JPH08285566A - 位置測定装置 - Google Patents
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- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 7
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 2
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 claims 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 7
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 4
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 229910000851 Alloy steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006094 Zerodur Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000011067 equilibration Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000005923 long-lasting effect Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000013464 silicone adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
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- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
Abstract
持されかつ測定板とその支持体の間の熱的に条件づけら
れた応力が避けられる位置測定装置用のスケールを提供
する。 【解決手段】 この位置測定装置は、支持体(8) と測定
板(6) とからなるスケール(5) で形成される。測定板
(6) は、互いに間隔を置いた二つの支承部(13,14)を介
して支持体(8) と連結されている。支承部の一方(13)は
支持体(8) に測定板(6) を固定するための固定点を形成
する。第二の支承部(14)は弾性的な固定点を形成するの
で、固定支承部(13)から出発して、支持体(8) に対し
て、測定板(6)の熱的に条件づけられた長手方向移動可
能性が起こり得る。
Description
念による位置測定装置に関する。
国公開公報第25 05 587 号に記載されているように、測
定板をその支持体に弾性接着層を用いて固定することが
すでに知られている。さらに、一貫した弾性的な接着層
の代わりに、中間空間により中断されたより多数のゴム
片を用い、これらのゴム片上に測定板を取り付け、これ
により測定板と支持体の間の熱応力の平衡を配慮するこ
とが提案されている。しかしながら、この、例えばドイ
ツ連邦共和国特許明細書第11 76 382 号、ドイツ連邦共
和国公開公報第33 12 534 号および米国特許第4,569,13
7 号に記載された固定の仕方でも、測定板を許容できな
い程度に変形させる規模の残留力が残ったままである。
この場合、不利なことは、とりわけ、測定板が温度平衡
後もその出発位置に再び再生できるように戻らないで、
摩擦力に基づいて限定されない新しい位置を占めること
である。比較的長く持続する反作用力の結果として、測
定板の材料のガラスの流れと解釈できる変形も観察され
た。これらの全ては、測定板の長手方向の位置測定をす
る場合に測定誤差になり得る。この欠点は、ドイツ連邦
共和国特許公開第36 06 754 号による測定板によっても
除去することができる。さらに、ドイツ連邦共和国特許
公開第34 20 734 号から、カプセルに包まれた長さ測定
装置のハウジングを一端で機械に固定しかつ他端で変形
部材を介して弾性的に固定することが知られている。さ
らに、ヨーロッパ特許公開第0 264 801 号から、スケー
ルまたは定規を、小さい範囲で転がり運動可能に保持さ
れていて長手方向案内を形成する球上に取り付け、スケ
ールまたは定規を唯一の箇所にそれらの縁を向かい合わ
せに固定することが知られている。測定板をそのように
保持するための機械的な費用は非常に高い。さらに、工
場の測定技術から、たわみが最小値を有するようにスケ
ールを二箇所でのみ支えることが知られている。これら
の支承点(または支承線)の正確な位置はスケールのた
わみについての要求に応じて異なる(例えば、目盛りが
スケールの表面上にまたはスケールの中立の繊維中に存
在するかどうかに依って異なる)。このようにして、全
長をできるだけ小さく短縮すること(ベッセル点)また
は全長、平行な端面で曲げを最小にすること(エアリー
点)または中心のたわみをごくわずかにすることを目指
して最善の状態にすることができる(Leinweber,長さ測
定技術の小型本,Springer出版社, 1954年, 139 頁参
照) 。
板ができるだけ反作用力のない状態で保持されかつ測定
板とその支持体の間の熱的に条件づけられた応力が避け
られる位置測定装置用のスケールを提供することであ
る。
の長手延長方向において互いに間隔を置いた二つの領域
で支持体に支えられて載っており、それらの支え領域の
一方が固定支承部を形成し、他方の支え領域が弾性的な
支承部を形成しており、その際支え領域はそれぞれ唯一
の実質的に線状の支承部により形成され、線状の支承部
が測定板の長手延長方向を横切って延びておりかつ連続
してまたは中断して形成されていることを特徴とする位
置測定装置により解決される。この形式の取り付けによ
り、測定板とその支持体は機械的にかなりの程度まで相
互作用を絶たれる。温度変化があると、測定板はその支
持体に対してかなりの程度まで力のない状態で動くこと
ができ、それ故熱的作用の結果において永続的な変形を
生じない。
て図面により詳細に説明する。図1には、位置測定装置
1を原理的に示してある。この位置測定装置1は、詳細
に示してない機械のベッドとスライダのような二つの物
体の相対位置を測定するために役立つ。この機械のう
ち、ここにはスライダを2で示してある。物体としての
ベッドは3で示しかつ同様に断片的に示してある。ベッ
ド3には、スケール5を走査する走査装置4が固定され
ている。走査装置4は、測定された位置を表示するため
に評価装置4aと接続されている。スケール5は機械の
スライダ2に固定されている。スケール5は、目盛り7
を支持する測定板6からなる(図2に示してある)。測
定板6は支持体8に固定されている。支持体8はウエブ
9とくぼみ10を有する。支持体8と測定板6の長手延
長方向において、ウエブ9とくぼみ10は互いに限定さ
れた間隔aを有する。ウエブ9とくぼみ10を用いて、
測定板6が支持体8に固定されている。この固定は接着
により行われる。固定接着剤11により、測定板6がウ
エブ9を介して限定位置にかつ接着剤の限定幅で支持体
8に固定される。固定接着剤11はエポキシ樹脂である
ことができる。弾性的な接着剤12(シリコーン接着剤
であることができる)により、測定板6を、比較的厚い
接着接合箇所および−前記の固定に比較して−大きい弾
性を有するくぼみ10を介して支持体8に固定すること
ができる。前記の両方の固定は、測定板6を適当な領域
で支えるほぼ線状の支承部13と14を形成する。支承
部13と14の相互の間隔aは、測定板6の長さに関し
て、棒状体の支えの調整後最適化されるが、このことは
長さ測定技術ではそれ自体周知である(前掲書Leinwebe
r 参照)。測定板6を支持体8に前記のように固定する
ことにより、スケール5を一緒に形成する、測定板6と
支持体8に結合に関して限定された熱的挙動が達成され
る。このようなスケール5の限定された熱的挙動を支え
るために、支持体8はスライダ2に固定するための取付
け面領域15と16を有し、その間隔bは支持体8の長
手延長方向において互いの支承部13、14の間隔aに
近似的に対応する。熱的に条件づけられた膨張挙動に関
して、取付け面領域のうちの一方15が中立箇所(また
は線)を形成しかつこの箇所15がスケール5の長手方
向延長部を横切る方向において、固定支承部13と共に
伸びながら熱挙動に関して中立線を形成する場合に有利
である。この中立の取付け面領域15に、スケール5が
機械のスライダ2と図示されてない仕方でしっかりとね
じ止めされる。スケール5をさらに引き続き固定するた
めに、取付け面領域16が役立ち、この取付け面領域は
熱的に条件づけられた膨張に対する長手方向平衡要素1
7として形成されている。この平衡要素17は、図2、
3および5に示してあるように、支持体8に加工された
ばね平行四辺形により形成することができる。図4に
は、支持体8を図3による線IV/IV に添って切断して示
してある。平衡要素は図示してない仕方で他の方法で形
成することもできる。例えば、スケール5の長手延長方
向を横切る方向において支持体8と測定板6の弾性的な
接着結合部12の近くに存在するばね負荷された長孔ね
じ部を用いて形成することもできる。図1から、取付け
面領域15と16は支持体8の下側に対して段をつけら
れていることが明らかである。凸凹のある取付け面領域
により支持体8が曲がる恐れを避けるために、支持体8
の裏側を、限定された取付け面領域15、16の外側で
より深くフライス加工することができる。支持体8の横
断面は長方形に限定されないで、U形、L形、T形、I
形などの輪郭を有することもできる。支持体8が枠18
として設計されかつ測定板6の目盛り7の下方に切通し
19を有する場合には、いわゆる透過光スケールを用い
ることもできる。この場合に、測定板を支える支承部は
支持体8の長手延長方向を横切って切通し19により中
断されなければならない。この場合に、図5に示した支
承部20、21および22、23は切通し19の両長手
方向側部で実質的にそれぞれ線をなして続いていなけれ
ばならない。本発明によるスケール5をつくるために、
支持体8には、測定板6の熱膨張係数と同様な熱膨張係
数を有する材料を用いるのが好ましい。ZERODUR TMから
なる測定板6の場合には、支持体8には例えば特に小さ
い膨張係数を有する鋼合金であるINVAR TMが好ましい。
により、測定板とその支持体は機械的にかなりの程度ま
で相互作用を絶たれる。温度変化があると、測定板はそ
の支持体に対してかなりの程度まで力のない状態で動く
ことができ、それ故熱的作用の結果において永続的な変
形を生じない。
ある。
断面図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 スケールと、このスケールを読み取る走
査ユニットとを有する、相対的に互いに変位する二つの
物体を測定するための位置測定装置であって、前記スケ
ールは、目盛りを支持する測定板と、この測定板のため
の支持体とからなり、測定板がその支持体に固定点に対
して長手方向に移動可能に固定されている位置測定装置
において、測定板(6) がその長手延長方向において互い
に間隔を置いた二つの領域で支持体(8) に支えられて載
っており、それらの支え領域の一方が固定支承部(13)を
形成し、他方の支え領域が弾性的な支承部(14)を形成し
ており、その際支え領域はそれぞれ唯一の実質的に線状
の支承部(13,14) により形成され、線状の支承部(13,1
4) が測定板(6) の長手延長方向を横切って延びており
かつ連続してまたは中断して形成されていることを特徴
とする位置測定装置。 - 【請求項2】 線状の支承部(13,14) が互いに間隔(a)
を有し、この間隔は、測定板(6) の長さに関して、長さ
測定技術から知られた棒状体の支えの調整によりそのた
わみをできるだけ小さくするように決定されることを特
徴とする請求項1の位置測定装置。 - 【請求項3】 支持体(8) は固定支承部(13)を形成する
ために場合によってはウエブ(9) を有しかつ弾性的な支
承部(14)を形成するために場合によってはくぼみ(10)を
有することを特徴とする請求項1の位置測定装置。 - 【請求項4】 測定板(6) の支持体(8) への固定が接着
により行われ、固定支承部(13)が固定接着剤により実現
されかつ弾性支承部(14)が弾性的な接着剤により実現さ
れることを特徴とする請求項1の位置測定装置。 - 【請求項5】 支持体(8) は、物体の一方(2) に取り付
けるために支持体(8) の長手延長方向に互いに間隔を置
いた好ましくは二つの取付け面領域(15,16)を有するこ
とを特徴とする請求項1の位置測定装置。 - 【請求項6】 取付け面領域の一方(16)が、熱的に条件
づけられた膨張可能な平衡要素(17)として形成されてい
ることを特徴とする請求項5の位置測定装置。 - 【請求項7】 支持体(8) の取付け面領域(15,16) の相
互の間隔(b) が、測定板(6) の支承部(13,14) の相互の
間隔(a) に少なくとも近似的に一致することを特徴とす
る請求項5の位置測定装置。 - 【請求項8】 支持体(8) が随意の横断面を有する薄板
として形成されていることを特徴とする請求項1の位置
測定装置。 - 【請求項9】 支持体(8) が枠(18)として形成されてお
り、この枠は測定板(6) の収容範囲に透明な切通し(19)
を有することを特徴とする請求項1の位置測定装置。 - 【請求項10】 測定板(6) および支持体(8) の熱膨張
係数が類似していることを特徴とする請求項1の位置測
定装置。 - 【請求項11】 支承部(13,14) の間隔(a) がベッセル
点の間隔に対応することを特徴とする請求項1の位置測
定装置。 - 【請求項12】 支承部(13,14) の間隔(a) がエアリー
点の間隔に対応することを特徴する請求項1の位置測定
装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19512892A DE19512892C2 (de) | 1995-04-06 | 1995-04-06 | Positionsmeßeinrichtung |
DE19512892:3 | 1995-04-06 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08285566A true JPH08285566A (ja) | 1996-11-01 |
JP2989140B2 JP2989140B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=7758939
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8081651A Expired - Fee Related JP2989140B2 (ja) | 1995-04-06 | 1996-04-03 | 位置測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5711084A (ja) |
EP (1) | EP0736750B1 (ja) |
JP (1) | JP2989140B2 (ja) |
DE (2) | DE19512892C2 (ja) |
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- 1996-04-01 US US08/627,238 patent/US5711084A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-04-03 JP JP8081651A patent/JP2989140B2/ja not_active Expired - Fee Related
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EP0736750A2 (de) | 1996-10-09 |
US5711084A (en) | 1998-01-27 |
DE19512892C2 (de) | 1998-11-05 |
JP2989140B2 (ja) | 1999-12-13 |
EP0736750A3 (de) | 1998-07-01 |
DE19512892A1 (de) | 1996-10-10 |
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DE59606841D1 (de) | 2001-06-07 |
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