JPH08272457A - 恒温器 - Google Patents
恒温器Info
- Publication number
- JPH08272457A JPH08272457A JP7475495A JP7475495A JPH08272457A JP H08272457 A JPH08272457 A JP H08272457A JP 7475495 A JP7475495 A JP 7475495A JP 7475495 A JP7475495 A JP 7475495A JP H08272457 A JPH08272457 A JP H08272457A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aluminum block
- temperature
- sensor
- heating
- cooling plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度センサーの取付け位置を、加熱，冷却プ
レートから離して設け、試料を設定温度に確実に保持す
る。 【構成】 恒温槽２の底部に、加熱，冷却プレート３を
設ける。試料容器の保持孔４ａを多数形成したアルミブ
ロック４を、恒温槽２に交換可能に収容する。恒温槽２
の底部に、温度センサー５を立設するとともに、アルミ
ブロック４に、温度センサー５を挿通する挿通孔４ｂを
形成する。
レートから離して設け、試料を設定温度に確実に保持す
る。 【構成】 恒温槽２の底部に、加熱，冷却プレート３を
設ける。試料容器の保持孔４ａを多数形成したアルミブ
ロック４を、恒温槽２に交換可能に収容する。恒温槽２
の底部に、温度センサー５を立設するとともに、アルミ
ブロック４に、温度センサー５を挿通する挿通孔４ｂを
形成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験管濃縮装置等に用
いられる恒温器に係り、特に、恒温槽に、各種の保持孔
を有したアルミブロックを交換可能に収容した恒温器に
関する。
いられる恒温器に係り、特に、恒温槽に、各種の保持孔
を有したアルミブロックを交換可能に収容した恒温器に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図２に示すように、試験管濃縮装
置等に用いられる恒温器２０は、恒温槽２１に、試験管
やマイクロチューブ等の試料容器の保持孔２２ａを多数
有したアルミブロック２２を収容している。アルミブロ
ック２２は、試料容器の形状や大きさに応じて、保持孔
２２ａの径が異なるものが複数用意され、用いる試料容
器によって、アルミブロック２２を交換して使用してい
る。
置等に用いられる恒温器２０は、恒温槽２１に、試験管
やマイクロチューブ等の試料容器の保持孔２２ａを多数
有したアルミブロック２２を収容している。アルミブロ
ック２２は、試料容器の形状や大きさに応じて、保持孔
２２ａの径が異なるものが複数用意され、用いる試料容
器によって、アルミブロック２２を交換して使用してい
る。
【０００３】この恒温器２０では、恒温槽２１の底部
に、熱加減用ヒーターまたはペルチェ素子等の加熱，冷
却プレート２３を設け、アルミブロック２２を介して、
この加熱，冷却プレート２３によって、試料容器内の試
料を加熱，冷却している。さらに、恒温槽２１の底部
に、温度センサー２４を取付け、恒温槽２１内の温度を
検知し、制御装置で加熱，冷却プレート２３を制御する
ことによって、試料が設定温度に保たれるようにしてい
る。
に、熱加減用ヒーターまたはペルチェ素子等の加熱，冷
却プレート２３を設け、アルミブロック２２を介して、
この加熱，冷却プレート２３によって、試料容器内の試
料を加熱，冷却している。さらに、恒温槽２１の底部
に、温度センサー２４を取付け、恒温槽２１内の温度を
検知し、制御装置で加熱，冷却プレート２３を制御する
ことによって、試料が設定温度に保たれるようにしてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし上述のもので
は、加熱，冷却プレート２３の近くに、温度センサー２
４を取付けているので、アルミブロック２２の実際の温
度と、温度センサー２４による検知温度との間に誤差が
生じ、アルミブロック２２に保持させた試料の温度を、
設定温度に確実に保持することは難しかった。
は、加熱，冷却プレート２３の近くに、温度センサー２
４を取付けているので、アルミブロック２２の実際の温
度と、温度センサー２４による検知温度との間に誤差が
生じ、アルミブロック２２に保持させた試料の温度を、
設定温度に確実に保持することは難しかった。
【０００５】そこで本発明は、温度センサーの取付け位
置を、加熱，冷却プレートから離して設け、試料を設定
温度に確実に保持できる恒温器を提供することを目的と
している。
置を、加熱，冷却プレートから離して設け、試料を設定
温度に確実に保持できる恒温器を提供することを目的と
している。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明の恒温器は、底部に、加熱，冷却プレートを備
えた恒温槽に、試料容器の保持孔を多数形成したアルミ
ブロックを交換可能に収容した恒温器において、前記恒
温槽の底部に、温度センサーを立設するとともに、前記
アルミブロックに前記温度センサーを挿通する挿通孔を
形成したことを特徴としている。
め本発明の恒温器は、底部に、加熱，冷却プレートを備
えた恒温槽に、試料容器の保持孔を多数形成したアルミ
ブロックを交換可能に収容した恒温器において、前記恒
温槽の底部に、温度センサーを立設するとともに、前記
アルミブロックに前記温度センサーを挿通する挿通孔を
形成したことを特徴としている。
【０００７】
【作用】これにより、アルミブロックを恒温槽内に収納
したときに、温度センサーは、アルミブロック内に挿入
されるので、アルミブロックの実際の温度と、温度セン
サーによる検知温度との間に誤差が生じることを防止で
きる。
したときに、温度センサーは、アルミブロック内に挿入
されるので、アルミブロックの実際の温度と、温度セン
サーによる検知温度との間に誤差が生じることを防止で
きる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本発明の一実施例を示すもので、恒温器
１は、中央に恒温槽２となる凹部が形成され、この恒温
槽２の底部には加熱，冷却プレート３を取付ける。恒温
槽２には、試験管やマイクロチューブ等の試料容器を多
数保持するアルミブロック４を収容し、加熱，冷却プレ
ート３によって、アルミブロック４が加熱，冷却され
る。また、恒温槽２の底部には、底部から立ち上がるよ
うに温度センサー５を立設する。
明する。図１は本発明の一実施例を示すもので、恒温器
１は、中央に恒温槽２となる凹部が形成され、この恒温
槽２の底部には加熱，冷却プレート３を取付ける。恒温
槽２には、試験管やマイクロチューブ等の試料容器を多
数保持するアルミブロック４を収容し、加熱，冷却プレ
ート３によって、アルミブロック４が加熱，冷却され
る。また、恒温槽２の底部には、底部から立ち上がるよ
うに温度センサー５を立設する。
【０００９】アルミブロック４は、試料容器の形状や大
きさに応じた保持孔４ａを多数設けたもので、保持孔４
ａの径が異なるものが複数用意され、用いる試料容器に
よって、アルミブロック４を適宜交換して使用する。
きさに応じた保持孔４ａを多数設けたもので、保持孔４
ａの径が異なるものが複数用意され、用いる試料容器に
よって、アルミブロック４を適宜交換して使用する。
【００１０】また、各アルミブロック４の底部の、前記
温度センサー５の位置に対応する位置には、温度センサ
ー５の挿通孔４ｂを形成する。温度センサー５で検出し
た値によって、図示しない制御装置が作動し、加熱，冷
却プレート３を制御することによって、アルミブロック
４を常に設定温度に保持する。
温度センサー５の位置に対応する位置には、温度センサ
ー５の挿通孔４ｂを形成する。温度センサー５で検出し
た値によって、図示しない制御装置が作動し、加熱，冷
却プレート３を制御することによって、アルミブロック
４を常に設定温度に保持する。
【００１１】上述のように形成された恒温器１を使用す
る際は、用いる試料容器に応じてアルミブロック４を選
択し、アルミブロック４の保持孔４ａに、試料を入れた
試料容器を挿入する。このアルミブロック４を、アルミ
ブロック４の底部に形成した挿通孔４ｂに温度センサー
５を挿入して、恒温槽２に収容する。試料容器内の試料
は、アルミブロック４を介して、加熱，冷却プレート３
によって加熱，冷却される。
る際は、用いる試料容器に応じてアルミブロック４を選
択し、アルミブロック４の保持孔４ａに、試料を入れた
試料容器を挿入する。このアルミブロック４を、アルミ
ブロック４の底部に形成した挿通孔４ｂに温度センサー
５を挿入して、恒温槽２に収容する。試料容器内の試料
は、アルミブロック４を介して、加熱，冷却プレート３
によって加熱，冷却される。
【００１２】このとき、アルミブロック４は、温度セン
サー５の検知温度によって、設定温度に保持されるが、
温度センサー５は、加熱，冷却プレート３の位置から離
れた位置にあり、また、アルミブロック４の内部に挿入
されるので、アルミブロック４の温度を正確に検知する
ことができる。これにより、制御装置によって、加熱，
冷却プレート３を制御し、アルミブロック４を設定温度
に確実に保持でき、試料容器内の試料を、確実に設定温
度に保持することができる。
サー５の検知温度によって、設定温度に保持されるが、
温度センサー５は、加熱，冷却プレート３の位置から離
れた位置にあり、また、アルミブロック４の内部に挿入
されるので、アルミブロック４の温度を正確に検知する
ことができる。これにより、制御装置によって、加熱，
冷却プレート３を制御し、アルミブロック４を設定温度
に確実に保持でき、試料容器内の試料を、確実に設定温
度に保持することができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明は以上のように、恒温槽の底部
に、温度センサーを立設するとともに、恒温槽に収容す
るアルミブロックに、前記温度センサーを挿通する挿通
孔を形成したので、アルミブロック内の温度を、温度セ
ンサーによって正確に検出することができ、アルミブロ
ックに保持される試料容器内の試料を、確実に設定温度
に保つことができるようになる。
に、温度センサーを立設するとともに、恒温槽に収容す
るアルミブロックに、前記温度センサーを挿通する挿通
孔を形成したので、アルミブロック内の温度を、温度セ
ンサーによって正確に検出することができ、アルミブロ
ックに保持される試料容器内の試料を、確実に設定温度
に保つことができるようになる。
【図１】 本発明の一実施例を示す恒温器の断面図であ
る。
る。
【図２】 従来の恒温器を示す断面図である。
１…恒温器、２…恒温槽、３…加熱，冷却プレート、４
…アルミブロック、４ａ…保持孔、４ｂ…挿通孔、５…
温度センサー
…アルミブロック、４ａ…保持孔、４ｂ…挿通孔、５…
温度センサー
Claims (1)
- 【請求項１】 底部に、加熱，冷却プレートを備えた恒
温槽に、試料容器の保持孔を多数形成したアルミブロッ
クを交換可能に収容した恒温器において、前記恒温槽の
底部に、温度センサーを立設するとともに、前記アルミ
ブロックに前記温度センサーを挿通する挿通孔を形成し
たことを特徴とする恒温器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7475495A JPH08272457A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 恒温器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7475495A JPH08272457A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 恒温器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08272457A true JPH08272457A (ja) | 1996-10-18 |
Family
ID=13556384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7475495A Pending JPH08272457A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 恒温器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08272457A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006000664A (ja) * | 2005-07-26 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 内視鏡及び内視鏡用撮像ユニット |
| JP2007017403A (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-25 | Shimadzu Corp | 試料恒温装置 |
| JP2014189501A (ja) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 凍結保存試料用解凍装置、及び凍結保存試料の解凍方法 |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP7475495A patent/JPH08272457A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007017403A (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-25 | Shimadzu Corp | 試料恒温装置 |
| JP4492466B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2010-06-30 | 株式会社島津製作所 | 試料恒温装置 |
| JP2006000664A (ja) * | 2005-07-26 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 内視鏡及び内視鏡用撮像ユニット |
| JP2014189501A (ja) * | 2013-03-26 | 2014-10-06 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 凍結保存試料用解凍装置、及び凍結保存試料の解凍方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20041208 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20050104 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050614 |