JPH0827329B2 - プリント基板における不良部品修理方法及び装置 - Google Patents
プリント基板における不良部品修理方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0827329B2 JPH0827329B2 JP61023299A JP2329986A JPH0827329B2 JP H0827329 B2 JPH0827329 B2 JP H0827329B2 JP 61023299 A JP61023299 A JP 61023299A JP 2329986 A JP2329986 A JP 2329986A JP H0827329 B2 JPH0827329 B2 JP H0827329B2
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- JP
- Japan
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- circuit board
- printed circuit
- defective
- inspection
- inspection target
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、プリント基板検査工程で検査された被検査
プリント基板の検査対象のうち不良として判定された検
査対象を修理する場合に用いるプリント基板における修
理方法および装置に関するものである。
プリント基板の検査対象のうち不良として判定された検
査対象を修理する場合に用いるプリント基板における修
理方法および装置に関するものである。
＜従来の技術＞ 一般に、微小部品（チップ部品）等を実装したプリン
ト基板を検査し、検査の結果不良として判定された検査
対象を修理する方法或いは装置は、TVカメラやスキャナ
などで被検査基板を撮像し、予め記憶された標準パター
ンと比較して合否の判定を行い、この判定結果をCRT等
と画面上に表示して、作業者は、この画面を見て、不良
として判定された検査対象、例えば不良部品を修理して
いた。
ト基板を検査し、検査の結果不良として判定された検査
対象を修理する方法或いは装置は、TVカメラやスキャナ
などで被検査基板を撮像し、予め記憶された標準パター
ンと比較して合否の判定を行い、この判定結果をCRT等
と画面上に表示して、作業者は、この画面を見て、不良
として判定された検査対象、例えば不良部品を修理して
いた。
そして、この判定結果を表示する方法として、例え
ば、基板上の不良として判定された検査対象を２次元的
に着色して、かつ着色される色を不良内容に応じた色で
画面上に表示させるものや、プリント基板上の部品の位
置ずれ、欠損等の位置を画面上で点滅させたり、ブザー
で報知するもの等があった。
ば、基板上の不良として判定された検査対象を２次元的
に着色して、かつ着色される色を不良内容に応じた色で
画面上に表示させるものや、プリント基板上の部品の位
置ずれ、欠損等の位置を画面上で点滅させたり、ブザー
で報知するもの等があった。
しかしながら、これらいずれの技術においても、不良
と判定された検査対象を、作業者が修理した後でも、そ
のまま相変わらず不良と判定された検査対象であるとし
て画面上に表示したり点滅信号等で報知したりしていた
ために、画面上等では、当該検査対象の修正が完了した
のか、未修正の検査対象がまだあるのか、或いは被検査
プリント基板上のどの位置の検査対象が未だ未修正であ
るのか、作業者は判断できず、当該修理すべき検査対象
に対して迅速な対応をとれなかった。
と判定された検査対象を、作業者が修理した後でも、そ
のまま相変わらず不良と判定された検査対象であるとし
て画面上に表示したり点滅信号等で報知したりしていた
ために、画面上等では、当該検査対象の修正が完了した
のか、未修正の検査対象がまだあるのか、或いは被検査
プリント基板上のどの位置の検査対象が未だ未修正であ
るのか、作業者は判断できず、当該修理すべき検査対象
に対して迅速な対応をとれなかった。
本発明は、上記従来例の問題点に鑑み、不良と判定さ
れた検査対象を、作業者が修正した後には、画面上に、
不良と判定された検査対象の修正が完了したことを表示
して、未修正の検査対象がまだあるのか、或いは被検査
プリント基板上のどの位置の検査対象がまだ未修正であ
るのか、作業者が容易に視認できるようにして、作業者
が修理を見落としたりすることなく、修正する検査対象
を基板上で迅速に見つけることができるようにしたプリ
ント基板における不良部品修理方法および装置を提供す
ることを目的としている。
れた検査対象を、作業者が修正した後には、画面上に、
不良と判定された検査対象の修正が完了したことを表示
して、未修正の検査対象がまだあるのか、或いは被検査
プリント基板上のどの位置の検査対象がまだ未修正であ
るのか、作業者が容易に視認できるようにして、作業者
が修理を見落としたりすることなく、修正する検査対象
を基板上で迅速に見つけることができるようにしたプリ
ント基板における不良部品修理方法および装置を提供す
ることを目的としている。
＜問題点を解決するための手段＞ 上記問題点を解決するために、第１の発明は、プリン
ト基板検査工程で検査された被検査プリント基板の各検
査対象の検査結果データに基づいて不良として判定され
た検査対象を基板上における２次元位置に示した画像を
抽出して表示手段に表示し、前記表示手段で表示された
画像を不良として判定された検査対象の修正に基づいて
変更手段により変更することを特徴としている。
ト基板検査工程で検査された被検査プリント基板の各検
査対象の検査結果データに基づいて不良として判定され
た検査対象を基板上における２次元位置に示した画像を
抽出して表示手段に表示し、前記表示手段で表示された
画像を不良として判定された検査対象の修正に基づいて
変更手段により変更することを特徴としている。
第２の発明は、プリント基板検査工程で検査された被
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置に示した画像を表示する表示手
段と、前記表示手段で表示される画像を不良として判定
された検査対象の修正により変更する変更手段とから構
成するものである。
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置に示した画像を表示する表示手
段と、前記表示手段で表示される画像を不良として判定
された検査対象の修正により変更する変更手段とから構
成するものである。
第３の発明は、プリント基板検査工程で検査された被
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置に示した画像として表示すると
共に最初に修正される検査対象を後で修正される検査対
象と区別して表示する表示手段とから構成するものであ
る。
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置に示した画像として表示すると
共に最初に修正される検査対象を後で修正される検査対
象と区別して表示する表示手段とから構成するものであ
る。
第４の発明は、プリント基板検査工程で検査された被
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置を示した画像として表示すると
ともに修正される検査対象の修正順を表示する表示手段
とから構成するものである。
検査プリント基板上で不良として判定された検査対象の
データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶され
たデータに基づき不良として判定された検査対象の２次
元位置情報を抽出し不良として判定された検査対象を基
板上における２次元位置を示した画像として表示すると
ともに修正される検査対象の修正順を表示する表示手段
とから構成するものである。
また、上記いずれの発明における検査対象は、例え
ば、プリント基板上の部品である。
ば、プリント基板上の部品である。
＜実施例＞ 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。第
１図は本発明に係るプリント基板における不良部品修理
装置の一実施例を示すブロック図であり、プリント基板
検査装置の機能も含んでいる。第２図は第１図に示す装
置の斜視図であつて作業者が被検査基板Ｐの不良部品を
修理するための修理作業台Ａが設けられている。
１図は本発明に係るプリント基板における不良部品修理
装置の一実施例を示すブロック図であり、プリント基板
検査装置の機能も含んでいる。第２図は第１図に示す装
置の斜視図であつて作業者が被検査基板Ｐの不良部品を
修理するための修理作業台Ａが設けられている。
プリント基板自動検査装置１は、中央処理装置（CP
U）２とデータメモリ３を有し、CPU2は被検査基板を検
査する動作のほか、後述するように検査結果や修理結果
を表示させる動作を行う。
U）２とデータメモリ３を有し、CPU2は被検査基板を検
査する動作のほか、後述するように検査結果や修理結果
を表示させる動作を行う。
データメモリ３は第３図に示すように、被検査基板Ｐ
を検査する際の基準となる各部品の識別番号（ラベル１
〜ｎ）、座標（x1,y1〜xn,yn）その他面積、形状、実装
角度などの特徴パラメータ（F1〜Fn）が記憶される基準
データエリアと、検査後の各部品の合否データや修理作
業順番が記憶される修理用データエリアを有する。
を検査する際の基準となる各部品の識別番号（ラベル１
〜ｎ）、座標（x1,y1〜xn,yn）その他面積、形状、実装
角度などの特徴パラメータ（F1〜Fn）が記憶される基準
データエリアと、検査後の各部品の合否データや修理作
業順番が記憶される修理用データエリアを有する。
自動検査装置１はまた、図示はされていないがTVカメ
ラやイメージスキヤナなどの被検査基板を撮像する手段
や、この撮像手段からの画像信号A/D変換して各部品の
特徴パラメータを抽出する画像処理部や、その他被検査
基板を載置するＸ−Ｙステージ及びその駆動部などを有
する。
ラやイメージスキヤナなどの被検査基板を撮像する手段
や、この撮像手段からの画像信号A/D変換して各部品の
特徴パラメータを抽出する画像処理部や、その他被検査
基板を載置するＸ−Ｙステージ及びその駆動部などを有
する。
本不良部品修理装置はキーボード４と表示装置（CP
T）５を含み、キーボード４は第２図に示すように、被
検査基板を検査する際の基準となる基準基板の各部品の
特徴パラメータ（座標、面積、形状、実装角度等）を予
め入力したり、各種モードを設定するためのキー4aと、
作業者が被検査基板Ｐを修理した後に操作する修理完了
キー4bを有する。
T）５を含み、キーボード４は第２図に示すように、被
検査基板を検査する際の基準となる基準基板の各部品の
特徴パラメータ（座標、面積、形状、実装角度等）を予
め入力したり、各種モードを設定するためのキー4aと、
作業者が被検査基板Ｐを修理した後に操作する修理完了
キー4bを有する。
CRT5は、キーボード４のキー4aにより入力された基準
の特徴パラメータを表示するとともに、後述するように
修理の際の不良部品の表示を行う。
の特徴パラメータを表示するとともに、後述するように
修理の際の不良部品の表示を行う。
第４図は、被検査プリント基板Ｐが本装置により処理
される工程の説明図であり、基板Ｐは実装工程において
チツプ部品マウント装置（不図示）などによりｎ個の部
品が実装された後、次の検査工程において第１図及び第
２図の検査装置１により実装された部品が正しい位置及
び角度で実装されたか否かが検査される。この場合、検
査装置１のデータメモリ３には第３図に示すように、予
め基準データが記憶されており、各部品が正しく実装さ
れているかが判別（○又は×）される。尚、この基準デ
ータは部品実装前のプリント基板を予め撮像して入力し
ておくことができ、また実装工程のマウント装置から予
め入力することもできる。
される工程の説明図であり、基板Ｐは実装工程において
チツプ部品マウント装置（不図示）などによりｎ個の部
品が実装された後、次の検査工程において第１図及び第
２図の検査装置１により実装された部品が正しい位置及
び角度で実装されたか否かが検査される。この場合、検
査装置１のデータメモリ３には第３図に示すように、予
め基準データが記憶されており、各部品が正しく実装さ
れているかが判別（○又は×）される。尚、この基準デ
ータは部品実装前のプリント基板を予め撮像して入力し
ておくことができ、また実装工程のマウント装置から予
め入力することもできる。
第４図において検査工程が終了すると基板Ｐは修理工
程に移り、作業者は基板Ｐを第２図に示す作業台Ａ上に
載置した後修理作業を行う。第５図はCPU2の修理作業ル
ーチンの動作を示すフローチヤートであり、以下この図
を参照して動作を説明する。
程に移り、作業者は基板Ｐを第２図に示す作業台Ａ上に
載置した後修理作業を行う。第５図はCPU2の修理作業ル
ーチンの動作を示すフローチヤートであり、以下この図
を参照して動作を説明する。
まず、ステップ（以下、STという。）１においてキー
ボード４のキー4aのうち修理作業モードを選択するため
のキーが操作されるとST2へ進み、不良部品と判別（符
号×）された部品（第３図ではラベル２、ｋ、ｉの部
品）の特徴パラメータ（座標、形状等）を読取し、第２
図及び第６図（イ）に示すように当該画像と修理作業順
をCRT5に表示する。
ボード４のキー4aのうち修理作業モードを選択するため
のキーが操作されるとST2へ進み、不良部品と判別（符
号×）された部品（第３図ではラベル２、ｋ、ｉの部
品）の特徴パラメータ（座標、形状等）を読取し、第２
図及び第６図（イ）に示すように当該画像と修理作業順
をCRT5に表示する。
作業者は、この表示画面の画像及び修理順を観察して
基板Ｐ上の不良部品を発見し、修理を行つた後修理完了
キー4bを操作する。
基板Ｐ上の不良部品を発見し、修理を行つた後修理完了
キー4bを操作する。
ST3において修理完了キー4bが操作されるとST4へ進
み、第６図（ロ）に破線に示すように表示中の部品のう
ち作業順の最小の数字と当該部品画像を消す。このとき
データメモリ３内の不良部品の不良を示すデータ（×）
を良を示すデータ（○）に書換えてもよい。
み、第６図（ロ）に破線に示すように表示中の部品のう
ち作業順の最小の数字と当該部品画像を消す。このとき
データメモリ３内の不良部品の不良を示すデータ（×）
を良を示すデータ（○）に書換えてもよい。
続くST5では、CRT画面に不良部品画像が全て消えたか
どうかを判断し、NOの場合にはST3へ戻つて次の不良部
品の修理に備え、以下、全ての不良部品が修理されるま
でST3〜ST5を繰返す。尚、本実施例では修理作業順を番
号で表示するように構成したが、修理すべき不良部品画
像を順次フリツカ表示するようにしてもよい。
どうかを判断し、NOの場合にはST3へ戻つて次の不良部
品の修理に備え、以下、全ての不良部品が修理されるま
でST3〜ST5を繰返す。尚、本実施例では修理作業順を番
号で表示するように構成したが、修理すべき不良部品画
像を順次フリツカ表示するようにしてもよい。
本実施例では、検査モートで用いるデータを修理モー
ドで用いるほかに、キーボード４のキー4aやCRT5その他
基板検査装置１の主要回路を共用することができ、安価
な構成にすることができる。
ドで用いるほかに、キーボード４のキー4aやCRT5その他
基板検査装置１の主要回路を共用することができ、安価
な構成にすることができる。
＜発明の効果＞ 以上説明したように本発明は、いずれにおいても、プ
リント基板検査工程で検査された被検査プリント基板の
各検査対象の検査データを画面上に出力して、この画面
表示に基づいて、作業者が不良と判定された検査対象を
修正するようにしているもので、作業者が修理を見落と
したりすることなく、また修正する検査対象を基板上で
見つける時間を短縮することができる。
リント基板検査工程で検査された被検査プリント基板の
各検査対象の検査データを画面上に出力して、この画面
表示に基づいて、作業者が不良と判定された検査対象を
修正するようにしているもので、作業者が修理を見落と
したりすることなく、また修正する検査対象を基板上で
見つける時間を短縮することができる。
また、第１および第２の発明においては、表示画面に
基づき作業者が不良と判定された検査対象を修正した後
には、検査対象の修正に基づいて画面を変更するので、
表示画面上において、当該検査対象の修正を完了したこ
とが容易に判断でき、未修正の検査対象がまだあるかど
うかや基板上のどの位置の検査対象が未修正であるのか
を容易に判断できる。
基づき作業者が不良と判定された検査対象を修正した後
には、検査対象の修正に基づいて画面を変更するので、
表示画面上において、当該検査対象の修正を完了したこ
とが容易に判断でき、未修正の検査対象がまだあるかど
うかや基板上のどの位置の検査対象が未修正であるのか
を容易に判断できる。
更に、第３および第４の発明においては、表示画面上
に複数の不良と判定された検査対象が表示された場合に
おいて、最初に修正すべき検査対象がどれであるのか視
覚的に表示されるので、作業者が迷わず、当該修理すべ
き検査対象に対して、迅速な対応がとれる。
に複数の不良と判定された検査対象が表示された場合に
おいて、最初に修正すべき検査対象がどれであるのか視
覚的に表示されるので、作業者が迷わず、当該修理すべ
き検査対象に対して、迅速な対応がとれる。
第１図は本発明に係るプリント基板検査装置における不
良部品修理装置の一実施例を示すブロツク図、第２図は
第１図に示す装置の斜視図、第３図は第１図のデータメ
モリの記憶内容説明図、第４図は本発明によるプリント
基板の実装ラインにおける処理工程を示す工程図、第５
図は第１図のCPUの動作を説明するためのフローチヤー
ト、第６図（イ），（ロ）は第１図のCRTの表示画面を
示す説明図である。 ２……中央処理装置（変更手段）、３……データメモリ
（記憶手段）、４……キーボード、4a……修理完了キ
ー、５……CRT（表示手段）。
良部品修理装置の一実施例を示すブロツク図、第２図は
第１図に示す装置の斜視図、第３図は第１図のデータメ
モリの記憶内容説明図、第４図は本発明によるプリント
基板の実装ラインにおける処理工程を示す工程図、第５
図は第１図のCPUの動作を説明するためのフローチヤー
ト、第６図（イ），（ロ）は第１図のCRTの表示画面を
示す説明図である。 ２……中央処理装置（変更手段）、３……データメモリ
（記憶手段）、４……キーボード、4a……修理完了キ
ー、５……CRT（表示手段）。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石井 脩三 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 立 石電機株式会社内 (72)発明者 小林 茂樹 京都府京都市右京区花園中御門町３番地 株式会社立石ライフサイエンス研究所内 (56)参考文献 特開 昭48−44761（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−116476（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−77576（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−46479（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭52−13940（ＪＰ，Ｂ１) 特表 昭60−501429（ＪＰ，Ａ)
Claims (8)
- 【請求項１】プリント基板検査工程で検査された被検査
プリント基板の各検査対象の検査結果データに基づき不
良として判定された検査対象を基板上における２次元位
置に示した画像として抽出して表示手段に表示し、 前記表示手段で表示された画像を不良として判定された
検査対象の修正に基づいて変更手段により変更すること
を特徴とする、 プリント基板における不良部品修理方法。 - 【請求項２】前記検査対象は、プリント基板上の部品で
ある特許請求の範囲第１項記載のプリント基板における
不良部品修理方法。 - 【請求項３】プリント基板検査工程で検査された被検査
プリント基板上で不良として判定された検査対象のデー
タを記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶されたデータに基づき不良として判
定された検査対象の２次元位置情報を抽出し不良として
判定された検査対象を基板上における２次元位置に示し
た画像として表示する表示手段と、 前記表示手段で表示される画像を不良として判定された
検査対象の修正により変更する変更手段と、 を有するプリント基板における不良部品修理装置。 - 【請求項４】前記検査対象は、プリント基板上の部品で
ある特許請求の範囲第３項記載のプリント基板における
不良部品修理装置。 - 【請求項５】プリント基板検査工程で検査された被検査
プリント基板上で不良として判定された検査対象のデー
タを記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶されたデータに基づき不良として判
定された検査対象の２次元位置情報を抽出し不良として
判定された検査対象を基板上における２次元位置に示し
た画像として表示するとともに最初に修正される検査対
象を後で修正される検査対象と区別して表示する表示手
段と、 を有するプリント基板における不良部品修理装置。 - 【請求項６】前記検査対象は、プリント基板上の部品で
ある特許請求の範囲第５項記載のプリント基板における
不良部品修理装置。 - 【請求項７】プリント基板検査工程で検査された被検査
プリント基板上で不良として判定された検査対象のデー
タを記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶されたデータに基づき不良として判
定された検査対象の２次元位置情報を抽出し不良として
判定された検査対象を基板上における２次元位置を示し
た画像として表示するとともに修正される検査対象の修
正順を表示する表示手段と、 を有するプリント基板における不良部品修理装置。 - 【請求項８】前記検査対象は、プリント基板上の部品で
ある特許請求の範囲第７項記載のプリント基板における
不良部分修理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023299A JPH0827329B2 (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | プリント基板における不良部品修理方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61023299A JPH0827329B2 (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | プリント基板における不良部品修理方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62180275A JPS62180275A (ja) | 1987-08-07 |
| JPH0827329B2 true JPH0827329B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=12106718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61023299A Expired - Lifetime JPH0827329B2 (ja) | 1986-02-05 | 1986-02-05 | プリント基板における不良部品修理方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827329B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2524039B2 (ja) * | 1990-12-25 | 1996-08-14 | 富士通株式会社 | 部品抜取り誤操作防止装置 |
| DE69435333D1 (de) | 1993-04-21 | 2011-03-24 | Omron Tateisi Electronics Co | Vorrichtung zur visuellen kontrolle von platinen und deren verwendung zur kontrolle und korrektur von lötungen |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4844761A (ja) * | 1971-10-11 | 1973-06-27 | ||
| IT1040034B (it) * | 1975-07-21 | 1979-12-20 | Cecchetti Claudio | Struttura di gioco in particolare gioco del calcio |
| JPS53116476A (en) * | 1977-03-23 | 1978-10-11 | Sanyo Electric Co | Device for inspecting printed board or like already mounted with part |
| JPS5977576A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-04 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ンの欠陥検査装置 |
-
1986
- 1986-02-05 JP JP61023299A patent/JPH0827329B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62180275A (ja) | 1987-08-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |