JPH08184545A - 熱天秤装置 - Google Patents
熱天秤装置Info
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- JPH08184545A JPH08184545A JP32806694A JP32806694A JPH08184545A JP H08184545 A JPH08184545 A JP H08184545A JP 32806694 A JP32806694 A JP 32806694A JP 32806694 A JP32806694 A JP 32806694A JP H08184545 A JPH08184545 A JP H08184545A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 必要に応じて単一ビーム型および差動型のい
ずれの形式によっても熱分析を行なえ、高精度な熱分析
結果を得ることを可能とする。 【構成】 第1,第2の支持杆1,2が、先端に試料ホ
ルダ6,7の接続コネクタ5を有し、各々支点3,4を
中心に揺動自在でかつ互いに関連して差動型の熱天秤構
造を形成する。これら第1,第2の支持杆1,2に設け
た接続コネクタ5,5は、それぞれ単一の試料容器を保
持する試料ホルダが装着可能であるとともに、少なくと
も一方の接続コネクタ5が、一対の試料容器を保持する
試料ホルダをも装着可能となっている。
ずれの形式によっても熱分析を行なえ、高精度な熱分析
結果を得ることを可能とする。 【構成】 第1,第2の支持杆1,2が、先端に試料ホ
ルダ6,7の接続コネクタ5を有し、各々支点3,4を
中心に揺動自在でかつ互いに関連して差動型の熱天秤構
造を形成する。これら第1,第2の支持杆1,2に設け
た接続コネクタ5,5は、それぞれ単一の試料容器を保
持する試料ホルダが装着可能であるとともに、少なくと
も一方の接続コネクタ5が、一対の試料容器を保持する
試料ホルダをも装着可能となっている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、熱重量測定(T
G),示差熱分析(DTA),示差走査熱量測定(DS
C)等の熱分析に用いられる熱天秤装置に関する。
G),示差熱分析(DTA),示差走査熱量測定(DS
C)等の熱分析に用いられる熱天秤装置に関する。
【0002】
【従来の技術】物質の熱分析には、例えば、熱重量測定
(TG),示差熱分析(DTA)がある。ここで、熱重
量測定(以下、「TG」という)では、物質を加熱,冷
却または一定の温度に保持しながら、その物質の重量変
化を温度(または時間)に対して測定する。また、示差
熱分析(以下、「DTA」という)では、試料および基
準物質を炉内に対称的に配置して加熱(冷却)し、その
ときの両者の温度差を時間(または温度)に対して測定
する。
(TG),示差熱分析(DTA)がある。ここで、熱重
量測定(以下、「TG」という)では、物質を加熱,冷
却または一定の温度に保持しながら、その物質の重量変
化を温度(または時間)に対して測定する。また、示差
熱分析(以下、「DTA」という)では、試料および基
準物質を炉内に対称的に配置して加熱(冷却)し、その
ときの両者の温度差を時間(または温度)に対して測定
する。
【0003】これらTG,DTA等の熱分析に使用され
ている従来の熱天秤装置を図20に示す。同図に示す熱
天秤装置は、一本のビーム(支持杆)101を備えた単
一ビーム式の熱天秤装置である。この単一ビーム式の熱
天秤装置は、一本のビーム(支持杆)101を支点10
2によって揺動自在に支持しており、試料ホルダ103
を介して、先端部に試料容器104を保持する構造とな
っている。そして、TGを中心に熱分析を行なう場合に
は、一個の試料容器104を保持するTG用の試料ホル
ダ103をビームに装着する。一方、DTAを中心に熱
分析を行なう場合には、二個の試料容器104を保持す
るDTA用の試料ホルダ103をビームに装着する。
ている従来の熱天秤装置を図20に示す。同図に示す熱
天秤装置は、一本のビーム(支持杆)101を備えた単
一ビーム式の熱天秤装置である。この単一ビーム式の熱
天秤装置は、一本のビーム(支持杆)101を支点10
2によって揺動自在に支持しており、試料ホルダ103
を介して、先端部に試料容器104を保持する構造とな
っている。そして、TGを中心に熱分析を行なう場合に
は、一個の試料容器104を保持するTG用の試料ホル
ダ103をビームに装着する。一方、DTAを中心に熱
分析を行なう場合には、二個の試料容器104を保持す
るDTA用の試料ホルダ103をビームに装着する。
【0004】ビーム101は常時、水平位置を保つよう
に調整しておき、この状態で試料容器内の試料を加熱炉
105によって加熱する。すると、加熱による試料の物
性変化に応じて試料の重量が変化していき、ビーム10
1が支点を中心に揺動する。そこで、ビーム101の揺
動(変位)を変位センサ106によって検出し、その検
出値に基づいて位置制御回路107から駆動コイル10
8に駆動信号を出力し、ビーム101をもとの水平位置
に戻す。
に調整しておき、この状態で試料容器内の試料を加熱炉
105によって加熱する。すると、加熱による試料の物
性変化に応じて試料の重量が変化していき、ビーム10
1が支点を中心に揺動する。そこで、ビーム101の揺
動(変位)を変位センサ106によって検出し、その検
出値に基づいて位置制御回路107から駆動コイル10
8に駆動信号を出力し、ビーム101をもとの水平位置
に戻す。
【0005】このとき必要とされた駆動コイル108の
電流値を測定回路109に入力し、ビーム101に作用
した負荷重量の変化(すなわち、試料の重量変化)に変
換することによってTGを実現する。なお、ビーム10
1をもとの水平位置に戻すのは、試料容器104を常に
加熱炉105内の中心位置に配置して均一な加熱状態を
形成するためである。また、DTAについては、二個の
試料容器104の一方に基準物質を、他方に試料を収納
し、熱電対を用いてそれぞれの温度差を検出することに
より行なわれる。
電流値を測定回路109に入力し、ビーム101に作用
した負荷重量の変化(すなわち、試料の重量変化)に変
換することによってTGを実現する。なお、ビーム10
1をもとの水平位置に戻すのは、試料容器104を常に
加熱炉105内の中心位置に配置して均一な加熱状態を
形成するためである。また、DTAについては、二個の
試料容器104の一方に基準物質を、他方に試料を収納
し、熱電対を用いてそれぞれの温度差を検出することに
より行なわれる。
【0006】さて、加熱炉105内では、試料容器10
4が熱による対流等の作用を受けており、そのような加
熱炉105内の環境に起因してもビーム101は揺動す
る。したがって、ビーム101の揺動には、試料の物性
変化による揺動に、これら加熱炉105内の環境に起因
する揺動が重畳されてしまうため、特にTGの測定結果
に高精度を望めないという欠点があった。そこで、TG
を中心に熱分析を行なう場合には、加熱炉105内の環
境に起因する揺動を相殺して、試料の物性変化による真
の揺動量を求めることのできる差動式の熱天秤装置がよ
く用いられている。
4が熱による対流等の作用を受けており、そのような加
熱炉105内の環境に起因してもビーム101は揺動す
る。したがって、ビーム101の揺動には、試料の物性
変化による揺動に、これら加熱炉105内の環境に起因
する揺動が重畳されてしまうため、特にTGの測定結果
に高精度を望めないという欠点があった。そこで、TG
を中心に熱分析を行なう場合には、加熱炉105内の環
境に起因する揺動を相殺して、試料の物性変化による真
の揺動量を求めることのできる差動式の熱天秤装置がよ
く用いられている。
【0007】図21は従来の横型差動式熱天秤装置を示
す構成図である。差動式熱天秤装置は、単一ビーム式の
熱天秤装置を二台組み合わせたような構造をしている。
すなわち、サンプル側ビーム201およびリファレンス
側ビーム202は、各々支点203,204を中心に揺
動自在に支持されており、先端部に試料ホルダ205,
206を介して試料容器207,208を保持してい
る。
す構成図である。差動式熱天秤装置は、単一ビーム式の
熱天秤装置を二台組み合わせたような構造をしている。
すなわち、サンプル側ビーム201およびリファレンス
側ビーム202は、各々支点203,204を中心に揺
動自在に支持されており、先端部に試料ホルダ205,
206を介して試料容器207,208を保持してい
る。
【0008】そして、リファレンス側ビーム202に保
持した試料容器208には、熱的に安定した物質を基準
物質として収納し、一方、サンプル側ビーム201に保
持した試料容器207には、測定対象となる試料を収納
する。これら基準物質と試料とを、加熱炉209内で同
一の条件のもとに加熱していくと、試料の重量が物性変
化に応じて変化していき、サンプル側ビーム201は支
点203を中心に揺動する。ここで、サンプル側ビーム
201は、上述の単一ビーム式の熱天秤装置と同様、試
料の物性変化による揺動に、加熱炉209内の環境に起
因する揺動が重畳された動作を示す。
持した試料容器208には、熱的に安定した物質を基準
物質として収納し、一方、サンプル側ビーム201に保
持した試料容器207には、測定対象となる試料を収納
する。これら基準物質と試料とを、加熱炉209内で同
一の条件のもとに加熱していくと、試料の重量が物性変
化に応じて変化していき、サンプル側ビーム201は支
点203を中心に揺動する。ここで、サンプル側ビーム
201は、上述の単一ビーム式の熱天秤装置と同様、試
料の物性変化による揺動に、加熱炉209内の環境に起
因する揺動が重畳された動作を示す。
【0009】一方、リファレンス側ビーム202は、基
準物質が安定しているため、物性変化による揺動はな
く、加熱炉209内の環境にのみ起因して揺動する。そ
こで、サンプル側ビーム201の揺動量からリファレン
ス側ビーム202の揺動量を差し引くことによって、試
料の物性変化による真の揺動量を求めることができる。
実際には、リファレンス側ビーム202を水平位置に戻
すために必要とされた駆動コイル210の電流値と、サ
ンプル側ビーム201を水平位置に戻すために必要とさ
れた駆動コイル211の電流値とを測定回路212に入
力し、これらの電流値の差をサンプル側ビーム201に
作用した負荷重量の変化(すなわち、試料の重量変化)
に変換して記録する。これによって、加熱炉209内の
環境に起因する測定誤差をなくし、高精度なTGを実現
することができる。
準物質が安定しているため、物性変化による揺動はな
く、加熱炉209内の環境にのみ起因して揺動する。そ
こで、サンプル側ビーム201の揺動量からリファレン
ス側ビーム202の揺動量を差し引くことによって、試
料の物性変化による真の揺動量を求めることができる。
実際には、リファレンス側ビーム202を水平位置に戻
すために必要とされた駆動コイル210の電流値と、サ
ンプル側ビーム201を水平位置に戻すために必要とさ
れた駆動コイル211の電流値とを測定回路212に入
力し、これらの電流値の差をサンプル側ビーム201に
作用した負荷重量の変化(すなわち、試料の重量変化)
に変換して記録する。これによって、加熱炉209内の
環境に起因する測定誤差をなくし、高精度なTGを実現
することができる。
【0010】図22は従来の縦型差動式熱天秤装置を示
す構成図である。この熱天秤装置は、サンプル側ビーム
201およびリファレンス側ビーム202を縦位置に配
置したもので、基本的な作動原理は上述の横型差動式熱
天秤装置と同様である。ただし、各ビーム201,20
2は、基端が引張りワイヤ300によって結合されてお
り、加熱炉209内の環境変化に対して、各副支点30
1a,301bを中心に一体的に揺動するようになって
いる。
す構成図である。この熱天秤装置は、サンプル側ビーム
201およびリファレンス側ビーム202を縦位置に配
置したもので、基本的な作動原理は上述の横型差動式熱
天秤装置と同様である。ただし、各ビーム201,20
2は、基端が引張りワイヤ300によって結合されてお
り、加熱炉209内の環境変化に対して、各副支点30
1a,301bを中心に一体的に揺動するようになって
いる。
【0011】そして、サンプル側ビーム201に保持し
た試料容器207内の試料重量が物性変化に応じて変化
した場合、中央支点302を中心にサンプル側ビーム2
01およびリファレンス側ビーム202が揺動する。こ
の揺動量を変位センサ303によって検出し、その検出
値に基づいてTG測定制御回路304から駆動コイル3
05に駆動信号を出力し、各ビーム201,202をも
との位置に戻す。
た試料容器207内の試料重量が物性変化に応じて変化
した場合、中央支点302を中心にサンプル側ビーム2
01およびリファレンス側ビーム202が揺動する。こ
の揺動量を変位センサ303によって検出し、その検出
値に基づいてTG測定制御回路304から駆動コイル3
05に駆動信号を出力し、各ビーム201,202をも
との位置に戻す。
【0012】このとき必要とされた駆動コイル305の
電流値に基づいて、TG測定制御回路304でサンプル
側ビーム201に作用した負荷重量の変化(すなわち、
試料の重量変化)を検出することによってTGを実現す
る。この縦型差動式熱天秤装置の場合も、加熱炉209
内の環境に起因する測定誤差をなくし、高精度なTGを
実現することができる。
電流値に基づいて、TG測定制御回路304でサンプル
側ビーム201に作用した負荷重量の変化(すなわち、
試料の重量変化)を検出することによってTGを実現す
る。この縦型差動式熱天秤装置の場合も、加熱炉209
内の環境に起因する測定誤差をなくし、高精度なTGを
実現することができる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の横型およひ縦型差動式熱天秤装置は、単一ビー
ム式の熱天秤装置とは逆に、DTAに関して測定精度上
の問題を有していた。すなわち、差動式熱天秤装置でD
TAを行なう場合、リファレンス側ビーム202に保持
した試料容器208に基準物質を収納し、一方、サンプ
ル側ビーム201に保持した試料容器207に試料を収
納してそれぞれ加熱炉209内に配置する。そして、熱
電対によって各試料容器207,208の温度変化を検
出し、基準物質と試料との間の温度差を時間または温度
の関数をもって測定する。
た従来の横型およひ縦型差動式熱天秤装置は、単一ビー
ム式の熱天秤装置とは逆に、DTAに関して測定精度上
の問題を有していた。すなわち、差動式熱天秤装置でD
TAを行なう場合、リファレンス側ビーム202に保持
した試料容器208に基準物質を収納し、一方、サンプ
ル側ビーム201に保持した試料容器207に試料を収
納してそれぞれ加熱炉209内に配置する。そして、熱
電対によって各試料容器207,208の温度変化を検
出し、基準物質と試料との間の温度差を時間または温度
の関数をもって測定する。
【0014】ところが、差動式熱天秤装置では、基準物
質と試料を収納する各試料容器207,208が、それ
ぞれ独立したビーム201,202に保持されているた
め、加熱容器209内で同じ加熱状態におくことができ
ない。すなわち、加熱炉209内は対流等の影響から、
場所によって温度差があり、基準物質の配置されている
場所と、試料の配置されている場所とが必ずしも同じ温
度分布を示すとは限らない。したがって、加熱炉209
内の温度差が基準物質と試料との間の温度差に重畳され
てしまうおそれがあり、DTAにおける高精度な測定結
果を得ることが困難であった。
質と試料を収納する各試料容器207,208が、それ
ぞれ独立したビーム201,202に保持されているた
め、加熱容器209内で同じ加熱状態におくことができ
ない。すなわち、加熱炉209内は対流等の影響から、
場所によって温度差があり、基準物質の配置されている
場所と、試料の配置されている場所とが必ずしも同じ温
度分布を示すとは限らない。したがって、加熱炉209
内の温度差が基準物質と試料との間の温度差に重畳され
てしまうおそれがあり、DTAにおける高精度な測定結
果を得ることが困難であった。
【0015】この発明は、上述したような各形式の熱天
秤装置の欠点および利点を考慮して、必要に応じて単一
ビーム式および差動式のいずれの形式によっても熱分析
を行なえ、高精度な熱分析結果を得ることのできる熱天
秤装置の提供を目的とする。
秤装置の欠点および利点を考慮して、必要に応じて単一
ビーム式および差動式のいずれの形式によっても熱分析
を行なえ、高精度な熱分析結果を得ることのできる熱天
秤装置の提供を目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の熱天秤装置は、先端に試料ホルダの接続
コネクタが設けてあり各々支点を中心に揺動自在でかつ
互いに関連して差動式の熱天秤構造を形成する第1,第
2の支持杆を備えた熱天秤装置において、上記接続コネ
クタを次のような構成としてある。
に、この発明の熱天秤装置は、先端に試料ホルダの接続
コネクタが設けてあり各々支点を中心に揺動自在でかつ
互いに関連して差動式の熱天秤構造を形成する第1,第
2の支持杆を備えた熱天秤装置において、上記接続コネ
クタを次のような構成としてある。
【0017】すなわち、第1の発明にあっては、第1,
第2の支持杆に設けた接続コネクタを、それぞれ単一の
試料容器を保持する試料ホルダが装着可能であるととも
に、少なくとも一方の接続コネクタを、一対の試料容器
を保持する試料ホルダをも装着可能としてある。
第2の支持杆に設けた接続コネクタを、それぞれ単一の
試料容器を保持する試料ホルダが装着可能であるととも
に、少なくとも一方の接続コネクタを、一対の試料容器
を保持する試料ホルダをも装着可能としてある。
【0018】この第1の発明に係る熱天秤装置では、試
料容器を加熱する加熱炉と、第1,第2の支持杆に設け
た接続コネクタの一方または双方に装着する試料ホルダ
の種類に応じて、該試料ホルダに保持された試料容器と
加熱炉との相対位置を調整する加熱位置調整手段とを設
けることが好ましい。
料容器を加熱する加熱炉と、第1,第2の支持杆に設け
た接続コネクタの一方または双方に装着する試料ホルダ
の種類に応じて、該試料ホルダに保持された試料容器と
加熱炉との相対位置を調整する加熱位置調整手段とを設
けることが好ましい。
【0019】また、第2の発明にあっては、第1,第2
の支持杆に設けた接続コネクタを、それぞれ単一の試料
容器を保持する熱重量測定用の試料ホルダが装着可能で
あるとともに、これら各コネクタが協同して、一対の試
料容器を保持する試料ホルダをも装着可能としてある。
の支持杆に設けた接続コネクタを、それぞれ単一の試料
容器を保持する熱重量測定用の試料ホルダが装着可能で
あるとともに、これら各コネクタが協同して、一対の試
料容器を保持する試料ホルダをも装着可能としてある。
【0020】
【作用】この発明の熱天秤装置により、TGを中心とし
た熱分析を行なう場合は、第1,第2の支持杆に設けた
各接続コネクタに、各々単一の試料容器を保持する試料
ホルダを装着すればよい。そして、一方の試料容器をサ
ンプル側、他方の試料容器をリファレンス側に設定し
て、差動式の熱天秤装置として熱分析を行なえば、高精
度なTGの熱分析を行なうことができる。
た熱分析を行なう場合は、第1,第2の支持杆に設けた
各接続コネクタに、各々単一の試料容器を保持する試料
ホルダを装着すればよい。そして、一方の試料容器をサ
ンプル側、他方の試料容器をリファレンス側に設定し
て、差動式の熱天秤装置として熱分析を行なえば、高精
度なTGの熱分析を行なうことができる。
【0021】また、第1の発明の熱天秤装置により、D
TAを中心とした熱分析を行なう場合は、第1,第2の
支持杆のうち一方を使用し、該支持杆に設けた接続コネ
クタに一対の試料容器を保持する試料ホルダを装着すれ
ばよい。そして単一ビーム式の熱天秤装置として熱分析
を行なえば、高精度なDTAの熱分析を行なうことがで
きる。
TAを中心とした熱分析を行なう場合は、第1,第2の
支持杆のうち一方を使用し、該支持杆に設けた接続コネ
クタに一対の試料容器を保持する試料ホルダを装着すれ
ばよい。そして単一ビーム式の熱天秤装置として熱分析
を行なえば、高精度なDTAの熱分析を行なうことがで
きる。
【0022】第2の発明の熱天秤装置により、DTAを
中心とした熱分析を行なう場合は、第1,第2の支持杆
に設けた各接続コネクタ間に一対の試料容器を保持する
試料ホルダを装着する。すると、第1,第2の支持杆は
一体化して単一ビーム式の支持杆と同様になる。したが
って、単一ビーム式の熱天秤装置として熱分析を行なう
ことが可能となり、高精度なDTAの測定結果を得るこ
とができる。
中心とした熱分析を行なう場合は、第1,第2の支持杆
に設けた各接続コネクタ間に一対の試料容器を保持する
試料ホルダを装着する。すると、第1,第2の支持杆は
一体化して単一ビーム式の支持杆と同様になる。したが
って、単一ビーム式の熱天秤装置として熱分析を行なう
ことが可能となり、高精度なDTAの測定結果を得るこ
とができる。
【0023】さて、第1の発明の熱天秤装置では、任意
に第1,第2の支持杆の一方を使用したり両方を使用し
たりできるが、加熱炉内で試料等を安定して加熱(冷
却)するには、使用形態によって加熱炉と試料容器の間
の相対位置を調節する必要がある。すなわち、一方のみ
の支持杆使用の場合は、該支持杆に装着した試料容器が
加熱炉の中心部に配置されるようにし、両方の支持杆使
用の場合は、各支持杆に装着した試料容器が加熱炉の中
心部に関し対称となるように配置されることが好まし
い。そこで、試料ホルダに保持された試料ホルダと加熱
炉との相対位置を調整する加熱位置調整手段を設けるこ
とにより、その位置調整を容易に行なうことが可能とな
る。
に第1,第2の支持杆の一方を使用したり両方を使用し
たりできるが、加熱炉内で試料等を安定して加熱(冷
却)するには、使用形態によって加熱炉と試料容器の間
の相対位置を調節する必要がある。すなわち、一方のみ
の支持杆使用の場合は、該支持杆に装着した試料容器が
加熱炉の中心部に配置されるようにし、両方の支持杆使
用の場合は、各支持杆に装着した試料容器が加熱炉の中
心部に関し対称となるように配置されることが好まし
い。そこで、試料ホルダに保持された試料ホルダと加熱
炉との相対位置を調整する加熱位置調整手段を設けるこ
とにより、その位置調整を容易に行なうことが可能とな
る。
【0024】
【実施例】以下、この発明の実施例について図面を参照
して詳細に説明する。図1はこの発明の実施例に係る熱
天秤装置の全体構造を示す構成図である。この熱天秤装
置は第1,第2の支持杆1,2を備えている。各支持杆
1,2は、それぞれ支点3,4を中心として揺動自在と
なっている。各支持杆1,2の先端には、接続コネクタ
5,5が設けてあり、各接続コネクタ5,5に試料ホル
ダ6,7を着脱自在に装着できるようになっている。
して詳細に説明する。図1はこの発明の実施例に係る熱
天秤装置の全体構造を示す構成図である。この熱天秤装
置は第1,第2の支持杆1,2を備えている。各支持杆
1,2は、それぞれ支点3,4を中心として揺動自在と
なっている。各支持杆1,2の先端には、接続コネクタ
5,5が設けてあり、各接続コネクタ5,5に試料ホル
ダ6,7を着脱自在に装着できるようになっている。
【0025】また、第1の支持杆1の支点3から任意の
距離だけ離れた部位には、駆動コイル8が設けてあり、
さらに駆動コイルの近傍には磁石9が配設してある。駆
動コイル8および磁石9は、第1の支持杆1にトルクを
与え、必要な角度だけ強制的に揺動させる駆動プランジ
ャを構成している。さらに、第1,第2の支持杆1,2
の支点3,4から任意の距離だけ離れた部位には、それ
ぞれ副駆動コイル10,11が設けてあり、かつ副駆動
コイルの近傍には、それぞれ磁石12,13が配設して
ある。副駆動コイル10,11および磁石12,13
も、それぞれ各支持杆1,2にトルクを与え必要な角度
だけ強制的に揺動させる駆動プランジャを構成してい
る。
距離だけ離れた部位には、駆動コイル8が設けてあり、
さらに駆動コイルの近傍には磁石9が配設してある。駆
動コイル8および磁石9は、第1の支持杆1にトルクを
与え、必要な角度だけ強制的に揺動させる駆動プランジ
ャを構成している。さらに、第1,第2の支持杆1,2
の支点3,4から任意の距離だけ離れた部位には、それ
ぞれ副駆動コイル10,11が設けてあり、かつ副駆動
コイルの近傍には、それぞれ磁石12,13が配設して
ある。副駆動コイル10,11および磁石12,13
も、それぞれ各支持杆1,2にトルクを与え必要な角度
だけ強制的に揺動させる駆動プランジャを構成してい
る。
【0026】上記のように、第1の支持杆1には駆動コ
イル8と副駆動コイル10とが設置してあるが、このう
ち駆動コイル8は、試料の重量変化に基づく第1の支持
杆1の揺動に対し、同支持杆1を反対方向に揺動させて
水平姿勢を保たせる機能を有している。一方、副駆動コ
イル10は、加熱炉14内の対流等の環境的要因による
同支持杆1の揺動に対し、同支持杆1を反対方向に揺動
させて水平姿勢を保たせる機能を有している。これら各
機能の詳細については後述する。
イル8と副駆動コイル10とが設置してあるが、このう
ち駆動コイル8は、試料の重量変化に基づく第1の支持
杆1の揺動に対し、同支持杆1を反対方向に揺動させて
水平姿勢を保たせる機能を有している。一方、副駆動コ
イル10は、加熱炉14内の対流等の環境的要因による
同支持杆1の揺動に対し、同支持杆1を反対方向に揺動
させて水平姿勢を保たせる機能を有している。これら各
機能の詳細については後述する。
【0027】駆動コイル8と副駆動コイル10は、単一
のコイル枠にそれぞれ巻回し、第1の支持杆1の同一箇
所に設置すれば、構成が簡単になり好ましい。この場
合、磁石9,12も共用することができる。ここで、駆
動コイル8および副駆動コイル11,10(すなわち、
駆動プランジャ)は、支点3,4から離間した部位に設
置してあるので、支点3,4部分に設置した場合に比
べ、少ない電力で大きなトルクを得ることができる。
のコイル枠にそれぞれ巻回し、第1の支持杆1の同一箇
所に設置すれば、構成が簡単になり好ましい。この場
合、磁石9,12も共用することができる。ここで、駆
動コイル8および副駆動コイル11,10(すなわち、
駆動プランジャ)は、支点3,4から離間した部位に設
置してあるので、支点3,4部分に設置した場合に比
べ、少ない電力で大きなトルクを得ることができる。
【0028】第1,第2の支持杆1,2には、それぞれ
可動分銅15,16が取り付けてある。熱分析を実施す
るに際して、この可動分銅15,16の位置を調節して
各支持杆1,2を水平姿勢に調節する。また、第1,第
2の支持杆1,2の後端部には、それぞれスリット17
a,18aを有するシャッタ17,18が設けてある。
そして、シャッタ17,18と対向する任意の位置には
光源19,20が設置してあり、さらにスリット17
a,18aを透過した光源19,20の光を受光できる
任意の位置には、それぞれ第1,第2の受光センサ2
1,22が設置してある。これらシャッタ17,18、
光源19,20、第1,第2の受光センサ21,22
は、各支持杆1,2の揺動による変位を検出するための
変位検出手段を構成している。
可動分銅15,16が取り付けてある。熱分析を実施す
るに際して、この可動分銅15,16の位置を調節して
各支持杆1,2を水平姿勢に調節する。また、第1,第
2の支持杆1,2の後端部には、それぞれスリット17
a,18aを有するシャッタ17,18が設けてある。
そして、シャッタ17,18と対向する任意の位置には
光源19,20が設置してあり、さらにスリット17
a,18aを透過した光源19,20の光を受光できる
任意の位置には、それぞれ第1,第2の受光センサ2
1,22が設置してある。これらシャッタ17,18、
光源19,20、第1,第2の受光センサ21,22
は、各支持杆1,2の揺動による変位を検出するための
変位検出手段を構成している。
【0029】第2の受光センサ22による第2の支持杆
2の変位検出信号は、副駆動コイル10,11の制御回
路23に送られる。制御回路23はPID回路で構成し
てあり、第2の支持杆2の変位量を算出し、この変位量
だけ第1,第2の支持杆1,2を反対方向(引き戻し方
向)に揺動させる旨の制御信号を駆動回路24,25に
出力する。なお、熱天秤装置を差動式で使用する場合に
は、第1の支持杆をサンプル側とし、第2の支持杆をリ
ファレンス側とする。したがって、上記算出した第2の
支持杆の変位量は、加熱炉内の環境的要因によって生じ
たものとなる。
2の変位検出信号は、副駆動コイル10,11の制御回
路23に送られる。制御回路23はPID回路で構成し
てあり、第2の支持杆2の変位量を算出し、この変位量
だけ第1,第2の支持杆1,2を反対方向(引き戻し方
向)に揺動させる旨の制御信号を駆動回路24,25に
出力する。なお、熱天秤装置を差動式で使用する場合に
は、第1の支持杆をサンプル側とし、第2の支持杆をリ
ファレンス側とする。したがって、上記算出した第2の
支持杆の変位量は、加熱炉内の環境的要因によって生じ
たものとなる。
【0030】駆動回路24,25は、それぞれゲイン設
定器24a,25aおよび電力増幅回路24b,25b
で構成してあり、制御信号に基づき駆動電流を出力して
副駆動コイル10,11を引き戻し方向に揺動させる。
副駆動コイル10,11は、駆動電流を入力すると、電
磁作用によってトルクを発生し、第1,第2の支持杆
1,2を加熱炉14内の環境的要因によって生じた変位
量だけ引き戻し方向に揺動させる。これによって第2の
支持杆2は水平姿勢に引き戻されるが、第1の支持杆1
は、試料の重量変化による揺動があるため、まだ傾きを
生じている。
定器24a,25aおよび電力増幅回路24b,25b
で構成してあり、制御信号に基づき駆動電流を出力して
副駆動コイル10,11を引き戻し方向に揺動させる。
副駆動コイル10,11は、駆動電流を入力すると、電
磁作用によってトルクを発生し、第1,第2の支持杆
1,2を加熱炉14内の環境的要因によって生じた変位
量だけ引き戻し方向に揺動させる。これによって第2の
支持杆2は水平姿勢に引き戻されるが、第1の支持杆1
は、試料の重量変化による揺動があるため、まだ傾きを
生じている。
【0031】一方、第1の受光センサ21による第1の
支持杆1の変位検出信号は、駆動コイル8の制御回路2
6に送られる。この制御回路26はPID回路および電
力増幅回路で構成してあり、第1の支持杆1の変位量を
算出し、この変位量だけ第1の支持杆1を反対方向(引
き戻し方向)に揺動させるための制御電流を駆動コイル
8に出力する。ここで、第1の受光センサ21は、加熱
炉14内の環境的要因によって生じた変位が上記副駆動
コイル10で取り除かれた状態において、第1の支持杆
1の変位を検出する。
支持杆1の変位検出信号は、駆動コイル8の制御回路2
6に送られる。この制御回路26はPID回路および電
力増幅回路で構成してあり、第1の支持杆1の変位量を
算出し、この変位量だけ第1の支持杆1を反対方向(引
き戻し方向)に揺動させるための制御電流を駆動コイル
8に出力する。ここで、第1の受光センサ21は、加熱
炉14内の環境的要因によって生じた変位が上記副駆動
コイル10で取り除かれた状態において、第1の支持杆
1の変位を検出する。
【0032】駆動コイル8は、駆動電流を入力すると、
電磁作用によってトルクを発生し、第1の支持杆1を試
料の重量変化によって生じた変位量だけ引き戻し方向に
揺動させる。このようにして第1の支持杆1も水平姿勢
に引き戻される。駆動コイル8が第1の支持杆1を水平
方向に引き戻すのに必要とした電流値は、電流検出回路
27によって検出され、TG測定回路28に出力され
る。電流検出回路27およびTG測定回路28は、試料
のTGを検出するTG検出手段を構成しており、試料の
重量変化によって生じた第1の支持杆1の変位量を、水
平姿勢に引き戻すために要した電流値によって検出し、
この電流値から試料の重量変化を温度(または時間)の
関数として算出する。
電磁作用によってトルクを発生し、第1の支持杆1を試
料の重量変化によって生じた変位量だけ引き戻し方向に
揺動させる。このようにして第1の支持杆1も水平姿勢
に引き戻される。駆動コイル8が第1の支持杆1を水平
方向に引き戻すのに必要とした電流値は、電流検出回路
27によって検出され、TG測定回路28に出力され
る。電流検出回路27およびTG測定回路28は、試料
のTGを検出するTG検出手段を構成しており、試料の
重量変化によって生じた第1の支持杆1の変位量を、水
平姿勢に引き戻すために要した電流値によって検出し、
この電流値から試料の重量変化を温度(または時間)の
関数として算出する。
【0033】上述したようにこの実施例の熱天秤装置
は、差動式の形態によりTGを測定できるようになって
いるが、さらに、第1または第2の支持杆1,2のいず
れか一方を使用して単一ビーム式の形態によりTGを測
定できるようにもなっている。すなわち、第1の支持杆
1を使用した場合には、同支持杆1の揺動による変位を
第1の受光センサ21で検出し、制御回路26がその変
位検出信号から第1の支持杆1の変位量を算出し、同支
持杆1を水平姿勢に引き戻すために必要とする駆動電流
を出力する。この駆動電流によって駆動コイル8が作動
し、電磁作用により第1の支持杆1を水平姿勢に引き戻
す。このとき要した駆動電流の値を電流検出回路27に
よって検出し、TG測定回路28で試料の重量変化を温
度(または時間)の関数として算出する。
は、差動式の形態によりTGを測定できるようになって
いるが、さらに、第1または第2の支持杆1,2のいず
れか一方を使用して単一ビーム式の形態によりTGを測
定できるようにもなっている。すなわち、第1の支持杆
1を使用した場合には、同支持杆1の揺動による変位を
第1の受光センサ21で検出し、制御回路26がその変
位検出信号から第1の支持杆1の変位量を算出し、同支
持杆1を水平姿勢に引き戻すために必要とする駆動電流
を出力する。この駆動電流によって駆動コイル8が作動
し、電磁作用により第1の支持杆1を水平姿勢に引き戻
す。このとき要した駆動電流の値を電流検出回路27に
よって検出し、TG測定回路28で試料の重量変化を温
度(または時間)の関数として算出する。
【0034】また、第2の支持杆2を使用した場合に
は、同支持杆2の揺動による変位を第2の受光センサ2
2で検出し、制御回路23がその変位検出信号から第2
の支持杆2の変位量を算出し、制御信号を駆動回路25
に出力する。駆動回路25は、同支持杆2を水平姿勢に
引き戻すために必要とする駆動電流を出力する。この駆
動電流によって副駆動コイル11が作動し、電磁作用に
より第2の支持杆2を水平姿勢に引き戻す。
は、同支持杆2の揺動による変位を第2の受光センサ2
2で検出し、制御回路23がその変位検出信号から第2
の支持杆2の変位量を算出し、制御信号を駆動回路25
に出力する。駆動回路25は、同支持杆2を水平姿勢に
引き戻すために必要とする駆動電流を出力する。この駆
動電流によって副駆動コイル11が作動し、電磁作用に
より第2の支持杆2を水平姿勢に引き戻す。
【0035】このとき要した駆動電流の値を電流検出回
路27によって検出し、TG測定回路28で試料の重量
変化を温度(または時間)の関数として算出する。この
ために、この実施例の熱天秤装置には切替え手段29が
設けてあり、副駆動コイル11を電流検出回路27に接
続できるようになっている。なお、切替え手段29は、
図1に示したように、副駆動コイル11と電流検出回路
27との間に設けた機械的スイッチで構成できる他、電
流検出回路27の処理プログラムにおいて、駆動コイル
8からの信号または副駆動コイル11からの信号を選択
して処理する構成とすることもできる。
路27によって検出し、TG測定回路28で試料の重量
変化を温度(または時間)の関数として算出する。この
ために、この実施例の熱天秤装置には切替え手段29が
設けてあり、副駆動コイル11を電流検出回路27に接
続できるようになっている。なお、切替え手段29は、
図1に示したように、副駆動コイル11と電流検出回路
27との間に設けた機械的スイッチで構成できる他、電
流検出回路27の処理プログラムにおいて、駆動コイル
8からの信号または副駆動コイル11からの信号を選択
して処理する構成とすることもできる。
【0036】図2は試料または基準物質の温度測定系を
示す構成図である。また、図3〜図5は一対の試料容器
を保持する試料ホルダの構成を示す図、図6〜図8は単
一の試料容器を保持する試料ホルダの構成を示す図であ
る。この実施例では、図3〜図5に示すような一対の試
料容器31a,31bを保持する試料ホルダ30と、図
6〜図8に示すような単一の試料容器41を保持する試
料ホルダ40の二種類が用意してあり、これらを使い分
けてTG,DTAを高精度に行なえるようになってい
る。
示す構成図である。また、図3〜図5は一対の試料容器
を保持する試料ホルダの構成を示す図、図6〜図8は単
一の試料容器を保持する試料ホルダの構成を示す図であ
る。この実施例では、図3〜図5に示すような一対の試
料容器31a,31bを保持する試料ホルダ30と、図
6〜図8に示すような単一の試料容器41を保持する試
料ホルダ40の二種類が用意してあり、これらを使い分
けてTG,DTAを高精度に行なえるようになってい
る。
【0037】さて、試料温度を関数としてTGを行なう
場合には該試料温度を、またDTAを行なう場合には試
料と基準物質との温度差を測定することが必要となる。
このため、各試料ホルダ30,40の試料容器保持部3
2,42には、熱電対が溶着してあり、この熱電対を温
度測定回路50に接続する構成となっている。すなわ
ち、一対の試料容器31a,31bを試料容器保持部3
2に保持する試料ホルダ30は、図4に示すように各試
料容器保持部の内底部32a,32bに+側の熱電対線
33a,33bの先端と−側の熱電対線33cの先端が
それぞれ結合して溶着してある。ここで、−側の熱電対
線33cは各試料容器保持部の内底部32a,32bで
共通に使用しており、したがって、合計3本の熱電対線
33a,33b,33cが試料ホルダ30の碍子管34
を通して接続コネクタ35の接続ピン35a,35b,
35cに結線してある(図5参照)。
場合には該試料温度を、またDTAを行なう場合には試
料と基準物質との温度差を測定することが必要となる。
このため、各試料ホルダ30,40の試料容器保持部3
2,42には、熱電対が溶着してあり、この熱電対を温
度測定回路50に接続する構成となっている。すなわ
ち、一対の試料容器31a,31bを試料容器保持部3
2に保持する試料ホルダ30は、図4に示すように各試
料容器保持部の内底部32a,32bに+側の熱電対線
33a,33bの先端と−側の熱電対線33cの先端が
それぞれ結合して溶着してある。ここで、−側の熱電対
線33cは各試料容器保持部の内底部32a,32bで
共通に使用しており、したがって、合計3本の熱電対線
33a,33b,33cが試料ホルダ30の碍子管34
を通して接続コネクタ35の接続ピン35a,35b,
35cに結線してある(図5参照)。
【0038】一方、単一の試料容器41を保持する試料
ホルダ40は、図7に示すように試料容器保持部42の
内底部42aに+側の熱電対線43aの先端と−側の熱
電対線43bの先端がそれぞれ結合して溶着してあり、
それら2本の熱電対線43a,43bが試料ホルダ40
の碍子管44を通して接続コネクタ45の接続ピン45
a,45bに結線してある(図8参照)。そして、差動
式の形態によりTGを行なう場合には、単一の試料容器
41を保持する試料ホルダ40を第1,第2の支持杆
1,2の先端にそれぞれ接続し、各試料ホルダ40,4
0が有している各2本の熱電対線43a,43bを温度
測定回路50に接続する(図2参照)。また、単一ビー
ム式の形態によりDTAを行なう場合には、一対の試料
容器を保持する試料ホルダ30を第1または第2の支持
杆1または2に接続し、該試料ホルダ30が有している
3本の熱電対線33a,33b,33cを温度測定回路
50に接続する(図2参照)。
ホルダ40は、図7に示すように試料容器保持部42の
内底部42aに+側の熱電対線43aの先端と−側の熱
電対線43bの先端がそれぞれ結合して溶着してあり、
それら2本の熱電対線43a,43bが試料ホルダ40
の碍子管44を通して接続コネクタ45の接続ピン45
a,45bに結線してある(図8参照)。そして、差動
式の形態によりTGを行なう場合には、単一の試料容器
41を保持する試料ホルダ40を第1,第2の支持杆
1,2の先端にそれぞれ接続し、各試料ホルダ40,4
0が有している各2本の熱電対線43a,43bを温度
測定回路50に接続する(図2参照)。また、単一ビー
ム式の形態によりDTAを行なう場合には、一対の試料
容器を保持する試料ホルダ30を第1または第2の支持
杆1または2に接続し、該試料ホルダ30が有している
3本の熱電対線33a,33b,33cを温度測定回路
50に接続する(図2参照)。
【0039】このような接続を可能とするために、第
1,第2の支持杆1,2の先端には、2本の熱電対線4
3a,43bを有する試料ホルダ(単一の試料容器を保
持する試料ホルダ)40、および3本の熱電対線33
a,33b,33cを有する試料ホルダ(一対の試料容
器を保持する試料ホルダ)30のいずれをも接続可能な
接続コネクタ5が設けてある。図9は第1,第2の支持
杆1,2の先端に設けてある接続コネクタ5を示す正面
断面図である。
1,第2の支持杆1,2の先端には、2本の熱電対線4
3a,43bを有する試料ホルダ(単一の試料容器を保
持する試料ホルダ)40、および3本の熱電対線33
a,33b,33cを有する試料ホルダ(一対の試料容
器を保持する試料ホルダ)30のいずれをも接続可能な
接続コネクタ5が設けてある。図9は第1,第2の支持
杆1,2の先端に設けてある接続コネクタ5を示す正面
断面図である。
【0040】この接続コネクタ5は、各試料ホルダ3
0,40の基端に設けてある接続コネクタ35,45
(図5,図8参照)のいずれもが接続できるように3本
の接続管51a,51b,51cを内蔵しており、各接
続管51a,51b,51cが信号線52a,52b,
52cを介して温度検出回路50と電気的に接続されて
いる。3本の接続管51a,51b,51cの電気的極
性は、2本が+側、1本が−側となっており、3本の熱
電対線33a,33b,33cを有する試料ホルダ30
では、図10に示すように、各熱電対線の接続ピン35
a,35b,35cが、対応する極性の接続管51a,
51b,51cにつながる。また、2本の熱電対線43
a,43bを有する試料ホルダの場合は、+,−各1本
の接続管51a,51cを使用して接続が行なわれる。
0,40の基端に設けてある接続コネクタ35,45
(図5,図8参照)のいずれもが接続できるように3本
の接続管51a,51b,51cを内蔵しており、各接
続管51a,51b,51cが信号線52a,52b,
52cを介して温度検出回路50と電気的に接続されて
いる。3本の接続管51a,51b,51cの電気的極
性は、2本が+側、1本が−側となっており、3本の熱
電対線33a,33b,33cを有する試料ホルダ30
では、図10に示すように、各熱電対線の接続ピン35
a,35b,35cが、対応する極性の接続管51a,
51b,51cにつながる。また、2本の熱電対線43
a,43bを有する試料ホルダの場合は、+,−各1本
の接続管51a,51cを使用して接続が行なわれる。
【0041】上記のように、熱電対を備えた試料ホルダ
30,40を用いれば、TGとともにDTAを行なうこ
とが可能となる。先に説明したとおり、測定精度を考慮
すると、差動式の形態の場合はTGの測定精度に優れ、
単一ビーム式の構成の場合は、DTAの測定精度に優れ
ている。したがって、TGを中心として熱分析を行なう
場合には、第1,第2の支持杆1,2に単一の試料容器
41を保持する試料ホルダ40を装着して測定を行なう
ことが好ましい。また、DTAを中心として熱分析を行
なう場合には、第1または第2の支持杆1,2のいずれ
か一方に、一対の試料容器31a,31bを保持する試
料ホルダ30を装着して測定を行なうことが好ましい。
なお、必要に応じそれ以外の組合せで熱分析を行なうこ
とも勿論可能である。
30,40を用いれば、TGとともにDTAを行なうこ
とが可能となる。先に説明したとおり、測定精度を考慮
すると、差動式の形態の場合はTGの測定精度に優れ、
単一ビーム式の構成の場合は、DTAの測定精度に優れ
ている。したがって、TGを中心として熱分析を行なう
場合には、第1,第2の支持杆1,2に単一の試料容器
41を保持する試料ホルダ40を装着して測定を行なう
ことが好ましい。また、DTAを中心として熱分析を行
なう場合には、第1または第2の支持杆1,2のいずれ
か一方に、一対の試料容器31a,31bを保持する試
料ホルダ30を装着して測定を行なうことが好ましい。
なお、必要に応じそれ以外の組合せで熱分析を行なうこ
とも勿論可能である。
【0042】さて、試料ホルダ30,40に保持された
試料容器内の試料または基準物質は、図11に示すよう
に、基台60上で装置本体61に併設した加熱炉14の
内部で加熱される。ここで、加熱炉14内は対流等の影
響により周面近くは温度が均一でない。そこで、均一な
温度で安定した加熱を行なうために、単一ビーム式での
使用形態の場合は、試料容器を加熱炉14の中心に配置
し、一方、差動式の使用形態では、各試料容器が加熱炉
14の中心部に関し対称となるように配置することが好
ましい。
試料容器内の試料または基準物質は、図11に示すよう
に、基台60上で装置本体61に併設した加熱炉14の
内部で加熱される。ここで、加熱炉14内は対流等の影
響により周面近くは温度が均一でない。そこで、均一な
温度で安定した加熱を行なうために、単一ビーム式での
使用形態の場合は、試料容器を加熱炉14の中心に配置
し、一方、差動式の使用形態では、各試料容器が加熱炉
14の中心部に関し対称となるように配置することが好
ましい。
【0043】このように使用形態に応じて試料容器の位
置を調整するために、この実施例の熱天秤装置では、図
12に示すように、各支持杆1,2の軸に対して加熱炉
14が横方向(矢印方向)に移動可能となっている。そ
して、加熱炉14の底面に設けた位置決め用の溝14
a,14b,14cが、基台60の上面から弾力的に突
出する位置決め突起62に係合して、単一ビーム式およ
び差動式で各々試料容器が適正位置となる地点に加熱炉
14を自動的に位置決めできるようになっている。
置を調整するために、この実施例の熱天秤装置では、図
12に示すように、各支持杆1,2の軸に対して加熱炉
14が横方向(矢印方向)に移動可能となっている。そ
して、加熱炉14の底面に設けた位置決め用の溝14
a,14b,14cが、基台60の上面から弾力的に突
出する位置決め突起62に係合して、単一ビーム式およ
び差動式で各々試料容器が適正位置となる地点に加熱炉
14を自動的に位置決めできるようになっている。
【0044】すなわち、この実施例では、溝14a,1
4b,14cと位置決め突起62により試料容器と加熱
炉14との相対位置を調整する加熱位置調整手段を構成
している。このような加熱位置調整手段を設けることに
より、単一ビーム式,差動式いずれの使用形態のとき
も、試料ホルダ30,40を加熱炉14に対して再現性
よく所定位置に位置決めすることができる。
4b,14cと位置決め突起62により試料容器と加熱
炉14との相対位置を調整する加熱位置調整手段を構成
している。このような加熱位置調整手段を設けることに
より、単一ビーム式,差動式いずれの使用形態のとき
も、試料ホルダ30,40を加熱炉14に対して再現性
よく所定位置に位置決めすることができる。
【0045】図13〜図15は、この発明の他の実施例
を説明するための図である。この実施例では、一対の試
料容器74a,74bを保持する試料ホルダ70を第
1,第2の支持杆1,2によって支持する構成となって
いる。すなわち、試料ホルダ70の基端部には、図14
に示すように、二又に分岐した接続コネクタ71が取り
付けてあり、各分岐部71a,71b内にはそれぞれ2
本の接続ピン72a,72b、72c,72dが配設し
てある。これら各分岐部内の接続ピン72a,72b、
72c,72dのうち各1本は+側の熱電対線73a,
73bが接続してあり、他の1本には−側の熱電対線7
3cが接続してある。なお、−側の熱電対線73cは、
いずれか一方の分岐部内の接続ピン72bまたは72c
のみに接続した構成であってもよい。
を説明するための図である。この実施例では、一対の試
料容器74a,74bを保持する試料ホルダ70を第
1,第2の支持杆1,2によって支持する構成となって
いる。すなわち、試料ホルダ70の基端部には、図14
に示すように、二又に分岐した接続コネクタ71が取り
付けてあり、各分岐部71a,71b内にはそれぞれ2
本の接続ピン72a,72b、72c,72dが配設し
てある。これら各分岐部内の接続ピン72a,72b、
72c,72dのうち各1本は+側の熱電対線73a,
73bが接続してあり、他の1本には−側の熱電対線7
3cが接続してある。なお、−側の熱電対線73cは、
いずれか一方の分岐部内の接続ピン72bまたは72c
のみに接続した構成であってもよい。
【0046】一方、第1,第2の支持杆1,2の先端部
には、図14に示すように、それぞれ2本の接続管51
a,51bを内蔵した接続コネクタ5が設けてある。こ
れら各接続管51a,51bの電気的極性は、1本が+
側、他の1本が−側となっており、それぞれ温度測定回
路50と電気的に接続されている(図15参照)。そし
て、試料ホルダ70側の接続コネクタ71に配設した各
熱電対線の接続ピン72a,72b、72c,72d
が、対応する極性の接続管51a,51b、51a,5
1bと係合するようになっている。
には、図14に示すように、それぞれ2本の接続管51
a,51bを内蔵した接続コネクタ5が設けてある。こ
れら各接続管51a,51bの電気的極性は、1本が+
側、他の1本が−側となっており、それぞれ温度測定回
路50と電気的に接続されている(図15参照)。そし
て、試料ホルダ70側の接続コネクタ71に配設した各
熱電対線の接続ピン72a,72b、72c,72d
が、対応する極性の接続管51a,51b、51a,5
1bと係合するようになっている。
【0047】また、これら第1,第2の支持杆1,2に
設けた接続コネクタ5,5には、それぞれ単一の試料容
器を保持する試料ホルダ40を装着することもできる。
同試料ホルダ40は、図6〜図8に示した構成とほぼ同
様の構成とすればよい。ただし、接続コネクタ45内の
接続ピン45a,45bの間隔は、第1,第2の支持杆
1,2に設けた接続コネクタ5,5の2本の接続管51
a,51bと対応した間隔とする。
設けた接続コネクタ5,5には、それぞれ単一の試料容
器を保持する試料ホルダ40を装着することもできる。
同試料ホルダ40は、図6〜図8に示した構成とほぼ同
様の構成とすればよい。ただし、接続コネクタ45内の
接続ピン45a,45bの間隔は、第1,第2の支持杆
1,2に設けた接続コネクタ5,5の2本の接続管51
a,51bと対応した間隔とする。
【0048】この実施例の熱天秤装置を単一ビーム式の
形態で使用する場合には、一対の試料容器74a,74
bを保持する試料ホルダ70(図13参照)を、第1,
第2の支持杆1,2の接続コネクタ5,5に装着すれば
よい。この装着状態では、各支持杆1,2は協同して試
料ホルダ70を支持し、一体となって揺動する。また、
差動式の形態で使用する場合には、単一の試料容器41
を保持する試料ホルダ40を、第1,第2の支持杆1,
2にそれぞれ装着すればよい。
形態で使用する場合には、一対の試料容器74a,74
bを保持する試料ホルダ70(図13参照)を、第1,
第2の支持杆1,2の接続コネクタ5,5に装着すれば
よい。この装着状態では、各支持杆1,2は協同して試
料ホルダ70を支持し、一体となって揺動する。また、
差動式の形態で使用する場合には、単一の試料容器41
を保持する試料ホルダ40を、第1,第2の支持杆1,
2にそれぞれ装着すればよい。
【0049】図16は、この発明の応用例を説明するた
めの図である。この発明の熱天秤装置は、TG,DTA
以外の熱分析にも使用できることは勿論である。同図
は、この発明の熱天秤装置を使用して示差走査熱量測定
(以下、DSCという)を行なう場合の温度測定および
熱量制御系を示す構成図である。DSCは、基準物質と
試料の表面の温度差がゼロになるように制御し、この制
御のために必要な単位時間当りの熱量を時間または温度
の関数として測定するものである。このため、試料ホル
ダの試料容器保持部には、熱電対に加え試料および基準
物質を加熱するためのヒータが必要となる。したがっ
て、単一の試料容器を保持する試料ホルダ40の場合に
は、図6〜図8に示した接続コネクタ45に、ヒータ8
1から導かれた2本の電線(+−用)82a,82bを
接続する接続ピンが付加される。
めの図である。この発明の熱天秤装置は、TG,DTA
以外の熱分析にも使用できることは勿論である。同図
は、この発明の熱天秤装置を使用して示差走査熱量測定
(以下、DSCという)を行なう場合の温度測定および
熱量制御系を示す構成図である。DSCは、基準物質と
試料の表面の温度差がゼロになるように制御し、この制
御のために必要な単位時間当りの熱量を時間または温度
の関数として測定するものである。このため、試料ホル
ダの試料容器保持部には、熱電対に加え試料および基準
物質を加熱するためのヒータが必要となる。したがっ
て、単一の試料容器を保持する試料ホルダ40の場合に
は、図6〜図8に示した接続コネクタ45に、ヒータ8
1から導かれた2本の電線(+−用)82a,82bを
接続する接続ピンが付加される。
【0050】また、一対の試料容器を保持する試料ホル
ダ30の場合には、図3〜図5に示した接続コネクタ3
5に、ヒータ83,84から導かれた3本の電線(+側
2本,−側1本共通)85a,85b,85cを接続す
る接続ピンが付加される。そして、第1,第2の支持杆
1,2の先端部には、これらいずれの試料ホルダ30,
40をも接続できる接続コネクタを取り付ける。すなわ
ち、この接続コネクタは、ヒータから導かれた電線82
a,82bまたは85a,85b,85cを温度測定制
御回路80と接続する3本の接続管を、図10に示した
接続コネクタ5に付加した構成とする。そして、一対の
試料容器を保持する試料ホルダ30の場合には、それら
3本の接続管を使用し、また単一の試料容器を保持する
試料ホルダ40の場合には、極性が対応する2本の接続
管を使用して、温度測定制御回路80とヒータ81また
は83,84とを電気的に接続する。
ダ30の場合には、図3〜図5に示した接続コネクタ3
5に、ヒータ83,84から導かれた3本の電線(+側
2本,−側1本共通)85a,85b,85cを接続す
る接続ピンが付加される。そして、第1,第2の支持杆
1,2の先端部には、これらいずれの試料ホルダ30,
40をも接続できる接続コネクタを取り付ける。すなわ
ち、この接続コネクタは、ヒータから導かれた電線82
a,82bまたは85a,85b,85cを温度測定制
御回路80と接続する3本の接続管を、図10に示した
接続コネクタ5に付加した構成とする。そして、一対の
試料容器を保持する試料ホルダ30の場合には、それら
3本の接続管を使用し、また単一の試料容器を保持する
試料ホルダ40の場合には、極性が対応する2本の接続
管を使用して、温度測定制御回路80とヒータ81また
は83,84とを電気的に接続する。
【0051】図17は、図4に示した試料容器保持部の
変形例を示す斜視図である。同図に示すように、試料容
器保持部32は、試料ホルダ30の軸線と直交する直線
上に一対の試料容器31a,31bを保持する構造とし
てもよい。
変形例を示す斜視図である。同図に示すように、試料容
器保持部32は、試料ホルダ30の軸線と直交する直線
上に一対の試料容器31a,31bを保持する構造とし
てもよい。
【0052】図18は接続コネクタの変形例を示す斜視
図、図19は同接続コネクタの接続状態を示す正面図で
ある。なお、これらの図に示す接続コネクタは、図5,
図8,図9に示した接続コネクタ35,45,5に相当
するするものであるため、これらと同一の符号を付して
説明する。
図、図19は同接続コネクタの接続状態を示す正面図で
ある。なお、これらの図に示す接続コネクタは、図5,
図8,図9に示した接続コネクタ35,45,5に相当
するするものであるため、これらと同一の符号を付して
説明する。
【0053】接続コネクタ35(または45)には、試
料ホルダ30(または40)の重量、すなわち下方向の
荷重が作用する。そこで、この下方向の荷重を受け止
め、上下方向の位置ずれをなくして常に一定位置に試料
ホルダ30(または40)を保持するため、接続コネク
タ5に傾き防止板90を設けてある。この傾き防止板9
0は、接続コネクタ35(または45)の下縁を下方か
ら支持する。また、図18,図19に示した接続コネク
タ35(または45)は、接続コネクタ5に外嵌する構
造となっているため、接続時、接続コネクタ35(また
は45)の基端上縁部を上方から支持する傾き防止ピン
91を接続コネクタ5に設け、上下方向の位置ずれ防止
を一層確実なものとしている。
料ホルダ30(または40)の重量、すなわち下方向の
荷重が作用する。そこで、この下方向の荷重を受け止
め、上下方向の位置ずれをなくして常に一定位置に試料
ホルダ30(または40)を保持するため、接続コネク
タ5に傾き防止板90を設けてある。この傾き防止板9
0は、接続コネクタ35(または45)の下縁を下方か
ら支持する。また、図18,図19に示した接続コネク
タ35(または45)は、接続コネクタ5に外嵌する構
造となっているため、接続時、接続コネクタ35(また
は45)の基端上縁部を上方から支持する傾き防止ピン
91を接続コネクタ5に設け、上下方向の位置ずれ防止
を一層確実なものとしている。
【0054】なお、この発明は上述した実施例等に限定
されるものではない。例えば、図1に示した熱天秤装置
の全体構成に、さらに電流検出回路およびTG測定回路
を付加して、第2の支持杆2の副駆動コイル11に接続
してもよい。このようにすれば、切替え手段29による
切り替え動作を行なうことなく、第2の支持杆2を使用
して単一ビーム式の形態によるTGを行なうことができ
る。
されるものではない。例えば、図1に示した熱天秤装置
の全体構成に、さらに電流検出回路およびTG測定回路
を付加して、第2の支持杆2の副駆動コイル11に接続
してもよい。このようにすれば、切替え手段29による
切り替え動作を行なうことなく、第2の支持杆2を使用
して単一ビーム式の形態によるTGを行なうことができ
る。
【0055】また、第1,第2の支持杆1,2の先端に
設ける接続コネクタ5は、いずれか一方のみを一対の試
料容器を保持する試料ホルダ30が接続できる構成、例
えば、図10に示した3本の接続管51a,51b,5
1cを有する構成とし、他方の支持杆の接続コネクタは
単一の試料容器を保持する試料ホルダ40の接続専用と
してもよい。単一ビーム式の形態と差動式の形態とで、
試料容器と加熱炉との相対位置を調整するための加熱位
置調整手段は、図12に示した構成に限らず、例えば、
ステッピングモータを使用して加熱炉14または装置本
体61を横方向に移動させ、自動的に適正な位置へ試料
容器を配置する構成としてもよい。
設ける接続コネクタ5は、いずれか一方のみを一対の試
料容器を保持する試料ホルダ30が接続できる構成、例
えば、図10に示した3本の接続管51a,51b,5
1cを有する構成とし、他方の支持杆の接続コネクタは
単一の試料容器を保持する試料ホルダ40の接続専用と
してもよい。単一ビーム式の形態と差動式の形態とで、
試料容器と加熱炉との相対位置を調整するための加熱位
置調整手段は、図12に示した構成に限らず、例えば、
ステッピングモータを使用して加熱炉14または装置本
体61を横方向に移動させ、自動的に適正な位置へ試料
容器を配置する構成としてもよい。
【0056】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の熱天秤
装置によれば、単一の試料容器を保持する試料ホルダ
と、一対の試料容器を保持する試料ホルダとを任意に選
択するとともに、第1,第2の支持杆の一方または双方
に該選択した試料ホルダを装着することにより、単一ビ
ーム式および差動式のいずれの形式によっても熱分析を
行なえ、高精度な熱分析結果を得ることができる。
装置によれば、単一の試料容器を保持する試料ホルダ
と、一対の試料容器を保持する試料ホルダとを任意に選
択するとともに、第1,第2の支持杆の一方または双方
に該選択した試料ホルダを装着することにより、単一ビ
ーム式および差動式のいずれの形式によっても熱分析を
行なえ、高精度な熱分析結果を得ることができる。
【図1】この発明の実施例に係る熱天秤装置の全体構成
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図2】同装置における試料または基準物質の温度測定
系を示す構成図である。
系を示す構成図である。
【図3】同装置における一対の試料容器を保持する試料
ホルダの外観を示す正面図である。
ホルダの外観を示す正面図である。
【図4】同試料ホルダの試料容器保持部を示す正面断面
図である。
図である。
【図5】同試料ホルダの接続コネクタを示す正面断面図
である。
である。
【図6】同装置における単一の試料容器を保持する試料
ホルダの外観を示す正面図である。
ホルダの外観を示す正面図である。
【図7】同試料ホルダの試料容器保持部を示す正面断面
図である。
図である。
【図8】同試料ホルダの接続コネクタを示す正面断面図
である。
である。
【図9】同装置における第1,第2の支持杆の先端に設
けた接続コネクタの正面断面図である。
けた接続コネクタの正面断面図である。
【図10】同接続コネクタと図5に示した試料ホルダ側
の接続コネクタとの接続状態を示す正面断面図である。
の接続コネクタとの接続状態を示す正面断面図である。
【図11】装置本体および加熱炉の外観を示す斜視図で
ある。
ある。
【図12】加熱位置調整手段の構成を示す断面図であ
る。
る。
【図13】この発明の他の実施例に係る試料ホルダの外
観を示す正面図である。
観を示す正面図である。
【図14】同試料ホルダの接続コネクタおよび第1,第
2の支持杆に設けた接続コネクタを示す正面断面図であ
る。
2の支持杆に設けた接続コネクタを示す正面断面図であ
る。
【図15】同実施例に係る温度測定系を示す構成図であ
る。
る。
【図16】この発明の熱天秤装置をDSCに応用した場
合の例を示す温度測定制御系の構成図である。
合の例を示す温度測定制御系の構成図である。
【図17】図4に示した試料容器保持部の変形例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図18】接続コネクタの変形例を示す斜視図である。
【図19】同接続コネクタの接続状態を示す正面図であ
る。
る。
【図20】従来の単一ビーム式の熱天秤装置を示す構成
図である。
図である。
【図21】従来の横型差動式熱天秤装置を示す構成図で
ある。
ある。
【図22】従来の縦型差動式熱天秤装置を示す構成図で
ある。
ある。
1:第1の支持杆 2:第2の支持杆 5:接続コネクタ 8:駆動コイル 10,11:副駆動コイル 14:加熱炉 14a,14b,14c:溝 29:切替え手段 30,40,70:試料ホルダ 35,45,71:接続コネクタ 61:装置本体 62:位置決め突起 90:傾き防止板 91:傾き防止ピン
Claims (3)
- 【請求項1】 先端に試料ホルダの接続コネクタが設け
てあり各々支点を中心に揺動自在でかつ互いに関連して
差動式の熱天秤構造を形成する第1,第2の支持杆を備
えた熱天秤装置において、 前記第1,第2の支持杆に設けた接続コネクタは、それ
ぞれ単一の試料容器を保持する試料ホルダが装着可能で
あるとともに、少なくとも一方の接続コネクタは、一対
の試料容器を保持する試料ホルダをも装着可能としたこ
とを特徴とする熱天秤装置。 - 【請求項2】 先端に試料ホルダの接続コネクタが設け
てあり各々支点を中心に揺動自在でかつ互いに関連して
差動式の熱天秤構造を形成する第1,第2の支持杆を備
えた熱天秤装置において、 前記第1,第2の支持杆に設けた接続コネクタは、それ
ぞれ単一の試料容器を保持する試料ホルダが装着可能で
あるとともに、これら各コネクタが協同して、一対の試
料容器を保持する試料ホルダをも装着可能としたことを
特徴とする熱天秤装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の熱天秤装置において、前
記試料容器を加熱する加熱炉と、前記第1,第2の支持
杆に設けた接続コネクタの一方または双方に装着する試
料ホルダの種類に応じて、該試料ホルダに保持された試
料容器と前記加熱炉との相対位置を調整する加熱位置調
整手段とを設けたことを特徴とする熱天秤装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6328066A JP2735496B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 熱天秤装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6328066A JP2735496B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 熱天秤装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08184545A true JPH08184545A (ja) | 1996-07-16 |
JP2735496B2 JP2735496B2 (ja) | 1998-04-02 |
Family
ID=18206140
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6328066A Expired - Lifetime JP2735496B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 熱天秤装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2735496B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082861A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Rigaku Corp | 熱分析装置 |
JP2012525593A (ja) * | 2009-04-29 | 2012-10-22 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 同時示差熱分析システム |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3549621B2 (ja) * | 1995-06-09 | 2004-08-04 | 株式会社アイ・エイチ・アイ・エアロスペース | 温度制限回路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62119651U (ja) * | 1986-01-23 | 1987-07-29 | ||
JPH04299242A (ja) * | 1991-03-27 | 1992-10-22 | Shimadzu Corp | 比熱測定装置 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP6328066A patent/JP2735496B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62119651U (ja) * | 1986-01-23 | 1987-07-29 | ||
JPH04299242A (ja) * | 1991-03-27 | 1992-10-22 | Shimadzu Corp | 比熱測定装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082861A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Rigaku Corp | 熱分析装置 |
JP2012525593A (ja) * | 2009-04-29 | 2012-10-22 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 同時示差熱分析システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2735496B2 (ja) | 1998-04-02 |
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