JPH08220073A - 渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置 - Google Patents
渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置Info
- Publication number
- JPH08220073A JPH08220073A JP7022935A JP2293595A JPH08220073A JP H08220073 A JPH08220073 A JP H08220073A JP 7022935 A JP7022935 A JP 7022935A JP 2293595 A JP2293595 A JP 2293595A JP H08220073 A JPH08220073 A JP H08220073A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出した欠陥の位置・寸法を精度良く求め
ることができ、欠陥寸法を精度良く求めることがで
き、欠陥の寸法、位置を自動的に評価することができ
る。 【構成】 先ずスキャナ３により被検体８表面上の渦電
流センサ１をセンサコイルの直径よりも細かいピッチで
移動、走査させて、各位置での検出データを取得する。
またこの各位置での検出データと電流分布入力装置８に
予め入力している渦電流の分布データとを演算処理装置
８へ送り、ここでは、微小ピッチでの検出データと渦電
流の分布データとに基づき各位置での探傷結果の度合
い、即ち、渦電流センサのコイルの検出データに対して
被検体各部が及ぼす影響の割合を求めて、検出データを
被検体の各位置に振り分けていく処理を行い、この処理
結果を一定のレベルでカットすることにより、被検体８
内部の欠陥の位置・寸法を求めて、欠陥寸法を評価し、
この欠陥寸法評価結果を結果表示装置７へ送って、表示
する。
ることができ、欠陥寸法を精度良く求めることがで
き、欠陥の寸法、位置を自動的に評価することができ
る。 【構成】 先ずスキャナ３により被検体８表面上の渦電
流センサ１をセンサコイルの直径よりも細かいピッチで
移動、走査させて、各位置での検出データを取得する。
またこの各位置での検出データと電流分布入力装置８に
予め入力している渦電流の分布データとを演算処理装置
８へ送り、ここでは、微小ピッチでの検出データと渦電
流の分布データとに基づき各位置での探傷結果の度合
い、即ち、渦電流センサのコイルの検出データに対して
被検体各部が及ぼす影響の割合を求めて、検出データを
被検体の各位置に振り分けていく処理を行い、この処理
結果を一定のレベルでカットすることにより、被検体８
内部の欠陥の位置・寸法を求めて、欠陥寸法を評価し、
この欠陥寸法評価結果を結果表示装置７へ送って、表示
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、発電プラント等の非破
壊検査に適用される渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置
に関するものである。
壊検査に適用される渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の渦電流探傷装置を図６により説明
すると、１が渦電流センサで、同渦電流センサ１は、ス
キャナ９により被検体８の表面を一定ピッチで移動、走
査して、渦電流探傷装置２により各位置における探傷を
行う。なお図６では、渦電流センサ１を左右方向に移動
させているが、紙面と直交した奥行き方向にも順次移
動、走査して、探傷を行う。
すると、１が渦電流センサで、同渦電流センサ１は、ス
キャナ９により被検体８の表面を一定ピッチで移動、走
査して、渦電流探傷装置２により各位置における探傷を
行う。なお図６では、渦電流センサ１を左右方向に移動
させているが、紙面と直交した奥行き方向にも順次移
動、走査して、探傷を行う。
【０００３】７が渦電流探傷の結果表示装置で、同結果
表示装置７では、スキャナ制御装置４からの各位置デー
タと渦電流探傷装置２からの各探傷結果とを１対１で対
応させて、各位置での探傷結果（検出値）をそのまま表
示している。
表示装置７では、スキャナ制御装置４からの各位置デー
タと渦電流探傷装置２からの各探傷結果とを１対１で対
応させて、各位置での探傷結果（検出値）をそのまま表
示している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記図６に示す従来の
渦電流探傷装置では、被検体８の表面に複合した状態で
存在している欠陥や変形を、渦電流センサ１のコイルに
より一度にカバーできる範囲の平均的な変化として捉え
るようにしている。しかし検出しようとする欠陥等の信
号源の寸法が渦電流センサ１のコイルの径よりも小さい
場合や複数の欠陥等が隣接している場合には、上記平均
化した結果からでは、欠陥の寸法を分解能良く正確に求
めることができない。
渦電流探傷装置では、被検体８の表面に複合した状態で
存在している欠陥や変形を、渦電流センサ１のコイルに
より一度にカバーできる範囲の平均的な変化として捉え
るようにしている。しかし検出しようとする欠陥等の信
号源の寸法が渦電流センサ１のコイルの径よりも小さい
場合や複数の欠陥等が隣接している場合には、上記平均
化した結果からでは、欠陥の寸法を分解能良く正確に求
めることができない。
【０００５】また渦電流センサ１のコイルにより発生す
る渦電流は、領域・分布が異なってくるが、前記図６に
示す従来の渦電流探傷装置では、渦電流が略均一に発生
するものとして、処理を行っており、このため、渦電流
センサ１により欠陥等が検出された場合、欠陥が存在す
ると考えられる範囲が広くて、欠陥の位置を特定できな
いという問題があった。
る渦電流は、領域・分布が異なってくるが、前記図６に
示す従来の渦電流探傷装置では、渦電流が略均一に発生
するものとして、処理を行っており、このため、渦電流
センサ１により欠陥等が検出された場合、欠陥が存在す
ると考えられる範囲が広くて、欠陥の位置を特定できな
いという問題があった。
【０００６】本発明は前記の問題点に鑑み提案するもの
であり、その目的とする処は、検出した欠陥の位置・
寸法を精度良く求めることができ、欠陥寸法を精度良
く求めることができ、欠陥の寸法、位置を自動的に評
価することができる渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置
を提供しようとする点にある。
であり、その目的とする処は、検出した欠陥の位置・
寸法を精度良く求めることができ、欠陥寸法を精度良
く求めることができ、欠陥の寸法、位置を自動的に評
価することができる渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置
を提供しようとする点にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置は、
渦電流センサのコイルの直径よりも小さなピッチで被検
体の表面を走査するスキャナをもつ渦電流センサと、渦
電流センサのコイルにより被検体に発生する渦電流の分
布データを予め入力している電流分布入力装置と、微小
ピッチでの検出データと渦電流の分布データとに基づき
各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流センサのコ
イルの検出データに対して被検体各部が及ぼす影響の割
合を求めて検出データを被検体の各位置に振り分けてい
く処理を行いこの処理結果を一定のレベルでカットする
ことにより被検体内部の欠陥の位置・寸法を求めて欠陥
寸法を評価する演算処理装置と、同演算処理装置からの
欠陥寸法評価結果を表示する結果表示装置とを具えてい
る。
めに、本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置は、
渦電流センサのコイルの直径よりも小さなピッチで被検
体の表面を走査するスキャナをもつ渦電流センサと、渦
電流センサのコイルにより被検体に発生する渦電流の分
布データを予め入力している電流分布入力装置と、微小
ピッチでの検出データと渦電流の分布データとに基づき
各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流センサのコ
イルの検出データに対して被検体各部が及ぼす影響の割
合を求めて検出データを被検体の各位置に振り分けてい
く処理を行いこの処理結果を一定のレベルでカットする
ことにより被検体内部の欠陥の位置・寸法を求めて欠陥
寸法を評価する演算処理装置と、同演算処理装置からの
欠陥寸法評価結果を表示する結果表示装置とを具えてい
る。
【０００８】
【作用】本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置は
前記のように構成されており、次の作用が行われる。即
ち、先ずスキャナにより被検体表面上の渦電流センサを
センサコイルの直径よりも細かいピッチで移動、走査さ
せて、各位置での検出データを取得する。またこの各位
置での検出データと電流分布入力装置に予め入力してい
る渦電流の分布データとを演算処理装置へ送り、ここで
は、微小ピッチでの検出データと渦電流の分布データと
に基づき各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流セ
ンサのコイルの検出データに対して被検体各部が及ぼす
影響の割合を求めて、検出データを被検体の各位置に振
り分けていく処理を行い、この処理結果を一定のレベル
でカットすることにより、被検体内部の欠陥の位置・寸
法を求めて、欠陥寸法を評価し、この欠陥寸法評価結果
を結果表示装置へ送って、表示する。
前記のように構成されており、次の作用が行われる。即
ち、先ずスキャナにより被検体表面上の渦電流センサを
センサコイルの直径よりも細かいピッチで移動、走査さ
せて、各位置での検出データを取得する。またこの各位
置での検出データと電流分布入力装置に予め入力してい
る渦電流の分布データとを演算処理装置へ送り、ここで
は、微小ピッチでの検出データと渦電流の分布データと
に基づき各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流セ
ンサのコイルの検出データに対して被検体各部が及ぼす
影響の割合を求めて、検出データを被検体の各位置に振
り分けていく処理を行い、この処理結果を一定のレベル
でカットすることにより、被検体内部の欠陥の位置・寸
法を求めて、欠陥寸法を評価し、この欠陥寸法評価結果
を結果表示装置へ送って、表示する。
【０００９】
【実施例】次に本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価
装置を図１に示す一実施例により説明すると、１が渦電
流センサで、同渦電流センサ１は、被検体８の表面上を
細かいピッチで走査可能なスキャナ３と、同スキャナを
コントロールするスキャナ制御装置４とを有している。
装置を図１に示す一実施例により説明すると、１が渦電
流センサで、同渦電流センサ１は、被検体８の表面上を
細かいピッチで走査可能なスキャナ３と、同スキャナを
コントロールするスキャナ制御装置４とを有している。
【００１０】上記スキャナ制御装置４は、走査開始時に
は、走査開始信号を演算処理装置６へ送り、走査時に
は、渦電流センサ１の被検体８上での位置信号を演算処
理装置６へ送る。このスキャナ制御装置４は、図２に示
すように、渦電流センサ１のコイル径＝ｂよりも小さな
ピッチ＝ａで渦電流センサ１を移動させる。被検体８上
の各位置における渦電流センサ１からの検出信号を渦電
流探傷装置２より検出し、探傷結果である検出データを
渦電流探傷装置２→演算処理装置６へ送る。
は、走査開始信号を演算処理装置６へ送り、走査時に
は、渦電流センサ１の被検体８上での位置信号を演算処
理装置６へ送る。このスキャナ制御装置４は、図２に示
すように、渦電流センサ１のコイル径＝ｂよりも小さな
ピッチ＝ａで渦電流センサ１を移動させる。被検体８上
の各位置における渦電流センサ１からの検出信号を渦電
流探傷装置２より検出し、探傷結果である検出データを
渦電流探傷装置２→演算処理装置６へ送る。
【００１１】電流分布入力装置５には、図３に示すよう
に、渦電流センサ１のコイルにより得られるる被検体８
の渦電流の分布データが予め入力されている。スキャナ
制御装置４から演算処理装置６への走査開始信号によ
り、演算処理装置６は、電流分布入力装置５からの渦電
流分布データと、渦電流探傷装置２からの検出データ
と、スキャナ制御装置４からの位置信号とにより、欠陥
の寸法を求めて、得られた欠陥の寸法の評価結果を結果
表示装置７へ出力し、同結果表示装置７は、演算処理装
置６からの欠陥寸法評価結果を表示する。
に、渦電流センサ１のコイルにより得られるる被検体８
の渦電流の分布データが予め入力されている。スキャナ
制御装置４から演算処理装置６への走査開始信号によ
り、演算処理装置６は、電流分布入力装置５からの渦電
流分布データと、渦電流探傷装置２からの検出データ
と、スキャナ制御装置４からの位置信号とにより、欠陥
の寸法を求めて、得られた欠陥の寸法の評価結果を結果
表示装置７へ出力し、同結果表示装置７は、演算処理装
置６からの欠陥寸法評価結果を表示する。
【００１２】演算処理装置６内では、図４、図５に示す
処理が行われる。即ち、 （ａ）微小ピッチでの検出データと渦電流分布とに基づ
き各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流センサ１
のコイルの検出データに対して被検体各部が及ぼす影響
の割合を各位置の関数として求める。図１〜図３では、
左右方向についての走査方向及び渦電流分布を示してい
るが、紙面と直交した奥行き方向にも走査を行うととも
に、電流分布も奥行きを持った値として入力される。被
検体８の微小単位は、必要とする位置分解能のブロック
を意味する。 （ｂ）上記（ａ）項で求めた割合に応じて、探傷結果を
被検体微小単位に対応した結果の配列に振り分けていく
処理を行う。 （ｃ）全走査範囲の探傷結果について、上記（ｂ）項の
処理を行った結果の配列に対して、予め基準となる欠陥
により定めた一定のレベルでしきい値処理を行って、欠
陥の寸法・位置を特定する。 （ｄ）求めた被検体８内部の欠陥の位置・寸法の結果を
結果表示装置７へ出力する。
処理が行われる。即ち、 （ａ）微小ピッチでの検出データと渦電流分布とに基づ
き各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦電流センサ１
のコイルの検出データに対して被検体各部が及ぼす影響
の割合を各位置の関数として求める。図１〜図３では、
左右方向についての走査方向及び渦電流分布を示してい
るが、紙面と直交した奥行き方向にも走査を行うととも
に、電流分布も奥行きを持った値として入力される。被
検体８の微小単位は、必要とする位置分解能のブロック
を意味する。 （ｂ）上記（ａ）項で求めた割合に応じて、探傷結果を
被検体微小単位に対応した結果の配列に振り分けていく
処理を行う。 （ｃ）全走査範囲の探傷結果について、上記（ｂ）項の
処理を行った結果の配列に対して、予め基準となる欠陥
により定めた一定のレベルでしきい値処理を行って、欠
陥の寸法・位置を特定する。 （ｄ）求めた被検体８内部の欠陥の位置・寸法の結果を
結果表示装置７へ出力する。
【００１３】なお電流分布入力装置５にについては、渦
電流センサの形状・寸法を与えることにより、同様に、
発生する渦電流の分布を計算できる渦電流分布解析装置
に置き換えることも可能である。
電流センサの形状・寸法を与えることにより、同様に、
発生する渦電流の分布を計算できる渦電流分布解析装置
に置き換えることも可能である。
【００１４】
【発明の効果】本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価
装置によれば、次の効果を達成できる。即ち （１）渦電流探傷装置において、検出した欠陥の位置・
寸法を精度良く求めることができる。 （２）渦電流の分布を入力することにより、渦電流セン
サの各種コイルに対応して、同様に欠陥寸法を精度良く
求めることができる。 （３）欠陥の寸法、位置を自動的に評価することができ
る。
装置によれば、次の効果を達成できる。即ち （１）渦電流探傷装置において、検出した欠陥の位置・
寸法を精度良く求めることができる。 （２）渦電流の分布を入力することにより、渦電流セン
サの各種コイルに対応して、同様に欠陥寸法を精度良く
求めることができる。 （３）欠陥の寸法、位置を自動的に評価することができ
る。
【図１】本発明の渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置の
一実施例を示す系統図である。
一実施例を示す系統図である。
【図２】同欠陥寸法評価装置の作用説明図である。
【図３】同欠陥寸法評価装置の渦電流分布の入力例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図４】同欠陥寸法評価装置の演算処理装置の処理要領
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図５】渦電流分布による検出値の展開の概略を示す説
明図である。
明図である。
【図６】従来の渦電流探傷装置を示す系統図である。
１ 渦電流センサ ２ 渦電流探傷装置 ３ スキャナ ４ スキャナ制御装置 ５ 渦電流の電流分布入力装置 ６ 演算処理装置 ７ 結果表示装置 ８ 被検体
Claims (1)
- 【請求項１】 渦電流センサのコイルの直径よりも小さ
なピッチで被検体の表面を走査するスキャナをもつ渦電
流センサと、渦電流センサのコイルにより被検体に発生
する渦電流の分布データを予め入力している電流分布入
力装置と、微小ピッチでの検出データと渦電流の分布デ
ータとに基づき各位置での探傷結果の度合い、即ち、渦
電流センサのコイルの検出データに対して被検体各部が
及ぼす影響の割合を求めて検出データを被検体の各位置
に振り分けていく処理を行いこの処理結果を一定のレベ
ルでカットすることにより被検体内部の欠陥の位置・寸
法を求めて欠陥寸法を評価する演算処理装置と、同演算
処理装置からの欠陥寸法評価結果を表示する結果表示装
置とを具えていることを特徴とした渦電流探傷装置の欠
陥寸法評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7022935A JPH08220073A (ja) | 1995-02-10 | 1995-02-10 | 渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7022935A JPH08220073A (ja) | 1995-02-10 | 1995-02-10 | 渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08220073A true JPH08220073A (ja) | 1996-08-30 |
Family
ID=12096495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7022935A Withdrawn JPH08220073A (ja) | 1995-02-10 | 1995-02-10 | 渦電流探傷装置の欠陥寸法評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08220073A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8183862B2 (en) | 2008-03-11 | 2012-05-22 | Hitachi, Ltd. | Eddy current testing device |
| CN103376290A (zh) * | 2012-04-28 | 2013-10-30 | 码科泰克株式会社 | 涡流探伤方法和涡流探伤装置 |
| CN108303461A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-07-20 | 西安交通大学 | 引入多介质单元的指套管不规则磨损缺陷的涡流检测方法 |
| CN114002316A (zh) * | 2021-10-28 | 2022-02-01 | 江苏信息职业技术学院 | 一种感应涡流磁场检测的裂纹与腐蚀孔探伤方法 |
-
1995
- 1995-02-10 JP JP7022935A patent/JPH08220073A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8183862B2 (en) | 2008-03-11 | 2012-05-22 | Hitachi, Ltd. | Eddy current testing device |
| CN103376290A (zh) * | 2012-04-28 | 2013-10-30 | 码科泰克株式会社 | 涡流探伤方法和涡流探伤装置 |
| JP2013231675A (ja) * | 2012-04-28 | 2013-11-14 | East Japan Railway Co | 渦流探傷方法と渦流探傷装置 |
| CN108303461A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-07-20 | 西安交通大学 | 引入多介质单元的指套管不规则磨损缺陷的涡流检测方法 |
| CN114002316A (zh) * | 2021-10-28 | 2022-02-01 | 江苏信息职业技术学院 | 一种感应涡流磁场检测的裂纹与腐蚀孔探伤方法 |
| CN114002316B (zh) * | 2021-10-28 | 2023-12-22 | 江苏信息职业技术学院 | 一种感应涡流磁场检测的裂纹与腐蚀孔探伤方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020507 |