JP2012005953A - 晶析過程制御方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テラヘルツ波W1は、試料溶液1に照射され、試料溶液1を透過したテラヘルツ波W2は、放物面鏡13により平行光となり、検出部4に至る。検出器4は、テラヘルツ波W2を検出し、その検出値は計算制御部5に送られる。計算制御部5は、検出値をフーリエ変換により0.1〜10THzの周波数の関数に変換し、これに基づいて、試料溶液1の単位厚さおよび対象成分の単位濃度に対応するように正規化した吸収特性スペクトルやその変化を得る。計算制御部5は、例えば、得た吸収特性スペクトルや変化に基づいて、結晶構造が過飽和や準安定状態であることが分かったら、過飽和や準安定状態に適した晶析条件を設定し、これにより試料を目的の多形やサイズに成長・析出させる。
【選択図】図1
Description
2…載置部
3…照射部
4…検出部
5…計算制御部
6…圧力調整部
7…温度調整部
8…光源
9…パルス発生器
10…晶析過程制御装置
11…チャンバ
11a…光学窓
12、13…放物面鏡
14…ガス圧制御弁
14a…ガス導入管
15…真空ポンプ
15a…経路
16…真空ゲージ
17…冷媒タンク
17a…経路
18、18a…ヒーター
19…温度センサ
Claims (5)
- 晶析過程の試料に電磁波を照射するステップと、
前記試料を透過または反射した電磁波を検出するステップと、
前記電磁波により前記試料の吸収特性スペクトルを得るステップと、
前記吸収特性スペクトルに基づいて前記試料の結晶構造を得るステップと、
前記結晶構造に基づいて前記試料の晶析条件を制御するステップと
を有することを特徴とする晶析過程制御方法。 - 前記結晶構造を得るステップは、前記吸収特性スペクトルに基づいて前記試料の分子間の配列構造または前記試料のイオン間の配列構造を得るものである
ことを特徴とする請求項1記載の晶析過程制御方法。 - 予め前記試料の吸収特性スペクトルまたは吸収特性スペクトルの変化の様子と該吸収特性スペクトルまたは該吸収特性スペクトルの変化の様子が所見されたときの前記試料の結晶構造または結晶構造の変化の様子とが互いに対応づけて記憶されており、
前記結晶構造を得るステップは、前記得られた吸収特性スペクトルまたは変化の様子に対応づけて記憶されている結晶構造または変化の様子を得るものである
ことを特徴とする請求項1または2記載の晶析過程制御方法。 - 試料を載置する載置部と、
晶析過程の前記試料に電磁波を照射する照射部と、
前記試料を透過または反射した電磁波を検出する検出部と、
予め前記試料の吸収特性スペクトルと該吸収特性スペクトルが得られたときの前記試料の結晶構造とを互いに対応づけて記憶し、前記検出部で検出された電磁波により前記試料の吸収特性スペクトルを得て、前記得られた吸収特性スペクトルに対応づけて記憶されている結晶構造を得て、当該結晶構造に基づいて前記結晶の晶析条件を制御する計算制御部と
を備えることを特徴とする晶析過程制御装置。 - 前記試料の温度を調整する温度調整部と、
前記試料の雰囲気の圧力を調整する圧力調整部とを備え、
前記計算制御部は、
前記結晶構造に基づいて前記温度調整部と前記圧力調整部の少なくとも一方を制御する
ことを特徴とする請求項4記載の晶析過程制御装置。
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