JPH08213577A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPH08213577A
JPH08213577A JP3589995A JP3589995A JPH08213577A JP H08213577 A JPH08213577 A JP H08213577A JP 3589995 A JP3589995 A JP 3589995A JP 3589995 A JP3589995 A JP 3589995A JP H08213577 A JPH08213577 A JP H08213577A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
power supply
supply line
type diffusion
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3589995A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2790070B2 (ja
Inventor
Tomoyuki Kaneko
伴行 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7035899A priority Critical patent/JP2790070B2/ja
Publication of JPH08213577A publication Critical patent/JPH08213577A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2790070B2 publication Critical patent/JP2790070B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 低消費電流の機能ブロックや未使用セルでの
配線領域を確保できるようにするとともに、大消費電流
の機能ブロックのみ電流供給能力を高める。 【構成】 図の右側の2セルにより4倍のゲート幅のイ
ンバータが構成されている。第1層電源線1a、1b
は、n型拡散層7a〜7d又はp型拡散層8a〜8dを
横切って配線され、第2層の電源線2a、2b、2c
は、セル間に縦方向に配線される。第1層の電源線1
a、1bはスルーホールを介して第2層の電源線2b、
2aに接続されると共にコンタクトホールを介してn型
拡散層7a、7b;8a、8bと接続される。第1層の
電源線1a、1bに沿って、この電源線を強化する為の
第1層の強化電源配線4a、4bが配線され、これらの
強化電源配線もスルーホールを介して第2層の電源線2
b、2aと接続されるとともに、コンタクトホールを介
してn型拡散層又はp型拡散層に接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路装置に
関し、特にゲートアレイ方式にて構成された半導体集積
回路装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ゲートアレイ方式の半導体集積回路装置
の製造方法は、予め基本セルと呼ばれる素子が規則的に
作り込まれた共通の半導体基板(マスターウエハ)を用
い、個別の半導体集積回路装置の回路構成に応じて配線
を行い、所望の製品を得る方式である。この方式では、
ライブラリに登録されたレイアウト情報と標準化された
設計手法を用いることにより、比較的短期間で比較的安
価な開発費で目的の半導体集積回路装置を開発すること
ができる。
【0003】而して、ゲートアレイとしては各種の素子
を用いるものが開発されているが、最も広く採用されて
いるものはCMOS型のゲートアレイである。図3は、
この種の従来のゲートアレイ方式の半導体集積回路装置
のレイアウト図である。ここでは、説明の簡略化のため
pウエルやnウエル、またそれぞれのウエルやサブスト
レートに対するコンタクトについては省略されている。
【0004】図3に示されるように、ゲートアレイの基
本セル10aは、n型拡散層7a、p型拡散層8aおよ
びゲート電極9a、9bを有している。基本セル10
b、10c、10dは基本セル10aと同様の構成を有
する基本セルである。第1層の電源線1aは、基本セル
10a〜10dのn型拡散層7a〜7dの上を横切るよ
うに配線され、第1層の電源線1bは、基本セル10a
〜10dのp型拡散層8a〜8dの上を横切るように配
線されている。
【0005】第2層の電源線2a、2b、2cは、基本
セル2個おきに配線され、第2層の電源線2aと2c
は、1−2層間スルーホール6a、6b、6i、6jに
より、第1層の電源線1bに接続され、第2層の電源配
線2bは、1−2層間スルーホール6c、6dにより、
第1層の電源線1aに接続されている。
【0006】第1層の電源配線1bは、コンタクトホー
ル5i、5jを介してp型拡散層8aと接続されてお
り、第1層の電源配線1aは、コンタクトホール5fを
介してn型拡散層7aと接続されている。また、第1層
の配線3cは、コンタクトホール5yを介してp型拡散
層8aと接続され、コンタクトホール5zを介してn型
拡散層7aと接続されている。
【0007】基本セル10a、10bのような1つの基
本セルでは、それぞれの拡散層で、2個づつのMOSト
ランジスタが形成されており、この4個のトランジスタ
により、1セルで2入力のNANDやNORなどのCM
OS論理ゲートを構成することができるものである。ゲ
ートアレイは、この基本セルを縦横に複数配置したもの
として構成される。また、図示された例では、機能ブロ
ックは、基本セルに、第1層の配線3cおよびコンタク
トホール5f、5i、5j、5y、5zを付加すること
により構成されている。そして、図3の基本セル10a
の部分は、第1層の電源線1aを低電位側、第1層の電
源線1bを高電位側として、2入力のCMOSNAND
ゲートの機能ブロックを配置した状態に対応する。
【0008】ここで、第1層の電源線1a、1b、第2
層の電源線2a、2b、2cは機能ブロックにより影響
を受けないマスターの部分の配線で、特に、第1層の電
源線1a、1b、第2層の電源線2a、2b、2cは基
本セルへの電流供給能力や電源の電圧降下を考慮した一
定の幅で配線されている。
【0009】図4は、従来のゲートアレイの他の例を示
す。これは、特開平2−306648号公報により提案
されたものであって、図4のゲートアレイでも、基本セ
ルの構成は図3の場合と同様である。
【0010】第1層の電源線1cは、各基本セルのn型
拡散層7a〜7dの上に配線され、第1層の電源線1d
は、各基本セルのp型拡散層8a〜8dの上に配線され
る。第2層の補助電源配線14aは、1−2層間スルー
ホール6m、6nにより第1層の電源線1dに接続さ
れ、第2層の補助電源配線14bは、1−2層間スルー
ホール6o、6pにより第1層の電源線1cに接続され
ている。
【0011】図4と図3の違いは、第1層の電源線1
c、1dが、一定の幅ではなく、機能ブロックが配置さ
れないエリア、ここでは基本セル10b、10cの部分
が、機能ブロックの配置される他の部分より幅が増加し
ており、その部分への電源供給のために第2層の補助電
源配線14a、14bが設けられている点である。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】図3に示した従来のゲ
ートアレイでは、第1層の電源線は機能ブロックの消費
電力等を考慮してその幅を決定していたが、基本セルに
占めるその幅があまり大きくなると、機能ブロックが構
成し難くなったり、また未使用の場合の配線チャネルが
減少する等の問題があり、ある程度の幅とし機能ブロッ
クの配置や負荷等に制限を設けることにより対応してき
た。したがって、従来例のゲートアレイでは高機能の半
導体集積回路装置を構成することが困難であるという問
題点があり、また設計の自由度が制限を受けていた。
【0013】図4に示されたゲートアレイ場合、機能ブ
ロック部分は細い第1層の電源線として配線チャネルを
確保し、未使用のセル部分のみ第1層の電源線を太くし
て電源供給の安定性を図っていたが、全ての機能セルの
部分は同一幅の電源線であるため、図3に示した従来例
と同様に、機能ブロックの配置や負荷等に制限を設けな
ければならないものであった。
【0014】本発明はこの点に鑑みてなされたものであ
って、その目的は、第1層の電源線を所定の(細い)幅
として、低消費電流の機能ブロックでのコンタクト領域
を確保し、未使用セル領域での配線領域を確保するとと
もに、大消費電流の機能ブロックには十分の電流を供給
しうるようにしてゲートアレイ方式半導体集積回路装置
の高機能化を図ることである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、ゲート電極(9a、9b;…)と
このゲート電極を挟むp型拡散層(8a、…)およびn
型拡散層(7a、…)とを備えた基本セル(10a、
…)が規則的に配置され、前記ゲート電極に直交し前記
n型拡散層を横切る第1の第1層電源線(1a)と、前
記ゲート電極に直交し前記p型拡散層を横切る第2の第
1層電源線(1b)と、複数の基本セル置きに交互に形
成された前記ゲート電極と並行に走る第1および第2の
第2層電源線(2a、2b;…)とを備え、第1、第2
の第1層電源線がそれぞれ第1、第2の第2層電源線と
スルーホール(6c 6d;…、6a、6b;…)を介
して接続され、選択された基本セルに所望の配線が施さ
れて機能ブロックが構成されるものであって、消費電流
の大きい機能ブロックには前記第1および第2の第1層
電源線に接してこれを補強する追加の電源線(4a、4
c;4b、4d)が設けられこれらの追加の電源線は別
途他の層の電源線(2b、13a;2a、13b)に接
続されていることを特徴とする半導体集積回路装置、が
提供される。
【0016】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の第1の実施例のレイアウ
ト図ある。ここでは、説明の簡略化のため、pウエルや
nウエル、またそれぞれのウエルやサブストレートに対
するコンタクトについては省略し、また、消費電力に合
わせて増加されるコンタクトホールについても適宜省略
した。
【0017】図1において、ゲートアレイの基本セル1
0aは、n型拡散層7a、p型拡散層8a、ゲート電極
9a、9bとを有している。基本セル10b、10c、
10dも基本セル10aと同様の構成を有する基本セル
である。
【0018】第1層の電源線1aは、基本セル10a〜
10dのn型拡散層7a〜7dの上を横切るように配線
され、第1層の電源線1bは、基本セル10a〜10d
のp型拡散層8a〜8dの上を横切るように配線されて
いる。第2層の電源線2a、2b、2cは、基本セル2
個おきに配線され、第2層の電源線2aと2cは、1−
2層間スルーホール6a、6b、6i、6jにより、第
1層の電源線1bに接続されている。また、第2層の電
源配線2bは、1−2層間スルーホール6c、6dによ
り、第1層の電源線1aに接続されている。
【0019】第1層の配線3aは、コンタクトホール5
a、5b、5c、5dを介してゲート電極9a、9b、
9c、9dと接続されている。第1層の配線3bは、コ
ンタクトホール5m、5nを介してn型拡散層7a、7
bと接続され、また、コンタクトホール5o、5pを介
してp型拡散層8a、8bを接続されている。第1層の
電源線1aは、コンタクトホール5e、5f、5g、5
hを介してn型拡散層7a、7bと接続されており、ま
た、第1層の電源線1bは、コンタクトホール5i、5
j、5k、5lを介してp型拡散層8a、8bと接続さ
れている。
【0020】また、第1層の強化電源配線4aは、第1
層の電源線1aに接して配線され1−2層間スルーホー
ル6g、6hにより第2層の電源線2bに接続され、ま
た、コンタクトホール5q、5r、5s、5tを介し
て、n型拡散層7a、7bに接続されている。第1層の
強化電源配線4bは、第1層の電源線1bに接して配線
され1−2層間スルーホール6e、6fにより第2層の
電源線2aに接続され、また、コンタクトホール5u、
5v、5w、5xを介して、p型拡散層8a、8bに接
続されている。
【0021】ここでの機能ブロックは、基本セルに、第
1層の配線3a、3bと、コンタクトホール5a〜5p
と、電源強化のため設けられた第1層の強化電源配線4
a、4bと、1−2層間スルーホール6e、6f、6
g、6hと、コンタクトホール5q〜5xとを追加する
ことにより構成されている。そして、図1の基本セル1
0a、10bの部分により、第1層の電源線1aを低電
位側、第1層の電源線1bを高電位側として、4倍のゲ
ート幅を持つCMOSインバータの機能ブロックが構成
されている。
【0022】この実施例の場合のように、4倍幅のイン
バータなどの回路は、一般に負荷の大きな場合等に使用
されるものであるため、消費電力も大きい。第1層の電
源線1a、1bは、チップやマクロレベルで一定の幅で
あり、横に並ぶ基本セルにより消費される電力等を考慮
してその幅を決定されている。この配線幅を、この実施
例の場合のような消費電力の大きなブロックを中心に決
定した場合、実際に使用されることの多い1セルのみで
構成される2入力NANDのような回路に対しては過剰
な幅となる。その一方、機能ブロックを構成する際の拡
散層上のコンタクトをとる場所が減少する、機能ブロッ
クを構成する配線の引き回し場所が減少する、未使用の
基本セル上の配線領域が減少する等の問題が発生する。
【0023】そこで、本発明の第1の実施例では、第1
の電源線1a、1bの幅は1セルのみで構成されるよう
な消費電力の大きくない通常のブロックを中心に決定
し、4倍のインバータのような消費電力の大きなブロッ
クでは、その機能ブロック内に第1層の電源線1a、1
bに対し不足する分程度の電流を流すことのできる第1
層の強化電源配線4a、4bを設け、この強化電源配線
と1−2層間スルーホール6e、6f、6g、6hを介
して、第2層の電源線2a、2bと接続し、またコンタ
クトホール5u〜5x、5q〜5tを介してp型拡散層
8a、8b、n型拡散層7a、7bと接続している。
【0024】本発明による第1層の強化電源配線は、大
消費電流の機能ブロック内のみに形成されるものである
ため、未使用の基本セル上の配線領域の減少を招くこと
なしに、また低消費電流の機能ブロックにおけるコンタ
クトや配線に対する障害を与えることなしに、必要な機
能ブロックへの電流供給能力を向上させることができ
る。この実施例のような場合、機能ブロックを配置する
際、第2層の電源線の位置や電源の極性を意識する必要
性がある。この実施例では、CADの自動配置ツールの
認識する基本セル上の機能ブロックの配置の向きを第2
層の電源線の左右の2セルごとに異ならせる等の処理を
することにより、自動配置が可能になる。
【0025】図2は、本発明の第2の実施例を示すレイ
アウト図である。図2において、ゲートアレイの基本セ
ル10aは、n型拡散層7a、p型拡散層8a、ゲート
電極9a、9bとを有する。基本セル10b、10c、
10d、10eも基本セル10aと同様の構成を有す
る。
【0026】第1層の電源線1aは、基本セル10a〜
10eのn型拡散層7a〜7eの上を横切るように配線
され、第1層の電源線1bは、基本セル10a〜10e
のp型拡散層8a〜8eの上を横切るように配線されて
いる。第2層の電源線2a、2bは、基本セル左右方向
4個おきに配線され、第2層の電源線2aは、1−2層
間スルーホール6a、6bにより、第1層の電源線1b
に接続され、第2層の電源配線2bは、1−2層間スル
ーホール6c、6dにより、第1層の電源線1aに接続
される。
【0027】第3層の電源線13a、13bは、基本セ
ル上下方向1個おきに配線され、第2層の電源線2a
は、2−3層間スルーホール11a、11b、11c、
11dにより、第3層の電源線13bに接続され、第2
層の電源配線2bは、2−3層間スルーホール11e、
11f、11g、11hにより、第3層の電源線13a
に接続されている。
【0028】第1層の配線3aは、コンタクトホール5
a、5b、5c、5dを介してゲート電極9c、9d、
9e、9fと接続されている。第1層の配線3bは、コ
ンタクトホール5m、5nを介してn型拡散層7b、7
cと接続され、また、コンタクトホール5o、5pを介
してp型拡散層8b、8cを接続されている。第1層の
電源線1aは、コンタクトホール5e、5f、5g、5
hを介してn型拡散層7b、7cと接続されており、ま
た、第1層の電源線1bは、コンタクトホール5i、5
j、5k、5lを介してp型拡散層8b、8cと接続さ
れている。
【0029】第1層の強化電源配線4cは、第1層の電
源線1aに接して配線され、1−2層間スルーホール6
kを介して第2層の強化電源配線12bに接続され、さ
らに2−3層間スルーホール11jを介して第3層の電
源線13aに接続されている。第1層の強化電源配線4
cは、コンタクトホール5q、5r、5s、5tを介し
てn型拡散層7b、7cと接続されている。
【0030】第1層の強化電源配線4dは、第1層の電
源線1bに接して配線され、1−2層間スルーホール6
lを介して第2層の強化電源配線12aに接続され、さ
らに2−3層間スルーホール11iを介して第3層の電
源線13bに接続されている。第1層の強化電源配線4
dは、コンタクトホール5u、5v、5w、5xを介し
てp型拡散層8b、8cと接続されている。
【0031】この第2の実施例においては、機能ブロッ
クは、基本セルに、第1層の配線3a、3bと、第1層
の強化電源配線4c、4dと、第2層の強化電源配線1
2a、12bと、コンタクトホール5a〜5xと、1−
2層間スルーホール6k、6lと、2−3層間スルーホ
ール11i、11jとを追加することにより構成されて
いる。そして、図2の基本セル10b、10cの部分
は、第1層の電源線1aを低電位側、第1層の電源線1
bを高電位側として、4倍のゲート幅を持つCMOSイ
ンバータの機能ブロックが配置された状態となってい
る。
【0032】本実施例においても、第1の実施例の場合
と同様に、第1層および第2層の強化電源配線は、大消
費電流の機能ブロック内のみに形成されるものであるた
め、未使用の基本セル上の配線領域の減少を招くことな
しに、また低消費電流の機能ブロックにおけるコンタク
トや配線に対する障害を与えることなしに、必要な機能
ブロックへの電流供給能力のみをを向上させることがで
きる。
【0033】ところで、図1に示した第1の実施例の場
合、第1層の強化電源配線を基本セル上の第1層の電源
線に沿って配線し、これを引き延ばして第2層の電源線
と接続している。このため、例えば図1の第2層の電源
線の間隔が2セルから4セルとなった場合に、第1の実
施例の場合と同様に2セル幅の機能ブロックを配置しよ
うとした際に、使用されない2セルの部分にも使用した
セルからの第1層の強化電源配線が通ってしまう。
【0034】このため実質的に空いているはずの2セル
の部分に他の機能ブロックの配置ができないというよう
に、上層の電源線、この場合は第2層の電源線の2本の
間隔を単位として、機能ブロックの構成と配置が制限を
受けてしまう。しかし、本実施例の場合には、第1層の
電源線と平行する電源配線より直接電源供給を受けるた
め、機能ブロックの幅の範囲内で第1層の電源線に平行
する電源線への強化電源配線を配線でき、機能ブロック
の構成や配置の自由度が上がるという利点がある。但
し、本実施例では、予め基本セルのn型拡散層とp型拡
散層とを基本セルの行(第3層の電源線と並行な並び)
毎に反転させておくことが必要となる。
【0035】この実施例のような場合、機能ブロックを
配置する際、上層の第2層の電源線や第3層の電源線の
位置や電源の極性を意識する必要性がある。この実施例
では、CADの自動配置ツールの認識する基本セル上の
機能ブロックの配置の向きを、第2層の電源線の左右の
4セルごとに異ならせ、さらに第3層の電源線を交互に
異ならせることにより、自動配置が可能となっている。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、消費電
力が大きく電源配線への負担の大きな機能ブロックに対
し、基本セル上の電源線の補強のための配線を基本セル
上に配置される機能ブロック自体で持つようにしたもの
であるので、マスタスライスで固定的に基本セル上の電
源線幅を増加させた場合のように、未使用の基本セル上
の配線領域が減少してしまったり、また低消費電流の機
能ブロックでのコンタクトや配線に対する障害が生じた
りすることなしに、必要な機能ブロックへの電流供給能
力のみを向上させることができる。また、現在通常に使
用されている自動配置のCADツールでの処理におい
て、必要な機能ブロックにのみ電源供給能力をはかるこ
とが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例を示すレイアウト図。
【図2】 本発明の第2の実施例を示すレイアウト図。
【図3】 第1の従来例のレイアウト図。
【図4】 第2の従来例のレイアウト図。
【符号の説明】
1a〜1d 第1層の電源線 2a〜2c 第2層の電源線 3a〜3c 第1層の配線 4a〜4d 第1層の強化電源配線 5a〜5z コンタクトホール 6a〜6p 1−2層間スルーホール 7a〜7e n型拡散層 8a〜8e p型拡散層 9a〜9j ゲート電極 10a〜10e 基本セル 11a〜11h 2−3層間スルーホール 12a、12b 第2層の強化電極配線 13a、13b 第3層の電極線 14a、14b 第2層の補助電源配線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲート電極とこのゲート電極を挟むp型
    拡散層およびn型拡散層とを備えた基本セルが規則的に
    配置され、前記ゲート電極に直交し前記n型拡散層を横
    切る第1の第1層電源線と、前記ゲート電極に直交し前
    記p型拡散層を横切る第2の第1層電源線と、複数の基
    本セル置きに交互に形成された前記ゲート電極と並行に
    走る第1および第2の第2層電源線とを備え、第1、第
    2の第1層電源線がそれぞれ第1、第2の第2層電源線
    とスルーホールを介して接続され、選択された基本セル
    に所望の配線が施されて機能ブロックが構成されている
    半導体集積回路装置において、消費電流の大きい機能ブ
    ロックには前記第1および第2の第1層電源線に接して
    これを補強する追加の電源線が設けられこれらの追加の
    電源線は別途他の層の電源線に接続されていることを特
    徴とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記追加の電源線が前記第1および第2
    の第2層電源線にスルーホールを介して接続されている
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 前記基本セルの行を挟んで第1および第
    2の第3層電源線が形成され、前記追加の電源線が第2
    層の配線層を介して前記第1および第2の第3層電源線
    に接続されていることを特徴とする請求項1記載の半導
    体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 前記第1または第2の第3層電源線を挟
    む基本セル行同士では、n型拡散層とp型拡散層とが線
    対称の関係に配置されていることを特徴とする請求項3
    記載の半導体集積回路装置。
JP7035899A 1995-02-02 1995-02-02 半導体集積回路装置 Expired - Lifetime JP2790070B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7035899A JP2790070B2 (ja) 1995-02-02 1995-02-02 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7035899A JP2790070B2 (ja) 1995-02-02 1995-02-02 半導体集積回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08213577A true JPH08213577A (ja) 1996-08-20
JP2790070B2 JP2790070B2 (ja) 1998-08-27

Family

ID=12454881

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7035899A Expired - Lifetime JP2790070B2 (ja) 1995-02-02 1995-02-02 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2790070B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6367061B1 (en) 1996-09-11 2002-04-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and manufacturing method therefor, semiconductor macro cell and automatic layout method therefor, and mask processing method
US6732334B2 (en) 2001-04-02 2004-05-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Analog MOS semiconductor device, manufacturing method therefor, manufacturing program therefor, and program device therefor
US6785877B1 (en) 1999-06-28 2004-08-31 Nec Electronics Corporation Standard cell, standard cell array, and system and method for placing and routing standard cells
JP2007242846A (ja) * 2006-03-08 2007-09-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の電源配線方法
JP2008277788A (ja) * 2007-04-05 2008-11-13 Nec Electronics Corp 半導体装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61156751A (ja) * 1984-12-28 1986-07-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPS63289834A (ja) * 1987-05-21 1988-11-28 Nec Corp 集積回路
JPH03263854A (ja) * 1990-03-14 1991-11-25 Fujitsu Ltd ゲートアレイ型半導体集積回路装置
JPH04242959A (ja) * 1991-01-08 1992-08-31 Fujitsu Ltd 半導体集積回路のセル構造

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61156751A (ja) * 1984-12-28 1986-07-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPS63289834A (ja) * 1987-05-21 1988-11-28 Nec Corp 集積回路
JPH03263854A (ja) * 1990-03-14 1991-11-25 Fujitsu Ltd ゲートアレイ型半導体集積回路装置
JPH04242959A (ja) * 1991-01-08 1992-08-31 Fujitsu Ltd 半導体集積回路のセル構造

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6367061B1 (en) 1996-09-11 2002-04-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit and manufacturing method therefor, semiconductor macro cell and automatic layout method therefor, and mask processing method
US6785877B1 (en) 1999-06-28 2004-08-31 Nec Electronics Corporation Standard cell, standard cell array, and system and method for placing and routing standard cells
US6732334B2 (en) 2001-04-02 2004-05-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Analog MOS semiconductor device, manufacturing method therefor, manufacturing program therefor, and program device therefor
JP2007242846A (ja) * 2006-03-08 2007-09-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の電源配線方法
JP2008277788A (ja) * 2007-04-05 2008-11-13 Nec Electronics Corp 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2790070B2 (ja) 1998-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3577131B2 (ja) BiCMOSおよびCMOSゲートアレイ用の基本セル
JP3179800B2 (ja) 半導体集積回路装置
US6271548B1 (en) Master slice LSI and layout method for the same
US20030178648A1 (en) Gate array core cell for VLSI ASIC devices
JP2016192560A (ja) 複数のプログラマブル領域を有するゲートアレイ構造
JP4492736B2 (ja) 半導体集積回路
JPH0480538B2 (ja)
JPH0434309B2 (ja)
JP2001044397A (ja) 半導体集積回路
JPH09293844A (ja) 高密度ゲートアレイセル構造およびその製造方法
JPH0241908B2 (ja)
JP2790070B2 (ja) 半導体集積回路装置
JP2000068383A (ja) 半導体集積回路装置の設計方法および半導体集積回路装置
JPH06204438A (ja) 半導体装置
JP3253549B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH10173055A (ja) セルベース半導体装置及びスタンダードセル
US6310402B1 (en) Semiconductor die having input/output cells and contact pads in the periphery of a substrate
JPH0475664B2 (ja)
JPH0371789B2 (ja)
EP1009031B1 (en) Semiconductor integrated circuit device and method of producing the same
JPH0563944B2 (ja)
JP3610599B2 (ja) マスタースライス方式集積回路装置及びその製造方法
JPH01152642A (ja) 半導体集積回路
JPS59132144A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JPS5844592Y2 (ja) 半導体集積回路装置