JPH08240527A - 製塩工程における成分濃度測定システム - Google Patents
製塩工程における成分濃度測定システムInfo
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- JPH08240527A JPH08240527A JP7043097A JP4309795A JPH08240527A JP H08240527 A JPH08240527 A JP H08240527A JP 7043097 A JP7043097 A JP 7043097A JP 4309795 A JP4309795 A JP 4309795A JP H08240527 A JPH08240527 A JP H08240527A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】製塩工程において、かん水、缶内液の主成分で
あるナトリウム、塩化物イオン、不純物であるカルシウ
ム、マグネシウム、カリウム、硫酸イオンの６成分の濃
度をインラインで迅速、かつ、信頼性高く測定する。 【構成】ＦＴ−ＩＲ１で測定する赤外線吸収スペクトル
に対して、水のＨＯＨ変角振動による寄与を測定する測
定波数と参照波数を４組、水のＨＯＨ変角振動の倍音に
よる寄与を測定する測定波数と参照波数を１組、水の対
称ＯＨ伸縮振動の寄与を測定する測定波数と参照波数を
１組、硫酸イオンのＳＯ縮重伸縮振動の寄与を測定する
測定波数と参照波数を１組それぞれ選定する。各イオン
濃度と各組の測定波数と参照波数の吸光度差の関係式を
求める。製塩工程の晶析装置５の晶析缶５Ａの原料溶液
Ａ′をＡＴＲセル２に導いて、コンピュータ３で吸光度
差と関係式からイオン濃度を測定する。濃度に応じて排
出弁６を制御する。
あるナトリウム、塩化物イオン、不純物であるカルシウ
ム、マグネシウム、カリウム、硫酸イオンの６成分の濃
度をインラインで迅速、かつ、信頼性高く測定する。 【構成】ＦＴ−ＩＲ１で測定する赤外線吸収スペクトル
に対して、水のＨＯＨ変角振動による寄与を測定する測
定波数と参照波数を４組、水のＨＯＨ変角振動の倍音に
よる寄与を測定する測定波数と参照波数を１組、水の対
称ＯＨ伸縮振動の寄与を測定する測定波数と参照波数を
１組、硫酸イオンのＳＯ縮重伸縮振動の寄与を測定する
測定波数と参照波数を１組それぞれ選定する。各イオン
濃度と各組の測定波数と参照波数の吸光度差の関係式を
求める。製塩工程の晶析装置５の晶析缶５Ａの原料溶液
Ａ′をＡＴＲセル２に導いて、コンピュータ３で吸光度
差と関係式からイオン濃度を測定する。濃度に応じて排
出弁６を制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、製塩工程において晶析
缶で加熱濃縮された母液や苦汁およびイオン交換膜電気
透析槽で生産されたかん水の成分濃度を測定するための
製塩工程における成分濃度測定システムに関する。
缶で加熱濃縮された母液や苦汁およびイオン交換膜電気
透析槽で生産されたかん水の成分濃度を測定するための
製塩工程における成分濃度測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】通常、製塩工程では、海水をイオン交換
膜電気透析法で濃縮し、この濃縮海水をかん水として結
晶化工程に供給する。結晶化工程は１機の濃縮装置と２
〜３機の晶析装置からなり、この結晶化工程では、先
ず、かん水を濃縮装置に送ってこの濃縮装置でほぼ飽和
塩化ナトリウム濃度まで濃縮し、この濃縮したかん水を
次に晶析装置に送り、完全な塩化ナトリウム飽和溶液す
なわち母液となるまで濃縮して塩化ナトリウム（塩）を
析出させる。
膜電気透析法で濃縮し、この濃縮海水をかん水として結
晶化工程に供給する。結晶化工程は１機の濃縮装置と２
〜３機の晶析装置からなり、この結晶化工程では、先
ず、かん水を濃縮装置に送ってこの濃縮装置でほぼ飽和
塩化ナトリウム濃度まで濃縮し、この濃縮したかん水を
次に晶析装置に送り、完全な塩化ナトリウム飽和溶液す
なわち母液となるまで濃縮して塩化ナトリウム（塩）を
析出させる。
【０００３】上記の工程の溶液には、主成分としてナト
リウム、塩化物イオン、不純物としてカルシウム、マグ
ネシウム、カリウム、硫酸イオン等の各イオンが含まれ
ており、これらの各イオンの濃度は濃縮度により異なっ
ている。また、母液中の不純物は逐次濃縮されるが濃縮
限界は塩化カリウム析出点であり、その直前で苦汁とし
て晶析缶から排出し、この苦汁はその一部を遠心分離機
に供給して固結防止のために並塩に添加する。
リウム、塩化物イオン、不純物としてカルシウム、マグ
ネシウム、カリウム、硫酸イオン等の各イオンが含まれ
ており、これらの各イオンの濃度は濃縮度により異なっ
ている。また、母液中の不純物は逐次濃縮されるが濃縮
限界は塩化カリウム析出点であり、その直前で苦汁とし
て晶析缶から排出し、この苦汁はその一部を遠心分離機
に供給して固結防止のために並塩に添加する。
【０００４】以上の製塩工程で、イオン交換膜電気透析
装置においては、濃縮したかん水の成分濃度を分析する
ことにより、透析装置およびイオン交換膜の運転管理を
行っている。
装置においては、濃縮したかん水の成分濃度を分析する
ことにより、透析装置およびイオン交換膜の運転管理を
行っている。
【０００５】一方、晶析装置における結晶の成長速度は
晶析缶の缶内液の成分濃度により異なるので、溶液の成
分濃度は製品品質の一つである結晶粒径に直接影響を及
ぼす。したがって、製品結晶の品質を制御するためには
溶液の成分濃度の測定を行う必要がある。また、成分濃
度測定は晶析操作の操作基準である濃度限界の決定を行
うためにも必要である。
晶析缶の缶内液の成分濃度により異なるので、溶液の成
分濃度は製品品質の一つである結晶粒径に直接影響を及
ぼす。したがって、製品結晶の品質を制御するためには
溶液の成分濃度の測定を行う必要がある。また、成分濃
度測定は晶析操作の操作基準である濃度限界の決定を行
うためにも必要である。
【０００６】従来、製塩工場では以下に示す分析手法で
成分濃度の測定を行っている。塩化物イオンについて
は硝酸銀標準溶液による滴定。カルシウム、マグネシ
ウムイオンについてはＥＤＴＡ標準溶液による滴定。
カリウムイオンについてはフレーム分光光度計またはフ
レーム光度計による測定。硫酸イオンについてはイオ
ンクロマトグラフィー法による測定。ナトリウムイオ
ンについては上記５成分による結合計算。
成分濃度の測定を行っている。塩化物イオンについて
は硝酸銀標準溶液による滴定。カルシウム、マグネシ
ウムイオンについてはＥＤＴＡ標準溶液による滴定。
カリウムイオンについてはフレーム分光光度計またはフ
レーム光度計による測定。硫酸イオンについてはイオ
ンクロマトグラフィー法による測定。ナトリウムイオ
ンについては上記５成分による結合計算。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の成分濃度測定においては次のような問題がある。滴定
法（カルシウム、マグネシウム、塩化物イオン濃度の分
析）による分析は手作業で行うため時間と労力を要す
る。また、光度計による方法（カリウムイオン濃度の分
析）はカリウム濃度で０．０１〜０．３０［％］の試料
に限られ、また、イオンクロマトグラフィー法（硫酸イ
オン濃度の分析）も硫酸イオン濃度０〜２ｐｐｍに限ら
れるため、それぞれ希釈操作が必要となり、成分濃度の
測定回数を多くできず、また、濃度管理に時間的な遅れ
が生じる。また、現状では上記の成分を簡易にかつ迅速
に測定するセンサーはない。
の成分濃度測定においては次のような問題がある。滴定
法（カルシウム、マグネシウム、塩化物イオン濃度の分
析）による分析は手作業で行うため時間と労力を要す
る。また、光度計による方法（カリウムイオン濃度の分
析）はカリウム濃度で０．０１〜０．３０［％］の試料
に限られ、また、イオンクロマトグラフィー法（硫酸イ
オン濃度の分析）も硫酸イオン濃度０〜２ｐｐｍに限ら
れるため、それぞれ希釈操作が必要となり、成分濃度の
測定回数を多くできず、また、濃度管理に時間的な遅れ
が生じる。また、現状では上記の成分を簡易にかつ迅速
に測定するセンサーはない。
【０００８】本発明は、製塩工程において、かん水、母
液、苦汁の主成分であるナトリウム、塩化物イオンと、
不純物であるカルシウム、マグネシウム、カリウム、硫
酸イオンの６成分のイオン濃度をインラインで測定し、
迅速で、かつ、信頼性の高い測定を行えるようにするこ
とを課題とする。
液、苦汁の主成分であるナトリウム、塩化物イオンと、
不純物であるカルシウム、マグネシウム、カリウム、硫
酸イオンの６成分のイオン濃度をインラインで測定し、
迅速で、かつ、信頼性の高い測定を行えるようにするこ
とを課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに鋭意研究を進めた結果、発明者が完成した本発明
は、製塩工程における、イオン交換膜電気透析装置で濃
縮されたかん水または晶析缶に収容された缶内液中の成
分濃度を測定する製塩工程における成分濃度測定システ
ムであって、赤外線における水の吸収波数、その倍音の
波数、硫酸イオンの吸収波数を測定波数として、また、
成分濃度によりほとんど影響を受けない波数を参照波数
としてそれぞれ選定し、予め調整したカルシウム、マグ
ネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオン
を含む水溶液についての上記測定波数と参照波数の吸光
度差を測定し、カルシウム、マグネシウム、カリウム、
ナトリウム、塩化物イオン濃度については水の吸収波数
およびその倍音の波数の上記測定波数と参照波数につい
ての１〜６組の吸光度差で表した関係式を、また硫酸イ
オン濃度については硫酸イオンの吸収波数の測定波数と
参照波数についての１組の吸光度差で表した関係式を予
め定めておき、前記かん水または缶内液のサンプリング
溶液について前記硫酸イオンの吸収波数を含む２〜７組
の前記測定波数と参照波数についての吸光度差を測定
し、該測定した水の吸収波数およびその倍音の波数に関
係する１〜６組の吸光度差から前記関係式に基づいて前
記かん水または缶内液のカルシウム、マグネシウム、カ
リウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を求めるととも
に、硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の吸光度差か
ら前記関係式に基づいて前記かん水または缶内液の硫酸
イオン濃度を求めるようにしたことを特徴とする。
めに鋭意研究を進めた結果、発明者が完成した本発明
は、製塩工程における、イオン交換膜電気透析装置で濃
縮されたかん水または晶析缶に収容された缶内液中の成
分濃度を測定する製塩工程における成分濃度測定システ
ムであって、赤外線における水の吸収波数、その倍音の
波数、硫酸イオンの吸収波数を測定波数として、また、
成分濃度によりほとんど影響を受けない波数を参照波数
としてそれぞれ選定し、予め調整したカルシウム、マグ
ネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオン
を含む水溶液についての上記測定波数と参照波数の吸光
度差を測定し、カルシウム、マグネシウム、カリウム、
ナトリウム、塩化物イオン濃度については水の吸収波数
およびその倍音の波数の上記測定波数と参照波数につい
ての１〜６組の吸光度差で表した関係式を、また硫酸イ
オン濃度については硫酸イオンの吸収波数の測定波数と
参照波数についての１組の吸光度差で表した関係式を予
め定めておき、前記かん水または缶内液のサンプリング
溶液について前記硫酸イオンの吸収波数を含む２〜７組
の前記測定波数と参照波数についての吸光度差を測定
し、該測定した水の吸収波数およびその倍音の波数に関
係する１〜６組の吸光度差から前記関係式に基づいて前
記かん水または缶内液のカルシウム、マグネシウム、カ
リウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を求めるととも
に、硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の吸光度差か
ら前記関係式に基づいて前記かん水または缶内液の硫酸
イオン濃度を求めるようにしたことを特徴とする。
【００１０】
【作用】製塩工程における、イオン交換膜電気透析装置
で濃縮されたかん水および晶析缶に収容された缶内液
は、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物、硫酸イオンを含んでおり、水溶液中の水の
伸縮振動、変角振動およびその倍音波数による赤外線の
吸収特性は、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナ
トリウムおよび塩化物イオンの種類と濃度により異な
る。また、水溶液中の硫酸イオンの伸縮振動による赤外
線の吸収特性は、この硫酸イオンの種類と濃度により異
なる。そこで、これらの水の吸収波数を測定波数とし、
基準となる参照波数との１〜６組を選定し、これらの波
数の組についての測定波数と参照波数の吸光度差と測定
溶液のイオン濃度とから、例えば各イオン濃度を目的変
数、吸光度差を説明変数とする重回帰法により、吸光度
差から各イオン濃度を算出するための関係式を作成する
することができる。また、硫酸イオンの吸収波数を測定
波数とし、基準となる参照波数との１組を選定し、この
１組の測定波数と参照波数の吸光度差と測定溶液の硫酸
イオン濃度とから、例えば硫酸イオン濃度を目的変数、
吸光度差を説明変数とする重回帰法により、吸光度差か
ら硫酸イオン濃度を算出するための関係式を作成するす
ることができる。そして、測定した吸光度差とこれらの
関係式から各イオン濃度を求めることができる。
で濃縮されたかん水および晶析缶に収容された缶内液
は、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物、硫酸イオンを含んでおり、水溶液中の水の
伸縮振動、変角振動およびその倍音波数による赤外線の
吸収特性は、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナ
トリウムおよび塩化物イオンの種類と濃度により異な
る。また、水溶液中の硫酸イオンの伸縮振動による赤外
線の吸収特性は、この硫酸イオンの種類と濃度により異
なる。そこで、これらの水の吸収波数を測定波数とし、
基準となる参照波数との１〜６組を選定し、これらの波
数の組についての測定波数と参照波数の吸光度差と測定
溶液のイオン濃度とから、例えば各イオン濃度を目的変
数、吸光度差を説明変数とする重回帰法により、吸光度
差から各イオン濃度を算出するための関係式を作成する
することができる。また、硫酸イオンの吸収波数を測定
波数とし、基準となる参照波数との１組を選定し、この
１組の測定波数と参照波数の吸光度差と測定溶液の硫酸
イオン濃度とから、例えば硫酸イオン濃度を目的変数、
吸光度差を説明変数とする重回帰法により、吸光度差か
ら硫酸イオン濃度を算出するための関係式を作成するす
ることができる。そして、測定した吸光度差とこれらの
関係式から各イオン濃度を求めることができる。
【００１１】なお、本発明の実施態様として好ましいも
のは、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオンの濃度測定用に、測定波数として水の
変角振動波数１７１０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃ
ｍ-1、測定波数として水の変角振動波数１６６０ｃｍ-1
参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数１６２０ｃｍ-1参照波数として１６６０ｃｍ
-1、測定波数として水の変角振動波数２２３０ｃｍ-1参
照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変角
振動の倍音波数３１５０ｃｍ-1参照波数として２６００
ｃｍ-1、測定波数として水の伸縮振動波数３６６０ｃｍ
-1参照波数として３７４０ｃｍ-1の６組の波数を選択す
ることを特徴とする製塩工程における成分濃度測定シス
テムである。
のは、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオンの濃度測定用に、測定波数として水の
変角振動波数１７１０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃ
ｍ-1、測定波数として水の変角振動波数１６６０ｃｍ-1
参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数１６２０ｃｍ-1参照波数として１６６０ｃｍ
-1、測定波数として水の変角振動波数２２３０ｃｍ-1参
照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変角
振動の倍音波数３１５０ｃｍ-1参照波数として２６００
ｃｍ-1、測定波数として水の伸縮振動波数３６６０ｃｍ
-1参照波数として３７４０ｃｍ-1の６組の波数を選択す
ることを特徴とする製塩工程における成分濃度測定シス
テムである。
【００１２】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として水の変角振動波数１６２０ｃｍ-1
参照波数として１６６０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数２２３０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ
-1の２組の波数を選択してカルシウムイオン濃度を求め
るようにしたことを特徴とする製塩工程における成分濃
度測定システムである。
のは、測定波数として水の変角振動波数１６２０ｃｍ-1
参照波数として１６６０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数２２３０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ
-1の２組の波数を選択してカルシウムイオン濃度を求め
るようにしたことを特徴とする製塩工程における成分濃
度測定システムである。
【００１３】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０
ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の波数を選
択してマグネシウムイオン濃度を求めるようにしたこと
を特徴とする製塩工程における成分濃度測定システムで
ある。
のは、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０
ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の波数を選
択してマグネシウムイオン濃度を求めるようにしたこと
を特徴とする製塩工程における成分濃度測定システムで
ある。
【００１４】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として水の変角振動波数１７１０ｃｍ-1
参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数１６６０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ
-1、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０ｃ
ｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の３組の波数を選択
してカリウムイオン濃度を求めるようにしたことを特徴
とする製塩工程における成分濃度測定システムである。
のは、測定波数として水の変角振動波数１７１０ｃｍ-1
参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変
角振動波数１６６０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ
-1、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０ｃ
ｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の３組の波数を選択
してカリウムイオン濃度を求めるようにしたことを特徴
とする製塩工程における成分濃度測定システムである。
【００１５】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０
ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の波数を選
択してナトリウムイオン濃度を求めるようにしたことを
特徴とする製塩工程における成分濃度測定システムであ
る。
のは、測定波数として水の変角振動の倍音波数３１５０
ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の波数を選
択してナトリウムイオン濃度を求めるようにしたことを
特徴とする製塩工程における成分濃度測定システムであ
る。
【００１６】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として水の伸縮振動波数３６６０ｃｍ-1
参照波数として３７４０ｃｍ-1の１組の波数を選択して
塩化物イオン濃度を求めるようにしたことを特徴とする
製塩工程における成分濃度測定システムである。
のは、測定波数として水の伸縮振動波数３６６０ｃｍ-1
参照波数として３７４０ｃｍ-1の１組の波数を選択して
塩化物イオン濃度を求めるようにしたことを特徴とする
製塩工程における成分濃度測定システムである。
【００１７】また、本発明の実施態様として好ましいも
のは、測定波数として硫酸イオンの伸縮振動波数１１０
４ｃｍ-1参照波数として１１５０ｃｍ-1の１組の波数を
選択して硫酸イオン濃度を求めるようにしたことを特徴
とする製塩工程における成分濃度測定システムである。
のは、測定波数として硫酸イオンの伸縮振動波数１１０
４ｃｍ-1参照波数として１１５０ｃｍ-1の１組の波数を
選択して硫酸イオン濃度を求めるようにしたことを特徴
とする製塩工程における成分濃度測定システムである。
【００１８】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の製塩工程にお
ける成分濃度測定システムの好ましい実施例を説明す
る。先ず、測定に使用する測定波数および参照波数の選
定と、成分濃度と吸光度差の関係式について説明する。
ける成分濃度測定システムの好ましい実施例を説明す
る。先ず、測定に使用する測定波数および参照波数の選
定と、成分濃度と吸光度差の関係式について説明する。
【００１９】波数の選定を行うために塩化カルシウム、
塩化マグネシウム、塩化カリウム、塩化ナトリウムの各
々１［Ｍ］濃度の水溶液を調製し、ＦＴ−ＩＲ（フーリ
エ変換赤外分光装置）を用いてＡＴＲ法（多重反射法）
により赤外線吸収スペクトルの測定を行った。
塩化マグネシウム、塩化カリウム、塩化ナトリウムの各
々１［Ｍ］濃度の水溶液を調製し、ＦＴ−ＩＲ（フーリ
エ変換赤外分光装置）を用いてＡＴＲ法（多重反射法）
により赤外線吸収スペクトルの測定を行った。
【００２０】図１は上記測定結果を示す図であり、この
図は各水溶液についての吸光度から蒸留水についての吸
光度を引いた吸光度差を表したものである。この赤外線
吸収スペクトルから、カルシウム、マグネシウム、カリ
ウム、ナトリウムおよび塩化物イオンの濃度測定用に、
水の吸収波数のうち、塩類の種類により特有の吸収を示
す波数を測定波数として、また、測定波数に近い波数で
塩類の種類によりあまり影響を受けない波数を参照波数
として、図１に示したように、Ｋ1 〜Ｋ6 の６組の波数
を選定した。また、硫酸イオンの濃度測定用に、硫酸イ
オン特有の吸収を示す波数を測定波数として、測定波数
に近い波数で塩類の種類によりあまり影響を受けない波
数を参照波数としてＫ7 の１組の波数を選定した。
図は各水溶液についての吸光度から蒸留水についての吸
光度を引いた吸光度差を表したものである。この赤外線
吸収スペクトルから、カルシウム、マグネシウム、カリ
ウム、ナトリウムおよび塩化物イオンの濃度測定用に、
水の吸収波数のうち、塩類の種類により特有の吸収を示
す波数を測定波数として、また、測定波数に近い波数で
塩類の種類によりあまり影響を受けない波数を参照波数
として、図１に示したように、Ｋ1 〜Ｋ6 の６組の波数
を選定した。また、硫酸イオンの濃度測定用に、硫酸イ
オン特有の吸収を示す波数を測定波数として、測定波数
に近い波数で塩類の種類によりあまり影響を受けない波
数を参照波数としてＫ7 の１組の波数を選定した。
【００２１】すなわち、測定波数は、次表１に示す選定
理由に従って選定し、ＨＯＨ変角振動による寄与を測定
するために、測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４
０ｃｍ-1の組（Ｋ1 ）、測定波数１６６０ｃｍ-1と参照
波数２０４０ｃｍ-1の組（Ｋ 2 ）、測定波数１６２０ｃ
ｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ-1の組（Ｋ3 ）、測定波数
２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ-1の組（Ｋ4 ）
を選定し、また、ＨＯＨ変角振動の倍音による寄与を測
定するために、測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６
００ｃｍ-1の組（Ｋ5 ）を選定し、対称ＯＨ伸縮振動の
寄与を測定するために、測定波数３６６０ｃｍ-1と参照
波数３７４０ｃｍ-1の組（Ｋ6 ）の６組の波数を選定し
た。さらに、ＳＯ縮重伸縮振動の寄与を測定するため
に、測定波数１１０４ｃｍ-1と参照波数１１５０ｃｍ-1
の組（Ｋ7 ）の１組の波数を選定した。
理由に従って選定し、ＨＯＨ変角振動による寄与を測定
するために、測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４
０ｃｍ-1の組（Ｋ1 ）、測定波数１６６０ｃｍ-1と参照
波数２０４０ｃｍ-1の組（Ｋ 2 ）、測定波数１６２０ｃ
ｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ-1の組（Ｋ3 ）、測定波数
２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ-1の組（Ｋ4 ）
を選定し、また、ＨＯＨ変角振動の倍音による寄与を測
定するために、測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６
００ｃｍ-1の組（Ｋ5 ）を選定し、対称ＯＨ伸縮振動の
寄与を測定するために、測定波数３６６０ｃｍ-1と参照
波数３７４０ｃｍ-1の組（Ｋ6 ）の６組の波数を選定し
た。さらに、ＳＯ縮重伸縮振動の寄与を測定するため
に、測定波数１１０４ｃｍ-1と参照波数１１５０ｃｍ-1
の組（Ｋ7 ）の１組の波数を選定した。
【００２２】
【表１】
【００２３】（実施例１）図３は本発明の一実施例に係
る成分濃度測定装置の概要を示す図であり、この装置
は、ＦＴ−ＩＲ（フーリエ変換赤外分光装置）１、ＡＴ
Ｒセル２、コンピュータ３、サンプリング装置４で構成
されている。なお、この装置は成分濃度と吸光度差の関
係式を作成するときのサンプル溶液についての測定を行
うためのものであり、後述説明するように、製塩工程に
適用するときはサンプリング装置４に代えて製塩工程の
管路にＡＴＲセル２が接続される。
る成分濃度測定装置の概要を示す図であり、この装置
は、ＦＴ−ＩＲ（フーリエ変換赤外分光装置）１、ＡＴ
Ｒセル２、コンピュータ３、サンプリング装置４で構成
されている。なお、この装置は成分濃度と吸光度差の関
係式を作成するときのサンプル溶液についての測定を行
うためのものであり、後述説明するように、製塩工程に
適用するときはサンプリング装置４に代えて製塩工程の
管路にＡＴＲセル２が接続される。
【００２４】サンプリング装置４は、ポンプ４Ａ，４
Ｂ、電磁弁４Ｃ，４Ｄ，４Ｅを備えており、製塩工程溶
液はサンプル溶液Ａとしてサンプリングラインａに供給
され、ポンプ４Ａによりサンプリングラインａから電磁
弁４Ｄ、ポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲ
セル２に導かれる。また、バックグラウンド測定用の蒸
留水Ｂが蒸留水供給ラインｂに供給され、ポンプ４Ｂに
より蒸留水供給ラインｂからポンプ４Ｂ、電磁弁４Ｅお
よび供給ラインｄを通じてＡＴＲセル２に導かれる。さ
らに、ＡＴＲセル２内を洗浄する洗浄水Ｃが洗浄ライン
ｃに供給され、ポンプ４Ａにより洗浄ラインｃから電磁
弁４Ｃ、ポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲ
セル２に導かれる。なお、成分濃度と吸光度差の関係式
を作成するときのサンプル溶液はサンプリングラインａ
からＡＴＲセル２内に供給する。
Ｂ、電磁弁４Ｃ，４Ｄ，４Ｅを備えており、製塩工程溶
液はサンプル溶液Ａとしてサンプリングラインａに供給
され、ポンプ４Ａによりサンプリングラインａから電磁
弁４Ｄ、ポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲ
セル２に導かれる。また、バックグラウンド測定用の蒸
留水Ｂが蒸留水供給ラインｂに供給され、ポンプ４Ｂに
より蒸留水供給ラインｂからポンプ４Ｂ、電磁弁４Ｅお
よび供給ラインｄを通じてＡＴＲセル２に導かれる。さ
らに、ＡＴＲセル２内を洗浄する洗浄水Ｃが洗浄ライン
ｃに供給され、ポンプ４Ａにより洗浄ラインｃから電磁
弁４Ｃ、ポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲ
セル２に導かれる。なお、成分濃度と吸光度差の関係式
を作成するときのサンプル溶液はサンプリングラインａ
からＡＴＲセル２内に供給する。
【００２５】ＡＴＲセル２は、ＺｎＳｅ製のプリズム２
Ａとフローセル２Ｂとで構成されており、サンプリング
装置４からの溶液は供給ラインｄからフローセル２Ｂ内
に供給されるとともに排出ラインｅから排出される。す
なわち、この溶液はフローセル２Ｂ内を流動し、このと
きフローセル２Ｂ内の溶液はプリズム２Ａに接してい
る。一方、プリズム２ＡにはＦＴ−ＩＲ１で発生された
赤外線が入射され、プリズム２Ａ内を多重反射すること
でこの赤外線はプリズム２Ａと溶液の界面で溶液の成分
濃度に応じた特性で吸収される。
Ａとフローセル２Ｂとで構成されており、サンプリング
装置４からの溶液は供給ラインｄからフローセル２Ｂ内
に供給されるとともに排出ラインｅから排出される。す
なわち、この溶液はフローセル２Ｂ内を流動し、このと
きフローセル２Ｂ内の溶液はプリズム２Ａに接してい
る。一方、プリズム２ＡにはＦＴ−ＩＲ１で発生された
赤外線が入射され、プリズム２Ａ内を多重反射すること
でこの赤外線はプリズム２Ａと溶液の界面で溶液の成分
濃度に応じた特性で吸収される。
【００２６】ＦＴ−ＩＲ１は、上記のようにＡＴＲセル
２内のプリズム２Ａに赤外線を照射するとともに、この
プリズム２Ａで多重反射した赤外線を検知して、検知し
た赤外線の波数と強度の関係を示すスペクトル情報を出
力する。
２内のプリズム２Ａに赤外線を照射するとともに、この
プリズム２Ａで多重反射した赤外線を検知して、検知し
た赤外線の波数と強度の関係を示すスペクトル情報を出
力する。
【００２７】コンピュータ３は、ＦＴ−ＩＲ１で得られ
たスペクトル情報から、赤外線吸収スペクトルを作成
し、この赤外線吸収スペクトルから水の吸収波長に関係
する前記１〜６組の波数の吸光度と、硫酸イオンの吸収
波数に関係する前記１組の波数の吸光度を選択的に測定
する。そして、この水の吸収波長に関係する１〜６組の
波数および硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の測定
波数についての吸光度と参照波数についての吸光度の差
（吸光度差）をそれぞれ求め、この吸光度差と、各成分
濃度と吸光度差について予め定められた関係式とから各
成分濃度を算出する。
たスペクトル情報から、赤外線吸収スペクトルを作成
し、この赤外線吸収スペクトルから水の吸収波長に関係
する前記１〜６組の波数の吸光度と、硫酸イオンの吸収
波数に関係する前記１組の波数の吸光度を選択的に測定
する。そして、この水の吸収波長に関係する１〜６組の
波数および硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の測定
波数についての吸光度と参照波数についての吸光度の差
（吸光度差）をそれぞれ求め、この吸光度差と、各成分
濃度と吸光度差について予め定められた関係式とから各
成分濃度を算出する。
【００２８】（成分濃度と吸光度差の関係式）この実施
例では、成分濃度と吸光度差の関係式作成用のサンプル
溶液は全ての製塩工場の成分濃度に対応できるように下
記のように作成した。また、関係式は成分濃度の違いか
ら晶析缶缶内液とイオン交換膜電気透析装置で生産した
かん水用の２種類のサンプル溶液を調製した。
例では、成分濃度と吸光度差の関係式作成用のサンプル
溶液は全ての製塩工場の成分濃度に対応できるように下
記のように作成した。また、関係式は成分濃度の違いか
ら晶析缶缶内液とイオン交換膜電気透析装置で生産した
かん水用の２種類のサンプル溶液を調製した。
【００２９】（サンプル溶液）缶内液の成分濃度測定用
のサンプル溶液として、塩化カルシウム濃度が５〜７０
［ｇ／ｌ］、塩化カルシウムと塩化マグネシウムの比が
１：２〜４、塩化カルシウムと塩化カリウムの比が１：
２、硫酸イオン濃度が０〜１．０［ｇ／ｌ］であり、各
々の溶液を塩化ナトリウムで飽和にした５８点の溶液を
調製し、成分濃度の分析を行った。
のサンプル溶液として、塩化カルシウム濃度が５〜７０
［ｇ／ｌ］、塩化カルシウムと塩化マグネシウムの比が
１：２〜４、塩化カルシウムと塩化カリウムの比が１：
２、硫酸イオン濃度が０〜１．０［ｇ／ｌ］であり、各
々の溶液を塩化ナトリウムで飽和にした５８点の溶液を
調製し、成分濃度の分析を行った。
【００３０】一方、かん水の成分濃度測定用のサンプル
溶液として、塩化ナトリウム濃度が１５０〜２２０［ｇ
／ｌ］、塩化カルシウムと塩化マグネシウムの比が１：
２〜４、硫酸イオン濃度が０〜１．０［ｇ／ｌ］、純塩
率が８８〜９４［％］である３６点の溶液を調製し、成
分濃度の分析を行った。
溶液として、塩化ナトリウム濃度が１５０〜２２０［ｇ
／ｌ］、塩化カルシウムと塩化マグネシウムの比が１：
２〜４、硫酸イオン濃度が０〜１．０［ｇ／ｌ］、純塩
率が８８〜９４［％］である３６点の溶液を調製し、成
分濃度の分析を行った。
【００３１】（６組の波数を用いたカルシウム、マグネ
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成分濃
度と吸光度差の関係式）缶内液の成分濃度測定用とかん
水の成分濃度測定用の各々のサンプル溶液について、水
の吸収波数に関係する６組の波数における吸光度差を前
記図２の成分濃度測定装置により測定し、カルシウム、
マグネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物のイオン
濃度について、各イオン濃度を目的変数、吸光度差を説
明変数とした重回帰法により、吸光度差から各イオン濃
度を算出するための次式 (1)〜(5) のような関係式を缶
内液用とかん水用について各々作成した。なお、溶液温
度は缶内液相当溶液は２５℃、５０℃、７５℃の３点、
かん水相当溶液は１５℃、２５℃、３５℃の３点とし
た。
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成分濃
度と吸光度差の関係式）缶内液の成分濃度測定用とかん
水の成分濃度測定用の各々のサンプル溶液について、水
の吸収波数に関係する６組の波数における吸光度差を前
記図２の成分濃度測定装置により測定し、カルシウム、
マグネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物のイオン
濃度について、各イオン濃度を目的変数、吸光度差を説
明変数とした重回帰法により、吸光度差から各イオン濃
度を算出するための次式 (1)〜(5) のような関係式を缶
内液用とかん水用について各々作成した。なお、溶液温
度は缶内液相当溶液は２５℃、５０℃、７５℃の３点、
かん水相当溶液は１５℃、２５℃、３５℃の３点とし
た。
【００３２】
【数１】
【００３３】ただし、 Ｃi ：測定対象イオン濃度（ｉ＝Ｃａ，Ｍｇ，Ｋ，Ｎ
ａ，Ｃｌ）［ｇ／ｌ］ Ａ1 ：測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ2 ：測定波数１６６０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ3 ：測定波数１６２０ｃｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ4 ：測定波数２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ5 ：測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６００ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ6 ：測定波数３６６０ｃｍ-1と参照波数３７４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ ａj 、ｂj 、ｃj 、ｄj 、ｅj ：重回帰係数（ｊ＝０〜
６）
ａ，Ｃｌ）［ｇ／ｌ］ Ａ1 ：測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ2 ：測定波数１６６０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ3 ：測定波数１６２０ｃｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ4 ：測定波数２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ5 ：測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６００ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ6 ：測定波数３６６０ｃｍ-1と参照波数３７４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ ａj 、ｂj 、ｃj 、ｄj 、ｅj ：重回帰係数（ｊ＝０〜
６）
【００３４】（１組の波数を用いた硫酸イオン濃度と吸
光度差の関係式）缶内液の成分濃度測定用とかん水の成
分濃度測定用の各々のサンプル溶液について、硫酸イオ
ンの吸収波数に関係する１組の波数における吸光度差を
成分濃度測定装置により測定し、硫酸イオンと１組の波
数における吸光度差との関係を示す次式 (6)のような関
係式を缶内液用とかん水用について作成した。
光度差の関係式）缶内液の成分濃度測定用とかん水の成
分濃度測定用の各々のサンプル溶液について、硫酸イオ
ンの吸収波数に関係する１組の波数における吸光度差を
成分濃度測定装置により測定し、硫酸イオンと１組の波
数における吸光度差との関係を示す次式 (6)のような関
係式を缶内液用とかん水用について作成した。
【００３５】
【数２】
【００３６】ただし、 ＣSO4 ：硫酸イオン濃度［ｇ／ｌ］ Ａ7 ：測定波数１１０４ｃｍ-1と参照波数１１５０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ ｆj ：重回帰係数（ｊ＝０，１）
-1の吸光度差［−］ ｆj ：重回帰係数（ｊ＝０，１）
【００３７】（１〜３組の波数を用いたカルシウム、マ
グネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成
分濃度と吸光度差の関係式）前記のカルシウム、マグネ
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成分濃
度に関係する関係式 (1)〜(5) は６組の波数の吸光度差
を用いて成分濃度との関係を表したものであるが、個々
のイオン濃度について濃度測定を行う場合には、測定に
用いる波数の組数を削減することができる。そこで、個
々のイオン濃度について最低限必要な波数の組数につい
て検討した結果、少なくとも１〜３組の波数の吸光度差
を測定すれば、関係式が作成できることがわかった。
グネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成
分濃度と吸光度差の関係式）前記のカルシウム、マグネ
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオンの成分濃
度に関係する関係式 (1)〜(5) は６組の波数の吸光度差
を用いて成分濃度との関係を表したものであるが、個々
のイオン濃度について濃度測定を行う場合には、測定に
用いる波数の組数を削減することができる。そこで、個
々のイオン濃度について最低限必要な波数の組数につい
て検討した結果、少なくとも１〜３組の波数の吸光度差
を測定すれば、関係式が作成できることがわかった。
【００３８】缶内液の成分濃度測定用の各々のサンプル
溶液について、測定対象とするイオン濃度に応じて１〜
３組の波数を次のように選択し、この選択した波数にお
ける吸光度差を成分濃度測定装置により溶液温度２５
℃、５０℃、７５℃で測定した。
溶液について、測定対象とするイオン濃度に応じて１〜
３組の波数を次のように選択し、この選択した波数にお
ける吸光度差を成分濃度測定装置により溶液温度２５
℃、５０℃、７５℃で測定した。
【００３９】カルシウムイオン濃度に関しては測定波数
１６２０ｃｍ-1参照波数１６６０ｃｍ-1、測定波数２３
３０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ-1の２組の波数におけ
る吸光度差を測定した。
１６２０ｃｍ-1参照波数１６６０ｃｍ-1、測定波数２３
３０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ-1の２組の波数におけ
る吸光度差を測定した。
【００４０】マグネシウムイオン濃度に関しては測定波
数３１５０ｃｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の１組の波数
における吸光度差を測定した。
数３１５０ｃｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の１組の波数
における吸光度差を測定した。
【００４１】カリウムイオン濃度に関しては測定波数１
７１０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ -1、測定波数１６６
０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ-1、測定波数３１５０ｃ
ｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の３組の波数における吸光
度差を測定した。
７１０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ -1、測定波数１６６
０ｃｍ-1参照波数２０４０ｃｍ-1、測定波数３１５０ｃ
ｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の３組の波数における吸光
度差を測定した。
【００４２】ナトリウムイオン濃度に関しては測定波数
３１５０ｃｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の１組の波数に
おける吸光度差を測定した。
３１５０ｃｍ-1参照波数２６００ｃｍ-1の１組の波数に
おける吸光度差を測定した。
【００４３】塩化物イオン濃度に関しては測定波数３６
６０ｃｍ-1参照波数３７４０ｃｍ-1の１組の波数におけ
る吸光度差を測定した。
６０ｃｍ-1参照波数３７４０ｃｍ-1の１組の波数におけ
る吸光度差を測定した。
【００４４】そして、各イオン濃度を目的変数、吸光度
差を説明変数とした重回帰法により、吸光度差から各イ
オン濃度を算出するための (7)〜(11)式のような関係式
を各々作成した。
差を説明変数とした重回帰法により、吸光度差から各イ
オン濃度を算出するための (7)〜(11)式のような関係式
を各々作成した。
【００４５】
【数３】
【００４６】ただし、 Ｃi ：測定対象イオン濃度（ｉ＝Ｃａ，Ｍｇ，Ｋ，Ｎ
ａ，Ｃｌ）［ｇ／ｌ］ Ａ1 ：測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ2 ：測定波数１６６０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ3 ：測定波数１６２０ｃｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ4 ：測定波数２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ5 ：測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６００ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ6 ：測定波数３６６０ｃｍ-1と参照波数３７４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ ｇj 、ｈj 、ｍj 、ｎj 、ｐj ：重回帰係数（ｊ＝０〜
６）
ａ，Ｃｌ）［ｇ／ｌ］ Ａ1 ：測定波数１７１０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ2 ：測定波数１６６０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ3 ：測定波数１６２０ｃｍ-1と参照波数１６６０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ4 ：測定波数２２３０ｃｍ-1と参照波数２０４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ5 ：測定波数３１５０ｃｍ-1と参照波数２６００ｃｍ
-1の吸光度差［−］ Ａ6 ：測定波数３６６０ｃｍ-1と参照波数３７４０ｃｍ
-1の吸光度差［−］ ｇj 、ｈj 、ｍj 、ｎj 、ｐj ：重回帰係数（ｊ＝０〜
６）
【００４７】（成分濃度の測定）次に、以上のように作
成した関係式から成分濃度の測定を行った一例について
説明する。
成した関係式から成分濃度の測定を行った一例について
説明する。
【００４８】（水の吸収波数に関係する６組の波数と硫
酸イオンの吸収波数に関係する１組の波数を用いた成分
濃度の測定）缶内液相当溶液とかん水相当溶液の各々の
サンプル溶液について、水の吸収波数に関係する６組の
波数における吸光度差と硫酸イオンの吸収波数に関係す
る１組の波数における吸光度差を成分濃度測定装置によ
り測定し、缶内液の成分濃度測定用のイオン濃度と吸光
度差の関係式と、かん水の成分濃度測定用のイオン濃度
と吸光度差の関係式から、各々、カルシウム、マグネシ
ウム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンの濃
度を算出した値を測定値として、分析値との比較を行っ
た。なお、溶液温度は缶内液相当溶液は２５℃、５０
℃、７５℃の３点、かん水相当溶液は１５℃、２５℃、
３５℃の３点とした。
酸イオンの吸収波数に関係する１組の波数を用いた成分
濃度の測定）缶内液相当溶液とかん水相当溶液の各々の
サンプル溶液について、水の吸収波数に関係する６組の
波数における吸光度差と硫酸イオンの吸収波数に関係す
る１組の波数における吸光度差を成分濃度測定装置によ
り測定し、缶内液の成分濃度測定用のイオン濃度と吸光
度差の関係式と、かん水の成分濃度測定用のイオン濃度
と吸光度差の関係式から、各々、カルシウム、マグネシ
ウム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンの濃
度を算出した値を測定値として、分析値との比較を行っ
た。なお、溶液温度は缶内液相当溶液は２５℃、５０
℃、７５℃の３点、かん水相当溶液は１５℃、２５℃、
３５℃の３点とした。
【００４９】一例として図４〜図９に溶液温度２５℃で
の缶内液相当溶液についてのカルシウム、マグネシウ
ム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオ
ン濃度の測定値と分析値との関係について示し、次表２
に溶液温度が各々２５℃、５０℃、７５℃の缶内液相当
溶液の成分濃度の測定値と分析値との相関係数について
示す。
の缶内液相当溶液についてのカルシウム、マグネシウ
ム、カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオ
ン濃度の測定値と分析値との関係について示し、次表２
に溶液温度が各々２５℃、５０℃、７５℃の缶内液相当
溶液の成分濃度の測定値と分析値との相関係数について
示す。
【００５０】
【表２】
【００５１】このように、いずれの場合においても、相
関係数ｒ＝０．９６以上の非常に高い相関が得られた。
この結果から、この実施例の成分濃度測定方法によれ
ば、製塩工程の缶内液中のカルシウム、マグネシウム、
カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオン濃
度を溶液温度２５〜７５℃の範囲において高い精度で測
定できることがわかる。
関係数ｒ＝０．９６以上の非常に高い相関が得られた。
この結果から、この実施例の成分濃度測定方法によれ
ば、製塩工程の缶内液中のカルシウム、マグネシウム、
カリウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオン濃
度を溶液温度２５〜７５℃の範囲において高い精度で測
定できることがわかる。
【００５２】また、次表３に溶液温度が各々１５℃、２
５℃、３５℃のかん水相当溶液の成分濃度の測定値と分
析値との相関係数について示す。
５℃、３５℃のかん水相当溶液の成分濃度の測定値と分
析値との相関係数について示す。
【００５３】
【表３】
【００５４】このように、いずれの場合においても、相
関係数ｒ＝０．９１以上の高い相関が得られた。この結
果から、この実施例の分濃度測定方法によれば、製塩工
程のかん水中のカルシウム、マグネシウム、カリウム、
ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオン濃度を溶液温
度１５〜３５℃の範囲において高い精度で測定できるこ
とがわかる。
関係数ｒ＝０．９１以上の高い相関が得られた。この結
果から、この実施例の分濃度測定方法によれば、製塩工
程のかん水中のカルシウム、マグネシウム、カリウム、
ナトリウム、塩化物、硫酸イオンのイオン濃度を溶液温
度１５〜３５℃の範囲において高い精度で測定できるこ
とがわかる。
【００５５】（水の吸収波数に関係する１〜３組の波数
を用いた成分濃度の測定）缶内液相当溶液のサンプル溶
液について、前記１〜３組の波数における吸光度差を成
分濃度測定装置により溶液温度２５℃、５０℃、７５℃
で測定し、前記１〜３組の波数を用いた缶内液の成分濃
度測定用のイオン濃度と吸光度差との関係式から、各
々、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオンのイオン濃度を算出した値を測定値と
して、分析値との比較を行った。
を用いた成分濃度の測定）缶内液相当溶液のサンプル溶
液について、前記１〜３組の波数における吸光度差を成
分濃度測定装置により溶液温度２５℃、５０℃、７５℃
で測定し、前記１〜３組の波数を用いた缶内液の成分濃
度測定用のイオン濃度と吸光度差との関係式から、各
々、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオンのイオン濃度を算出した値を測定値と
して、分析値との比較を行った。
【００５６】一例として図１０〜図１４に、溶液温度２
５℃での缶内液相当溶液についてのカルシウム、マグネ
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度の測
定値と分析値との関係について示し、次表４に溶液温度
が各々２５℃、５０℃、７５℃の缶内液相当溶液の成分
濃度の測定値と分析値との相関係数について示す。
５℃での缶内液相当溶液についてのカルシウム、マグネ
シウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度の測
定値と分析値との関係について示し、次表４に溶液温度
が各々２５℃、５０℃、７５℃の缶内液相当溶液の成分
濃度の測定値と分析値との相関係数について示す。
【００５７】
【表４】
【００５８】このように、いずれの場合においても、相
関係数ｒ＝０．９４以上の非常に高い相関が得られ、６
組の波数を用いた場合に比べ若干精度が低くなったが、
１〜３組の波数の吸光度を用いた方法でも缶内液中のカ
ルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化
物イオン濃度を溶液温度２５〜７５℃の範囲において高
い精度で測定できることがわかる。
関係数ｒ＝０．９４以上の非常に高い相関が得られ、６
組の波数を用いた場合に比べ若干精度が低くなったが、
１〜３組の波数の吸光度を用いた方法でも缶内液中のカ
ルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウム、塩化
物イオン濃度を溶液温度２５〜７５℃の範囲において高
い精度で測定できることがわかる。
【００５９】（実施例２）図２は本発明の一実施例の製
塩工程における成分濃度測定システムの概要を示す図で
あり、前記図３について説明した成分濃度測定装置と同
様の要素には図３と同符号を付記してある。
塩工程における成分濃度測定システムの概要を示す図で
あり、前記図３について説明した成分濃度測定装置と同
様の要素には図３と同符号を付記してある。
【００６０】晶析装置５は製塩工程の一部であり、この
晶析装置５の結晶缶５Ａには図示しない前段の装置でか
ん水を濃縮して得られた母液あるいは濃縮かん水が原料
溶液Ａ′として供給される。
晶析装置５の結晶缶５Ａには図示しない前段の装置でか
ん水を濃縮して得られた母液あるいは濃縮かん水が原料
溶液Ａ′として供給される。
【００６１】結晶缶５Ａには循環ポンプ５Ｂを介して加
熱器５Ｃが設けられており、結晶缶５Ａ内に充填された
原料溶液Ａ′は、加熱器５Ｃを循環しながらこの加熱器
５Ｃに供給される蒸気によって加熱され、結晶缶５Ａか
らの水蒸気の蒸発により濃縮されて食塩が析出する。そ
して、沈殿した食塩が結晶缶５Ａの下部から取り出され
る。
熱器５Ｃが設けられており、結晶缶５Ａ内に充填された
原料溶液Ａ′は、加熱器５Ｃを循環しながらこの加熱器
５Ｃに供給される蒸気によって加熱され、結晶缶５Ａか
らの水蒸気の蒸発により濃縮されて食塩が析出する。そ
して、沈殿した食塩が結晶缶５Ａの下部から取り出され
る。
【００６２】また、循環ポンプ５Ｂと加熱器５Ｃとを連
通する循環ラインｇには、加熱器５Ｃをバイパスするサ
ンプリングラインａ′が設けられており、循環ラインｇ
の原料溶液はポンプ４Ａによりサンプリングラインａ′
からポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲセル
２に導かれる。また、ＡＴＲセル２の排出ラインｅは循
環ラインに接続されており、ＡＴＲセル２のフローセル
２Ｂを通過した原料溶液は循環ラインに戻される。さら
に、サンプリングラインａ′には、コンピュータ３で制
御される排出弁６に通じる排出ラインｆが設けられてお
り、原料溶液を排出できるようになっている。なお、こ
の排出された原料溶液は図示しない後段の装置に送液さ
れる。
通する循環ラインｇには、加熱器５Ｃをバイパスするサ
ンプリングラインａ′が設けられており、循環ラインｇ
の原料溶液はポンプ４Ａによりサンプリングラインａ′
からポンプ４Ａおよび供給ラインｄを通じてＡＴＲセル
２に導かれる。また、ＡＴＲセル２の排出ラインｅは循
環ラインに接続されており、ＡＴＲセル２のフローセル
２Ｂを通過した原料溶液は循環ラインに戻される。さら
に、サンプリングラインａ′には、コンピュータ３で制
御される排出弁６に通じる排出ラインｆが設けられてお
り、原料溶液を排出できるようになっている。なお、こ
の排出された原料溶液は図示しない後段の装置に送液さ
れる。
【００６３】以上の構成により、ＦＴ−ＩＲ１は、ＡＴ
Ｒセル２のプリズム２Ａ内に赤外線を発生してプリズム
２Ａ内で多重反射した赤外線を検知して、検知した赤外
線の波数と強度の関係を示すスペクトル情報を出力し、
コンピュータ３はこのスペクトル情報から赤外線吸収ス
ペクトルを作成し、この赤外線吸収スペクトルから水の
吸収波長に関係する前記１〜６組の波数の吸光度差と、
硫酸イオンの吸収波数に関係する前記１組の波数の吸光
度を選択的に測定する。そして、吸光度差と各イオン濃
度の関係式から各イオン濃度を算出し、このイオン濃度
と予め決められた管理基準に基づいて排出弁６を制御し
て原料溶液の濃度を調節する。
Ｒセル２のプリズム２Ａ内に赤外線を発生してプリズム
２Ａ内で多重反射した赤外線を検知して、検知した赤外
線の波数と強度の関係を示すスペクトル情報を出力し、
コンピュータ３はこのスペクトル情報から赤外線吸収ス
ペクトルを作成し、この赤外線吸収スペクトルから水の
吸収波長に関係する前記１〜６組の波数の吸光度差と、
硫酸イオンの吸収波数に関係する前記１組の波数の吸光
度を選択的に測定する。そして、吸光度差と各イオン濃
度の関係式から各イオン濃度を算出し、このイオン濃度
と予め決められた管理基準に基づいて排出弁６を制御し
て原料溶液の濃度を調節する。
【００６４】晶析装置５の運転により晶析缶５Ａ内の原
料溶液濃度は次第に高くなるが、これに対してコンピュ
ータ３と排出弁６は原料溶液濃度を制御する制御機構を
構成している。すなわち、所定成分濃度が管理基準とし
て定められており、コンピュータ３は、測定した各イオ
ン濃度に基づいて原料溶液が管理基準より濃縮されてい
るか否かを判定し、管理基準以上に濃縮された場合に
は、排出弁６を開いて原料溶液Ａ′を排出し、原料溶液
濃度が管理基準付近になるように制御する。
料溶液濃度は次第に高くなるが、これに対してコンピュ
ータ３と排出弁６は原料溶液濃度を制御する制御機構を
構成している。すなわち、所定成分濃度が管理基準とし
て定められており、コンピュータ３は、測定した各イオ
ン濃度に基づいて原料溶液が管理基準より濃縮されてい
るか否かを判定し、管理基準以上に濃縮された場合に
は、排出弁６を開いて原料溶液Ａ′を排出し、原料溶液
濃度が管理基準付近になるように制御する。
【００６５】ここで、上記実施例のシステムを用いて、
管理基準をマグネシウムイオン濃度を５０［ｇ／ｌ］と
して、晶析装置５の運転を行った場合の原料溶液Ａ′の
マグネシウム濃度の分析値と測定値との経時間変化を図
１５に示した。同図より、分析値と測定値との間にはほ
とんど差がなく、また、マグネシウムイオン濃度は５０
［ｇ／ｌ］±３［ｇ／ｌ］の範囲で制御されており、こ
の実施例のシステムが工程制御に有効であることがわか
る。
管理基準をマグネシウムイオン濃度を５０［ｇ／ｌ］と
して、晶析装置５の運転を行った場合の原料溶液Ａ′の
マグネシウム濃度の分析値と測定値との経時間変化を図
１５に示した。同図より、分析値と測定値との間にはほ
とんど差がなく、また、マグネシウムイオン濃度は５０
［ｇ／ｌ］±３［ｇ／ｌ］の範囲で制御されており、こ
の実施例のシステムが工程制御に有効であることがわか
る。
【００６６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、赤
外線の水の吸収波数、その倍音の波数、硫酸イオンの吸
収波数を測定波数として、また、成分濃度によりほとん
ど影響を受けない波数を参照波数としてそれぞれ選定
し、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物、硫酸イオンを含む溶液についての測定波数
と参照波数の吸光度差を測定し、カルシウム、マグネシ
ウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を測定
波数と参照波数についての１〜６組の吸光度差で表した
関係式を、また、硫酸イオン濃度を測定波数と参照波数
についての１組の吸光度差で表した関係式を、それぞれ
予め定めておき、製塩工程におけるかん水または缶内液
のサンプリング溶液について測定波数と参照波数につい
ての２〜７組の吸光度差を測定し、測定した水の吸収波
数に関係する１〜６組の吸光度差から前記関係式に基づ
いてかん水または缶内液のカルシウム、マグネシウム、
カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を求め、測定
した硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の吸光度差か
ら前記関係式に基づいてかん水または缶内液の硫酸イオ
ン濃度を求めるようにしたので、製塩工程において、か
ん水、缶内液の主成分であるナトリウム、塩化物イオ
ン、不純物であるカルシウム、マグネシウム、カリウ
ム、硫酸イオンの６成分の濃度をインラインで迅速、か
つ、信頼性高く測定することができる。
外線の水の吸収波数、その倍音の波数、硫酸イオンの吸
収波数を測定波数として、また、成分濃度によりほとん
ど影響を受けない波数を参照波数としてそれぞれ選定
し、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物、硫酸イオンを含む溶液についての測定波数
と参照波数の吸光度差を測定し、カルシウム、マグネシ
ウム、カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を測定
波数と参照波数についての１〜６組の吸光度差で表した
関係式を、また、硫酸イオン濃度を測定波数と参照波数
についての１組の吸光度差で表した関係式を、それぞれ
予め定めておき、製塩工程におけるかん水または缶内液
のサンプリング溶液について測定波数と参照波数につい
ての２〜７組の吸光度差を測定し、測定した水の吸収波
数に関係する１〜６組の吸光度差から前記関係式に基づ
いてかん水または缶内液のカルシウム、マグネシウム、
カリウム、ナトリウム、塩化物イオン濃度を求め、測定
した硫酸イオンの吸収波数に関係する１組の吸光度差か
ら前記関係式に基づいてかん水または缶内液の硫酸イオ
ン濃度を求めるようにしたので、製塩工程において、か
ん水、缶内液の主成分であるナトリウム、塩化物イオ
ン、不純物であるカルシウム、マグネシウム、カリウ
ム、硫酸イオンの６成分の濃度をインラインで迅速、か
つ、信頼性高く測定することができる。
【図１】本発明に係る塩類溶液の赤外線吸収スペクトル
を示す図である。
を示す図である。
【図２】本発明の実施例の製塩工程における成分濃度測
定システムの概要を示す図である。
定システムの概要を示す図である。
【図３】本発明の実施例に係る成分濃度測定装置の概要
を示す図である。
を示す図である。
【図４】実施例における６組の波数の吸光度差を用いて
測定したカルシウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
測定したカルシウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
【図５】実施例における６組の波数の吸光度差を用いて
測定したマグネシウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
測定したマグネシウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
【図６】実施例における６組の波数の吸光度差を用いて
測定したカリウムイオン濃度の測定値と分析値との関係
を示す図である。
測定したカリウムイオン濃度の測定値と分析値との関係
を示す図である。
【図７】実施例における６組の波数の吸光度差を用いて
測定したナトリウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
測定したナトリウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
【図８】実施例における６組の波数の吸光度差を用いて
測定した塩化物イオン濃度の測定値と分析値との関係を
示す図である。
測定した塩化物イオン濃度の測定値と分析値との関係を
示す図である。
【図９】実施例における１組の波数の吸光度差を用いて
測定した硫酸イオン濃度の測定値と分析値との関係を示
す図である。
測定した硫酸イオン濃度の測定値と分析値との関係を示
す図である。
【図１０】実施例における２組の波数の吸光度差を用い
て測定したカルシウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
て測定したカルシウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
【図１１】実施例における１組の波数の吸光度差を用い
て測定したマグネシウムイオン濃度の測定値と分析値と
の関係を示す図である。
て測定したマグネシウムイオン濃度の測定値と分析値と
の関係を示す図である。
【図１２】実施例における３組の波数の吸光度差を用い
て測定したカリウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
て測定したカリウムイオン濃度の測定値と分析値との関
係を示す図である。
【図１３】実施例における１組の波数の吸光度差を用い
て測定したナトリウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
て測定したナトリウムイオン濃度の測定値と分析値との
関係を示す図である。
【図１４】実施例における１組の波数の吸光度差を用い
て測定した塩化物イオン濃度の測定値と分析値との関係
を示す図である。
て測定した塩化物イオン濃度の測定値と分析値との関係
を示す図である。
【図１５】実施例の製塩工程における成分濃度測定シス
テムを用いて、晶析装置の運転を行った場合の原料溶液
のマグネシウム濃度の分析値と測定値との経時変化を示
す図である。
テムを用いて、晶析装置の運転を行った場合の原料溶液
のマグネシウム濃度の分析値と測定値との経時変化を示
す図である。
１…ＦＴ−ＩＲ、２…ＡＴＲセル、３…コンピュータ、
４…サンプリング装置、４Ａ，４Ｂ…ポンプ、４Ｃ，４
Ｄ，４Ｅ…電磁弁、５…晶析装置、５Ａ…晶析缶、５Ｂ
…循環ポンプ、５Ｃ…加熱器、６…排出弁、Ａ…サンプ
ル溶液、Ｂ…蒸留水、Ｃ…洗浄水、ａ…サンプリングラ
イン、ｂ…蒸留水供給ライン、ｃ…洗浄ライン、ｄ…供
給ライン、ｅ，ｆ…排出ライン、ｇ…循環ライン。
４…サンプリング装置、４Ａ，４Ｂ…ポンプ、４Ｃ，４
Ｄ，４Ｅ…電磁弁、５…晶析装置、５Ａ…晶析缶、５Ｂ
…循環ポンプ、５Ｃ…加熱器、６…排出弁、Ａ…サンプ
ル溶液、Ｂ…蒸留水、Ｃ…洗浄水、ａ…サンプリングラ
イン、ｂ…蒸留水供給ライン、ｃ…洗浄ライン、ｄ…供
給ライン、ｅ，ｆ…排出ライン、ｇ…循環ライン。
Claims (8)
- 【請求項１】 製塩工程における、イオン交換膜電気透
析装置で濃縮されたかん水または晶析缶に収容された缶
内液中の成分濃度を測定する製塩工程における成分濃度
測定システムであって、 赤外線における水の吸収波数、その倍音の波数、硫酸イ
オンの吸収波数を測定波数として、また、成分濃度によ
りほとんど影響を受けない波数を参照波数としてそれぞ
れ選定し、予め調整したカルシウム、マグネシウム、カ
リウム、ナトリウム、塩化物、硫酸イオンを含む水溶液
についての上記測定波数と参照波数の吸光度差を測定
し、カルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオン濃度については水の吸収波数およびそ
の倍音の波数の上記測定波数と参照波数についての１〜
６組の吸光度差で表した関係式を、また硫酸イオン濃度
については硫酸イオンの吸収波数の測定波数と参照波数
についての１組の吸光度差で表した関係式を予め定めて
おき、 前記かん水または缶内液のサンプリング溶液について前
記硫酸イオンの吸収波数を含む２〜７組の前記測定波数
と参照波数についての吸光度差を測定し、該測定した水
の吸収波数およびその倍音の波数に関係する１〜６組の
吸光度差から前記関係式に基づいて前記かん水または缶
内液のカルシウム、マグネシウム、カリウム、ナトリウ
ム、塩化物イオン濃度を求めるとともに、硫酸イオンの
吸収波数に関係する１組の吸光度差から前記関係式に基
づいて前記かん水または缶内液の硫酸イオン濃度を求め
るようにしたことを特徴とする製塩工程における成分濃
度測定システム。 - 【請求項２】 カルシウム、マグネシウム、カリウム、
ナトリウム、塩化物イオンの濃度測定用に、測定波数と
して水の変角振動波数１７１０ｃｍ-1参照波数として２
０４０ｃｍ-1、測定波数として水の変角振動波数１６６
０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数とし
て水の変角振動波数１６２０ｃｍ-1参照波数として１６
６０ｃｍ-1、測定波数として水の変角振動波数２２３０
ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数として
水の変角振動の倍音波数３１５０ｃｍ-1参照波数として
２６００ｃｍ-1、測定波数として水の伸縮振動波数３６
６０ｃｍ-1参照波数として３７４０ｃｍ-1の６組の波数
を、硫酸イオン濃度測定用の測定波数として硫酸イオン
の伸縮振動波数１１０４ｃｍ-1参照波数として１１５０
ｃｍ-1の１組の波数を選択するようにしたことを特徴と
する請求項１記載の製塩工程における成分濃度測定シス
テム。 - 【請求項３】 測定波数として水の変角振動波数１６２
０ｃｍ-1参照波数として１６６０ｃｍ-1、測定波数とし
て水の変角振動波数２２３０ｃｍ-1参照波数として２０
４０ｃｍ-1の２組の波数を選択してカルシウムイオン濃
度を求めるようにしたことを特徴とする請求項１記載の
製塩工程における成分濃度測定システム。 - 【請求項４】 測定波数として水の変角振動の倍音波数
３１５０ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の
波数を選択してマグネシウムイオン濃度を求めるように
したことを特徴とする請求項１記載の製塩工程における
成分濃度測定システム。 - 【請求項５】 測定波数として水の変角振動波数１７１
０ｃｍ-1参照波数として２０４０ｃｍ-1、測定波数とし
て水の変角振動波数１６６０ｃｍ-1参照波数として２０
４０ｃｍ-1、測定波数として水の変角振動の倍音波数３
１５０ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の３組の波
数を選択してカリウムイオン濃度を求めるようにしたこ
とを特徴とする請求項１記載の製塩工程における成分濃
度測定システム。 - 【請求項６】 測定波数として水の変角振動の倍音波数
３１５０ｃｍ-1参照波数として２６００ｃｍ-1の１組の
波数を選択してナトリウムイオン濃度を求めるようにし
たことを特徴とする請求項１記載の製塩工程における成
分濃度測定システム。 - 【請求項７】 測定波数として水の伸縮振動波数３６６
０ｃｍ-1参照波数として３７４０ｃｍ-1の１組の波数を
選択して塩化物イオン濃度を求めるようにしたことを特
徴とする請求項１記載の製塩工程における成分濃度測定
システム。 - 【請求項８】 測定波数として硫酸イオンの伸縮振動波
数１１０４ｃｍ-1参照波数として１１５０ｃｍ-1の１組
の波数を選択して硫酸イオン濃度を求めるようにしたこ
とを特徴とする請求項１記載の製塩工程における成分濃
度測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7043097A JPH08240527A (ja) | 1995-03-02 | 1995-03-02 | 製塩工程における成分濃度測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7043097A JPH08240527A (ja) | 1995-03-02 | 1995-03-02 | 製塩工程における成分濃度測定システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08240527A true JPH08240527A (ja) | 1996-09-17 |
Family
ID=12654343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7043097A Pending JPH08240527A (ja) | 1995-03-02 | 1995-03-02 | 製塩工程における成分濃度測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08240527A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003002987A1 (fr) * | 2001-06-28 | 2003-01-09 | Advantest Corporation | Procede et dispositif de detection de composants chimiques |
| JP2007272084A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Kyocera Mita Corp | 電子写真感光体用塗布液の検査方法、管理方法および電子写真感光体の製造方法 |
| JP2009042160A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 水トリー中のイオン分析方法 |
| JP2011185671A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Osaka Gas Co Ltd | 界面活性剤濃度制御装置及びこれを備えた熱搬送システム |
| JP2012005953A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 晶析過程制御方法および装置 |
| CN106104259A (zh) * | 2014-03-14 | 2016-11-09 | 泰尔茂株式会社 | 成分测定装置、方法以及程序 |
-
1995
- 1995-03-02 JP JP7043097A patent/JPH08240527A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003002987A1 (fr) * | 2001-06-28 | 2003-01-09 | Advantest Corporation | Procede et dispositif de detection de composants chimiques |
| JP2003083887A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-03-19 | Advantest Corp | 化学物質検出方法及び装置 |
| JP2007272084A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Kyocera Mita Corp | 電子写真感光体用塗布液の検査方法、管理方法および電子写真感光体の製造方法 |
| JP2009042160A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 水トリー中のイオン分析方法 |
| JP2011185671A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Osaka Gas Co Ltd | 界面活性剤濃度制御装置及びこれを備えた熱搬送システム |
| JP2012005953A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 晶析過程制御方法および装置 |
| CN106104259A (zh) * | 2014-03-14 | 2016-11-09 | 泰尔茂株式会社 | 成分测定装置、方法以及程序 |
| CN106104259B (zh) * | 2014-03-14 | 2018-11-09 | 泰尔茂株式会社 | 成分测定装置、方法以及存储介质 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19971111 |