JPH08190787A - 相対バンクメモリをリフレッシュする方法及び回路 - Google Patents
相対バンクメモリをリフレッシュする方法及び回路Info
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- JPH08190787A JPH08190787A JP7227008A JP22700895A JPH08190787A JP H08190787 A JPH08190787 A JP H08190787A JP 7227008 A JP7227008 A JP 7227008A JP 22700895 A JP22700895 A JP 22700895A JP H08190787 A JPH08190787 A JP H08190787A
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- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 メモリシステムにおけるデータブロックの迅
速なリフレッシュを与える。 【解決手段】 メモリ回路200を設け、それに行及び
列に配列したメモリセル201の第1及び第2バンクを
設ける。第1の行デコーダ210aを設けて、行アドレ
スの第1グループからの行アドレスに応答して第1バン
ク201a内の行を選択する。第2の行デコーダ210
bを設けて、行アドレスの第2グループからの行アドレ
スに応答して第1バンク201b内の行を選択する。行
アドレス回路208、209を設けて、メモリ回路20
0へのアドレスポートで受け取った単一の行アドレスに
応答して連続する行アドレスを行デコーダ210に現
し、その行アドレス回路208、209はリフレッシュ
モードにおいて第1グループの行アドレスのみを現す。
速なリフレッシュを与える。 【解決手段】 メモリ回路200を設け、それに行及び
列に配列したメモリセル201の第1及び第2バンクを
設ける。第1の行デコーダ210aを設けて、行アドレ
スの第1グループからの行アドレスに応答して第1バン
ク201a内の行を選択する。第2の行デコーダ210
bを設けて、行アドレスの第2グループからの行アドレ
スに応答して第1バンク201b内の行を選択する。行
アドレス回路208、209を設けて、メモリ回路20
0へのアドレスポートで受け取った単一の行アドレスに
応答して連続する行アドレスを行デコーダ210に現
し、その行アドレス回路208、209はリフレッシュ
モードにおいて第1グループの行アドレスのみを現す。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は概略電子機器、回
路構成及びシステムに関し、詳しくは相対バンクメモリ
をリフレッシュする方法及び回路に関する。
路構成及びシステムに関し、詳しくは相対バンクメモリ
をリフレッシュする方法及び回路に関する。
【0002】
【従来の技術】数値及びビデオ/グラフィックデータ処
理システムのような多くの処理システムは、連続するデ
ジタルデータワード又はデジタルデータワードの流れで
作動する。例えば、典型的なグラフィック/ビデオ処理
システムは連続するピクセルデータワードを処理するも
ので、そのワードの各々は表示スクリーン上に表示され
るピクセルのフレームの対応ピクセルのカラー又はグレ
ースケールレベルを定める。一般的には、所定のフレー
ムを画定するピクセルデータのワードは表示コントロー
ラと、フレームバッファメモリと、表示との間で交換さ
れ、同一のシーケンスにおいてそのようなワードが表示
スクリーン上の対応ピクセルをリフレッシュする間に必
要とされる。数値データの処理装置においては、連続す
るデータワードが発生し、メモリに記憶され、その後、
一連の数値計算を実行するために必要なときに連続して
引き出される。各々の場合において、そのような連続す
るデータを処理装置の間で交換するために時間が必要で
あることと、システム性能を最適化するためにメモリを
最小化することとが重要となる。
理システムのような多くの処理システムは、連続するデ
ジタルデータワード又はデジタルデータワードの流れで
作動する。例えば、典型的なグラフィック/ビデオ処理
システムは連続するピクセルデータワードを処理するも
ので、そのワードの各々は表示スクリーン上に表示され
るピクセルのフレームの対応ピクセルのカラー又はグレ
ースケールレベルを定める。一般的には、所定のフレー
ムを画定するピクセルデータのワードは表示コントロー
ラと、フレームバッファメモリと、表示との間で交換さ
れ、同一のシーケンスにおいてそのようなワードが表示
スクリーン上の対応ピクセルをリフレッシュする間に必
要とされる。数値データの処理装置においては、連続す
るデータワードが発生し、メモリに記憶され、その後、
一連の数値計算を実行するために必要なときに連続して
引き出される。各々の場合において、そのような連続す
るデータを処理装置の間で交換するために時間が必要で
あることと、システム性能を最適化するためにメモリを
最小化することとが重要となる。
【0003】ダイナミック・ランダム・アクセス・メモ
リ(DRAM)デバイスは、多くの場合、上記のシステ
ムのように連続してアクセスされるメモリシステムの構
造に用いられる。それらのデバイスは一般的には行及び
列のアレイに配置されたダイナミック記憶セルにビット
データを収容する。この構成を用いると、全体のワード
データを構成するビットをアレイ内の隣り合うセル、つ
まり、同一行の隣り合うセルに記憶できるとともにそこ
から引き出すことができる。ページモード(バーストモ
ード)アクセスがその後一般的に用いられて、単一アド
レスサイクルの間に所定の行から1又は2以上のワード
をアクセスして処理速度の改善が行われている。DRA
Mページモードアクセス(読出し又は書込みの一方)の
間に、行アドレスがデバイスアドレスポートに現れ、行
アドレスストローブ(RAS)でラッチされ、これによ
り、アレイ内の所定の行が選択される。列アドレススト
ローブ(CAS)が次にアドレスポートに現れ、列アド
レスストローブでラッチされ、これによって第1列が選
択されて、選択済みの行に沿った第1セルへのアクセス
が可能になる。列デコード回路(スタティック又はダイ
ナミック)は、その後、受取った列アドレスから増加し
て隣の列へ連続する列アドレスを発生し、選択行からセ
ル(ビット)の「ページ」又は連続のアクセスが可能と
なる。
リ(DRAM)デバイスは、多くの場合、上記のシステ
ムのように連続してアクセスされるメモリシステムの構
造に用いられる。それらのデバイスは一般的には行及び
列のアレイに配置されたダイナミック記憶セルにビット
データを収容する。この構成を用いると、全体のワード
データを構成するビットをアレイ内の隣り合うセル、つ
まり、同一行の隣り合うセルに記憶できるとともにそこ
から引き出すことができる。ページモード(バーストモ
ード)アクセスがその後一般的に用いられて、単一アド
レスサイクルの間に所定の行から1又は2以上のワード
をアクセスして処理速度の改善が行われている。DRA
Mページモードアクセス(読出し又は書込みの一方)の
間に、行アドレスがデバイスアドレスポートに現れ、行
アドレスストローブ(RAS)でラッチされ、これによ
り、アレイ内の所定の行が選択される。列アドレススト
ローブ(CAS)が次にアドレスポートに現れ、列アド
レスストローブでラッチされ、これによって第1列が選
択されて、選択済みの行に沿った第1セルへのアクセス
が可能になる。列デコード回路(スタティック又はダイ
ナミック)は、その後、受取った列アドレスから増加し
て隣の列へ連続する列アドレスを発生し、選択行からセ
ル(ビット)の「ページ」又は連続のアクセスが可能と
なる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ページ(バースト)モ
ードを実行する現在入手可能なDRAMのページ(バー
スト)長さは、有効な列アドレススペースによって部分
的に制限を受ける。言い換えると、単一ページとしてア
クセス可能なビットの数は、所定のアドレスサイクルの
間に発生することのできる列アドレスの数に依存する。
一旦列アドレススペースが使い尽くされると、新たな行
アドレスが現れてRASの立ち下がりエッジでラッチさ
れなければならない(つまり、新たなアドレスサイクル
が初期化される)。加えて、予備チャージがアドレスサ
イクル間(つまり、RASが高のとき)に行われなけれ
ばならず、それは追加の時間を必要とする。従って、新
たなアドレスサイクルの各々においてアクセスタイムの
不利を払うことになる。
ードを実行する現在入手可能なDRAMのページ(バー
スト)長さは、有効な列アドレススペースによって部分
的に制限を受ける。言い換えると、単一ページとしてア
クセス可能なビットの数は、所定のアドレスサイクルの
間に発生することのできる列アドレスの数に依存する。
一旦列アドレススペースが使い尽くされると、新たな行
アドレスが現れてRASの立ち下がりエッジでラッチさ
れなければならない(つまり、新たなアドレスサイクル
が初期化される)。加えて、予備チャージがアドレスサ
イクル間(つまり、RASが高のとき)に行われなけれ
ばならず、それは追加の時間を必要とする。従って、新
たなアドレスサイクルの各々においてアクセスタイムの
不利を払うことになる。
【0005】DRAMに基づくメモリシステムのいずれ
のものを用いても、データのリフレッシュは重要な考慮
すべき事項となる。頻繁なリフレッシュを行わないと、
ダイナミックメモリセルに記憶されたデータ(つまり、
チャージ)は低下し又は完全に失われる。ページ又はバ
ーストモードで作動するDRAMのような、ブロックデ
ータで作動するダイナミックメモリシステムの場合に
は、多くの場合にデータのブロックを十分な時間周期で
保持する必要があり、また、連続的なブロックのリフレ
ッシュが必要となる。典型的な例では、各DRAMデバ
イスは、カウンタを用いることによってデータ記憶持続
期間の間にブロックを連続的にリフレッシュするモード
に置かれ、そのカウンタは、各行ごとに列アドレス最小
値から列アドレス最大値までを計数することによって行
アドレスを発生する。各々の新たな行ごとに完全なRA
Sサイクルが実行されなければならない(つまり、新た
な行アドレスが現れなければならず、またRASでラッ
チされなければならない)。新たなRASサイクルの各
々に対してアクセス時間ペナルティーが払われる。
のものを用いても、データのリフレッシュは重要な考慮
すべき事項となる。頻繁なリフレッシュを行わないと、
ダイナミックメモリセルに記憶されたデータ(つまり、
チャージ)は低下し又は完全に失われる。ページ又はバ
ーストモードで作動するDRAMのような、ブロックデ
ータで作動するダイナミックメモリシステムの場合に
は、多くの場合にデータのブロックを十分な時間周期で
保持する必要があり、また、連続的なブロックのリフレ
ッシュが必要となる。典型的な例では、各DRAMデバ
イスは、カウンタを用いることによってデータ記憶持続
期間の間にブロックを連続的にリフレッシュするモード
に置かれ、そのカウンタは、各行ごとに列アドレス最小
値から列アドレス最大値までを計数することによって行
アドレスを発生する。各々の新たな行ごとに完全なRA
Sサイクルが実行されなければならない(つまり、新た
な行アドレスが現れなければならず、またRASでラッ
チされなければならない)。新たなRASサイクルの各
々に対してアクセス時間ペナルティーが払われる。
【0006】従って、改良されたメモリ構造、回路の必
要性が生じ、さらに、それらを用いてデータブロックの
迅速なリフレッシュを与える方法の必要性が生じた。
要性が生じ、さらに、それらを用いてデータブロックの
迅速なリフレッシュを与える方法の必要性が生じた。
【0007】
【課題を解決するための手段】概略、本願発明の主体構
成は二重(相対)バンクメモリシステムにおいてダイナ
ミックメモリセルの2つのバンクを同時にリフレッシュ
する点にある。特に、本願発明の主体構成はメモリシス
テムの構造を提供する点にあり、そのシステムでは、バ
ンクの内の選択した1の中のセルを従来の読出し/書込
みモードにおいてアクセスすることができ、また、両方
のメモリバンク内のセルブロックを単一の最初の列アド
レス及び単一の最初の行アドレスに応答してリフレッシ
ュモードでリフレッシュすることができる。
成は二重(相対)バンクメモリシステムにおいてダイナ
ミックメモリセルの2つのバンクを同時にリフレッシュ
する点にある。特に、本願発明の主体構成はメモリシス
テムの構造を提供する点にあり、そのシステムでは、バ
ンクの内の選択した1の中のセルを従来の読出し/書込
みモードにおいてアクセスすることができ、また、両方
のメモリバンク内のセルブロックを単一の最初の列アド
レス及び単一の最初の行アドレスに応答してリフレッシ
ュモードでリフレッシュすることができる。
【0008】本願発明の第1の実施例によると、メモリ
回路が設けられ、それは行及び列に配置されたメモリセ
ルの第1及び第2バンクを備える。第1行デコーダが設
けられ、行アドレスの第1のグループから得た行アドレ
スに応答して第1のバンク内の所定の行を選択する。第
2行デコーダが設けられ、行アドレスの第2のグループ
から得た行アドレスに応答して第2のバンク内の所定の
行を選択する。行アドレス回路は、そのメモリ回路への
アドレスポートで受け取った単一の行アドレスに応答し
て連続する行アドレスを行デコーダに現し、行アドレス
回路はリフレッシュモードにおいて第1のグループの行
アドレスのみを現す。リフレッシュ回路は行アドレス回
路を第2行デコーダに結合し、リフレッシュモードにお
いて、第1のグループにおいて行アドレス回路によって
現された各行アドレスを第2行デコーダで用いるために
第2グループの行アドレスに変換する。
回路が設けられ、それは行及び列に配置されたメモリセ
ルの第1及び第2バンクを備える。第1行デコーダが設
けられ、行アドレスの第1のグループから得た行アドレ
スに応答して第1のバンク内の所定の行を選択する。第
2行デコーダが設けられ、行アドレスの第2のグループ
から得た行アドレスに応答して第2のバンク内の所定の
行を選択する。行アドレス回路は、そのメモリ回路への
アドレスポートで受け取った単一の行アドレスに応答し
て連続する行アドレスを行デコーダに現し、行アドレス
回路はリフレッシュモードにおいて第1のグループの行
アドレスのみを現す。リフレッシュ回路は行アドレス回
路を第2行デコーダに結合し、リフレッシュモードにお
いて、第1のグループにおいて行アドレス回路によって
現された各行アドレスを第2行デコーダで用いるために
第2グループの行アドレスに変換する。
【0009】本願発明の第2実施例によると、メモリ回
路が設けられ、それは行及び列に配置されたメモリセル
の第1及び第2バンクを含み、各行はワードラインコン
ダクタと関連し、各列はビットラインコンダクタと関連
する。第1行デコーダは第1バンクのワードラインに接
続されていて、行アドレスの第1グループからの行アド
レスに応答して第1バンク内の行を選択する。第2行デ
コーダは第2バンクのワードラインに接続されていて行
アドレスの第2グループからの行アドレスに応答して第
2バンク内で行を選択する。列デコーダ回路はビットラ
インに接続されていて、読出し/書込みモードの列アド
レスに応答して各バンク内の列を選択し、列デコーダ回
路はリフレッシュモードでは作動しない。センス増幅器
が第1及び第2バンクのビットラインに接続されてい
て、読出し/書込みモードの間に選択された列におい
て、選択された行を読み出すとともにリフレッシュモー
ドにおいて選択された行に沿ってセルをリフレッシュす
る。回路がさらに設けられていて予備チャージモード間
の各バンクにおいてすべてのビットラインを予備チャー
ジする。列アドレスカウンタが設けられていて、クロッ
ク信号に応答して第1列アドレスから最後の列アドレス
まで増加させることによって各行アドレスごとに連続す
る列アドレスを発生する。列アドレスマルチプレクサ回
路が設けられていて、列アドレスバスから受け取った最
初の列アドレスを列デコーダに現し、さらに、その後、
列アドレスカウンタから与えられた少なくとも第1の列
アドレスを列デコーダに現す。行アドレスカウンタが設
けられていて、読出し/書込みモードにおいて、第1行
アドレスから最後の行アドレスまで1つずつ増加させる
ことによって連続する行アドレスを発生し、これは最後
の行の最後の列アドレスに対応する列内のセルへのアク
セスの後に行われ、リフレッシュモードにおいては第1
行アドレスから最後の行アドレスまで2つずつ増加させ
て第1のグループの連続する行アドレスを発生する。行
アドレスマルチプレクサ回路は、行アドレスバスから受
け取った最初の行アドレスを行デコーダに現し、その
後、行カウンタから受け取った少なくとも第1の行アド
レスを行デコーダに現す。最後に、リフレッシュ回路は
行マルチプレクサを第2デコーダに結合し、リフレッシ
ュモードにおいて、リフレッシュ回路は第1グループ内
の各アドレスを第2グループのアドレスに変換する。
路が設けられ、それは行及び列に配置されたメモリセル
の第1及び第2バンクを含み、各行はワードラインコン
ダクタと関連し、各列はビットラインコンダクタと関連
する。第1行デコーダは第1バンクのワードラインに接
続されていて、行アドレスの第1グループからの行アド
レスに応答して第1バンク内の行を選択する。第2行デ
コーダは第2バンクのワードラインに接続されていて行
アドレスの第2グループからの行アドレスに応答して第
2バンク内で行を選択する。列デコーダ回路はビットラ
インに接続されていて、読出し/書込みモードの列アド
レスに応答して各バンク内の列を選択し、列デコーダ回
路はリフレッシュモードでは作動しない。センス増幅器
が第1及び第2バンクのビットラインに接続されてい
て、読出し/書込みモードの間に選択された列におい
て、選択された行を読み出すとともにリフレッシュモー
ドにおいて選択された行に沿ってセルをリフレッシュす
る。回路がさらに設けられていて予備チャージモード間
の各バンクにおいてすべてのビットラインを予備チャー
ジする。列アドレスカウンタが設けられていて、クロッ
ク信号に応答して第1列アドレスから最後の列アドレス
まで増加させることによって各行アドレスごとに連続す
る列アドレスを発生する。列アドレスマルチプレクサ回
路が設けられていて、列アドレスバスから受け取った最
初の列アドレスを列デコーダに現し、さらに、その後、
列アドレスカウンタから与えられた少なくとも第1の列
アドレスを列デコーダに現す。行アドレスカウンタが設
けられていて、読出し/書込みモードにおいて、第1行
アドレスから最後の行アドレスまで1つずつ増加させる
ことによって連続する行アドレスを発生し、これは最後
の行の最後の列アドレスに対応する列内のセルへのアク
セスの後に行われ、リフレッシュモードにおいては第1
行アドレスから最後の行アドレスまで2つずつ増加させ
て第1のグループの連続する行アドレスを発生する。行
アドレスマルチプレクサ回路は、行アドレスバスから受
け取った最初の行アドレスを行デコーダに現し、その
後、行カウンタから受け取った少なくとも第1の行アド
レスを行デコーダに現す。最後に、リフレッシュ回路は
行マルチプレクサを第2デコーダに結合し、リフレッシ
ュモードにおいて、リフレッシュ回路は第1グループ内
の各アドレスを第2グループのアドレスに変換する。
【0010】本願発明の他の実施例によると、メモリが
設けられており、それは行及び列に配置されたメモリセ
ルの第1及び第2バンクを備え、各行はワードラインコ
ンダクタと関連し、各列はビットラインコンダクタと関
連する。第1行デコーダが第1バンクのワードラインに
接続されていて、行アドレスの第1のグループからの行
アドレスに応答して第1バンク内の行を選択する。第2
行デコーダが第2バンクのワードラインに接続されてい
て、行アドレスの第2のグループからの行アドレスに応
答して第2バンク内の行を選択する。回路が設けられて
いてリフレッシュモードの間、少なくともいくつかのビ
ットラインをあらかじめ(予備)チャージする。センス
増幅器が設けられていて選択されたワードライン及び予
備チャージされたビットラインと関連する各セルをリフ
レッシュする。行アドレス回路に選択的に接続された行
アドレスカウンタは、第1行アドレスから最後の行アド
レスまで2つずつリフレッシュモードにおいて増加する
ことによって第1グループの連続する行リフレッシュア
ドレスを発生する。行アドレスカウンタ及び第2行デコ
ーダを選択的に結合するリフレッシュ回路はリフレッシ
ュモードにおいて第1グループ内の行アドレスを、選択
したビットを反転させることによって第2グループ内の
行アドレスに変換する。
設けられており、それは行及び列に配置されたメモリセ
ルの第1及び第2バンクを備え、各行はワードラインコ
ンダクタと関連し、各列はビットラインコンダクタと関
連する。第1行デコーダが第1バンクのワードラインに
接続されていて、行アドレスの第1のグループからの行
アドレスに応答して第1バンク内の行を選択する。第2
行デコーダが第2バンクのワードラインに接続されてい
て、行アドレスの第2のグループからの行アドレスに応
答して第2バンク内の行を選択する。回路が設けられて
いてリフレッシュモードの間、少なくともいくつかのビ
ットラインをあらかじめ(予備)チャージする。センス
増幅器が設けられていて選択されたワードライン及び予
備チャージされたビットラインと関連する各セルをリフ
レッシュする。行アドレス回路に選択的に接続された行
アドレスカウンタは、第1行アドレスから最後の行アド
レスまで2つずつリフレッシュモードにおいて増加する
ことによって第1グループの連続する行リフレッシュア
ドレスを発生する。行アドレスカウンタ及び第2行デコ
ーダを選択的に結合するリフレッシュ回路はリフレッシ
ュモードにおいて第1グループ内の行アドレスを、選択
したビットを反転させることによって第2グループ内の
行アドレスに変換する。
【0011】本願発明の主体構成は改良したメモリシス
テム及びデータのブロックを迅速にリフレッシュするた
めの回路を提供する。特に、それらのメモリシステム及
び回路によると、メモリのブロック全体又はメモリ自体
の全体さえも、単一の受け取り行アドレス及び単一の受
け取り列アドレスに応答して、リフレッシュさせること
ができる。
テム及びデータのブロックを迅速にリフレッシュするた
めの回路を提供する。特に、それらのメモリシステム及
び回路によると、メモリのブロック全体又はメモリ自体
の全体さえも、単一の受け取り行アドレス及び単一の受
け取り列アドレスに応答して、リフレッシュさせること
ができる。
【0012】以下に続く本願発明の詳細な説明をより理
解しやすくするために、今までは本願発明の及び利点の
概略を大まかに述べた。本願発明の別の特徴及び利点は
本願の特許請求の範囲の主題の形式をとって以下に説明
する。着想及び開示した特定の実施例は基本原理として
実施することができ、他の構造に変更又は設計して本願
発明の同一の目的を達成できることは当業者は認識でき
るであろう。また、そのような同等の構造は特許請求の
範囲に記載した本願発明の意図及び範囲を逸脱すること
がないことも当業者は認識するであろう。
解しやすくするために、今までは本願発明の及び利点の
概略を大まかに述べた。本願発明の別の特徴及び利点は
本願の特許請求の範囲の主題の形式をとって以下に説明
する。着想及び開示した特定の実施例は基本原理として
実施することができ、他の構造に変更又は設計して本願
発明の同一の目的を達成できることは当業者は認識でき
るであろう。また、そのような同等の構造は特許請求の
範囲に記載した本願発明の意図及び範囲を逸脱すること
がないことも当業者は認識するであろう。
【0013】
【発明の実施の形態】本願発明の主体構成及び利点は図
1乃至4に図示した実施例を参照することによって最も
理解することができる。その図において同様な番号は同
様な素子を示す。
1乃至4に図示した実施例を参照することによって最も
理解することができる。その図において同様な番号は同
様な素子を示す。
【0014】本願発明の主体構成をグラフィック/ビデ
オ処理システムに関連する範囲で説明するが、それらの
主体構成によるメモリ構造、回路及びシステムは多数の
処理装置のどれにも用いることができ、特に、連続する
データで作動するものに用いることができる。
オ処理システムに関連する範囲で説明するが、それらの
主体構成によるメモリ構造、回路及びシステムは多数の
処理装置のどれにも用いることができ、特に、連続する
データで作動するものに用いることができる。
【0015】図1は処理システム100の一部の高レベ
ル機能ブロック図であり、それはグラフィック及びビデ
オ又はそれらのいずれかの表示を制御する。システム1
00は中央処理ユニット101、システムバス102、
表示コントローラ103、フレームバッファ104、デ
ジタル・アナログ変換器(DAC)105及び表示装置
106を備える。表示コントローラ103、フレームバ
ッファ104及びDAC105は単一の集積回路チップ
107上に一緒に又は別々のチップ上に作ることができ
る。
ル機能ブロック図であり、それはグラフィック及びビデ
オ又はそれらのいずれかの表示を制御する。システム1
00は中央処理ユニット101、システムバス102、
表示コントローラ103、フレームバッファ104、デ
ジタル・アナログ変換器(DAC)105及び表示装置
106を備える。表示コントローラ103、フレームバ
ッファ104及びDAC105は単一の集積回路チップ
107上に一緒に又は別々のチップ上に作ることができ
る。
【0016】CPU101は、システム(「親」)10
0の全体の作動を制御し、ユーザーコマンド下で表示ユ
ニット106に表示する予定のグラフィックの内容を決
定し、さらに、様々なデータ処理機能を実行する。CP
U101は、例えば、市販のパーソナルコンピュータに
用いられる一般的な目的のマイクロプロセッサであって
もよい。CPU101はシステムバス102を経由して
システム100の他の部分とつながっており、システム
バス102は、例えば、ローカルバス、ISAバス又は
PCIバスであってもよい。DAC105はコントロー
ラ103からデジタルデータを受けとり、応答の際に表
示装置106を作動させるのに必要なアナログデータを
出力する。システム100の特定の実行に応じて、DA
C105は、カラーパレット、YUVからRGBへのフ
ォーマット変換回路、並びにX及びYズーム回路又はそ
れらのいずれかを含んで少しのオプションを指名するこ
ともこともできる。
0の全体の作動を制御し、ユーザーコマンド下で表示ユ
ニット106に表示する予定のグラフィックの内容を決
定し、さらに、様々なデータ処理機能を実行する。CP
U101は、例えば、市販のパーソナルコンピュータに
用いられる一般的な目的のマイクロプロセッサであって
もよい。CPU101はシステムバス102を経由して
システム100の他の部分とつながっており、システム
バス102は、例えば、ローカルバス、ISAバス又は
PCIバスであってもよい。DAC105はコントロー
ラ103からデジタルデータを受けとり、応答の際に表
示装置106を作動させるのに必要なアナログデータを
出力する。システム100の特定の実行に応じて、DA
C105は、カラーパレット、YUVからRGBへのフ
ォーマット変換回路、並びにX及びYズーム回路又はそ
れらのいずれかを含んで少しのオプションを指名するこ
ともこともできる。
【0017】表示回路106は、例えば、CRTユニッ
ト若しくは液晶表示、エレクトロルミネッセンス表示、
プラズマ表示(PLD)又は複数のピクセルとして表示
スクリーンに画像を表示するような他の種類の表示装置
であってもよい。さらに、表示装置106は、直接デジ
タルデータを受けとる(1994年の1月に発行された
IEEEの「スペクトル」(Spectrum)に示されている
ような)シリコンカーバイドのようなデバイス又はデジ
タルマイクロミラーのような最先端技術のデバイスを用
いることもできる。別の例においては、「表示装置」1
06を、他の種類のレーザプリンタ又は同様な書類視認
/プリント装置としてもよい点も認識すべきである。
ト若しくは液晶表示、エレクトロルミネッセンス表示、
プラズマ表示(PLD)又は複数のピクセルとして表示
スクリーンに画像を表示するような他の種類の表示装置
であってもよい。さらに、表示装置106は、直接デジ
タルデータを受けとる(1994年の1月に発行された
IEEEの「スペクトル」(Spectrum)に示されている
ような)シリコンカーバイドのようなデバイス又はデジ
タルマイクロミラーのような最先端技術のデバイスを用
いることもできる。別の例においては、「表示装置」1
06を、他の種類のレーザプリンタ又は同様な書類視認
/プリント装置としてもよい点も認識すべきである。
【0018】図2は本願発明に係るダイナミック・ラン
ダム・アクセス・メモリ(DRAM)の機能ブロック図
である。図1に示したシステムにおいては、DRAM2
00はフレームバッファ104を構成するように用いら
れているが、DRAM200は広範囲の応用に適し、特
に、連続又はページ(バースト)モードアクセス動作を
必要とする応用装置に適する。DRAM200は一対の
データバンク201a(バンク0)及び201bを(バ
ンク1)備え、各々はM行とN列のアレーに配置された
複数の記憶セル202からなる。各行の記憶セルは導電
性行ライン(ワードライン)203に接続され、各列の
セルは導電性列ライン(ビットライン)204に接続さ
れる。セル202、ワードライン203及びビットライ
ン204は参考として各バンク201に示したものであ
る。
ダム・アクセス・メモリ(DRAM)の機能ブロック図
である。図1に示したシステムにおいては、DRAM2
00はフレームバッファ104を構成するように用いら
れているが、DRAM200は広範囲の応用に適し、特
に、連続又はページ(バースト)モードアクセス動作を
必要とする応用装置に適する。DRAM200は一対の
データバンク201a(バンク0)及び201bを(バ
ンク1)備え、各々はM行とN列のアレーに配置された
複数の記憶セル202からなる。各行の記憶セルは導電
性行ライン(ワードライン)203に接続され、各列の
セルは導電性列ライン(ビットライン)204に接続さ
れる。セル202、ワードライン203及びビットライ
ン204は参考として各バンク201に示したものであ
る。
【0019】制御回路205は、アドレスのラッチ及び
入力、メモリ200への外部の回路及びデバイスを用い
てのデータ変換、電源入力及び分配、RAS、CAS及
び読出し/書込みのような制御信号の入力、並びに、必
要な内部クロックを制御する。所定の行アドレスをアド
レスポートで受け取り、行アドレスストローブ(RA
S)の受け取りとともにラッチすると、所定の行アドレ
スが内部行アドレスバス206に現れる。行アドレスが
ラッチされた後に、アドレスポートで受け取られた列ア
ドレスが列アドレスストローブ(CAS)とともにラッ
チされ、内部列アドレスバス207に現れる。
入力、メモリ200への外部の回路及びデバイスを用い
てのデータ変換、電源入力及び分配、RAS、CAS及
び読出し/書込みのような制御信号の入力、並びに、必
要な内部クロックを制御する。所定の行アドレスをアド
レスポートで受け取り、行アドレスストローブ(RA
S)の受け取りとともにラッチすると、所定の行アドレ
スが内部行アドレスバス206に現れる。行アドレスが
ラッチされた後に、アドレスポートで受け取られた列ア
ドレスが列アドレスストローブ(CAS)とともにラッ
チされ、内部列アドレスバス207に現れる。
【0020】行アドレスバス206は行アドレスマルチ
プレクサ208の第1入力とカウンタ209のデータ負
荷入力とに接続される。行マルチプレクサの第2の入力
は行アドレスカウンタ209の出力に接続されている。
以下にさらに説明するように、行アドレスカウンタは最
初の行アドレスをロードし、クロック信号ROWINC
に応答してそれから増加して連続する行アドレスを発生
する。各データバンク201は行ライン(ワードライ
ン)デコーダ210に接続されている。望ましい実施例
においては、ワードラインデコーダ210aは行アドレ
スマルチプレクサ208からの偶数のアドレス出力に応
答してバンク201a内の行をアクセスするために選択
し、ワードラインデコーダ210bは行アドレスマルチ
プレクサ208からの奇数のアドレス出力に応答してバ
ンク201b内の行をアクセスするために選択する。
プレクサ208の第1入力とカウンタ209のデータ負
荷入力とに接続される。行マルチプレクサの第2の入力
は行アドレスカウンタ209の出力に接続されている。
以下にさらに説明するように、行アドレスカウンタは最
初の行アドレスをロードし、クロック信号ROWINC
に応答してそれから増加して連続する行アドレスを発生
する。各データバンク201は行ライン(ワードライ
ン)デコーダ210に接続されている。望ましい実施例
においては、ワードラインデコーダ210aは行アドレ
スマルチプレクサ208からの偶数のアドレス出力に応
答してバンク201a内の行をアクセスするために選択
し、ワードラインデコーダ210bは行アドレスマルチ
プレクサ208からの奇数のアドレス出力に応答してバ
ンク201b内の行をアクセスするために選択する。
【0021】列アドレスバス207は列アドレスマルチ
プレクサ211の第1入力とカウンタ212のデータ負
荷入力とに接続されている。以下に説明するように、列
アドレスカウンタ212は最初のアドレスをロードし、
CASの各立下がりエッジ(または、CASから発生し
たクロック信号)に応答してそれから増加して連続する
列アドレスを発生する。列アドレスマルチプレクサ21
1の出力は、バンク201a、201bにそれぞれ接続
された列デコーダ/センス増幅器回路213a、213
bに結合されている。望ましい実施例においては、列デ
コーダ213a及び213bの両方ともが列アドレスマ
ルチプレクサ211からのそれぞれのアドレス出力に応
答する。列アドレスデコーダ/センス増幅器213及び
列ライン204はバンク201内の選択されたセルへの
アクセス経路を提供する。
プレクサ211の第1入力とカウンタ212のデータ負
荷入力とに接続されている。以下に説明するように、列
アドレスカウンタ212は最初のアドレスをロードし、
CASの各立下がりエッジ(または、CASから発生し
たクロック信号)に応答してそれから増加して連続する
列アドレスを発生する。列アドレスマルチプレクサ21
1の出力は、バンク201a、201bにそれぞれ接続
された列デコーダ/センス増幅器回路213a、213
bに結合されている。望ましい実施例においては、列デ
コーダ213a及び213bの両方ともが列アドレスマ
ルチプレクサ211からのそれぞれのアドレス出力に応
答する。列アドレスデコーダ/センス増幅器213及び
列ライン204はバンク201内の選択されたセルへの
アクセス経路を提供する。
【0022】望ましい実施例においては、列デコーダ/
センス増幅器回路213内のセンス増幅器は従来のセン
ス増幅器であり、それは、能動化された(選択された)
ワードライン203と選択されたビットライン204
(読出し又はリフレッシュの間にあらかじめチャージさ
れている)との交点における各セルをリフレッシュす
る。ほぼ0ボルトの電圧がそのように選択されたセル2
02のキャパシタに記憶されると、その後、読出し又は
リフレッシュサイクルの間に、そのキャパシタは関連す
るビットライン204に接続され、あらかじめチャージ
されたビットライン204のキャパシタンスに保持され
た電荷によってチャージされる。その結果、ビットライ
ン電圧はプルダウンされる。ビットライン204と結合
したセンス増幅器はその電圧の低下を検知し約0ボルト
の電圧を出力する。センス増幅器からのその0ボルト電
圧出力はビットライン204に加えられて選択されたセ
ル202のキャパシタのキャパシタの電荷を約ゼロ電圧
に再記憶(リフレッシュ)する。選択セル202のキャ
パシタがその代わりに正の電圧を記憶すると、キャパシ
タに記憶された電荷は読出し/リフレッシュ作動の間に
関連するビットラインと結合し、その結果そのビットラ
インの電圧が増加する。関連するセンス増幅器がビット
ライン204上の僅かな電圧の変化を検知してそれに対
応する高電圧を出力する。この高電圧は選択されたビッ
トライン204に加えられ、選択セル202のキャパシ
タの電圧を完全に再蓄積(リフレッシュ)する。
センス増幅器回路213内のセンス増幅器は従来のセン
ス増幅器であり、それは、能動化された(選択された)
ワードライン203と選択されたビットライン204
(読出し又はリフレッシュの間にあらかじめチャージさ
れている)との交点における各セルをリフレッシュす
る。ほぼ0ボルトの電圧がそのように選択されたセル2
02のキャパシタに記憶されると、その後、読出し又は
リフレッシュサイクルの間に、そのキャパシタは関連す
るビットライン204に接続され、あらかじめチャージ
されたビットライン204のキャパシタンスに保持され
た電荷によってチャージされる。その結果、ビットライ
ン電圧はプルダウンされる。ビットライン204と結合
したセンス増幅器はその電圧の低下を検知し約0ボルト
の電圧を出力する。センス増幅器からのその0ボルト電
圧出力はビットライン204に加えられて選択されたセ
ル202のキャパシタのキャパシタの電荷を約ゼロ電圧
に再記憶(リフレッシュ)する。選択セル202のキャ
パシタがその代わりに正の電圧を記憶すると、キャパシ
タに記憶された電荷は読出し/リフレッシュ作動の間に
関連するビットラインと結合し、その結果そのビットラ
インの電圧が増加する。関連するセンス増幅器がビット
ライン204上の僅かな電圧の変化を検知してそれに対
応する高電圧を出力する。この高電圧は選択されたビッ
トライン204に加えられ、選択セル202のキャパシ
タの電圧を完全に再蓄積(リフレッシュ)する。
【0023】入力/出力マルチプレクサ214は、行ア
ドレスマルチプレクサ208からの出力に応答して制御
回路205と列デコーダ/センス増幅器213a、21
3bとの間のデータの交換を制御する。望ましい実施例
においては、I/Oマルチプレクサ214によって、偶
数の行アドレスに応答して(列デコーダ/センス増幅器
213aを通じて)バンク201a内でアドレスされた
セルにアクセスすることができるとともに、奇数の行ア
ドレスに応答してバンク201b内でアドレスされたセ
ルにアクセスすることができる。
ドレスマルチプレクサ208からの出力に応答して制御
回路205と列デコーダ/センス増幅器213a、21
3bとの間のデータの交換を制御する。望ましい実施例
においては、I/Oマルチプレクサ214によって、偶
数の行アドレスに応答して(列デコーダ/センス増幅器
213aを通じて)バンク201a内でアドレスされた
セルにアクセスすることができるとともに、奇数の行ア
ドレスに応答してバンク201b内でアドレスされたセ
ルにアクセスすることができる。
【0024】行アドレスマルチプレクサ208及び列ア
ドレスマルチプレクサ211はマルチプレクサ制御回路
215による制御信号に応答して切り換えられる。制御
回路205を介して受け取られたモード選択信号は、メ
モリ200が従来のランダムアクセスモードで作動して
いるのか、又はページ(バースト)モードで作動してい
るのかを決定する。ランダムアクセスモードにおいて
は、行アドレスマルチプレクサ208及び列アドレスマ
ルチプレクサ211は常に切り換えられて、行及び列ア
ドレスバス206、207に現れたアドレスを行及び列
デコーダ210、211に通過させる。ページモードに
おいては、行アドレスマルチプレクサ208は行アドレ
スバス206に現れた最初の行アドレスを通過させ、そ
の後、マルチプレクサ制御回路215によって切り換え
られて、所定の連続する行アドレスの次の行アドレスが
行カウンタ209を通過するようにする(行カウンタ2
09から出力された第1のアドレスは、最初の行アドレ
スで、そこでロードされて1つ増加する。)。同様に、
ページモードでの列アドレスマルチプレクサ211は列
アドレスバス207に現れた最初の列アドレスを通過さ
せ、その後、マルチプレクサ制御回路215によって切
り換えられて、所定の連続する列アドレス内の後続の列
アドレスが列カウンタ212から通過させられる(列ア
ドレスカウンタ212から出力された第1のアドレス
は、最初の列アドレスであり、そこでロードされて1つ
増加する。)。
ドレスマルチプレクサ211はマルチプレクサ制御回路
215による制御信号に応答して切り換えられる。制御
回路205を介して受け取られたモード選択信号は、メ
モリ200が従来のランダムアクセスモードで作動して
いるのか、又はページ(バースト)モードで作動してい
るのかを決定する。ランダムアクセスモードにおいて
は、行アドレスマルチプレクサ208及び列アドレスマ
ルチプレクサ211は常に切り換えられて、行及び列ア
ドレスバス206、207に現れたアドレスを行及び列
デコーダ210、211に通過させる。ページモードに
おいては、行アドレスマルチプレクサ208は行アドレ
スバス206に現れた最初の行アドレスを通過させ、そ
の後、マルチプレクサ制御回路215によって切り換え
られて、所定の連続する行アドレスの次の行アドレスが
行カウンタ209を通過するようにする(行カウンタ2
09から出力された第1のアドレスは、最初の行アドレ
スで、そこでロードされて1つ増加する。)。同様に、
ページモードでの列アドレスマルチプレクサ211は列
アドレスバス207に現れた最初の列アドレスを通過さ
せ、その後、マルチプレクサ制御回路215によって切
り換えられて、所定の連続する列アドレス内の後続の列
アドレスが列カウンタ212から通過させられる(列ア
ドレスカウンタ212から出力された第1のアドレス
は、最初の列アドレスであり、そこでロードされて1つ
増加する。)。
【0025】マルチプレクサ制御回路215は制御回路
205からバス216を経由して行及び列ストップアド
レスも受け取る。ページモードでは、それらのストップ
アドレスはアクセス予定の最後の行及び列のアドレスを
示す。望ましい実施例においては、行及び列ストップア
ドレスは最初の行及び列アドレスの受け取りに続いてア
ドレス入力ポートにおいて続けて受け取られる。さらに
以下に説明するように、ストップアドレスがCAS及び
ストップアドレスストローブ(SAS)に応答して(マ
ルチプレクサ)にラッチされる。マルチプレクサ制御回
路215は、受け取った行及び列ストップアドレスを、
行カウンタ209及び列カウンタ212から出力される
それぞれの現在のアドレスと比較する。列カウンタ21
2内の計数が列ストップアドレスに等しいときには、ア
ドレス行上の最後のセルがアドレスされており、そのセ
ルへのアクセスが完了した後にCASの次の立ち下がり
のエッジがあると、ROWINCが能動状態になって行
カウンタ209内の行アドレスを増加する。行内の最後
のセルのような所定のセルへのアクセスが完了したこと
は、制御回路205及びI/Oマルチプレクサ214又
はいずれか一方の対応データのラッチをモニターするこ
とによって決定することができる。列カウンタ212は
その後リセット又はラップアラウンドをすることによっ
て初期の列アドレスに戻る。行カウンタ209は、その
計数が制御回路205にラッチされた行ストップアドレ
スに等しくなるまで、ROWINCの各能動期間と同時
に増加する。一旦、最後の選択行の最後の選択セルへの
アクセスが完了すると(つまり、カウンタ209及び2
12のそれぞれが行及び列にラッチされたストップアド
レスと等しくなり、対応してアドレスされたセル202
へのアクセスが完了すると)、バーストアクセスサイク
ルの全体が完了する。行及び列マルチプレクサ208及
び211が切り換わってバス206及び207の新たな
最初のアドレスを待つ。
205からバス216を経由して行及び列ストップアド
レスも受け取る。ページモードでは、それらのストップ
アドレスはアクセス予定の最後の行及び列のアドレスを
示す。望ましい実施例においては、行及び列ストップア
ドレスは最初の行及び列アドレスの受け取りに続いてア
ドレス入力ポートにおいて続けて受け取られる。さらに
以下に説明するように、ストップアドレスがCAS及び
ストップアドレスストローブ(SAS)に応答して(マ
ルチプレクサ)にラッチされる。マルチプレクサ制御回
路215は、受け取った行及び列ストップアドレスを、
行カウンタ209及び列カウンタ212から出力される
それぞれの現在のアドレスと比較する。列カウンタ21
2内の計数が列ストップアドレスに等しいときには、ア
ドレス行上の最後のセルがアドレスされており、そのセ
ルへのアクセスが完了した後にCASの次の立ち下がり
のエッジがあると、ROWINCが能動状態になって行
カウンタ209内の行アドレスを増加する。行内の最後
のセルのような所定のセルへのアクセスが完了したこと
は、制御回路205及びI/Oマルチプレクサ214又
はいずれか一方の対応データのラッチをモニターするこ
とによって決定することができる。列カウンタ212は
その後リセット又はラップアラウンドをすることによっ
て初期の列アドレスに戻る。行カウンタ209は、その
計数が制御回路205にラッチされた行ストップアドレ
スに等しくなるまで、ROWINCの各能動期間と同時
に増加する。一旦、最後の選択行の最後の選択セルへの
アクセスが完了すると(つまり、カウンタ209及び2
12のそれぞれが行及び列にラッチされたストップアド
レスと等しくなり、対応してアドレスされたセル202
へのアクセスが完了すると)、バーストアクセスサイク
ルの全体が完了する。行及び列マルチプレクサ208及
び211が切り換わってバス206及び207の新たな
最初のアドレスを待つ。
【0026】メモリシステム200の作動の完全な説明
のために、米国特許出願第08/291,093号を参
考として示す。
のために、米国特許出願第08/291,093号を参
考として示す。
【0027】本願発明の主体構成によると、リフレッシ
ュイネーブル回路217が行アドレスマルチプレクサ2
08から出力された行アドレスを選択的にバンク1行デ
コーダ210bの入力に接続する。リフレッシュイネー
ブル回路217は、制御回路205からバス218を経
由して受け取る自己リフレッシュイネーブル信号SRE
Nによってリフレッシュモードで能動化する。望ましい
実施例においては、行アドレスカウンタ209はリフレ
ッシュモードでは2つずつ計数して偶数アドレス(通
常、バンク0行デコーダ210aのみを作動する)のみ
を行マルチプレクサ211から出力する。同時に、自己
リフレッシュ回路、つまりリフレッシュイネーブル回路
217は1を最初のアドレスに加えて奇数アドレスをバ
ンク201b(バンク1)に提供し、これにより、リフ
レッシュの間に、奇数バンク201b(バンク1)の対
応ワードラインに同時にアクセスすることができるよう
になる。列デコーダ213はリフレッシュモードでは作
動せず、ビットラインがRASの間に高にチャージされ
る。各起動する(選択された)対のワードライン203
(バンク201aの1つと201bの1つ)のすべての
セルは上記のような従来の方法でリフレッシュされる。
行アドレスカウンタ209は2つずつ増加して、行スト
ップアドレスに到達するまで、又はバンク201の最後
の行に到達するまで、連続するアドレスを発生する。
ュイネーブル回路217が行アドレスマルチプレクサ2
08から出力された行アドレスを選択的にバンク1行デ
コーダ210bの入力に接続する。リフレッシュイネー
ブル回路217は、制御回路205からバス218を経
由して受け取る自己リフレッシュイネーブル信号SRE
Nによってリフレッシュモードで能動化する。望ましい
実施例においては、行アドレスカウンタ209はリフレ
ッシュモードでは2つずつ計数して偶数アドレス(通
常、バンク0行デコーダ210aのみを作動する)のみ
を行マルチプレクサ211から出力する。同時に、自己
リフレッシュ回路、つまりリフレッシュイネーブル回路
217は1を最初のアドレスに加えて奇数アドレスをバ
ンク201b(バンク1)に提供し、これにより、リフ
レッシュの間に、奇数バンク201b(バンク1)の対
応ワードラインに同時にアクセスすることができるよう
になる。列デコーダ213はリフレッシュモードでは作
動せず、ビットラインがRASの間に高にチャージされ
る。各起動する(選択された)対のワードライン203
(バンク201aの1つと201bの1つ)のすべての
セルは上記のような従来の方法でリフレッシュされる。
行アドレスカウンタ209は2つずつ増加して、行スト
ップアドレスに到達するまで、又はバンク201の最後
の行に到達するまで、連続するアドレスを発生する。
【0028】図3はリフレッシュイネーブル回路217
の機能ブロック図である。行アドレスビットBIT0お
よび自己リフレッシュイネーブル信号が、自己リフレッ
シュ回路301に入力される。その詳細な構成は図4に
示す。他の行アドレスビットBIT1−BITnの各々
は遅延回路を通され、遅延BIT0は回路301を通過
する間その似た構造を必要とする。図示された実施例に
おいては、各ビットごとの遅延回路は直列に結合された
対のインバータ300からなる。他の実施例において
は、所定の大きさの遅延をもたらす他の公知の手段を用
いることができる。
の機能ブロック図である。行アドレスビットBIT0お
よび自己リフレッシュイネーブル信号が、自己リフレッ
シュ回路301に入力される。その詳細な構成は図4に
示す。他の行アドレスビットBIT1−BITnの各々
は遅延回路を通され、遅延BIT0は回路301を通過
する間その似た構造を必要とする。図示された実施例に
おいては、各ビットごとの遅延回路は直列に結合された
対のインバータ300からなる。他の実施例において
は、所定の大きさの遅延をもたらす他の公知の手段を用
いることができる。
【0029】図4に示すリフレッシュ回路301の望ま
しい実施例は2セットのトランジスタの組を備えてお
り、その内の第1のセットはトランジスタ400−40
3からなる。pチャンネルトランジスタ400は、Vcc
に結合されたソース/ドレインと、信号SRENを受け
取るように結合されたゲートと、pチャンネルトランジ
スタ401のソース/ドレインの一方に接続された他の
ソース/ドレインとを備える。トランジスタ401のゲ
ートは、インバータ408によって変換された後の行ア
ドレスビットBIT0を受け取るように接続されてい
る。トランジスタ401の他方のソース/ドレインはn
チャンネルトランジスタ402の第1のソース/ドレイ
ンに接続され、トランジスタ402のゲートはインバー
タ408の出力に接続されている。トランジスタ402
の他方のソース/ドレインはnチャンネルトランジスタ
403の第1のソース/ドレインに接続されている。ト
ランジスタ403のゲートはインバータ409の出力に
接続され、そのインバータの入力は制御信号SRENを
受け取る。トランジスタ403の他方のソース/ドレイ
ンはVss(0ボルト)または接地電位に接続されてい
る。
しい実施例は2セットのトランジスタの組を備えてお
り、その内の第1のセットはトランジスタ400−40
3からなる。pチャンネルトランジスタ400は、Vcc
に結合されたソース/ドレインと、信号SRENを受け
取るように結合されたゲートと、pチャンネルトランジ
スタ401のソース/ドレインの一方に接続された他の
ソース/ドレインとを備える。トランジスタ401のゲ
ートは、インバータ408によって変換された後の行ア
ドレスビットBIT0を受け取るように接続されてい
る。トランジスタ401の他方のソース/ドレインはn
チャンネルトランジスタ402の第1のソース/ドレイ
ンに接続され、トランジスタ402のゲートはインバー
タ408の出力に接続されている。トランジスタ402
の他方のソース/ドレインはnチャンネルトランジスタ
403の第1のソース/ドレインに接続されている。ト
ランジスタ403のゲートはインバータ409の出力に
接続され、そのインバータの入力は制御信号SRENを
受け取る。トランジスタ403の他方のソース/ドレイ
ンはVss(0ボルト)または接地電位に接続されてい
る。
【0030】自己リフレッシュ回路301に含まれてい
るトランジスタの第の2セットはトランジスタ404−
407からなる。pチャンネルトランジスタ404はV
ccに結合されたソース/ドレインと、インバータ409
からの信号SRENの相補出力を受け取るように結合さ
れたゲートと、pチャンネルトランジスタ405の第1
のソース/ドレインに接続された他のソース/ドレイン
とを備える。トランジスタ405のゲートは、行アドレ
スビットBIT0を受け取るように接続されている。ト
ランジスタ405の他方のソース/ドレインはnチャン
ネルトランジスタ406の一方のソース/ドレインに接
続され、トランジスタ406のゲートも行アドレスビッ
トBIT0を受け取るように接続されている。トランジ
スタ406の他方のソース/ドレインはnチャンネルト
ランジスタ407の第1のソース/ドレインに接続され
ている。トランジスタ407のゲートは制御信号SRE
Nを受け取る。トランジスタ407の他方のソース/ド
レインはVss(0ボルト)または接地電位に接続されて
いる。
るトランジスタの第の2セットはトランジスタ404−
407からなる。pチャンネルトランジスタ404はV
ccに結合されたソース/ドレインと、インバータ409
からの信号SRENの相補出力を受け取るように結合さ
れたゲートと、pチャンネルトランジスタ405の第1
のソース/ドレインに接続された他のソース/ドレイン
とを備える。トランジスタ405のゲートは、行アドレ
スビットBIT0を受け取るように接続されている。ト
ランジスタ405の他方のソース/ドレインはnチャン
ネルトランジスタ406の一方のソース/ドレインに接
続され、トランジスタ406のゲートも行アドレスビッ
トBIT0を受け取るように接続されている。トランジ
スタ406の他方のソース/ドレインはnチャンネルト
ランジスタ407の第1のソース/ドレインに接続され
ている。トランジスタ407のゲートは制御信号SRE
Nを受け取る。トランジスタ407の他方のソース/ド
レインはVss(0ボルト)または接地電位に接続されて
いる。
【0031】リフレッシュ回路301は、信号SREN
が起動的(高)であるときにBIT0の極性を反転する
ことによって行アドレスデコーダ210b(バンク1)
に供給される行アドレスを変換する。SRENが高であ
り、さらにBIT0が高であると、トランジスタ406
および407は導通してBITOUTを低に引き込む。
SRENが高であり、さらにBIT0が低であると、ト
ランジスタ404および405は導通して出力BITO
UTを約Vccまで引き上げる。
が起動的(高)であるときにBIT0の極性を反転する
ことによって行アドレスデコーダ210b(バンク1)
に供給される行アドレスを変換する。SRENが高であ
り、さらにBIT0が高であると、トランジスタ406
および407は導通してBITOUTを低に引き込む。
SRENが高であり、さらにBIT0が低であると、ト
ランジスタ404および405は導通して出力BITO
UTを約Vccまで引き上げる。
【0032】メモリ200がリフレッシュモードにない
場合には、SRENは低である。BIT0がこのモード
において高であると、トランジスタ400および401
は導通してBITOUTをVccまで引き上げる。BIT
0が低であるときにはトランジスタ402および403
は導通して出力BITOUTを約0ボルトまで引き下げ
る。
場合には、SRENは低である。BIT0がこのモード
において高であると、トランジスタ400および401
は導通してBITOUTをVccまで引き上げる。BIT
0が低であるときにはトランジスタ402および403
は導通して出力BITOUTを約0ボルトまで引き下げ
る。
【0033】本願発明およびその利点を詳細に説明した
が、様々な取換え、置き換え及び変更を、特許請求の範
囲によって明確にした本願発明の意図及び範囲を逸脱す
ることなく行うことができる点を理解すべきである。
が、様々な取換え、置き換え及び変更を、特許請求の範
囲によって明確にした本願発明の意図及び範囲を逸脱す
ることなく行うことができる点を理解すべきである。
本願発明及びその利点のより完全な理解のために添付図
面に関連する以下の説明を参考として示す。
面に関連する以下の説明を参考として示す。
【図1】ページモードメモリアクセスを採用する典型的
なシステム、すなわち、グラフィック/ビデオ処理シス
テムの機能ブロック図である。
なシステム、すなわち、グラフィック/ビデオ処理シス
テムの機能ブロック図である。
【図2】本願発明の主体構成を利用する相対バンクメモ
リの機能ブロック図である。
リの機能ブロック図である。
【図3】図2に示すリフレッシュイネーブル回路のより
詳細な機能ブロック図である。
詳細な機能ブロック図である。
【図4】図3に示す自己リフレッシュ回路の電気概略図
である。
である。
104 フレームバッファ 201a バンク 201b バンク 208 行アドレスマルチプレクサ 211 列アドレスマルチプレクサ 217 リフレッシュイネーブル回路
Claims (20)
- 【請求項1】 行及び列に配置されたメモリセルの第1
及び第2バンクと、 行アドレスの第1グループの行アドレスに応答して前記
第1バンク内の前記行を選択する第1行デコーダと、 行アドレスの第2グループの行アドレスに応答して前記
第2バンク内の前記行を選択する第2行デコーダと、 該メモリ回路へのアドレスポートで受け取った単一の行
アドレスに応答して前記行デコーダに連続する前記行ア
ドレスを与える行アドレス回路であって、リフレッシュ
モードで前記第1グループの行アドレスのみを与える行
アドレス回路と、 該行アドレス回路を前記第2行デコーダに接続するリフ
レッシュ回路であって、前記リフレッシュモードにおい
て前記第1グループ内の前記行アドレス回路によって与
えられた前記行アドレスを前記第2行デコーダが用いる
前記第2グループの前記アドレスに変換するリフレッシ
ュ回路とを備えるメモリ回路。 - 【請求項2】 請求項1のメモリ回路において、前記リ
フレッシュ回路が、前記第1グループの前記アドレスの
選択されたビットを反転することによって前記第1グル
ープの前記アドレスを前記第2グループの前記アドレス
に変換するメモリ回路。 - 【請求項3】 請求項2のメモリ回路において、前記リ
フレッシュ回路が前記第1グループの前記アドレスの最
小のビットを反転するメモリ回路。 - 【請求項4】 請求項1のメモリ回路において、前記第
1グループの前記行アドレスが偶数アドレスからなり、
前記第2グループの前記行アドレスが奇数アドレスから
成るメモリ回路。 - 【請求項5】 請求項1のメモリ回路において、前記第
1グループの前記行アドレスの各々が複数のビットから
なり、前記リフレッシュ回路が、 リフレッシュイネーブル信号に応答して前記複数のビッ
トの選択した1つを反転する回路と、 前記ビットの他のビットを遅延する回路であって、該遅
延が前記ビットの選択された1つによって現される遅延
を模倣するものである回路とを備えるメモリ回路。 - 【請求項6】 請求項5のメモリ回路において、前記反
転するための回路が、 第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインとリフレ
ッシュイネーブル信号を受け取るように接続されたゲー
トとを持つ第1のタイプの第1トランジスタと、 該第1トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記行回路からの反転された
行アドレスビットを受け取るように接続されたゲートと
を持つ前記第1のタイプの第2トランジスタと、 該第2トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記反転された行アドレスビ
ットを受け取るゲートとを持つ第2のタイプの第3トラ
ンジスタと、 該第3のトランジスタの第2ソース/ドレインに接続さ
れた第1ソース/ドレインと、第2電圧源に接続された
第2ソース/ドレインと、前記反転されたリフレッシュ
イネーブル信号を受け取るように接続されたゲートを持
つ前記第2のタイプの第4トランジスタと、 前記第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインと前
記反転されたリフレッシュイネーブル信号を受け取るよ
うに接続されたゲートとを持つ前記第1のタイプの第5
トランジスタと、 該第5トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記アドレスビットを受け取
るように接続されたゲートとを持つ前記第1のタイプの
第6トランジスタと、 該第6トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記アドレスビットを受け取
るように接続されたゲートとを持つ前記第2のタイプの
第7トランジスタと、 該第7トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと、前記第2電圧源に接続され
た第2ソース/ドレインと、前記リフレッシュイネーブ
ル信号を受け取るように接続されたゲートとを持つ前記
第2のタイプの第8トランジスタとを備え、 前記第3トランジスタの前記第1ソース/ドレインと前
記第7トランジスタの前記第1ソース/ドレインとが前
記リフレッシュ回路の出力に接続されているメモリ回
路。 - 【請求項7】 請求項6のメモリ回路において、前記第
1のタイプの前記トランジスタがpチャンネル電界効果
トランジスタであり、前記第2のタイプの前記トランジ
スタがnチャンネル電界効果トランジスタであるメモリ
回路。 - 【請求項8】 請求項1のメモリ回路において、さら
に、 列アドレスに応答して各バンクの前記列を選択する列デ
コーダ回路であって、前記リフレッシュモードにおいて
は不能動化となる列デコーダ回路と、 クロック信号に応答して第1列アドレスから最後の列ア
ドレスまで増加させることによって前記行の各々ごとに
連続する前記列アドレスを発生する列アドレスカウンタ
と、 前記列アドレスバスから受け取った最初の列アドレスを
前記列デコーダに与え、その後、前記列アドレスカウン
タから与えられた少なくとも第1列アドレスを与えるマ
ルチプレクサ回路とを備えるメモリ回路。 - 【請求項9】 請求項1のメモリ回路において、前記行
アドレス回路が、 前記最後の列アドレスに応答する列内の前記セルへのア
クセスに続いて、第1行アドレスから最後の行アドレス
まで増加させることによって、連続する前記行アドレス
を発生する行アドレスカウンタと、 前記行アドレスバスから受け取った最初の行アドレスを
前記行デコーダに与え、その後、前記行アドレスカウン
タから与えられた少なくとも第1行アドレスを与えるマ
ルチプレクサ回路とを備えるメモリ回路。 - 【請求項10】 請求項9のメモリ回路において、前記
行アドレスカウンタが、前記リフレッシュモードにおい
て2つずつ増加を行うメモリ回路。 - 【請求項11】 行及び列に配置されたメモリセルの第
1及び第2バンクであって、前記行の各々がワードレイ
ンコンダクタと関連し、前記列の各々がビットラインコ
ンダクタと関連する第1及び第2バンクと、 前記第1バンクの前記ワードラインに接続されていて行
アドレスの第1グループの行アドレスに応答して前記第
1バンク内の前記行を選択する第1行デコーダと、 前記第2バンクの前記ワードラインに接続されていて行
アドレスの第2グループの行アドレスに応答して前記第
2バンク内の前記行を選択する第2行デコーダと、 前記ビットラインに接続されていて読出し/書込みモー
ドの列アドレスに応答して前記バンクの少なくとも一方
の前記列を選択する列デコーダ回路であって、リフレッ
シュモードでは不能動化されている列デコーダ回路と、 前記第1及び第2バンクの前記ビットラインに接続され
ていて選択された行の前記セルを読出し、選択された前
記列が、前記リフレッシュモードで選択された前記行に
沿って前記セルをリフレッシュするセンス増幅器回路
と、 前記リフレッシュモードの間、前記ビットラインのすべ
てをあらかじめチャージする回路と、 クロック信号に応答して第1列アドレスから最後の列ア
ドレスまで増加させることによって前記行の各々ごとに
連続する前記列アドレスを発生させる列アドレスカウン
タと、 列アドレスバスから受け取った最初の列アドレスを前記
列デコーダに与え、その後前記列アドレスカウンタから
受け取った少なくとも第1列アドレスを与える列アドレ
スマルチプレクサ回路と、 前記最後の列アドレスに対応する列内の前記セルへのア
クセスに続いて第1行アドレスから最後の行アドレスま
で前記読出し/書込みモードにおいて1つずつ増加させ
ることによって連続する前記行アドレスを発生し、前記
リフレッシュモードにおいては、前記第1行アドレスか
ら前記最後の行アドレスまで2つずつ増加させて前記第
1グループから連続する行アドレスを発生する行アドレ
スカウンタと、 行アドレスから受け取った最初の行アドレスを前記行デ
コーダに与え、その後前記行アドレスカウンタから受け
取った少なくとも第1の行アドレスを与える行アドレス
マルチプレクサと、 前記行マルチプレクサを前記第2行デコーダに接続する
リフレッシュ回路であって、前記リフレッシュモードに
おいて前記第1グループの前記アドレスを前記第2グル
ープの前記アドレスに変換するリフレッシュ回路とを備
えるメモリ回路。 - 【請求項12】 請求項11のメモリ回路において、前
記第1グループのアドレスが偶数のアドレスからなり、
前記第2グループのアドレスが奇数のアドレスからなる
メモリ回路。 - 【請求項13】 請求項11のメモリ回路において、前
記リフレッシュ回路が、リフレッシュ制御信号に応答し
て、前記行アドレスカウンタによって前記第2の行デコ
ーダに与えられた前記行アドレスの各々の選択したビッ
トを反転することができるメモリ回路。 - 【請求項14】 請求項11のメモリ回路において、前
記リフレッシュ回路が、 第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインとリフレ
ッシュイネーブル信号を受け取るように接続されたゲー
トとを持つ第1のpチャンネルトランジスタと、 該第1のpチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと前記行回路か
らの反転された前記選択された行アドレスビットを受け
取るように接続されたゲートとを持つ前記第2のpチャ
ンネルトランジスタと、 該第2のpチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと前記反転され
た行アドレスビットを受け取るゲートとを持つ第1のn
チャンネルトランジスタと、 該第1のnチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと、第2電圧源
に接続された第2ソース/ドレインと、反転された前記
リフレッシュイネーブル信号を受け取るように接続され
たゲートとを持つ前記第2のnチャンネルトランジスタ
と、 前記第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインと前
記反転されたリフレッシュイネーブル信号を受け取るよ
うに接続されたゲートとを持つ第3のpチャンネルトラ
ンジスタと、 該第3のpチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと前記アドレス
ビットを受け取るように接続されたゲートとを持つ前記
第4のpチャンネルトランジスタと、 該第4のpチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと前記アドレス
ビットを受け取るように接続されたゲートとを持つ前記
第3のnチャンネルトランジスタと、 該第3のnチャンネルトランジスタの第2ソース/ドレ
インに接続された第1ソース/ドレインと、前記第2電
圧源に接続された第2ソース/ドレインと、前記リフレ
ッシュイネーブル信号を受け取るように接続されたゲー
トとを持つ前記第4のnチャンネルトランジスタとを備
え、 前記第1のnチャンネルトランジスタの前記第1ソース
/ドレインと前記第3nチャンネルトランジスタの前記
第1ソース/ドレインとが前記リフレッシュ回路の出力
に接続されているメモリ回路。 - 【請求項15】 請求項14のメモリ回路において、前
記リフレッシュ回路がさらに前記選択されたビットによ
ってほぼ現される量まで前記第2デコーダに与えられた
前記行アドレスの各々のタのビットを遅延させることが
できる遅延回路を備えるメモリ回路。 - 【請求項16】 行及び列に配置されたメモリセルの第
1及び第2バンクであって、前記行の各々がワードライ
ンコンダクタと関連し、前記列の各々がビットラインコ
ンダクタと関連する第1及び第2バンクと、 前記第1バンクの前記ワードラインに接続されていて行
アドレスの第1グループの行アドレスに応答して前記第
1バンク内の前記行を選択する第1行デコーダと、 前記第2バンクの前記ワードラインに接続されていて行
アドレスの第2グループの行アドレスに応答して前記第
2バンク内の前記行を選択する第2行デコーダと、 第1の前記行アドレスから最後の行アドレスまで2つず
つ前記リフレッシュモードにおいて増加せさることによ
って前記行デコーダに与えるために前記第1グループの
連続する行リフレッシュアドレスを発生する行アドレス
カウンタと、 前記リフレッシュモードにおいて前記第1グループの前
記アドレスを前記第2グループの前記アドレスに変換し
て前記アドレス内の選択されたビットを反転することに
よって前記第2行デコーダが用いることができるように
作動するリフレッシュ回路と、 選択した前記ワードラインとあらかじめチャージされた
前記ビットラインに沿ってセルをリフレッシュする回路
とを備えるメモリ回路。 - 【請求項17】 請求項16のメモリ回路において、前
記選択されたビットが前記第1のグループの前記アドレ
スの最小のビットからなるメモリ回路。 - 【請求項18】 請求項16のメモリ回路において、前
記リフレッシュ回路が、 第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインとリフレ
ッシュイネーブル信号を受け取るように接続されたゲー
トとを持つ第1のタイプの第1トランジスタと、 該第1トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記行回路からの反転された
行アドレスビットを受け取るように接続されたゲートと
を持つ前記第1のタイプの第2トランジスタと、 該第2トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記反転された行アドレスビ
ットを受け取るゲートとを持つ第2のタイプの第3トラ
ンジスタと、 該第3のトランジスタの第2ソース/ドレインに接続さ
れた第1ソース/ドレインと、第2電圧源に接続された
第2ソース/ドレインと、前記反転されたリフレッシュ
イネーブル信号を受け取るように接続されたゲートを持
つ前記第2のタイプの第4トランジスタと、 前記第1電圧源に接続された第1ソース/ドレインと前
記反転されたリフレッシュイネーブル信号を受け取るよ
うに接続されたゲートとを持つ前記第1のタイプの第5
トランジスタと、 該第5トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記アドレスビットを受け取
るように接続されたゲートとを持つ前記第1のタイプの
第6トランジスタと、 該第6トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと前記アドレスビットを受け取
るように接続されたゲートとを持つ前記第2のタイプの
第7トランジスタと、 該第7トランジスタの第2ソース/ドレインに接続され
た第1ソース/ドレインと、前記第2電圧源に接続され
た第2ソース/ドレインと、前記リフレッシュイネーブ
ル信号を受け取るように接続されたゲートとを持つ前記
第2のタイプの第8トランジスタとを備え、 前記第3トランジスタの前記第1ソース/ドレインと前
記第7トランジスタの前記第1ソース/ドレインとが前
記リフレッシュ回路の出力に接続されているメモリ回
路。 - 【請求項19】 請求項18のメモリ回路において、前
記第1のタイプの前記トランジスタがpチャンネル電界
効果トランジスタであり、前記第2のタイプの前記トラ
ンジスタがnチャンネル電界効果トランジスタであるメ
モリ回路。 - 【請求項20】 請求項16のメモリ回路において、さ
らに、 列アドレスに応答して各バンクの前記列を選択する列デ
コーダ回路であって、前記リフレッシュモードにおいて
は不能動化となる列デコーダ回路と、 クロック信号に応答して第1列アドレスから最後の列ア
ドレスまで増加させることによって前記行の各々ごとに
連続する前記列アドレスを発生する列アドレスカウンタ
と、 前記列アドレスバスから受け取った最初の列アドレスを
前記列デコーダに与え、その後、前記列アドレスカウン
タから与えられた少なくとも第1列アドレスを与えるマ
ルチプレクサ回路とを備えるメモリ回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/291,155 | 1994-08-16 | ||
US08/291,155 US5442588A (en) | 1994-08-16 | 1994-08-16 | Circuits and methods for refreshing a dual bank memory |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08190787A true JPH08190787A (ja) | 1996-07-23 |
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ID=23119101
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JP22700895A Expired - Fee Related JP3186534B2 (ja) | 1994-08-16 | 1995-08-14 | 相対バンクメモリをリフレッシュする方法及び回路 |
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---|---|
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EP (1) | EP0698887B1 (ja) |
JP (1) | JP3186534B2 (ja) |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6343043B2 (en) | 2000-03-13 | 2002-01-29 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Dynamic random access memory |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6301299B1 (en) * | 1994-10-28 | 2001-10-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Memory controller for an ATSC video decoder |
DE69518163T2 (de) * | 1994-11-15 | 2001-03-22 | Cirrus Logic, Inc. | Schaltungen, systeme und verfahren zur diagnose von fehlerhaften zellen in einer speichereinrichtung |
EP0804785A2 (en) * | 1994-12-06 | 1997-11-05 | Cirrus Logic, Inc. | Circuits, systems and methods for controlling the display of blocks of data on a display screen |
US5701143A (en) * | 1995-01-31 | 1997-12-23 | Cirrus Logic, Inc. | Circuits, systems and methods for improving row select speed in a row select memory device |
US6108015A (en) * | 1995-11-02 | 2000-08-22 | Cirrus Logic, Inc. | Circuits, systems and methods for interfacing processing circuitry with a memory |
US5617555A (en) * | 1995-11-30 | 1997-04-01 | Alliance Semiconductor Corporation | Burst random access memory employing sequenced banks of local tri-state drivers |
JPH09204774A (ja) * | 1995-12-22 | 1997-08-05 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ |
US5748968A (en) * | 1996-01-05 | 1998-05-05 | Cirrus Logic, Inc. | Requesting device capable of canceling its memory access requests upon detecting other specific requesting devices simultaneously asserting access requests |
US6504548B2 (en) * | 1998-09-18 | 2003-01-07 | Hitachi, Ltd. | Data processing apparatus having DRAM incorporated therein |
US5881016A (en) * | 1997-06-13 | 1999-03-09 | Cirrus Logic, Inc. | Method and apparatus for optimizing power consumption and memory bandwidth in a video controller using SGRAM and SDRAM power reduction modes |
US5856940A (en) * | 1997-08-15 | 1999-01-05 | Silicon Aquarius, Inc. | Low latency DRAM cell and method therefor |
AU1075599A (en) | 1997-10-10 | 1999-05-03 | Rambus Incorporated | Dram core refresh with reduced spike current |
JP3247647B2 (ja) * | 1997-12-05 | 2002-01-21 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
US6442667B1 (en) * | 1998-06-08 | 2002-08-27 | Texas Instruments Incorporated | Selectively powering X Y organized memory banks |
US6222786B1 (en) | 1999-11-02 | 2001-04-24 | Silicon Aquarius, Inc. | Dynamic random access memory with write-without-restore and systems and methods using the same |
US6445636B1 (en) | 2000-08-17 | 2002-09-03 | Micron Technology, Inc. | Method and system for hiding refreshes in a dynamic random access memory |
JP2002351430A (ja) * | 2001-05-30 | 2002-12-06 | Mitsubishi Electric Corp | 表示装置 |
US7290117B2 (en) * | 2001-12-20 | 2007-10-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory having increased data-transfer speed and related systems and methods |
US6618314B1 (en) | 2002-03-04 | 2003-09-09 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and architecture for reducing the power consumption for memory devices in refresh operations |
US6922350B2 (en) * | 2002-09-27 | 2005-07-26 | Intel Corporation | Reducing the effect of write disturbs in polymer memories |
US7129925B2 (en) * | 2003-04-24 | 2006-10-31 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Dynamic self-refresh display memory |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62241198A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Hitachi Ltd | ダイナミツク型ram |
JPH02260195A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-22 | Mitsubishi Electric Corp | リフレッシュコントロール回路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5873096A (ja) * | 1981-10-27 | 1983-05-02 | Nec Corp | 半導体メモリ |
JPH069114B2 (ja) * | 1983-06-24 | 1994-02-02 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ |
JPS6167154A (ja) * | 1984-09-11 | 1986-04-07 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5251177A (en) * | 1989-01-23 | 1993-10-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor memory device having an improved refresh operation |
US5280594A (en) * | 1990-07-25 | 1994-01-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | Architecture for high speed contiguous sequential access memories |
US5251178A (en) * | 1991-03-06 | 1993-10-05 | Childers Jimmie D | Low-power integrated circuit memory |
JP2794138B2 (ja) * | 1991-08-13 | 1998-09-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH05266657A (ja) * | 1992-03-23 | 1993-10-15 | Nec Corp | ダイナミック型半導体メモリ |
-
1994
- 1994-08-16 US US08/291,155 patent/US5442588A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-08-10 EP EP95410085A patent/EP0698887B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-08-10 DE DE69517888T patent/DE69517888T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-08-14 KR KR1019950024964A patent/KR0176739B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-08-14 JP JP22700895A patent/JP3186534B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62241198A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-21 | Hitachi Ltd | ダイナミツク型ram |
JPH02260195A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-22 | Mitsubishi Electric Corp | リフレッシュコントロール回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6343043B2 (en) | 2000-03-13 | 2002-01-29 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Dynamic random access memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0698887A1 (en) | 1996-02-28 |
DE69517888D1 (de) | 2000-08-17 |
DE69517888T2 (de) | 2001-01-18 |
KR0176739B1 (ko) | 1999-05-15 |
EP0698887B1 (en) | 2000-07-12 |
JP3186534B2 (ja) | 2001-07-11 |
KR960008551A (ko) | 1996-03-22 |
US5442588A (en) | 1995-08-15 |
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