部７０は、上記ワイヤ電極と被加工物が最初に接
触した後において、検出された座標値を記憶するメモリ
であり、このメモリ内容はエラー信号が検出される毎に
リセットされる。リセット部７２は、各部からエラー信
号が入力される毎に上記記憶部６８、７０の内容をリセ
ットするものである。

【００２３】検出回数比較部７４は、座標検出回数記憶
部の値が所定値に達したか否かを比較判断するものであ
り、本実施例では例えば所定値として［１００］が設定
されている。接触位置演算処理部７６は、上記検出回数
比較部７４にて検出回数が設定値に達したと判断した時
に、上記座標記憶部７０に記憶されている座標値の平均
を求めて目的とする接触位置を求める演算処理を行な
う。この演算結果は、ディスプレイ等の表示部７８に表
示され、オペレータに知らせる。また、エラー回数記憶
部８０は、各部から出力されたエラー回数を記憶するメ
モリである。

【００２４】エラー回数比較部８２は、上記エラー回数
記憶部８０の値が所定値に達したか否かを比較判断する
ものであり、所定値に達したならば、その旨を装置全体
の動作を制御する図示しないホストコンピュータ等に知
らせてこの動作全体を停止させる。この実施例では、所
定値は例えば［５］に設定される。

【００２５】次に、以上のように構成された装置により
行われる本発明の位置決め方法において説明する。この
装置は、ワイヤ電極と被加工物が接触した後は、これら
が付かず離れずの相対移動を行なうように機械部の振動
中心移動制御と、接触時における接触位置の演算処理と
を同時に行なう。図３はこの時のフローを示しており、
ＣＰＵのマルチタスク処理により、上記制御及び処理が
並列に行われている。まず、初めに処理プログラムのＳ
Ｔ−ＦＬＧ（接触フラグ）及びＥＮＤ−ＦＬＧ（終了フ
ラグ）を共に［０］にすることにより、初期設定する。
すると、両者の振動中心移動制御（Ｓ２００）及び接触
位置演算処理（Ｓ５００）は、上記ＥＮＤ−ＦＬＧが
［１］でない限りは繰り返し行なわれる。そして、ＥＮ
Ｄ−ＦＬＧに［１］が立つと、Ｓ３００及びＳ６００の
判断がＮＯとなり、動作が終了することになる。

【００２６】次に、図４乃至図６に基づいて、上記Ｓ２
００にて行われる振動中心移動制御について詳しく説明
する。図４はこの振動中心移動制御を示すフロー、図５
はワイヤ電極の振動と接触検出信号との関係を示す図、
図６はワイヤ電極の振動と各カウンタ部のカウント値と
の関係を示すグラフである。前述のようにここではワイ
ヤ電極６と被加工物Ｗとが最初に接触すると、それ以後
は、両者が付かず離れずの状態となるように制御され
る。

【００２７】まず、Ｓ２０１では、内部カウンタとして
図１に示す接触状態カウント部４４（以下、ＣＮＴ−Ｂ
Ｋと称す）と非接触状態カウント部４６（以下、ＣＮＴ
−ＧＯと称す）とを［０］として初期設定する。また、
Ｆ値を例えば１００に設定する。ここで、Ｆ値は、サー
ボモータの送り速度を意味しており、１分間にモータへ
の出力パルスをどれだけの周期で出力するかが決定され
る。この場合、Ｆ値を１００に設定すると、２ｍｍ／ｍ
ｉｎの速度となるような間隔でパルスが出力される。

【００２８】Ｓ２０２ではＥＮＤ−ＦＬＧが［０］か否
か判断され、この場合［０］とする処理がなされていな
いので［Ｙ］の方に実行される。Ｓ２０３では接触検出
部（極間）３２での接触信号があるか否かの判断処理す
るところである。ここで、接触信号でない場合（ＮＯ）
には、Ｓ２０４ではＣＮＴ−ＧＯカウンタ４６に１をカ
ウントする処理がなされる。

【００２９】Ｓ２０５では、前記カウンタ４６のカウン
ト値と設定値とを移動制御部５０にて比較判断処理する
ところである。この場合、設定値Ｆとして、上述のよう
に例えば１００が入力されているとすると、設定値１０
０になるまでＳ２０２〜Ｓ２０５の処理を繰り返す。
尚、設定値１００とは前述のようにサーボのＦ値（送り
速度）を意味しており、１分間にモータへの出力パルス
をどれだけの周期で出力すれば所定のＦ値とすることが
できるか決定するための値である。この場合は設定値１
００にすると２ｍｍ／ｍｉｎの値で前進サーボが実行さ
れることになる。また、本実施例ではＳ２０２〜Ｓ２０
５までの１ループに要する時間は、３００μｓである。

【００３０】Ｓ２０６では、ＣＮＴ−ＧＯが１００にな
った時点（Ｙ）でモータへ前進パルスを１パルス発信さ
せる処理であり、この処理が実行されるまでは同じ位置
を維持しつづけることになる。つまり、モータの前進パ
ルスを出力するまではＳ２０２〜Ｓ２０５の処理を実行
しており、その処理のループ回数が、前記Ｆ値が２ｍｍ
／ｍｉｎとなるようにタイミングを図っていることを意
味している。ここでは、移動制御５０からドライバ３８
を介してモータ３６に実際に前進パルスが１つ出力され
る。Ｓ２０７では、ＣＮＴ−ＧＯカウンタ４６をクリア
する処理を行っている。尚、ここで、ＣＮＴ−ＢＫカウ
ンタ４４もクリアするようにしてもよい。

【００３１】Ｓ２０８では、前記接触検出部３２からの
接触信号があった場合、すなわちＳ２０３にてＹＥＳの
場合、ＳＴフラグが［０］であるか否かを判断する。Ｓ
２０８でＹＥＳの場合には、Ｓ２０９に行き、Ｓ２０９
では、ＳＴフラグを［１］とする処理をしている。これ
により、ワイヤ電極と被加工物とが初めて接触した事を
示す。Ｓ２１０ではＣＮＴ−ＢＫカウンタに１をカウン
トする。Ｓ２１１では前記Ｓ２０５での処理と同様に実
行するが、この処理では後退用の処理をするものであ
る。すなわち、カウンタ４４のカウント値が所定値１０
０に達したか否を判断する。

【００３２】Ｓ２１２では前記Ｓ２０６と同様な処理を
実行するが、ここでは後退の処理をするものである。す
なわち、カウント値が１００に達すると、後退パルスを
１つ出してモータを後退させ、両者を離す方向へ移動す
る。Ｓ２１３では前記Ｓ２０７と同様な処理を実行し、
ＣＮＴ−ＢＫカウンタをクリアする。尚、ここでＣＮＴ
−ＧＯカウンタもクリアするようにしてもよい。すなわ
ち、上記の一連の処理における動作をまとめて説明する
と、Ｓ２０３の接触検出の判断により、前進側ループ回
数頻度が高い場合は、モータへの前進出力用パルス数が
増加し，接触検出しようとするものに対して接近し、逆
に後退側ループ回数頻度が高い場合は、モータへの後退
出力用パルス数が増加し、接触検出しようとするものに
対して離れるような動作となる。このような動作を繰り
返すことによって、ワイヤ電極と被加工物とは、一旦接
触した後は、付かず離れずの状態となるようにそれらの
相対移動が制御されることになる。つまり、ワイヤ電極
の振動による接触回数がサーボバックまたは前進を左右
し、結果として、ワイヤ電極の振動中心位置でワイヤ電
極と被加工物はとどまるように動作する。

【００３３】図５にこの時のワイヤ電極６の振動状態と
接触検出信号の状態との関係を示す。図示するように、
図中右側よりワイヤ電極６に対して被加工物Ｗが次第に
接近していくと、Ａ地点などのように接触初期の段階で
は、ほとんど無負荷状態であり、たまに両者が接触して
ショート状態となる。更に、被加工物Ｗの移動が進んで
例えばＢ地点に達すると、無負荷状態とショート状態が
時間的に略同じとなる。そして、更に被加工物Ｗの位置
が進んで例えばＣ地点に達すると、Ａ地点の場合と逆に
なり、ショート状態の時間が非常に長くなる。

【００３４】さて、このような接触状態の時の各カウン
タ部のカウンタ値の変化について図６を参照して説明す
る。ここでは、ワイヤー電極の振動周波数を２ＫＨｚ、
サーボ動作周波数を１００Ｈｚ、接触検出周波数（サン
プリング周波数）を１００ＫＨｚとした時の各地点のタ
イミングチャートを表している。尚、タイミングチャー
ト中、略右半分のエリアは、時間を圧縮して記載してい
る。また、Ｆの設定値は１００ではなく、１０００と
し、カウント値が１０００に達する毎に前進或いは後退
パルスを１つ出力するようになっている。図から明らか
なように両カウンタ部４４、４６のカウント値は、相補
的に増加し、相互に一方のカウント値が増加する時は他
方のカウント値は停止する関係にある。Ａ地点に示す場
合には、前述の図５で説明したように両者は僅かな時点
でしか接触しないので、ＣＮＴ−ＧＯカウンタ部（非接
触状態カウント部）４６のカウンタ値は急激に増加する
のに対して、ＣＮＴ−ＢＫカウンタ部（接触状態カウン
ト部）４４のカウンタ値の増加は遅い。そして、早く設
定値１０００に到達した方のカウンタ部、この場合は、
ＣＮＴ−ＧＯカウンタ部４６に対応したパルス、すなわ
ちここでは前進パルスが１発出力される。

【００３５】また、Ｂ地点に示す場合には、ワイヤ電極
と被加工物との接触・非接触の時間は略同等なので、両
カウンタ部４４、４６の値は略同じ速度で増加してい
る。すなわち、このＢ地点では、被加工物Ｗの先端はワ
イヤ電極の略振動中心位置なので、両者が接触状態とな
る時間と非接触状態となる時間が略同じとなる。換言す
れば接触状態の時間の増加量と非接触状態の時間が略同
じとなる。すなわち、このＢ地点の座標が、加工に先立
って求めるべき接触位置（基準位置）である。更に、Ｃ
地点に示す場合には、先のＡ地点の場合と、逆のカウン
ト状態を示し、ＣＮＴ−ＢＫのカウント値が急激に増加
することになる。このような動作を行うことにより、ワ
イヤー電極と被加工物とが付かず離れずの状態となるよ
うにその相対移動が制御される。

【００３６】次に、上記したような振動中心移動制御と
並列的に処理される接触位置を求めるための演算処理の
フローについて、図７を参照して説明する。まず、Ｓ５
０１にて、ｎ、Ｅ、ΣＢ、Ｃ、Ｄの各変数値を［０］に
初期設定し、各記憶部６８、８０、７０及び各カウンタ
６４Ａ、６４Ｂの値をクリアする。ここで、ｎはワイヤ
−被加工物間の最初の接触後の座標検出回数であり座標
検出回路記憶部６８に記憶されている値、Ｅは出力され
たトータルのエラー回数であり、エラー回数記憶部８０
に記憶される値、ΣＢは座標記憶部７０に記憶される座
標値、Ｃは座標値が連続的に増加した時のサンプリング
数（パスＰ１を連続的に通った回数）であり、Ｄは座標
値が連続的に減少した時のサンプリング数（パスＰ３を
連続的に通った回数）であり、連続減少カウンタ６６Ｂ
に記憶されている値である。Ｓ５０２は，ＳＴ−ＦＬＧ
の状態が判断され、前述の振動中心移動制御（図４）に
おいて最初の接触信号が検出されるとＳＴ−ＦＬＧ＝１
になることから、最初の接触信号がくるまでの待機処理
である。そして、ＳＴ−ＦＬＧ＝１になると、次の処理
であるＳ５０３へ移行する。

【００３７】Ｓ５０３では極間での最初の接触信号が入
力されたと同時に、第１の初期座標記憶部５２にそのと
きの接触位置の座標値が取り込まれて格納される。尚、
この値は、処理が完全に終了するまでは固定となってい
る。Ｓ５０４では上記Ｓ５０３と同様な処理が行われ、
第２の初期座標記憶部５４にその時の座標値が格納され
る。尚、この値は、エラーが生ずる毎に更新される。こ
こで初期座標値として第１及び第２の２つの初期座標値
を設ける理由は、先ず第１の初期座標値は、次々と取り
込まれる座標値に対して、ある程度の精度をもたせて、
後述する比較判断処理ルートＳ５０８、Ｓ５０９で判断
する際に、仮の基準ラインを設けておく必要があるから
である。すなわち、基準ラインが仮に第１の初期座標値
だけであると、エラーが発生する度に基準ラインが変化
してしまい、これでは座標値の計算上ばらつきが大きく
なり、結果として信頼性に欠けるからである。

【００３８】Ｓ５０５ではエラー回路比較部８２にてエ
ラー発生回数Ｅを設定値と比較判断する。ここで、５回
以上エラーが発生していれば、操作は完全にストップす
る。Ｓ５０６では検出回数比較部７４にてループの回
数、すなわち座標検出回数ｎを設定値［１００］と比較
判断する。Ｓ５０７では極間で検出された座標値（ｎ）
を取り込み座標記憶部７０へ格納する。Ｓ５０８では第
１の初期座標比較部６０にて次々と取り込まれる座標値
（ｎ）が一番最初の第１の初期座標値である仮の基準ラ
イン（固定で不変のものである）より限度幅±９μｍ以
内に入っているかどうかを比較判断する。この限度幅
は、広域許容範囲記憶部５６に記憶されている。

【００３９】Ｓ５０９では、第２の初期座標比較部６２
にて処理動作としてエラールートに入ってきたときだけ
更新される第２の初期座標値と、Ｓ５０７の処理で次々
と座標を取り込み入力される座標値（ｎ）とが比較され
る。尚、この初期座標値は、エラー回数５回までは更新
される。そして更に、Ｓ５０８で取り込んだ座標値
（ｎ）が、更に小さい第２の初期座標値用の限度幅±４
μｍ以内に入っているかどうかを比較判断する。この限
度幅は、狭域許容範囲記憶部５８に記憶されている。こ
のようにＳ５０８、Ｓ５０９の比較判断処理を経ること
で、まず第１の初期座標で大枠の仮の基準幅を設定し、
この枠内で第２の初期座標がさらに小さい枠の基準幅を
設定する。これにより第２の初期座標はエラー毎に前記
大枠の範囲内で小さい枠の基準幅をエラー５回迄の間で
変位させ、良好な座標値を得るよう集束させて、ふるい
にかける作用を促している。すなわち、次々と入力した
座標値がある程度の精度をもって計算上ばらつきが無い
ようにする。

【００４０】Ｓ５１０では座標値比較部６３にて座標値
（ｎ）とその直前の座標値（ｎ−１）との比較判断の処
理を行う。ここで比較結果は、３つのパターンに分類さ
れる。すなわち、座標値（ｎ）＞座標値（ｎ−１）の場
合（パスＰ１）、座標値（ｎ）＝座標値（ｎ−１）の場
合（パスＰ２）、座標値ｎ＜座標値（ｎ−１）の場合
（パスＰ３）である。Ｓ５１２では、連続値カウンタ部
６４にて上記パスＰ１を通った連続回数Ｃをカウント
し、この値Ｃは連続増加カウンタ６４Ａに格納され同時
に、他方のカウンタ６４Ｂの値Ｄをクリアする。Ｓ５５
１では上記パスＰ３を通った連続回数Ｄをカウントし、
この値Ｄは連続減少カウンタ６４Ｂに格納され、同時
に、他方のカウンタ６４Ａの値Ｃをクリアする。

【００４１】Ｓ５１３、Ｓ５１４では、連続値比較部６
６にて上記Ｓ５１１、Ｓ５１２のカウント数と設定値
［３］との比較判断の処理を行う。そして、Ｓ５１３と
Ｓ５１４のどちらかの式を満たしたならば、エラーとな
り、エラー信号を出力する。Ｓ５１５では、座標検出回
数記憶部６８におけるループ回数ｎをカウントアップす
る処理を行う。Ｓ５１６では、エラー回数記憶部８０に
てエラー回数をカウントする処理を行っている。Ｓ５１
７では、リセット部７２にて、エラーのルートを通って
きたことにより演算処理に関わる変数を全てクリアーの
状態とし、初期状態に設定する。そして上記Ｓ５０４か
ら再度、演算処理に入る。

【００４２】Ｓ５１８では、ループ回数ｎが設定値［１
００］以上になった時、いままで座標記憶部７０に格納
しておいた座標値の平均値を接触位置演算処理部７６に
て演算して求め、この値を出力する。そしてこの結果は
ＣＲＴ等の表示部７８の画面上に表示するようにする。
Ｓ５１９ではＥＮＤ−ＦＬＧ＝１として図３に示すよう
に振動中心位置移動制御及び接触位置演算処理フローが
終了する。

【００４３】ここで、上記エラー判断の状況を図８を参
照して具体的に説明する。図中、黒丸は、座標値を示
す。 ａ．エラー判断１の説明． 図８（Ａ）は複数の検出座標に対するＳ５０７〜Ｓ５１
４間の工程における処理状況を示している。先ず、Ｓ５
０３、Ｓ５０４にて第１及び第２の初期座標が入力さ
れ、比較判断処理を行うための仮の基準ラインが設定さ
れる。続いてＳ５０５〜Ｓ５０９までを順当に進みＳ５
１０に来ると、比較判断の上、３つのパターンに振り分
けられる。今、ループが第１回目として考えると、Ｐ２
の処理ルートになる。そして、Ｓ５１３、Ｓ５１４を経
て、Ｓ５１５にてループカウントに１が加算され、Ｓ５
０６の処理に入る。ここで、ループ回数が比較判断され
て、次番目のメモリに座標値を格納する。仮に初期座標
より大きい座標値であったとして、Ｓ５１０で比較判断
処理が行われ、Ｐ１の処理ルートへ入る。そして、Ｓ５
１２の処理がおこなわれてＣが＋１、Ｄが０となる。図
では５回の処理がなされた結果、５回とも同じ座標値で
あることが示されている。第６回目以降は比較判断の結
果、徐々に座標値が増大していることが理解できる。す
なわち、Ｃが＋１ずつ増加している。

【００４４】この場合、連続３回して座標値が増大し、
Ｃ＝３となることから、Ｓ５１３の比較処理でＮＯのル
ートへ移行し、エラー処理となる。仮に座標値の増大方
向が＋と考えると、最初の接触基準位置に対して、ワイ
ヤ電極を押し付けている状態となる。逆に−方向では前
記基準位置から離れることになる。

【００４５】ｂ．エラー判断２の説明． 図８（Ｂ）は、Ｓ５０８での比較判断の処理を示してい
る。初めの点は上記で説明した通りでＳ５０３〜Ｓ５０
７までの処理は同じである。次に第３回目になると、第
１の初期座標（基準座標ライン）に対して、第３回目に
取り込んだ座標値（３）が広域許容範囲である±９μｍ
の外に出てしまい、エラーとなってエラーカウントされ
る。そして今までの演算に必要な変数はクリアーされ、
第２の初期座標の基準ラインが次に取り入れられた座標
値に更新される。その後の処理は上記と同じように行わ
れる。そしてエラーによって更新された第２の初期座標
値の後、第２〜第５回目とエラーが続きカウントオーバ
ーでエラーストップとなる。

【００４６】ｃ．エラー判断３の説明． 図８（Ｃ）は、Ｓ５０９での比較判断の処理を示してい
る。ここでは大枠の第１の初期座標の基準幅内であっ
て、更にその幅内に狭い基準幅を設けた第２の初期座標
値についての説明を表している。ここで、Ｓ５０８の比
較判断処理を経ていることが前提となって説明すると、
先ず、第１回目の点は上記Ｓ５０８と同様になる。そし
て第２回目は取り込んだ座標値（２）が第２の初期座標
の基準幅（狭域許容範囲）から外れてエラーとなり、エ
ラールートに入る。エラーが１つカウントアップされた
後、前記変数がクリアーされる。しかる後に取り込んだ
座標を次の新たな第２の初期座標として更新する。今度
は更新した第２の初期座標が新らたな基準ラインとな
り、従って、狭域許容範囲も変動する。

【００４７】このようにして、本発明ではワイヤ電極を
加工時と同じ環境下に置き、ワイヤ電極を走行させなが
らこれに被加工物を付かず離れずの状態に制御しながら
座標を求めるようにしたので、ワイヤ電極の振動による
検出誤差を抑制して振動中心位置にサーボすることで、
接触位置が精度良く決定することが可能となる。

【００４８】尚、上記実施例では、Ｓ５１５から直接、
Ｓ５０６に入っているが、この間にディレイを行なうデ
ィレイタイム挿入ステップを設けるのが好ましい。これ
は、先に説明したサーボフローのところで、前進後退の
サーボ駆動させる処理と、座標値の取り込み処理との時
間にタイミングを図るために、例えば、サーボモータの
送りパルス一発が出力する時間（ループ回数の設定値に
より変化する、所謂Ｆ値）より座標値の取り込み処理時
間が早すぎると、前記モータ駆動パルスが出力されない
間（モータは止まっている状態）座標の取り込みが終っ
てしまい、演算処理ループ回数の設定値１００回分同じ
座標値が取り込まれてしまうことになるため、これを回
避するためのものである。

【００４９】ところで、上記説明したフローは、例えば
図６に示す図において、被加工物ＷがＡ地点とＣ地点と
の間の往復緯移動を繰り返しつつ相対移動して最終的に
接触位置（Ｂ地点）の座標を求めることをプログラム上
保証したものであるが、ワイヤ電極Ｗの振動状態が比較
的規則正しい状態であれば、Ａ地点からＢ地点へワイヤ
電極が相対移動するに従って、ＣＮＴ−ＢＫカウンタ部
及びＣＮＴ−ＧＯカウンタ部のカウント値も図６に示す
ようにＡ地点の波形からＢ地点の波形へスムーズに移行
する。従って、この場合には、Ｃ地点側にワイヤ電極が
相対移動することなく最終目的とする接触位置が求めら
れることになる。

【００５０】また、ワイヤ電極と被加工物との接触状態
の時間をカウントするＣＮＴ−ＢＫカウンタ部のカウン
ト値の増加量と、両者が非接触状態の時間をカウントす
るＣＮＴ−ＧＯカウント部のカウント値の増加量が略同
じになった時、換言すれば、図６中のＢ地点の波形が示
すように両カウント部の増加量が略同じになった時の座
標位置を接触位置として決定するプログラムを組み込む
ようにしておいてもよい。このように構成することによ
り、前述と同様に、ワイヤ電極が比較的規則正しい振動
をしている場合には、ワイヤ電極がＡ地点からＢ地点へ
相対移動するにつれて、カウンタ部の値はＡ地点の波形
からＢ地点の波形へスムーズに移行し、Ｂ地点の近傍に
おいては両カウンタ部の増加量が略同じとなり、これに
より即座にこの地点を求めるべき接触位置として決定す
ることができる。この時、ワイヤ電極と被加工物の相対
移動は停止させればよい。

【００５１】更には、上記したように接触或いは非接触
状態の時間をカウントするのではなく、所定時間、例え
ば１０ｍｓｅｃ（秒）毎のワイヤ電極と被加工物間の電
圧の平均値を求め、これが印加電圧の略１／２になった
時に、ワイヤ電極と被加工物の相対移動を停止させるよ
うにして、接触位置を求めるようにしてもよい。また、
上記した各設定値は単に一例を示したに過ぎず、これら
に限定しないのは勿論である。

【００５２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のワイヤ放
電加工機の位置決め方法及びその装置によれば次のよう
に優れた作用効果を発揮することができる。ワイヤ電極
を走行させて加工時と同じ状況下にし、しかも進退サー
ボ動作によって接触・離反を繰り返しつつ付かず離れず
の状態を維持させているので、ワイヤ電極の振動によっ
て常に検出点が変化しているにもかかわらず、正確に振
動中心位置へ移動して接触位置を決定することができ
る。また、ワイヤ電極と被加工物とが最初に接触した座
標を基準として広い許容範囲を定め、更に、この範囲内
にエラーにより更新可能に狭い許容範囲を設定して検出
された複数の座標値から振動中心位置を求めるようにし
たので、その精度を大幅に向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るワイヤ放電加工機の位置決め装置
を示す概略構成図である。

【図２】図１に示す位置決め装置の制御ユニットを示す
ブロック構成図である。

【図３】位置決め装置が行なう並列処理を示すフローで
ある。

【図４】振動中心移動制御を示すフローである。

【図５】ワイヤ電極の振動と接触検出信号との関係を示
す図である。

【図６】ワイヤ電極の振動と各カウント部のカウント値
との関係を示すグラフである。

【図７】接触位置を求めるための演算処理を示すフロー
である。

【図８】各種エラー状況を説明するための図である。

【図９】従来のワイヤ放電加工機の位置決め装置を示す
概略構成図である。

【符号の説明】

２ Ｘ・Ｙテーブル ６ ワイヤ電極 ２４ 上ガイド ２６ 下ガイド ３２ 接触検出部 ３４ エンコーダ ３６ 駆動モータ ４１ 移動機構制御部 ４２ 位置決め装置 ４４ 接触状態カウント部 ４６ 非接触状態カウント部 ４８ 移動制御部 ５２ 第１の初期座標記憶部 ５４ 第２の初期座標記憶部 ５６ 広域許容範囲記憶部 ５８ 狭域許容範囲記憶部 ６０ 第１の初期座標比較部 ６２ 第２の初期座標比較部 ６３ 座標比較部 ６４ 連続値カウンタ部 ６４Ａ 連続増加カウンタ ６４Ｂ 連続減少カウンタ ６６ 連続値比較部 ６６Ａ 連続増加比較器 ６６Ｂ 連続減少比較器 ６８ 座標検出回数記憶部 ７０ 座標記憶部 ７２ リセット部 ７４ 検出回数比較部 ７６ 接触位置演算処理部 ８０ エラー回数記憶部 ８２ エラー回数比較部 Ｗ 被加工物

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
   ヤ電極と被加工物を相対移動して放電加工を行なうワイ
   ヤ放電加工機の位置決め方法において、前記ワイヤ電極
   を所定のテンション下で走行させるワイヤ走行ステップ
   と、前記ワイヤ電極と被加工物を相対移動させる相対移
   動ステップと、振動中心に移動してサーボするステップ
   と、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に検出電圧を
   印加して両者間の電圧を検出する電圧検出ステップと、
   前記検出電圧に基づき前記ワイヤ電極の接触位置を求め
   る接触位置演算ステップとを備えるように構成したこと
   を特徴とするワイヤ放電加工機の位置決め方法。
2. 【請求項２】 前記接触位置演算ステップが、前記検出
   電圧に基づいて接触と非接触とに分別し、前記接触状態
   及び非接触状態の時間をそれぞれカウントするステップ
   と、前記カウント値が各々に対して設けた設定値に達す
   る毎に前記ワイヤ電極と前記被加工物を接近または離反
   させるステップと、前記接近と離反の位置座標を所定時
   間毎に記憶していく記憶ステップと、前記記憶ステップ
   で記憶した位置座標から演算により接触の振動中心位置
   を求めるステップとを備えるように構成したことを特徴
   とする請求項１記載のワイヤ放電加工機の位置決め方
   法。
3. 【請求項３】 前記記憶ステップは、エラー認定がなさ
   れた時に、前記位置座標の記憶内容をクリアするクリア
   ステップを有することを特徴とする請求項２記載のワイ
   ヤ放電加工機の位置決め方法。
4. 【請求項４】 前記エラー認定は、前記ワイヤ電極と前
   記被加工物が最初に接触した時の第１の初期座標に対し
   て、現在の座標値が所定の広域許容範囲内から逸脱した
   場合を含むことを特徴とする請求項３記載のワイヤ放電
   加工機の位置決め方法。
5. 【請求項５】 前記エラー認定は、エラーが認定される
   毎に座標値が、更新される第２の初期座標に対して、現
   在の座標値が所定の狭域許容範囲内から逸脱した場合を
   含むことを特徴とする請求項３または４記載のワイヤ放
   電加工機の位置決め方法。
6. 【請求項６】 前記エラー認定は、所定の回数だけ連続
   して座標値が増加した場合を含むことを特徴とする請求
   項３乃至５記載のワイヤ放電加工機の位置決め方法。
7. 【請求項７】 前記エラー認定は、所定の回数だけ連続
   して座標値が減少した場合を含むことを特徴とする請求
   項３乃至６記載のワイヤ放電加工機の位置決め方法。
8. 【請求項８】 一対のワイヤガイド間に張架されたワイ
   ヤ電極と被加工物間を相対移動して放電加工を行なうワ
   イヤ放電加工機の位置決め方法において、前記ワイヤ電
   極を所定のテンション下で走行させるワイヤ走行ステッ
   プと、前記ワイヤ電極と前記被加工物との間に電圧を印
   加し、前記ワイヤ電極と前記被加工物の接触状態または
   非接触状態を所定時間検出する検出ステップと、前記所
   定時間内に検出された状態に応じて前記ワイヤ電極と被
   加工物を接近または離反移動させるステップと、前記所
   定時間内に検出された前記接触状態と前記非接触状態が
   略同じになったとき、前記ワイヤ電極と前記被加工物の
   接近または離反移動を停止するステップとを備えたこと
   を特徴とするワイヤ放電加工機の位置決め方法。
9. 【請求項９】 前記所定時間内において、接触状態の時
   間と非接触時間の状態が略同じであるときに接近または
   離反移動を停止することを特徴とする請求項８記載のワ
   イヤ放電加工機の位置決め方法。
10. 【請求項１０】 前記所定時間内において、前記ワイヤ
    電極と前記被加工物との間の電圧の平均値が印加電圧の
    略１／２であるときに接近または離反移動を停止するこ
    とを特徴とする請求項８記載のワイヤ放電加工機の位置
    決め方法。
11. 【請求項１１】 一対のワイヤガイド間に張架されたワ
    イヤ電極と被加工物を移動機構により相対移動して放電
    加工を行なうワイヤ放電加工機の位置決め装置におい
    て、前記ワイヤと前記被加工物との接触を検出する接触
    検出部と、前記接触検出部の出力に基づいて前記ワイヤ
    電極と前記被加工物との接触・離反を繰り返しつつこれ
    らを相対移動させる移動機構制御部と、前記ワイヤ電極
    と前記被加工物とが最初に接触した時の座標を記憶する
    第１の初期座標記憶部と、エラーが検出される毎に現地
    の座標に内容が更新される第２の初期座標記憶部と、前
    記第１の初期座標に対する広域許容範囲を記憶する広域
    許容範囲記憶部と、前記第２の初期座標に対する狭域許
    容範囲を記憶する狭域許容範囲記憶部と、現在の座標値
    が、前記第１の初期座標を基準として定まる前記広域許
    容範囲から逸脱した時にエラー信号を出力する第１の初
    期座標比較部と、現在の座標値が、前記第２の初期座標
    を基準として定まる前記狭域許容範囲から逸脱した時に
    エラー信号を出力する第２の初期座標比較部と、連続的
    に入力してくる座標値の大小を比較する座標値比較部
    と、この比較部の出力に基づいて、座標値が前記広域及
    び狭域許容範囲内に入った状態で所定の回数だけ連続的
    に増加或いは減少した時の数をカウントする連続値カウ
    ンタ部と、このカウンタ部のカウンタ値が所定値になっ
    た時にエラー信号を出力する連続値比較部と、前記ワイ
    ヤ電極と前記被加工物が最初に接触した後の座標検出回
    数を記憶する座標検出回数記憶部と、前記ワイヤ電極と
    前記被加工物が最初に接触した後において、検出された
    座標値を記憶する座標記憶部と、前記エラー信号が出力
    された時に前記座標検出回数比較部と前記座標記憶部の
    内容をクリアするリセット部と、前記座標検出回数記憶
    部の記憶値が所定の回数に達したか否かを比較する検出
    回数比較部と、この比較部の値が所定の値に達した時
    に、前記座標記憶部の座標の平均を演算して振動接触中
    心位置を求める中心位置演算処理部とを備えることを特
    徴とするワイヤ放電加工機の位置決め装置。
12. 【請求項１２】 前記移動機構は、前記ワイヤ電極と前
    記被加工物との接触状態の時間をカウントする接触状態
    カウント部と、非接触状態の時間をカウントする非接触
    状態カウント部と、それぞれのカウント値が所定値に達
    する毎に前進パルス或いは後退パルスを出力する移動制
    御を有していることを特徴とする請求項１１記載のワイ
    ヤ放電加工機の位置決め装置。
13. 【請求項１３】 前記エラー回数を記憶するエラー回数
    記憶部と、このエラー回数と所定値とを比較するエラー
    回数比較部とを有し、前記エラー回数が所定値に達した
    ならば処理全体を中止させるように構成したことを特徴
    とする請求項１０または１２記載のワイヤ放電加工機の
    位置決め装置。