JPH0820207B2 - 光学式3次元位置計測方法 - Google Patents

光学式3次元位置計測方法

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JPH0820207B2
JPH0820207B2 JP20701391A JP20701391A JPH0820207B2 JP H0820207 B2 JPH0820207 B2 JP H0820207B2 JP 20701391 A JP20701391 A JP 20701391A JP 20701391 A JP20701391 A JP 20701391A JP H0820207 B2 JPH0820207 B2 JP H0820207B2
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Kawasaki Jukogyo KK
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザなどのスリット
光を被計測物体に照射し、またテレビカメラを用いて、
被計測物体の3次元位置を計測する光学式3次元位置計
測方法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、スリット光投光方式の3次元位
置計測方法では、被計測物体上の計測したい箇所にスリ
ット光を照射してその画像を撮像し、スリット像の各点
の3次元位置を計測している。このために、計測に先立
って被計測物体上の所望の位置および向きにスリット光
が当たるように予め、レーザ投光器とそれに一体的なテ
レビカメラとを位置決めしておく必要がある。このよう
にスリット光投光方式の3次元位置計測方法は、被測定
物体の計測箇所に所望のスリット光が当たっていること
が前提となるため、以下のような問題点(1),
(2),(3)がある。
【0003】(1)個々の計測箇所に対して所望の位置
と向きにスリット光が当たるように、カメラの位置を予
め調整する必要があり、調整に時間がかかる。
【0004】(1−1)丸孔の計測ではスリット光が丸
孔に必ずかかるようにカメラの位置を設定する必要があ
り、調整(すなわち3次元位置計測のための教示)時間
がかかっている。
【0005】(1−2)特に長孔の軸長や四角孔の辺の
長さの計測では、孔の向きに応じてスリット光が当たる
ようにカメラの位置と姿勢とを各孔毎に調整(教示)す
る必要があり、調整(教示)の時間がかかっている。
【0006】(2)被計測物体の据え付け位置がずれて
スリット光が計測したい箇所から外れた場合には計測で
きない。
【0007】(2−1)予めスリット光が計測したい位
置に当たるように設定されていたとしても、実際の生産
ラインでは、被計測物体の据え付け位置が所定の位置か
らずれる場合があり、スリット光が外れて計測できない
ことがある。
【0008】(3)予め被計測物体の計測箇所の相対的
な位置が正確に決まっていない場合には計測ができな
い。
【0009】(3−1)前述の(2)の問題点に対して
据え付け位置のずれを補正する方法も提案されている
が、予め被計測物体の計測箇所の相対的な位置が正確に
定められている場合に限られている。
【0010】(3−2)具体的には、プリント基板上の
部品実装検査装置の中には、プリント基板上の基準マー
クを検出してプリント基板の位置ずれを計測し、この値
に基づいてプリント基板全体を移動することによってス
リット光が個々の計測すべき部品に当たるようにスリッ
ト光の位置ずれを補正する装置がある。このような或る
先行技術は、精密工学会画像応用技術専門委員会研究会
報告「光切断法を用いた面付基板の外観検査装置」Vo
l.No.1,pp.1〜11(1988−6)であ
る。この先行技術では、個々の被計測物体毎に予め決め
られた位置や方向にスリット光を照射して3次元位置を
計測している。したがって、プリント基板の実装部品の
ように個々の部品の相対的な位置関係がプリント基板上
で正確に決められている場合には、プリント基板全体の
移動で個々の部品のスリット光の位置を補正することが
できるが、個々の部品毎にずれ量やずれの方向が異なる
被計測物体の場合には、この方法ではスリット光を所定
の位置に当てることができず、3次元位置を計測するこ
とはできない。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】被計測物体の3次元位
置の計測を、簡便な動作で行うことができるようにした
光学的3次元位置計測方法を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、被計測物体を
テレビカメラで撮像し、その撮像した画像を処理して、
被計測物体の2次元の物理量を測定し、こうして得られ
た2次元の物理量に基づいて、テレビカメラと一体的で
ある光源からのスリット光が、被計測物体の特定の位置
および方向に当たるように、テレビカメラを移動して位
置決めし、被計測物体に照射されたスリット光をテレビ
カメラで撮像し、その画像に基づいて、被計測物体の3
次元位置を測定することを特徴とする光学式3次元位置
計測方法である。
【0013】また本発明は、テレビカメラと一体的な光
源からの複数のスリット光を被計測物体に照射し、被計
測物体上にあるスリット光をテレビカメラで撮像して得
た像に基づいて、被計測物体の表面の傾きと距離を測定
し、その傾きと距離との測定結果に基づいて、テレビカ
メラの光軸は被計測物体の表面と予め定める角度をな
し、かつテレビカメラと被計測物体の表面との距離が予
め定める値になるように、テレビカメラを移動して位置
決めし、そのテレビカメラによって被計測物体を撮像
し、その撮像した画像を処理して、被計測物体の2次元
の物理量を測定し、こうして得られた2次元の物理量に
基づいて、被計測物体の特定の位置および方向にスリッ
ト光が当たるように、テレビカメラを移動して位置決め
し、被計測物体に照射されたスリット光をテレビカメラ
で撮像し、その画像に基づいて、被計測物体の3次元位
置を測定することを特徴とする光学式3次元位置計測方
法である。
【0014】
【作用】本発明に従えば、被計測物体、たとえばワーク
などをテレビカメラで撮像し、その画像から、被計測物
体の長孔などの所定の2次元位置や向き(すなわち姿
勢)などの2次元の物理量を測定し、この2次元の物理
量である情報に基づいて、テレビカメラを、スリット光
が被計測物体の所定の位置および所定の方向に当たるよ
うにテレビカメラを移動して位置決めし、その後、スリ
ット光を被計測物体に照射して、テレビカメラで撮像
し、そのスリット光の画像から、被計測物体の3次元位
置を測定する。テレビカメラを移動して位置決めするに
あたり、前記物理量に基づくだけでなく、さらにその被
計測物体に形成されている孔の形状を識別して、その結
果に基づいて、テレビカメラの位置決めを行うようにし
てもよいけれども、そのような孔などの形状の識別を省
略し、これによってテレビカメラの移動位置決めを迅速
に行うようにすることもできる。
【0015】さらに、被計測物体の2次元の物理量の測
定だけでは、テレビカメラに関する奥行き方向の情報は
得られないので、もしも、奥行き方向に被計測物体がず
れているときには、テレビカメラを2次元情報のみを用
いて動かしても、スリット光が被計測物体の特定位置お
よび方向に当たるようにテレビカメラを移動して位置決
めすることはできない。この問題を解決するために、本
発明に従えば、まず、テレビカメラと一体的な光源から
の複数のスリット光を被計測物体に照射し、被計測物体
上にあるスリット光をテレビカメラで撮像して得た像に
基づいて、被計測物体の表面の傾きと距離を計測し、そ
の傾きと距離との計測結果に基づいて、テレビカメラの
光軸が被計測物体の表面と予め定める角度をなし、たと
えば垂直となり、かつテレビカメラと被計測物体の表面
との距離が予め定める値になるようにテレビカメラを移
動して位置決めする。こうしてテレビカメラで撮像した
被計測物体の画像を処理し、被計測物体の2次元の物理
量を測定して、そのスリット光が被計測物体への特定の
位置および方向に当たるように、テレビカメラを移動し
て位置決めすることができる。
【0016】丸孔の場合には、まず、テレビカメラで丸
孔を撮像して画像処理装置でその重心位置を検出し、ま
た、丸孔であることを認識して、次に、これら情報に基
づいて3次元センサのカメラヘッドを移動してスリット
光が丸孔に掛かるようにしてから3次元位置の計測を行
う。この場合、丸孔であると言う識別結果から、スリッ
ト光の向きは合わせない。
【0017】長孔や四角孔の場合には、まず、テレビカ
メラで長孔や四角孔を撮像してその2次元位置と孔の向
きを検出し、また、長孔や四角孔であることを認識し
て、次に、この情報に基づいてカメラヘッドを移動して
スリット光が長孔の長軸や短軸と重なるように、また、
四角孔では辺と平行にスリット光が孔に掛かるようにし
た後、3次元位置の計測を行う。
【0018】
【実施例】図1は、本発明の一実施例の斜視図である。
複数軸(たとえば6軸)の産業用ロボット42の作業端
52には、テレビカメラ8と、スリット光を発生する光
源3とが固定されている。被計測物体1は、コンベア4
5によって矢符53の方向に搬送され、この物体1の3
次元位置が計測され、これによってロボット42による
物体1の3次元位置の測定のための教示作業が行われ、
その後、連続する複数の各物体1の測定作業を教示デー
タに基づいて自動的に行うことができる。この物体1に
は複数の孔が形成されており、そのうちの1つは参照符
56で示されるとおり、長孔である。コンベア45によ
って搬送されてきた物体1は、長孔56がテレビカメラ
8の撮像によって検出されたとき、そのコンベア45が
停止されることによって所定の停止位置46で停止す
る。物体1は、この停止位置46から多少ずれていて
も、後述の位置計測を正確に行うことができる。テレビ
カメラ8の視野54内の撮像された画像は、マイクロコ
ンピュータなどによって実現される処理回路50に入力
され、ロボット42は、この画像処理の結果に基づく電
気信号を受信するロボットコントローラ51によって動
作の制御が行われる。画像処理結果は、モニタテレビな
どの表示手段44によって表示される。
【0019】図2を参照して、光源3からのレーザであ
るスリット光55は、物体1に照射され、テレビカメラ
8によって撮像される。テレビカメラ8は、ワーク1の
2次元画像およびスリット光55の画像を撮像する。こ
の実施例では、構成が簡単であり、テレビカメラ8を小
形化することができる。
【0020】図3は、長孔56の斜視図である。この長
孔56は重心、すなわち2次元平面内での重心47を有
し、位置計測時には、光源3からのスリット光55は、
参照符48で示されるように重心47を通る長軸の向き
に一致するようにロボット42の作業端52、したがっ
てテレビカメラ8が移動される。こうして長孔56にス
リット光55が照射された状態は図4に示されていると
おりである。
【0021】図5を参照して、処理回路50の教示時の
動作を説明する。ステップa1からステップa2に移
り、コンベア45によって搬送されてくる物体1の長孔
56がテレビカメラ8の視野54内に入り、その物体1
が所定の停止位置46付近にきたことが判断されると、
コンベア45が処理回路50の働きによって停止され
る。ステップa3では、ロボット42の作業端52を動
かして、テレビカメラ8によって前述の長孔56を撮像
し、表示手段44の画面に表示する。ステップa4で
は、操作者は、この画面を見ながら入力手段44aを操
作し、物体1がテレビカメラ8の視野54内に正確に入
るように、作業端52をロボットコントローラ51の働
きによって移動し、長孔56毎にテレビカメラ8の位置
を教示してロボットコントローラ51の教示データとし
て教示してゆく。こうして複数の孔毎に各孔がテレビカ
メラ8の視野内に入るようにロボット42を動作させ、
各孔毎のテレビカメラ8の位置を教示データとして順次
適宜ストアしてゆく。このような教示動作によって、各
孔に対してテレビカメラ8を厳密に位置決めする必要が
ないので、教示作業を大幅に簡略化することができ、教
示時間を短くすることができる。また上述のように物体
1は停止位置46に正確に位置決めされる必要がなく、
好都合である。物体1を停止位置46付近に停止するた
めに、上述の実施例ではテレビカメラ8の撮像によって
行ったけれども、他の実施例として、この物体1をたと
えば光電スイッチまたはマイクロスイッチなどを用い
て、コンベア45を停止する構成としてもよく、その他
の構成であってもよい。
【0022】ステップa5において、物体1に形成され
ている全ての孔の前述の動作ステップa3,a4の動作
が終了したことが判断されると、ステップa6において
一連の動作を終了する。
【0023】図6は、処理回路50における物体1の3
次元位置の計測時の動作を説明するためのフローチャー
トである。ステップb1からステップb2に移り、被計
測物体1がコンベア45によって搬送され、所定の停止
位置6付近で、教示位置と同様にして停止される。ロボ
ット42の作業端52を、教示位置にステップb3で移
動し、次のステップb4では、まず、テレビカメラ8に
よって長孔56を撮像し、処理回路50では、画像処理
演算を行って、その重心47の位置とその長孔56の向
き48とを検出し、その検出結果をロボットコントロー
ラ51に送信して与える。これによってロボットコント
ローラ51は、ロボット42による作業端52の移動量
を算出してステップb5においてテレビカメラ8を移動
し、長孔56に対して光源3からのスリット光55が重
心47を通りかつその向き48にスリット光55が当た
るようにテレビカメラ8の位置決めを行う。
【0024】ステップb6では、物体1の長孔56に照
射されたスリット光55を撮像し、その画像信号を回路
50に与え、長孔56の位置および方向(すなわち姿
勢)、さらには寸法などの物理量を測定演算する。こう
してステップb3〜ステップb6の動作が、各孔毎に繰
返し行われ、全ての孔に関しての動作が終了したことが
ステップb7において判断されると、ステップb8で
は、一連の動作を終了する。
【0025】このような実施例によれば、被計測物体1
の2次元位置や向きを計測してスリット光55が被計測
物体1の長孔56などの所定の位置および向きに当たる
ように透光することができるので、被計測物体1に位置
ずれが生じるとき、および長孔56の向き48が予め判
っていないときでも、被計測物体1の長孔56の位置お
よび寸法などを測定することができる。長孔56の軸長
の計測および長孔56に代えて四角形の孔の辺の長さを
測定するときには、特にこのような実施例によれば、面
倒な位置と向きの調整が不要となり、したがってその調
整時間、すなわち教示時間を大幅に短縮することができ
る。
【0026】上述の実施例では、テレビカメラ8による
物体1の撮像によって長孔56の重心47の位置と慣性
主軸の方向すなわち向き48とを検出し、スリット光5
5がその重心位置47を通り、向き48に当たるよう
に、テレビカメラ8を位置決めしているけれども、この
ような2次元検出では、テレビカメラ8の奥行き方向の
情報は得られない。したがってもしも、奥行き方向に被
計測物体1がずれているときには、上述の2次元情報の
みを用いてテレビカメラ8を動かしても、スリット光5
5が長孔56の重心47の位置を通りかつ向き48に当
たるように、テレビカメラ8を位置決めすることはでき
ない。この問題を解決する構成は、図7および図8に示
される本発明の他の実施例によって解決される。この実
施例では、概略を述べると、予めテレビカメラ8の光軸
が被計測物体1の表面、すなわち、長孔56を含む面に
垂直でかつテレビカメラ8からその面までの距離が所定
の値になるようにテレビカメラ8を位置決めした後に、
そのテレビカメラ8によって長孔56を撮像して2次元
計測を行うことによって、平面内での補正で対処するこ
とができる。この面の傾きと面までの距離の計測は、複
数のスリット光を被計測物体1に照射し、またテレビカ
メラ8を用いることによって求めることができる。
【0027】図7は、本発明の他の実施例の処理回路5
0の教示時の動作を説明するためのフローチャートであ
る。ステップc1からステップc2に移り、コンベア4
5によって搬送される被計測物体1が所定の位置46付
近にもたらされたときに、コンベア45を停止する。ス
テップc3では、ロボット42を動作させてテレビカメ
ラ8が長孔56の上方にくるように、移動する。ステッ
プc4では、操作者は表示手段4の画面を見ながら、テ
レビカメラ8の視野54内に長孔56が入るように、ロ
ボット42を動作させ、物体1の長孔56を含む面に対
してテレビカメラ8の光軸がほぼ垂直であり、かつその
表面とテレビカメラ8との間の距離がほぼ所定の値とな
るように、ロボット42の作業端52を移動してテレビ
カメラ8を位置決めし、そのときのテレビカメラ8の位
置を教示データとしてロボットコントローラ51に記憶
する。このようなステップc3,c4を各孔毎に行い、
全ての孔の動作を終了したことを、ステップc5で判断
したとき、ステップc6に移り、一連の動作を終了す
る。
【0028】図8は、被計測物体1の3次元位置の計測
時の動作を説明するためのフローチャートである。この
実施例では、テレビカメラ8と一体的に、相互に異なる
位置に2つの光源3,4(図13参照)が設けられ、こ
れらの光源を総括的に、説明の簡略化のために参照符3
で表す。この構成に関しては、後述する。ステップd1
からステップd2に移り、被計測物体1がコンベア45
で搬送され、所定の停止位置46付近で停止され、その
後、ステップd3では、ロボット42を動作させて、テ
レビカメラ8および光源3を、測定したい長孔56の図
7のフローチャートの動作によって教示された位置に移
動する。その後、ステップd4では、光源3からスリッ
ト光を被計測物体1に照射して、テレビカメラ8を用い
て撮像し、その演算によって、長孔56を含む面の傾き
と距離とを計測し、それらの値をロボットコントローラ
51に送信して与える。
【0029】次のステップd5では、ロボット42は、
ステップd4において求められた値に基づき、テレビカ
メラ8の位置を移動し、そのテレビカメラ8の光軸が前
記面に対して垂直であり、かつ所定の距離だけあけられ
るように、移動して位置決めする。ステップd6では、
テレビカメラ8によって長孔56を撮像し、処理回路5
0で長孔56の重心47の位置と長孔56の向き48と
を計測し、それらの値をロボットコントローラ51に送
信にして与える。次のステップd7,d8は、前述の実
施例における図6のステップb5,b6と同様な動作が
それぞれ行われ、長孔56の3次元の位置と寸法、すな
わち径などとを演算して求める。ステップd9において
全ての孔に関してステップd3〜d8の動作が完了した
ものと判断されたときには、ステップd10に移り、一
連の動作を終了する。
【0030】光源3とテレビカメラ8とから成る光学系
の外乱光の影響に対して誤動作をしないようにするため
に、本発明の他の各実施例が、図9〜図12にそれぞれ
示される。図9では、1台のテレビカメラ8を用いてお
り、特定の波長を有するスリット光55を光源3から発
生し、これと同じ波長の照明光を発生する照明装置58
によって被計測物体1を参照符59で示されるように照
射する。テレビカメラ8には、スリット光55の波長と
同じ波長の光だけを通過させる光学フィルタ60を装備
する。被計測物体1の2次元画像を得るときには、照明
装置58のみを点灯し、光源3を休止し、またスリット
光55の画像を入力するときには、照明装置58を消灯
し光源3だけを点灯する。こうして外乱光による誤動作
を防ぐことができる。照明装置58は、テレビカメラ8
を外囲し、環状に多数の発光ダイオードを配置した構成
を有していてもよく、環状に照明光59を発生して物体
1の全面を照明する構成を有する。
【0031】図10は、他の実施例の断面図である。こ
の実施例では、光源3から発生されるスリット光55の
波長と同一の波長の光だけを通過させる光学フィルタ6
0を、1台のテレビカメラ8のレンズ面から着脱可能に
構成する。フィルタ60は、フィルタ装着機構61によ
って、テレビカメラ8に装着し、またテレビカメラ8か
ら離脱することを可能にする。被計測物体1の2次元画
像を入力する際には、光学フィルタ60をテレビカメラ
8のレンズ面からフィルタ装着機構61によって外した
状態とし、自然光でテレビカメラ8による物体1の撮像
を行う。スリット光の画像を入力するには、光学フィル
タ60をフィルタ装着機構61によってテレビカメラ8
に装着した状態とし、光源3からスリット光55を発生
する。こうして外乱光の影響に対して強い光学系を構成
することができる。
【0032】さらに他の実施例は、図11に示される。
この実施例では2台のテレビカメラ8a,8bが用いら
れ、一方のテレビカメラ8aには、光源3からのスリッ
ト光55の波長と同じ波長の光のみを通過させる光学フ
ィルタ60が備えられ、ハーフミラー62を介してスリ
ット光の画像を入力することができる。ハーフミラー6
2によって反射された被計測物体1の画像は、他方のテ
レビカメラ8bによって撮像され、その物体1の2次元
画像を入力することができる。このような構成によって
もまた、外乱光の影響に対して強い光学系とすることが
できる。
【0033】前述の図11の実施例では、両テレビカメ
ラ8a,8bの画像は相互に反転しており、このような
問題を解決するためのさらに他の実施例は図12に示さ
れる。この実施例では、反射鏡63がさらに設けられ、
2台のテレビカメラ8a,8bの各画像は相互に反転し
ない画像となっている。その他の構成は、図11と同様
である。
【0034】上述の実施例では、被計測物体1をテレビ
カメラ8によって撮像し、その撮像して得られた画像情
報を処理して、被計測物体1の長孔56の2次元の位置
および向き48を演算処理して求めて測定するように構
成されたけれども、他の実施例として、図13に示され
るように、長孔の代りに真円の孔2が形成されている被
計測物体1の孔2の中心位置の計測を次のようにして行
うようにしてもよい。
【0035】この長孔56には、複数(この実施例では
2)のスリット光が照射される。なお、カメラとスリッ
ト光を照射する2台の光源3,4は一体化されている。
スリット光は参照符5,6でそれぞれ示される平面であ
る。被計測物体1の表面にある光切断線は孔2において
欠落しており、これらの端点を参照符A,B,C,Dで
それぞれ示す。被計測物体1の表面は、工業用テレビカ
メラ8によって撮像される。このカメラ8は、電荷蓄積
素子(略称CCD)の撮像面8aと、被計測物体1の表
面を撮像面8aに結像するレンズ9とを含む。被計測物
体の3次元座標系をX,Y,Zで示し、カメラ8のカメ
ラ座標系(CCDの撮像面上に設定される座標系)をX
c,Ycで示す。カメラ8からの出力は、処理回路10
に与えられる。
【0036】まず孔2の中心位置の計測を行い(後述の
I章〜II章)、次に被計測物体1の平面である表面の傾
き、すなわち姿勢角を計測し(後述のIII章)、さらに
また、その被計測物体1の一表面とカメラ8との間の距
離を計測する(後述のIV章)。
【0037】まず孔2の円の中心位置の計測原理を説明
する。処理回路10では、図14のステップn1からス
テップn2に移り、交差する2本のスリット光5,6
を、孔2を含む平面に対して投光し、孔2の縁で欠落す
る4つの端点A,B,C,Dの3次元位置を計測する。
【0038】I、スリット光5,6によるA点A,B,
C,Dの3次元位置の計測方法。
【0039】図15に示されるようにスリット光の投光
器3と、カメラ8とを配置し、スリット光平面5上の1
点P(このPは、前述のA,B,C,Dを代表して表
す)の物体座標系でその座標を(X,Y,Z)、点Pの
撮像面8a上の像の座標をカメラ座標系でQ(Xc,Y
c)とする。カメラ8の透視変換を数1に示す。
【0040】
【数1】
【0041】またスリット光平面5の方程式を数2に示
す。
【0042】
【数2】a*X+b*Y+Z=d したがって、図15のPの物体座標系における座標
(X,Y,Z)は数1および数2を連立させて解くこと
によって求まる。基本的には、スリット光平面5,6上
にあるすべての点の3次元座標を求めることができる。
【0043】スリット光の平面の方程式の係数算出を行
うには、スリット光の平面上の既知の3点の3次元位置
を数2に代入すれば、a,b,dに関する3元連立方程
式が得られるので、これを解けばa,b,dを算出でき
る。
【0044】II、点A,B,C,Dを通る円の中心の計
測方法。
【0045】点A,B,C,Dを通る円の中心は、(1
a)4点A,B,C,Dを通る平面上にある。
【0046】(2a)各点A,B,C,Dからの距離が
等しい。
【0047】という2つの条件1a,2aから求まる。
【0048】(1)被計測物体1の表面である4点A,
B,C,Dを含む平面P13、すなわち図16の紙面の
方程式の係数の算出(図14のステップn3)。
【0049】4点A,B,C,Dを含む平面の法線ベク
トル成分は、Z成分が大きく、X,Y成分および距離が
小さいので、平面の方程式を次式で表す。
【0050】
【数3】a1*x+b1*y+z=d1 4点A,B,C,Dは、この平面上の点であるので、
【0051】
【数4】
【0052】これにより、最小2乗法でa,b,dを算
出し、あるいはまた3点A,B,Cの場合には、1行の
成分を無視して逆行列でa1,b1,d1を算出する。
【0053】(2)各点A,B,C,Dのうちの2点か
らの距離が等しい平面の方程式の係数の算出。
【0054】図16の平面図を参照して、点A,Bから
等しい距離にある点は次式になる(図14のステップn
4)。
【0055】
【数5】a2*+b2*y+c2*z=d2 と置く。数5は、平面P11の式である。
【0056】点C,Dも同様に算出する(図14のステ
ップn5)。
【0057】
【数6】a3*x+b3*y+c3*z=d3 と置く。数6は、平面P12の式である。
【0058】(3)円の中心Oの算出。
【0059】数3、数5、数6の3平面の交点が円の中
心である。したがって、円の中心座標(xc1,yc
1,zc1)は次式の連立方程式を解くことで求まる
(図14のステップn6)。
【0060】
【数7】
【0061】これより
【0062】
【数8】
【0063】III、平面P13のX軸まわりの姿勢角α
およびY軸まわりの姿勢角βの計測。
【0064】図17(1)において、平面P13aがX
軸まわりに+Δαだけ角変位して平面P13bの姿勢と
なったとき、スリット光5の平面P13a上の光切断線
26は、平面P13b上では光切断線27のとおりとな
る。カメラ8の撮像面8aにおいて、α=0の光切断線
26の像は参照符26aで示され、その回転後の光切断
線27の像は参照符27aで示される。また図18
(1)で示されるように、平面P13cがY軸まわりに
角度Δβだけ角変位して平面P13dとなったときに
は、平面P13c上の光切断線28は平面P13d上で
光切断線29となる。したがってカメラ8の撮像面8a
において、光切断線28の像28aは光切断線29の像
29aとなる。こうして撮像面8上の像27a,29a
によって、平面P13a,P13bの相互の角度Δαと
平面P13c,P13dの角度+Δβを演算して求める
ことができる。図17および図18にΔα,Δβの定義
を示し、さらに図19〜図21を参照して平面の傾きを
求める手法について具体的に述べる。
【0065】(1)図20に示される対象面P13のX
軸まわりの姿勢角αと、その対象面P13のY軸まわり
の姿勢角βとを求めるにあたり、まず(1)カメラ8の
撮像面8a上の水平スリット光の光切断線30の方程式
を予め求めておき、この光切断線30の方程式と、
(2)予め求めておいた前述のカメラパラメータC11
34とから、(3)光切断線30とレンズ9の主点を通
る平面P14の方程式を求める(図19のステップm
1,m2)。また(4)スリット光の平面P15の方程
式を予め求めておく(図19のステップm3)。
【0066】(2)前のパラグラフ(1)で示した方程
式(1),(3),(4)と、カメラパラメータ(2)
とによって、平面P14,P15の各平面の法線ベクト
ルを求め、その法線ベクトルをP21,P31とし、平面P
14,P15の交線31の方向ベクトルL4を
【0067】
【数9】P41=(1,t4,u4) とすると、P41とP21,P31とは直交するので、
【0068】
【数10】P21・P41=0
【0069】
【数11】P31・P41=0 これにより、P41が求められる(図19のステップm
4)。
【0070】(3)同様にして図21から、光切断線3
2とカメラパラメータより平面P16の方程式を求め、
平面P17の方程式も求めておけば、平面P16,P1
7の法線ベクトルをそれぞれP61,P71、交線33の方
向ベクトルL8を
【0071】
【数12】P51=(s51,1,u51) として、
【0072】
【数13】P61・P51=0
【0073】
【数14】P71・P51=0 これより、P51が求められる(図19のステップm
7)。
【0074】この図21において、平面P16はレンズ
9の主点を通る平面であり、P17は投光器3のスリッ
ト光がなす平面を示している。
【0075】(4)対象面P13の法線ベクトル
【0076】
【数15】P0=(s0,t0,1) はP41,P51に直交するから、
【0077】
【数16】P0・P41=0
【0078】
【数17】P0・P51=0 これより、P0が求められる(図19のステップm
8)。
【0079】センサの撮像面8aの対象面P13に対す
る姿勢角α(X軸まわりの回転角)、β(Y軸まわりの
回転角)は次式で求められる(図19のステップm
9)。
【0080】
【数18】α=tan-1(t0
【0081】
【数19】β=tan-1(s0) IV、距離の計測方法。
【0082】図22に示されるように、平面P13eと
カメラ7の撮像面8との間の距離を計測する際、この平
面P13eがP13fおよびP13gで示すように検出
可能な範囲で変位すると、図22(2)で示されるよう
に撮像面8上では、投光器3のスリット光5の光切断線
34,35,36は像34a,35a,36aとなって
検出される。このようにして撮像面8上の像34a,3
5a,36aを検出することによって、平面P13e,
P13f,P13gの距離を計測することができる。こ
の手法を図23および図24を参照してさらに具体的に
説明する。
【0083】(1)カメラ8の光軸の方程式は、
【0084】
【数20】x=y=0 であって、その撮像面8aと対象面P13との距離d
は、カメラ8のレンズ9の光軸と対象面P13の交点の
Z座標と定義する。
【0085】対象面P13上の1点の座標を求めれば、
対象面P13の法線ベクトルとから対象面P13の平面
の方程式が決定できる。その点は、平面P14,P1
5,P17の交点として得られ、その点を、(x0
0,z0)とすると、対象面P13の方程式は、
【0086】
【数21】 s0(x−x0)+t0(y−y0)+1・(z−z0)=
0 となる(図23のステップr1,r2)。
【0087】(2)距離dは、
【0088】
【数22】d=s00+t00+Z0 として求められる(図23のステップr3,r4)。
【0089】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、被計測物
体をテレビカメラで撮像し、その撮像した画像を処理し
て、被計測物体の2次元の物理量を測定し、こうして得
られた2次元の物理量に基づいて、スリット光が被計測
物体の特定の位置および方向に当たるように、テレビカ
メラを移動して位置決めし、被計測物体に照射されたス
リット光をテレビカメラで撮像し、その画像に基づい
て、被計測物体の3次元位置を測定するようにしたの
で、被計測物体に対するテレビカメラの位置決めを、ラ
フに、すなわち低精度で設定することができ、調整、し
たがってロボットの教示のための時間を短縮することが
できる。このことは特に、被計測物体に形成された長孔
の軸長および四角孔の辺の長さを計測するときには、面
倒な位置と向きの調整が不要となり、調整時間、すなわ
ち教示時間を大幅に短縮することができる。またテレビ
カメラの視野内に、被計測物体の孔などが入ればよいの
で、被計測物体を移動して、テレビカメラの視野内に入
れることが容易であり、その被計測物体の停止時以後の
産業用ロボットの教示動作をむやみに高精度に行う必要
がなく、教示動作が容易となる。
【0090】また本発明によれば、被計測物体の位置が
ずれたときでも、その3次元位置、さらには寸法などを
計測することができる。またテレビカメラの視野内に被
計測物体の複数の孔が存在するときには、その複数の孔
のうちの1つのみの教示を行えばよくなるので、教示作
業を簡便に行うことができるようになる。こうして各孔
の概略の位置を検出して各孔に順番にスリット光を照射
して、各孔の3次元の位置を検出することができる。
【0091】さらに本発明によれば、複数のスリット光
を被計測物体に照射し、そのスリット光をテレビカメラ
で撮像して得た像に基づいて、被計測物体の表面の傾き
と距離を計測し、その傾きと距離との計測結果に基づい
て、テレビカメラの光軸は被計測物体の表面と予め定め
る角度をなし、かつテレビカメラと被計測物体の表面と
の距離が予め定める値となるように、テレビカメラを移
動して位置決めするようにしたので、テレビカメラに対
して奥行き方向に被計測物体がずれているときであって
も、テレビカメラを2次元の物理量である2次元情報の
みを用いて動かしても、スリット光が孔などの特定の位
置および方向に当たるように、テレビカメラを移動して
位置決めすることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の全体の斜視図である。
【図2】光源3からのスリット光55を被計測物体1に
照射し、TVカメラ8によって撮像している状態を示す
図である。
【図3】長孔56を示す斜視図である。
【図4】長孔56にスリット光55を照射している状態
を示す図である。
【図5】図1〜図4に示される実施例における処理回路
50の動作を説明するための教示時の動作のフローチャ
ートである。
【図6】処理回路50の3次元位置計測時の動作を説明
するためのフローチャートである。
【図7】本発明の他の実施例の教示時の動作を説明する
ためのフローチャートである。
【図8】図7に示される実施例の3次元位置の計測時の
動作を説明するためのフローチャートである。
【図9】本発明の他の実施例の光学系を簡略化して示す
図である。
【図10】本発明のさらに他の実施例の光学系を簡略化
して示す図である。
【図11】本発明の他の実施例の光学系の構成を示す簡
略化した図である。
【図12】本発明のさらに他の実施例の光学系の構成を
簡略化して示す図である。
【図13】2つの光源3,4からのスリット光5,6を
用いると共にテレビカメラ8を用いて、孔2の中心位置
を測定するための構成を示す簡略化した斜視図である。
【図14】孔2の中心位置の算出手順を示すフローチャ
ートである。
【図15】スリット光5による点Pの3次元位置計測の
手法を示す斜視図である。
【図16】平面P13の平面図である。
【図17】平面の姿勢角αの定義を示す図である。
【図18】平面の姿勢角βの定義を示す簡略化した図で
ある。
【図19】姿勢角α,βを計測する手順を示すフローチ
ャートである。
【図20】対象面P13のX軸まわりの姿勢角αとY軸
まわりの姿勢角βを計測するための手法を示す簡略化し
た図である。
【図21】姿勢角α,βを計測するための手法を示す簡
略化した図である。
【図22】平面P13e,P13f,P13gの距離の
計測原理を示す簡略化した図である。
【図23】平面の距離dの算出手順を示すフローチャー
トである。
【符号の説明】
1 被計測物体 8 テレビカメラ 3,4 光源 42 ロボット 45 コンベア 46 停止位置 47 重心 48 向き 54 視野 55 スリット光 56 長孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金丸 孝夫 兵庫県明石市川崎町1番1号 川崎重工業 株式会社 明石工場内 (72)発明者 中野 康夫 兵庫県明石市川崎町1番1号 川崎重工業 株式会社 明石工場内 (56)参考文献 特開 平3−186706(JP,A)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被計測物体をテレビカメラで撮像し、 その撮像した画像を処理して、被計測物体の2次元の物
    理量を測定し、 こうして得られた2次元の物理量に基づいて、テレビカ
    メラと一体的である光源からのスリット光が、被計測物
    体の特定の位置および方向に当たるように、テレビカメ
    ラを移動して位置決めし、 被計測物体に照射されたスリット光をテレビカメラで撮
    像し、その画像に基づいて、被計測物体の3次元位置を
    測定することを特徴とする光学式3次元位置計測方法。
  2. 【請求項2】 テレビカメラと一体的な光源からの複数
    のスリット光を被計測物体に照射し、 被計測物体上にあるスリット光をテレビカメラで撮像し
    て得た像に基づいて、被計測物体の表面の傾きと距離を
    測定し、 その傾きと距離との測定結果に基づいて、テレビカメラ
    の光軸は被計測物体の表面と予め定める角度をなし、か
    つテレビカメラと被計測物体の表面との距離が予め定め
    る値になるように、テレビカメラを移動して位置決め
    し、 そのテレビカメラによって被計測物体を撮像し、その撮
    像した画像を処理して、被計測物体の2次元の物理量を
    測定し、 こうして得られた2次元の物理量に基づいて、被計測物
    体の特定の位置および方向にスリット光が当たるよう
    に、テレビカメラを移動して位置決めし、 被計測物体に照射されたスリット光をテレビカメラで撮
    像し、その画像に基づいて、被計測物体の3次元位置を
    測定することを特徴とする光学式3次元位置計測方法。
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JP5682134B2 (ja) * 2010-04-16 2015-03-11 株式会社Ihi 3次元形状測定装置、3次元形状測定付加装置および3次元形状測定方法
JP5799627B2 (ja) 2011-07-15 2015-10-28 セイコーエプソン株式会社 位置検出装置、位置検出システムおよび入力機能付き表示システム
JP6101516B2 (ja) * 2013-02-27 2017-03-22 三菱重工業株式会社 施工対象物の孔位置取得方法、及びこれを用いた遮熱コーティング方法
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